JPS60113984A - セラミック回路基板 - Google Patents

セラミック回路基板

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JPS60113984A
JPS60113984A JP22150383A JP22150383A JPS60113984A JP S60113984 A JPS60113984 A JP S60113984A JP 22150383 A JP22150383 A JP 22150383A JP 22150383 A JP22150383 A JP 22150383A JP S60113984 A JPS60113984 A JP S60113984A
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JP
Japan
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circuit board
gaas
ceramic circuit
chip
low temperature
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JP22150383A
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一典 山中
悠一 鈴木
丹羽 紘一
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 fat 発明の技術分野 本発明はセラミック回路基板に係り、特に室温(300
K)から低温(70K)の温度範囲においてGaAs 
−ICチップに破壊や劣化を生しせしめることなく、且
つ高速信号処理の実行を可能にせしめるセラミンク回路
基板に関する。
fbl 技術の背景 GaAs−ICは現在一般に使用されているICに比べ
て数倍以上の電子移動度を有することがら高速信号処理
用のICとして注目されているが、GaAs −ICの
特性を最大限発揮させるには周囲温度を極低温雰囲気に
した方が有利であるといわれている。
しかしGaAs −ICの周囲温度を極低温雰囲気にす
るためにはIC以外の構成部品、例えばrcを搭載する
セラミック基板も極低温雰囲気に耐え、ICチップに破
壊や劣化を生じせしめることのないものを選択する必要
がある。即ぢ室温(300K)から低温(70K)の温
度範囲において、平均熱膨張係数が3.5x10−6〜
5.OX 10−6/に程度の範囲におさまり、且つ比
誘電率が9以下であることが望まれている。
FC+ 従来技術と問題点 従来の有機物よりなる回路基板や、アルミナを主成分と
する回路基板は、室温(300K)から低温(70K)
の温度範囲における熱膨張係数が、GaAs−ICの熱
膨張係数と良好な状態で合致せず、且つ誘電率が高くて
チップを直接回路基板に搭載し高速信号処理を実行させ
るには不適当であるばかりでなく、GaAs−ICチ・
ノブに破壊や劣化を生しせしめるという問題がある。
(dl 発明の目的 本発明の目的はボロシリケートガラスとマグネシア粒子
からなる複合材料の組成を適当に選ぶことにより、室温
(300K)から低温(70K)の温度範囲においてG
aAs −ICチップに破壊や劣化を生じせしめること
なく、且つ高速信号処理の実行を可能にせしめるセラミ
ック回路基板を提供することにある。
te+ 発明の構成 そしてこの目的はセラミック回路基板を、5〜60 w
t、%のB2O3と、10〜60 wt、%のMgOと
、残部が5i02その他で構成することで達成している
(f) 発明の実施例 本発明はMgoの熱膨張係数が室温(300K)から低
温(70K)の温度範囲においてGaAs −ICの熱
膨張係数よりも太き(、これを8203−5iO2を主
成分とし、Al2O3、Na2O、K2O、その他を含
むボロシリケートガラス中に分散させることによりGa
Δ5−ICの熱膨張係数と良好な状態で合致すると共に
、低誘電率の回路基板が得られることに着眼してなされ
たもので、以下添付図により本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す断面図である。
図において1はGaAs−ICチップ、2は半田バンプ
、3は回路基板、4は基板材料、5は配線材料を示す。
GaAs −ICチップ1は半田バンプ2によって回路
基板3に機械的且つ電気的に接続されている。そして回
路基板3は基板材料4と配線材料5を交互に積み重ねる
ことによって構成され、必要に応して各層の配線材料5
の間を基板材料4に設けた孔を介して電気的に接続して
いる。
かかる構成の回路基板において基板材料として特許請求
の範囲第2項記載の組成を有する複合材料を用いること
により、室温(300K)から低温(70K)の温度範
囲において半田バンプ2による接続は機械的にも電気的
にも安定しており、GaAs −ICチップ1には殆ど
応力が掛からず破壊や劣化の発生を防止することができ
る。
また基板材料4の誘電率が低いために配線材料5を流れ
る電気信号を高速に伝播させることができ、GaAs 
−ICチップの有する高速性を十分発揮させることが可
能になる。
(g) 発明の効果 以上述べたように本発明によれば、ポロシリグー1−ガ
ラスとマグネシア粒子からなる複合材料の組成を適当に
選ぶことにより、室温(300K)から低温(70K)
の温度範囲においてGaAs −ICチップに破壊や劣
化を生じせしめることなく、且つ高速信号処理の実行を
可能にせしめるセラミック回路基板を提供することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す断面図である。 図において1はGaAs −ICチップ、2は半田バン
プ、3は回路基板、4は基板材料、5は配線材料を示す

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)ボロシリケートガラスとマグネシア粒子からなるセ
    ラミック回路基板において、5〜60 wt。 %のB2O3と、10〜60 wt、%のMgOと、残
    部が5i02その他でなることを特徴とするセラミック
    回路基板。 2、特許請求の範囲第1項記載のセラミック回路基板に
    おいて、13 wt、%のB2O3と、40 wむ9%
    のMgOと、40匈り1%の5i02および残部がAl
    2O3、Na2O、K2O、その他でなることを特徴と
    するセラミック回路基板。
JP22150383A 1983-11-25 1983-11-25 セラミック回路基板 Granted JPS60113984A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2360036A (en) * 2000-03-06 2001-09-12 Murata Manufacturing Co Insulating ceramic, multilayer ceramic substrate, ceramic electronic parts and laminated ceramic electronic parts

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2360036A (en) * 2000-03-06 2001-09-12 Murata Manufacturing Co Insulating ceramic, multilayer ceramic substrate, ceramic electronic parts and laminated ceramic electronic parts
GB2360036B (en) * 2000-03-06 2002-01-23 Murata Manufacturing Co Insulating ceramic multilayer ceramic substrate ceramic electronic parts and laminated ceramic electronic parts
US6403199B2 (en) 2000-03-06 2002-06-11 Murata Manufacturing Co., Ltd Insulating ceramic, multilayer ceramic substrate, ceramic electronic parts and laminated ceramic electronic parts

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JPH0343798B2 (ja) 1991-07-03

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