JPS60147659A - 論理構造 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、論理回路ブロックの回路構成に係り、特に試
験・診断に好適な論理構造に関する。

〔発明の背景〕

従来の論理回路ブロックは、その試験・診断容易性を向
上させるために種々の工夫がなされている。第１図に、
観測ピンを追加した構成の代表的なブロック図を示す。

第１図は、論理回路ブロックを試験・診断上適当なサブ
プロ・ツク１に分割し、本来の信号ピン２に加えて、観
測ピン５を設けた構成を示す。この場合、試験・診断容
易性は向上するが、ピン数が極端に増え（第１図では２
ｒＬピン）、パッケージングが困難になるという欠点が
あった。

〔発明の目的〕

本発明の目的は、１記欠点をなくし、ピン数を極端に増
やすことなく、試験・診断容易性を向上させることにあ
る。

〔発明の概要〕

本発明の特徴は、上記欠点を解決するため。

セレクタによるサブブロックのバイパス回路を構成した
ことにある。

〔発明の実施例〕

以下、本発明の一実施例を第２図により説明する。試験
・診断上適当に分割したサブブロック１の直後にセレク
タ４を設け、サブブロック１の出力信号線と入力信号線
を接続しておく。

信号線の切換えは、セレクタ４に接続された信号選択ピ
ン５を制御することにより行なう。この信号選択ピン５
を、サブブロック１０入力信号線側を選ぶように制御す
ることにより、サブブロック１のバイパス回路を構成す
ることができる。

試験・診断時には、信号選択ピン５を適当に制御し、ど
れか一つのサブプロ・ツク１を選び、残りのサブブロッ
ク１をすべてバイパスさせることにより、サブブロック
単位の試験・診断が可能となる。なお、バイパス回路の
試験・診断は、すべてのサブブロック１をバイパスする
ことにより、同様に可能である。以上、本実施例によれ
ば、比較的少ないピン数の増加で（第２図では４ピン）
、試験・診断容易性を向上させることができる。

〔発明の効果〕

本発明によれば、比較的少ないピン数の増加で（増加ピ
ン数は、サブブロック分割数によねサブブロック単位の
試験・診断が可能となるので、パッケージングな容易に
することができる

【図面の簡単な説明】

第１図は、従来の代表的なブロック図、第２図は、本発
明の一実施例のブロック図である。 １・・・サブブロック、 ２・・・信号ピン、 ６・・・観測ピン、 ４・・・セレクタ、 ５・・・信号選択ピン。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、　集積回路を搭載した論理回路基板等の論理回路ブ
   ロックにおいて、論理回路プロ・ツクを複、数個のサブ
   ブロックに分割し、分割点にセレクタを設けてサブブロ
   ックのバイパス回路を構成したことを特徴とする論理構
   造。