JPS5819151B2 - 半導体レ−ザ装置の使用方法 - Google Patents

半導体レ−ザ装置の使用方法

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JPS5819151B2
JPS5819151B2 JP51029487A JP2948776A JPS5819151B2 JP S5819151 B2 JPS5819151 B2 JP S5819151B2 JP 51029487 A JP51029487 A JP 51029487A JP 2948776 A JP2948776 A JP 2948776A JP S5819151 B2 JPS5819151 B2 JP S5819151B2
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JP
Japan
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light
semiconductor laser
laser element
oscillation
laser device
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Expired
Application number
JP51029487A
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English (en)
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JPS52112292A (en
Inventor
伊藤国雄
井上森雄
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/40Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • H01S5/4025Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
    • H01S5/4031Edge-emitting structures

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Optical Head (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は発振すると同時に外部で高速で変調される発振
光を受けて電気信号に変換することができる半導体レー
ザ装置の使用方法に関するものである。
従来、高速で変調された発振光の受光にはPINフォト
ダイオードあるいはアバランシェフォトダイオードが用
いられていた。
この場合、発光源のレーザと受光部のダイオードとの相
対的な位置を正確に固定するのは難しく、そのため信号
が小さい場合は、誤った信号を受ける可能性も大きくな
るので、この欠点を解決する半導体レーザ装置の使用と
して発振したレーザ光を再び元のレーザに戻して発振光
との間の自己カプリングを利用する方法が考えられた。
第1図にその従来の使用方法の原理図を示す。
レーザ素子1からの発振光4をビデオ信号を書き込んだ
フィルム6に当てその反射光5を再びレーザ素子1に帰
還し、発振光4との間にカプリングを生じさせて、その
結果用ずる電気信号7をコンデンサ3を通してをり出す
この使用方法は簡単ではあるが次の様な欠点を有する。
すなわち、フィルム面6のオンの信号に対応する反射光
5が強い場合、発振光4と反射光5との間のカプリング
によりレーザ素子1のしきい値が変化し、カプリングの
無い場合に比べて、しきい値が下がり直流電圧2が一定
の場合、発振光4は強くなる。
そしてこの強くなった発振光4が今度はフィルム面6で
反射されることになり、その反射光5はフィルム面6の
オフの信号に対応する弱い場合でも、オンの信号との差
が小さく1より、フィルム面6の信号のオン、オフの判
定が難しくなる。
この誤動作はレーザ素子1とフィルム面6との間の光の
伝搬時間が大きいほど、即ち両者の距離が長いほど大き
くなる。
本発明は以上の欠点を取り除いた発振と受光とを同時に
行うことができる半導体レーザ装置の使用方法を提供す
ることを目的とする。
゛以下本発明の半導体レーザ装置の使用方法
を図面とともに実施例に基づいて説明する。
第2図a、bは本発明の半導体レーザ装置の使用方法に
用いる半導体レーザ装置の一実施例を示すものであって
、同図aは平面図、同図すは側面断面図である。
この半導体レーザ装置はダブルへテロ構造の2つのレー
ザ素子I、■をそのキャビティ方向を一致させて同一基
板であるn−GaAs層11上に成長させたもので、そ
のキャビティ長は各々300μm1幅は80μm12つ
のレーザ素子I、■間の間隙は5μmとしである。
今これらのレーザ素子に各々そのしきい値以上の直流電
流を直流電圧源18及び19により流す。
これによりレーザ素子I及び■は発振するが、各々の発
振スペクトルのうち少くとも1つ以上の発振波長が一致
するようにする。
発振波長が一致しなければ二つのレーザ素子I、U間に
はカプリング効果が得られず、従ってレーザ素子■から
発振した発振光を変調してレーザ素子で受けてもコンデ
ンサ3を通して変調信号は得られない。
従って少くとも一つ以上の発振モードを一致させる必要
がある。
ここで、本実施例の装置では回合基板上に2つのレーザ
素子I、■を配置させているが実際の製造方法としては
、液相エピタキシギル法でn−Ga□、7Al(、,3
As基板11に、p−GaAs層12゜p−Gao、、
Alo、3As層’ 3 p p+GaAs層14を連
続的に成長し、最後にエツチングにより、。
5μm幅の間隙をその中間に入れて2つのレーザ素子1
.IIを作ることにより完成する。
そのため活性領域の不純物濃度や厚さを2つの素子1.
■において全く同一にすることができ、従って2つの素
子I、IIのキャビティ長を一致させるだけで、。
発振モードを一致させることが容易となる。
更に活性領域の基板11からの高さも同一であるので、
レーザ素子Iからの発振光をレーザ素子Hの活性領域へ
入れるための位置合せが全く不要であり、2つの全く独
立なレーザ装置を用いた場合に比較。
して取り扱いが非常に簡単になる。
第3図に本発明の半導体レーザ装置の使用方法の一実施
例どしてのビデオ、信号の再生回路を示す。
同図において矢印は発振光の進行方向を示している。
2つのレーザ素子I及び■の各々は第2図に1示すよう
にしきい値以上に直流バイアスする レーザ素子Iから
発振された光がレーザ素子Hの活性領域に入射し、画素
子に共通のモードの発振、光がレーザ素子■から発振さ
れ、この光が反射形ビデオ信号フィルム6に当たって反
射され1.その反・射光は反射鏡21,22.23で全
反射された後、プリズム24を通過してレーザ素子lの
活性部域に入り、そこでカプリングをおこしその結果コ
ン、デンサ3を通してビデオ信号が取り出される。
なお、反射光がレーザ素子Iの活性領域内に入射す□る
′ことによりレーザ素子IのしきいイUi下がり、レー
ザ素子Iの発振光は強くな各が、レーザ素子nの発振光
の強さは同素子■の直流バイアスにより決定されるため
、レーザ素子■からの発振光はレーザ素子■の発振光の
発振モードを決定するためにのみ働き、レーザ素子1か
らは常に安定した発振光を得ることができる。
ところで、レーザ素子Iからもレーザ素子■から発振す
るのと同じモ;−ドの発振光が出るが、それは第3図の
点線矢印で示したように)、°リズム24で、ビデオ信
号光とは無関係の方向に曲げられるようにしである。
もしこのレーザ素子Iから出た光がレーザ素子■から出
た光の逆方向の径路を通るとすれば、この光;もビデオ
フィルム6に当たって反射しレーザ素子■の活性領域に
入りカプリングを生じ、その結果従来のように、レーザ
素子■のしきい値が変化し発振光が変動してしまう。
従ってレーザ素子Iの逆方向の光は第3図のように途中
で取り除く必要;がある。
そうすることによりレーザ素子■の光にじよう乱を与え
、るととなくレーザ素子Iの端子よりビデオ信号を取り
出すことができ、従来の欠点を完全に増り除くことがで
きる。
第4図に本発明の他の実施例における半導体し・−炉装
置の使用方法を示す。
この場合は2つのレーザ素子I、■は互に直角に配置さ
れていて、レーザ素子Iの発振光をレーザ素子Hの活性
領域13に入れてカプリングをおこさせるのは前の例と
同様である。
この場合は、2つのレーザ素子I。;■の発振光1は互
に直角に出るので、レーザ素子■か←の発振光をし二ザ
素子Iで受けるまでに必要な反射ψΩ数は第3図、の場
合より少なくできる。
同使用方法に用いる半導体レーザ装尊シ製法としては液
相上、ピタキシャル法!多層成−i、L、 蛸後にエツ
チングにより基、板11を共通にした2つのレーザ素子
■及びHに分離する。
5゜第2図a、bおよび第4図の実施?す
では両々のレーザ素子基、に、ファブリペロ−形レーザ
を用いているが、このうちの一方、又は両方を分布帰還
・型レーザにすると、単一モード発振光を得やすくなる
分布帰還型レーザを用いた場合は2つのレーザの間に間
隙を作る必要がなく、従?てレーザ素子Iの発振光を有
効にレーザ素子Hの活性領域に吸収させることができる
なお本発明の半導体レーザ装置の使用方法において再生
回路はビデオ信号だけでなく一般の信号再生に用いられ
るのは勿論のことである。
以上説明したように本発明の半導体レーザ装置の使用方
法は、一方の半導体レーザ素子から放射された発振光を
他方の半導体レーザ素子の活性領域内に入射させて、他
方の半導体レーザ素子から上記発振光と同一モードの発
振光を得るものであり、他方の半導体レーザ素子からの
発振光を信号体で反射させ、この反射光を一方の半導体
レーザ」素子の活性領域に入れて、一方の半導体レーザ
素子から信号体の情報を摩り出してもしきい値の低下は
起らず、従来のような情報の判定の困難性はなくなり、
正常な動作を行なわせることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のビデオ信号再生装置の原理図、第2図a
、bは本発明の半導体レーザ装置の使用方法に用いる半
導体レーザ装置の一実施例を示す平面図及び断面図、第
3図は本発明の半導体レーザ装置の使用方法の一実施例
であるビデオ信号再生回路図、第4図は本発明の半導体
レーザ装置の使用方法に用いる半導体レーザ装置の他の
実施例を示す断面斜視図である。 I、II・・・・・・半導体レーザ素子、3・・・・・
・コンデンサ、6・・・・・・フィルム、13・・・・
・・活性領域、15゜17・・・・・・電□極、18,
19・・・・・・直流電源、21゜22.23・・・・
・・反射鏡、24・・・・・・プリズム。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 一方の半導体レーザ素子からの発振光を他方の半導
    体レーザ素子の活性領域内に入射させて、前記一方の半
    導体レーザ素子の発振波長と一致した発振波長を有する
    発振光を他方の半導体レーザ素子より発振させ、前記他
    方の半導体レーザ素子からの発振光を信号体で反射させ
    、前記反射された発振光を前記一方の半導体レーザ□素
    子の活性領域内に入射させることにより、前記一方の半
    導体レーザ素子より前記信号体の情報を取り出すことを
    特徴とする半導体レーザ装置の使用方法計
JP51029487A 1976-03-17 1976-03-17 半導体レ−ザ装置の使用方法 Expired JPS5819151B2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0335534B2 (ja) * 1986-10-01 1991-05-28 Freudenberg Carl
JPH0335533B2 (ja) * 1985-10-08 1991-05-28 Freudenberg Carl

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0335533B2 (ja) * 1985-10-08 1991-05-28 Freudenberg Carl
JPH0335534B2 (ja) * 1986-10-01 1991-05-28 Freudenberg Carl

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JPS52112292A (en) 1977-09-20

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