JPS6037820A - Input and output circuit in logical lsi - Google Patents

Input and output circuit in logical lsi

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JPS6037820A
JPS6037820A JP58144975A JP14497583A JPS6037820A JP S6037820 A JPS6037820 A JP S6037820A JP 58144975 A JP58144975 A JP 58144975A JP 14497583 A JP14497583 A JP 14497583A JP S6037820 A JPS6037820 A JP S6037820A
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JP
Japan
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circuit
input
output
node
stage
Prior art date
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JP58144975A
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Japanese (ja)
Inventor
Masayuki Sato
昌幸 佐藤
Kanji Yo
陽 完治
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Hitachi Microcomputer System Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Microcomputer Engineering Ltd
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Publication date
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Publication of JPS6037820A publication Critical patent/JPS6037820A/en
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/02Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
    • H03K19/173Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components
    • H03K19/1733Controllable logic circuits
    • H03K19/1735Controllable logic circuits by wiring, e.g. uncommitted logic arrays

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To decrease number of required components and to decrease the occupied area by sharing a part of elements for an input/output buffer circuit and a Schmitt circuit through the change of wirings. CONSTITUTION:The 1st stage inverter consists of PMOSFETs Q1, Q3 and an NMOSFETQ2. A drain terminal of the FETs Q1, Q3 and output nodes n1, n1' are separated, and in constituting the input buffer circuit, the FETQ1 and the node n1 are connected and in constituting the Schmitt circuit, the FETQ3 and the node n1' are connected at aluminum wiring. Thus, an FETQ2 is used in common for both the circuits. On the other hand, the PMOSFETs Q4, Q5 and the NMOSFETQ5 constitute an inverter 2 of the output stage. The drain terminal of the FETQ6 and a node n1'' are separated and they are connected together only in constituting the Schmitt circuit.

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、論理LSIにおける入出力回路に関し、特
に複数個のゲート回路がマスクスライスによって構成さ
れて所望の論理動作が行なわれるようにされたゲートア
レイに適した入出力回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an input/output circuit in a logic LSI, and particularly to an input/output circuit suitable for a gate array in which a plurality of gate circuits are configured by mask slices to perform a desired logic operation. Regarding circuits.

論理LSIでは、入力バッファ回路の他にシュミット回
路が必要とされることがある。そのため、マスタスライ
ス法によって構成されるゲートアレイにおいては、必要
に応じて、入力バッファ回路とシーミツト回路のいずれ
の回路をも選択できるようにするため、複数個の入力バ
ッファ回路の他に、同じDのシーミント回路を予め同一
チノフ上に形成しておく場合がある。
In a logic LSI, a Schmitt circuit is sometimes required in addition to an input buffer circuit. Therefore, in a gate array constructed by the master slice method, in order to be able to select either an input buffer circuit or a seamit circuit as necessary, in addition to multiple input buffer circuits, the same D Seamint circuits may be formed in advance on the same chinoff.

従来、例えば、0M08LSIにおけろ入力バッファ回
路およびシュミット回路としては、一般に、第1図およ
び第2図に示すような構成にされて(また。
Conventionally, for example, input buffer circuits and Schmitt circuits in 0M08LSI have generally been configured as shown in FIGS. 1 and 2.

図面からも分かるように、入力バッファ回路とシーミン
ト回路はそれぞれ4個と5個の素子(MQSFET)か
ら構成される装置 そのため、予め同一チップ上に入力バッファ回路とシー
ミント回路とを形成し、ておいて、配線時に一方の回路
を選択して接続するようにした場合、使用されない方の
回路がむだになる。つまり、所望の入力回路を得るのに
最低必蚤な素子数の約2倍の数の素子が予めチップ上に
形成されるので、面積効率が悪く、数十、数百という入
力回路を必要とする場合には、これによってチップサイ
ズがかなり大きくされてしまうという問題点があった。
As can be seen from the drawing, the input buffer circuit and the Seamint circuit are devices composed of four and five elements (MQSFETs), respectively. Therefore, the input buffer circuit and the Seamint circuit are formed on the same chip in advance, and If one of the circuits is selected and connected during wiring, the unused circuit will be wasted. In other words, approximately twice as many elements as the minimum number of elements required to obtain a desired input circuit are pre-formed on the chip, resulting in poor area efficiency and the need for tens or hundreds of input circuits. In this case, there is a problem in that the chip size becomes considerably large.

そこで、この発明は、同一の素子群を配線をかえるだけ
で入力バッファ回路またはシミツト回路に構成できるよ
うにしておくことによって、入力バッファ回路とシーミ
ント回路とで互いに一部の素子を共用し、これにより、
入力回路を構成するのに必要な素子数および占有面積を
減少させ、チップサイズを縮減できるようKjろことを
目的とする。
Therefore, the present invention allows the input buffer circuit and the seamint circuit to share some elements, by making it possible to configure the same element group into an input buffer circuit or a seamint circuit by simply changing the wiring. According to
The object of the present invention is to reduce the number of elements and area occupied by an input circuit, thereby reducing the chip size.

また、この発明は、回路を構成する特定の素子の寸法そ
のものを小さくさせることができ、これによって、更に
占有面積を減少させることができるようにすることを目
的とする。
Another object of the present invention is to make it possible to reduce the dimensions of specific elements constituting the circuit, thereby further reducing the occupied area.

以下図面を用いてこの発明を説明する。The present invention will be explained below using the drawings.

第3図は本発明をCMOSゲートアレイの入力用回路に
適用した場合の一実施例を示す。
FIG. 3 shows an embodiment in which the present invention is applied to an input circuit of a CMOS gate array.

図において、Pチャンネル型MO8FETQ、。In the figure, a P-channel type MO8FETQ.

QaおよびNチャンネル型MO8FETQ2は初段の0
M0Sインバータ1を構成するためのPチャンネル型M
O8FETとNチャンネル型MO8FETである。Qa
はシーミント回路を構成する場合に、−上記MO8FE
TQ、とともに初段のインバータ1を構成するためのP
チャンネル型MO8FETである。
Qa and N-channel type MO8FETQ2 are 0 in the first stage.
P-channel type M for configuring M0S inverter 1
They are an O8FET and an N-channel type MO8FET. Qa
When configuring a Seamint circuit, - the above MO8FE
P for configuring the first stage inverter 1 together with TQ.
It is a channel type MO8FET.

上記MO8FETQI とQaは、それぞれそのドレイ
ン端子が出力ノードnl?”I から切り離でれており
、アルミ配線時に選択的に一方が接続されるようにされ
ている。つまり、入力バッファ回路を構成する場合には
、M OS F E T Q lのドレイン端子とノー
ドnl が接続され、また、シュミット回路を構成する
場合には、MO8FETQ。
The drain terminals of the above MO8FETs QI and Qa are connected to the output node nl? "I" is separated from the terminal, and one side is selectively connected during aluminum wiring.In other words, when configuring an input buffer circuit, the drain terminal of MOS FETQ MO8FETQ when the node nl is connected and also forms a Schmitt circuit.

のドレイン端子とノードn、′とが接続されるようにさ
れている。従って、MO8F’ETQ、は両回路で共用
されることになる。
The drain terminal of the node n,' is connected to the node n,'. Therefore, MO8F'ETQ is shared by both circuits.

また、上記MO8FETQ、とQaは、そのW/L比(
ゲート幅とゲート長との比)が、MO8FETQ、の方
が小さくなるように形成されている。これによって、M
O8FETQ3が選択的VcMOS F E T Qg
に接欣された場合、そのインバータのロジックシュVツ
ショールドは、MO31i’ETQ、がMO8FETQ
2に接続されて構成きれるインバータのロジックシュレ
ッショールドよりも低くされるようにされている。した
がってインバータのロジックシュレッショールドをアル
ミ配線によって選択的に設定できる。
In addition, the W/L ratio (
MO8FETQ is formed so that the ratio (gate width to gate length) is smaller than that of MO8FETQ. By this, M
O8FETQ3 is selective VcMOS FET Qg
, the inverter's logical Vtshold is MO31i'ETQ, MO8FETQ
The logic threshold of the inverter that can be configured by being connected to 2 is lower than that of the inverter. Therefore, the logic threshold of the inverter can be selectively set using aluminum wiring.

次に、Pチャンネル型MO8FETQ4.Q。Next, P channel type MO8FETQ4. Q.

およびNチャンネル型MO8FETQsは出力段のイン
バータ2を構成する。これらのM OS F ET Q
4− Qsは入力バッファ回路とシュミット回路とで共
用される。
and N-channel type MO8FETQs constitute an inverter 2 at the output stage. These MOS FET Q
4-Qs is shared by the input buffer circuit and Schmitt circuit.

Q、はシュミット回路を構成する場合に使用される帰還
用MO8FETで、このMO8FETQaのゲート端子
には、上記出力段の出力ノードn。
Q is a feedback MO8FET used when configuring a Schmitt circuit, and the gate terminal of this MO8FETQa is connected to the output node n of the output stage.

が接続されている。そして、このMO8FETQeのド
レイン端子とノードn“、との間は予め切り離ばれてお
り、シュミット回路を構成する場合には、配線時に接続
されるようにされ℃いる。MO3FETQ6のドレイン
端子がノードnτに接続されると、入力信号vInがロ
ウレベルのとき、出力信号■。utはロウレベルにされ
てMO3FETQ、がオンされる。また、入力信号Vi
nがハイレベルのときは、出力信号V。utもハイレベ
ルにされてMOS F E T Q、がオフされる。従
って、入力信号vinがロウレベルからハイレベルに変
化して、ノードnlがハイレベルからロウレベルに変化
される場合、M OS F E T Q aは、ロウレ
ベルからハイレベルに変化されるノードn、の電位によ
り℃、オンからオフへ切り換えられる。その結果、MO
8F E T QaのW/L比とMO8FETQ、のW
/L比の和がMO8FETQ、のW/L比より大きくな
るようにしておけば、シュミット回路における入力信号
Vinがロウレベルからハイレベルに変化するときのロ
ジックシュレッショールトハ入力信号V1nがハイレベ
ルからロウレベルに変化するときのロジソクシュレッシ
ョールドよりも高くなるようにされる。
is connected. The drain terminal of this MO8FETQe and the node n" are separated in advance, and when configuring a Schmitt circuit, they are connected at the time of wiring.The drain terminal of the MO3FETQ6 is connected to the node nτ When the input signal vIn is at a low level, the output signal .ut is set at a low level and the MO3FETQ is turned on.
When n is high level, output signal V. ut is also set to high level and MOS FETQ is turned off. Therefore, when the input signal vin changes from a low level to a high level and the node nl changes from a high level to a low level, the MOS FET Qa is the potential of the node n, which is changed from a low level to a high level. It can be switched from on to off depending on the temperature. As a result, M.O.
W/L ratio of 8FETQa and W of MO8FETQ
If the sum of the /L ratio is set to be larger than the W/L ratio of MO8FETQ, the logic threshold when the input signal Vin in the Schmitt circuit changes from low level to high level will be lower than the input signal V1n from high level to low level. is set to be higher than the logic threshold when changing to .

つまり、上記実施例においては、MO8PETQ1のド
レインをノードn、に接続嘔せて入力バッファ回路を構
成した場合の回路の入出力特性は、第4図の実MAのよ
うになる。これに対し、MO8F E T Qsのドレ
インをノードn′I に、またMOS F E T Q
、のドレインをノードn ifに接続してシュミ7)回
路を構成した場合の回路の入出力特性は、第4図破線B
、B’のようにヒステリシスを持つようにされる。
That is, in the above embodiment, when an input buffer circuit is constructed by connecting the drain of MO8PETQ1 to node n, the input/output characteristics of the circuit are as shown in the actual MA in FIG. 4. On the other hand, the drain of MO8FETQs is connected to node n'I, and the drain of MOSFETQ
When a Schmi7) circuit is constructed by connecting the drain of , to the node nif, the input/output characteristics of the circuit are shown by the broken line B in
, B' have hysteresis.

このように、上記実施例においては、入力バッファ回路
とシュミット回路とで3つの素子(MOSFET)Qt
 −Qa −Qaを共用しているため、第1図および第
2図のように、全く別個に構成する場合に比べて素子数
が少なくて済み、回路の占有面積も小さくされる。
In this way, in the above embodiment, the input buffer circuit and the Schmitt circuit have three elements (MOSFET) Qt
Since -Qa -Qa are shared, the number of elements can be reduced compared to the case where they are constructed completely separately as shown in FIGS. 1 and 2, and the area occupied by the circuit can also be reduced.

なお、前記第1の実施例においては、初段インバータを
構成するMO8PETQ、と並列にMO8PETQ11
を設けて、選択的にノードnlK接続させることにより
、入力信号Vinがハイレベルからロウレベルへ変化す
るときのロジックシュレッショールドを、MO8FET
Q、を選択したシュミット回路の方が低くなるようにさ
せている。
In addition, in the first embodiment, MO8PETQ11 is connected in parallel with MO8PETQ constituting the first stage inverter.
By providing and selectively connecting node nlK, the logic threshold when the input signal Vin changes from high level to low level can be set to MO8FET.
The selected Schmitt circuit has a lower Q.

しかし、単にシュミット回路がヒステリシスを持てばよ
いような場合には、MO8FETQsは必ずしも必要で
はなく、MO8FETQ、を入力バッファ回路とシュミ
ット回路とで共用きせるようにしてもよい。このように
した場合、シュミット回路の入出力特性は第4図のA線
とBaで示すようなヒステリシスを持つようにされる。
However, if the Schmitt circuit only needs to have hysteresis, the MO8FETQs is not necessarily necessary, and the MO8FETQ may be shared by the input buffer circuit and the Schmitt circuit. In this case, the input/output characteristics of the Schmitt circuit are made to have hysteresis as shown by line A and Ba in FIG.

この場合、素子数は更に少なくなる。In this case, the number of elements is further reduced.

次に第5図は本発明の第2の実施例を示す。Next, FIG. 5 shows a second embodiment of the present invention.

前記実施例では、入力段(初段インバータ)1を構成す
るMO8FETQ、 とQ3とを、入力バッファ回路と
シュミット回路とで取り換えて使用するようにされてい
た。これに対し、第5図の実施例では、一方のMo5F
ETQ+’のドレイン端子を常にノードn、に接続させ
ておき、Mo5FETQ+’とQs’のゲート幅W、′
とW、′の和が前記実施例における大きい方のMO8F
ETQ、のゲート幅W1 と同じになるようにする(た
だし、LI′=L、’=L、とする)。
In the embodiment described above, the MO8FETs Q and Q3 constituting the input stage (first stage inverter) 1 are used by replacing them with an input buffer circuit and a Schmitt circuit. On the other hand, in the embodiment shown in FIG.
The drain terminal of ETQ+' is always connected to node n, and the gate width W,' of Mo5FETQ+' and Qs' is
and W,' is the larger MO8F in the above example.
ETQ (however, LI'=L, '=L).

MO8集積回路においては、回路の占有面積はこれを構
成するMOSFETの数よりも寸法(特にゲート幅)に
大きく依存する。つまり、一つのMOSFETを、ゲー
ト幅が半分の2つのMOSFETに分けても、占有面積
ははとんど変わらない。従って、第5図の実施例では、
入力段1を構成するための素子数が3つであっても、占
有面積では、第1図の回路の2つの素子からなる入力段
(初段インバータ)1と略同じ程度で済む。その結果、
第5図の回路は、第3図の回路に比べて占有面積が更に
減少される。
In MO8 integrated circuits, the area occupied by the circuit depends more on the dimensions (particularly the gate width) than on the number of MOSFETs that make up the circuit. In other words, even if one MOSFET is divided into two MOSFETs with half the gate width, the occupied area remains the same. Therefore, in the embodiment of FIG.
Even if the number of elements for configuring the input stage 1 is three, the occupied area is approximately the same as that of the input stage (initial stage inverter) 1 consisting of two elements of the circuit shown in FIG. the result,
The circuit of FIG. 5 has a further reduced footprint compared to the circuit of FIG.

この実施例では、入力バッファ回路を構成するどきは、
MO8F’ETQ、/のドレイン端子なノードn1′に
接続させる。また、シーミツト回路を構成する場合には
、MO8FETQ、70ドレイン端子とノードn 、/
とを切り離したままにさせておけばよい。これによって
、シュミント回路の初段のインバー1 (Q、’ e 
Qt )のロジノクシュレッショールドは、入力バッフ
ァ回路の初段インバータ(Q、’、 Q、’、 Q、 
)のりシックシュVソショールドよりも低くなるように
される。
In this example, when configuring the input buffer circuit,
It is connected to node n1' which is the drain terminal of MO8F'ETQ and /. In addition, when configuring a seamit circuit, MO8FETQ, 70 drain terminal and node n, /
It is best to keep them separate. As a result, the first stage inverter 1 (Q,' e
The Loginok threshold of the input buffer circuit (Q,', Q,', Q,
) is made to be lower than Nori Chicche V Saushold.

第6図は本発明の第3の実施例を示す。FIG. 6 shows a third embodiment of the invention.

この実施例では、第2の実施例(第5図)におけるM 
OS F E T Q a’が2つに分割され、MO8
FETQ、’とQa’およびQR″のゲート幅の総和(
Ws’+WS’+W: )が、第3図において人カバッ
7アを構成する場合に必要とされるMO8FETQ□の
ゲート幅W、と等しくなるようKされている。このよう
にされても、第2の実施例と同様に、初段のインバータ
を構成するためのMo5FETQ+’ * Qs’、Q
s’、Qtの占有面積は、第1図の回路のM OS F
 E T Q I とQ、の占める面積とほとんど等し
くなる。
In this example, M in the second example (FIG. 5)
OS F E T Q a' is divided into two and MO8
The sum of the gate widths of FETQ, ', Qa' and QR'' (
K is set so that Ws'+WS'+W: ) is equal to the gate width W of MO8FETQ□ which is required when constructing the person cover 7 in FIG. Even if this is done, the Mo5FETQ+' * Qs', Q for configuring the first stage inverter is similar to the second embodiment.
The area occupied by s' and Qt is the M OS F of the circuit shown in FIG.
The area occupied by E T Q I and Q is almost equal.

この実施例では、上記MOS F E T Qs’とQ
s’をゲート幅が異なるように形成しておいて(W3′
〜Ws’)、入力バッファ回路を構成するときは、MO
S F E T Qs’とQ3ttのドレイン端子をと
もにノードn 1/に接続はせる。また、シュミット回
路を構成する場合には、MOS F E T Qa’ま
たはQ3″のいずれか一方のドレイン端子をノードn 
、/に接続させ、他方のトノイン端子は接続しないで切
り離したままにして訃く。これによって、MO8FET
Q3’を接続シタ場合と、MO8FETQ 、//を接
続した場合とでは、第4図破線B、B’ど鎖線0.C′
で示すように、ヒステリシス特性が異なるシュミット回
路を構成することができるようにされる。
In this example, the above MOS FET Qs' and Q
s' are formed to have different gate widths (W3'
~Ws'), when configuring the input buffer circuit, MO
The drain terminals of S F E T Qs' and Q3tt are both connected to the node n1/. In addition, when configuring a Schmitt circuit, the drain terminal of either MOS FET Qa' or Q3'' is connected to the node n
, / and leave the other terminal disconnected without connecting it. By this, MO8FET
In the case where Q3' is connected and the case where MO8FETQ and // are connected, the broken lines B and B' and the dashed line 0. C'
As shown in FIG. 2, it is possible to configure Schmitt circuits with different hysteresis characteristics.

以上説明したように、この発明においては、同一の素子
群が配線をかえてやるだけで、入出力3277回路また
はシュミット回路に構成できるようにされているので、
入出力バッファ回路とシュミット回路とで、互いに一部
の素子を共用する形になり、これによって、入出力回路
を構成するのに必要な素子数および占有面積か少なくて
済み、これを含むゲートアレイのおうな論理LSIのチ
ップサイズを縮減させることができる。
As explained above, in this invention, the same element group can be configured into an input/output 3277 circuit or a Schmitt circuit by simply changing the wiring.
The input/output buffer circuit and the Schmitt circuit share some elements with each other, which reduces the number of elements and area required to configure the input/output circuit, and reduces the gate array that includes this circuit. The chip size of logic LSIs such as these can be reduced.

また、入力段を構成する特定の(共用されない)MOS
FETを複数に分割し、これらのMOSFETの寸法の
和が必要とされる最も大きi;cMos寸法に一致する
ようにさせた場合には、共用されないMOSFETの素
子寸法自体を小さくさせることができ、これによって、
更に占有面積を減少させることができる。しかも、入力
段の共用されないMOSFETを2以上に分割して、こ
れらの中から適当に選択して回路の所定のノードに接続
させてやることによって、シュミット回路構成における
ヒステリシスを異ならしめることも可能である。
Also, specific (non-shared) MOS that constitutes the input stage
If the FET is divided into a plurality of parts and the sum of the dimensions of these MOSFETs is made to match the largest required i;cMos dimension, the element dimensions of the MOSFETs that are not shared can be reduced, by this,
Furthermore, the occupied area can be reduced. Moreover, it is also possible to vary the hysteresis in the Schmitt circuit configuration by dividing the MOSFET that is not shared in the input stage into two or more, and selecting an appropriate one from among these and connecting it to a predetermined node of the circuit. be.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は論理LSIにおける入カバソファ回路の構成例
を示す回路図、 第2図は同じく論理LSIにおけるシュミット回路の構
成例を示す回路図、 第3図は本発明に係る入出力回路の一実施例を示す回路
構成図、 第4図は入力バッファ回路とシーミツト回路の入出力特
性を示す説明図、 第5図は本発明の第2の実施例を示す回路構成図、 第6図は本発明の第3の実施例を示す回路構成図である
。 1・・・初段インバータ(入力段)、2・・・次段イン
バータ(出力段)。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration example of an input cover sofa circuit in a logic LSI, FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration example of a Schmitt circuit in a logic LSI, and FIG. 3 is an implementation of an input/output circuit according to the present invention. FIG. 4 is an explanatory diagram showing the input/output characteristics of the input buffer circuit and the seamit circuit. FIG. 5 is a circuit diagram showing the second embodiment of the present invention. FIG. 6 is the circuit diagram showing the second embodiment of the present invention. FIG. 3 is a circuit configuration diagram showing a third embodiment of the present invention. 1... First stage inverter (input stage), 2... Next stage inverter (output stage).

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、少なくとも2段のインバータからなる入出カバソフ
ァ回路を構成するためのトランジスタ群と、次段インバ
ータの出力電圧が供給はれるようにづれた帰還用トラン
ジスタとを備え、上記帰還用トランジスタが上記初段イ
ンバータの出力ノードと切り離はれ、または接続でれる
ことにより、人出カバソファ回路またはシュミット回路
が構成されるようにされてなることを特徴とする論理L
SIにおける入出力回路。 2、前記初段インバータを構成する一方のトランジスタ
と並列に、一または二以上のトランジスタが設けられ、
これらの並列トランジスタが選択的に初段インバータの
出力ノードに接続されて、入出力バッファ回路またはシ
ミツト回路が構成されるようにされてなることを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載の論理LSIにおける入
出力回路。
[Scope of Claims] 1. A group of transistors for configuring an input/output cover sofa circuit consisting of at least two stages of inverters, and a feedback transistor shifted so that the output voltage of the next stage inverter is supplied; A logic L characterized in that the transistor for the first stage is disconnected from or connected to the output node of the first stage inverter to form a turnout cover sofa circuit or a Schmitt circuit.
Input/output circuit in SI. 2. One or more transistors are provided in parallel with one transistor constituting the first-stage inverter,
Logic LSI according to claim 1, characterized in that these parallel transistors are selectively connected to the output node of the first stage inverter to constitute an input/output buffer circuit or a simmit circuit. Input/output circuit.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5053644A (en) * 1985-05-17 1991-10-01 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit
JP2001111407A (en) * 1999-09-15 2001-04-20 Infineon Technologies Ag Integrated semiconductor circuit
US7940121B2 (en) 2007-12-19 2011-05-10 Panasonic Corporation Operational amplifier and pipeline AD converter

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5345985A (en) * 1976-10-06 1978-04-25 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor integrated circuit device
JPS5710533A (en) * 1980-06-23 1982-01-20 Nec Corp Logical circuit
JPS5847323A (en) * 1981-09-17 1983-03-19 Toshiba Corp Hysteresis circuit

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5345985A (en) * 1976-10-06 1978-04-25 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor integrated circuit device
JPS5710533A (en) * 1980-06-23 1982-01-20 Nec Corp Logical circuit
JPS5847323A (en) * 1981-09-17 1983-03-19 Toshiba Corp Hysteresis circuit

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5053644A (en) * 1985-05-17 1991-10-01 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit
JP2001111407A (en) * 1999-09-15 2001-04-20 Infineon Technologies Ag Integrated semiconductor circuit
US7940121B2 (en) 2007-12-19 2011-05-10 Panasonic Corporation Operational amplifier and pipeline AD converter

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