JPS5952776B2 - 探傷装置 - Google Patents

探傷装置

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Publication number
JPS5952776B2
JPS5952776B2 JP5710476A JP5710476A JPS5952776B2 JP S5952776 B2 JPS5952776 B2 JP S5952776B2 JP 5710476 A JP5710476 A JP 5710476A JP 5710476 A JP5710476 A JP 5710476A JP S5952776 B2 JPS5952776 B2 JP S5952776B2
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JP
Japan
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signal
flaw
video signal
flaw detection
circuit
Prior art date
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Expired
Application number
JP5710476A
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English (en)
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JPS52140388A (en
Inventor
孝治 鈴木
邦彦 村田
邦弘 黒田
正昭 樽井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
IHI Corp
Original Assignee
IHI Corp
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Publication date
Application filed by IHI Corp filed Critical IHI Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は撮像装置を用いて熱鋼材の表面を撮影する探
傷装置に係り、特に撮像装置の水平走査方向での疵検出
を行なう探傷装置に関する。
製鉄プラントにおいて、分塊圧延あるいは連続鋳造工程
での疵検出は、一般に熱間状態の鋼材(以下熱鋼材とい
う)を一旦常温状態にまで冷却し、冷却された状態で明
視することにより行なわ’れでいる。このため、疵検出
工程の経過後は再び鋼材を加熱する必要があり、鋼材コ
ストの低廉化を阻む要因の1つとなつている。
この点を解決するためには、熱間状態において疵検出を
行ない得ればよいのであるが、これを単に撮像装置を用
いて熱鋼材の表面を撮影し、その複合映像信号から直接
疵信号を抽出するという自動化装置では、十分な確度を
もつて疵判別を行ない得ない。
即ち、熱鋼材表面を撮影すると撮像装置からの映像信号
は鋼材表面の輝度に応じた振幅を有する波形となり疵部
分は一般に疵のない部分より輝度が高いため振巾は疵の
ない部分に比し大きい傾向にある。しかしながら、映像
信号中に多く含まれる不起則性雑音と疵信号成分とを、
その振巾レベルのみで識別することは困難なことが多い
。又、疵部分の振巾が疵のない部分の振巾に比して大き
い傾向にあつても、その疵部分の振巾レベルが映像信号
全体から見れば小さくなつたり、あるいは輝度により映
像信号全体の直流レベルがノ変動する場合がある。この
ため撮像装置からの映像信号をそのままとらえて振幅レ
ベルを比較することによつて疵信号成分を識別すること
はきわめて困難なことが多い。この発明はこのような事
情に鑑みてなされたも3ので、その目的とするところは
鋼材の疵検出を撮像装置を使用して熱間状態で泊動的に
かつ確実に行なうことができ、しかも疵検出を実時間で
行なうことができる探傷装置を提供することにある。
以下、この発明の実施例を図面を参照して説明する。第
1図は製鉄プラントの熱間状態における熱鋼材の搬送状
況を示すもので、熱鋼材1はロールを複数並べてなる搬
送路2上を図中実線の矢印で示す方向へ次の工程へと搬
送される。
そしてこの搬送路2の上方には本発明の実施例装置とし
ての探傷装置3が設けられている。この装置3は第2図
に示すように構成されている。すなわち先ず熱鋼材1の
表面上を撮像する撮像装置4が設けられ、その撮像装置
4から得られる複合映像信号Sはバツフア増幅器5で電
力増幅され、その増幅された複合映像信号は同期分離回
路6へ供給される。この同期分離回路6は複合映像信号
Sから水平および垂直同期信号を分離するもので、得ら
れた各同期信号はタイミング信号発生回路7へ供給され
る。このタイミング信号発生回路7はクロツクパルス発
振器8からのクロツクパルスPと前記同期分離回路6か
らの各同期信号号により後述する各信号処理回路の同期
を決めるタイミング信号を発生するものである。また、
前記バツフア増幅器5で増幅された複合映像信号はA/
D変換回路9に供給される。このA/D変換回路9は前
記タイミング信号発生回路7から発生されるタイミング
信号、つまり水平同期信号と同期したサンプリング信号
により、入力される映像信号に対し、その各水平走査期
間中の映像信号を一定の時間間隔でm等分にサンプリン
グし、その各サンプリング点毎の映像信号をA/D変換
するようにしている。前記A/D変換回路9によつてサ
ンプリングされた各点の出力値は加算器10を介して記
憶装置11に格納される。この加算器10と記憶装置1
1との組合わせ装置は前記A/D変換回路9から得られ
る各水平走査期間中における映像信号の同一サンプリン
グ点の出力値を加算器10で前回までの累計値を記憶装
置11から各サンプリング点毎に読み出して加算し、そ
の加算した累計値を記憶装置11の各サンプリング点毎
に順番に割り当てられた番地に再び格納するようにして
いる。記憶装置11の内容は、サンプリング開始以前に
おいてはすべてゼロにしておく。そしてこの累計加算操
作は1画面中の水平走査信号のn本にわたつて行なわれ
るようになつている。ここで、nは1画面中に含まれる
水平走査線の数以内の数とする。前記記憶装置11に格
納されている各サンプリング点の累計出力値は走査器1
2によつて各サンプリング点の順番に従つて読み出され
勾配算出回路13に供給される。この勾配算出回路13
は各出力値間の勾配を算出するもので、たとえば勾配値
をΔDとしてΔD=D(1+n)−D(1) 但し (1=1,2,・・・m) (n=1,2,・・・ ) の演算を行なうようにしている。
なお、上式においてD(1)はサンプリング点1におけ
る記憶装置11内に格納された累計出力値であり、mは
1水平走査期間におけるサンプリング点数である。そし
て前記勾配算出回路13から得られる勾配値出力を比較
回路14に入力させ、その比較回路14で予め設定され
た基準値aと比較するようにしている。前記比較回路1
4は勾配値が基準値aを越えているときには疵検出信号
として論理゜“1゛の信号を出力し、勾配値が基準値a
以下のときには疵無しとして論理“O゛の信号を出力す
るようにしている。このような構成の本発明実施例装置
において撮像装置4が熱鋼材1を撮影し、その熱鋼材1
の表面に疵があると、撮像装置4からは第3図のaに示
すように疵信号成分Sを含んだ複合映像信号Sが出力さ
れる。
しかしてタイミング信号発生回路7からは第3図のbに
示す水平同期信号と同期した第3図のCに示すようなサ
ンプリング信号が発生する。しかしてA/D変換回路9
からはタイミング信号発生回路7から発生したサンプリ
ング信号にしたがつてサンプリングされた複合映像信号
のデイジタル信号が出力され加算器10を介して記憶装
置11に供給される。この記憶装置11においてはA/
D変換回路9から得られる各水平走査期間中における映
像信号の同一サンプリング点の累計出力値が各サンプリ
ング点毎に順番に割り当てられた番地に格納される。し
たがつて記憶装置11に格納された各サンプリング点の
累計出力値は、疵信号成分が含まれていれば疵信号は複
数の水平走査期間中における映像信号の略同一位置に発
生するから疵信号成分のあるサンプリング点の出力値が
疵信号成分のないサンプリング点の出力値に比べてかな
り大きくなる。一方、不規則性雑音は各水平走査期間中
における映像信号毎に発生位置が異なるから各映像信号
すべてにわたつて累計されても大きなレベルになること
はない。したがつて記憶装置11に格納された各サンプ
リング点の累計出力値は、第3図のdに示すように不規
則性雑音が発生しても、疵信号成分を含むサンプリング
点の累計出力値xは他の疵のない部分のサンプリング点
の累計出力値Yに比べてかなり大きくなる。すなわち不
規則性雑音が除去され疵信号成分のみが取り出されるこ
とになる。そして、記憶装置]1に格納された各サンプ
リング点の累計出力値は走査器12によつて各サンプリ
ング点毎に順番に読み出され、勾配算出回路13で前後
する各サンプリング点間の累計出力値の勾配が算出され
る。この算出された勾配値は比較回路14で基準値と比
較され基準値aを越えていれば論理“1゛の信号が送出
され基準値a以下であれば論理“0゛の信号が送出され
る。したがつて熱鋼材1の表面上にある疵は確実に検出
できる。
しかもA/D変換回路9を使用して水平走査期間中にお
ける映像信号を複数点にわたつてサンプリングしデイジ
タル信号に変換処理しているので、疵検出を実時間で行
なうことができ一疵検出を迅速かつ無駄なく行なうこと
ができる。また、サンプリング点を等時間間隔で設定し
ているので、サンプリング点の順位によつて熱鋼材]の
表面上における水平走査線方向の疵位置を容易に見つけ
出すことがで゛きる。したがつて、たとえば疵除去装置
を設け、その疵除去装置に疵位置信号を供給して疵除去
を自動的に行なわせることも可能となる。以上詳述した
ようにこの発明によれば鋼材の表面の疵検出を撮像装置
を使用して熱間状態で旧動的にかつ確実に行なうことが
でき、しかも疵検出を実時間で行なうことができて疵検
出を迅速かつ無駄なく行なうことができる探傷装置を提
供できるものである。
【図面の簡単な説明】
図はこの発明の実施例を示すもので、第1図は製鉄プラ
ントの熱間状態における熱鋼材の搬送状況を示す図、第
2図は回路構成を示すプロツク図、第3図は各部の波形
図である。 4・・・撮像装置、6・・・同期分離回路、7・・・タ
イミング信号発生回路、9・・・A/D変換回路、10
・・・加算器、1]・・・記憶装置、13・・・勾配算
出回路、14・・・比較回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 熱鋼材を撮影して得られる複数の複合映像信号を実
    時間で複数点にわたつてサンプリングし、A/D変換し
    て、これによつて得られた各水平走査期間中における複
    数の映像信号の同一サンプリング点の出力値を累計加算
    して記憶する手段と、この手段によつて記憶されている
    各サンプリング点の出力値を順次読み出し、各出力値間
    の勾配を算出する手段と、この手段によつて算出された
    勾配値から疵の有無とその位置を判別する手段とを具備
    したことを特徴とする探傷装置。
JP5710476A 1976-05-18 1976-05-18 探傷装置 Expired JPS5952776B2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP5710476A JPS5952776B2 (ja) 1976-05-18 1976-05-18 探傷装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP5710476A JPS5952776B2 (ja) 1976-05-18 1976-05-18 探傷装置

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Publication Number Publication Date
JPS52140388A JPS52140388A (en) 1977-11-22
JPS5952776B2 true JPS5952776B2 (ja) 1984-12-21

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ID=13046193

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JP5710476A Expired JPS5952776B2 (ja) 1976-05-18 1976-05-18 探傷装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61195165U (ja) * 1985-05-24 1986-12-05
JPH0210706Y2 (ja) * 1984-05-31 1990-03-16

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2931312B2 (ja) * 1988-04-12 1999-08-09 大日本印刷株式会社 欠陥検査方法

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JPS52140388A (en) 1977-11-22

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