JPS6014541B2

JPS6014541B2 - 試験用パルス信号の監視周波数変換装置

Info

Publication number: JPS6014541B2
Application number: JP55114078A
Authority: JP
Inventors: 寿幸久我; 宗孝大野
Original assignee: Nippon Telegraph and Telephone Corp
Current assignee: NTT Inc
Priority date: 1980-08-21
Filing date: 1980-08-21
Publication date: 1985-04-13
Also published as: JPS5739634A

Description

【発明の詳細な説明】この発明は、多数の中継器が直列接続されて成る伝送路
において、中継器の障害監視用として、障害を監視すべ
き中継器毎に異なった周波数成分を割当てて用いられる
試験用パルス信号の監視周波数変換装置に関するもので
ある。

第１図は、中継伝送路を構成する各中継器の従来の障害
監視方式を説明するための方式説明図である。

同図を参照する。

有人局と無人局の間の中継伝送路は、下り伝送路４と上
り伝送路５と監視線６により構成されている。下り伝送
路４は、多数の中継器１，ｌａ，ｌｂ・・・・・・・・
・・・・・・・ｌｘ，ｌｙ，ｌｚが直列に接続されてな
り、上り伝送路５も同様に、多数の中継器２，２ａ，２
ｂ……………２×，２ｙ，２ｚが直列に接続されて礎成
されている。３，３ａ，３ｂ・・・・・・・・・・・・
・・・３×，３ｙ，３ｚはそれぞれ障害監視フィル夕で
あって、上り、下りの各中継器に共通に用いられる。

そして各監視フィル夕には、それぞれ異なった周波数成
分が割当てられ、割当てられた周波数成分のみを通すよ
うになつている。さて中継伝送路障害が発生すると、ど
の中継器に障害が発生したのかを調べるための標定試験
が行なわれる。

際定試験に用いられる試験用パルス信号は、どの位置に
ある中継器の標定を行なうかにより、異なった周波数成
分をもち、また中継器の動作余裕度を調べるための余裕
度成分を含んでいる。今、中継器ｌｂの標定を行なう場
合には、フィル夕３ｂに割当てられた周波数成分を監視
周波数成分として含む試験用パルス信号を、有人局から
下り伝送路４に送出し、核パルス信号が中継器ｌｂ、フ
ィル夕３ｂ、監視線６を介して有人局に戻ってきたとこ
ろで、そのレベル測定を行ない、それの所定レベルの有
無により障害の標定を行なっている。しかし、その標定
試験は、１回にｔは、上り下りの何れか一方向しか実施
できず、下り方向の標定論験は、有人局から試験用パル
ス信号を送出して実施できるが、上り方向は無人局から
試験用パルス信号を送出して実施しなければならぬため
、無人局へ作業員が出動する必要があり、障害処理作業
の迅速性・効率性の面で従来の障害監視方式は不都合で
あるという欠点があった。この発明は、上述のような従
来の障害監視方式の欠点を解決するためになされたもの
であり、従ってこの発明の目的は、上り方向の標定試験
においても、無人局へ作業員が出動することなく実施す
ることを可能ならしめるための装置である試験用パルス
信号の監視周波数変換装置を提供することにある。

この発明による上記変換装置は、直列接続されて伝送路
を構成する複数個の中継器の各々に割当てられた固有の
周波数成分のうち、或る第１の中継器に対応する周波数
成分をもち、萩中総器の障害監視に用いられる試験用パ
ルス信号を入力され、他の第２の中継器に対応する周波
数成分をもち、該第２の中継器の障害監視に用いられる
試験用パルス信号を出力することを特徴とするものであ
る。

次に図を参照してこの発明の実施例を説明する。

第２図は、この発明による監視周波数変換装置を用いて
実施する中継器障害監視方式の方式説明図である。同図
において、７はこの発明による監視周波数変換装置（ｓ
ｕｐｅｒｖｉｓｏｒｙＦｒｅｑｕｅｍｙＣｏｎｖｅれｅ
ｒ；以下略してＳＶＦＣと云うことがある）である。こ
の変換装置７は、監視周波数成分ｆｉをもつ試験用パル
ス信号を入力されて、同成分ｆｉ＋，をもつ試験用パル
ス信号を出力する装置である。なおこの場合、周波数成
分ｆ，は、例えばフィル夕３ａに割当てられた周波数成
分と同じであり、また周波数成分ｆｉ＋，は、その隣り
のフィル夕３ｂに割当てられた周波数成分に同じものと
する。８は周波数成分ｆｉの信号レベル測定器であり、
９は周波数成分ｆ…の信号レベル測定器である。Ｓは切
換スイッチである。さて有人局から監視周波数成分ｆ，
を含む試験用パルス信号を送出すると、この信号は、先
ず、中継器ｌａ、フィル夕３ａ、監視線６、スイッチＳ
、を介して有人局に戻り、レベル測定器８にてレベル測
定が行なわれ、中継器ｌａの標定試験がなされる。

他方、中継器ｌａを通過した試験用パルス信号は、下り
伝送路を伝播し、無人局に至って、そこに設置されてい
るＳＶＦＣＴに入力される。すると藷６ＶＦＣ７からは
、監視周波数成分ｆ，十，を含む試験用パルス信号が出
力される。このパルス信号は、上り伝送路を伝播し、中
継器２ｂからフィル夕３ｂを通り、監視線６を通って有
人局に戻るので、スイッチＳを適宜のタイミングで切り
換えることにより信号レベル測定器９にてレベル測定を
行なえば、上り線路の中継器２ｂの襟足試験を行なうこ
とができる。このように、この発明によるＳＶＦＣを用
いれば、有人局から或る中継器ｌａを標定するための試
験用パルス信号を送出すると、下り伝送路における該中
継器ｌａと、上り伝送路におけるその隣り位置（必ずし
も隣りに限るものではないが）の中継器２ｂを、１回の
試験作業で標定することができる。

なお、ここで、ＳＶＦＣにおいて、入力された監視周波
数成分ｆｉに対して、その同じ周波数成分ｆ，を折り返
して送出するのでなく、他の監視周波数成分ｆ，十，を
送出するようにしている理由を説明しておく。

ＳＶＦＯこおいて、入力された監視周波数成分ｆ；に対
し、それと同じ周波数成分ｆｉをもつ信号を送出するも
のとすると、周波数成分ｆｉのフィル外こ対応した上り
中継器が故障した場合でも、当該上り中継器に対応した
下り中継器から前記の周波数成分ｆｉのフィル夕を介し
て監視線にＳＶＦＣからの信号が流れてしまい、これを
有人局は受信するので、上り中継器の故障を見つけるこ
とができなくなる。

これに対し、ＳＶＦＣで、入力された監視周波数成分ｆ
ｉに対し、これと異なる周波数成分ｆｉ＋，を送出する
ようにしておけば、上述のような事態の発生は阻止され
、上り中継器の故障を見つけることができる。

以上が、ＳＶＦＣにおいて、入力された監視周波数成分
と異なる周波数成分の信号を送出する理由である。

次に、この発明に係るＳＶＦＣについて説明する。

第３図は、この発明による監視周波数変換装置の一例を
示すブロック図である。

同図を参照する。

監視周波数抽出回路７１とカウンタ回路７２とマトリク
ス回路７３と監視周波数分周回路７４とで監視周波数変
換回路■が構成され、余裕度成分抽出回路７５とカウン
タ回路７６とマトリクス回路７７とにより余裕度成分伝
達回路＠が構成されている。７８は、パルストリオ発生
回路である。

この例では、入力される試験用パルス信号の監視周波数
成分ｆｉは、ｉ＝０、１、・・・・・・・・・・・・・
．・２４の合計、２５蓮類存在し、また該試験用パルス
信号に含まれている中継器動作余裕度成分は８段階に分
かれているものとしている。

監視周波数変換回路■の系統により、入力された試験用
パルス信号の監視周波数成分ｆｉを検出し、さらにこれ
をｆ‘十，に変換して出力する。余裕度成分伝達回路＠
の系統では、入力された試験用パルス信号の余裕度成分
を検出し、これをそのまま伝達して出力する。パルスト
リオ発生回路７８では、監視周波数変換回路■によって
供給される監視周波数成分ｆＭと余裕度成分伝達回路＠
により伝達されてきた余裕度成分とから、新たな試験用
パルス信号を作り出して出力する。ここで使用される試
験用パルス信号について説明しておく。

ここでは、試験用パルス信号として、パルストリオ方式
で使用されるものを用いている。すなわち、第４図ａに
示すように、３個１組の正負不平衡の基本パルス（パル
ストリオ）が、ｈビットごとに繰り返すパターンを低周
波で極性反転させたもの（第４図ｂ参照）を用いている
。第４図ｂで、Ｆは反転周波数成分（低周波）を示す。
この通性反転の周波数を各中継器固有として割当ててお
仇よ、試験用パルス信号の低周波成分は、各中継器で固
有周波数を選択するフィル夕を通して監視回路に送られ
るので、有人局で受信レベルを測定し、正規のレベルよ
り低ければ、その点の中継器または中継区間が障害を起
こしていると標定できるわけである。なお試験用パルス
信号に含まれる余裕度成分の説明は、この発明と余り関
係がないので、説明を省略してある。第５図は、この発
明の一実施例を示す詳細ブロック図である。同図におい
て、監視周波数抽出回路７１は、スライサＳ，とフリツ
プフロツプＦＦ，およびＦＦ２と２個の論理積回路ＩＣ
，およびＩＣ２とから成っており、カウンタ回路７２は
、単安定マルチパイプレータＭＳとカウンタＣ２と論理
穣回路ＩＣ３（一方の入力側に１．５４４ＭＨｚのクロ
ック信号を入力される）から成っている。マトリクス回
路７３においては、そのマトリクスＭＴＸ，は、入力側
に与えられるカウンタＣ２のカウント出力値に応じて、
０〜２４の何れか一つの端子に出力を生じる回機である
。すなわち例えば、マトリクスＭＴＸ，の出力端子０が
ハィレベルになるのは、抽出された監視周波数成分が例
えば３０１６ＨＺのときであり、出力端子１がハイレベ
ルになるのは、抽出された監視周波数成分が２７班ＨＺ
のときであり、というように予め定められている。次に
監視周波数分周回路７４では、今、マトリクスＭＴＸ，
の出力端子０から自らの入力端子１にハイレベルの信号
を入力されたとすると、端子０に相当する３０１６ＨＺ
ではなく、端子１に相当する２７９２ＨＺを出力すると
いうように、一つ隣りの周波数成分を出力するように動
作する回路である。余裕度成分抽出回路７５は、スラィ
サＳ２と論理和回路ＩＣ５とカウンタＣ，とフリップフ
ロップＦＦ３とから成っており、カウンタ回路７６は、
前述のカウンタ回路７２と同様な回路であり、マトリク
ス回路７７は、抽出された余裕度成分に応じて、その出
力端子０〜７の何れかをハイレベルにして出力する回路
である。パルストリオ発生回路７８は、監視周波数分周
回路７４から与えられる変換された周波数成分と、マト
リクス回路７７から与えられる伝達された余裕度成分と
をもつ試験用パルス信号を作成して出力する回路である
。第６図は、第５図における各部信号■〜■のタイムチ
ャートである。

第５図および第６図を参照してこの発明の一実施例の動
作を説明する。

監視周波数抽出回路７１においては、入力される試験用
パルス信号■をスラィサＳ，によりスライスして負パル
ス部分■を抽出すると共に、余裕度成分抽出回路７５の
スラィサＳ２により正パルス部分■を得る。

そして■をフリップフロップＦＦ，に対するセットパル
ス、■をリセットパルスとし、■，■のパルスを生成す
る。次に、回路ＩＣ，にて■，■の論理積をとり、試験
用パルス信号の負ュニポーラパルス■、同様に、■，■
の論理積を回路ＩＣ２にてとることにより、正ュニポー
ラパルス■を生成し、フリップフロップＦＦ２に対して
、■をセットパルス、■をリセットパルスとし、■の監
視周波数成分ｆｉを抽出する。余裕度成分抽出回路７５
においては、■，■の論理和をＩＣにてとることにより
、試験用パルス信号■をすべて正パルスにした３ビット
パルス群■を生成する。

次に、６進カウンタＣ，を用いて各余裕度の周波数成分
ｆｊ■を生成する。カリンタ回路Ｃ２は、カウントすべ
きクロツクとして、抽出した周波数成分出力■と１．５
４小伍ｚの論理積出力パルスを用い、リセツトは抽出し
た周波数成分の立ち下がり■でＭＳを用いて生成したパ
ルス■の立ち上がりを用いる。

カウンタ回路Ｃ３も同様である。マトリクス回路ＭＴＸ
．は、カウンタＣ２のカウントしたクロック数（１．５
４４Ｍ位のクｏックパルス）を入力され、それに対応し
た出力端子をハィレベルにする。

例えば、或る中継器位置４を試験するための試験用パル
ス信号を■として入力されたとすると、その出力端子４
のみが、“１”となり、その他の端子は“０”（ローレ
ベル）となる。マトリクスＭＴＸ２も同様である。監視
周波数分周回路７４は、監視周波数を発生させる回路で
あり、ある入力端子に“１”が来た時、その様子に対応
する監視周波数を生成する。

但し、監視周波数を入力側と出力側で変換させるため、
マトリクスＭＴＸ，の出力端子を次の中継器位置に相当
する監視周波数発生端子に接続している。パルストリオ
発生回路７８は、余裕度成分、監視周波数成分を含む新
たな試験パルス信号を発生させる。

但し、入力された試験用パルス信号のそれと同密度の余
裕度成分をもったパルス信号を出力させるため、マトリ
クス回路ＭＴＸ２の出力端子（０〜７）を、同密度の余
裕度発生端子０〜７にそれぞれ対応させて接続している
。第７図は、無人局に作業員が出動して、試験用パルス
信号を送出した場合（実線）と、この発明によるＳＶＦ
Ｃを用いた場合（点線）とにおける有人局における信号
レベル測定結果の特性比較図である。

両者は良く一致しており、この発明によるＳＶＦＣが有
効なものであることを実証している。以上説明したよう
に、上り、下りの伝送路における各中継器を同一の監視
フィル夕で障害監視を行なう場合、この発明による監視
周波数変換装置を用いた試験方式により、従来無人局へ
作業員が出動して実施していた上り方向伝送路の中継器
に対する標定試験を有人局から自動的に実施可能とし、
伝送路の中継障害を迅速かつ効率的に処理できるという
利点がこの発明にはある。この発明による装置を用いた
試験方式は、山間部、雪の多い地方、遠距離区間、都市
部の交通事情の悪い地域等、無人局までの出動時間が非
常に長くかかる区間に使用すれば、その有効性をより十
分発揮するもので、要するにこの発明によれば、出動す
る必要がなくなるためその経済的利点は大なるものがあ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は、中継伝送路を構成する各中継器の従来の障害
監視方式を説明するための方式説明図、第２図は、この
発明による監視周波数変換装置を用いて実施する中継器
障害監視方式の方式説明図、第３図は、この発明の−実
施例を示すブロック図、第４図は、試験用パルス信号の
波形図、第５図はこの発明の一実施例を示す詳細ブロッ
ク図、第６図は、第５図における各部信号のタイムチャ
ート、第７図は、無人局に作業員が出動して試験用パル
ス信号を送出した場合（実線）と、この発明によるＳＶ
ＦＣを用いた場合（点線）のレベル特性比較図、である
。符号説明、１，２・…・・中継器、３・・・・・・フィ
ル夕、４・…・・下り伝送路、５・・・・・・上り伝送
路、６・・・…監視線、７……監視周波数変換装置（Ｓ
ＶＦＣ）、８・…・・周波数成分ｆ；の信号レベル測定
器、９……周波数成分ｆＭの信号レベル測定器、７１…
・・・監視周波数抽出回路、７２・・・・・・カウンタ
回路、７３・・・・・・マトリクス回路、７４…・・・
監視周波数分周回路、７５・・・・・・余裕度成分抽出
回路、７６・・・・・・カウンタ回路、７７・・・・・
・マトリクス回路、７８・・・・・・パルストリオ発生
回路。第１図第２図第３図第４図第５図第７図第６図

Claims

【特許請求の範囲】

１直列接続されて伝送路を構成する複数個の中継器の
各々に割当てられた固有の周波数成分のうち、或る第１
の中継器に対応する周波数成分をもち、該中継器の障害
監視に用いられる試験用パルス信号を入力され、他の第
２の中継器に対応する周波数成分をもち、該第２の中継
器の障害監視に用いられる試験用パルス信号を出力する
ことを特徴とする試験用パルス信号の監視周波数変換装
置。