JPS59229957A - 加入者回路／トランク試験方式 - Google Patents
加入者回路／トランク試験方式Info
- Publication number
- JPS59229957A JPS59229957A JP10391683A JP10391683A JPS59229957A JP S59229957 A JPS59229957 A JP S59229957A JP 10391683 A JP10391683 A JP 10391683A JP 10391683 A JP10391683 A JP 10391683A JP S59229957 A JPS59229957 A JP S59229957A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- circuit
- digital
- trunk
- subscriber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/24—Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation
- H04M3/244—Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation for multiplex systems
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は加入者回路／トランク試験方式、さらＣ二詳し
く言えば、ディジタル交換機において、アナログ信号用
の加入者回線、中継回線を収容する加入者回路、トラン
ク等の回路装置の、特（二符号器、復号器の試験のため
の試験方式に関する。
く言えば、ディジタル交換機において、アナログ信号用
の加入者回線、中継回線を収容する加入者回路、トラン
ク等の回路装置の、特（二符号器、復号器の試験のため
の試験方式に関する。
従来技術と問題点
従来技術に従えば、上記の加入者回路／トランクの符号
器、復号器の試験を行なう場合は、符号器の試験回路と
復号器の試験回路を別々に構成し。
器、復号器の試験を行なう場合は、符号器の試験回路と
復号器の試験回路を別々に構成し。
符号器と復号器を別々に試験した。第１図は従来技術に
よる試験方式の説明図である。図においてＤＮＷはディ
ジタル交換機のディジタル通話路装置、ＣＣはその共通
制御装置、加入者回路／トランク ゛ＬＣ／ＴＲＫは加
入者回路ＬＣあるいはトランクＴＲＫの何れかを示し、
Ｌはアナログ形の加入者回線もしくは中継回線、ＴＩは
共通試験機、ＡＴ、 ）ま補助試験機である。
よる試験方式の説明図である。図においてＤＮＷはディ
ジタル交換機のディジタル通話路装置、ＣＣはその共通
制御装置、加入者回路／トランク ゛ＬＣ／ＴＲＫは加
入者回路ＬＣあるいはトランクＴＲＫの何れかを示し、
Ｌはアナログ形の加入者回線もしくは中継回線、ＴＩは
共通試験機、ＡＴ、 ）ま補助試験機である。
通試験機ＴＩに引込むための切替スイッチｔを含む。
切替スイッチｔは通常は、各加入者回路／トランクＬＣ
／ＴＲＫにそれぞれ設けられる試験リレーＴ（図示せず
）の接点として構成される。Ｐｒ、Ｐ２は減衰用パッド
である。
／ＴＲＫにそれぞれ設けられる試験リレーＴ（図示せず
）の接点として構成される。Ｐｒ、Ｐ２は減衰用パッド
である。
加入者回路／トランクＬＣ／ＴＲＫの試験を行なうには
、図示しない試験用コンソールより試験コマンドおよび
被試験加入者回路／トランクＬＣ／ＴＲＫを指示する情
報等を共通制御装置ＣＣに人力させる。
、図示しない試験用コンソールより試験コマンドおよび
被試験加入者回路／トランクＬＣ／ＴＲＫを指示する情
報等を共通制御装置ＣＣに人力させる。
共通制御装置ＣＣは、これに基き、ディジタル通話路装
置ＤＮＷを制御して、径路■、■を設電し、被試験加入
者回路／トランクＬＣ／ＴＲＫの符号器ＣＯＤの出力を
径路■を径で補助試験機ＡＴ１の試験音用受信器ＲＥＣ
，に接続し、また、補助試験機ＡＴ、のディジタル試験
音発生器ＴＮＧ、の出力をリレー接点γｌ’＋および上
記通話路装置ＤＮＷの上記の径路■を経て復号器ＤＥＣ
に接続する。
置ＤＮＷを制御して、径路■、■を設電し、被試験加入
者回路／トランクＬＣ／ＴＲＫの符号器ＣＯＤの出力を
径路■を径で補助試験機ＡＴ１の試験音用受信器ＲＥＣ
，に接続し、また、補助試験機ＡＴ、のディジタル試験
音発生器ＴＮＧ、の出力をリレー接点γｌ’＋および上
記通話路装置ＤＮＷの上記の径路■を経て復号器ＤＥＣ
に接続する。
また、上記試験コマンド番−より共通制御装置ＣＣによ
って被試験加入者回路／トランクＬＣ／Ｔ ＲＫの図示
しない試験リレーＴが動作制御され、その接点として構
成された切替スイッチｔが動作し、共通試験ｍＴ＋のア
ナログ試験音受信器ＲＥＣ０がリレー接点τｌ：および
切替スイッチｔを経てノ・イブリットＨに接続される。
って被試験加入者回路／トランクＬＣ／Ｔ ＲＫの図示
しない試験リレーＴが動作制御され、その接点として構
成された切替スイッチｔが動作し、共通試験ｍＴ＋のア
ナログ試験音受信器ＲＥＣ０がリレー接点τｌ：および
切替スイッチｔを経てノ・イブリットＨに接続される。
ここで補助試験９ ＡＴ、のディジタル試験音発生器Ｔ
ＮＧ、の送出するディジタル試験音は、リレー接点τｌ
：より、ディジタル通話路装置ＤＮＷの径路■を経て被
試験加入者回路／トランクＬＣ／Ｔ ＲＫの復号器ＤＥ
Ｃｒ二連しここでアナログ信号に復号（変換）され、パ
ッドＰＬ、ノ１イブリッドＨおよび切替スイッチｔを経
て共通試験機ＴＩに達し、さらに、リレー接点ｒｌ：を
経て試験音用受信器ＲＥＣ０に入力して受信され、その
受信した試験音の周波数と、レベルとがチェックされる
。このよう（ニジて、被試験加入者回路／トランクＬＣ
／ＴＥＫの復号器ＤＥＣ、パッドＰＩおよびハイブリッ
ドＨの試験（受信信号に対する試験）が行なわれる。
ＮＧ、の送出するディジタル試験音は、リレー接点τｌ
：より、ディジタル通話路装置ＤＮＷの径路■を経て被
試験加入者回路／トランクＬＣ／Ｔ ＲＫの復号器ＤＥ
Ｃｒ二連しここでアナログ信号に復号（変換）され、パ
ッドＰＬ、ノ１イブリッドＨおよび切替スイッチｔを経
て共通試験機ＴＩに達し、さらに、リレー接点ｒｌ：を
経て試験音用受信器ＲＥＣ０に入力して受信され、その
受信した試験音の周波数と、レベルとがチェックされる
。このよう（ニジて、被試験加入者回路／トランクＬＣ
／ＴＥＫの復号器ＤＥＣ、パッドＰＩおよびハイブリッ
ドＨの試験（受信信号に対する試験）が行なわれる。
次に共通試験機Ｔ１．補助試験機ＡＴ、においてそれぞ
れリレーＲＬｏ、 ＲＬｌを動作させ、その接点ｒｌ。
れリレーＲＬｏ、 ＲＬｌを動作させ、その接点ｒｌ。
、 ｒｌ、を動作させる。この動作により上記の試験回
路は接点ｒｌ′ｏ９よびγｌ：により解放され、新らた
な試験回路が構成される。すなわち、新試験回路として
、共通試験機Ｔ！のアナログ試験音発生器ＴＮＧｏより
接点ｒｌ二、切替スイッチｔ（何れも転換している）、
へイブリッドＨ５パッドＰ２、符号器ＣＯＤ、ディジタ
ル通話路装置ＤＮＷに設定された径路■を経て補助試験
機ＡＴ１のディジタル試験音受信器ＲＥＣ，に達する回
路が構成される。ここで、上記試験回路において、アナ
ログ試験音発生器ＴＮＧ。
路は接点ｒｌ′ｏ９よびγｌ：により解放され、新らた
な試験回路が構成される。すなわち、新試験回路として
、共通試験機Ｔ！のアナログ試験音発生器ＴＮＧｏより
接点ｒｌ二、切替スイッチｔ（何れも転換している）、
へイブリッドＨ５パッドＰ２、符号器ＣＯＤ、ディジタ
ル通話路装置ＤＮＷに設定された径路■を経て補助試験
機ＡＴ１のディジタル試験音受信器ＲＥＣ，に達する回
路が構成される。ここで、上記試験回路において、アナ
ログ試験音発生器ＴＮＧ。
から送出されたアナログ試験音は符号器ＣＯＤにおいて
ディジタル符号化され、ディジタル信号として、ディジ
タル通話路装置ＤＮＷの径路■を経て、補助試験機ＡＴ
１のディジタル試験音受信器ＲＥＣ１（＝入力する。デ
ィジタル試験音受信機ＲＥＣ，は入力するこのディジタ
ル試験音をアナログ形に変換し、その周波数、レベル等
をチェックする。
ディジタル符号化され、ディジタル信号として、ディジ
タル通話路装置ＤＮＷの径路■を経て、補助試験機ＡＴ
１のディジタル試験音受信器ＲＥＣ１（＝入力する。デ
ィジタル試験音受信機ＲＥＣ，は入力するこのディジタ
ル試験音をアナログ形に変換し、その周波数、レベル等
をチェックする。
上記のように、従来の技術によれば、被試験加入者回路
／トランクＬＣ／ＴＲＫの符号器ＣＯＤの試験回路すな
わちアナログ信号を送出してディジタル信号として受信
する試験回路と、復号器ＤＥＣの試験回路下なわちディ
ジタル信号を送出してアナログ信号として受信する試験
回路とを別々に構成して、アナログ−ディジタルおよび
ディジタル−アナログの試験を別々ｇ二実施するために
試験時間が長くなり、また、共通試験機（Ｔりと通話路
装置ＤＮＷに設ける補助試験機ＡＴ１との両方に試験音
発生器と試験音受信器とを要した。このように従来技術
による試験方式にはその試験に時間がかり、また、試験
機が経済的でないという欠点があった。
／トランクＬＣ／ＴＲＫの符号器ＣＯＤの試験回路すな
わちアナログ信号を送出してディジタル信号として受信
する試験回路と、復号器ＤＥＣの試験回路下なわちディ
ジタル信号を送出してアナログ信号として受信する試験
回路とを別々に構成して、アナログ−ディジタルおよび
ディジタル−アナログの試験を別々ｇ二実施するために
試験時間が長くなり、また、共通試験機（Ｔりと通話路
装置ＤＮＷに設ける補助試験機ＡＴ１との両方に試験音
発生器と試験音受信器とを要した。このように従来技術
による試験方式にはその試験に時間がかり、また、試験
機が経済的でないという欠点があった。
発明の目的
本発明は従来の技術による試験方式の上記の欠点を除去
し、試験時間を短縮し、かつ試験機を経済化することを
目的とする。
し、試験時間を短縮し、かつ試験機を経済化することを
目的とする。
発明の実施例
以下、本発明の実施例を図面について説明する。
第２図は本発明の一実施例の接続構成図である。
図において、Ｌ、ＬＣ／ＴＲＫ、 ＤＮＷ、 ＣＣ，さ
らにｔ 、 Ｈ，ＣＯＤ、 ＤＥＣ，Ｐ、 、Ｐ２は第
１図と同一のものを示し、また、Ｔ２は共通試験機、Ａ
ｒ１は補助試験機を示す。補助試験機ＡＴ２は第１図の
ものと同様ディジタル試験音発生器ＴＮＧ２とディジタ
ル試験音受信器ＲＥＣ２とを有するが共通試験機Ｔ２は
反射インピーダンス回路Ｈｚを有する点、アナログ試験
音発生器、アナログ試験音受信器およびリレー（ＲＬｏ
、 ＲＬｌ）を使用しない点において従来技術（第１図
）と異る。
らにｔ 、 Ｈ，ＣＯＤ、 ＤＥＣ，Ｐ、 、Ｐ２は第
１図と同一のものを示し、また、Ｔ２は共通試験機、Ａ
ｒ１は補助試験機を示す。補助試験機ＡＴ２は第１図の
ものと同様ディジタル試験音発生器ＴＮＧ２とディジタ
ル試験音受信器ＲＥＣ２とを有するが共通試験機Ｔ２は
反射インピーダンス回路Ｈｚを有する点、アナログ試験
音発生器、アナログ試験音受信器およびリレー（ＲＬｏ
、 ＲＬｌ）を使用しない点において従来技術（第１図
）と異る。
第２図において、加入者回路／トランクＬＣ／ＴＲＫの
試験を行なうためには、第１図の場合と同様：二、例え
ば、図示しない試験用コンソールより試験コマンドおよ
び被試験加入者回路／トランクＬＣ／ＴＲＫを指示する
情報等を共通制御装置ＣＣに入力させる。共通制御装置
ＣＣは、これに基き、ディジタル通話路装置ＤＮＷを制
御して径路■、■を設定し、被試験加入者回路／トラン
クＬＣ／ＴＲＫの符号器ＣＯＤの出力を径路■を経て補
助試験機ＡＴ。
試験を行なうためには、第１図の場合と同様：二、例え
ば、図示しない試験用コンソールより試験コマンドおよ
び被試験加入者回路／トランクＬＣ／ＴＲＫを指示する
情報等を共通制御装置ＣＣに入力させる。共通制御装置
ＣＣは、これに基き、ディジタル通話路装置ＤＮＷを制
御して径路■、■を設定し、被試験加入者回路／トラン
クＬＣ／ＴＲＫの符号器ＣＯＤの出力を径路■を経て補
助試験機ＡＴ。
のディジタル試験音受信器ＲＥＣ，に接続し、また、補
助試験機ＡＴ２のディジタル試験音発生器ＴＮＧ２の出
力を径路■を経て被試験加入者回路／トランクＬＣ／Ｔ
ＲＫの復号器ＤＥＣに接続する。
助試験機ＡＴ２のディジタル試験音発生器ＴＮＧ２の出
力を径路■を経て被試験加入者回路／トランクＬＣ／Ｔ
ＲＫの復号器ＤＥＣに接続する。
一方、上記試験コマンドにより共通制御装置ＣＣは指定
された被試験加入者回路／トランクＬＣ／ＴＲＫの図示
しない試験リレーＴを動作制御し、その接点ｔとして構
成された切替スイッチを切替えそのハイブリッドＨの回
線り側を共通試験機Ｔ！の反射インピーダンス回路Ｈｚ
に切替える。
された被試験加入者回路／トランクＬＣ／ＴＲＫの図示
しない試験リレーＴを動作制御し、その接点ｔとして構
成された切替スイッチを切替えそのハイブリッドＨの回
線り側を共通試験機Ｔ！の反射インピーダンス回路Ｈｚ
に切替える。
反射インピーダンス回路Ｈｚは、例えば、回線を構成す
る２本の導線を直接接続してループを作り回線の終端イ
ンピーダンスを“０”とし、或は上記導線を切断状態（
開放状態）として回線の終端インピーダンスを無限大と
するように構成されている。
る２本の導線を直接接続してループを作り回線の終端イ
ンピーダンスを“０”とし、或は上記導線を切断状態（
開放状態）として回線の終端インピーダンスを無限大と
するように構成されている。
ハイブリッドＨの平衡結線網（図示せず）は、試験リン
−Ｔの平常状態でハイブリッドＨに回線りが接続されて
いるとき回線りのインピーダンス（一般に６００Ω）に
平衡するよう構成され、これ（二より符号器ＤＥＣから
出力してへイブリッドＨに流入するアナログ信号は大部
分回線りに流れ、符号器ＣＯＤには流れないようになっ
ている。
−Ｔの平常状態でハイブリッドＨに回線りが接続されて
いるとき回線りのインピーダンス（一般に６００Ω）に
平衡するよう構成され、これ（二より符号器ＤＥＣから
出力してへイブリッドＨに流入するアナログ信号は大部
分回線りに流れ、符号器ＣＯＤには流れないようになっ
ている。
しかし、上記のように、試験リレーＴが動作しその接点
で構成された切替スイッチｔ（二より回線り側が反射イ
ンピーダンス回路Ｈｚに切替えられたときは、符号器Ｄ
ＥＣから出力してハイブリッドＨに流入するアナログ信
号は、反射インピーダンス回路１１Ｚで反射し、再びハ
イブリッドＨに戻り、符号器ＣＯＤに出力することとな
る。
で構成された切替スイッチｔ（二より回線り側が反射イ
ンピーダンス回路Ｈｚに切替えられたときは、符号器Ｄ
ＥＣから出力してハイブリッドＨに流入するアナログ信
号は、反射インピーダンス回路１１Ｚで反射し、再びハ
イブリッドＨに戻り、符号器ＣＯＤに出力することとな
る。
すなわち、加入者回路／トランクＬＣ／ＴＲＫの試験に
当り上記のように試験回路として、補助試験機ＡＴ、の
ディジタル試験音発生器ＴＮＧ、の出力側から、ディジ
タル通話路ＤＮＷの径路＠、被試験加入者回路／トラン
クＬＣ／ＴＲＫの復号器ＤＥＣ、パッドＰＩ、ハイブリ
ッドＨ１切替スイッチｔ、反射インピーダンス回路Ｈｚ
に到り、さらに反射インピーダンス回路Ｈｚからハイブ
リッドＨ、パッドＰ２゜符号器ＣＯＤ、ディジタル通話
路装置ＤＮＷの径路■を経て補助試験機ＡＴ２の試験音
受信回路ＲＥＣ。
当り上記のように試験回路として、補助試験機ＡＴ、の
ディジタル試験音発生器ＴＮＧ、の出力側から、ディジ
タル通話路ＤＮＷの径路＠、被試験加入者回路／トラン
クＬＣ／ＴＲＫの復号器ＤＥＣ、パッドＰＩ、ハイブリ
ッドＨ１切替スイッチｔ、反射インピーダンス回路Ｈｚ
に到り、さらに反射インピーダンス回路Ｈｚからハイブ
リッドＨ、パッドＰ２゜符号器ＣＯＤ、ディジタル通話
路装置ＤＮＷの径路■を経て補助試験機ＡＴ２の試験音
受信回路ＲＥＣ。
に到る回路が構成される。
試験音発生器ＴＮＧ２で発生したディジタル試験音は、
上記試験回路において、まづ被試験加入者回路／トラン
クＬＣ／ＴＲＫの復号器ＤＥＣでアナログ形式の信号に
復号され、パッドＰ１を経てハイブリッドＨに入力する
。
上記試験回路において、まづ被試験加入者回路／トラン
クＬＣ／ＴＲＫの復号器ＤＥＣでアナログ形式の信号に
復号され、パッドＰ１を経てハイブリッドＨに入力する
。
この試験音は、ハイブリッドＨから、切替スインｆｔを
経て共通試験機Ｔ２の反射インピーダンス回路Ｈｚに達
し、ここで反射されて、ハイブリッドＨおよびパッドＰ
２を経て符号器Ｃ０Ｄ（二連する。符号器ＣＯＤに達す
るアナログ信号のレベルは、反射インピーダンス回路Ｈ
ｚとハイブリッドＨの平衡結線網とのインピーダンス値
に応じて定まる。
経て共通試験機Ｔ２の反射インピーダンス回路Ｈｚに達
し、ここで反射されて、ハイブリッドＨおよびパッドＰ
２を経て符号器Ｃ０Ｄ（二連する。符号器ＣＯＤに達す
るアナログ信号のレベルは、反射インピーダンス回路Ｈ
ｚとハイブリッドＨの平衡結線網とのインピーダンス値
に応じて定まる。
この試験音は符号器ＣＯＤにおいて再度ディジタル化さ
れディジタル通話路装置ＤＮＷの径路■を経て補助試験
機ＡＴ２の試験音受信機ＲＥＣ２に入力し、ここでその
周波数、レベル等がチェックされる。
れディジタル通話路装置ＤＮＷの径路■を経て補助試験
機ＡＴ２の試験音受信機ＲＥＣ２に入力し、ここでその
周波数、レベル等がチェックされる。
通常アカログ回路の回線側の負荷インビーダンスは６０
０Ωとして整合をとるよう（二設定され、また電話網の
損失配分計画により上記パッドｐ、 、 ｐ。
０Ωとして整合をとるよう（二設定され、また電話網の
損失配分計画により上記パッドｐ、 、 ｐ。
等の減衰量は定っている。
従って、上記の本発明の試験方式を採用することにより
、一度のテストにより被試験加入者回路／トランクＬＣ
／ＴＲＨの符号器および復号器の両方の機能の確認、挿
入されたパッドの減衰量のチェックおよび回線り側から
みた被試験回路の入力インピーダンスのチェックが可能
となる。
、一度のテストにより被試験加入者回路／トランクＬＣ
／ＴＲＨの符号器および復号器の両方の機能の確認、挿
入されたパッドの減衰量のチェックおよび回線り側から
みた被試験回路の入力インピーダンスのチェックが可能
となる。
本発明は、上記の実施例（二限定されるものではなく、
種々の変形が可能である。
種々の変形が可能である。
発明の効果
本発明は、上記のように構成されているため、従来は二
度の試験により、それぞれ別個に行なっていた被試験加
入者回路／トランクの符号器および復号器の試験を一度
の試験により実施することが可能となり、試験に要する
時間を短縮して試験の能率を向上させ得る効果がある。
度の試験により、それぞれ別個に行なっていた被試験加
入者回路／トランクの符号器および復号器の試験を一度
の試験により実施することが可能となり、試験に要する
時間を短縮して試験の能率を向上させ得る効果がある。
なお、従来の試験方式では共通試験機においてアナログ
試験音発生機およびアナログ試験音受信器が必要であっ
たが、本発明においてはこれ等のものは不要となり、試
験装置も経済化し得る効果がある。
試験音発生機およびアナログ試験音受信器が必要であっ
たが、本発明においてはこれ等のものは不要となり、試
験装置も経済化し得る効果がある。
第１図は従来技術による試験方式の大要を示す接続図、
第２図は本発明を実施した試験方式の接続図である。 Ｔ、、Ｔ、・・・共通試験機、ＡＴ、 、 ＡＴ、、、
、補助試験機、Ｈ・・・ハイブリッド、ＣＯＤ・・・符
号器、ＤＥＣ・・・復号器、ＴＮＧ ｏ・・・アナログ
試験音発生器、ＴＮＧ、 、 ＴＮＧ、 、・・ディジ
タル試験音発生器、ＲＥＣＯ・・・アナログ試験音受信
器、ＲＥＣ，、ＲＥＣ，・・・ディジタル試験音受信器
、ＩｉＺ・・・反射インピーダンス回路、Ｐ、 、 Ｐ
、・・・〕曵ツ ド。 特許出願人 富士通株式会社
第２図は本発明を実施した試験方式の接続図である。 Ｔ、、Ｔ、・・・共通試験機、ＡＴ、 、 ＡＴ、、、
、補助試験機、Ｈ・・・ハイブリッド、ＣＯＤ・・・符
号器、ＤＥＣ・・・復号器、ＴＮＧ ｏ・・・アナログ
試験音発生器、ＴＮＧ、 、 ＴＮＧ、 、・・ディジ
タル試験音発生器、ＲＥＣＯ・・・アナログ試験音受信
器、ＲＥＣ，、ＲＥＣ，・・・ディジタル試験音受信器
、ＩｉＺ・・・反射インピーダンス回路、Ｐ、 、 Ｐ
、・・・〕曵ツ ド。 特許出願人 富士通株式会社
Claims (1)
- 加入者回路／トランクを収容したディジタル交換機にお
いて、上記加入者回路／トランクは、その回線側を共通
試験機の反射インピーダンス回路ｌ二切替接続されるよ
うになされるとともに、その符号器および復号器は、そ
れぞれ、上記ディジタル交換機のディジタル通話路装置
を介して、該ディジタル通話路装置に収容された補助試
験機のディジタル試験音受信器およびディジタル試験音
発生器に接続されるよう１：なり、上記加入者回路／ト
ランクの試験に際しては、被試験加入者回路／トランク
の回線側を共通試験機の反射インピーダンス回路ｇ二切
替えるとともｌ二、その符号器および復号器をそれぞれ
上記ディジタル通話路装置を介して補助試験機のディジ
タル試験音受信器およびディジタル試験音発生器に接続
し、上記ディジタル試験音発生器から送出された試験音
を被試験加入者回路／トランクを経て上記ディ・ジタル
試験音受信器で受信し、受イち結果により被試験加入者
回路／トランクの良否を判定することを特徴とする加入
者回路／トランク試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10391683A JPS59229957A (ja) | 1983-06-10 | 1983-06-10 | 加入者回路／トランク試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10391683A JPS59229957A (ja) | 1983-06-10 | 1983-06-10 | 加入者回路／トランク試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59229957A true JPS59229957A (ja) | 1984-12-24 |
Family
ID=14366747
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10391683A Pending JPS59229957A (ja) | 1983-06-10 | 1983-06-10 | 加入者回路／トランク試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59229957A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5894259A (ja) * | 1981-11-30 | 1983-06-04 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 加入者回路試験方式 |
-
1983
- 1983-06-10 JP JP10391683A patent/JPS59229957A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5894259A (ja) * | 1981-11-30 | 1983-06-04 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 加入者回路試験方式 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0643519B1 (en) | Subscriber system testing method | |
| US5848127A (en) | Two-wire channel unit with loopback test capability | |
| US5594581A (en) | Low loss optical transmission/monitoring path selection in redundant equipment terminals | |
| US5995687A (en) | Circuit for testing an optical communication system | |
| JPS59229957A (ja) | 加入者回路／トランク試験方式 | |
| US4188509A (en) | Tone signalling arrangement for a telecommunications exchange | |
| JPH0446445A (ja) | 通話路導通試験方式 | |
| JPS6328390B2 (ja) | ||
| FI87123C (fi) | System foer saekring av stamfrekvenscentralkanalerna vid en digital oeverfoeringsanordning | |
| Kuebler | A multiport telephone conference bridge | |
| JPH03157023A (ja) | 試験系切換回路 | |
| JPS63234660A (ja) | 時分割スイツチの接続試験方式 | |
| JPS60112348A (ja) | 防側音回路 | |
| Wallman | Nation-wide switching of intertoll trunks-Transmission considerations | |
| JPH02128551A (ja) | 加入者回路／トランク試験方式 | |
| JPH04207528A (ja) | 光折り返し試験器 | |
| JPS63153993A (ja) | ボタン電話装置 | |
| JPS62136156A (ja) | 回線折返し試験方式 | |
| JPS59185459A (ja) | 導通試験方式 | |
| JPS6292647A (ja) | ネツトワ−ク間ケ−ブル試験方法 | |
| JPH03280748A (ja) | ループ型ディジタル伝送路 | |
| JPS63102450A (ja) | 緊急指令装置における同時指令接続方式 | |
| JPH01133437A (ja) | 光中継器 | |
| JPS6111017B2 (ja) | ||
| JPS62169563A (ja) | 割込通話方式 |