JPS5870484A - Write controlling circuit - Google Patents
Write controlling circuitInfo
- Publication number
- JPS5870484A JPS5870484A JP56169242A JP16924281A JPS5870484A JP S5870484 A JPS5870484 A JP S5870484A JP 56169242 A JP56169242 A JP 56169242A JP 16924281 A JP16924281 A JP 16924281A JP S5870484 A JPS5870484 A JP S5870484A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- time
- signal
- clock
- internal
- write
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、半導体集積回路記憶素子に関するものであり
、特にMO8型記憶素子の書込み回路に関するものであ
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a semiconductor integrated circuit memory element, and particularly to a write circuit for an MO8 type memory element.
行と列をなして配列されたメモリセル群内の任意の1メ
モリセルに等速で近づくことができ、且つ読出し及び書
込みのいずれか又は両方が1サイクルタイムの中で可能
なメモリ素子は、通常ランダムアクセスメモリ(以下R
AM )と呼ばれている。A memory element that can approach any one memory cell in a group of memory cells arranged in rows and columns at a constant speed and that can be read and/or written within one cycle time is: Normal random access memory (hereinafter referred to as R)
AM).
RAM方式には、クロック信号を受けて動作する同期式
とクロックを有さない非同期方式とがあるが、本発明は
同期式□に関するものである。There are two types of RAM systems: a synchronous type that operates in response to a clock signal and an asynchronous type that does not have a clock. The present invention relates to the synchronous type □.
同期式1−LAMに用いられているクロック信号は、R
AMの動作を活性期間と次サイクルのための準備期間(
以下プリチャージ期間)とに分離する機能を有する。The clock signal used in the synchronous 1-LAM is R
AM operation is divided into an active period and a preparation period for the next cycle (
It has a function of separating the charge period into a precharge period (hereinafter referred to as a precharge period).
書込み回路は、クロックが指定する活性期間において、
外部書込み命令信号を受けたら、ただちに書込み駆動信
号を発生する必要があり、クロックがプリチャージ期間
を指定したら書込み命令信号にかかわりなく、ただちに
書込み駆動信号をオフするよう動作しなければならない
。クロックがプリチャージ期間に遷移してから、書込命
令信号を受は付けなくなるまでの時間は、リードコマン
ドホールドタイム(tacu)と呼ばれている。During the active period specified by the clock, the write circuit
Upon receiving an external write command signal, it is necessary to immediately generate a write drive signal, and when the clock specifies a precharge period, the write drive signal must be immediately turned off regardless of the write command signal. The time from when the clock transitions to the precharge period until the write command signal is no longer accepted is called a read command hold time (tacu).
従来このホールドタイム(tRcn)を時間Oにするこ
とは困難であった。Conventionally, it has been difficult to set this hold time (tRcn) to time O.
本発明の目的はこのtRcHを確実にOにする回路を提
供することにある。An object of the present invention is to provide a circuit that reliably sets tRcH to O.
本発明によればアクティブ及びプリチャージのために用
いられる第1の外部クロックをゲート入力とする第1の
MO8T 、 書込み及び読出しのために用いられる第
2の外部クロックをゲート人力とする第2のMO8T
、内部クロックをゲート入力とする第3のMO8T を
含み、前記第1.第2のMO8Tのソース全接地し、ド
レインを共通にして第1接点に接続し、前記第3のMO
8Tのドレインを電源に接続し、ソースを第一節点に接
続し、該第1節点を書込み及び続出しのだめの内部クロ
ック信号とすることにより、外部クロック及び外部書込
制御信号の両者で直接前記第1節点を制御する書込制御
回路が得られる。According to the present invention, a first MO8T whose gate input is a first external clock used for active and precharge, and a second MO8T whose gate input is a second external clock used for writing and reading. MO8T
, a third MO8T whose gate input is an internal clock; The source of the second MO8T is all grounded, the drain is connected to the first contact point in common, and the third MO8T is connected to the first contact point.
By connecting the drain of 8T to the power supply, connecting the source to the first node, and making the first node the internal clock signal for writing and continuous output, both the external clock and the external write control signal can be directly connected. A write control circuit for controlling the first node is obtained.
以下図面を用いて説明するが、MOS)ランジスタ(以
下MO8T)は全てNチャネル型とする。As will be explained below with reference to the drawings, all MOS transistors (hereinafter referred to as MO8T) are of N-channel type.
第1図は従来の書込み回路図、第2図はそのタイミング
図である。CEは外部クロック、zlは、CEから遅延
時間tn1 で発生するCEと逆相の内部クロック、P
+はCEから遅延時間tD2 で発生するCEと同相の
内部クロックWEは外部書込命令信号、WOは各種クロ
ックを受けて発生する内部書込駆動信号である。外部ク
ロックCBで指定される活性期間Iにおいて、クロック
ダ1は、高レベル、クロックP1は低レベルにある。期
間■においてWEが読出し命令の高レベルにあれば、M
O8TQ2の電流能力をある程度大きくすることによシ
曹込駆動信号WOのレベルを低レベルに保つことができ
、読出し状態を保つことができる1、しかしながら、外
部クロックCEがプリチャージ期間■に遷移した直後は
注意を要する。内部クロック9z61は、時間tDl
の間高レベルにあるから、MO8TQ+はオン状態に
あり、内部クロックPlは時間tn20間低レベルにあ
るから、MO8TQsはオフ状態にある。したがってC
Eが期間■に遷移した直後に、WEがただちに高レベル
(vllIjモード)から低レベル(書込みモード)に
遷移すると、プリチャージ期間■であるにもかかわらず
、書込み駆動信号WOが発生し、書込みを行ってしまう
場合がある。WEの低レベルの遷移がプリチャージ遷移
後時間tDまたってからなら、書込みは生じない。すな
わち第1図においてリードコマンドホールドタイムtR
cHはtDg 以上になり、零時間を達成することが
できない。FIG. 1 is a conventional writing circuit diagram, and FIG. 2 is its timing diagram. CE is an external clock, zl is an internal clock generated with a delay time tn1 from CE and has the opposite phase to CE, P
+ is an internal clock generated in phase with CE with a delay time tD2 from CE; WE is an external write command signal; and WO is an internal write drive signal generated in response to various clocks. During the active period I specified by the external clock CB, the clock D1 is at a high level and the clock P1 is at a low level. If WE is at the high level of the read command during period ■, then M
By increasing the current capacity of O8TQ2 to a certain extent, the level of the charging drive signal WO can be kept at a low level and the read state can be maintained1. However, when the external clock CE transitions to the precharge period ■ Care must be taken immediately after. The internal clock 9z61 is at the time tDl
MO8TQ+ is in the on state because it is at a high level during the time, and MO8TQs is in the off state because the internal clock Pl is at a low level during the time tn20. Therefore C
Immediately after E transitions to period ■, if WE immediately transitions from a high level (vllIj mode) to a low level (write mode), the write drive signal WO is generated despite the precharge period ■, and the write You may end up doing this. If WE goes low a time tD after the precharge transition, no writing will occur. That is, in FIG. 1, the read command hold time tR
cH becomes more than tDg and zero time cannot be achieved.
次に本発明の一実施例について第3図、第4図によシ説
明する。Next, one embodiment of the present invention will be explained with reference to FIGS. 3 and 4.
第3図は本発明の回路図及び第4図はそのタイミング図
である。第1図と異なりMO8TQaのゲート入力信号
は、直接外部クロック信号CEで与えられている。内部
書込制御信号W+は、直接外部入力信号WE及びCBの
両者で制御されている。FIG. 3 is a circuit diagram of the present invention, and FIG. 4 is a timing diagram thereof. Unlike FIG. 1, the gate input signal of MO8TQa is directly given by external clock signal CE. Internal write control signal W+ is directly controlled by both external input signals WE and CB.
内が期間■に遷移した直後内部クロックΔlが5−
高レベルに残っていても、W+はCEで制御されている
から、第2図のようなヒゲがWlに生ずることはない。Even if the internal clock Δl remains at the 5-high level immediately after the internal clock transitions to the period ■, since W+ is controlled by the CE, a whisker as shown in FIG. 2 does not occur on Wl.
即ち内部書込制御信号Wlは時刻■以前はWEにより、
時刻■以降はCEにより完全に制御されティるから、リ
ードコマンドホールドタイム(tRCH)’i実全に0
時間にすることが可能となる。That is, the internal write control signal Wl is caused by WE before time ■.
After time ■, it is completely controlled by the CE, so the read command hold time (tRCH) is actually completely 0.
It is possible to make time.
第1図は従来の書込制御回路図、第2図はそのタイミン
グ図、第3図は本発明に適する書込制御回路図及び第4
図はそのタイミング図である。
Q+−Q3−・・・・・MO8T。
6−FIG. 1 is a conventional write control circuit diagram, FIG. 2 is its timing diagram, FIG. 3 is a write control circuit diagram suitable for the present invention, and FIG.
The figure is a timing diagram. Q+-Q3-...MO8T. 6-
Claims (1)
ト人力とする第1の電界効果トランジスタ、書込み及び
読出しのために用いられる第2の外部クロックをゲート
入力とする第2の電界効果トランジスタ、内部クロック
をゲート入力とする第3の電界効果トランジスタを備え
、前記第1゜第2のトランジスタのソースに基準電源全
供給しドレインを共通にして第1接点に接続し、前記第
3のトランジスタのドレインに電源を供給し、ソースを
第1節点に接続し、該第1節点から曹込みa first field effect transistor whose gate input is a first external clock used for energization control; a second field effect transistor whose gate input is a second external clock used for writing and reading; A third field effect transistor is provided which receives an internal clock as a gate input, and the sources of the first and second transistors are fully supplied with reference power, their drains are connected to the first contact point in common, and the third field effect transistor is connected to the first contact. Supply power to the drain, connect the source to the first node, and drain from the first node.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56169242A JPS5870484A (en) | 1981-10-21 | 1981-10-21 | Write controlling circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56169242A JPS5870484A (en) | 1981-10-21 | 1981-10-21 | Write controlling circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5870484A true JPS5870484A (en) | 1983-04-26 |
JPS6227475B2 JPS6227475B2 (en) | 1987-06-15 |
Family
ID=15882871
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56169242A Granted JPS5870484A (en) | 1981-10-21 | 1981-10-21 | Write controlling circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5870484A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008524515A (en) * | 2005-02-23 | 2008-07-10 | エルジー エレクトロニクス インコーポレイティド | Variable capacity rotary compressor |
US7798791B2 (en) | 2005-02-23 | 2010-09-21 | Lg Electronics Inc. | Capacity varying type rotary compressor and refrigeration system having the same |
-
1981
- 1981-10-21 JP JP56169242A patent/JPS5870484A/en active Granted
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008524515A (en) * | 2005-02-23 | 2008-07-10 | エルジー エレクトロニクス インコーポレイティド | Variable capacity rotary compressor |
US7798791B2 (en) | 2005-02-23 | 2010-09-21 | Lg Electronics Inc. | Capacity varying type rotary compressor and refrigeration system having the same |
US8186979B2 (en) | 2005-02-23 | 2012-05-29 | Lg Electronics Inc. | Capacity varying type rotary compressor and refrigeration system having the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6227475B2 (en) | 1987-06-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2824494B2 (en) | Timing circuit | |
US5625592A (en) | Method and circuit for shortcircuiting data transfer lines and semiconductor memory device having the circuit | |
US4862348A (en) | Microcomputer having high-speed and low-speed operation modes for reading a memory | |
US5555526A (en) | Synchronous semiconductor memory device having an auto-precharge function | |
JPS6057156B2 (en) | semiconductor memory device | |
EP0145488B1 (en) | Semiconductor memory device | |
US6504789B2 (en) | Semiconductor memory device | |
JP3846764B2 (en) | Synchronous semiconductor memory device and method for precharging data input / output line thereof | |
US6990034B2 (en) | Static semiconductor memory device and method of controlling the same | |
JPH09231767A (en) | Static semiconductor memory device | |
US5754075A (en) | Integrated circuits including power supply boosters and methods of operating same | |
JPH10240372A (en) | Internal clock generation circuit and internal clock generation method for semiconductor device | |
JPS6171494A (en) | Semiconductor memory device | |
JPS63288497A (en) | I/o circuit of cmos semiconductor memory device | |
JPS6362839B2 (en) | ||
USRE36532E (en) | Synchronous semiconductor memory device having an auto-precharge function | |
KR950007141B1 (en) | Control circuit of pseudostatic-ram | |
JPS5870484A (en) | Write controlling circuit | |
JPS5856194B2 (en) | semiconductor storage device | |
KR100536598B1 (en) | Semiconductor memory device with selecting clock enable time | |
US5703832A (en) | tRAS protection circuit | |
JPH0612879A (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
KR19990004105A (en) | Automatic precharge control circuit of synchronous DRAM | |
KR0145859B1 (en) | Semiconductor memory device with a column selection means of compressed voltage | |
JPH07249979A (en) | Semiconductor integrated circuit |