JPS6047920A - 材料試験機の計測装置 - Google Patents
材料試験機の計測装置Info
- Publication number
- JPS6047920A JPS6047920A JP15701583A JP15701583A JPS6047920A JP S6047920 A JPS6047920 A JP S6047920A JP 15701583 A JP15701583 A JP 15701583A JP 15701583 A JP15701583 A JP 15701583A JP S6047920 A JPS6047920 A JP S6047920A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cpu
- sensor
- input
- memory
- data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/02—Details
- G01N3/06—Special adaptations of indicating or recording means
- G01N3/066—Special adaptations of indicating or recording means with electrical indicating or recording means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は材料試験機の計測装置に関する。
（ロ）従来技術
従来、材料試験機の伸びセンサや荷重センサにおいて、
そのセンサ部や増幅部でのリニアりティの悪さにより測
定精度の低下することがある。このリニアリティを改善
するため、例えば熱電対等ではハードウェア構成のりニ
アライザを使用しているが、そのリニアライザはきわめ
て複雑な構造となり、調整作業も煩雑になる。
そのセンサ部や増幅部でのリニアりティの悪さにより測
定精度の低下することがある。このリニアリティを改善
するため、例えば熱電対等ではハードウェア構成のりニ
アライザを使用しているが、そのリニアライザはきわめ
て複雑な構造となり、調整作業も煩雑になる。
（ハ）発明の目的
本発明の目的は、センサがどのような特性の場合でも容
易に調整することができ、多数のセンサに対しても唯１
個の装置が共通使用できるリニアライザ機能を備えた材
料試験機の計測装置を提供することにある。
易に調整することができ、多数のセンサに対しても唯１
個の装置が共通使用できるリニアライザ機能を備えた材
料試験機の計測装置を提供することにある。
（ニ）発明の構成
本発明の材料試験機の計測装置は、試験材の状態を示す
物理量をアナログ電気信号に変換するセンサと、そのセ
ンサ出力をデジタル変換したデータが入力されるＣＰＵ
と、そのＣＰＵとデータの授受を行いながらデータを記
憶するメモリと、ＣＰＵに対しデータを入力する入力手
段を備え、上記メモリは、上記センサの状態を示す複数
個の物理量として上記入力手段から入力された複数個の
数値と、それら各数値に対応する実測値を記憶しており
、上記センサによる実測値がＣＰＵに入力されたときそ
れに対応する数値をＣＰＵから出力するよう構成された
ことを特徴としている。
物理量をアナログ電気信号に変換するセンサと、そのセ
ンサ出力をデジタル変換したデータが入力されるＣＰＵ
と、そのＣＰＵとデータの授受を行いながらデータを記
憶するメモリと、ＣＰＵに対しデータを入力する入力手
段を備え、上記メモリは、上記センサの状態を示す複数
個の物理量として上記入力手段から入力された複数個の
数値と、それら各数値に対応する実測値を記憶しており
、上記センサによる実測値がＣＰＵに入力されたときそ
れに対応する数値をＣＰＵから出力するよう構成された
ことを特徴としている。
（ホ）実施例
第１図に本発明の一実施例を示す。センサ１は変位−電
気変換素子であって、材料試験機のつかみ具の変位を電
気信号に変換して出力する。このアナログ信号はセンサ
アンプ２により増幅され、Ａ／Ｄ変換器３によりデジタ
ル信号に変換されてＣＰＵ （中央処理ユニット）４に
入力される。
気変換素子であって、材料試験機のつかみ具の変位を電
気信号に変換して出力する。このアナログ信号はセンサ
アンプ２により増幅され、Ａ／Ｄ変換器３によりデジタ
ル信号に変換されてＣＰＵ （中央処理ユニット）４に
入力される。
ＣＰＵ４にはオペレータが数値を入力するためのキーボ
ード５．プログラム、測定データ、変換テーブル等を記
憶するメモリ６が接続されており、ＣＰＵ４によりデー
タ処理結果は直接に端子７から出力すると同時にＤ／Ａ
変換器８により再びアナログ信号に変換して端子９から
出力することもできる。
ード５．プログラム、測定データ、変換テーブル等を記
憶するメモリ６が接続されており、ＣＰＵ４によりデー
タ処理結果は直接に端子７から出力すると同時にＤ／Ａ
変換器８により再びアナログ信号に変換して端子９から
出力することもできる。
メモリ６に書込まれているプログラムは、校正モード用
のものと、測定モード用のものを含んでいる。校正を行
うときは、センサ１の状態を一２鶴、−１ｔｓ、Ｏ１１
鶴、２Ｍ１Ａと変位させ、その数値をキーボード５から
入力するとともに、各状態における実測値ａ、ｂ、ｃ、
ｄ、ｅをメモリに書き込む。このメモリの内容は変換テ
ーブルであって、これをグラフにより図示すれば例えば
第２図に示すようになる。実測値ａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅの
間はこれを直線的に結ぶ一次関数により表わすことがで
き、その関数がＣＰＵにより作られ、メモリに記憶され
る。その結果、折線Ｘで示すような変換関数式が得られ
る。測定を行うときは、測定値である電圧（Ｖ）が予め
メモリに書き込まれている変換テーブル又は変換関数式
により変位（＊ｍ ）に変換される。
のものと、測定モード用のものを含んでいる。校正を行
うときは、センサ１の状態を一２鶴、−１ｔｓ、Ｏ１１
鶴、２Ｍ１Ａと変位させ、その数値をキーボード５から
入力するとともに、各状態における実測値ａ、ｂ、ｃ、
ｄ、ｅをメモリに書き込む。このメモリの内容は変換テ
ーブルであって、これをグラフにより図示すれば例えば
第２図に示すようになる。実測値ａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅの
間はこれを直線的に結ぶ一次関数により表わすことがで
き、その関数がＣＰＵにより作られ、メモリに記憶され
る。その結果、折線Ｘで示すような変換関数式が得られ
る。測定を行うときは、測定値である電圧（Ｖ）が予め
メモリに書き込まれている変換テーブル又は変換関数式
により変位（＊ｍ ）に変換される。
第３図に本発明の他の実施例の入力部分を示す。
多数のセンサ（図示せず）のリード線は複数個の入力端
子ＩＩ 、１２、−Ｉ ｎに接続され、マルチプレクサ
１０によりその１つの入力信号が選択的に取り出されて
Ａ／Ｄ変換器に導かれる。マルチプレクサ１０の切換え
はＣＰＵ４により制御されている。メモリ６Ａは複数個
のセンサごとに前記実施例と同様の変換テーブル又は変
換関数式を記憶している。この実施例によれば１個のＣ
ＰＵとメモリにより複数個のセンサに対するリニアライ
ザ機能を営ませることができ、複雑な構造物の各部位の
変位等を同時測定する場合などにおいて特に効果がある
。
子ＩＩ 、１２、−Ｉ ｎに接続され、マルチプレクサ
１０によりその１つの入力信号が選択的に取り出されて
Ａ／Ｄ変換器に導かれる。マルチプレクサ１０の切換え
はＣＰＵ４により制御されている。メモリ６Ａは複数個
のセンサごとに前記実施例と同様の変換テーブル又は変
換関数式を記憶している。この実施例によれば１個のＣ
ＰＵとメモリにより複数個のセンサに対するリニアライ
ザ機能を営ませることができ、複雑な構造物の各部位の
変位等を同時測定する場合などにおいて特に効果がある
。
（へ）発明の効果
本発明によれば、センサの感度特性のいかんにかかわら
ず完全に校正することができるので、測定精度が向上し
且つセンサの使用範囲が拡大された。また、従来の調整
作業のように熟練した技術を必要とせず、事務的に校正
作業を行うことができる。更に、測定装置が通常具備し
ているｃｐｕを利用してリニアライザ機能を付加するこ
とができるので、構成が簡単になり経済的である。
ず完全に校正することができるので、測定精度が向上し
且つセンサの使用範囲が拡大された。また、従来の調整
作業のように熟練した技術を必要とせず、事務的に校正
作業を行うことができる。更に、測定装置が通常具備し
ているｃｐｕを利用してリニアライザ機能を付加するこ
とができるので、構成が簡単になり経済的である。
第１図は本発明実施例を示すブロック図、第２図は本発
明実施例の作用説明図、第３図は本発明の他の実施例の
部分を示すブロック図である。 １・・−センサ ２−センサアンプ ３・−Ａ／Ｄ変換器 ４−ＣＰ Ｕ ５−一一−キーボード ６．６Ａ−メモリ１０−マルチ
プレクサ 特許出願人 株式会社島津製作所 代理人 弁理士西１）新
明実施例の作用説明図、第３図は本発明の他の実施例の
部分を示すブロック図である。 １・・−センサ ２−センサアンプ ３・−Ａ／Ｄ変換器 ４−ＣＰ Ｕ ５−一一−キーボード ６．６Ａ−メモリ１０−マルチ
プレクサ 特許出願人 株式会社島津製作所 代理人 弁理士西１）新
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１１試験材の状態を示す物理量をアナログ電気信号に
変換するセンサと、そのセンサ出力をデジタル変換した
データが入力されるＣＰＵと、そのＣＰＵとデータの授
受を行いながらデータを記憶するメモリと、ＣＰＵに対
しデータを入力する入力手段を備え、上記メモリは、上
記センサの状態を示す複数個の物理量として上記入力手
段から入力された複数個の数値と、それら各数値に対応
する実測値を記憶しており、上記センサによる実測値が
ＣＰＵに入力されたときそれに対応する数値をＣＰＵか
ら出力するよう構成された材料試験機の計測装置。 （２）上記入力手段から入力された各数値に対応する実
測値と実測値の間を直線的に結ぶ変換式を、上記メモリ
が記憶しており、上記センサによる実測値がＣＰＵに入
力されたとき上記変換式により変換された数値をＣＰＵ
から出力するよう構成された特許請求の範囲第１項記載
の材料試験機の計測装置。 （３）複数個のセンサの出力信号からその一つを選択す
るアナログスイッチを設け、上記メモリ内に各センサご
との変換データが記憶されている特許請求の範囲第１項
又は第２項記載の材料試験機の計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15701583A JPS6047920A (ja) | 1983-08-26 | 1983-08-26 | 材料試験機の計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15701583A JPS6047920A (ja) | 1983-08-26 | 1983-08-26 | 材料試験機の計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6047920A true JPS6047920A (ja) | 1985-03-15 |
Family
ID=15640313
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15701583A Pending JPS6047920A (ja) | 1983-08-26 | 1983-08-26 | 材料試験機の計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6047920A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5290960A (en) * | 1976-01-27 | 1977-07-30 | Toray Industries | Method of calibrating measuring instrument |
| JPS5827298A (ja) * | 1981-08-10 | 1983-02-17 | 株式会社東芝 | 計数装置 |
-
1983
- 1983-08-26 JP JP15701583A patent/JPS6047920A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5290960A (en) * | 1976-01-27 | 1977-07-30 | Toray Industries | Method of calibrating measuring instrument |
| JPS5827298A (ja) * | 1981-08-10 | 1983-02-17 | 株式会社東芝 | 計数装置 |
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