JPS6055733A - Error correcting circuit - Google Patents

Error correcting circuit

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JPS6055733A
JPS6055733A JP16367883A JP16367883A JPS6055733A JP S6055733 A JPS6055733 A JP S6055733A JP 16367883 A JP16367883 A JP 16367883A JP 16367883 A JP16367883 A JP 16367883A JP S6055733 A JPS6055733 A JP S6055733A
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JP
Japan
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error
circuit
syndrome
output
holding
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JP16367883A
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Japanese (ja)
Inventor
Masahide Nanun
南雲 雅秀
Tadashi Kojima
正 小島
Jun Inagawa
純 稲川
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Priority to EP84110573A priority patent/EP0136587B1/en
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Priority to US06/647,919 priority patent/US4608692A/en
Publication of JPS6055733A publication Critical patent/JPS6055733A/en
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  • Error Detection And Correction (AREA)

Abstract

PURPOSE:To simplify the constitution and to ensure the error decision by deciding as an error location when the output of a signal processing means attains to ''0'' in an error correcting circuit which generates the error location and an error pattern. CONSTITUTION:A syndrome Si is generated on a basis of coded words of double correction BCH code in a Galois field FG(2<m>), and operations are performed on a basis of this syndrome Si. As the result, an element alpha<i> of the galois field GF(2<m>) is decided as the error location when the output of the signal processing means goes to ''0''. Consequently, whether a double error or a triple or more multiple error occurs and whether a single error or a triple or more multiple error occurs is judged.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明鉱、例えはCD(光学式コンパクトディスク)
方式のDAD(デジタルオーディオディスク)再生装置
に使用して好適するエラー訂正回路の改良に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Technical Field of the Invention] This invention, for example, a CD (optical compact disc)
The present invention relates to an improvement in an error correction circuit suitable for use in a digital audio disc (DAD) playback device.

〔発明の技術的背景〕[Technical background of the invention]

近時、音響機器の分野では可及的に高忠実度再生化を図
るために、PCM(パルスコードモジュレーション)技
術を利用したテジタル記録再生方式を採用しつつある。
Recently, in the field of audio equipment, a digital recording and reproducing method using PCM (pulse code modulation) technology is being adopted in order to achieve high fidelity reproduction as much as possible.

つまり、これはデジタルオーディオ化と称せられている
もので、オーディオ特性が記録媒体の特性に依存するこ
となく、在来のアナログ記録再生方式によるものに比し
て格段に優れたものとすることが原理的に確立されてい
るからである。
In other words, this is what is called digital audio, and the audio characteristics do not depend on the characteristics of the recording medium and are much superior to those using conventional analog recording and playback methods. This is because it is established in principle.

この場合、記録媒体としてディスク(円盤)を対象とす
るものUDADシステムと称せられておシ、その記録再
生方式としても光学式、静電容量式、及び機械式といっ
たものが提案されているが、いずれの方式を採用する場
合であっても、それを具現する再生装置としてはやはり
在来のそれにみられない種々の高度のコントロール機能
や性能等を満足し得るものであることが要求でれている
In this case, the system that targets a disk (disk) as the recording medium is called the UDAD system, and the recording and reproducing methods have been proposed such as optical, capacitive, and mechanical. Regardless of which method is adopted, the playback device that embodies it must be able to satisfy various advanced control functions and performance that are not found in conventional devices. There is.

すなわち、これはCD方式のものを例にとってみると、
直径12cI1m、)、厚さ1.2 CIun ]の透
明樹脂円盤にデジタル(PCM)に対応したピット(凹
凸)を形成する金属薄膜を被着してなるディスクなCL
V(線速度一定)方式により約500〜200 Cr、
 p、 m、 )の可変回転速度で回転駆動せしめ、そ
れを半導体レーザ及び光電変換素子を内蔵した光学式ピ
ックアップで内周側から外周側に向けてリニアトラッキ
ング式に再生せしめるものであるが、該ディスクはトラ
ックピッチが1.6〔μm〕であって片面でも約一時間
のステレオ再生をなし得る膨大な清報量がプログラムエ
リア(半径25〜58〔−のに収録されているとともに
、それらのインデックスデータ等がリードインエリア(
半径23〜25〔朋〕)に収録されているといったこと
からも容易に窺い知れるところである。
In other words, if we take the CD system as an example,
CL is a disc made by covering a transparent resin disc with a diameter of 12cI1m) and a thickness of 1.2CIun with a metal thin film that forms pits (irregularities) compatible with digital (PCM).
Approximately 500 to 200 Cr by V (constant linear velocity) method,
p, m, ) is rotated at a variable rotational speed, and is reproduced in a linear tracking manner from the inner circumference side to the outer circumference side using an optical pickup containing a semiconductor laser and a photoelectric conversion element. The disc has a track pitch of 1.6 [μm], and a huge amount of information that can be played in stereo for about an hour on one side is recorded in the program area (radius 25 to 58 [-]). Index data etc. are in the lead-in area (
This can be easily seen from the fact that it is recorded in a radius of 23 to 25 [home].

ところで、上記のようなりADシステムにあ。By the way, there is an AD system as mentioned above.

つては、デジタル化データをディスクに記録する際に、
再生時にビット同期信号の生成を容易に行なえるように
したり、また光学式ピックアップで読み取られたRF倍
信号周波性特性な狭帯域として安定なデーメス2イスを
行なえるようにしたシするために、デジタル化データを
その極性反転間隔が規定された最大及び最小極性反転間
隔内に帛にあるようなデータに変調してディスクに記録
するようにしている。そして、この変調方式としては、
光学式CD方式DAD再生装置の場合、EFM(エイト
トウフォーティーンモジュレーション)変調が一般的に
用いられている。このEFM変調は、デジタル化データ
を8ビット単位で区切り1それを14ピツトのデータに
変調してディスクに記録するようにするもので、再生時
には14ピツトのデータを8ビツトの元のデジタル化デ
ータに復調して再生するようにしているものである。
When recording digitized data on a disc,
In order to easily generate a bit synchronization signal during playback, and to perform stable demess2s as a narrow band of RF multiplied signal frequency characteristics read by an optical pickup, The digitized data is modulated into data whose polarity inversion interval is within the specified maximum and minimum polarity inversion intervals, and is recorded on the disk. And, as this modulation method,
In the case of optical CD type DAD playback devices, EFM (eight-to-fourteen modulation) modulation is generally used. This EFM modulation divides digitized data into 8-bit units and modulates the data into 14-bit data for recording on a disc. During playback, the 14-bit data is converted into 8-bit original digitized data. It is designed to demodulate and play it back.

そして、上記のようにディスクから再生された14ピツ
トのデータを復調してなる8ピツトのデジタル化データ
は、訂正回路に導かれて工2−訂正処理が行なわれる。
Then, the 8-pit digitized data obtained by demodulating the 14-pit data reproduced from the disk as described above is led to a correction circuit and subjected to step 2 - correction processing.

ここで、特に光学式CD方式DAD再生装置においては
、そのエラー訂正符号としてクロスインターリープリー
ドソロモン符号(CIRC)を採用している。すなわち
、これは従来より知られている代表的なランダムエラー
訂正符号のうちで最も工2−訂正能力が高いものとして
広範に定義されてい6BCH符号の一種であるリードソ
ロモン符号を用いるものであるが、それにバーストエラ
ーに対しても高い訂正能力を持たせるべくクロスインタ
ーリーブlる信号処理を伴なわせるようにしたものであ
る。
Here, especially in an optical CD type DAD reproducing apparatus, a cross-interleaved Reed-Solomon code (CIRC) is adopted as an error correction code. In other words, this uses a Reed-Solomon code, which is a type of 6BCH code and is widely defined as having the highest level of correction capability among typical random error correction codes known in the past. , and is accompanied by cross-interleaving signal processing in order to have a high correction ability even for burst errors.

ところで、リードソロモン符号の復号っ−1)エラー訂
正は、BCH符号のそれと同様になすことができる。今
、例えば符号長(n)、情報シンボル(k個、検査シン
ボル(n−k)個からなるリードソロモン符号について
、その復号法を調べてみるものとする。但し、上記谷シ
ンボルは(至)個の2進ビツトつまり2 個の7Cを有
する有限体であるガロア体GF(2)の冗でおる。
By the way, decoding of Reed-Solomon code - 1) Error correction can be performed in the same way as that of BCH code. For example, let's examine the decoding method for a Reed-Solomon code consisting of code length (n), information symbols (k), and check symbols (n-k).However, the valley symbol above is (to) This is a redundancy of the Galois field GF(2), which is a finite field having 2 binary bits, that is, 2 7C.

そして、この場合、を重エラー訂正リードソロモン符号
の生成多項式H(2)ハ、(α)をガロア体CF(2)
の原始光として次の0式または0式のように表わされる
In this case, let be the generator polynomial H(2) of the double error correcting Reed-Solomon code, and (α) be the Galois field CF(2).
The primitive light of is expressed as the following equation 0 or equation 0.

H(x) = CX十α) (x+d”)・(x−1−
α2t) −・−−■H(x)=(x+α0)(X+α
)−(X+α11−+) 、、、、、、■また、記録信
号多項式をUに)、再生信号多項式をV(xJで表わし
、かつエラー多項式をE(x)とすると、これらの間に
は次のような関係が成立する。
H(x) = CX ten α) (x+d”)・(x-1-
α2t) −・−−■H(x)=(x+α0)(X+α
) − ( The following relationship holds true.

v(x)=U(9)十E(幻・・・・・・・・・・・・
■この場合、多項式の係数はガロア体G F (2”)
に含まれており、エラー多項式E(x)Uエラーロケー
ション及び値(大きさ)に対応する項だけを含んでいる
。したがって、エラーロケーション(Xj)におけるエ
ラーパターン暑(Yj)とすると、 E(ト)=ヰ゛Yj Xj・・・・・・・・・・・・・
・・■となシ、該0式でΣは工2−のすべての位置にわ
たる総和を意味している。
v (x) = U (9) 10E (illusion...
■In this case, the coefficients of the polynomial are Galois field G F (2”)
The error polynomial E(x)U contains only the terms corresponding to the error location and value (magnitude). Therefore, if the error pattern temperature (Yj) at the error location (Xj) is E(g)=ヰ゛Yj
...■ and Nashi, in the formula 0, Σ means the summation over all positions of 2-.

仁こで、シンドローム(St )を、 (但し、i=0,1.・・・、2t−1)の如く定義し
たとすると、上記0式よム5s=u(α’)+E(αi
) となる。この場合、Uに)はH((転)で富に割シ切れ
るので、 U(α )=0 であるから、 5i=E(αi) となる。そこで、上記0式よp と表わすことができる。但し、α1=Xjとおいたもの
でSx′はαiにおけるエラーロケーションを表わして
いる。
If we define the syndrome (St) as (however, i = 0, 1..., 2t-1), then from the above equation 0, 5s = u (α') + E (αi
) becomes. In this case, U) is divisible into wealth by H((trans)), so U(α)=0, so 5i=E(αi).Therefore, according to the above equation 0, it can be expressed as p. However, when α1=Xj, Sx' represents the error location at αi.

ここで、エラーロケーション多項式σ(増は、エラー数
を(e)として、 Jに)−!(X−Xt) =Xe十σ1xe−1+・・・+σe ・・・・川・・
 ■と定義される。
Here, the error location polynomial σ (increases to J, where the number of errors is (e)) -! (X-Xt) =Xe+σ1xe-1+...+σe...River...
■Defined as.

マタ、■式ノσ、〜σe扛、シンドローム(Si)との
間で次のように関係づけられる。
The relationship between mata, ■expression no σ, ~σe扛, and syndrome (Si) is as follows.

Si+6 + σ、 S i+e−s 十”’十σe−
tsi−1−+十σ。Si・・・・・・・・・■ つまシ、以上のようなリードンロモン符号の復号手順は
、 (1)0式にょクシンドローム(S:)を計算する。
Si+6 + σ, Si+e−s 1”’10σe−
tsi−1−+10σ. Si......■ Tsumashi, the above-mentioned Reed-Don-Romon code decoding procedure is as follows: (1) Calculate the 0-formula syndrome (S:).

(It) 0式にょクエラーロケーション多項式の係数
σ、〜σ。を計算する。
(It) Coefficients σ, ~σ of the error location polynomial in Equation 0. Calculate.

(#) 0式にょクエン−ロケーション多項式の根(x
l)をめる。
(#) Roots of the 0 expression Nyokuen-Location polynomial (x
Add l).

■ 0式にょタエラーパターン(Yj )をめ、0式に
よシェラ−多項式をめる。
■ Insert the Nyota error pattern (Yj) into Equation 0, and insert the Scherrer polynomial into Equation 0.

(7)0式にょフェラー訂正を行なう。(7) Perform the 0-type error correction.

なる(1)〜(ロ)の手順に帰着せしめられる。This results in steps (1) to (b).

次に、以上のような復号手順によるエラー訂正の具体例
として、1ブロツクデータに4個の検査シンボルを用い
た場合について説明する。
Next, as a specific example of error correction using the above decoding procedure, a case will be described in which four check symbols are used for one block of data.

すなわち、この場合の生成多項式Hに)は、H(x) 
= (x+1 ) (x+a) (x十a”) (x+
c” )となり、2重エン−までの訂正が可能となるも
のであり、以下説明する。
That is, in this case, the generator polynomial H) is H(x)
= (x+1) (x+a) (x0a”) (x+
c''), and it is possible to correct up to double en-, which will be explained below.

(1) シンドローム(So)〜(S3)を計算する。(1) Calculate syndromes (So) to (S3).

(It) 0式をe=l、e=2について書き直すと−
e = lの場合には、 となる。また、e=2の場合には、 となる。
(It) Rewriting equation 0 for e=l and e=2 gives -
In the case of e = l, it becomes. Moreover, in the case of e=2, it becomes.

ここで、実際の復号器がe = 1の場合から動作を始
めるものとすると、先ず連立方程式■を満足する解(σ
、)をめなければならない。そして、この解が存在しな
ければ、復号器は次にe = 2の場合について連立方
程式[株]を満足する解(σ、)、(σ2)をめなけれ
ばならない。なお、ここでも解が得られない場合はe≧
3とみなすことになる。
Here, assuming that the actual decoder starts operation from the case where e = 1, first, a solution (σ
). Then, if this solution does not exist, the decoder must next find a solution (σ, ), (σ2) that satisfies the simultaneous equations for the case e = 2. Note that if no solution is obtained here, e≧
It will be considered as 3.

■式の解(σ、)は、 としてめ、[相]式の解(σ、)、(σ、)ニ、として
める。
■The solution of the equation (σ,) is given as , and the solution of the [phase] equation is given as (σ,), (σ,)d.

儂) 以上のようにしてエラーロケーション多項式の係
数(σi)が得られたならば、次に0式によシェラ−ロ
ケーション多項式の根をめる。
After obtaining the coefficients (σi) of the error location polynomial as described above, next find the root of the Scherrer location polynomial using equation 0.

先ず、e=1の場合は、 σ(2)=X+σl =0 + +°、X1 =σ1と
なる。また、e = 2の場合は、 σに)=X +σ、x+σ、=0 e−・…… @とし
て、該0式にガロア体GF(2)の工を順次に代入して
その解をめればよく、今この根を(X+ ) 、(Xt
)とする。
First, when e=1, σ(2)=X+σl=0++°, X1=σ1. In addition, in the case of e = 2, let σ = Now, let this root be (X+), (Xt
).

(2) 工2−ロケーション多項式の根がまったなら、
次に0式によタエラーパターン(Yj)をめる。
(2) If the roots of the 2-location polynomial are fixed, then
Next, enter the error pattern (Yj) into equation 0.

先ず、e = lの場合は、 So = Y r 、’−Y I= S 。First, if e = l, So = Yr, '-Y I = S.

となる。iた、e = 2の場合は、 So −Y s 十Y t S、 =Y、X、 十Y、X2 よシ、 Y、=X・S・+S・ X、+X。becomes. If i, e = 2, then So-Ys 10Yt S, = Y, X, 10Y, X2 Yosi, Y, =X・S・+S・ X, +X.

Yv = So 十Y+ (7)上述のようにしてめたエラーパターン(y+ )
 、 (y* )にょシ訂正を行なう。
Yv = So Y+ (7) Error pattern (y+) created as above
, (y*) correction is performed.

第1図は以上のような原理に基づくクロスインターリー
ブリードソロモン符号の実際の復号システムでなる従来
のエラー訂正回路を示すブロック構成図である。すなわ
ち、11はピックアップで、図示しないディスクを再生
してRF倍信号出力するものである。このRF倍信号、
図示しないデータスライス回路でデジタル化データに変
換された後、セルフクロックのための同期信号抽出に供
せられて、′復調回路12に供給される。ここで、この
復調回路12抹、前述しfcように、ディスクに記録さ
れた14ビツトデータを8ビツトデータに変換するgF
M復調動作を行ない、その復調シンボルな工2−訂正手
段13に出力するものである。
FIG. 1 is a block diagram showing a conventional error correction circuit which is an actual decoding system for cross-interleaved Reed-Solomon codes based on the above principle. That is, reference numeral 11 denotes a pickup, which reproduces a disk (not shown) and outputs an RF multiplied signal. This RF multiplied signal,
After being converted into digitized data by a data slicing circuit (not shown), the data is subjected to synchronous signal extraction for self-clocking, and then supplied to the demodulation circuit 12. Here, in this demodulation circuit 12, as described above, gF converts the 14-bit data recorded on the disk into 8-bit data.
It performs M demodulation operation and outputs the demodulated symbols to the correction means 13.

そして、このエラー訂正手段131fi、2重訂正回路
14.ディンターリーブ回路15及び2重訂正回路16
よりなるクロスインターリーブ2重訂正方式となされて
いる。これに、周知のように、2重訂正回路14で復調
シンボルの誤り判定を行ないエラー訂正可能である場合
は前述したようにして工2−訂正してディンターリーブ
回路15及び2重訂正回路16を介して図示しないD/
A変換器に出力するよりにし、エラー訂正能力を越える
場合にはエラー訂正せずそのエラーロケーションを示す
エラー7ラグ(Ef)を復調シンボルに付加してディン
ターリーブ回路16に出力し、エラー7ラグJとともに
ディンターリーブ処理を施して2重訂正回路16でエラ
ー訂正をするようにしたものである。
The error correction means 131fi, the double correction circuit 14. Dinterleave circuit 15 and double correction circuit 16
This is a cross-interleaved double correction method. In addition, as is well known, the double correction circuit 14 performs error determination on the demodulated symbol, and if the error can be corrected, performs step 2-correction as described above to the dinterleave circuit 15 and the double correction circuit 16. D/ not shown through
If the error correction capacity is exceeded, the error is not corrected and an error 7 lag (Ef) indicating the error location is added to the demodulated symbol and output to the dinterleave circuit 16, and the error 7 is output to the dinterleave circuit 16. Dinterleave processing is performed together with the lag J, and the double correction circuit 16 performs error correction.

〔背景技術の問題点〕[Problems with background technology]

ところで、上記のような従来の2重訂圧BCH符号のエ
ラー訂正回路では、前記連立方程式■。
By the way, in the conventional error correction circuit for the double-compensated BCH code as described above, the above-mentioned simultaneous equations (2).

[株]によりエラーロケーション多項式の係数(’i)
をめてエラー数(1重エラーか2重エラーかまたは3重
エラー以上か)を判定し、次にエラー数に応じてエラー
ロケーション多項式を決定してその根(エラーロケーシ
ョン)をめ、以下工2−パターンをめてエラー訂正を行
なうようにしている。ところが、上記(σi)は、it
+述したように、0式の場合、 となシ、[株]式の場合、 とな9、いずれも除算を行なうことが必要となっている
。ここで、周知のようにデジタルデータの演算回路を構
成する場合、乗算回路は簡単な構成で実現することがで
きるが、除算回路は構成が複雑化するものである1、 そこで、従来より、エラーが1重工2−か2重エラーか
または3重エラー以上かの判定を、簡易な構成で容易に
行なえるようにすることが強く望まれている。
Coefficient ('i) of error location polynomial by [shares]
Determine the number of errors (single error, double error, triple error or more), then determine the error location polynomial according to the number of errors, find its root (error location), and perform the following steps. 2- Error correction is performed based on a pattern. However, the above (σi) is
+As mentioned above, in the case of the 0 formula, it is necessary to perform division, and in the case of the [stock] formula, it is necessary to perform division. Here, as is well known, when configuring a digital data arithmetic circuit, a multiplication circuit can be realized with a simple configuration, but a division circuit has a complicated configuration1. It is strongly desired to be able to easily determine whether the error is a single error, a double error, a triple error or more, with a simple configuration.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

この発明は上記事情に基づいてなされ友もので、簡易な
構成で確実なエラー判定を行ない得るようにした極めて
良好なエラー訂正回路を提供することを目的とする。
The present invention was made based on the above-mentioned circumstances, and an object of the present invention is to provide an extremely good error correction circuit that can perform reliable error determination with a simple configuration.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

すなわち、この発明は、ガロア体GF(2)における2
重訂正BCH符号の符号語に基づいてエラーロケーショ
ン多項式をめエラー訂正に必費なエラーロケーショ/及
びエラーパターンを生成してなる工2−訂正回路におい
て、前記符号語からシンドローム(St)(iU正の整
数)を生成するシンドローム生成手段と、このシンドロ
ーム生成手段から出力されるシンドローム(81)のう
ち(St ) 、 (SO)をそれぞれ保持する第1及
び第2の保持手段と、前記シンドローム生成手段で生成
されたシンドローム(Sl)に基づいて rs =StSo + St r ! = Sl B6 + S、Slr I=SsS
t + Sg なる演算を行なう演算手段と、この演算+段の出力(r
=) = Crt) 、(rl)のうち(r3)を保持
する第3の保持手段と、1IiI記演算手段の出力(r
s ) = (rt ) 、(rs )(Dうちra 
’e07>rs=0かを判定する判定手段と、この判定
手段でr3笑Oが判定さ!1.た状態で前記第1及び第
2の保持手段に前記(st) 、 (So)に代えて前
記(r、) 。
That is, this invention provides 2 in the Galois field GF(2)
2. In the correction circuit, a syndrome (St) (iU correct a syndrome generating means for generating a syndrome (an integer of Based on the syndrome (Sl) generated by rs = StSo + Str! = Sl B6 + S, Slr I=SsS
t + Sg and the output of this operation + stage (r
=) = Crt), the third holding means that holds (r3) out of (rl), and the output (r
s ) = (rt) , (rs) (D out of ra
A determination means for determining whether 'e07>rs=0 or not, and r3 lol O is determined by this determination means! 1. The above (r, ) is applied to the first and second holding means in place of the above (st) and (So).

(r、)をそれぞれ保持させる制御手段と、sH己第1
の保持手段に保持された内容(st)i*U(r、)と
前記第2の保持手段に保持さitた内容(so)または
(r、)に前記ガqア体GF(2)のに(α′)を乗算
した値と前記第3の保持手段に保持され九内容(r3)
に(αIf)を乗算した値とを加算する信号処理手段と
を具備し、前記信号処理手段の出力が0となったときの
前記元(ei)をエラーロケーションとするようにして
なることを特徴とするものである。
(r,), and a control means for holding sH, respectively.
The content (st)i*U(r,) held in the holding means and the content (so) or (r,) held in the second holding means of the Gaq field GF(2). The value obtained by multiplying by (α') and the nine content (r3) held in the third holding means
and a signal processing means for adding a value obtained by multiplying by (αIf), and the element (ei) when the output of the signal processing means becomes 0 is set as an error location. That is.

以下、この発明の一実施例を説明するに先立ち、この発
明における工2−判定手段の原理について説OA’rる
。今、例としてガロア体GF’(2’ )について述べ
ることにする。この場合、法多項式の1根を←)とし、
生成多項式Hに)をII(x)= (x+1)(x+α
)(X十α″)CX+α3〕として、訂正ブロックのシ
ンボル数(へ)を32、記録側多項式Uに)を U(x) = UHX” + Usox30+ ・・・
+UI X 十U。
Hereinafter, before explaining one embodiment of the present invention, the principle of the determination means in the present invention will be explained. Now, as an example, we will discuss the Galois field GF'(2'). In this case, let the first root of the modulo polynomial be ←),
II(x)=(x+1)(x+α
)(X0α″)CX+α3], the number of symbols in the correction block (to) is 32, and the recording side polynomial U) is U(x) = UHX” + Usox30+ ・・・
+UI X 10U.

と表わし、U(ロ)はH(9)で割り切れるものとする
と、前述したように、 U(1) = U(α)=U(α’)=U(α3)−〇
となる。しかしながら、再生側でエラーが発生すると、
上式は満足されなくなる。
Assuming that U(b) is divisible by H(9), as mentioned above, U(1)=U(α)=U(α')=U(α3)−〇. However, if an error occurs on the playback side,
The above equation is no longer satisfied.

すなわち、1重エラーの場合、その工2−口ケーション
を(α )とし、エラーパターンを(ei)とテると、
シンドローム(So)乃至(S、)は、 3o=ei S1=elα 32=6i(X’ B、=eLα31 でおるから、 が満足する。上式は前記0式に対応する。したがって、 Sl + X So ・・・・・・・・・・・・ 0な
る式の休)に(α0)〜(α3m)、を順次代入して、
0となる点がエラーロケーションである。
In other words, in the case of a single error, if the process is (α) and the error pattern is (ei), then
The syndromes (So) to (S,) are satisfied as follows: 3o=ei S1=elα 32=6i(X' B,=eLα31) The above equation corresponds to the above equation 0. Therefore, Sl + X So ・・・・・・・・・ Substituting (α0) to (α3m) in sequence for the rest of the expression 0,
The point where the value is 0 is the error location.

また、2重エラーの場合、そのエラーロケーションヲ(
αa)、(α ) トシ、エラ−Ap−yを(ea)、
(”b)とすると、シンドローム(So)乃至(S3)
は、 5o=ea+eb b S、=eaα 十ebα 52=eBα2a+ebα2b s’ = ”a”a十eba3b であるから、 が満足する。上式は前記[相]式に対応する。ここで、 B l) ab α +α =A、αα=B とおくと、(α )、(α )は、 x”+Ax+B ・・・・・・・・・・・・◎なる2次
式の根として表わすことができる。また、0式よpl と表わすことができ、ここで、 とおくと、[相]式は、 とな5.(α)、(α)はこの2次式の根であるから、
当然、 r、x2+r、 x + r、・・・・・・・・・・・
・0の根でもある。したがって、0式の(2)に(α0
)〜(α3′)を順次代入して、0となる点がエラーロ
ケーションとなるものである。
In addition, in the case of a double error, the error location (
αa), (α) Toshi, Error-Ap-y (ea),
(”b), syndromes (So) to (S3)
Since 5o=ea+eb b S,=eaα+ebα 52=eBα2a+ebα2b s'="a"a+eba3b, is satisfied. The above equation corresponds to the above [phase] equation. Here, if we set B l) ab α + α = A, αα = B, then (α ) and (α ) are the roots of the quadratic equation: x”+Ax+B ・・・・・・・・・・・・◎ It can be expressed as .In addition, the 0 expression can be expressed as pl, where, if we set, the [phase] expression becomes 5. (α) and (α) are the roots of this quadratic expression. because there is,
Naturally, r, x2+r, x + r,...
・It is also the root of 0. Therefore, (α0
) to (α3') are sequentially substituted, and the point where the value becomes 0 becomes the error location.

すなわち、1重エラーの場合、0式のは)に(α0)〜
(α31)を順次代入して0式が0となる1根を持つこ
とにより1重エラーが判定され、2重エラーの場合0式
の休)に(α0)〜(α31)を順次代入して0式が0
となる2根を持つことにより2重エラーが判定されるこ
とになる。
In other words, in the case of a single error, the formula 0 is (α0)~
A single error is determined by sequentially substituting (α31) and if the 0 expression has one root that becomes 0, and in the case of a double error, sequentially substituting (α0) to (α31) to 0 formula is 0
By having two roots, a double error is determined.

ここで、1重エラーの場合、上記0式より1812+5
aSo =S: +S+Ss =S+S2+5oss=
0 なる式を導くことができ、媛式と対応させると、rs=
r2=r、=Q となることがわかる。一方、2重エラーの場合、r3失
0であるため、結局、 r3(0なら2重エラーか3重エラー以上r、=Ofz
ら1重エラーか3重エラー以上と判断することができる
ことになる。
Here, in the case of a single error, from the above formula 0, 1812 + 5
aSo =S: +S+Ss =S+S2+5oss=
0 can be derived, and when correlated with the Hime formula, rs=
It can be seen that r2=r,=Q. On the other hand, in the case of double error, r3 loss is 0, so in the end, r3(0 means double error or triple error or more r, = Ofz
Therefore, it can be determined that there is a single error, a triple error or more.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、上記のような原理に基づくこの発明の一実施例に
ついて図面を参照して詳細に説明する。第2図は上記0
式及び[相]式を解く手段を示すブロック構成図であり
X第3図に示すフローチャートを参照してその動作を説
明する。
Hereinafter, an embodiment of the present invention based on the above principle will be described in detail with reference to the drawings. Figure 2 shows the above 0
The operation will be described with reference to the flowchart shown in FIG. 3, which is a block diagram showing means for solving equations and [phase] equations.

jなわち、第2図中17は演算処理回路で、第3図中ス
テップST、で動作が開始されると、読み出し専用メモ
リ(以下ROMという)18に記憶されたプログラムに
従って、ステップST2でシンドローム(So)〜(S
3)を計算する。
In other words, 17 in FIG. 2 is an arithmetic processing circuit, and when the operation is started in step ST in FIG. 3, the syndrome is (So)~(S
3) Calculate.

そして、演算処理回路17は請求めたシンドローム(S
 O)〜(S、)のうち、まず7/ドローム(Soをパ
スライン19に出力する。このとき、上記ROM z 
sによって制御されるゲート回路20は、ラッチ回路2
1に対してラッチ信号を出力し、上記シンドローム(S
l)がラッチ回路21に′ラッチされる。次に、演算処
理回路17は請求めたシンドローム(S O)〜(S 
3)のうチ、シンドロームSoをパスライン19に出力
する。すると、ゲート回路20はラッチ回路22に対し
てラッチ信号を出力し、シンドローム(So)がラッチ
回路22にラッチされる。
Then, the arithmetic processing circuit 17 calculates the requested syndrome (S
Among O) to (S, ), first 7/drome (So is output to the pass line 19. At this time, the ROM z
The gate circuit 20 controlled by s is the latch circuit 2
A latch signal is output for 1, and the above syndrome (S
l) is latched by the latch circuit 21. Next, the arithmetic processing circuit 17 calculates the requested syndromes (S O) to (S
3) Output the syndrome So to the pass line 19. Then, the gate circuit 20 outputs a latch signal to the latch circuit 22, and the syndrome (So) is latched by the latch circuit 22.

次に、演算処理回路17は、ステップST3で、各シン
ドローム(So)〜(S、)が全てOであるか否かを判
定する。そして、各シンドローム(So)〜(S3)が
全てOである(YES)場合、そのシンボルはエラー無
し、つまり正帛シンボルと判定され、ステップSTaを
介してエラー判定及び訂正処理が施されることなく、そ
のまま出力される。tた、各シンドローム(So)〜(
ss)d=全て0でない(NO)場合、演算処理回路1
7は、ステップST、で、各シンドローム(S o)〜
(S3)のうちいずれか1個が0または全てカニ〇でな
いか否かが判定されm(No)場合、ステップSTaで
3N以上エラーであると判定される。
Next, the arithmetic processing circuit 17 determines whether each syndrome (So) to (S,) are all O in step ST3. If all of the syndromes (So) to (S3) are O (YES), the symbol is determined to have no error, that is, to be a correct symbol, and error determination and correction processing is performed via step STa. It will be output as is. t, each syndrome (So) ~ (
ss) If d=not all 0 (NO), arithmetic processing circuit 1
7 is step ST, each syndrome (S o) ~
If it is determined whether any one of (S3) is 0 or not all crabs (No), it is determined that there is an error of 3N or more in step STa.

そして、ステップST、で(YES)の場合、演算処理
回路17は、ステップ8T、で、上記シンドローム(S
o)〜(Ss)に基づいて前記(r s) 、(r2)
If YES in step ST, the arithmetic processing circuit 17 determines the syndrome (S) in step 8T.
o) Based on ~(Ss), the above (rs), (r2)
.

(r、)をそれぞれ針具する。その後、ステップST8
で(r、)が0か否かが判定される。この判定は、次の
ようにして行なわれる。まず、演算処理回路ノアは請求
めた(r s) 、(r 2) 、(r 、)のうち(
r3)をパスライン19に出力する。そして、コ(7)
ハスライン19に出力された(r s )ID 、RO
M18によって制御される0判定回路23によってOか
否かの判定がなされるものである。このとき、同時に、
パスライン19に出力されたr3は、ROM18によっ
て制御されるラッチ回路24にラッチされる。その後、
演算処理回路17は、(r 2) 、(r 、 )をI
l[14次パスライン19に出カーjルjうに動作する
(r,) respectively. After that, step ST8
It is determined whether (r,) is 0 or not. This determination is made as follows. First, the arithmetic processing circuit Noah can request (r s), (r 2), (r ,) of (
r3) is output to the pass line 19. And Ko (7)
(r s ) ID output to Hass line 19, RO
The 0 determination circuit 23 controlled by M18 determines whether the value is O or not. At this time, at the same time,
r3 output to the pass line 19 is latched by a latch circuit 24 controlled by the ROM 18. after that,
The arithmetic processing circuit 17 converts (r 2) , (r , ) into I
l[The 14th pass line 19 is moved as shown below.

ここで、まず、rsNOつまりステップs’r。Here, first, rsNO, that is, step s'r.

で(NO)の場合について説明する1、この前金、前述
したように、2重エラーまたは3重エラー以上であると
判断されるため、ステップsT。
The case of (NO) will be explained in 1. As described above, it is determined that there is a double error or triple error or more, so step sT is performed.

で、前記0式の根をめる演算が行なわれる。Then, an operation is performed to find the roots of the above equation 0.

この演算は次のようにして行なわれる。すなわち、0判
定回路23は、r340と判定すると、ゲート回路20
を駆動させ、演算処理回路17から(r 、) 、 (
r 、)が出力されるタイミングで、ラッチ回路22.
21に対してそれぞれラッチ信号を発生させる。このた
め、ラッチ回路22゜21には、前記シンドローム(s
 o) 、(s +)に代えて(rJ、(r+)がそれ
ぞれラッチされることになる。
This calculation is performed as follows. That is, when the 0 determination circuit 23 determines that r340, the gate circuit 20
is driven, and the arithmetic processing circuit 17 outputs (r,), (
r,) is output, the latch circuit 22.
A latch signal is generated for each of 21. Therefore, the latch circuit 22°21 has the syndrome (s
o), (s +), (rJ, (r+)) will be latched, respectively.

そして、各ラッチ回路21,2.2.24に(rυ、(
r t) 、(r s)がそれぞれラッチされると、各
ラッチ回路21,22.24に対応して設けられたレジ
スタ回路25.26.27に対して、セラトイら号(r
−8P)が発生はれ、ラッチ回路21.22.24にラ
ンチされた(r +) 、(r 2) 。
Then, each latch circuit 21, 2.2.24 (rυ, (
When r t) and (r s) are latched, Seratoi et al.
-8P) was generated and launched into the latch circuits 21, 22, and 24 (r+) and (r2).

(r、)が一括してレジスタ回路25 、26 、27
に移送される。
(r,) are collectively the register circuits 25, 26, 27
will be transferred to.

ここで、レジスタ回路26には、乗算用クロック信号(
r−CK)に応じてレジスタ回路26の内W(r2)に
前記エラーロケーション(α)(この場合、αはα0〜
α31)を乗算して、再びレジスタ回路26にセットす
るための、乗算回路28が接続されている。また、レジ
スタ回路22には、上記乗算用クロック信号(r−CK
)に応じてレジスタ1白路27の内容(r3)にα2を
乗算して、再びレジスタ回路27にセットするための、
乗算回路29が接続されている。そして、上記Ca’)
〜(α3りに対−して、レジスタ回Di(125,26
の出力を加算器30で加昇し、その加昇結果とレジスタ
回路27の出力とを加舅、器3〕で加算することにより
、結局加算器31の出力は、r、 (α0)’十r、(
α’)十r’。
Here, the register circuit 26 has a multiplication clock signal (
W(r2) of the register circuit 26 in accordance with the error location (α) (in this case, α is α0 to
A multiplication circuit 28 is connected to multiply the signal by α31) and set it in the register circuit 26 again. The register circuit 22 also receives the multiplication clock signal (r-CK
) to multiply the contents (r3) of the register 1 white path 27 by α2 and set it in the register circuit 27 again.
A multiplication circuit 29 is connected. And the above Ca')
~(Register times Di(125, 26
The output of the adder 31 is incremented by the adder 30, and the result of the increment is added to the output of the register circuit 27 by the adder 3]. r, (
α') 10r'.

rs= (a’)2+rt(”) 十r。rs=(a’)2+rt(”) 10r.

r3(α” )2+r2 (a” ) + r。r3(α”)2+r2(a”)+r.

なる演算を順次行なったものとなり、演算結果が0とな
つf?:、←)が0式の根、つまりエラーロケーション
(α’)、(αj)であるから、ここに0式の根をめる
漬界が行なわれるものである。
This is the result of sequentially performing the following calculations, and the result of the calculation is 0. :, ←) are the roots of the 0 formula, that is, the error locations (α') and (αj), so a pick-up is performed to insert the root of the 0 formula here.

次に、上記のようにして■式の根をめる演算が行なわれ
ると、ステップ5T1o で、2根がまったか否かが判
定される。この判定は、加算器3ノの出力な0判定回路
32に導き、2回0になったことが判定されたか否かで
行なわれる。そして、2根求まった(YES)の場合、
ステップ5T11で、2重エラーと判定され、2根求ま
らなかった(NO)の場合、ステップs′raで3重エ
ラー以上であると判定される。
Next, when the calculation for finding the root of the equation (2) is performed as described above, it is determined in step 5T1o whether or not two roots have been found. This determination is made based on whether the output of the adder 3 is passed to the 0 determination circuit 32 and it is determined that it has become 0 twice. And if 2 roots are found (YES),
If it is determined in step 5T11 that there is a double error and the double root was not found (NO), it is determined in step s'ra that there is a triple error or more.

また、r3=0つj9ステップS ’l’ aで(YE
S )の場合について説明する。この場合、前述したよ
うに、1里エラーまたは3重エラー以上であると判断さ
れるため、まず、0判定回路23はステップs’rtt
でr2が0か否かの判定な行ない、r2’eO(NO)
の場合ステップST6で3−塩エラー以上と判定し、r
、=0 (YES)の場合ステップST、、で前記0式
の根をめる演算が行なわれる。この演算は次のようにし
て行なわれる。すなわち、0判定回路23はr3=0と
判定すると、ゲート回路20を駆動させないようにする
。このため、演算処理回路17がら出力される(r 、
) 、(r 、)はラッチ回路21 、22にラッチさ
れることなく、ラッチ回路2 J 、 22の内容はシ
ンドローム(S +) 、(S o)のままとなされて
いる。
Also, with r3 = 0 j9 steps S 'l' a (YE
The case of S) will be explained. In this case, as described above, since it is determined that the error is one ri error or triple error or more, the 0 determination circuit 23 first performs step s'rtt
Determine whether r2 is 0 or not, r2'eO (NO)
In this case, it is determined in step ST6 that there is a 3-salt error or more, and r
, = 0 (YES), in step ST, an operation is performed to find the roots of the 0 equation. This calculation is performed as follows. That is, when the 0 determination circuit 23 determines that r3=0, it does not drive the gate circuit 20. Therefore, the arithmetic processing circuit 17 outputs (r,
), (r,) are not latched by the latch circuits 21, 22, and the contents of the latch circuits 2J, 22 remain as the syndromes (S+), (So).

そして、ラッチ回路21.22の内容(St)。and the contents of the latch circuits 21 and 22 (St).

(S o ) −tz 、上述したようにレジスタ回路
is、zeに移送され、レジスタ回路26の内容(S、
)には、エラーロケーション(α)が乗算される。なお
、ラッチ回路24の内容(r3)はレジスタ回路27に
移送されα2が乗算されることになるが、この場合r3
=0であるので、レジスタ回路27の出力は0となって
いる。このため、結局加算器3ノの出力は、 St+8゜(α0) S、+S、(α′) Ss +So(α3′) なる演算を順次行なったものとなり為演算結果が0とな
つfc(α)が0式の根、つまりエラーロケ−る演算が
行なわれるものである。
(S o ) −tz is transferred to the register circuit is, ze as described above, and the contents of the register circuit 26 (S,
) is multiplied by the error location (α). Note that the content (r3) of the latch circuit 24 is transferred to the register circuit 27 and multiplied by α2, but in this case r3
= 0, the output of the register circuit 27 is 0. Therefore, the output of adder 3 is the result of sequentially performing the following operations: St+8゜(α0) S, +S, (α') Ss +So(α3'), so the result of the operation is 0, fc(α) is the root of the 0 expression, that is, an operation is performed to locate the error.

このようにして0式の根をめる演算が行なわれると、ス
テップs’r、、で、1根がまったか否かが判定される
。この判定は、0判定回路32で1回0になったことが
判定されたか否かで行なわれる。そして、1根求まった
(YES)場合、ステップ5T1sで、1重エラーと判
定され、1根求まらなかった(NO)の場合、ステップ
ST。
When the calculation for finding the root of the 0 equation is performed in this way, it is determined in steps s'r, . . . whether or not one root has been found. This determination is made based on whether or not the 0 determination circuit 32 determines that the value has become 0 once. If one root has been found (YES), a single error is determined in step 5T1s, and if one root has not been found (NO), step ST is performed.

で3重エラー以上であると判定されるものである。It is determined that there is a triple error or more.

ここで、第4図及び第5図は、それぞれr8=O及びr
j (oの場合の動作を示すタイミング図である。まず
、r、=Qの場合、演算処理回路17から第4図(a)
に示すタイミングで(So)〜(Ss)が出力されると
、ラッチ回路22は第4図(b)に示すタイミングで(
So)をラッテし、2ツチ回路2ノは第4図(0)に示
すタイミングで(Sl)をラッチする。
Here, FIGS. 4 and 5 show r8=O and r
4(a) from the arithmetic processing circuit 17 in the case of r,=Q.
When (So) to (Ss) are output at the timing shown in FIG. 4(b), the latch circuit 22 outputs (
The two-touch circuit 2 latches (Sl) at the timing shown in FIG. 4(0).

次に、演算処理回路17から第4図(a)に示すタイミ
ングで(r3)〜(r、)が出力されると、0判定回路
23は44図(d)でr、=Qの判定パルス(P、)を
出力しゲート回路2Qを非駆動状態にして、後から発生
される< rt) + (rl)がラッチ回路22.2
1にラッチされないようにする。
Next, when (r3) to (r, ) are outputted from the arithmetic processing circuit 17 at the timing shown in FIG. (P, ) is output to put the gate circuit 2Q into a non-drive state, and the later generated < rt) + (rl) is the latch circuit 22.2.
Prevent it from being latched to 1.

また、このときROM J 8は第4図(e)に示すタ
イミングでラッチ回路24にラッチ信号を出力し、ラッ
チ回路24は第4図(f)に示すタイミングでr8=0
をラッチする。その後、r、=0であれば、0判定回路
23は第4図(d)に示すタイミングでr2=00判定
パルス(P2)を出力する。
Also, at this time, ROM J 8 outputs a latch signal to the latch circuit 24 at the timing shown in FIG. 4(e), and the latch circuit 24 outputs a latch signal to r8=0 at the timing shown in FIG. 4(f).
Latch. Thereafter, if r=0, the 0 determination circuit 23 outputs the r2=00 determination pulse (P2) at the timing shown in FIG. 4(d).

そして、ラッチ回路El 、22.24のラッチ動作が
全て終了し、r、=0の判定が行なわれると、第4図は
)に示すタイミングでセット信号(r−8P)が出力さ
れ、以下0式の根をめる演算が行なわれるようになるも
のである。
When all the latch operations of the latch circuits El and 22 and 24 are completed and r is determined to be 0, a set signal (r-8P) is output at the timing shown in ) in FIG. This allows an operation to find the root of an expression.

また、r8NOの場合、演算処理回路17から!5図(
a)に示すタイミングで(So)〜(Ss)が出力され
ると、ラッチ回路22は第5図(b)に示すタイミング
で(So)を2ツチし、ラッチ回路21は第5図(c)
 K示すタイミングで(S、)を2ツチする1、次に、
演算処理回路17から第5図(a)に示すタイミングで
(r、)〜(rl)が出力されると、まずrs’=0で
あるから0判定回路23からは第5図(d)に示すよう
にr8=0の判定パルス(pt)t;を出力されず、ゲ
ート回路20は駆動状態となされ、後から発生される(
 r2) 、 (r、)がラッチ回路22.21にラッ
チされるようになされる。また、このとき、ROM 1
 gは第5図(6)に示すタイミングでラッチ回路24
にラッチ信号を出力し、ラッチ回路24は第5図(f)
に示すタイミングで(r3〕をラッチする。その仮、演
算回路12から(rt ) l (rl)が出力される
と、ラッチ(ロ)路22,21は第5図(b) 、 (
Q)にそれぞれ示すタイミングで、(So) = (S
t ) VC代えて(r[) 、(rt)をラッチする
Moreover, in the case of r8NO, from the arithmetic processing circuit 17! Figure 5 (
When (So) to (Ss) are output at the timing shown in a), the latch circuit 22 doubles (So) at the timing shown in FIG. )
Double check (S,) at the timing shown by K1, then,
When (r, ) to (rl) are output from the arithmetic processing circuit 17 at the timing shown in FIG. 5(a), first, since rs'=0, the 0 determination circuit 23 outputs the output as shown in FIG. 5(d). As shown, the determination pulse (pt)t; with r8=0 is not output, the gate circuit 20 is put into the driving state, and the determination pulse (pt)t; is generated later.
r2), (r,) are latched by the latch circuits 22 and 21. Also, at this time, ROM 1
g is the latch circuit 24 at the timing shown in FIG. 5 (6).
The latch circuit 24 outputs a latch signal as shown in FIG. 5(f).
(r3) is latched at the timing shown in FIG.
At the timing shown in Q), (So) = (S
t) Latch (r[), (rt) instead of VC.

そして、ラッチ回路21,22.24のラッチ動作が全
て終了すると、第5図(2))に示すタイミングでセッ
ト信号(r−8P)が出力され、以下[相]式の根をめ
る演算が行なわれるようになるものである。
Then, when all the latch operations of the latch circuits 21, 22, and 24 are completed, a set signal (r-8P) is output at the timing shown in FIG. will be carried out.

シfcがって、上記実施例のような構成によれば、1ず r 3= Sr 十St Sn r t −8182+ 8083 rI−8t + 53Sl なる演算を行ないrs”EOのとき r3x2+r、x十r、 =0 の根をめ、2根求まった場合2重エラーと判定してその
2根をエラーロケーション(αSr(αj)とし、2根
求まらなかった場合3重工2−以上と判定するとともに
、r3=0のときr2=0で s1十XSo =Q の根をめ、1根求まった場合1厘エラーと判定してその
1根をエラーロケーション(αi)とし、rt’i’0
か1根求まらなかった場合3重工2−以上と判定するよ
うにしたので、1貞エラーと2xLエラーとを判定する
のに乗算と加算のみで行なうことができ、従来のように
除算を行なう必要がなく、回路構成を簡易なものとする
ことができ、ひいては確実なエラー判定を行ない得るも
のである。
Therefore, according to the configuration of the above embodiment, the following calculation is performed, and when rs''EO, r3x2+r, x0r are calculated. , =0, and if two roots are found, it is determined to be a double error and the two roots are set as the error location (αSr(αj)), and if two roots are not found, it is determined to be 3 heavy engineering 2- or more. , when r3=0, find the root of s10XSo=Q with r2=0, and if one root is found, it is determined that there is a one-lin error, and that one root is set as the error location (αi), and rt'i'0
If the root of 1 or 1 cannot be found, it is judged as 3 heavy industrial 2- or more, so it is possible to judge between 1 error and 2xL error by only multiplication and addition, instead of dividing as before. There is no need to carry out this process, the circuit configuration can be simplified, and as a result, reliable error determination can be performed.

また、2重工2−の場合、0式をエラーロケーション多
項式トしてエラーロケーション(αi)。
In addition, in the case of double heavy engineering 2-, the error location (αi) is obtained by adding the error location polynomial to equation 0.

(αj)をめるよりにしたので、ここでも除算を行なう
必要なく、1回路構成の簡易化を図ることができるもの
である。この点に関し、従来では先に述べたように・0
式、つまり、 X+σ、X十〇。
Since (αj) is chosen, there is no need to perform division here either, and it is possible to simplify one circuit configuration. Regarding this point, conventionally, as mentioned earlier, 0
The formula is: X+σ, X10.

をエラーロケーション多項式としていたので、係数(σ
I)、(σりをめるのに除算回路が必要になるという問
題がめるものである。
is the error location polynomial, so the coefficient (σ
I), which raises the problem that a division circuit is required to calculate σ.

さらに、ラッチ回路21.22に2ツチされたシンドロ
ーム(St)p(So)Yrl =Qならそのままラッ
チさせて0式の演算を行なわせ、rsNOなら(Sr)
、(SO)に代えて(rθ、(r、)をラッチさせて[
相]式の演算を行なわせ、1重工2−のエラーロケーシ
ョンの演算と、2重エラーの工2−ロケーションの演算
とで、ラッチ回路21゜22、レジスタ回路25.26
、乗算回路28及び加算器30等を、共通に使用するこ
とができるようにしたので、この点でも回路構成の簡易
化及び処理時間の短縮化を図ることができる。
Furthermore, if the syndrome (St)p(So)Yrl =Q, which is double-checked in the latch circuits 21 and 22, is latched as is and the calculation of the 0 formula is performed, and if rsNO is (Sr)
, (SO) by latching (rθ, (r,) and [
The latch circuits 21 and 22 and the register circuits 25 and 26 are calculated by calculating the error location of the first heavy worker 2- and the double error worker 2-location.
, the multiplier circuit 28, the adder 30, etc. can be used in common, so that the circuit configuration can be simplified and the processing time can be shortened in this respect as well.

そして、上記のように、ラッチ回路21 、22に2ツ
チされたシンドローム(s+)、(so)を、r3=0
ならそのtまラッチさせて0式の演算を行なわせ、rs
’eOなら(s、)、(sz)に代えて(rI)、(r
s)をラッチさせて0式の演算ヲ行なわせることにより
、1重エラーのエラーロケーションの演算と、2重エラ
ーのエラーロケーションの演算とで、ラッチ回路21,
22、レジスタ回路25,26、乗算回路28及び加算
器30等を共通に使用することができるようにしたこと
が、この発明の特徴となる部分である。
Then, as mentioned above, the syndromes (s+) and (so) that are doubled in the latch circuits 21 and 22 are set to r3=0
Then, latch that t and perform the operation of the 0 expression, and rs
'eO, instead of (s,), (sz), (rI), (r
By latching s) and performing the calculation of the 0 expression, the latch circuit 21,
22, the register circuits 25 and 26, the multiplication circuit 28, the adder 30, etc. can be used in common, which is a feature of the present invention.

また、ステラ7’BT、Inで0式の根をめた後、ステ
ップ5T14で1根求まったか否かを判別して、l種水
まった場合1貞エラーと判定し、1根求まらなかった場
合3皇工ラー以上と判定するようにしたので、1Mエラ
ーの誤判定を高い確率で防止することができるようにな
るものである。すなわち、4重エラー以上であ#)なが
らこれを1重エラーと誤判定した場合、rs:rt=0
となつ゛て1根求まらないことがあるからである。この
ため、例えば訂正ブロックのシンボル数(N)が32で
、ガロア体GF(2)の場合、4重エラー以上を1重エ
ラーと誤判定して1根2 求まる確率は、/s =1/8となり、ステツプS T
、4を設けることにより、1/8の確率で4重エラー以
上を1重エラーと誤判定することを防止することができ
るようになるものである。
In addition, after finding the roots of formula 0 with Stella 7'BT and In, it is determined in step 5T14 whether or not 1 root has been found, and if the 1 type is waterlogged, it is determined as a 1 error, and 1 root has not been found. If there is no error, it is determined that the number is 3 or higher, so that it is possible to prevent a false determination of a 1M error with a high probability. In other words, if it is erroneously determined to be a single error even though there is a quadruple error or more, rs:rt=0
This is because sometimes it is impossible to find the root. For this reason, for example, if the number of symbols (N) in the correction block is 32 and the Galois field GF(2), the probability that a quadruple error or more will be incorrectly determined as a single error and 1 root 2 will be found is /s = 1/ 8, and step ST
, 4, it is possible to prevent a quadruple error or more from being mistakenly determined as a single error with a probability of 1/8.

なお、この発明は上記実施例に限定されるものではなく
、この外その要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施
することができる。
It should be noted that the present invention is not limited to the above-mentioned embodiments, and can be implemented with various modifications without departing from the gist thereof.

〔発明の幼果〕[The young fruits of invention]

したがって、以上詳述したようにこの発明によれば、簡
易な構成で確実なエラー判定を行ない得るようにしfc
極めて良好なエラー訂正回路を提供することができる。
Therefore, as described in detail above, according to the present invention, it is possible to perform reliable error determination with a simple configuration.
An extremely good error correction circuit can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は従来のエラー訂正回路を示すブロック構成図、
第2図はこの発明に係るエラー訂正回路の一実施例を示
すブロック構成図、第3図乃至第5図はそれぞれ同実施
例の動作を説明するためのフローチャート及びタイミン
グ図である ノー・・・ピックアップ、12・・・復調回路、13・
・・エラー訂正手段、14・・・2M訂正回路、15・
・・ディンターリーブ回路、16・・・2血訂正回路、
12・・・演算処理回路、18・・・ROM、J!9・
・・パスライン、20・・・ゲート回路、21.22・
・・ラッチ回路、23・・・O判定回路、24・・・ラ
ッチ回路、25乃至27・・・レジスタ回路、2B、2
9゛°°乗算回路、30.31・・・加算器、32・・
・0判定回路。
FIG. 1 is a block diagram showing a conventional error correction circuit.
FIG. 2 is a block diagram showing an embodiment of the error correction circuit according to the present invention, and FIGS. 3 to 5 are a flowchart and timing diagram for explaining the operation of the embodiment, respectively. Pickup, 12... Demodulation circuit, 13.
...Error correction means, 14...2M correction circuit, 15.
...Dinterleave circuit, 16...2 blood correction circuit,
12... Arithmetic processing circuit, 18... ROM, J! 9・
...Pass line, 20...Gate circuit, 21.22.
...Latch circuit, 23...O determination circuit, 24...Latch circuit, 25 to 27...Register circuit, 2B, 2
9゛°°multiplication circuit, 30.31... adder, 32...
・0 judgment circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 ガロア体GF(+ )における2重訂正BCH符号の符
号語に基づいてエラーロケーション多項式をめエラー訂
正に会費なエラーロケーション及びエラーパターンを生
成してなるエラー訂正回路において、前記符号語からシ
ンドローム(Si)(iは正の整数)を生成するシンド
ローム生成手段と、このシンドローム生成手段力)ら出
力されるシンドローム(St)のうち(Sl ) 、(
so)をそれぞれ保持する第1及び第2の保持手段と、
前記シンドローム生成手段で生成されたシンドローム(
SS)VC,基づいて r3 =81So + 8”1 r= =s、sO+Stew r1=SsSI + S: なる演算を行なう演算手段と、この演算手段の出力(r
3)、(r= )、(r、)のうち(r、)を保持する
第3の保持手段と、前記演算手段の出力(r=)、(r
l) −(rt )のうち、r、(’Qかr8=0かを
判定する判定手段と、この判定手段でr、笑0が判定さ
れた状態で前記第1及び第2の保持手段に前記(st)
、(so)に代えて前記(rl )、(r、 )をそれ
ぞれ保持させる制御手段と、前記第1の保持手段に保持
された内容(sl)または(rl)と前記第2の保持手
段に保持された内容(so)または(、rt)に前記ガ
ロア体GF(2m)の元(α )を乗算した値と前記第
3の保持手段に保持された内容(r、)に(α!1)を
乗算した値とを加算する信号処理手段とを其備し、前記
信号処理手段の出力が0となったときの前記元(αi)
をエラーロケーションとするようにしてなることを特徴
とするエラー訂正回路。
[Scope of Claims] An error correction circuit which generates an error location and an error pattern suitable for error correction using an error location polynomial based on a code word of a double-corrected BCH code in a Galois field GF(+). Syndrome generating means for generating syndrome (Si) (i is a positive integer) from a code word, and among the syndromes (St) output from this syndrome generating means, (Sl ), (
first and second holding means respectively holding so);
The syndrome generated by the syndrome generating means (
SS) VC, based on r3 = 81So + 8”1 r= =s, sO+Stew r1=SsSI + S:
3), a third holding means for holding (r, ) among (r= ), (r,), and an output (r=), (r
l) -(rt), a determining means for determining whether r, ('Q or r8=0); Said (st)
, (so), a control means for holding the above (rl) and (r, ), respectively, and a control means for holding the contents (sl) or (rl) held in the first holding means and the second holding means. The value obtained by multiplying the retained content (so) or (, rt) by the element (α) of the Galois field GF (2m) and the content (r,) retained in the third retaining means are (α!1 ), the element (αi) when the output of the signal processing means becomes 0;
An error correction circuit characterized in that the error location is set as the error location.
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DE8484110573T DE3484455D1 (en) 1983-09-06 1984-09-05 ERROR CORRECTION.
US06/647,919 US4608692A (en) 1983-09-06 1984-09-06 Error correction circuit

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01146430A (en) * 1987-12-02 1989-06-08 Matsushita Commun Ind Co Ltd Error number discriminating method
US5061861A (en) * 1988-05-20 1991-10-29 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Mos integrated circuit for driving light-emitting diodes

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