JPS60258770A - Measuring method of data recording state of magnetic card - Google Patents

Measuring method of data recording state of magnetic card

Info

Publication number
JPS60258770A
JPS60258770A JP11523684A JP11523684A JPS60258770A JP S60258770 A JPS60258770 A JP S60258770A JP 11523684 A JP11523684 A JP 11523684A JP 11523684 A JP11523684 A JP 11523684A JP S60258770 A JPS60258770 A JP S60258770A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
magnetic card
time interval
recording state
width
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11523684A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kiyoaki Takiguchi
清昭 滝口
Kosaku Hirota
耕作 廣田
Yukiyasu Nakane
中根 幸保
Seiji Mitsui
三井 清治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
COMPUT SERVICES CORP
Toppan Inc
Original Assignee
COMPUT SERVICES CORP
Toppan Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by COMPUT SERVICES CORP, Toppan Printing Co Ltd filed Critical COMPUT SERVICES CORP
Priority to JP11523684A priority Critical patent/JPS60258770A/en
Publication of JPS60258770A publication Critical patent/JPS60258770A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing

Abstract

PURPOSE:To measure accurately the recording state of a data recorded on the magnetic strip of the magnetic card by measuring the time interval at each crest value of data and comparing it with a reference value width. CONSTITUTION:Time interval data T1, T2, T3... stored in an RAM30 are read, they are added, and the result is subject to averaging to obtain the 1st reference width Ts1{=(1+ or -alpha)Tmean}. The bit interval data TM is read sequentially from the RAM30 to discriminate whether logic is ''1'' or ''0''. When the logic is discriminated as ''0'', the bit interval data TN is compared with the 1st reference width Ts1 (e.g., 0.12+ or -5mum or equivalent), and when the data is discriminated to be within the 1st reference value width Ts1, the result of discrimination (''OK'') is stored in the 3rd area of the RAM30.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は磁気カードに記録されたデータが正確な間隔で
書き込まれているか否かを測定し判断する磁気カードの
データ記録状態測定方法に関し、特に磁気カードの記録
データの間隔を波高値開缶に測定し、その測定値をそれ
ぞれ比較して正確なデータの間隔を測定できる磁気カー
ドのデータ記録状態測定方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a method for measuring the data recording state of a magnetic card, which measures and determines whether data recorded on a magnetic card is written at accurate intervals. The present invention relates to a method for measuring the data recording state of a magnetic card, in which the interval is measured at the peak value of an open can, and the measured values are compared to determine accurate data intervals.

一般に磁気カードには、多くのものがJIS−B95f
il規格に基づいて必要なデータが記録されている。前
記磁気カードにおける記録データの間隔は、当該基路に
よれば8.268 b i t/sn±4壬と規定され
ている。しかして、その記録データの間隔は具体的には
0.12 mmであり、許容誤差が±4%であるので士
約5μ7+1となる。5μmの如く微小な磁気の記録状
態を測定する測定方法は従来より提供されていなかった
In general, many magnetic cards are JIS-B95f.
Necessary data is recorded based on the IL standard. According to the standard, the interval between recorded data on the magnetic card is defined as 8.268 bits/sn±4 inches. Specifically, the interval between the recorded data is 0.12 mm, and since the allowable error is ±4%, the distance is approximately 5μ7+1. Until now, no measurement method has been provided for measuring the magnetic recording state as small as 5 μm.

本発明は、上述のことに鑑みてなされたもので。The present invention has been made in view of the above.

磁気カードに記録されたデータを読み出して得た再生信
号の波高値をデジタル信号に変換し、その波冒値開缶の
時間間隔を測定し、各時間間隔値をそれぞれ所定の基準
値幅と比較して正確な間隔でデータが書き込まれている
か否かを測定し判定する磁気カードのデータ記録状態測
定方法を提供することを目的とするものである。
The peak value of the reproduced signal obtained by reading the data recorded on the magnetic card is converted into a digital signal, the time interval between openings of the peak value is measured, and each time interval value is compared with a predetermined reference value width. It is an object of the present invention to provide a method for measuring the data recording state of a magnetic card, which measures and determines whether data is written at accurate intervals.

以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。Embodiments of the present invention will be described below based on the drawings.

M1図(A)は磁気カードを示す平面図であり、第1図
CB)は磁気カードに設けられた磁気ストライプに記録
されたデータの記録状態を示す説明図である。
FIG. M1 (A) is a plan view showing the magnetic card, and FIG. 1 CB) is an explanatory diagram showing the recording state of data recorded on a magnetic stripe provided on the magnetic card.

第1図(A)において、符号1は磁気カードであり、こ
の磁気カード1には磁気ストライプ2が設けられると共
に、磁気カード1の発行元名称3、所定のコード番号4
、個人氏名5、有効期限6などが記録されている。
In FIG. 1(A), reference numeral 1 indicates a magnetic card, and this magnetic card 1 is provided with a magnetic stripe 2, as well as a publisher name 3 and a predetermined code number 4.
, personal name 5, expiration date 6, etc. are recorded.

磁気カード1に設けられた磁気ストライプ2には、第1
図(B)に示すように、必要なデータが論理″1”@0
2をもって記録されている。磁気ストライプ2は、′O
”、11″とも基本的には同一間隔で記録されるもので
あり、′0”はその間隔内で磁化の変化がなく、また、
′″1”はその間隔内で磁化の変化がある。同図(B)
に示す矢符は磁気の方向であり、“0″は磁気の方向は
変っていてもその間隔中に磁化変化がなく、また@1”
はその間隔中に必ず磁化変化があることが理解できる。
The magnetic stripe 2 provided on the magnetic card 1 has a first
As shown in figure (B), the required data is logical “1” @0
It is recorded as 2. Magnetic stripe 2 is 'O
``, 11'' are basically recorded at the same interval, and ``0'' has no change in magnetization within that interval, and
``1'' has a change in magnetization within that interval. Same figure (B)
The arrow shown in is the direction of magnetism, and "0" means that even though the magnetic direction changes, there is no change in magnetization during that interval, and @1"
It can be understood that there is always a change in magnetization during that interval.

第2図は本発明に係る磁気カードのデータ記録状態測定
方法の実施例を実現する測定装置を示す斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing a measuring device that implements an embodiment of the method for measuring the data recording state of a magnetic card according to the present invention.

第2図において、第1図と同一構成要素には同一符号を
付して説明を省略する。
In FIG. 2, the same components as those in FIG. 1 are given the same reference numerals and their explanations will be omitted.

第2図において、符号7は読取装置であり、この読取装
置7には、電源スィッチ8、電源スィッチ8をON″ 
したとき点灯する電源表示灯9、磁気カード1をカード
挿入口10に挿入し該磁気カード1の磁気ストライプ2
に記録されたデータを読み取るリーダー11、マスター
キー12、磁気カード1のデータの記録状態が正常又は
異常のときにそれぞれ点灯するOK表示灯13又はNG
表示灯14、リーダー11で磁気カード1のストライプ
2から読み出した再生信号を取り出せるプラグ15とが
設けられている。
In FIG. 2, reference numeral 7 is a reading device, and this reading device 7 has a power switch 8 and a power switch 8 turned ON''.
The power indicator light 9 lights up when the magnetic card 1 is inserted into the card slot 10 and the magnetic stripe 2 of the magnetic card 1 is inserted.
An OK indicator light 13 or NG lights up when the data recording status of the reader 11, master key 12, and magnetic card 1 is normal or abnormal, respectively.
An indicator light 14 and a plug 15 from which a reproduced signal read from the stripe 2 of the magnetic card 1 by the reader 11 can be taken out are provided.

この読取装置7はケーブルJ6を介して処理装置17に
接続されている。
This reading device 7 is connected to a processing device 17 via a cable J6.

処理装置17には、キーボード18が設けられている。The processing device 17 is provided with a keyboard 18 .

この処理装置17には、種々の情報を表示するCRTデ
ィスプレイ装置19と、当該処理装置17を動作させる
プログラムや各種のデータを記憶するフロッピーディス
ク装置20と、及び後述するプリンタ(図示せず)21
とが接続されている。
This processing device 17 includes a CRT display device 19 that displays various information, a floppy disk device 20 that stores programs and various data for operating the processing device 17, and a printer (not shown) 21 that will be described later.
are connected.

第3図は本発明の実施例が適用される装置の信号系統を
示すブロック図である。第3図において、符号21はプ
リンタであり、プリンタ21は処理装置17に接続され
ており、処理装置17からの印刷データを用紙に印刷で
きるようになっている。
FIG. 3 is a block diagram showing a signal system of a device to which an embodiment of the present invention is applied. In FIG. 3, reference numeral 21 is a printer, and the printer 21 is connected to the processing device 17 so that print data from the processing device 17 can be printed on paper.

また、読取装置7における信号系統は、リーダー11の
カード挿入口10に挿入された磁気カード1の磁気スト
ライプ2に記録されたデータを電気信号に再生できる磁
気ヘッド22と、この磁気ヘッド22からの再生信号を
一定のレベルまで増幅する増幅器23と、この増幅器2
3からの出力信号の波高値(上下のピーク値)をホール
ドするサンプルホールド回路24と、該サンプルホール
ド回路24からの出力信号の波高値をデジタル信号に変
換するアナログ−デジタル(AD ’)変換器25と、
該増幅器23からの出力信号を基に時間間隔測定信号(
タイムインターバル測定信号ともいう)を形成する比較
回路26と、該比較回路26からの出力信号により磁気
カード1の磁気ストライプ2に記録されたデータの上下
ピークからピーりまでの時間間隔を測定できる時間間隔
測定回路27とから構成されている。しかして、AD変
換器25及び時間間隔測定回路27からの出力信号は、
処理装置17に供給されるようになっている。
The signal system in the reader 7 includes a magnetic head 22 that can reproduce data recorded on the magnetic stripe 2 of the magnetic card 1 inserted into the card insertion slot 10 of the reader 11 into electrical signals, and a signal from the magnetic head 22. An amplifier 23 that amplifies the reproduced signal to a certain level, and this amplifier 2
a sample-and-hold circuit 24 that holds the peak value (upper and lower peak values) of the output signal from 3; and an analog-to-digital (AD') converter that converts the peak value of the output signal from the sample-and-hold circuit 24 into a digital signal. 25 and
Based on the output signal from the amplifier 23, a time interval measurement signal (
A comparison circuit 26 that forms a time interval measurement signal (also referred to as a time interval measurement signal), and a time that allows the time interval from the upper and lower peaks to the peak of data recorded on the magnetic stripe 2 of the magnetic card 1 to be measured using the output signal from the comparison circuit 26. It is composed of an interval measuring circuit 27. Therefore, the output signals from the AD converter 25 and the time interval measurement circuit 27 are
It is supplied to a processing device 17.

処理装置17は、各種の演算処理や制御を行う中央演算
処理装置(CPU)2g、該CPU21;1を所定の基
本的処理動作させるためのプログラム等が記憶されたリ
ードオンリメモIJ(ROM)29、当該測定方法を実
現させるためのプログラム、所定の常数、外部からのデ
ータ等を記憶するランダムアクセスメモリ(RAM)3
0、キーボード18゜読取装置7からのデータを取り込
むと共にこれを制御する信号を出力できる入出力ボート
31、CRTディスプレイ装置19.フロッピーディス
ク装置20.、プリンタ21とCPU28とを接続する
入出力制御装置32.33.3j、as を備えている
The processing device 17 includes a central processing unit (CPU) 2g that performs various arithmetic processing and control, and a read-only memory IJ (ROM) 29 that stores programs and the like for causing the CPU 21;1 to perform predetermined basic processing operations. , a random access memory (RAM) 3 that stores programs for realizing the measurement method, predetermined constants, external data, etc.
0, keyboard 18°; input/output port 31 that can take in data from the reader 7 and output signals to control it; CRT display device 19. Floppy disk device 20. , an input/output control device 32.33.3j, as for connecting the printer 21 and the CPU 28.

このように構成された測定装置の動作を説明する。The operation of the measuring device configured in this way will be explained.

第4図は読取装置7の動作を説明するために示すタイム
チャートであり、第5図は測定装置の動作を綬明するた
めに示すフローチャートである。
FIG. 4 is a time chart shown to explain the operation of the reading device 7, and FIG. 5 is a flow chart shown to explain the operation of the measuring device.

第4図において、(1)は磁気ストライプ2のデータの
記録状態を、(II)は磁気ヘッド22で磁気ストライ
プ2を再生し増幅器23で増幅した再生信号を、(1■
)は(1)のデータから得られるデジタル信号を、(I
V)はデジタル信号([)から得られる微分信号を、(
V)は(IV)から得られるビットインター ハル測定
m号を、 (VI)はビットインターバル測定信号によ
って測定される時間を、それぞれ示したものであり、ま
た、各横軸には時間がとられている。
In FIG. 4, (1) shows the recording state of data on the magnetic stripe 2, (II) shows the reproduction signal which is reproduced from the magnetic stripe 2 by the magnetic head 22 and amplified by the amplifier 23, and (1)
) is the digital signal obtained from the data in (1), (I
V) is the differential signal obtained from the digital signal ([),
V) shows the bit interval measurement m obtained from (IV), and (VI) shows the time measured by the bit interval measurement signal, and each horizontal axis shows the time. ing.

それでは、第1図乃至第5因を参照してその動作を説明
する。
The operation will now be explained with reference to FIGS. 1 to 5.

まず、磁気カード1を読取装置7のリーダー11のカー
ド挿入口10に挿入する(ステップ540)。
First, the magnetic card 1 is inserted into the card insertion slot 10 of the reader 11 of the reading device 7 (step 540).

すると、リーダー11は、磁気カード1が挿入されたの
を検出して磁気カード1の磁気ストライプ2に記録され
たデータ(第4図(I)参照)を磁気ヘクト22で読み
出ず(ステップ841 )。その読み出した再生信号は
、増幅器23で増幅されてサンプルホールド回路24及
び比較回路26に供給される(ステップ542)。サン
プルホールド回路24では上のピーク値又は下のピーク
値を保持する(ステップ543)。このサンプルホール
ド回路24でホールドされたピーク値をAD変換器25
でデジタル信号に変換する(ステップ544)。AD変
換器25で変換が終了すると、入出力ボート31を介し
てRAM30の所定の第1のエリアに前記デジタル信号
が記憶される(ステップ545)。
Then, the reader 11 detects that the magnetic card 1 has been inserted and does not read the data recorded on the magnetic stripe 2 of the magnetic card 1 (see FIG. 4 (I)) using the magnetic head 22 (step 841). ). The read reproduction signal is amplified by the amplifier 23 and supplied to the sample hold circuit 24 and the comparison circuit 26 (step 542). The sample hold circuit 24 holds the upper peak value or the lower peak value (step 543). The peak value held by this sample hold circuit 24 is transferred to an AD converter 25.
is converted into a digital signal (step 544). When the conversion is completed by the AD converter 25, the digital signal is stored in a predetermined first area of the RAM 30 via the input/output port 31 (step 545).

一方、増幅器23から出力された信号(第4図(■)参
照)は、比較回路26において、まず第4図(Ill)
に示す信号に変換される(ステップ846)。
On the other hand, the signal output from the amplifier 23 (see FIG. 4 (■)) is first passed to the comparison circuit 26 as shown in FIG. 4 (Ill).
(step 846).

次に、第4図(III)に示す信号は、同様に比較回路
26において微分されて同図(IV)に示す微分信号と
され、これにより同図(V)に示すようなビットインタ
ーバル測定信号を得る(ステップ547)。
Next, the signal shown in FIG. 4 (III) is similarly differentiated in the comparator circuit 26 to produce a differentiated signal shown in FIG. is obtained (step 547).

このビットインターバル測定信号は、時間間隔測定回路
27に供給されて、ビットインターバル測定信号の立下
りから立下りまでの時間が測定される(ステップ848
)。尚、時間間隔測定回路27は、実際には、該測定信
号の立下りから立下りまで測定するのではなく、例えば
ワンショットマルチバイブレータを該測定信号で駆動し
、この素子より出力された信号から該測定信号の次の立
下りまでの時間TTを測定し、この時間TTをワンショ
ットマルチバイブレータの動作時間Tsに加えて使用す
る回路構成がとられている。尚、ワンショットマルチバ
イブレータが動作している時間Tsの間は、その測定時
間TTを処理装置17に転送するために使用されている
。このように測定されたタイムインター 10@、デー
l’ Tt 、T2 * Ts * ・・・* TN 
(同図(VD参照)は、時間間隔測定回路27より入出
力ポート31を介してRAM30の所定の第2のエリア
に記憶される(ステップ549)。すなわち、AD変換
器25及び時間間隔測定回路27からの出力データは、
−担、RAM30の所定のエリアに全て記憶される。
This bit interval measurement signal is supplied to the time interval measurement circuit 27, and the time from fall to fall of the bit interval measurement signal is measured (step 848).
). Note that the time interval measurement circuit 27 does not actually measure the measurement signal from fall to fall, but drives, for example, a one-shot multivibrator with the measurement signal, and measures the signal output from this element. A circuit configuration is adopted in which the time TT until the next fall of the measurement signal is measured and this time TT is used in addition to the operating time Ts of the one-shot multivibrator. Note that the time Ts during which the one-shot multivibrator is operating is used to transfer the measurement time TT to the processing device 17. The time interval measured in this way is 10@, day l' Tt, T2 * Ts * ... * TN
(The figure (see VD) is stored in a predetermined second area of the RAM 30 from the time interval measuring circuit 27 via the input/output port 31 (step 549). That is, the AD converter 25 and the time interval measuring circuit The output data from 27 is
- All data are stored in a predetermined area of the RAM 30.

次に、ステップ850において、RAM3Qに記憶され
たタイムインターバルデータT+ 、 Ts 、Ts、
・・・を読み出し、これらを加算してその加算値の平均
をとり、これを基に第1の基準幅が得られる。すなわち
、下式の如き演算をさせ、 TI+’p暑+T3+・・・+TN Tmean =□ ・・・・・・・・・・・・・・(1
)ただし、N i Tt〜TNまでの数 しかして、その演算結果を基にして第1の基準幅Tsx
(=(1±α)Tmean )を得る。尚、αは前述の
如く例えば4チである。
Next, in step 850, the time interval data T+, Ts, Ts,
... is read out, these are added, and the average of the added values is taken, and the first reference width is obtained based on this. In other words, the following formula is used to calculate TI+'p heat+T3+...+TN Tmean=□・・・・・・・・・・・・・・・(1
) However, the first reference width Tsx is determined based on the number from N i Tt to TN and the calculation result.
(=(1±α)Tmean) is obtained. Note that α is, for example, 4chi as described above.

また、ビットインターバルデータTMは、RAM30か
ら順次読み出され(ステップ551)、ステップ852
で論理が11″か0# かを判定される。
Further, bit interval data TM is sequentially read out from the RAM 30 (step 551), and step 852
It is determined whether the logic is 11'' or 0#.

このステップS52において、論理が10″と判定され
たらステップS53に移る。ステップs53では、その
ビットインターバルデータTNを第1の基準幅Ts1(
例えば、0.12±5μmに相当するもの)と比較し、
そのビットインターバルデータTMが第1の基準幅TS
I内に入っているか否かを判定する。
In this step S52, if the logic is determined to be 10'', the process moves to step S53. In step s53, the bit interval data TN is set to the first standard width Ts1 (
For example, compared to 0.12 ± 5 μm),
The bit interval data TM is the first reference width TS.
Determine whether it is within I.

このステップ853で前記データTMが所定の第1の基
準値幅TSIに入っていると判定されるとステノブS5
4に移り、その判定結果C″OK”)をRAM30の第
3のエリアに記憶させる。
If it is determined in this step 853 that the data TM is within the predetermined first reference value width TSI, the steno knob S5
4, the determination result C"OK") is stored in the third area of the RAM 30.

一方、ステップS53で前記データTMが第1の基準幅
TSI内に入っていないと判定されるとステップS55
に移り、その判定結果(NG’)をRAM30の第4エ
リアに記憶させる。
On the other hand, if it is determined in step S53 that the data TM does not fall within the first reference width TSI, step S55
Then, the determination result (NG') is stored in the fourth area of the RAM 30.

前述のステップS54 、 S55の次にはRAM30
の第2エリアに記憶されているビットインターバルデー
タTMの全てが終了したか否かをステップ55fiで判
定する。このステップS56で全ビットインターバルデ
ータの比較が終了していないときは、ステップS51に
戻り、全ビットインターバルデータの比較が終了したと
きには次のステップS57に移る。
After the above-mentioned steps S54 and S55, the RAM 30
It is determined in step 55fi whether or not all of the bit interval data TM stored in the second area of is completed. If the comparison of all bit interval data is not completed in this step S56, the process returns to step S51, and when the comparison of all bit interval data is completed, the process moves to the next step S57.

また、ステップS52でRAM30の第2エリアからの
ビットインターバルデータが論理11″であると判定さ
れるとステップS58に移り、ここでRAM30の第2
エリアから次のピットインターノ(ルデータ(1M+1
)を読み出す。次いで、ステップ859において、先の
ビットインターバルデータ(TM )と、今読み出して
きたビットインターバルデータ(1M+1)とを加算(
TM + 1M+1) L、、この加算結果をステップ
S53のビットインターバルデータとして使用可能とし
、ステップS53に移る。
Further, if it is determined in step S52 that the bit interval data from the second area of the RAM 30 is logical 11'', the process moves to step S58, where the second area of the RAM 30
From the area to the next pit interno (ru data (1M + 1
) is read out. Next, in step 859, the previous bit interval data (TM) and the bit interval data (1M+1) just read out are added (
TM+1M+1)L, This addition result can be used as bit interval data in step S53, and the process moves to step S53.

ステップS57ではRAM30の第2のエリアから最初
のビットインターバルデータT!を読み出してTh(1
+α)の演算をし、これを仮りの第2の基準幅TS2と
しステップS60に移る。ステップ860ではRAM3
0の第2のエリアから次のビットインターバルデータT
Mを読み出し、これが論理″1”か′0”かを判定する
。ここでビットインターバルデータTMが”0″と判定
されるとステップS61に移り、ステップ861でこの
データTMを第2の基準幅TS2と比較する。このステ
ップS61で前記データTMが第2の基準幅TS2内に
入っていれば、”OK”としてその判定結果をRAM3
0の第3のエリアに記憶させる(ステップ562)。
In step S57, the first bit interval data T! is extracted from the second area of the RAM 30! Read out Th(1
+α) is calculated, and this is set as a temporary second reference width TS2, and the process moves to step S60. In step 860, RAM3
Next bit interval data T from the second area of 0
M is read and it is determined whether it is a logic "1" or "0". If it is determined that the bit interval data TM is "0", the process moves to step S61, and in step 861 this data TM is set to the second reference width. TS2. If the data TM is within the second reference width TS2 in step S61, it is determined as "OK" and the determination result is stored in the RAM3.
0 in the third area (step 562).

一方、このステップS61で前記データTMが第2の基
準幅TS2内に入っていなげれば、“NG”としてその
判定結果をRAM30の第3エリアに記憶させる(ステ
ップ563)。
On the other hand, if the data TM does not fall within the second reference width TS2 in this step S61, the determination result is determined as "NG" and is stored in the third area of the RAM 30 (step 563).

ステップS62 、 S63からはステップS64に移
り、このステップS64にて第2の基準幅TS2をこの
データTMから下記第(2)式で演算し、TS2 = 
(1+α)TM ・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・(2)この演算結果を次の第2の基準
幅TS2とする。
From steps S62 and S63, the process moves to step S64, and in this step S64, the second reference width TS2 is calculated from this data TM using the following equation (2), and TS2 =
(1+α)TM・・・・・・・・・・・・・・・・・・
(2) This calculation result is set as the next second reference width TS2.

次いで、ステップ5fi5に移り、ここで全部のビット
インターバルデータTNの比較が終了したが判定し、終
了していなければステップS60に戻り、また終了して
いればステップS66に移る。
Next, the process moves to step 5fi5, where it is determined whether the comparison of all bit interval data TN has been completed. If the comparison has not been completed, the process returns to step S60, and if it has been completed, the process moves to step S66.

一方、ステップS60で前記データThtが1″と判定
されると、ステップS67に移る。ステップS67では
、次のピントインターバルデータTM+1ヲRAM30
の第2のエリアから読み出す。次いで、ステップ868
で先のデータTMから基準幅Ts3(=(1+α)TM
)を演算して、これで次のデータTM+1と比較する(
ステップ569)。比較結果がNG″ならばステッフs
7oニ、′oKmならばステップS71に移る。ステッ
プS70ではその比較結果をRAM30の第4のエリア
に記憶させる。ステップS71ではその比較結果をRA
M30の第3のエリアに記憶させる。これらステップ8
70 、 S71を通過したら、先のデータTMと後の
データTM+1とをステップS72において加算(TM
+ 1M+1 ) L/、その加算結果をステップS6
1におけるデータTMとして用いられるようにし、ステ
ップS61に移る。
On the other hand, if the data Tht is determined to be 1" in step S60, the process moves to step S67. In step S67, the next focus interval data TM+1 is stored in the RAM 30.
Read from the second area. Then step 868
From the previous data TM, the reference width Ts3 (=(1+α)TM
) and compare it with the next data TM+1 (
step 569). If the comparison result is NG'', step s
If it is 7 o ni, ' o Km, the process moves to step S71. In step S70, the comparison result is stored in the fourth area of the RAM 30. In step S71, the comparison result is RA
It is stored in the third area of M30. These steps 8
70, after passing through S71, the previous data TM and the subsequent data TM+1 are added (TM
+ 1M+1) L/, the addition result is sent to step S6
1, and the process moves to step S61.

ステップ56fiでは、RAM30の第3及び第4のエ
リアを検紫し、”NG”がなければOK表示灯13を点
灯させ、@NG”があればNG表示灯14を点灯させる
。尚、“NG”の数等によってNG表示灯14を点灯さ
せるか否かを調整することもできる。
In step 56fi, the third and fourth areas of the RAM 30 are checked, and if there is no "NG", the OK indicator light 13 is turned on, and if there is "@NG", the NG indicator light 14 is turned on. It is also possible to adjust whether or not the NG indicator light 14 is turned on depending on the number of "" or the like.

このように当該測定装置によれば、AD変換器25によ
りピーク値をデジタル信号に変換し、そのピーク値から
ピーク値までの時間間隔を測定し、 ゛これを所定の基
準値幅と比較して正確な間隔でデータが磁気カードの磁
気ストライプに記録されているか否かを判定することが
できるものである。
According to this measuring device, the AD converter 25 converts the peak value into a digital signal, measures the time interval from peak value to peak value, and compares this with a predetermined reference value width to determine the accuracy. It is possible to determine whether data is recorded on the magnetic stripe of a magnetic card at regular intervals.

以上述べたように本発明によれば、磁気カードの磁気ス
トライプに記録されたデータの記録状態が正確に渭j定
できる効果がある。
As described above, according to the present invention, the recording state of data recorded on the magnetic stripe of a magnetic card can be accurately determined.

を説明するために示す説明図、第2図は本発明に係る実
施例を実現するための測定装置を示す斜視図、第3図は
同測定装置の信号系を示すブロック図、第4図は読取装
置の動作を説明するために示すタイムチャート、第5図
は測定装置の動作を説明するために示すフローチャート
である。
FIG. 2 is a perspective view showing a measuring device for realizing an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a block diagram showing a signal system of the measuring device, and FIG. 4 is a diagram showing a signal system of the measuring device. A time chart is shown to explain the operation of the reading device, and FIG. 5 is a flow chart shown to explain the operation of the measuring device.

1・・・磁気カード、 2・・・磁気ストライブ、7・
・・読取装置、 11・・・リーダー、16・・・ケー
ブル、 17・・・処理装置、19・・・CRTディス
プレイ装置、 20・・・フロッピーディスク装置、 21・・・プリンタ。
1...Magnetic card, 2...Magnetic stripe, 7.
...reading device, 11...reader, 16...cable, 17...processing device, 19...CRT display device, 20...floppy disk device, 21...printer.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 磁気カードに記録されたデータの波高値をデジタル信号
に変換すると共に、その波高値開缶の時間間隔を測定し
、各時間間隔を基準値幅と比較し、当該時間間隔が基準
幅にあるときに前記データは正しく記録されていると判
断することを特徴とする磁気カードのデータ記録状態測
定方法。
The peak value of the data recorded on the magnetic card is converted into a digital signal, and the time interval between openings of the peak value is measured. Each time interval is compared with a reference value width, and when the time interval is within the reference width, A method for measuring a data recording state of a magnetic card, characterized in that it is determined that the data is correctly recorded.
JP11523684A 1984-06-04 1984-06-04 Measuring method of data recording state of magnetic card Pending JPS60258770A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11523684A JPS60258770A (en) 1984-06-04 1984-06-04 Measuring method of data recording state of magnetic card

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11523684A JPS60258770A (en) 1984-06-04 1984-06-04 Measuring method of data recording state of magnetic card

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60258770A true JPS60258770A (en) 1985-12-20

Family

ID=14657709

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11523684A Pending JPS60258770A (en) 1984-06-04 1984-06-04 Measuring method of data recording state of magnetic card

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60258770A (en)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5715421B2 (en) * 1978-01-03 1982-03-30
JPS5998312A (en) * 1982-11-29 1984-06-06 Sankyo Seiki Mfg Co Ltd Read error detecting system

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5715421B2 (en) * 1978-01-03 1982-03-30
JPS5998312A (en) * 1982-11-29 1984-06-06 Sankyo Seiki Mfg Co Ltd Read error detecting system

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5761212A (en) Channel quality
MY129811A (en) Recording medium, recording apparatus and recording method
JPS60258770A (en) Measuring method of data recording state of magnetic card
US6501607B2 (en) Channel quality monitor (CQM) for digital peak detection (DPD)
JPH0376523B2 (en)
US4449154A (en) Sampling time control circuit for use in an audio cassette tape data processor
JPH0529046B2 (en)
JPH04201358A (en) Burnout detecting device for thermal head
JP3109176B2 (en) Rotating head height measuring method and device
JPS60258767A (en) Measuring method of data recording state of magnetic card
JPS59580Y2 (en) COD automatic measuring device
JPH0458671B2 (en)
JP2841226B2 (en) Analyzer with recorder
JP2575311B2 (en) Magnetic recording disk
JPS6125057Y2 (en)
JPS60244810A (en) Memory cassette type data gathering and recording device with automatic interval function
JPH02247824A (en) Detection of data abnormality of optical disk device
JPS59180577U (en) Time axis correction device
JPS6131547B2 (en)
JPS6148132A (en) Storage method of optical digital data
JPS61123066A (en) Testing method of magnetic tape device
JPS6128191B2 (en)
JPS61155819A (en) Recorder
JPH0789430B2 (en) Error rate measurement method
JPH0371047B2 (en)