JPS5816264B2 - ジキバブルメモリソウチ - Google Patents

ジキバブルメモリソウチ

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JPS5816264B2
JPS5816264B2 JP49140494A JP14049474A JPS5816264B2 JP S5816264 B2 JPS5816264 B2 JP S5816264B2 JP 49140494 A JP49140494 A JP 49140494A JP 14049474 A JP14049474 A JP 14049474A JP S5816264 B2 JPS5816264 B2 JP S5816264B2
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JP
Japan
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memory
information
loop
output
bubble
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JP49140494A
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笠井増雄
吉沢滋
広島実
斎藤延男
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 発明の利用分野 この発明は、複数個のシフトレジスタを用いる磁気バブ
ルメモリ装置において、不良シフトレジスタを除いてメ
モリを動作させるための技術に関ヌするものである。
従来技術とその問題点 複数個のシフトレジスタを用いる磁気バブルメモリ装置
、たとえば、メージャマイナーループ方式の磁気バブル
メモリ装置では、マイナーループ;にいくつか欠陥があ
った場合、これらのループに書込まれた情報は、そこな
われてしまい、メモリとして正常に動作しなくなる。
そのため、この欠陥ループには書込みをおこなわないで
、別の代替ループに書込む必要がある。
しかしながら、これ、を実行するためには、本来、欠陥
ループに書込まれるべき情報を、別のどのループに書込
むかという対応をとりながら、書込み、読出しを制御し
なければならないが、欠陥ループの発生する場所と欠陥
ループの個数とが不定であることから、この制御はきわ
めて複雑なものとなり、現在まで簡単で効果的なものは
提案されていない。
したがって、本発明の目的は、この欠陥ループを除いて
正常に動作させるための簡単で効果的な手段を備えた磁
気バブルツモリ゛装置を提供することである。
以下、本発明を実施例によって詳細に説明する。
実施例 1 第1図が、本発明による磁気バブルメモリ装量の実施例
1の説明図である。
この実施例は、6ビツトのデータに対して記憶ループが
8個あり、2個の記憶ループ欠陥まで許容しうる例であ
る。
基本メモリ構成は、ノージャマイナーループ方式となっ
ており、マイナー記憶ループ101には2個の欠陥10
2がある。
記憶ループ101のメモリ動作の良、不良を示す情報が
、書込み可能リードオンリメモリ(以後FROMと書く
)103の中に、良状態は“1”、不良状態は0”とし
て書込まれている。
図の場合には、マイナー記憶ループ102の状態に対応
して、11010111と書込まれている。
3ビツトのカウンター104はバブル移動用回転磁界発
生回路105からの同期パルスに応じて、FROM10
3を右端番地より順に走査する。
6ビツトの入力情報106(簡単のため、すべて1”と
し、下端にMSDがとられるものとする)が、パラレル
インシリアルアウトシフトレジスタ107に入ると、上
述のFROMの走査出力108に、よってシリアルシフ
トされる。
この場合、走査出力力じ1”の場合にはシフトされ、θ
″の場合にはシフトされないものとする。
記憶ループ101の/161から/163までは動作状
態が良であるので、回転磁界の3サイクルの間、FRO
Mの走査出力は1”であり、入力情報106は3ビツト
シリアルシフトされ、発生器駆動回路109をドライブ
し、発生器110によって、ノージャループ111に書
込まれる。
次の回転磁界のサイクルのときは、記憶ループ101の
A4に欠陥があるため、FROMの走査出力は′0”で
あり、入力情報106はシフトされず、その結果、書込
みはおこなわれない。
そして4ビツト目のデータは、次の回転磁界のサイクル
でシフトされ、ノージャループ111に書込まれる。
以下同様にして、ノージャループ111には11101
011という情報パターンが書込まれる。
この先頭の情報が、ゲート112の#1まで移動したと
き、ゲート制岬回路113が動作して、情報は記憶ルー
プ101のA1〜/I63、/165、屑/167、/
I68の記憶ループに移動記憶される。
これによって、欠陥ループ/164、/166は除去さ
れていることがわかる。
読出しの場合、記憶ループ101中の情報は、ゲート1
12、ゲート制飢回路113によって、ノージャループ
111に移され、以後ノージャループ上を移動する。
このときメージャルーブには11101011なる情報
パタンか移動する。
そして記憶ループ101のA1に記憶されていた情報す
なわち上記情報パタンの先頭が、検出器114と増幅器
115とによって検出されたとき、カウンター104は
再びFROM103を右端番;地より走査する。
そしてその走査出力108が、シリアルインパラレルア
ウトシフトレジスタ116をシリアルシフトする。
この場合も、走査出力108が“1″のときシフトされ
0°′のときシフトされないとする。
最初の3サイクルでは走査出力力じ1”であるため、ノ
ージャループ上の情報パタンは3ビツトだけシフトレジ
スタ116にシフトインされる。
情報パタンの4ビツト目では、FROMの走査出力10
8が”0”であるため、シフトレジスタ116はシフト
されず、この4ビツト目は無視される。
そして情報パタンの5ビツト目が次のサイクルでシフト
レジスタ116にシフトインされる。
以後同様にして、8サイクルの回転磁界によって、シフ
トレジスタ116は6ビツトシフトされ、もとの書込み
情報が正しく再現され、読出し情報117となる。
この実施例では、書込み、読出しを6ビツトパラレルに
するため、パラレルインシリアルアウトシフトレジスタ
107とシリアルインパラレルアウトシフトレジスタ1
16を用いたが、書込み読出しを6ビツトシリアルにお
こなうのであれば単に6ビツトのシリアルインシリアル
アウトシフトレジスタでよいことは容易に考えられる。
これらの実施例においては、2個の記憶ループ欠陥まで
許容できる例であるが、取扱う情報のビット数と、記憶
ループの数、FROMのビット数、シフトレジスタのビ
ット数を適当に選ぶことにより、任意個数の欠陥でも許
容しうるメモリ装置を構成することができる。
以上説明したごとく、本発明によれば、記憶ループ状態
記憶装置に記憶ループの動作状態を書込んでおくことに
より、記憶ループの欠陥の場所と欠陥記憶ループの数に
よらず、それらの欠陥記憶ループを除去してメモリを動
作させることができる。
実施例 2 本発明の他の実施例を、第2図、第3図に示す。
第2図は、本発明の磁気バブルメモリ装置の書込み回路
の説明図であり、第3図は読出し回路の説明図である。
実施例1と同じく、2個の欠陥ループまで許容しうる例
である。
実施例1と同じ部分については同じ番号で示し、ノージ
ャマイナーループの部分については実施例1と同じ状態
となっているものとして、図示していない。
まず、第2図の書込み回路について説明する。
情報の書込みは、1ビツトづつ、バブル移動用回転磁界
発生回路105からの同期パルスCPに従って行なわれ
る。
FROM103の中には、マイナー記憶ループの動作の
良、不良を示す情報が、実施例1と同様に書込まれてい
る。
3ビツトのカウンタ104は、同期パルスCPに応じて
、FROM103を右端番地より順に走査する。
今、1,1□13141,16”なる6ビツトの入力情
報Wを書込む場合について考える。
添字は情報のビット順位を示している。
第2図において、202.203は同期パルスCPによ
って駆動されるフリップフロップであり、入力に応じて
第4図aのような時間関係の出力を出す。
204は書込み切換え回路であり、初期状態ではWの位
置にあり、PROMの出力108が′0”となるたびに
1つづつ上に切換わるようになっている。
205はゲ゛−ト回路であり、FROMの出力108が
′0”である場合には書込み切換え回路の出力WB1を
ブロックする。
記憶ループの41からA3までは動作状態が良であるの
で、回転磁界の最初の3サイクルの間、FROMの出力
108は′1”′であり、書込み切換え回路204はW
につながっているので、その出力WB1は”1,121
3”となり、またゲート回路205もオープンであるか
ら、バブル発生器駆動回路109へのバブル書込み情報
WB2は、n i、 12i 3Nとなる。
次の回転磁界のサイクルでは、記憶ループ腐4に欠陥が
あるため、PROM出力108は0″となり、書込み切
換え回路204はWDlにつながる。
そしてその出力WB1は+13JPなる情報を示すが、
これはゲート回路205によってブロックされ、バブル
書込み情報WB2は′0”となる。
次の1サイクルでは、記憶ループ/16.5の動作状態
が良であるため、書込み切換え回路204はWDlにつ
ながったままで、出力WB1は614′なる情報を示し
、かつゲート回路205がオープンであり、バブル書込
み情報WB2も614′となる。
次の1サイクルでは、記憶ループA6に欠陥があるため
、PROM出力108は0′”となり、書込み切換え回
路204はWD2に切換わる。
そしてその出力WB1は”14”を示すが、これはゲー
ト回路205によってブロックされ、バブル書込み情報
WB2は′0″となる。
次の2サイクルでは、記憶ループ/I67.48の動作
状態が良いためPROM出力108は″1”であり、書
込み切換え回路204はWD2につながったままであり
、その出力WBIは1.16tjとなり、ゲート回路2
05もオープンであるから、バブル書込み情報WB2は
’1,16”となる。
結局、バブル書込み情報は°’ 11121,01゜0
1.16”となり、欠陥ループである/164、/16
6の記憶ループには情報が書込まれず、これらの欠陥の
影響を受けないことがわかる。
次に第3図の読出し回路について説明する。
FROMl 03は、3ビツトのカウンタ104によっ
て右端番地から順に走査される。
そして、FROMの出力108が°0°′であった場合
には、すぐ次の番地に移るようになっている。
またFROMの中の21091の個数を計数するカウン
タ301の出力2によって、FROMの番地走査開始は
′0″の個数のサイクルだけ遅れるようになっている。
バブル検出信号の増幅器115からのバブル読出し情報
RBは、同期パルスCPによって駆動される2つのフリ
ップフロップ302,303に接続されている。
そして、バブル読出し情報RBとフリップフロップの出
力RD1 、RD2の時間関係は、第4図すのようにな
っている。
それらは読出し切換え回路304に接続されている。
読出し切換え回路304は、初期状態においてカウンタ
301によって示される0″の個数だけRBから下に切
換わった位置にあり、FROMの出力108力げ0″と
なるたびに、1つづつ上に切換わるようになっている。
この列の場合、0”の個数は2個なので、初期状態では
読出し切換え回路304はRD2につながっている。
ケート回路305はPROM出力108がII 011
のとき、書込み切換回路304の出力をブロックするよ
うになっている。
′111□1301401,16”なるバブル読出し情
報RBが入ってくると、2サイクル遅れてからFROM
が走査されはじめ、はじめの3サイクルはPROM出力
108が“1′”であるから、読出し情報Rは1.1□
13′°となる。
次のサイクルでは、PROM出力力げ0″なので、読出
し切換え回路304はRDlに切り換わる。
そしてFROMは次の番地に移り記憶ループ/16.5
の動作状態を示す′1”がPROM出力108にあられ
れ、読出し情報Rは“14”となる。
次のサイクルでは、FROMは記憶ループ/166の状
態を示す0”となるので、読出し切換え回路304はR
Bに切換わる。
そしてFROMは次の築地に移り、記憶ループ/16.
7の状態を示す°°1”がPROM出力108にあられ
れ、読出し情報は“15となる。
次のサイクルでは、FROM出力は記憶ループ/i6.
8の動作状態を示す“1”となるので読出し切換え回路
304はそのままRBにつながり読出し情報Rは13″
となる。
結局、読出し情報は11121314i516′となり
、書込んだ情報が欠陥記憶ループの影響を受けず正しく
読出されることがわかる。
本実施例では、切換え回路204,304をスイッチで
示したが、これは同等な機能をもつ他の回路であってさ
しつかえない。
また、この実施例では2個の記憶ループ欠陥まで許容す
る例であるが、取扱う情報のビット数と記憶ループの数
、FROMのビット数、フリップフロップの個数、切換
え回路の接点数を適当に選ぶことにより、任意個数の欠
陥でも許容しうるメモリ装置を構成することができる。
本発明はその構成の特徴として (1)すべてのループの良、不良状態を記憶する記憶ル
ープ状態記憶装置を用いていること。
このことにより、ループの良、不良状態のいろいろの組
合せに関係なく、制(財)系は伺ら、変更する必要はな
い。
ループの良、不良の状態が異なる組合せに対しては、単
にこの記憶装置の内容を変更するのみでよい。
(2)この記憶装置としてROMを用いていること。
このことは本発明の必須要件でなく、単にメモリであれ
ば、本発明は動作する。
しかし、バブルメモリの大きな特徴は不揮発性である。
従って、この要件に合せるためには、この記憶装置とし
てROMを用いることは非常に効果的である。
ROMとすることにより、バブルメモリ全体の不揮発性
が保証される。
(3)バブルの書込み、又は、読出しのタイミングを制
菌する系をとくにシフトレジスタにて構成するとより有
効である。
このことにより、書込むべき又は読出されるべき情報の
制菌が、先の記憶装置からの情報により、単にシフトす
るかしないかを側脚するだけでよく、たとえ、ループの
良、不良の状態の組合せの異なる場合でも、この制−系
は伺ら変更する必要はない。
【図面の簡単な説明】
第1図が本発明による磁気バブルメモリ装置の説明図で
ある。 101は8個の記憶ループであり、102は記憶ループ
内の欠陥であり、103は記憶ループのメモリ動作の良
、不良をあられすFROMであり、104はそのFRO
Mを走査するカウンターである。 このカウンターは回転磁界発生回階105からの同期パ
ルスによってFROMを右端番地より走査する。 106は入力情報であり107はパラレルインシリアル
アウトシフトレジスタである。 108は上記FROMの走査出力であり、109は発生
器駆動回路、110は発生器である。 111はノージャルーブであり、112はゲート、11
3はゲート制(財)回路、114は検出器、115は増
幅器、116はミリアルインパラレルアウトシフトレジ
スタであり、117は読出し情報である。 第2図は本発明による実施例2の書込み回路の説明図で
あり、103は記憶ループの動作状態を記憶するFRO
Mであり、104は番地走査用のカウンタで、105は
バブル移動用回転磁気発生回路で、202,203はフ
リップフロップ、204は書込み切換え回路、205は
ゲート回路である。 109は発生器駆動回路である。第3図は読出し回路の
説明図であり、103はPROM、104は番地走査用
カウンタ、105はバブル移動用回転磁界発生回路、1
08はFROMの出力、115はバブル検出信号増幅器
、301は、PROM中の”0″の個数を計数するカウ
ンタ、302,303はフリツプフ田ンブ、304は読
出し切換え回路、305はゲート回路である。 第4図は実施例2によるバブルメモリ装置の書込み、読
出しのタイミング関係を示す図である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 磁気バブル情報の書込み装置と、読出し装置と、磁
    気バブルが循環する複数個の記憶ループとを含む磁気ン
    くプルメモリ装置において、上記複数個の記憶ループの
    うち、動作の良好なループを第1の状態の情報に、動作
    不良なループをこれと異なる第2の状態め情報に対応ず
    けて記憶するための記憶ループ状態記憶装置と、上記書
    込み装置及び読出し装置にそれぞれ接続され、上記記憶
    ループに書込むべき情報及び該記憶ループから読出され
    た情報を格納するためのシフトレジスタであって、上記
    記憶ループ状態記憶装置の第1の情報に対応してビット
    シフトし、第2の情報のときはシフトないしシフトレジ
    スタ手段と、 i を有することを特徴とする磁気バブルメモリ装置。 2 前記記憶ループ状態記憶装置は固定記憶装置である
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の磁気バブ
    ルメモリ装置。
JP49140494A 1974-12-09 1974-12-09 ジキバブルメモリソウチ Expired JPS5816264B2 (ja)

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JPS5167033A JPS5167033A (ja) 1976-06-10
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