JPS5912130B2 - 面光源を用いた測光装置 - Google Patents
面光源を用いた測光装置Info
- Publication number
- JPS5912130B2 JPS5912130B2 JP12093376A JP12093376A JPS5912130B2 JP S5912130 B2 JPS5912130 B2 JP S5912130B2 JP 12093376 A JP12093376 A JP 12093376A JP 12093376 A JP12093376 A JP 12093376A JP S5912130 B2 JPS5912130 B2 JP S5912130B2
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- light source
- diffuser plate
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は面光源を用いた測光装置、さらに詳しくいえば
、面光源から測定対象に光を投射し、その反射光を測定
することにより対象の色を測定するための測定装置に関
する。
、面光源から測定対象に光を投射し、その反射光を測定
することにより対象の色を測定するための測定装置に関
する。
反射物体の物体色を測定する測定方法については種々提
案され、実施されている。
案され、実施されている。
そしてそのうち数種についてはＪＩＳ規格において条件
が規定されている。しかしそれ等の測定方法は、いずれ
も実験室的な測定方法であつて、量産品の検査などには
あまり効果的ではない。以下まず従来の代表的な測光装
置を図面を参照して説明する。
が規定されている。しかしそれ等の測定方法は、いずれ
も実験室的な測定方法であつて、量産品の検査などには
あまり効果的ではない。以下まず従来の代表的な測光装
置を図面を参照して説明する。
第１図は積分球拡散照射方式に従つて構成した測光装置
の略図、第２図は積分球光束照射方式に１０従つて構成
した測光装置の略図、第３図は４５０照射方式に従つて
構成した測光装置の略図である。
の略図、第２図は積分球光束照射方式に１０従つて構成
した測光装置の略図、第３図は４５０照射方式に従つて
構成した測光装置の略図である。
第１図に示した構成、以下拡散照射方式という、では光
源３の光を鏡５を介して積分球２内に導き、球２の内面
の作用により形成された拡散光により１５試料１を照射
し、試料１に対向するように配置されている検出器５に
より、試料１からの反射光を受けて物体色を測定しよう
とするものである。第２図に示した構成、以下光束照射
方式というでは、光源３からの光で試料１を直接照射し
てその反射光を積分球２から取り出して物体色を測定し
ようとするものであつて、光源３からの入射光軸と、検
出器４の光軸とは直角に保たれている。第３図に示した
構成、以下４ゞ照射方式という、では試料１に対して４
５０方向から光源３により照２５射し、試料１に対して
直角方向の反射光を検出器４により検出するようになつ
ている。これ等いずれの方式もすべて慣用されているも
のであるが、光源と光検出器に対して試料の設定位置、
距離、角度を厳密に保たなければ測定誤差３０が生じ易
いという問題があつた。
源３の光を鏡５を介して積分球２内に導き、球２の内面
の作用により形成された拡散光により１５試料１を照射
し、試料１に対向するように配置されている検出器５に
より、試料１からの反射光を受けて物体色を測定しよう
とするものである。第２図に示した構成、以下光束照射
方式というでは、光源３からの光で試料１を直接照射し
てその反射光を積分球２から取り出して物体色を測定し
ようとするものであつて、光源３からの入射光軸と、検
出器４の光軸とは直角に保たれている。第３図に示した
構成、以下４ゞ照射方式という、では試料１に対して４
５０方向から光源３により照２５射し、試料１に対して
直角方向の反射光を検出器４により検出するようになつ
ている。これ等いずれの方式もすべて慣用されているも
のであるが、光源と光検出器に対して試料の設定位置、
距離、角度を厳密に保たなければ測定誤差３０が生じ易
いという問題があつた。
したがって試料設定位置が正確に保てない曲率を持つ試
料、凹形の底部等を測定する場合や試料がベルトコンベ
アにより次々と送られてくるものを測定したりする場合
には試料の位置ずれがある３５ために誤差が生じやすく
使用不能であつた。
料、凹形の底部等を測定する場合や試料がベルトコンベ
アにより次々と送られてくるものを測定したりする場合
には試料の位置ずれがある３５ために誤差が生じやすく
使用不能であつた。
本発明の目的は光源に対して試料の距離角度などの位置
ずれがあつても測定結果のばらつきが生じにくい測光装
置を提供することにある。前記目的を達成するために、
本発明による面光源を用いた測光装置は、中央部に反射
光採取用の開口を有する平面拡散板と、前記拡散板を照
射する発光源と、前記拡散板からの拡散光の測定対象か
らの反射光のうち前記開口部に達した光を検出するよう
に配置されている光検出器とからなる面光源を用いて構
成してある。
ずれがあつても測定結果のばらつきが生じにくい測光装
置を提供することにある。前記目的を達成するために、
本発明による面光源を用いた測光装置は、中央部に反射
光採取用の開口を有する平面拡散板と、前記拡散板を照
射する発光源と、前記拡散板からの拡散光の測定対象か
らの反射光のうち前記開口部に達した光を検出するよう
に配置されている光検出器とからなる面光源を用いて構
成してある。
また測定対象の位置のばらつきに対してさらに影響をす
くなくするために前記拡散板の放射方向の拡散透過率を
変化させるように構成することもできる。上記本発明に
よる構成によれば、試料の位置ずれがあつても測定値の
ばらつきはすくなく、実験室的な環境でなくても比較的
正しい測光が可能となり、本発明の目的は完全に達成さ
れる。
くなくするために前記拡散板の放射方向の拡散透過率を
変化させるように構成することもできる。上記本発明に
よる構成によれば、試料の位置ずれがあつても測定値の
ばらつきはすくなく、実験室的な環境でなくても比較的
正しい測光が可能となり、本発明の目的は完全に達成さ
れる。
以下図面等を参照して本発明をさらに詳しく説明する。
第４Ａ図は本発明による装置の第１の構成例を示す長手
方向断面図、同Ｂ図は拡散板を試料方向から見た図であ
る。
方向断面図、同Ｂ図は拡散板を試料方向から見た図であ
る。
この構成は主として角度ずれによる誤差防止を目的とす
るものであつて、中央部に孔が設けられている平行平面
拡散板１２が用いられている。この拡散板１２は一方か
ら３個の光源１３にょって、全面が一様に照射されるよ
うに照射されている。１５は拡散板１２の中央の孔から
検出器１４に光を導くための管である。
るものであつて、中央部に孔が設けられている平行平面
拡散板１２が用いられている。この拡散板１２は一方か
ら３個の光源１３にょって、全面が一様に照射されるよ
うに照射されている。１５は拡散板１２の中央の孔から
検出器１４に光を導くための管である。
この装置を用いて測光するときは、拡散板１２の前面の
一定の距離（＝Ｓ１）の位置に試料１０を測定面が拡散
板１２に対向するように配置する。
一定の距離（＝Ｓ１）の位置に試料１０を測定面が拡散
板１２に対向するように配置する。
試料１０からの反射光の一部は管１５を通り検出器１４
によつて検出される。検出器１４の前面には必要に応じ
狭帯域フイルタなどを配置する。上記構成による面光源
を用いた測尤装置と、先に説明した従来装置で、試料が
所定の位置から傾いた場合の測定値の変化率を第１表に
示す。ただしｆ′：試料１、または１０の傾き Ａ：第４図に示した本発明による装置 Ｃ：積分球拡散照射（第１図） Ｄ：積分球光束照射（第２図） Ｅ：４５球照射（第３図） 第１表から明らかなように本発明による測光装置Ａによ
れば角度が３．ｆ傾いても誤差は１％以内であり７れ傾
いても５％以内である。
によつて検出される。検出器１４の前面には必要に応じ
狭帯域フイルタなどを配置する。上記構成による面光源
を用いた測尤装置と、先に説明した従来装置で、試料が
所定の位置から傾いた場合の測定値の変化率を第１表に
示す。ただしｆ′：試料１、または１０の傾き Ａ：第４図に示した本発明による装置 Ｃ：積分球拡散照射（第１図） Ｄ：積分球光束照射（第２図） Ｅ：４５球照射（第３図） 第１表から明らかなように本発明による測光装置Ａによ
れば角度が３．ｆ傾いても誤差は１％以内であり７れ傾
いても５％以内である。
これに対して角度ずれの最も大きいのは４５あ照射Ｅの
場合で１．６れ傾いただけで７７０の測定誤差が生じて
いる。積分球を用いたＣ，Ｄの場合にもｆ傾けば１０％
をはるかに越える測定誤差が現われる。以上の結果から
本発明による測光装置Ａは試料の配置角度のずれが測定
値に影響を与えにくいものであることがわかる。
場合で１．６れ傾いただけで７７０の測定誤差が生じて
いる。積分球を用いたＣ，Ｄの場合にもｆ傾けば１０％
をはるかに越える測定誤差が現われる。以上の結果から
本発明による測光装置Ａは試料の配置角度のずれが測定
値に影響を与えにくいものであることがわかる。
次に試料の距離ずれの影響を極力すくなくすることを目
的として構成した本発明による第２の構成（３）の実施
例を第５図を参照して説明する。
的として構成した本発明による第２の構成（３）の実施
例を第５図を参照して説明する。
拡散板１２の拡散透過率が拡散板の外縁に近づくにした
がつて増加するように外縁ほど拡散板の厚さを薄くして
いる。このような拡散板は厚い乳白色のアクリル板を加
工するか、前もつてそのように成形することによつて容
易に得られる。第４図に示した場合と同様中央部に透孔
が設けられている。他の構成は第４図に関連して説明し
たところと変らない。第５図中点線で示す曲線１６は拡
散透過率の変化を示す曲線である。このように構成する
と試料１０が拡散面からの規定の距離（＝Ｓ２）から前
後しても測定値に現われる誤差の影響は著るしく減殺さ
れる。
がつて増加するように外縁ほど拡散板の厚さを薄くして
いる。このような拡散板は厚い乳白色のアクリル板を加
工するか、前もつてそのように成形することによつて容
易に得られる。第４図に示した場合と同様中央部に透孔
が設けられている。他の構成は第４図に関連して説明し
たところと変らない。第５図中点線で示す曲線１６は拡
散透過率の変化を示す曲線である。このように構成する
と試料１０が拡散面からの規定の距離（＝Ｓ２）から前
後しても測定値に現われる誤差の影響は著るしく減殺さ
れる。
なおＳ２はその位置から試料１０を拡散板１２方向に移
動させても、離れるように移動させても検出器１４の出
力が減少する位置に設定してある。なお第４図に関連し
た装置Ａの場合のＳ，も同様にして選定してある。次に
第５図にした装置Ｂと従来装置Ｃ，Ｄ，Ｅおよび第４図
に示した装置Ａについて基準位置から（光源から）遠ざ
ける方向に試料を移動させた場合の測定値の変化率を第
２表に示す。
動させても、離れるように移動させても検出器１４の出
力が減少する位置に設定してある。なお第４図に関連し
た装置Ａの場合のＳ，も同様にして選定してある。次に
第５図にした装置Ｂと従来装置Ｃ，Ｄ，Ｅおよび第４図
に示した装置Ａについて基準位置から（光源から）遠ざ
ける方向に試料を移動させた場合の測定値の変化率を第
２表に示す。
△Ｓ：試料の基準位置からのずれ量
Ａ：本発明による平面面光源（第４図）
Ｂ：本発明による厚さ変化面光源（第５図）Ｃ：積分球
拡散照射（第１図）Ｄ：積分球光束照射（第２図） Ｅ：４５球照射（第３図） ※，※※：微小なため測定不能 第２表から明らかなように距離ずれに対してもつとも変
化のすくないのは厚さ変化面光源装置−Ｂである。
拡散照射（第１図）Ｄ：積分球光束照射（第２図） Ｅ：４５球照射（第３図） ※，※※：微小なため測定不能 第２表から明らかなように距離ずれに対してもつとも変
化のすくないのは厚さ変化面光源装置−Ｂである。
先に第４図に関連して説明した本発明による装置Ａでも
同様に良好な結果が得られている。Ｃ，Ｄ，Ｅの装置で
は２０ｍ７１Ｌ以上離れるといずれも５０％を越える測
定誤差が生じる。つまり本発明の装置では試料が１０ｍ
ｍ程度ずれても殆んど問題にならないことがわかる。第
６図は本発明による装置Ｂと装置Ａについて基準位置か
ら進退させた場合の測定誤差の変化率をグラフにして示
したものである。
同様に良好な結果が得られている。Ｃ，Ｄ，Ｅの装置で
は２０ｍ７１Ｌ以上離れるといずれも５０％を越える測
定誤差が生じる。つまり本発明の装置では試料が１０ｍ
ｍ程度ずれても殆んど問題にならないことがわかる。第
６図は本発明による装置Ｂと装置Ａについて基準位置か
ら進退させた場合の測定誤差の変化率をグラフにして示
したものである。
横軸の負方向は試料１０を拡散面方向に移動させる方向
を示す。図中Ａの示す曲線は第４図に示した装置Ａ１図
中Ｂの示す曲線は第５図に示した装置Ｂの測定誤差の変
化を示している。第６図かられかるように１０％の誤差
を許容するとすれば装置Ａでは基準位置から±２ＣＴｆ
Ｌ近くまで、Ｂでは±３Ｃ！ＴＬまでのずれが許容され
ることがわかる。］ 以上詳しく説明したように、本発明による装置では、試
料の傾き、および距離ずれによる測定誤差の発生を抑圧
することができるので次のような種々の応用が可能とな
る。
を示す。図中Ａの示す曲線は第４図に示した装置Ａ１図
中Ｂの示す曲線は第５図に示した装置Ｂの測定誤差の変
化を示している。第６図かられかるように１０％の誤差
を許容するとすれば装置Ａでは基準位置から±２ＣＴｆ
Ｌ近くまで、Ｂでは±３Ｃ！ＴＬまでのずれが許容され
ることがわかる。］ 以上詳しく説明したように、本発明による装置では、試
料の傾き、および距離ずれによる測定誤差の発生を抑圧
することができるので次のような種々の応用が可能とな
る。
まず、一定範囲内の測定誤差を許容するならば試料を基
準位置に厳密に固定する必要がなくなるので、試料を自
動搬送装置などで、測定位置に順次送り込みながら測定
することができる。
準位置に厳密に固定する必要がなくなるので、試料を自
動搬送装置などで、測定位置に順次送り込みながら測定
することができる。
次に若干の角度ずれも同様に許容されるので試料が若干
傾いても、逆にいえば必ずしも平面の試料でなくても測
定可能となる。
傾いても、逆にいえば必ずしも平面の試料でなくても測
定可能となる。
次に光源を積分球などを用いずに小形に構成することが
できるので光源自身を試料に近づけて測定することも可
能である。
できるので光源自身を試料に近づけて測定することも可
能である。
従つて建築物の天井、壁面、床などの測色、測光も可能
となる。
となる。
第１図は従来の積分球拡散方式に従つて構成した測光装
置の略図、第２図は従来の積分球光束照射方式に従つて
構成した測光装置の略図、第３図は従来の４ｆ照射方式
に従つて構成した測光装置の略図である。 第４Ａ図は本発明による平面拡散板を用いて構成した測
光装置の長手方向断面図、同Ｂ図は、拡散板を試料方向
から見た図、第５図は本発明による曲面を有する拡散板
を用いて構成した測光装置の長手方向断面図、第６図は
本発明による各装置の特性を比較するためのグラフであ
る。１・・・・・・試料、２・・・・・・積分球、３・
・・・・・光源、４・・・・・・検出器、５・・・・・
・反射鏡、１０・・・・・・試料、１１・・・・・・外
筒、１２・・・・・・拡散板、１３・・・・・・光源、
１４・・・・・・検出器、１５・・・・・・筒。
置の略図、第２図は従来の積分球光束照射方式に従つて
構成した測光装置の略図、第３図は従来の４ｆ照射方式
に従つて構成した測光装置の略図である。 第４Ａ図は本発明による平面拡散板を用いて構成した測
光装置の長手方向断面図、同Ｂ図は、拡散板を試料方向
から見た図、第５図は本発明による曲面を有する拡散板
を用いて構成した測光装置の長手方向断面図、第６図は
本発明による各装置の特性を比較するためのグラフであ
る。１・・・・・・試料、２・・・・・・積分球、３・
・・・・・光源、４・・・・・・検出器、５・・・・・
・反射鏡、１０・・・・・・試料、１１・・・・・・外
筒、１２・・・・・・拡散板、１３・・・・・・光源、
１４・・・・・・検出器、１５・・・・・・筒。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 中央部に反射光採取用の開口を有する平面拡散板と
、前記拡散板を照射する発光源と、前記拡散板からの拡
散光の測定対象からの反射光のうち前記開口部に達した
光を検出するように配置されている光検出器とからなる
面光源を用いた測光装置。 ２ 中央部に反射光採取用の開口部を有し、周縁部に近
づくにしたがつて次第に拡散透過率が増大するようにな
つている拡散板と、前記拡散板を照射する発光源と、前
記拡散板からの拡散光の測定対象からの反射光のうち前
記開口部に達した光を検出するように配置されている光
検出器とからなる面光源を用いた測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12093376A JPS5912130B2 (ja) | 1976-10-08 | 1976-10-08 | 面光源を用いた測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12093376A JPS5912130B2 (ja) | 1976-10-08 | 1976-10-08 | 面光源を用いた測光装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5346074A JPS5346074A (en) | 1978-04-25 |
| JPS5912130B2 true JPS5912130B2 (ja) | 1984-03-21 |
Family
ID=14798552
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12093376A Expired JPS5912130B2 (ja) | 1976-10-08 | 1976-10-08 | 面光源を用いた測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5912130B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6320132U (ja) * | 1986-07-21 | 1988-02-09 |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3226372A1 (de) * | 1982-07-14 | 1984-01-19 | Compur-Electronic GmbH, 8000 München | Verfahren und vorrichtung zum messen von remissionen |
| JPH06100503B2 (ja) * | 1984-03-27 | 1994-12-12 | 大塚電子株式会社 | 測色器等のプローブ |
| JP2009229158A (ja) * | 2008-03-21 | 2009-10-08 | Laser Solutions Co Ltd | 撮像装置 |
| JP5354098B2 (ja) * | 2010-05-13 | 2013-11-27 | コニカミノルタ株式会社 | 照明光学系、反射特性測定装置及び照明方法 |
| JP2024094661A (ja) * | 2022-12-28 | 2024-07-10 | 北川工業株式会社 | 測色装置 |
-
1976
- 1976-10-08 JP JP12093376A patent/JPS5912130B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6320132U (ja) * | 1986-07-21 | 1988-02-09 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5346074A (en) | 1978-04-25 |
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