JPH114067A - Method of confirming soldered state, printed wiring board, and method of mounting circuit part - Google Patents

Method of confirming soldered state, printed wiring board, and method of mounting circuit part

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JPH114067A
JPH114067A JP15522397A JP15522397A JPH114067A JP H114067 A JPH114067 A JP H114067A JP 15522397 A JP15522397 A JP 15522397A JP 15522397 A JP15522397 A JP 15522397A JP H114067 A JPH114067 A JP H114067A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To easily and quickly judge whether a soldering state is good or not without changirng soldering lands in size and artangement from an initial state by a method wherein an X-ray checking land other than a circuit part soldering land is provided onto a printed wiring board. SOLUTION: An X-ray check land 12 other than a soldering land 11 which is used for soldering a BGA is previously formed on a printed wiring board 10 when the printed wiring board 10 is manufactured. Then, a soldering paste layer is formed on the soldering land 11, and a soldering layer different in shape from the X-ray check land 12 is formed on the X-ray check land 12 and its vicinity, and a BGA is soldered to the printed wiring board 10. Then, the wiring board 10 is loaded into a reflow oven to undergo reflow processing, and the behavior of a shape change in the soldering paste layer before and after reflow processing is checked with an X-ray check apparatus, whereby it is judged whether a soldering state is good or not.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はハンダ付け状態の確
認方法、プリント配線基板、及び回路部品の実装方法に
関し、より詳細にはBGA(Ball Grid Array) 等の回路
部品をハンダ付けによりプリント配線基板に実装する際
のハンダ付け状態の確認方法、前記したハンダ付け状態
の確認に適したプリント配線基板、及び該プリント配線
基板への回路部品の実装方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for checking a soldered state, a printed wiring board, and a method for mounting circuit components. The present invention relates to a method for checking a soldering state when mounting on a printed circuit board, a printed wiring board suitable for checking the soldering state, and a method for mounting circuit components on the printed wiring board.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体素子を保護すると同時に、プリン
ト配線基板(マザーボード)上に形成された配線との容
易な接続を図るために、前記半導体素子は種々のパッケ
ージに内装される。近年、半導体素子の高集積化に伴
い、電子機器の高性能化や小型化が急速に進展してお
り、前記半導体素子を搭載するパッケージも、QFP(Q
uadFlat Package) 等のパッケージの周囲に外部接続端
子を有するタイプから、PGA(Pin Grid Array)やBG
Aのように底面に外部接続ピンやハンダボールがマトリ
ックス状に配置された、高密度実装に適するタイプに変
わりつつある。
2. Description of the Related Art In order to protect a semiconductor element and at the same time facilitate connection with wiring formed on a printed wiring board (mother board), the semiconductor element is provided in various packages. In recent years, with high integration of semiconductor devices, electronic devices have been rapidly increasing in performance and miniaturization.
uadFlat Package) and other packages with external connection terminals around the package, including PGA (Pin Grid Array) and BG
A is changing to a type suitable for high-density mounting in which external connection pins and solder balls are arranged in a matrix on the bottom surface as shown in FIG.

【0003】図5(a)は、半導体素子が内装されたB
GAを模式的に示した底面図であり、(b)は前記BG
Aがプリント配線基板に実装された状態を模式的に示し
た断面図である。
FIG. 5 (a) shows a B having a semiconductor element therein.
FIG. 5B is a bottom view schematically showing GA, and FIG.
FIG. 4 is a cross-sectional view schematically showing a state in which A is mounted on a printed wiring board.

【0004】(a)に示したように、BGA40を構成
する配線基板41の底面47には、四角形状の中央部4
9を除いて外部接続端子であるハンダボール42がハン
ダボール用パッド(図示せず)に多数マトリックス状に
固着されている。また(b)に示したように、配線基板
41上面48の中央部分には、接着剤44を介して半導
体素子43が固着されており、この半導体素子43のパ
ッド部(図示せず)と上面48に形成されたパッド部
(図示せず)とは、ワイヤ45により接続されている。
また、半導体素子43及びワイヤ45を含む部分は、封
止用樹脂46により封止されている。
As shown in FIG. 1A, a rectangular central portion 4 is formed on a bottom surface 47 of a wiring board 41 constituting the BGA 40.
Except for 9, a large number of solder balls 42 as external connection terminals are fixed to a solder ball pad (not shown) in a matrix. Further, as shown in FIG. 2B, a semiconductor element 43 is fixed to a central portion of the upper surface 48 of the wiring board 41 via an adhesive 44, and a pad portion (not shown) of the semiconductor element 43 is The pad portion (not shown) formed at 48 is connected by a wire 45.
The portion including the semiconductor element 43 and the wire 45 is sealed with a sealing resin 46.

【0005】このBGA40は、ハンダボール42及び
ハンダ層52を介してプリント配線基板50のハンダ付
け用ランド51に接続され、固定されている。
The BGA 40 is connected to and fixed to a soldering land 51 of a printed wiring board 50 via a solder ball 42 and a solder layer 52.

【0006】通常、BGA40のプリント配線基板50
への実装は、電子部品実装機を用いて行う。まず、プリ
ント配線基板50を電子部品実装機に供給すると、プリ
ント配線基板50は搬送用のレール上に載置され、ハン
ダペースト塗布部まで搬送される。このハンダペースト
塗布部では、所定パターンの開口部が形成されたステン
シル(メタルマスク)がプリント配線基板50上に載置
され、メタルマスク上をハンダペーストを保持したスキ
ージ等が移動することにより、ハンダ付け用ランド51
に所定形状のハンダペースト層が形成される。次に、プ
リント配線基板50はBGA固定部まで搬送され、移動
後のプリント配線基板50の位置がプリント配線基板5
0に印刷された位置認識用マークに基づいてCCDカメ
ラ等により正確に測定され、プリント配線基板50のハ
ンダ付け用ランド51の直上にBGA40のハンダボー
ル42のそれぞれがくるように位置合わせがなされた
後、プリント配線基板50上にBGA40が載置され、
仮固定される。次に、BGA40が仮固定されたプリン
ト配線基板50は、リフロー炉に搬入されてリフロー処
理が施され、BGA40が、ハンダボール42及びハン
ダ層52を介してプリント配線基板50のハンダ付け用
ランド51に接続され、固定される。
Usually, the printed wiring board 50 of the BGA 40
Mounting on the electronic component is performed using an electronic component mounting machine. First, when the printed wiring board 50 is supplied to the electronic component mounting machine, the printed wiring board 50 is placed on a rail for transport and transported to the solder paste application section. In the solder paste application section, a stencil (metal mask) having an opening of a predetermined pattern is placed on the printed wiring board 50, and a squeegee or the like holding the solder paste moves on the metal mask. Land for attachment 51
Then, a solder paste layer having a predetermined shape is formed. Next, the printed wiring board 50 is transported to the BGA fixing section, and the position of the printed wiring board 50 after the movement is changed to the printed wiring board 5.
The position of the solder ball 42 of the BGA 40 was accurately measured by a CCD camera or the like based on the position recognition mark printed on the BGA 40 so as to be directly above the soldering land 51 of the printed wiring board 50. After that, the BGA 40 is placed on the printed wiring board 50,
Temporarily fixed. Next, the printed wiring board 50 to which the BGA 40 is temporarily fixed is carried into a reflow furnace and subjected to a reflow process, and the BGA 40 is connected to the soldering land 51 of the printed wiring board 50 via the solder balls 42 and the solder layer 52. Connected and fixed.

【0007】上記工程によりBGA40が実装されたプ
リント配線基板50は、ハンダ付けが良好に行われたか
否かを検査する必要があるが、BGA40とプリント配
線基板50との間には、多数のハンダボール42が存在
するため、目視によりハンダ付け状態の良否を判断する
ことは困難である。
The printed wiring board 50 on which the BGA 40 has been mounted by the above steps needs to be inspected to determine whether or not the soldering has been properly performed. Since the ball 42 is present, it is difficult to visually determine the quality of the soldered state.

【0008】そこで通常は、X線検査装置を用いてBG
A40の上方からX線による撮影を行い、プリント配線
基板50のハンダ付け用ランド51全体にハンダ層52
が形成されているか否かをもとに、ハンダ付け状態の良
否を判断する。
[0008] Therefore, usually, an X-ray inspection apparatus is used to perform BG.
An image is taken by X-rays from above A40, and a solder layer 52 is formed on the entire soldering land 51 of the printed wiring board 50.
Is determined based on whether or not the soldering state is formed.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかし、通常、ハンダ
付け用ランド51の大きさはハンダボール42を平面視
した大きさと殆ど変わらないため、ハンダボール42が
邪魔となって、また、底面47に形成されたハンダボー
ル用パッドと重なり、ハンダ付け状態の良否を判断する
のは非常に難しいという問題があった。
Normally, however, the size of the soldering land 51 is almost the same as the size of the solder ball 42 in plan view, so that the solder ball 42 becomes a hindrance and There is a problem that it is very difficult to judge whether the soldering condition is good or not, because it overlaps with the formed solder ball pad.

【0010】そこで、ハンダ付け用ランド51の大きさ
をハンダボール42を平面視した大きさより大きくした
り、特殊な形状としたプリント配線基板70が提案され
ている。
Therefore, there has been proposed a printed wiring board 70 in which the size of the soldering land 51 is made larger than the size of the solder ball 42 in a plan view or a special shape.

【0011】図6(a)は、前記したプリント配線基板
及びBGAを模式的に示した断面図であり、(b)は平
面図である。
FIG. 6A is a cross-sectional view schematically showing the printed wiring board and the BGA, and FIG. 6B is a plan view.

【0012】(b)に示したように、左側のハンダ付け
用ランド71aはハンダボール62を平面視した大きさ
よりもかなり大きめに形成しているので、リフロー処理
後にハンダ層(図示せず)がハンダ付け用ランド71a
の全体に広がった場合には、X線写真によりハンダ層の
形状を認識することができ、ハンダ付け状態良好と判断
可能である。
As shown in FIG. 2B, since the soldering land 71a on the left side is formed to be considerably larger than the solder ball 62 in plan view, the solder layer (not shown) is formed after the reflow process. Land for soldering 71a
When it spreads over the entire area, the shape of the solder layer can be recognized from the X-ray photograph, and it can be determined that the soldering state is good.

【0013】また、右側のハンダ付け用ランド71bに
は突起が形成されており、従って、リフロー処理後にハ
ンダ層(図示せず)がハンダ付け用ランド71bの突起
部に広がった場合には、X線写真よりハンダ層の形状を
認識することができ、ハンダ付け状態良好と判断可能で
ある。
A projection is formed on the soldering land 71b on the right side. Therefore, when the solder layer (not shown) spreads over the projection of the soldering land 71b after the reflow process, X The shape of the solder layer can be recognized from the line photograph, and it can be determined that the soldering state is good.

【0014】しかし、図6に示したように、ハンダ付け
用ランド71a、71bにはそれぞれ配線72が接続さ
れており、ハンダ付け用ランド71a、71bの形状を
大きくすると、配線72を引き出すための領域がなくな
り、ハンダ付け用ランド71a、71bの数を減らさざ
るを得ず、高密度実装の実現が困難になるという課題が
あった。
However, as shown in FIG. 6, wirings 72 are connected to the soldering lands 71a and 71b, respectively. If the shapes of the soldering lands 71a and 71b are enlarged, the wiring 72 is drawn out. There is a problem that there is no area, the number of soldering lands 71a and 71b must be reduced, and it is difficult to realize high-density mounting.

【0015】本発明は上記課題に鑑みなされたものであ
り、X線検査装置を用いて回路部品のプリント配線基板
へのハンダ付け状態の良否を判断するハンダ付け状態の
確認方法において、ハンダ付け用ランドの大きさや配置
状態を従来のプリント配線基板の場合と変えることな
く、容易かつ迅速に回路部品のプリント配線基板へのハ
ンダ付け状態の良否を判断することができるハンダ付け
状態の確認方法、このハンダ付け状態の確認に適したプ
リント配線基板、及び回路部品の実装方法を提供するこ
とを目的としている。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and a soldering state checking method for judging whether a circuit component is soldered to a printed wiring board using an X-ray inspection apparatus. A method for checking the soldering state, which can easily and quickly determine the quality of the soldering state of the circuit components to the printed wiring board without changing the land size and arrangement state from the case of the conventional printed wiring board. An object of the present invention is to provide a printed wiring board suitable for checking a soldering state and a method for mounting circuit components.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段及びその効果】上記目的を
達成するために本発明に係るハンダ付け状態の確認方法
(1)は、プリント配線基板に回路部品をハンダ付けし
た後、ハンダ付け状態の良否をX線検査装置を用いて検
査するハンダ付け状態の確認方法において、前記回路部
品のハンダ付け用ランドとは別のX線検査用ランドを、
前記プリント配線基板上に形成しておき、前記X線検査
用ランド及びその近傍を含む部分に該X線検査用ランド
とは形状の異なるハンダペースト層を形成した後リフロ
ー処理を行い、該リフロー処理前後の前記ハンダペース
ト層の形状の変化の仕方によりハンダ付け状態の良否を
判断することを特徴としている。
In order to achieve the above object, a method for confirming a soldered state (1) according to the present invention comprises: (a) soldering circuit components to a printed wiring board; In the method of checking a soldering state for inspecting pass / fail using an X-ray inspection apparatus, an X-ray inspection land different from the soldering land of the circuit component may be used.
After forming a solder paste layer having a shape different from that of the X-ray inspection land on a portion including the X-ray inspection land and the vicinity thereof, the reflow processing is performed. It is characterized in that the quality of the soldering state is determined based on how the shape of the solder paste layer before and after changes.

【0017】上記ハンダ付け状態の確認方法(1)によ
れば、回路部品のハンダ付け用ランドとは別の前記X線
検査用ランドを、前記プリント配線基板上に形成してお
くので、前記ハンダ付け用ランドの大きさや配置状態を
従来のプリント配線基板の場合と変える必要がなく、ま
たハンダボール等の前記回路部品に固着された外部接続
端子が前記X線検査用ランドの撮影の障害となることが
ない。また、前記X線検査用ランドとは形状(大きさを
含む)の異なるハンダペースト層を形成した後リフロー
処理を行い、該リフロー処理前後の前記ハンダペースト
層の形状の変化の仕方によりハンダ付け状態の良否を判
断するので、ハンダ付け状態の良否の判断を容易かつ迅
速に行うことができる。従って、ハンダ付け不良の製品
が出荷されるのを確実に防止することができる。
According to the soldering state checking method (1), the X-ray inspection land different from the soldering land of the circuit component is formed on the printed wiring board. There is no need to change the size and arrangement of the attachment lands from those of the conventional printed wiring board, and the external connection terminals fixed to the circuit components such as solder balls become obstacles to imaging of the X-ray inspection lands. Nothing. Further, after a solder paste layer having a shape (including size) different from the X-ray inspection land is formed, a reflow process is performed, and a soldering state is determined according to a change in the shape of the solder paste layer before and after the reflow process. , The quality of the soldered state can be easily and quickly determined. Therefore, it is possible to reliably prevent a product with poor soldering from being shipped.

【0018】また本発明に係るハンダ付け状態の確認方
法(2)は、上記ハンダ付け状態の確認方法(1)にお
いて、前記X線検査用ランド及びその近傍に、該X線検
査用ランドより面積の大きいハンダペースト層を形成し
た後リフロー処理を行い、前記ハンダペースト層が前記
X線検査用ランドと略重なるか否かによりハンダ付け状
態の良否を判断することを特徴としている。
The soldering state checking method (2) according to the present invention is the soldering state checking method (1) according to the above (1), wherein the X-ray inspection land and the vicinity thereof are larger in area than the X-ray inspection land. After forming a solder paste layer having a large size, a reflow process is performed, and the quality of the soldering state is determined based on whether the solder paste layer substantially overlaps with the X-ray inspection land.

【0019】上記ハンダ付け状態の確認方法(2)によ
れば、リフロー処理の前に、前記X線検査用ランドより
面積の大きいハンダペースト層を形成しておくので、前
記リフロー状態が良好であると、前記ハンダペースト層
は前記X線検査用ランド以外の部分でははじかれ、該X
線検査用ランドと略重なるまで面積が縮少する。しか
し、前記リフロー状態が不良であると、前記ハンダペー
スト層は前記X線検査用ランドと略重なるまでは面積が
縮少しない。従って、前記X線検査用ランドに該X線検
査用ランドより面積の大きいハンダペースト層を形成し
た後リフロー処理を行い、前記ハンダペースト層が前記
X線検査用ランドと略重なるか否かを判断することによ
りハンダ付け状態の良否を容易に正確に判断することが
できる。
According to the soldering state checking method (2), a solder paste layer having a larger area than the X-ray inspection land is formed before the reflow processing, so that the reflow state is good. And the solder paste layer is repelled at portions other than the X-ray inspection lands,
The area is reduced until it substantially overlaps the line inspection land. However, if the reflow state is bad, the area of the solder paste layer does not decrease until it substantially overlaps with the X-ray inspection land. Therefore, after forming a solder paste layer having a larger area than the X-ray inspection land on the X-ray inspection land, a reflow process is performed to determine whether the solder paste layer substantially overlaps the X-ray inspection land. By doing so, the quality of the soldered state can be easily and accurately determined.

【0020】また本発明に係るハンダ付け状態の確認方
法(3)は、上記ハンダ付け状態の確認方法(1)にお
いて、前記X線検査用ランドに該X線検査用ランドより
面積の小さいハンダペースト層を形成した後リフロー処
理を行い、前記ハンダペースト層が広がって前記X線検
査用ランドと略重なるか否かによりハンダ付け状態の良
否を判断することを特徴としている。
[0020] The method (3) for checking a soldering state according to the present invention is the method according to the method (1) for checking a soldering state, wherein the solder paste has a smaller area than the X-ray inspection land. After forming the layer, a reflow process is performed, and the quality of the soldering state is determined based on whether the solder paste layer spreads and substantially overlaps the X-ray inspection land.

【0021】上記ハンダ付け状態の確認方法(3)によ
れば、リフロー処理の前に、前記X線検査用ランドより
面積の小さいハンダペースト層を形成しておくので、前
記リフロー状態が良好であると、前記ハンダペースト層
は前記X線検査用ランドと略重なるまで面積が広がる。
しかし、前記リフロー状態が不良であると、前記ハンダ
ペースト層は前記X線検査用ランドと略重なるまでは面
積が広がらない。従って、前記X線検査用ランドに該X
線検査用ランドより面積の小さいハンダペースト層を形
成した後リフロー処理を行い、前記ハンダペースト層が
前記X線検査用ランドと略重なるか否かを判断すること
によりハンダ付け状態の良否を容易に正確に判断するこ
とができる。
According to the soldering state checking method (3), a solder paste layer having a smaller area than the X-ray inspection land is formed before the reflow processing, so that the reflow state is good. Then, the area of the solder paste layer increases until it substantially overlaps with the X-ray inspection land.
However, if the reflow state is bad, the solder paste layer does not increase in area until it substantially overlaps the X-ray inspection land. Therefore, the X-ray inspection land is
After forming a solder paste layer having a smaller area than the line inspection land, a reflow process is performed, and it is easily determined whether or not the soldering state is good by determining whether the solder paste layer substantially overlaps with the X-ray inspection land. It can be determined accurately.

【0022】また本発明に係るハンダ付け状態の確認方
法(4)は、上記ハンダ付け状態の確認方法(1)〜
(3)のいずれかにおいて、前記X線検査用ランドを少
なくとも1個形成し、全ての前記X線検査用ランドを含
む部分にハンダペースト層を形成することを特徴として
いる。
The method (4) for confirming the soldered state according to the present invention includes the method (1) for confirming the soldered state described above.
(3) The method according to (3), wherein at least one X-ray inspection land is formed, and a solder paste layer is formed on a portion including all the X-ray inspection lands.

【0023】上記ハンダ付け状態の確認方法(4)によ
れば、前記X線検査用ランドを少なくとも1個形成する
ことにより、ハンダ付け状態の良否を容易に判断するこ
とができる。また、前記X線検査用ランドを異なる位置
に2個以上形成した場合には、前記プリント配線基板上
の全体にわたり正確にハンダ付け状態の良否を判断する
ことができる効果に加え、前記ハンダペースト層の形状
の変化を詳しく検討することにより、前記リフロー時に
おける前記プリント配線基板の熱分布を知ることができ
る。
According to the soldering state confirming method (4), the quality of the soldering state can be easily determined by forming at least one X-ray inspection land. Further, when two or more X-ray inspection lands are formed at different positions, the solder paste state can be accurately determined over the entire printed wiring board. By examining the change in the shape of the printed wiring board in detail, it is possible to know the heat distribution of the printed wiring board during the reflow.

【0024】また本発明に係るハンダ付け状態の確認方
法(5)は、上記ハンダ付け状態の確認方法(1)〜
(3)のいずれかにおいて、前記X線検査用ランドを複
数個形成し、一部の前記X線検査用ランドを含む部分に
ハンダペースト層を形成してハンダ付け状態の良否を判
断した後、ハンダ付け状態が不良と判断された場合に
は、一旦ハンダ層を除去して再度ハンダペースト層を形
成し直し、この時残りの前記X線検査用ランドを含む部
分にハンダペースト層を形成し、ハンダ付け状態の良否
判断用とすることを特徴としている。
Further, the method (5) for checking the soldered state according to the present invention comprises the method (1) for checking the soldered state described above.
(3) In any one of (3), after forming a plurality of the X-ray inspection lands, forming a solder paste layer on a part including the X-ray inspection lands and judging the quality of the soldering state, When the soldering state is determined to be defective, the solder layer is once removed and a solder paste layer is formed again, and at this time, a solder paste layer is formed on a portion including the remaining X-ray inspection lands, It is characterized in that it is used for judging the quality of soldering.

【0025】上記ハンダ付け状態の確認方法(5)によ
れば、1回目のリフロー処理の前には、複数の前記X線
検査用ランドのうちの一部のみに前記ハンダペースト層
を形成するので、ハンダ付け状態が不良と判断された場
合には、2回目のリフロー処理の前に、残りの前記X線
検査用ランドを含む部分にハンダペースト層を形成する
ことができ、これによりハンダ付け不良等に起因して回
路部品をプリント配線基板にハンダ付けし直す場合に
も、ハンダ付け状態の良否を容易かつ迅速に判断するこ
とができる。
According to the soldering state checking method (5), the solder paste layer is formed only on a part of the plurality of X-ray inspection lands before the first reflow processing. If the soldering state is determined to be defective, a solder paste layer can be formed on the portion including the remaining X-ray inspection lands before the second reflow process, whereby the soldering failure In the case where the circuit components are re-soldered to the printed wiring board due to the above-mentioned factors, the quality of the soldered state can be easily and quickly determined.

【0026】また本発明に係るプリント配線基板(1)
は、ハンダ付け状態の確認に使用するための前記X線検
査用ランドが形成されていることを特徴としている。
Further, the printed wiring board (1) according to the present invention
Is characterized in that the X-ray inspection land used for checking the soldering state is formed.

【0027】上記プリント配線基板(1)によれば、ハ
ンダ付け状態の確認に使用するための前記X線検査用ラ
ンドが形成されているので、上記ハンダ付け状態の確認
方法(1)〜(5)のいずれにも、このプリント配線基
板(1)を使用することができる。
According to the printed wiring board (1), since the X-ray inspection lands for use in checking the soldering state are formed, the soldering state checking methods (1) to (5) are used. The printed wiring board (1) can be used for any of the methods (1) and (2).

【0028】また本発明に係る回路部品の実装方法
(1)は、X線検査用ランドをハンダ付け状態の確認
用、及び回路部品を実装する際のプリント配線基板の位
置認識用として用いることを特徴としている。
Further, the method of mounting a circuit component (1) according to the present invention uses the land for X-ray inspection for confirming the soldering state and for recognizing the position of a printed wiring board when mounting the circuit component. Features.

【0029】上記回路部品の実装方法(1)によれば、
前記X線検査用ランドを回路部品を実装する際のプリン
ト配線基板の位置認識用としても用いることができるの
で、前記回路部品の実装の際に、前記プリント配線基板
の位置を正確に認識することができ、ハンダペーストが
塗布された前記プリント配線基板の正確な位置に前記回
路部品を載置してリフロー処理を行うことができ、前記
プリント配線基板と前記回路部品との位置ずれを防止す
ることができる。
According to the method (1) for mounting circuit components,
Since the X-ray inspection lands can also be used for recognizing the position of a printed wiring board when mounting circuit components, it is necessary to accurately recognize the position of the printed wiring board when mounting the circuit components. And reflow processing can be performed by placing the circuit component at an accurate position on the printed wiring board to which the solder paste has been applied, thereby preventing displacement between the printed wiring board and the circuit component. Can be.

【0030】[0030]

【発明の実施の形態】以下、本発明に係るハンダ付け状
態の確認方法、プリント配線基板、及び回路部品の実装
方法の実施の形態を図面に基づいて説明する。実施の形
態に係るハンダ付け状態の確認方法においては、まず、
プリント配線基板を製造する際に、BGA40(図5)
をハンダ付けするためのハンダ付け用ランドとは別のX
線検査用ランドを、前記プリント配線基板上に形成して
おく。次に、前記ハンダ付け用ランドにハンダペースト
層を形成すると共に、前記X線検査用ランド及びその近
傍を含む部分に該X線検査用ランドとは形状の異なるハ
ンダペースト層を形成し、前記プリント配線基板にBG
A40をハンダ付けする。次に、BGA40がハンダ付
けされた前記プリント配線基板をリフロー炉に搬入して
リフロー処理を行い、該リフロー処理前後の前記ハンダ
ペースト層の形状の変化の仕方をX線検査装置を用いて
検査し、ハンダ付け状態の良否を判断する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of a method for checking a soldered state, a printed wiring board, and a method for mounting circuit components according to the present invention will be described below with reference to the drawings. In the method for checking the soldering state according to the embodiment, first,
BGA40 (Fig. 5)
X different from the soldering land for soldering
A line inspection land is formed on the printed wiring board. Next, a solder paste layer is formed on the soldering land, and a solder paste layer having a shape different from that of the X-ray inspection land is formed on a portion including the X-ray inspection land and the vicinity thereof. BG on the wiring board
Solder A40. Next, the printed wiring board to which the BGA 40 is soldered is carried into a reflow furnace to perform a reflow process, and a change in the shape of the solder paste layer before and after the reflow process is inspected using an X-ray inspection device. The quality of the soldering state is determined.

【0031】図1は、実施の形態に係るハンダ付け状態
の確認方法に用いるプリント配線基板を模式的に示した
部分拡大平面図である。
FIG. 1 is a partially enlarged plan view schematically showing a printed wiring board used for a method of checking a soldered state according to an embodiment.

【0032】図1に示したように、プリント配線基板1
0には、略正四角形状の中央部15を除いた周辺に、ハ
ンダ付け用ランド11が多数マトリックス状に形成され
ており、個々のハンダ付け用ランド11には、図示しな
い配線が接続されている。ハンダ付け用ランド11の配
置は、BGA40(図5)のハンダボール42の配置に
対応しており、従って、通常のBGA40用のプリント
配線基板では、中央部には配線やランド等が全く形成さ
れていない。そこで、このプリント配線基板10では、
中央部15の四角に4個の四角形状のX線検査用ランド
12を形成している。
As shown in FIG. 1, the printed wiring board 1
In FIG. 0, a large number of soldering lands 11 are formed in a matrix around the center portion 15 except for a substantially square central portion 15. Wiring (not shown) is connected to each of the soldering lands 11. I have. The arrangement of the soldering lands 11 corresponds to the arrangement of the solder balls 42 of the BGA 40 (FIG. 5). Therefore, in a normal printed circuit board for the BGA 40, no wiring or land is formed at the center. Not. Therefore, in this printed wiring board 10,
Four square-shaped X-ray inspection lands 12 are formed in the square of the central portion 15.

【0033】X線検査用ランド12の数は、4個に限定
されるものではなく、1個でも、2個以上の適当な数で
あっても差し支えない。図2には、中央部15に多数の
X線検査用ランド12が形成された一例としてのプリン
ト配線基板20を示している。
The number of X-ray inspection lands 12 is not limited to four, but may be one or an appropriate number of two or more. FIG. 2 shows a printed wiring board 20 as an example in which a large number of X-ray inspection lands 12 are formed in a central portion 15.

【0034】図1及び図2には、中央部15にX線検査
用ランド12を形成した例を示したが、中央部15を含
む部分にもハンダ付け用ランド11が形成されている場
合には、ハンダ付け用ランド11が形成されている領域
の一部にX線検査用ランド12を形成してもよい。
FIGS. 1 and 2 show an example in which the X-ray inspection lands 12 are formed in the central portion 15. However, in the case where the soldering lands 11 are also formed in the portion including the central portion 15. The X-ray inspection lands 12 may be formed in a part of the region where the soldering lands 11 are formed.

【0035】実施の形態に係るハンダ付け状態の確認方
法においては、上記したように、ハンダ付け用ランド1
1にハンダペースト層を形成すると共に、X線検査用ラ
ンド12及びその近傍を含む部分にX線検査用ランド1
2とは形状(大きさ)の異なるハンダペースト層を形成
する。
In the method for checking the soldering state according to the embodiment, as described above, the soldering land 1 is used.
1 and a X-ray inspection land 1 and a portion including the X-ray inspection land 12 and its vicinity.
A solder paste layer having a shape (size) different from that of the solder paste layer 2 is formed.

【0036】図3(a)〜(d)は、前記X線検査用ラ
ンドの形状及び該X線検査用ランドに塗布するハンダペ
ースト層の形状を模式的に示した平面図である。
FIGS. 3A to 3D are plan views schematically showing the shape of the X-ray inspection land and the shape of the solder paste layer applied to the X-ray inspection land.

【0037】図3(a)、(b)では、四角形状のX線
検査用ランド12a、12bが形成されており、図3
(c)、(d)では、円形状のX線検査用ランド32
a、32bが形成されているが、X線検査用ランド12
a、12b、32a、32bの形状はこれらに限定され
るものではない。
In FIGS. 3A and 3B, square X-ray inspection lands 12a and 12b are formed.
In (c) and (d), a circular X-ray inspection land 32 is used.
a and 32b are formed, but the X-ray inspection lands 12
The shapes of a, 12b, 32a, and 32b are not limited to these.

【0038】これらX線検査用ランド12a、12b、
32a、32bにハンダペースト層を形成する方法とし
て、X線検査用ランド12a、32aより面積の小さい
ハンダペースト層13a、33aを形成する方法と、X
線検査用ランド12b、32bより面積の大きいハンダ
ペースト層13b、33bを形成する方法とが挙げられ
る。ハンダペースト層13a、13b、33a、33b
の形成は、「従来の技術」の項において説明したメタル
マスクを使用する方法により行う。
These X-ray inspection lands 12a, 12b,
As a method of forming a solder paste layer on 32a, 32b, there are a method of forming solder paste layers 13a, 33a having an area smaller than the X-ray inspection lands 12a, 32a;
A method of forming the solder paste layers 13b and 33b having a larger area than the line inspection lands 12b and 32b can be given. Solder paste layers 13a, 13b, 33a, 33b
Is formed by a method using a metal mask described in the section of “Prior Art”.

【0039】次に、プリント配線基板10、20にBG
A40をハンダ付けし、続いて、BGA40がハンダ付
けされたプリント配線基板10、20をリフロー炉に搬
入してリフロー処理を行う。
Next, the BG is attached to the printed wiring boards 10 and 20.
A40 is soldered, and subsequently, the printed wiring boards 10 and 20 to which the BGA 40 is soldered are carried into a reflow furnace to perform a reflow process.

【0040】図3(a)、(c)に示したように、X線
検査用ランド12a、32aより面積の小さいハンダペ
ースト層13a、33aを形成した場合、リフロー処理
が良好に行われると、ハンダペースト層13a、33a
はX線検査用ランド12a、32aの表面全体に広が
り、X線検査用ランド12a、32aと略重なる。
As shown in FIGS. 3A and 3C, when the solder paste layers 13a and 33a having smaller areas than the X-ray inspection lands 12a and 32a are formed, if the reflow process is performed well, Solder paste layers 13a, 33a
Spreads over the entire surface of the X-ray inspection lands 12a and 32a and substantially overlaps with the X-ray inspection lands 12a and 32a.

【0041】一方、図3(b)、(d)に示したよう
に、X線検査用ランド12b、32bより面積の大きい
ハンダペースト層13b、33bを形成した場合、リフ
ロー処理が良好に行われると、プリント配線基板10、
20表面の樹脂部分に形成されているハンダペースト層
13b、33bは、はじかれてその面積が縮少し、X線
検査用ランド12b、32bと略重なる。X線検査用ラ
ンド12b、32bに比べて余り面積の大きいハンダペ
ースト層13b、33bを形成すると、リフロー処理が
良好に行われても、ハンダペースト層13b、33bが
X線検査用ランド12b、32bと重なりにくくなり、
好ましくない。
On the other hand, as shown in FIGS. 3B and 3D, when the solder paste layers 13b and 33b having a larger area than the X-ray inspection lands 12b and 32b are formed, the reflow process is performed satisfactorily. And the printed wiring board 10,
The solder paste layers 13b and 33b formed on the resin portion of the surface 20 are repelled and have a reduced area, and substantially overlap the X-ray inspection lands 12b and 32b. When the solder paste layers 13b and 33b having a larger area than the X-ray inspection lands 12b and 32b are formed, the solder paste layers 13b and 33b can be used even when the reflow process is performed well. It is difficult to overlap with
Not preferred.

【0042】また、リフロー処理が良好に行われない場
合(例えばリフロー時の温度が低い場合)には、ハンダ
ペースト層13a、13b、33a、33bは充分に拡
大又は縮少せず、X線検査用ランド12a、12b、3
2a、32bと重ならない。
When the reflow process is not performed well (for example, when the temperature at the time of reflow is low), the solder paste layers 13a, 13b, 33a, and 33b do not expand or contract sufficiently, and the X-ray inspection is performed. Lands 12a, 12b, 3
Does not overlap with 2a and 32b.

【0043】従って、リフロー処理前後のハンダペース
ト層13a、・・・ の形状の変化の仕方をX線検査装置を
用いて検査することにより、ハンダ付け状態の良否を判
断することができる。
Therefore, the quality of the soldering state can be determined by inspecting the manner of change in the shape of the solder paste layers 13a,... Before and after the reflow processing using an X-ray inspection apparatus.

【0044】また、図2に示したように、プリント配線
基板20に多数のX線検査用ランド12を形成した場合
には、ハンダペースト層13a、・・・ の形状の変化を詳
しく検討することにより、前記リフロー処理時における
プリント配線基板20の熱分布を知ることができる。
When a large number of X-ray inspection lands 12 are formed on the printed wiring board 20 as shown in FIG. 2, the change in the shape of the solder paste layers 13a,. Thereby, the heat distribution of the printed wiring board 20 at the time of the reflow processing can be known.

【0045】プリント配線基板10、20に複数のX線
検査用ランド12a、12b、32a、32bが形成さ
れている場合、その全てにハンダペースト層13a、1
3b、33a、33bを形成してもよいが、前記リフロ
ー処理後にハンダ付け状態が不良と判断された場合を考
慮すると、初めに、一部のX線検査用ランド12a、1
2b、32a、32bを含む部分のみにハンダペースト
層13a、・・・ を形成しておくことが望ましい。
When a plurality of X-ray inspection lands 12a, 12b, 32a and 32b are formed on the printed wiring boards 10 and 20, all of them are solder paste layers 13a and 13a.
3b, 33a and 33b may be formed, but considering the case where the soldering state is determined to be defective after the reflow processing, first, some of the X-ray inspection lands 12a and
It is desirable to form the solder paste layers 13a,... Only on the portions including 2b, 32a, 32b.

【0046】図4(a)、(b)は、BGA40の実装
前に一部のX線検査用ランド12aのみにハンダペース
ト層を形成し、リフロー処理後に他のX線検査用ランド
12aにハンダペースト層を形成する場合を示した部分
拡大平面図であり、図4においては、ハンダ付け用ラン
ド11(図1、図2)を省略している。
FIGS. 4A and 4B show that a solder paste layer is formed only on a part of the X-ray inspection lands 12a before mounting the BGA 40, and that the solder paste layer is formed on the other X-ray inspection lands 12a after the reflow processing. FIG. 5 is a partially enlarged plan view showing a case where a paste layer is formed, and FIG. 4 omits a soldering land 11 (FIGS. 1 and 2).

【0047】(a)に示したように、初めに、4個のう
ち2個のX線検査用ランド12aにハンダペースト層1
3aを形成しておく。リフロー処理後にハンダ付け状態
が不良と判断された場合には、一旦ハンダ層14を除去
して再度ハンダペースト層を形成し直す。しかし、完全
にハンダ層14を除去するのは困難であるため、(b)
に示したようにハンダ層14が残留する。そこで、この
場合には、残りの2個のX線検査用ランド12aにハン
ダペースト層13aを形成し、ハンダ付け状態の良否判
断用とする。
As shown in (a), first, two out of four X-ray inspection lands 12a are applied to the solder paste layer 1.
3a is formed in advance. If the soldering state is determined to be defective after the reflow processing, the solder layer 14 is once removed and the solder paste layer is formed again. However, since it is difficult to completely remove the solder layer 14, (b)
The solder layer 14 remains as shown in FIG. Therefore, in this case, a solder paste layer 13a is formed on the remaining two X-ray inspection lands 12a to determine the quality of the soldered state.

【0048】X線検査用ランド12a、12b、32
a、32bは、上記したハンダ付け状態の確認用として
用いることができる他、回路部品を実装する際のプリン
ト配線基板10、20の位置認識用として用いることが
できる。
X-ray inspection lands 12a, 12b, 32
a and 32b can be used not only for checking the above-mentioned soldered state but also for recognizing the positions of the printed wiring boards 10 and 20 when mounting circuit components.

【0049】「従来の技術」の項で説明したように、B
GA40(図5)等の回路部品のプリント配線基板1
0、20への実装を電子部品実装機を用いて行う場合、
プリント配線基板10、20は搬送用のレール上に載置
されて搬送され、ハンダペースト塗布部でハンダ付け用
ランド11、及びX線検査用ランド12a、・・・ にハン
ダペースト層13a、・・・ が形成される。次に、プリン
ト配線基板10、20はBGA固定部まで搬送されて固
定され、例えばBGA40を把持した移動部材が移動し
てプリント配線基板10、20のハンダ付け用ランド1
1の直上にBGA40のハンダボール42のそれぞれが
くるように正確にBGA40の位置合わせを行った後、
プリント配線基板10、20上にBGA40を載置して
仮固定し、リフロー処理を行う。上記操作を行うために
は、プリント配線基板10、20の正確な位置を知る必
要があり、通常は、プリント配線基板10、20に位置
認識用の複数のマークを印刷しておき、前記マークの位
置をCCDカメラ等で撮影して、その位置を測定してい
る。しかし、プリント配線基板10、20にX線検査用
ランド12a、・・・ を形成した場合には、これらX線検
査用ランド12a、・・・ をプリント配線基板10、20
の位置認識用として用いることができる。
As described in the section of "Prior Art", B
Printed circuit board 1 for circuit components such as GA40 (FIG. 5)
When mounting on 0 and 20 using an electronic component mounter,
The printed wiring boards 10 and 20 are placed and transported on rails for transport, and the solder paste application section applies soldering lands 11 and X-ray inspection lands 12a to solder paste layers 13a,.・ Is formed. Next, the printed wiring boards 10 and 20 are conveyed to and fixed to the BGA fixing section. For example, the moving member gripping the BGA 40 moves and the soldering lands 1 of the printed wiring boards 10 and 20 are moved.
After accurately positioning the BGA 40 so that each of the solder balls 42 of the BGA 40 comes directly above the 1,
The BGA 40 is placed and temporarily fixed on the printed wiring boards 10 and 20, and reflow processing is performed. In order to perform the above operation, it is necessary to know the exact positions of the printed wiring boards 10 and 20. Usually, a plurality of marks for position recognition are printed on the printed wiring boards 10 and 20, and the marks of the marks are printed. The position is photographed with a CCD camera or the like, and the position is measured. However, when the X-ray inspection lands 12a,... Are formed on the printed wiring boards 10, 20, these X-ray inspection lands 12a,.
Can be used for position recognition.

【0050】以上のように、実施の形態に係るハンダ付
け状態の確認方法によれば、BGA40(図5)をハン
ダ付けするためのハンダ付け用ランド11とは別のX線
検査用ランド12a、・・・ を、プリント配線基板10、
20上に形成しておくので、ハンダ付け用ランド11の
大きさや配置状態を従来の場合と変える必要がなく、ま
たハンダボール42(図5)等がX線検査用ランド12
a、・・・ の撮影の障害となることがない。また、X線検
査用ランド12a、・・・ とは形状の異なるハンダペース
ト層13a、13b、33a、33bを形成した後リフ
ロー処理を行い、該リフロー処理前後のハンダペースト
層13a、・・・ の形状の変化の仕方によりハンダ付け状
態の良否を判断するので、ハンダ付け状態の良否の判断
を容易かつ迅速に行うことができる。従って、ハンダ付
け不良の製品が出荷されるのを確実に防止することがで
きる。
As described above, according to the soldering state checking method according to the embodiment, the X-ray inspection land 12a, which is different from the soldering land 11 for soldering the BGA 40 (FIG. 5), .. To the printed wiring board 10,
Since the soldering lands 11 are formed on the X-ray inspection lands 12, there is no need to change the size and arrangement of the soldering lands 11 from the conventional case.
a,... does not become an obstacle. Also, after the solder paste layers 13a, 13b, 33a, 33b having different shapes from the X-ray inspection lands 12a,... Are formed, reflow processing is performed, and the solder paste layers 13a,. Since the quality of the soldered state is determined based on the manner of change in the shape, the quality of the soldered state can be easily and quickly determined. Therefore, it is possible to reliably prevent a product with poor soldering from being shipped.

【0051】また、実施の形態に係るハンダ付け状態の
確認方法において、X線検査用ランド12b、32bよ
り面積の大きいハンダペースト層13b、33bを形成
した場合には、リフロー状態が良好であると、ハンダペ
ースト層13b、33bはX線検査用ランド12b、3
2bと略重なるまで面積が縮少する。しかし、前記リフ
ロー状態が不良であると、ハンダペースト層13b、3
3bはX線検査用ランド12b、32bと略重なるまで
面積が縮少しない。従って、X線検査用ランド12b、
32bにX線検査用ランド12b、32bより面積の大
きいハンダペースト層13b、33bを形成した後リフ
ロー処理を行い、ハンダペースト層13b、33bがX
線検査用ランド12b、32bと略重なるか否かを判断
することによりハンダ付け状態の良否を容易に判断する
ことができる。
In the method of checking the soldering state according to the embodiment, when the solder paste layers 13b and 33b having a larger area than the X-ray inspection lands 12b and 32b are formed, it is determined that the reflow state is good. , Solder paste layers 13b and 33b are X-ray inspection lands 12b and 3
The area is reduced until it substantially overlaps with 2b. However, if the reflow state is bad, the solder paste layers 13b, 3b
The area 3b is not reduced until it substantially overlaps the X-ray inspection lands 12b and 32b. Therefore, the X-ray inspection lands 12b,
After the solder paste layers 13b and 33b having a larger area than the X-ray inspection lands 12b and 32b are formed on the 32b, a reflow process is performed.
By judging whether or not they substantially overlap the line inspection lands 12b and 32b, it is possible to easily judge whether the soldering state is good or not.

【0052】また、実施の形態に係るハンダ付け状態の
確認方法において、X線検査用ランド12a、32aに
X線検査用ランド12a、32aより面積の小さいハン
ダペースト層13a、33aを形成した場合、リフロー
状態が良好であると、ハンダペースト層13a、33a
はX線検査用ランド12a、32aと略重なるまで面積
が広がる。しかし、前記リフロー状態が不良であると、
ハンダペースト層13a、33aはX線検査用ランド1
2a、32aと略重なるまで面積が広がらない。従っ
て、X線検査用ランド12a、32aにX線検査用ラン
ド12a、32aより面積の小さいハンダペースト層1
3a、33aを形成した後リフロー処理を行い、ハンダ
ペースト層13a、33aがX線検査用ランド12a、
32aと略重なるか否かを判断することによりハンダ付
け状態の良否を容易に判断することができる。
In the soldering state checking method according to the embodiment, when the solder paste layers 13a, 33a having a smaller area than the X-ray inspection lands 12a, 32a are formed on the X-ray inspection lands 12a, 32a, If the reflow state is good, the solder paste layers 13a, 33a
Increases in area until it substantially overlaps the X-ray inspection lands 12a and 32a. However, if the reflow state is bad,
The solder paste layers 13a and 33a are lands 1 for X-ray inspection.
The area does not increase until it substantially overlaps with 2a and 32a. Therefore, the solder paste layer 1 having a smaller area than the X-ray inspection lands 12a and 32a is provided on the X-ray inspection lands 12a and 32a.
After the formation of the solder paste layers 13a, 33a, the X-ray inspection lands 12a,
By judging whether or not it substantially overlaps with 32a, the quality of the soldering state can be easily judged.

【0053】また、実施の形態に係るハンダ付け状態の
確認方法によれば、X線検査用ランド12a、・・・ を少
なくとも1個形成することにより、ハンダ付け状態の良
否を容易に判断することができる。また、X線検査用ラ
ンド12a、・・・ を異なる位置に多数形成した場合に
は、上記効果に加え、ハンダペースト層13a、・・・ の
形状の変化を詳しく検討することにより、前記リフロー
時のプリント配線基板20の熱分布を知ることができ
る。
According to the method of checking the soldering condition according to the embodiment, the quality of the soldering condition can be easily determined by forming at least one X-ray inspection land 12a,. Can be. When a large number of X-ray inspection lands 12a,... Are formed at different positions, in addition to the above-described effects, changes in the shapes of the solder paste layers 13a,. Of the printed wiring board 20 can be known.

【0054】また、実施の形態に係るハンダ付け状態の
確認方法によれば、形成した複数のX線検査用ランド1
2a、・・・ のうちの一部のみにハンダペースト層13a
を形成した場合、ハンダ付け状態が不良と判断された際
には、残りのX線検査用ランド12a、・・・ を含む部分
にハンダペースト層13aを形成することができ、これ
によりハンダ付け不良等に起因してBGA40をプリン
ト配線基板10にハンダ付けし直す場合にも、ハンダ付
け状態の良否を容易かつ迅速に判断することができる。
According to the soldering state checking method according to the embodiment, a plurality of X-ray inspection lands 1 formed are formed.
2a,... Only part of solder paste layer 13a
Is formed, if the soldering state is determined to be defective, a solder paste layer 13a can be formed on the portion including the remaining X-ray inspection lands 12a,. In the case where the BGA 40 is re-soldered to the printed wiring board 10 due to, for example, the quality of the soldered state can be easily and quickly determined.

【0055】また、実施の形態に係る回路部品の実装方
法によれば、X線検査用ランド12をBGA40を実装
する際のプリント配線基板10、20の位置認識用とし
ても用いることができるので、BGA40の実装の際
に、プリント配線基板10、20の位置を正確に認識す
ることができ、ハンダペーストが塗布されたプリント配
線基板10、20の正確な位置にBGA40を固定して
リフロー処理を行うことができ、プリント配線基板1
0、20とBGA40との位置ずれを防止することがで
きる。
According to the circuit component mounting method according to the embodiment, the X-ray inspection lands 12 can be used for recognizing the positions of the printed wiring boards 10 and 20 when the BGA 40 is mounted. When the BGA 40 is mounted, the positions of the printed wiring boards 10 and 20 can be accurately recognized, and the BGA 40 is fixed at the correct position of the printed wiring boards 10 and 20 to which the solder paste has been applied, and reflow processing is performed. Can be printed wiring board 1
The displacement between 0, 20 and the BGA 40 can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態に係るハンダ付け状態の確
認方法に用いるプリント配線基板を模式的に示した部分
拡大平面図である。
FIG. 1 is a partially enlarged plan view schematically showing a printed wiring board used for a method for checking a soldered state according to an embodiment of the present invention.

【図2】別の実施の形態に係るハンダ付け状態の確認方
法に用いるプリント配線基板を模式的に示した部分拡大
平面図である。
FIG. 2 is a partially enlarged plan view schematically showing a printed wiring board used in a method for checking a soldered state according to another embodiment.

【図3】(a)〜(d)は、実施の形態に係るハンダ付
け状態の確認方法において、X線検査用ランドの形状及
び該X線検査用ランドに塗布するハンダペースト層の形
状を模式的に示した平面図である。
FIGS. 3A to 3D schematically show the shape of an X-ray inspection land and the shape of a solder paste layer applied to the X-ray inspection land in the soldering state checking method according to the embodiment; FIG.

【図4】(a)、(b)は、実施の形態に係るハンダ付
け状態の確認方法において、BGAの実装前に一部のX
線検査用ランドのみにハンダペースト層を形成し、リフ
ロー処理後に他のX線検査用ランドにハンダペースト層
を形成する場合を示した部分拡大平面図である。
FIGS. 4A and 4B show a part of X before mounting a BGA in a method of checking a soldering state according to an embodiment;
FIG. 4 is a partially enlarged plan view showing a case where a solder paste layer is formed only on a line inspection land and a solder paste layer is formed on another X-ray inspection land after reflow processing.

【図5】(a)は、半導体素子が搭載されたBGA40
を模式的に示した底面図であり、(b)は従来のプリン
ト配線基板に前記BGAが実装された状態を模式的に示
した断面図である。
FIG. 5A shows a BGA 40 on which a semiconductor element is mounted.
FIG. 2B is a bottom view schematically showing the BGA, and FIG. 2B is a cross-sectional view schematically showing a state in which the BGA is mounted on a conventional printed wiring board.

【図6】(a)は、ハンダ付け用ランドの大きさをハン
ダボールを平面視した大きさより大きくするか、又はハ
ンダ付け用ランドに突起を形成したプリント配線基板、
及びBGAを模式的に示した断面図であり、(b)は平
面図である。
FIG. 6A shows a printed wiring board in which the size of a soldering land is made larger than the size of a solder ball in plan view, or a projection is formed on a soldering land.
FIG. 2B is a cross-sectional view schematically showing a BGA and a BGA, and FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11、20 プリント配線基板 11 ハンダ付け用ランド 12、12a、12b、32a、32b X線検査用ラ
ンド 13a、13b、33a、33b ハンダペースト層 14 ハンダ層
11, 20 Printed wiring board 11 Soldering land 12, 12a, 12b, 32a, 32b X-ray inspection land 13a, 13b, 33a, 33b Solder paste layer 14 Solder layer

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プリント配線基板に回路部品をハンダ付
けした後、ハンダ付け状態の良否をX線検査装置を用い
て検査するハンダ付け状態の確認方法において、前記回
路部品のハンダ付け用ランドとは別のX線検査用ランド
を、前記プリント配線基板上に形成しておき、前記X線
検査用ランド及びその近傍を含む部分に該X線検査用ラ
ンドとは形状の異なるハンダペースト層を形成した後リ
フロー処理を行い、該リフロー処理前後の前記ハンダペ
ースト層の形状の変化の仕方によりハンダ付け状態の良
否を判断することを特徴とするハンダ付け状態の確認方
法。
In a method of checking a soldering condition using an X-ray inspection apparatus after soldering a circuit component to a printed wiring board, a soldering land of the circuit component is defined as: Another X-ray inspection land was formed on the printed wiring board, and a solder paste layer having a shape different from that of the X-ray inspection land was formed on the portion including the X-ray inspection land and the vicinity thereof. A method of confirming a soldered state, comprising: performing a post-reflow process; and determining whether the soldered state is good or not based on a change in the shape of the solder paste layer before and after the reflow process.
【請求項2】 前記X線検査用ランド及びその近傍に、
該X線検査用ランドより面積の大きいハンダペースト層
を形成した後リフロー処理を行い、前記ハンダペースト
層が前記X線検査用ランドと略重なるか否かによりハン
ダ付け状態の良否を判断することを特徴とする請求項1
記載のハンダ付け状態の確認方法。
2. The X-ray inspection land and its vicinity,
After forming a solder paste layer having a larger area than the X-ray inspection land, a reflow process is performed, and whether the soldering state is good or not is determined based on whether or not the solder paste layer substantially overlaps with the X-ray inspection land. Claim 1.
How to check the soldering state described.
【請求項3】 前記X線検査用ランドに該X線検査用ラ
ンドより面積の小さいハンダペースト層を形成した後リ
フロー処理を行い、前記ハンダペースト層が広がって前
記X線検査用ランドと略重なるか否かによりハンダ付け
状態の良否を判断することを特徴とする請求項1記載の
ハンダ付け状態の確認方法。
3. A reflow process is performed after a solder paste layer having a smaller area than the X-ray inspection land is formed on the X-ray inspection land, and the solder paste layer spreads and substantially overlaps with the X-ray inspection land. 2. The method according to claim 1, wherein whether the soldering condition is good or not is determined based on whether the condition is satisfied or not.
【請求項4】 前記X線検査用ランドを少なくとも1個
形成し、全ての前記X線検査用ランドを含む部分にハン
ダペースト層を形成することを特徴とする請求項1〜3
のいずれかの項に記載のハンダ付け状態の確認方法。
4. The method according to claim 1, wherein at least one X-ray inspection land is formed, and a solder paste layer is formed on a portion including all the X-ray inspection lands.
The method for confirming a soldering state according to any one of the above items.
【請求項5】 前記X線検査用ランドを複数個形成し、
一部の前記X線検査用ランドを含む部分にハンダペース
ト層を形成してハンダ付け状態の良否を判断した後、ハ
ンダ付け状態が不良と判断された場合には、一旦ハンダ
層を除去して再度ハンダペースト層を形成し直し、この
時残りの前記X線検査用ランドを含む部分にハンダペー
スト層を形成し、ハンダ付け状態の良否判断用とするこ
とを特徴とする請求項1〜3のいずれかの項に記載のハ
ンダ付け状態の確認方法。
5. A plurality of X-ray inspection lands are formed,
After forming a solder paste layer on a portion including a part of the X-ray inspection land and judging the quality of the soldering state, if the soldering state is judged to be defective, the solder layer is temporarily removed. 4. The solder paste layer according to claim 1, wherein a solder paste layer is formed again on the portion including the remaining X-ray inspection lands, and a soldering state is determined. A method for checking a soldering state according to any of the above items.
【請求項6】 ハンダ付け状態の確認に使用するための
前記X線検査用ランドが形成されていることを特徴とす
るプリント配線基板。
6. A printed wiring board, wherein said X-ray inspection lands for use in checking a soldered state are formed.
【請求項7】 X線検査用ランドをハンダ付け状態の確
認用、及び回路部品を実装する際のプリント配線基板の
位置認識用として用いることを特徴とする回路部品の実
装方法。
7. A method of mounting a circuit component, wherein the X-ray inspection land is used for confirming a soldering state and for recognizing a position of a printed wiring board when mounting the circuit component.
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