JPS59150359A - 半導体放射線検出器 - Google Patents
半導体放射線検出器Info
- Publication number
- JPS59150359A JPS59150359A JP58023703A JP2370383A JPS59150359A JP S59150359 A JPS59150359 A JP S59150359A JP 58023703 A JP58023703 A JP 58023703A JP 2370383 A JP2370383 A JP 2370383A JP S59150359 A JPS59150359 A JP S59150359A
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- JP
- Japan
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- detection element
- semiconductor radiation
- semiconductor
- radiation detection
- incident
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/244—Auxiliary details, e.g. casings, cooling, damping or insulation against damage by, e.g. heat, pressure or the like
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の楓する技術分野］
この発明は放射線撮影装置に適用して有用な放射線検出
器にかかわシ、特に半導体放射線検出素子の固定方法の
改良に関する。
器にかかわシ、特に半導体放射線検出素子の固定方法の
改良に関する。
［従来技術さその問題点］
Ｈｏｕｎｓｆｉｅｌｄによシ発明されたＣＴスキャナは
医学分野に大きなインバぐトを与えエレクトロニクスト
の進歩とともに急速な発展をみせている。現在は、第３
世代と呼ばれるものが主流であシ、その心臓部となるＸ
線検出器は、主としてＸｅガス検出器が用いられている
が、検出器を固体化しようとする動向があシ、試作もな
されている。検出器の固体化には検出素子と入射Ｘ線の
平行度を保つことが重要であるが、従来は検出素子を固
定したコリメーターを筐体に固定する方法であったため
、この平行度を保つことは困始であった。本発明では、
検出素子を筐体にほった溝に直接固定するので、平行度
を精度よく保てるようになった。
医学分野に大きなインバぐトを与えエレクトロニクスト
の進歩とともに急速な発展をみせている。現在は、第３
世代と呼ばれるものが主流であシ、その心臓部となるＸ
線検出器は、主としてＸｅガス検出器が用いられている
が、検出器を固体化しようとする動向があシ、試作もな
されている。検出器の固体化には検出素子と入射Ｘ線の
平行度を保つことが重要であるが、従来は検出素子を固
定したコリメーターを筐体に固定する方法であったため
、この平行度を保つことは困始であった。本発明では、
検出素子を筐体にほった溝に直接固定するので、平行度
を精度よく保てるようになった。
この従来の放射線検出素子の概略構成を第１図に示し、
第２図に第１図の検出素子を黴体に収容した検出器の構
成を示す。第１図に示す検出素子はコリメータ２に半導
体放射線検出素子１と信号引き出し線４が付随したマウ
ント板３が接着剤で固定され信号が信号域シ出し端子５
から取り出される構造である。
第２図に第１図の検出素子を黴体に収容した検出器の構
成を示す。第１図に示す検出素子はコリメータ２に半導
体放射線検出素子１と信号引き出し線４が付随したマウ
ント板３が接着剤で固定され信号が信号域シ出し端子５
から取り出される構造である。
従来は第１図で示された検出素子が第２図に示される様
に筺体６に収納されて放射線検出器を構成する。Ｘ！８
！管７から発ぜられ被検体８を透過し、コリメータに平
行に入射するＸ線を半導体放射線検出素子で検出し検出
信号を信号処理部９で処理し、表示装置１０で画像を表
示する。
に筺体６に収納されて放射線検出器を構成する。Ｘ！８
！管７から発ぜられ被検体８を透過し、コリメータに平
行に入射するＸ線を半導体放射線検出素子で検出し検出
信号を信号処理部９で処理し、表示装置１０で画像を表
示する。
しかし、この従来構造では半導体放射線検出素子を接着
剤等を用いてコリメータに固定しているが、接着剤の厚
さが不均一となった場合には半導体放射線検出素子とコ
リメータの密着性が損われ、入射Ｘ線に対する半導体放
射線検出素子の平行度にずれを生ずる。又、接着剤の収
縮によりコリメータがそる危険性もあり、°この場合も
やはり、入射Ｘ線と半導体放射線検出素子の平行度は保
たれない。入射Ｘ線に対する半導体放射線検出素子の平
行度が保たれないと、入射Ｘ線量は正確に検出されなく
なり、画像のアーティファクト（擬似画像）の原因とな
シ、画質の劣化を招く。この問題を解決する放射線検出
器の開発が望まれている。
剤等を用いてコリメータに固定しているが、接着剤の厚
さが不均一となった場合には半導体放射線検出素子とコ
リメータの密着性が損われ、入射Ｘ線に対する半導体放
射線検出素子の平行度にずれを生ずる。又、接着剤の収
縮によりコリメータがそる危険性もあり、°この場合も
やはり、入射Ｘ線と半導体放射線検出素子の平行度は保
たれない。入射Ｘ線に対する半導体放射線検出素子の平
行度が保たれないと、入射Ｘ線量は正確に検出されなく
なり、画像のアーティファクト（擬似画像）の原因とな
シ、画質の劣化を招く。この問題を解決する放射線検出
器の開発が望まれている。
［発明の目的］
この発明の目的は上記の様な従来技術の問題点を改良し
、放射線撮影装置に適用して有用な放射線検出器を提供
することにある。
、放射線撮影装置に適用して有用な放射線検出器を提供
することにある。
［発明の概安］
本発明は放射線検出要素である半導体放射線検出素子を
放射線検出器の構成要素である溝のほられた一体部材に
精度よく直接固定し、入射Ｘ線に対する半導体放射線検
出素子の平行度を保つようにしたものである。
放射線検出器の構成要素である溝のほられた一体部材に
精度よく直接固定し、入射Ｘ線に対する半導体放射線検
出素子の平行度を保つようにしたものである。
Ｅ本発明の実施例］
本発明の実施例を第３図及び第４図を参照して説明する
。第３図は本発明の放射線検出器の放射線検出器素とな
る単位検出素子であシ、半導体放射線検出素子１に信号
引き出し線４と信号域シ出し端子５とが付随した信号端
子支持台（ガラスエポキシ等の絶縁性基板）１１とＸ線
阻止能力が高い素材で半導体放射線検出素子よシ小さい
板状コリメータ２例えば、 ＭＯ，Ｗが固定一体化され
た構造をしている。この単位検出素子が、第４図に示す
様に筐体６に固定一体化され、本発明の半導体放射線検
出器が構成される。筐体には、単位検出素子を挿入した
場合に入射Ｘ線と半導体放射線検出素子が平行になるよ
うに極めて精度よく加工された単位検出素子固定用の溝
がほられており、単位検出素子の半導体放射線検出素子
部分がこの溝に極めて安定に精度よく固定されるので、
入射Ｘ線と半導体放射線検出素子の平行度は保持される
〇半導体放射線検出素子は、平行に入射するＸ線を検出
し、検出信号は信号処理部９へ伝送されＸ線撮影像が表
示される。
。第３図は本発明の放射線検出器の放射線検出器素とな
る単位検出素子であシ、半導体放射線検出素子１に信号
引き出し線４と信号域シ出し端子５とが付随した信号端
子支持台（ガラスエポキシ等の絶縁性基板）１１とＸ線
阻止能力が高い素材で半導体放射線検出素子よシ小さい
板状コリメータ２例えば、 ＭＯ，Ｗが固定一体化され
た構造をしている。この単位検出素子が、第４図に示す
様に筐体６に固定一体化され、本発明の半導体放射線検
出器が構成される。筐体には、単位検出素子を挿入した
場合に入射Ｘ線と半導体放射線検出素子が平行になるよ
うに極めて精度よく加工された単位検出素子固定用の溝
がほられており、単位検出素子の半導体放射線検出素子
部分がこの溝に極めて安定に精度よく固定されるので、
入射Ｘ線と半導体放射線検出素子の平行度は保持される
〇半導体放射線検出素子は、平行に入射するＸ線を検出
し、検出信号は信号処理部９へ伝送されＸ線撮影像が表
示される。
［発明の他の実施例−１
コリメータの材質は任意であシ、放射線の阻止能力の高
い物質、例えばＰｂを含む合成樹脂材等を固定した半導
体放射線検出素子間に充填してコリメータとすることも
できる。この方法によると、従来構造で必要だった高い
加工精度をもつ板状コリメータが不要となり、大幅なコ
ストダウンをすることができる。
い物質、例えばＰｂを含む合成樹脂材等を固定した半導
体放射線検出素子間に充填してコリメータとすることも
できる。この方法によると、従来構造で必要だった高い
加工精度をもつ板状コリメータが不要となり、大幅なコ
ストダウンをすることができる。
［発明の効果］
本発明の主たる効果は次の点である。
（１）入射Ｘ線に対して半導体放射線検出素子が平行に
なる様に筐体部−材に精度よくほられた溝に半導体放射
線検出素子が極めて安定に固定一体化されるため、半導
体放射線検出素子と入射Ｘ線の平行度は精度よく保たれ
る。従ってＸ線量の正確な検出が行なわれるので、従来
この平行度のずれから生じていたアーティファクトが消
え画像の質を向上させることができる。
なる様に筐体部−材に精度よくほられた溝に半導体放射
線検出素子が極めて安定に固定一体化されるため、半導
体放射線検出素子と入射Ｘ線の平行度は精度よく保たれ
る。従ってＸ線量の正確な検出が行なわれるので、従来
この平行度のずれから生じていたアーティファクトが消
え画像の質を向上させることができる。
（２）従来構造では入射Ｘ線に対する半導体放射線検出
素子の平行度を保つために、板状のコリメータは高い加
工精度が要求されていたが、本発明ではコリメータは検
出素子と入射Ｘ線との平行度には関与しない。従って、
板状コリメータは、高い加工精度は必要とせず、コスト
ダウンをすることができる。又、発明の他の実施例で示
しだ様な放射線阻止能力の高い物質を検出素子間に充填
してコリメータとすることもできるので、コストダウン
することができる。
素子の平行度を保つために、板状のコリメータは高い加
工精度が要求されていたが、本発明ではコリメータは検
出素子と入射Ｘ線との平行度には関与しない。従って、
板状コリメータは、高い加工精度は必要とせず、コスト
ダウンをすることができる。又、発明の他の実施例で示
しだ様な放射線阻止能力の高い物質を検出素子間に充填
してコリメータとすることもできるので、コストダウン
することができる。
第１図及び第２図は従来の放射線検出素子及び検出器の
構成図、第３図及び第４図は本発明の実施例の放射線検
出素子及び検出器の構成図である。 ｌ・・・半導体放射線検出素子、 ２・・・コリメータ、 ３・・・マウント板、４・・・
信号引き出し線、５・・・信号取り出し端子、６・・・
筐体、 ７・・・Ｘ線管、８・・・被検体、９・・・信
号処理部、 】０・・・表示装置、１】・・・信号端子
支持台。 第 １ 図 第 ４ 図
構成図、第３図及び第４図は本発明の実施例の放射線検
出素子及び検出器の構成図である。 ｌ・・・半導体放射線検出素子、 ２・・・コリメータ、 ３・・・マウント板、４・・・
信号引き出し線、５・・・信号取り出し端子、６・・・
筐体、 ７・・・Ｘ線管、８・・・被検体、９・・・信
号処理部、 】０・・・表示装置、１】・・・信号端子
支持台。 第 １ 図 第 ４ 図
Claims (2)
- （１）半導体放射線検出素子が放射線の入射方向に対し
て複数個整列的に配置され、該半導体放射線検出素子群
から独立したＸ線情報を取シ出すことを目的とした放射
線検出器において、板状に精密加工された検出素子の半
導体材料部分があらかじめ設けられた筐体の案内溝に直
接固定されて一体化されていることを特徴とする半導体
放射線検出器。 - （２）半導体放射線検出素子相互間のＸ腺のクロストー
クを防止するだめに放射線阻止能力の高い板状物質が前
記半導体放射線検出素子の側面に固定されていることを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載の半導体放射線検
出器。 （３１Ｘ ＃のクロストークを防止するために半導体放
射線検出素子間に放射線阻止能力の高い物質を填するこ
とを特徴とする特許請求の範囲第２項記載の半導体放射
線検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58023703A JPS59150359A (ja) | 1983-02-17 | 1983-02-17 | 半導体放射線検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58023703A JPS59150359A (ja) | 1983-02-17 | 1983-02-17 | 半導体放射線検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59150359A true JPS59150359A (ja) | 1984-08-28 |
Family
ID=12117728
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58023703A Pending JPS59150359A (ja) | 1983-02-17 | 1983-02-17 | 半導体放射線検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59150359A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1146352A2 (en) * | 2000-04-14 | 2001-10-17 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Electrostatic imaging apparatus |
-
1983
- 1983-02-17 JP JP58023703A patent/JPS59150359A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1146352A2 (en) * | 2000-04-14 | 2001-10-17 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Electrostatic imaging apparatus |
| EP1146352A3 (en) * | 2000-04-14 | 2006-03-15 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Electrostatic imaging apparatus |
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