JPS59195106A - めつき制御装置および方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は特に電気めっぎおよび無電解めっきの制御用に
設計された装置および方法に関する。本発明はめっき動
作中、めっき速度およびめっき層の厚さの正確な監視を
可能にし、めっき圧および品質に関して均一な、正確な
成果を得ることを可能にする。本発明の装置および方法
は容易に、経済的に適用できるものであり、かつまた操
作者が高度の技術を必要としないものである。また、本
発明の装置および方法は非常に融通性があり、めっきの
適用例に所望の成果を得るために必要に応じて容易に、
迅速に調整することができる。

電気めっぎ産業においては、渦電流、ベータ粒子後方散
乱および磁気的方法を使用してめっき被着層の厚さを測
定することができるが、これはめっきされた物品または
その一部分をめっき浴から取出した場合にのみ可能であ
った。多くの場合に、おおむね満足な結果を得ることが
できたが、しかし非常に熟練した操作であっても、また
厳しい品質制御基準によっても、非常に不満足な結果が
ときどき生じた。めっき被着層の厚さが不充分な物品あ
るいは他の点で不満足な物品が製造され、ある場合には
、めっき被着層の厚さが過剰となり、物品の製造コスト
を増大させる欠点があった。さらに、適切な技術を有す
る操作者の訓練および雇用にかなりの投資および運転費
用を必要とし、また、速やかに生産を増大させたい場合
に、これを実行することは困難で、かつ非常に費用がか
がる欠点があった。

次に、本発明の詳細な説明する。

本発明はめっき操作において得られた結果を改善し、基
準化すると同時に、操作者の側に必要な技能を減じるた
めの装置および方法を提供するという一般的目的を発展
させたものである。この中で使用される「めっぎ」とい
う用語は電気めっぎおよび無電解めっきあるいは自己触
媒めっきを意味する。

本発明の他の目的は物品の組成の変化が処理中に生じる
めっきにおいて、およびそのように生じた変化を監視す
ることが望ましいめっきにおいて有益な装置および方法
を提供することである。

本発明の重要な１つの点は、めっきが行なわれている間
にめつき被着層の厚さが正確に測定できるならば、めっ
き処理に関する問題の大部分が処理操作の完了を待つ必
要なしに回避できるという認識によっている。本発明の
他の重要な点は、めっきされている物品のめつき被着層
の厚さを正確に測定することができない明白な原因が組
成の変化を直接測定することなしに克服できるという認
識によっている。本発明によれば、物品のめつき被着層
の厚さの変化は、処理されている物品のめっき被着性と
等価なめつき被着性を有しかつ物品が処理それるのと同
時にプローブが処理できるように設計されたプローブを
用意し、他方このプローブの組成の変化を測定づること
によって、間接的に測定される。

電気めっきあるいは無電解めっきにおいて、めっきされ
ている物品は溶液すなわち浴中に浸漬される。本発明に
よれば、浴中に浸漬されるように適合された、かつ浴と
接触する表面部分を有する暴利を含むプローブが用意さ
れており、この暴利はめつきされるべき物品のめつき被
着性に等しいめっぎ被着性を有する。電気めっき操作の
制御のために、プローブの基材を電位源に接続するため
の導体−ガ設けられており、プローブの露出された表面
部分に、物品のめっぎ被着層の形成に比例してめっき被
着層を形成し、このプローブのめつき被着層の厚さが物
品のめつき被着層の厚さを間接的に測定するために測定
される。めっき被着物の厚さを指示する他に、あるいは
指示する代りに、厚さの変化率を指示してもよい。自己
触媒または無電解めっきの制御のために、同じ形式のプ
ローブがめつき電位をプローブに供給することなしに使
用される。

めっき被着層の厚さおよび、あるいは厚さの変化率は連
続的に監視でき、かつ、または連続的に指示でき、そし
てあらかじめ定められた厚さが得られたときに、電気め
っき操作が自動的に停止できる。

本発明の重要な特徴はプローブの組成の変化がプローブ
の電気インピーダンスを測定することによって測定され
るプローブの溝成に関する。めっきに使用づ−るための
プローブには、好ましくはある長さの比較的小径の裸線
を使用することによって、露出した金属表面部分が設け
られる。この線のインピーダンスはその長さに沿って電
気抵抗を測定することによって簡単に測定できる。この
ようにして、めつき被着層の厚さに関して非常に敏感な
、正確な指示が得られる。

本発明の他の重要な特徴は不正確な指示を生じさせる可
能性のある変化する周囲条件、電気雑音等の影響を最小
にするための手段を提供することに関する。めつき被着
層の厚さを測定するために裸線を使用するプローブにお
いては、裸線すなわち能動線のインピーダンスまたは抵
抗が同じ周囲条件にさらされるようにこの能動線に非常
に接近して配置された被覆線のインピーダンスまたは抵
抗と比較される。その上、被覆を除去したときに能動線
の電気インピーダンスに等しい電気インピーダンスを有
する基準の被覆線を用意してもよく、また、最大の厚さ
のめつき被着層が能動プローブに形成されたときに能動
線のインピーダンスに等しいインピーダンスを有する別
の基準被覆線を設けてもよい。能動線のインピーダンス
はめつき被着層の厚さを正確に反映し、かつ温度あるい
は周囲条件の変化によって影響を受けない指示を得るた
めに、これら基準線のインピーダンスと比較される。

本発明のさらに伯の重要な特徴は指示された測定値をめ
っきされている物品のそれぞれの特性およびプローブの
特性と正確に相関させる際に使用される基準データを記
憶するための手段を提供すること、およびこの基準デー
タを特定の適正例に応じて変更するための手段を提供す
ることに関する。基準データは所望の指示を得る際に使
用するために簡単に記憶することができる特定の係数を
含むことが好ましい。例えば、めっきされるべき物品の
表面部分の面積およびめっきに使用されるべき電流は記
憶手段に挿入でき、物品のめつき被着層の実際のｒさの
正確な指示ならびにめっき速度の正確な指示を引き出す
ために使用できる。

本発明によれば、非常に融通性があり、かつ種々の条件
のもとでめつぎ操作を正確に監視しかつ制御するために
容易に適用できる装置が提供される。

本発明のこれらおよび他の目的、特徴ならびに利点を明
瞭にするために、以下、添付図面を参照して本発明の好
ましい実施例について詳細に説明する。

参照数字１０は本発明の原理に従って構成された監視お
よび制ｍ＋装置を総括的に指示する。概略的に例示する
ように、装置１０はめつきされるべき物品１１および適
当なアノード１２がタンク１６内の浴１５中に支持体１
３および１４から垂下されている電気めっき操作を監視
し、制御するために使用できる。これら支持体１３およ
び１４はケーブル１７および１８を通じてめっき電流供
給装置２２の端子１９および２０に電気的に接続されて
いる。分路導体２３がケーブル１７と端子１９間に接続
されており、電流の制御のために、および装置２２に関
連した図示しない適当な調節手段によって調節できる一
定値に電流を保持するために、装＠２２の端子２４に供
給される電流信号を発生するように構成されている。ま
た、図示するように、装置２２はライン２５．２６およ
び２７を介して三相６０Ｈｚ電源のような適当な電圧源
に接続できる。装置２２は後記するような態様で装置２
２をオンおよびオフするために制御信号が供給できる制
御入力端子２８をさらに含む。

例示の監視および制御装置１０は支持体１３から垂下さ
れてめっきされるべき物品１１に接近して浴１５中に浸
漬されるプローブ３０を含み、このプローブ３０はケー
ブル３１を通じて計測器３２に接続されている。例示の
構成においては、計測器３２は導体３３を通じてアノー
ド１２に対する支持体１４にも接続されており、また、
ライン３４を介して装置２２の制御端子２８にも、およ
びライン３５および３６を介して分路導体２３の両側の
端子１９および２４にも接続されている。

例示の計測器３２は前面パネル３９にディジタルディス
プレイ３８を含み、また前面パネル３９に取付けられた
キーボードユニット４０を含む。

また、始動−停止ボタン４１が前面パネル３９に設けら
れている。プローブ３０と関連して動作する計測器３２
はめつき操作の種々の面を監視し、制御するように構成
されている。

代表的な操作において、操作者はめつき操作に関係する
複数の数示および命令を挿入するためにキーボード４０
を使用できる。例えば、操作者は所望のめつぎ厚の目標
値をマイクロインチ単位で、めっきされている物品に供
給されるめっき電流をアンペア単位で、めつぎされるべ
き表面積を平方インチ単位であるいは他の単位で、それ
ぞれ挿入り°ることができる。このように挿入したとき
に、操作者は計測器が測定の準備をしたことを指示する
ディスプレイ３８のあらかじめ定められた指示を待つこ
とになる。このときに、操作者は、キーボード４０を使
用して選択した制御機能を挿入し、かつディスプレイ３
８の指示を観察することによって、計測器が適正に作動
しておりかつ較正されていることを確認するために、種
々のチェック動作を実行することができる。

次に、ボタン４１を押圧することによってめっき操作を
開始させることができる。目測器３２は導体３４を介し
て装置２２に制御信号を供給してめっき操作を開始させ
るように機能し、めつぎ厚のプリセット目標値に達する
と、計測器３２は導体３４を介して制御信号を供給し、
めっき電流の供給を自動的に停止させるように機能する
。物品１１はその後浴１５から引き出される。

めっきされた物品が一連の同一物品の最初のものである
ときには、この物品のめっぎ被着層の厚さが、浴から引
き出された後、このめっき被着層の厚さを計測器に挿入
された目標値と比較するために、ベータ粒子後方散乱、
渦電流あるいは他の機器を使用して通常の態様で測定さ
れる。これら値が正確に対応しない場合には、適当な調
整を目標値に対して行なってもよい。目標値が信頼でき
るということが決定されると、物品は個々に試験を行な
うことなしに１つずつめっきすることができ、非常に高
い生産速度を得ることができる。同時に、めっき厚が正
確に、信頼性をもって制御され、温度、浴の組成および
他の変数の変化によって影響を受けない。

任意の時間に、操作者はめっきの速度を毎分当りのマイ
クロインチであるいは伯の単位で決定するために計測器
３２を使用することができ、また、計測器３２を使用し
て浴１５の効率をチェックし、かつ浴１５の効率がプリ
セットレベル以下に降下したときには自動的に信号を発
生することができる。本装置のこれらおよび他の機能は
プローブ３０の構成および動作、ならびに計測器３２に
よって遂行される種々の特定の機能動作を説明した後で
明らかにされる。

第２図はプローブ３０の構成を例示する一部分を断面に
した立面図である。プローブ３０は平行関係にある４木
のワイヤ４５〜４８を含む。ワイヤ４７の下側部分は裸
であり、めっき浴と接触しており、物品１１にめっき被
着層を形成するために電流が物品１１に供給されるのと
同時に電流がワイヤ４７にめっき被着層を形成するため
に供給される。その長さ方向に沿うワイヤ４７のインピ
ーダンスはこのように形成されるめっき被着層の厚さを
測定し、物品１１に形成されるめっき被着層の厚さの測
定値を間接的に提供するために測定される。

ワイヤ４５．４６および４８は浴と接触することを防止
する適当なプラスチック物質の被覆を有している。後で
説明するように、ワイヤ４５はワイヤ４７のインピーダ
ンスを測定するために使用されるブリッジ回路の一方の
脚部として働き、他方、ワイヤ４７はブリッジ回路の他
方の脚部として働く。ワイヤ４５は、基準どして設けら
れかつ周囲温度および他の周囲条件によって影響を受け
ない非常に正確な指示を得るために設けられているワイ
ヤ４６および４８のインピーダンスを測定するために、
同様の態様で動作する。

ワイヤ４５〜４８を支持するために、それらの下端部が
短かい金属バ一部材５０に固定されており、この金属バ
一部材５０はワイヤ４５〜４８と平行関係にある一対の
細長い金属バ一部材５１およυ５２の下端部間に固定さ
れている。コネクタレセプタクル５４がバ一部材５１お
よび５２の上端部に固定されており、このレセプタクル
５４はワイヤ４５〜４８の上端部に接続された４つの端
子を含む。別の４つの端子がワイヤ４５〜４８のタップ
５５〜５８に接続されており、さらに他の１つの端子が
バ一部材５１に接続されており、接地に接続する。図示
するように、ワイヤ４５〜４８は絶縁物質の横部材５９
の孔を貫通しており、この組立体の上部は絶縁物質のハ
ウジング６０によって取囲まれている。金属バ一部材５
０，５１および５２はめつき浴と接触しないように適当
なプラスチックの絶縁物質で被覆されている。

適当なコネクタプラグ６２がケーブル３１の一端に接続
されており、コネクタレセプタクル５４に挿入されてケ
ーブル３１の導体をレセプタクル５４の端子に接続する
ようになっている。

第３図は計測器３２の機能動作を実行する回路を例示す
る概略図である。個々の減算、乗算、比率、レジスタ、
制御、スイッチングおよび他の回路がブロック形式で例
示されており、計測器３２の動作はこれより容易に理解
されよう。マイクロプロセッサが例示された個々の回路
の機能の大部分を実現するためにプロトタイプで使用さ
れているが、製造された機器の形式で使用してもよい。

マイクロプロセッサは、勿論、計測器が種々の応用例に
適合できる融通性を含む多くの利点を有する。

プローブ３０の端子はスイッチング回路６４に接続され
ている。このスイッチング回路、６４はソリッドステー
ト・スイッチング装置の使用により実現されることが好
ましいが、しかしスイッチ制御装置６８によって同期し
て駆動される３つの回転スイツヂ接点６５．６６および
６７を含むものとして概略的に図示されている。接点６
５は電流源７０の１つの端子に接続され、かつワイヤ４
６．４７および４８の上端部に接続された固定接点と係
合可能である。電流源７０の他方の端子はワイヤ４５の
上端部に接続されている。例えば、接点６５がワイヤ４
７の上端部に接続されると、電流が源７０からワイヤ４
５を通り、さらにワイヤ４７を通って源７０の反対の端
子に流れる。

接点６６は比較回路７２の入力端子に抵抗７１を介して
接続されており、この比較回路７２の入力端子は抵抗７
３を介してワイヤ４５のタップ５５におよび抵抗７４を
介して比較回路７２の出力にも接続されている。比較回
路７２の他方の入力は抵抗７５を介して回路接地に接続
されている。

この回路接地はケーブル３１の導体を介してプローブ３
０のフレームを形成する金属バ一部材５１．５０および
５２に接続されている。ワイヤ４５〜４８の下端部はバ
一部材５０に接続されている。

接点６６はワイヤ４６．４７および４８のタップ５６．
５７および５８にそれぞれ接続された固定接点と選択的
に係合し”得る。ブリッジ測定回路が設けられており、
例えば、電流供給接点６５がワイヤ４７の上端部に接続
され、同時に測定接点６６がワイヤ４７のタップ５７に
接続されると、比較回路７２がタップ５５および５７に
発生される電位の差に応答Ｊ”るようになっている。

接点６７は比較回路７２の出ノｊに接続されており、３
つのレジスタ回路７６．７７および７８に接続された固
定接点と係合可能である。例えば、接点６５がワイヤ４
７の上端部に接続され、かつ接点６６がワイヤ４７のタ
ップ５７に接続されると、接点６７はレジスタ回路７７
の入力に接続された固定接点と係合する。同様にして、
タップ５６および５８からの測定信号がレジスタ回路７
６および７８に供給される。スイッチング回路６４の動
作およびレジスタ回路７６〜７８の動作は、タップ５６
．５７および５８のそれぞれに発生した電圧についであ
る時間期間の間行なわれた多数の個々の測定値の平均に
対応するディジタル数が各レジスタに記憶されるように
なっている。

その結果、積分作用が生じ、高周波および中波雑音なら
びに他の外来信号を平均化させ、フィルタあるいは相殺
することになる。他の形式のフィルタおよび積分回路が
使用できることは、勿論理解されよう。低周波数の変動
およびドリフトは、後で説明するように、レジスタ回路
７６〜７８の出力の比較によりフィルタまたは相殺され
る。

ワイヤ４６および４８、ならびにこれらワイヤのタップ
５６および５８における電圧の測定値はめっぎ被＠層が
形成される被覆されていない、すなわち能動ワイヤ４７
に悪影響を与える温度の変化、ドリフトおよび低周波数
の変動の影響を検出する目的のためである。ワイヤ４６
および４７のタップ５６および５７は、ワイヤ４７にめ
っき被着層が存在しないときにタップ５６および５７に
発生される電圧が等しくなるような相対位置にある。ワ
イヤ４８のタップは、ワイヤ４７のめっき被着層がプロ
ーブに対して予定された最大の厚さを有する場合に、タ
ップ５７および５８の電圧が等しくなるような位置にあ
る。がくして、ワイヤ４６および４８のタップ５６およ
び５８はそれぞれ、動作範囲の下限および上限に対する
基準値を確立する。計測器の動作時に、能動ワイヤ４７
のタップ５７に任意の与えられた時間に発生される電圧
は、タップ５７および５６の電圧の差の比をタップ５８
および５６の電圧の差と比較する態様で、タップ５６お
よび５８に発生される電圧と比較される。　ワイヤ４６
〜４８のタップ５６〜５８はまた、−極性の電圧が常に
測定されるような電圧オフセットを確保するような態様
で基準ワイヤ４６のタップ５５に関して位置づけされる
。

限定する訳ではないが、−例として、レジスタ回路７６
および７８はＯから２５５までのディジタル値を記録で
きる。標準の状態では、ワイヤ４６のタップ５６の測定
値からレジスタ回路７６に記録された値は３０であり、
またワイヤ４８のタップ５８の測定値からレジスタ回路
７８に記録された値は２３０である。レジスタ回路７７
に記録された値は能動ワイヤ４７にめつき被着層がない
ときの３０からワイヤ４７に最大厚のめつき被着層が存
在するときの２３０まで変化し得る。レジスタ回路７７
および７６に記録された値の差はレジスタ回路７８およ
び７６に記録された値の差と比較され、めっき被＠層の
厚さを最大めつき被着層の比、または、百分率として確
立する。能動ワイヤ４７に悪影響を与える温度変化等は
、また、基準ワイヤ４６および４８にも比例した程度に
悪影響を与えるが、計測器によりそのような変化に実質
的に無関係の測定値が得られる。

比率変化の測定値を得るために、比率回路８０が設けら
れており−、この回路８０の入力は２つの減算回路８１
および８２の出力に接続されている。

減算回路８１の一方の入力は通常、スイッチング回路８
３を介してレジスタ回路７７の出力に接続されているが
、しかし回路試験動作のためには、スイッチング回路８
３を介してレジスタ回路７６の出力またはレジスタ回路
７８の出力に接続される。減算回路８１の他方の入力は
レジスタ回路７６の出力に接続され、通常は、減算回路
８１はレジスタ回路７７に記録された値とレジスタ回路
７６に記録された値との差を記録する。

減算回路８２はその一方の入力がレジスタ回路７８に接
続され、また他方の入力がレジスタ回路７６に接続され
ており、レジスタ回路７８および７６に記録された値の
差に対応する出力を発生する。

従って、比率回路８０は、通常、能動ワイヤ４７のめっ
き被着層の厚さに対応する出力信号を、プローブが予定
されている最大めっき被着層の比または百分率として発
生する。

比率回路８０の出力はめっき被着層の厚さの直接の指示
として使用することができ、そしてディスプレイ３８に
表示できる。−例として、表示される数はＯから１００
まで変化する。その上、比率回路８０の出力はめっき被
着層の厚さの変化率に対応する信号を発生するように動
作する回路に供給できる。特に、比率回路８０の出力は
減算回路８５の一方の入力に供給される。減算回路８５
の他方の入力はレジスタ回路８６の出力に接続されてい
る。減算回路８５の出力は、制御信号が供給される時刻
における比率回路８ｏの出力とこの比率回路８０の出力
がレジスタ回路８６に記録された時刻における回路８０
の出力との差に等しい。

制御信号がある割合で周期的に供給される場合には、減
算回路８５の出力はめっき被＠層が能動ワイヤ４７に形
成される割合に比例する。

減算回路８５の出力は、めっき操作が満足に進行してい
るか否かを示すという点で非常に重要な情報を提供し、
また、この出力はめつき浴の効率の直接の指示を提供す
る。例示の回路においては、その出力は基準回路８８か
らの信号と比較するために比較回路８７に供給される。

比較回路８７はめつき速度が基準信号によって確立され
た値以下に降下したときに出力信号を発生するように動
作づる。この信号は適当な警報装置９０に供給される。

減算回路８５の出力は乗算回路９１の一方の入力にも供
給される。この乗算回路９１の他方の入力は基準回路９
２に接続されている。基準回路９２から供給される基準
信号はあらかじめ定められた単位で、例えば毎分当りの
マイクロインチで乗算回路９１の出力を発生させるよう
なものでよい。基準回路９２はまた、対応する基準を他
の乗算回路９３に供給する。この乗算回路９３は比率回
路８０の出力に接続された入力を有し、かつあらかじめ
定められた単位で、例えばマイクロインチで、出力信号
を発生ずる。乗算回路９３の出力はディスプレイ３８に
記録することができ、また比較回路９４の一方の入力に
も供給される。この回路９４の他方の入力は基準回路９
５に接続されている。回路９３の出力が基準回路９５に
よって設定された値を越えると、比較回路９４は出力を
発生する。この出力は出力回路９６に供給され、ライン
３４を介して信号を供給してめっき電流供給装置２２の
動作を終了させる。かくして、回路９５から供給される
基準信号はめつきされている物品に形成されるめっき圧
の目標値に対応する。

基準回路９５によって供給される値はキーボード４０を
通じておよび制御回路９８を通じて制御できる。制御回
路９８は、図示するように、例示されたシステムの種々
の他の回路にも制御信号を供給する。−例として、コー
ド信号がキーボード４０を介して挿入され、その後で所
望のめつき圧が挿入されてディスプレイ３８に表示され
、この表示された値は次に、キーボード４０のエントリ
・キーの押圧により入力される。

同様に、基準値をキーボード４０から直接基準回路９２
に挿入してもよい。他の方法として、乗算回路１００か
ら回路９２に基準信号を挿入してもよい。この基準信号
は回路１０１および１０２から供給される２つの基準値
の積の関数である。

回路１０１はめつきされるべき面積に対応する基準を平
方インチ、平方センチあるいは他の単位で供給すること
ができる。回路１０２は物品に供給されるめっき電流に
対応する信号を供給することができる。両方の値はキー
ボード４０から挿入することができる。他の方法として
、回路１０２に対する信号はキーボード４０および制御
回路９８によって制御される電流感知回路１０３を介し
て電流測定用分路導体２３から供給してもよい。

図示するように、種々の回路はキーボード４０によって
制御される制御回路９８により制御され、これら回路の
大部分の出力はディスプレイ３８に供給され、キーボー
ド４０の制御下で、これら回路が正しく動作しているこ
とを確実にするために試験動作を実行することができる
。例えば、スイッヂング回路８３は制御回路９８によっ
てレジスタ回路７６またはレジスタ回路７８を減算回路
８１に接続するように作動され、この減算回路８１の出
力はディスプレイ３８に表示される。そうしている間に
、プ［１−ブ３０の近傍の温度は計測器の追跡を試験す
るために変化できる。

すべての基準回路は基準データを直接入力するためにキ
ーボード４０に接続されており、また、制御回路９８お
よびキーボード４０の制御のもとて基準値を表示するた
めにディスプレイにも接続されている。

制御回路９８はまた、回路接地と導体３３間に接続され
た電流源１０４を制御する。導体３３はアノード１２に
接続されている。回路接地はケーブル３１の導体を介し
てプローブ３０の金属バ一部材５１．５０および５２に
接続されており、バ一部材５０は能動ワイヤ４７の下端
部に接続されている。従って、プローブめっき電流は電
流源１０４から導体３３を通り、アノード１２および浴
１５を介してワ・イヤ４７に流れ、このワイヤ４７にめ
つき被着層を形成する。

めっき電流供給装置２２が物品に対して一定のめつき電
流を供給するように動作している場合には、源１０４に
よって供給される電流は一定の筈である。物品に対する
めっきが変化を受【）る場合には、電流源１０４は電流
感知回路１６３の出力に応答する制御回路９８中の回路
を介して、プローブに対して比例する電流を保持するよ
うに制御される。

プローブが物品１１の表面部分のめっき被着層の生成状
態（厚ざ）を監視し、制御するために使用された後、プ
ローブの能動ワイヤ４７に形成されためっき被着層は、
好ましくはプローブを溶液と１つの電極を含む小さな容
器内に配置し、電極とプローブ間に逆電流を供給してめ
つき被着層を除去することによって、取り除くことがで
きる。

別の方法としては、プローブにめつき被着層が形成され
た後、能動ワイヤ４７を除去してめつき被着層のない裸
線と取り換えるようにプローブを構成してもよい。本発
明は例示のプローブの構成あるいは外観に限定されるも
のではなく、またプローブは本発明の原理を使用した多
くの異なる形式を取ることができるということは理解さ
れよう。

自己触媒または無電解めっきの制御では、プローブに対
して電位源を用意する必要はない。

本発明の新規な概念の精神および範囲から逸脱すること
なしに種々の変形および変更が行なえることは理解され
よう。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に従って構成された監視および制御装置
の一実施例を示す斜視図、第２図は第１図に示寸監視お
よび制御装置のプローブの構成を例示する一部分断面の
立面図、第３図は第１図の監視および制御装置の回路を
例示する概略電気回路図である。 １０：監視および制御装置 １１：物品 １２ニアノード １３．１４：支持体 １５：めつき浴 １６：タンク ２２：めっき電流供給装置 ２３：分路導体 ３０ニブローブ ３２：・計測器 ３８：ディジタルディスプレイ ３９：前面パネル ４０：キーボード ４１：始動−停止ボタン ４５〜４８ニブローブのワイヤ ５０〜５２：金属バ一部材 ５５〜５８：ワイヤのタップ ６０：ハウジング ６４ニスイツチング回路 ６８：スイッチ制御装置 ７０：電流源 ７２：比較回路 ７６〜７８：レジスタ回路 ８０：比率回路 ８１．８２．８５：減算回路 ８３：スイッヂング回路 ８６：レジスタ回路 ８７．９４：比較回路 ８８．９２．９５．１ｏ１．１ｏ２：基準回路９０：警
報装置 ９１．９３．１０ｏ：乗算回路 ９６：出力回路 ９８：制御回路 １０３：電流感知回路 １０４：電流源

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）　基材を含む物品に実行されるめっき操作に使用
   するための非破壊試験方法において、前記物品の前記基
   材のめつき特性と等価のめつき特性を有する基材を含む
   プローブを用意する段階と、 前記物品のめっき被着層の厚さに比例する厚さのめつぎ
   被着層を前記プローブに形成するように前記プローブを
   処理する段階と、 前記プローブの前記めつき被着層の厚さを測定して前記
   物品のめっき被着層の厚さを間接的に測定する段階 とを含むことを特徴とする非破壊試験方法。 （２）　前記めっき操作が前記物品の前記基材を溶液に
   接触させることを含み、前記プローブの処理が前記プロ
   ーブの前記基材を該溶液に接触させることを含む特許請
   求の範１２１ｆ第１項記載の方法。 （３）　前記物品の前記基材が前記溶液中に浸漬され、
   前記プローブの前記基材が実質的に同じ条件で処理され
   るように前記物品に接近して前記溶液中に浸漬される特
   許請求の範囲第２項記載の方法。 （４）　前記プローブが前記物品のめっきと同時にめっ
   きされる特許請求の範囲第１項記載の方法。 （５）　前記プローブのあらかじめ定められためっき厚
   が測定されたときに前記物品のめっきを終了させる段階
   を含む特許請求の範囲第４項記載の方法。 （６）　前記プローブのめっきの時間速度を測定して前
   記物品のめっきの時間速度を間接的に測定する段階を含
   む特許請求の範囲第４項記載の方法。 （７）　前記物品がめっきされる条件と実質的に同じ条
   件でめっきされるように前記プローブが前記物品に接近
   して位置付けされている特許請求の範囲第４項記載の方
   法。 （８）　前記プローブがこのプローブのめっきの厚さの
   変化に比例してかつ前記物品の前記めっきの厚さの変化
   に比例して変化する電気特性を有する感知部分を備えて
   おり、該電気特性が前記物品のめっきの厚さの前記変化
   を間接的に測定するために測定される特許請求の範囲第
   １項記載の方法。 （９）　前記プローブがめっきされないようになされた
   、かつ前記感知部分の前記電気特性にも影響を与える周
   囲条件に比例して変化する電気特性有する基準部分を備
   えており、該基準部分の該電気特性が前記感知部分の前
   記測定された電気特性に対して測定され、バランスされ
   る特許請求の範囲第８項記載の方法。 （１０）　前記めっき操作は、前記物品および電極手段
   が電解液中に浸漬され、かつ電流源に接続されて前記物
   品の表面部分にめっき被着層を形成させるものであり、
   前記プローブが前記電解液中に浸漬されて前記電流源に
   接続され、その表面部分に前記物品の前記表面部分に形
   成されためっき被着層に比例する厚さを有するめっぎ被
   着層が形測定されて前記物品の前記めっき被＠層の厚さ
   を間接的に測定するようにした特許請求の範囲第１項記
   載の方法。 （１１）　前記物品および前記プローブの前記めっき被
   着層が同時に形成される特許請求の範囲第１０項記載の
   方法。 （１２）　前記プローブの前記めっき被着層の厚さの変
   化の時間速度を測定する段階を含む特許請求の範囲第１
   ０項記載の方法。 （１３）　基材を含む物品に実行されるめっき操作に使
   用するための非破壊試験装置において、前記物品の前記
   基材のめっき特性に等価なめっき特性を有しかつ前記物
   品のめっきの速度に比例する速度でめっきされる基材を
   有するプローブと、前記プローブのめっき被着層の厚さ
   を測定して前記物品のめっき被着層の厚さを間接的に測
   定するだめの測定装置 とを具備することを特徴とする非破壊試験装置。 （１４）　前記測定装置が前記プローブのめっき被着層
   の厚さの変化に比例する大きさを有する電気信号を発生
   するように構成されている特許請求の範囲第１３項記載
   の装置。 （１５）　前記電気信号があらかじめ定めれだ大きさに
   達したときに制御信号を発生するための装動を有し、該
   制御信号が前記めっき操作の制御に使用可能である特許
   請求の範囲第１４項記載の装置。 （１６〉　前記プローブの前記めっき被着層の厚さが前
   記物品のめっき被＠層の厚さの変化と同時に変化され、
   前記プローブの前記めっぎ被着層の厚さの変化の時間速
   度を測定するための装置が設【プられている特許請求の
   範囲第１３項記載の装置。 （１７）　前記めっき操作は前記物品ｄ５よび電極手段
   が電解液中に浸漬され、かつ電流源に接続されて前記物
   品の表面部分にめっき被着層を形成させるものであり、
   前記プローブが前記電解液中に浸漬されるように適合さ
   れた表面部分を有する感知素子をふくみ、該感知素子お
   よび前記電極手段を前記電流源と回路接続して前記物品
   の前記表面部分の前記めっき被着層の厚さに比例する厚
   さを有するめっき被着層を前記感知素子の前記表面部分
   に形成するための手段が設けられ、前記測定装置が前記
   感知素子の前記めっき被着層の厚さを測定するように構
   成されている特許請求の範囲第１３項記載の装置。 （１８）　前記測定装置が前記めっき被着層を有する前
   記感知素子によって早される電気インピーダンスを測定
   するための手段を含む特許請求の範囲第１７項記載の装
   置。 （１９）ｉｆ７＋記感知素子が細長いワイヤ状の素子の
   形式にあり、前記測定装置が該素子に長手方向に電流を
   流すだめの手段を含み、該素子の長手方向に離間された
   点間の電圧とそれを流れる電流との比を測定するための
   手段が設りられている特許請求の範囲第１８項記載の装
   置。 （２０）　実質的に同じ周囲条件を受けるように前記プ
   ローブの表面部分に接近し、かつ被覆されないようにな
   された基準部分を提供する手段、該基準部分のインピー
   ダンスを測定するための手段、および前記基準部分およ
   び表面部分の測定されたインピーダンスを比較するため
   の手段が設【ブられている特許請求の範囲第１３項記載
   の装置。 （２１）　実質的に同じ周囲条件を受けるように前記プ
   ローブの前記表面部分に接近し、かつ被覆されないよう
   になされた第１および第２の基準部分を有し、該第１の
   基準部分が被覆されてないときに前記プローブの前記表
   面部分のインピーダンスと実質的に同じインピーダンス
   を有し、前記第２の基準部分が最大の厚さの被覆を有す
   るときに前記プローブの前記表面部分のインピーダンス
   と実質的に同じインピーダンスを有し、前記第１および
   第２の基準部分のインピーダンスを測定して該測定され
   たインピーダンスを前記表面部分のインピーダンスと比
   較するための手段が設けられている特許請求の範囲第１
   ３項記載の装置。 （２２）　前記表面部分の測定されたインピーダンスと
   前記第１の基準部分の測定されたインピーダンスとの差
   と、前記第２の基準部分の測定されたインピータンスと
   前記第１の基準部分の測定されたインピーダンスとの差
   の比を測定するための手段が設けられている特許請求の
   範囲第２１項記載の装置。 （２３）　前記物品のめつぎ被着層の厚さの変化の指示
   を提供するだめの指示手段、前記測定装置によって発生
   された前記電気信号の大きさと該指示手段によって要求
   される信号の大きさとの比に対応する基準データを記憶
   し、前記物品のめつき被着層の厚さの変化の正確な指示
   を提供するための手段、および前記記憶された基準デー
   タと前記測定装置によって発生された前記電気信号の大
   きさとの積に比例する信号を前記指示手段に供給するた
   めの手段が設けられている特許請求の範囲第１４項記載
   の装置。 （２４）　前記記憶された基準データをめっきされるべ
   き物品および前記プローブのそれぞれの特性に従って変
   化させるだめの手段が設けられている特許請求の範囲第
   ２３項記載の装置。