JPS60177714A - Level limiter circuit - Google Patents

Level limiter circuit

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JPS60177714A
JPS60177714A JP59032352A JP3235284A JPS60177714A JP S60177714 A JPS60177714 A JP S60177714A JP 59032352 A JP59032352 A JP 59032352A JP 3235284 A JP3235284 A JP 3235284A JP S60177714 A JPS60177714 A JP S60177714A
Authority
JP
Japan
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level
level limiter
circuit
inverter circuit
cmos inverter
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Pending
Application number
JP59032352A
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Japanese (ja)
Inventor
Yuji Sakai
祐二 酒井
Kazumasa Yanagisawa
一正 柳沢
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

PURPOSE:To obtain a level compensating function of an output signal for a level limiter circuit by providing a CMOS inverter circuit which works on the level limiter voltage after receiving the inverse signal of an input signal with the output point of said inverse signal connected to an output terminal to the level limiter circuit. CONSTITUTION:A CMOS inverter circuit is provided to prevent the level reduction of an output signal phi' due to a leakage current. This inverter circuit contains a p channel MOSFETQ6 and an n channel MOSFETQ7 which are actuated by the level limiter voltage VcL together with an output terminal connected to an output terminal OUT. While an input terminal of the inverter circuit is connected in common to an input terminal of another CMOS inverter circuit which produces an input signal phi and receives supply of an inverse signal phi''. The FETQ6 is provided with the conductance characteristics of such a small degree that compensates the level reduction due to the leakage current.

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 この発明は、レベルリミッタ回路に関するもので、例え
ば、CMO3(相補型MO3)回路において、電源電圧
に従って形成された信号のレベルを電源電圧レベル以下
の中間レベルに制限する回路に利用して有効な技術に関
するものである。
Detailed Description of the Invention [Technical Field] The present invention relates to a level limiter circuit, and for example, in a CMO3 (complementary MO3) circuit, the level of a signal formed according to a power supply voltage is reduced to an intermediate level below the power supply voltage level. This technology is effective for use in circuits that are limited to

〔背景技術〕[Background technology]

電源電圧に従って形成された信号を電源電圧以下の中間
レベルに制限するレベルリミッタ回路として、第1図に
示すような回路が考えられている。
A circuit as shown in FIG. 1 has been considered as a level limiter circuit that limits a signal formed according to the power supply voltage to an intermediate level below the power supply voltage.

この回路は、電源電圧に従って形成された入力信号φを
出力端子側に伝える伝送ゲー)MO3FETQIと、こ
のMO3FETQIのゲートとレベルリミッタ電圧Vc
Lとの間に設けられ、双方向に電流を流すように並列形
態とされた一対のダイオード形態のMO3FETQ2.
Q3とにより構成される。MO3FETQ2は、入力信
号φがロウレベルのとき、伝送ゲートMO3FETQ、
1のゲート、チャンネル間にVcL−Vthのプリチャ
ージを行い。入力信号φがハイレベルになったとき、M
O3FETQ3により伝送ゲートMO3FETQ1のセ
ルフブートストラップによるゲート電圧をVcL+Vt
hにおさえて出力端子の信号φ°を上記レベルリミッタ
電圧VcLにするものである。なお、上記vthは、M
O3FETQI〜Q3のしきい値電圧であり、各MO3
FETQI〜Q3のしきい値電圧vthが同し値になる
ように設定されるものである。
This circuit consists of a transmission gate (MO3FETQI) that transmits an input signal φ formed according to the power supply voltage to the output terminal side, a gate of this MO3FETQI, and a level limiter voltage Vc.
A pair of diode-type MO3FETQ2.
Q3. When the input signal φ is low level, the MO3FETQ2 has the transmission gate MO3FETQ,
Precharge VcL-Vth between the gate and channel of 1. When the input signal φ becomes high level, M
The gate voltage due to self-bootstrap of the transmission gate MO3FETQ1 is set to VcL+Vt by O3FETQ3.
h to set the signal φ° at the output terminal to the level limiter voltage VcL. Note that the above vth is M
This is the threshold voltage of O3FETQI~Q3, and each MO3
The threshold voltages vth of FETQI to Q3 are set to the same value.

このようなレベルリミッタ回路にあっては、伝送ゲート
MO3FETQIのゲートが接続されるノードN1や、
出力端子であるノードN2の電位が、ソース、ドレイン
と基板間のリーク電流等によって時間とともに低下する
。これにより、出力信号φ゛がその時間の経過とともに
低下してしまうとい・う欠点がある。
In such a level limiter circuit, the node N1 to which the gate of the transmission gate MO3FETQI is connected,
The potential of the node N2, which is the output terminal, decreases over time due to leakage current between the source, drain, and substrate. This has the disadvantage that the output signal φ' decreases over time.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

この発明の目的は、出力信号のレベル補償機能を持つ新
規なレベルリミッタ回路を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a novel level limiter circuit having an output signal level compensation function.

この発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、
この明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
The above and other objects and novel features of this invention include:
It will become clear from the description of this specification and the accompanying drawings.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
A brief overview of typical inventions disclosed in this application is as follows.

すなわち、入力信号を出力端子に伝える伝送ゲー)MO
SFETのゲートとレベルリミッタ電圧端子との間に双
方向に電流を流すように並列形態の一対のダイオード形
態のM OS F’ E Tを設けたレベルリミッタ回
路に、上記入力信号の反転信号を受け、その出力点が上
記出力端子に接続され上記レベルリミッタ電圧により動
作するCMOSインバータ回路を設けて、リーク電流に
対するレベル補償を行うようにするものである。
In other words, a transmission game (MO) that transmits an input signal to an output terminal
A level limiter circuit is provided with a pair of parallel diode-type MOS F'ETs so that current flows in both directions between the gate of the SFET and the level limiter voltage terminal, and an inverted signal of the input signal is received. A CMOS inverter circuit whose output point is connected to the output terminal and is operated by the level limiter voltage is provided to perform level compensation for leakage current.

〔実施例〕〔Example〕

第2図には、この発明に係るレベルリミ・ツタ回路の一
実施例の回路図が示されている。同図の各回路素子は、
公知のCMO3集積回路の製造技術によって、特に制限
されないが、単結晶シリコンのような半導体基板上にお
いて形成される。
FIG. 2 shows a circuit diagram of an embodiment of the level limiter circuit according to the present invention. Each circuit element in the same figure is
It is formed by known CMO3 integrated circuit manufacturing techniques on a semiconductor substrate such as, but not limited to, single crystal silicon.

特に制限されないが、入力信号φは、電源電圧Vccで
動作するPチャンネルMO5FETQ4とNチャンネル
MO3FETQ、5とで構成されたCMOSインバータ
回路によって形成される。このため、このCMOSイン
バータ回路の入力端子には、上記入力信号φの逆相信号
φが供給される。
Although not particularly limited, the input signal φ is formed by a CMOS inverter circuit composed of a P-channel MO5FETQ4 and an N-channel MO3FETQ,5 that operate at the power supply voltage Vcc. Therefore, the input terminal of this CMOS inverter circuit is supplied with an opposite phase signal φ of the input signal φ.

上記CMOSインバータ回路の出力端子から送出される
入力信号φは、NチャンネルMO5FETで構成された
伝送ゲー)MO3FETQIを通して出力端子OUT側
に伝えられる。この出力端子OUTから送出される出力
信号φ°のレベルを上記電源電圧Vcc以下の任意の中
間レベルにするため、上記伝送ゲートMO3FETQI
のゲートとレベルリミッ電圧VcLとの間には、双方向
に電流を流すように並列形態にされた一対のダイオード
形態のMOSFET、Q2.Q3が設けられる。
The input signal φ sent from the output terminal of the CMOS inverter circuit is transmitted to the output terminal OUT side through a transmission gate MO3FETQI composed of N-channel MO5FETs. In order to set the level of the output signal φ° sent out from this output terminal OUT to an arbitrary intermediate level below the power supply voltage Vcc, the transmission gate MO3FETQI
A pair of diode-type MOSFETs, Q2. Q3 will be provided.

この実施例では、リーク電流によって出力信号φ゛のレ
ベルが時間の経過とともに低下してしまうのを防止する
ためのレベル補償回路として、次のCMOSインバータ
回路が設けられる。すなわち、上記レベルリミッタ電圧
VcLにより動作するPチャンネルMO3FETQ6と
NチャンネルMO3FETQ7とで構成されたCMOS
インバータ回路の出力端子が上記出力端子OUTに接続
される。そして、このCM’OSインバータ回路の入力
端子は、上記入力信号φを形成するCMOSインバータ
回路の入力端子と共通接続され、上記反転信号φが供給
される。
In this embodiment, the following CMOS inverter circuit is provided as a level compensation circuit for preventing the level of the output signal φ' from decreasing over time due to leakage current. That is, the CMOS is composed of a P-channel MO3FETQ6 and an N-channel MO3FETQ7 that operate based on the level limiter voltage VcL.
An output terminal of the inverter circuit is connected to the output terminal OUT. The input terminal of this CM'OS inverter circuit is commonly connected to the input terminal of the CMOS inverter circuit that forms the input signal φ, and is supplied with the inverted signal φ.

特に制限されないが、上記入力信号φを形成するCMO
Sインバータ回路のPチャンネルMO3FETQ4は、
そのコンダクタンス特性が比較的大きく設定されること
により、伝送ゲートMO3FETQIを通して接続され
る負荷容量(図示せず)に対して十分な駆動能力を持つ
ようにされる。
Although not particularly limited, the CMO forming the input signal φ
The P channel MO3FETQ4 of the S inverter circuit is
By setting its conductance characteristic relatively large, it has sufficient driving ability for a load capacitance (not shown) connected through the transmission gate MO3FETQI.

これに対してNチャンネルMO3FETQ5は、その出
力点におりる小さな浮遊容量のリセツトするに必要な小
さなコンダクタンス特性に設定される。一方、上記レベ
ル補償のために設けられたCMOSインバータ回路のP
チャンネルMO3FETQ6は、リーク電流によるレベ
ル低下を補償する程度の小さなコンダクタンス特性を持
つよう設定され、NチャンネルMO3FETQ7は〜比
較的大きな容量値を持つ負荷容量をリセツトするに必要
な比較的大きなコンダクタンス特性に設定される。
In contrast, N-channel MO3FET Q5 is set to have a small conductance characteristic necessary to reset the small stray capacitance at its output point. On the other hand, P of the CMOS inverter circuit provided for the above level compensation
The channel MO3FETQ6 is set to have a small conductance characteristic that compensates for the level drop due to leakage current, and the N-channel MO3FETQ7 is set to a relatively large conductance characteristic necessary to reset a load capacitance with a relatively large capacitance value. be done.

次に、この実施例のレベルリミッタ電圧の動作を第3図
に示した動作波形図に従って説明する。
Next, the operation of the level limiter voltage of this embodiment will be explained according to the operation waveform diagram shown in FIG.

同図に破線で示すように反転入力信号φがハイレベルの
時、入力信号φはロウレベルになっている。したがって
、上記反転入力信号φのハイレベルによりCMOSイン
バータ回路のNチャンネルMO3FETQ7がオン状態
になるので、出力信号φ°をロウレベルにリセツトする
。また、伝送ゲートMO3FETQIのゲート電圧は、
少なくともMO3’FETQ2を通し7 VcL −V
 thノL/ヘルにプリチャージがなされている。これ
により、このMO5FETQIは、オン状態となり、そ
のゲートとロウレベルのチャンネル間のゲート容量に上
記レベル(VcL−Vth)が蓄積される。
As shown by the broken line in the figure, when the inverted input signal φ is at a high level, the input signal φ is at a low level. Therefore, the N-channel MO3FET Q7 of the CMOS inverter circuit is turned on due to the high level of the inverted input signal φ, so that the output signal φ° is reset to the low level. Also, the gate voltage of the transmission gate MO3FETQI is
Through at least MO3'FETQ2 7 VcL -V
th no L/Hell is precharged. As a result, this MO5FET QI is turned on, and the above level (VcL-Vth) is accumulated in the gate capacitance between its gate and the low level channel.

次いで、反転入力タイミング信号7がロウレベルに変化
すると、CMOSインパーク回路によって形成された人
力信号φがハイレベルに変化する。
Next, when the inverted input timing signal 7 changes to low level, the human input signal φ formed by the CMOS impark circuit changes to high level.

このとき、伝送ゲートMO5FETQIのセルフブート
ストラップ作用により、そのゲート電圧(ノードNl)
がVcc+VcL−Vthに上昇しようとする。しかし
、ダイオード形態のM OS F E TQ3がオン状
態なっ”C上記昇圧電圧をレベルリミッタ電圧VcL側
に引き抜くため、ノードN1のレベルは、VcL+Vt
hまでしか上昇しない。これにより、伝送ゲートMO3
FETQIを通して形成された出力信号φ゛のレベルは
、上記ゲート電圧(VcL+Vth)から上記MO3F
ETQLのしきい値電圧Vtl+を差し引いた電圧(レ
ベルリミッタ電圧V cL)となる。
At this time, due to the self-bootstrap effect of the transmission gate MO5FETQI, its gate voltage (node Nl)
tries to rise to Vcc+VcL-Vth. However, since the diode type MOSFET Q3 is in the on state and pulls out the boosted voltage to the level limiter voltage VcL side, the level of the node N1 becomes VcL+Vt.
It only rises to h. This allows transmission gate MO3
The level of the output signal φ′ formed through FETQI varies from the gate voltage (VcL+Vth) to the MO3F
This is the voltage (level limiter voltage V cL) obtained by subtracting the threshold voltage Vtl+ of ETQL.

この実施例では、上記入力信号φのハイレベル(Vcc
)を形成するPチャンネルMO5FETQ4のコンダク
タンス特性が大きく設定されているので、上記伝送ゲー
IMOS F E TQ 1を介して図示しない出力端
子OUTにおりる負荷g量を高速にヂャージアソブアッ
プする。これにより出力信号φ′は、高速に」;記しベ
ルリミノタ電圧VcLまで」1貨する。
In this embodiment, the input signal φ is at a high level (Vcc
), the conductance characteristic of the P-channel MO5FETQ4 forming the transmission gate IMOS FETQ1 is set to a large value, so that the amount of load g flowing to the output terminal OUT (not shown) via the transmission gate IMOS FETQ1 is quickly charged up. As a result, the output signal φ' increases rapidly up to the limit voltage VcL.

しかしながら、時間の経過とともに上記伝送ゲートMO
3FETQIのゲートであるノードN1や、出力信号φ
゛のレベルは、MOSFETのソース又はドレインと基
板間等でのリーク電流によって低下しようとする。この
実施例では、出力信号φ°が上記リーク電流によって低
下しようとすると、上記反転入力信号φのロウレベルに
よってオン状態となっているPチャンネルMO5FET
Q6を介して上記リーク電流を補うという電流供給を行
うため、出力信号ψ°のレベルを上記レベルリミッタ電
圧VcLに保たせることができる。
However, over time, the transmission gate MO
Node N1, which is the gate of 3FETQI, and output signal φ
The level of ゛ tends to decrease due to leakage current between the source or drain of the MOSFET and the substrate. In this embodiment, when the output signal φ° is about to decrease due to the leakage current, the P-channel MO5FET, which is turned on by the low level of the inverted input signal φ,
Since current is supplied to compensate for the leakage current through Q6, the level of the output signal ψ° can be maintained at the level limiter voltage VcL.

なお、入力信号の反転信号を形成しておいて、レベルリ
ミッタ電圧VcLにより動作するCMOSインバータ回
路を用いて直接上記レベルリミ、り動作を行わせるとこ
とが考えられるが、通常、レベルリミッタ電圧VcLは
、電源電圧Vccを分圧すること等により形成するもの
ごあるので、その出力インピーダンスが大きくなる。こ
のため、このレベルリミッタ電圧VcLで動作するCM
OSインバータ回路のみでは、出力信号φ゛の立ち上が
りが極端に遅くなってとうてい実用に供し得ない。
It is conceivable to form an inverted signal of the input signal and directly perform the above level limiting operation using a CMOS inverter circuit operated by the level limiter voltage VcL, but normally the level limiter voltage VcL is , are formed by dividing the power supply voltage Vcc, etc., so their output impedance becomes large. Therefore, the CM operating with this level limiter voltage VcL
If only the OS inverter circuit is used, the rise of the output signal φ' will be extremely slow and it cannot be put to practical use.

この点、この実施例では、電源電圧VccによりvJ作
するCMOSインバータ回路によって出方負荷を駆動す
るので、高速に立ち上がる出力信号φ。
In this regard, in this embodiment, since the output load is driven by a CMOS inverter circuit that generates VJ using the power supply voltage Vcc, the output signal φ rises rapidly.

を形成することができるものである。can be formed.

〔効 果〕〔effect〕

(11リーク電流によるレベル低下に対してCMOSイ
ンバータを構成するレベルリミッタ電圧側のMOS F
E Tを通して電流供給を行うことにより、時間の経過
に無関係に安定した出力信号を形成することができると
いう効果が得られる。
(11 Level limiter voltage side MOS
The effect of supplying current through ET is that a stable output signal can be generated regardless of the passage of time.

(21CM OS回路を利用することによって、電源電
圧及びレベルリソミタ電圧と回路の接地電位点との間で
の直流電流(貫通電流)が生じないから、低消費電力化
のレベルリミッタ回路を得ることができるという効果が
得られる。
(By using the 21CM OS circuit, no direct current (through current) is generated between the power supply voltage, level resommiter voltage, and the ground potential point of the circuit, so it is possible to obtain a level limiter circuit with low power consumption. This effect can be obtained.

(3)上記入力信号を形成する接地電位側のNチャンネ
ルM OS F E Tと、レベル補償用に設けされた
PチャンネルMOS F ETとは、必要最少なコンダ
クタンス特性を持つように形成することによって、その
セルザイズの小型化を図ることができるという効果が得
られる。
(3) The N-channel MOS FET on the ground potential side that forms the input signal and the P-channel MOS FET provided for level compensation are formed to have the minimum necessary conductance characteristics. , it is possible to achieve the effect that the cell size can be made smaller.

以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。例えば、入力信号を形
成するCMOSインハーク回路は、レベルリミッタ回路
としては特に必要とされるものではない。なぜなら、上
記入力信号は何等かの回路で形成されるものであるから
である。
Although the invention made by the present inventor has been specifically explained above based on Examples, it goes without saying that this invention is not limited to the above Examples and can be modified in various ways without departing from the gist thereof. Nor. For example, a CMOS in-hark circuit that forms an input signal is not particularly required as a level limiter circuit. This is because the input signal is formed by some kind of circuit.

〔利用分野〕[Application field]

この発明に係るレベルリミッタ回路は、電源電圧以下の
任意の中間レベルの信号を形成するレベルリミッタ回路
として広く利用できる。例えば、半導体集積回路の技術
の進展によって、MOSFET等の素子の微細化が図ら
れている。この素子の微細化によりMOS F E、T
の耐圧が低下する傾向にある。一方、1Mビットのよう
な大記憶容量をもつダイナミック型RA Mの開発にあ
たっては、従来の64にビットのダイナミック型RAM
とコンパチブルにするために、その電源電圧を5Vと微
細化された素子にとっては高い電源電圧を用いる必要が
生しる。このような場合、この発明に係るレベルリミッ
タ回路によりWJ単にその信号レベルの変換を行うこと
ができる。
The level limiter circuit according to the present invention can be widely used as a level limiter circuit that forms a signal of any intermediate level below the power supply voltage. For example, advances in semiconductor integrated circuit technology have led to miniaturization of elements such as MOSFETs. By miniaturizing this element, MOS F E, T
The withstand voltage tends to decrease. On the other hand, in the development of dynamic RAM with a large storage capacity such as 1M bits, the conventional 64-bit dynamic RAM
In order to be compatible with this, it is necessary to use a high power supply voltage of 5 V for miniaturized elements. In such a case, the level limiter circuit according to the present invention can simply convert the signal level of the WJ.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、この発明に先立って考えられているレベルリ
ミッタ回路の一例を示す回路図、第2図は、この発明に
係るレベルリミッタ回路の一実施例を示−ず回路図、 第3図は、その動作の一例を示す波形図である。 第 1 図 第 2 図 第 31¥l
FIG. 1 is a circuit diagram showing an example of a level limiter circuit considered prior to the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of a level limiter circuit according to the present invention, and FIG. is a waveform chart showing an example of the operation. Figure 1 Figure 2 Figure 31¥l

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、入力信号を出力端子に伝える伝送ゲートMO3FE
Tと、コノ伝送ゲートMO3FETのゲートとレベルリ
ミッタ電圧端子との間に設けられ、双方向に電流を流す
ように並列形態とされた一対のダイオード形態のMOS
FETと、上記入力信号の反転信号を受け、その出力点
が上記出方端子に接続され上記レベルリミッタ電圧によ
り動作するCMOSインバータ回路とを含むことを特徴
とするレベルリミッタ回路。 2、上記CMOSインバータ回路におるけレベルリミッ
タ電圧側のMOSFETのコンダクタンス特性は出力端
子におけるリーク電流を補う程度に小さく設定され、回
路の接地電位側のMOSFETのコンダクタンス特性は
出力レベルをリセットするのに必要な駆動能力を持つよ
う設定されるものであることを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載のレベルリミッタ回路。 3、上記入力信号は、電源電圧側のMOS F ETの
コンダクタンス特性が大きく、接地電位側のMOSFE
Tのコンダクタンス特性が小さくされたCMOSインバ
ータ回路により形成され、その入力端子と、上記レベル
リミッタ電圧で動作するCMOSインバータ回路の入力
端子とが共通に接続されるも′のであることを特徴とす
る特許請求の範囲第1又は第2項記載のレベルリミッタ
回路。
[Claims] 1. Transmission gate MO3FE that transmits the input signal to the output terminal
A pair of diode-type MOS transistors are provided between the gate of the transmission gate MO3FET and the level limiter voltage terminal, and are arranged in parallel so that current flows in both directions.
A level limiter circuit comprising a FET and a CMOS inverter circuit that receives an inverted signal of the input signal, has an output point connected to the output terminal, and is operated by the level limiter voltage. 2. In the above CMOS inverter circuit, the conductance characteristic of the MOSFET on the level limiter voltage side is set to be small enough to compensate for the leakage current at the output terminal, and the conductance characteristic of the MOSFET on the ground potential side of the circuit is set to be small enough to reset the output level. 2. The level limiter circuit according to claim 1, wherein the level limiter circuit is set to have a necessary driving capability. 3. The above input signal has a large conductance characteristic of the MOS FET on the power supply voltage side, and the MOS FET on the ground potential side has a large conductance characteristic.
The patent is characterized in that it is formed of a CMOS inverter circuit in which the conductance characteristic of T is reduced, and its input terminal is commonly connected to the input terminal of the CMOS inverter circuit that operates at the level limiter voltage. A level limiter circuit according to claim 1 or 2.
JP59032352A 1984-02-24 1984-02-24 Level limiter circuit Pending JPS60177714A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003063198A3 (en) * 2002-01-22 2004-04-08 Koninkl Philips Electronics Nv A voltage limiting semiconductor pass gate circuit

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003063198A3 (en) * 2002-01-22 2004-04-08 Koninkl Philips Electronics Nv A voltage limiting semiconductor pass gate circuit

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