JPH11340089A - 積層セラミック電子部品の製造方法及び積層セラミック電子部品 - Google Patents

積層セラミック電子部品の製造方法及び積層セラミック電子部品

Info

Publication number
JPH11340089A
JPH11340089A JP10140113A JP14011398A JPH11340089A JP H11340089 A JPH11340089 A JP H11340089A JP 10140113 A JP10140113 A JP 10140113A JP 14011398 A JP14011398 A JP 14011398A JP H11340089 A JPH11340089 A JP H11340089A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ceramic
sintered body
electronic component
multilayer
multilayer ceramic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10140113A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobushige Moriwaki
伸重 森脇
Kazuhiro Yoshida
和宏 吉田
Akio Shiyoubu
昭雄 正部
Yoshihiro Komura
好浩 小村
Takeshi Azumi
健 安積
Yukio Tanaka
雪夫 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Priority to JP10140113A priority Critical patent/JPH11340089A/ja
Publication of JPH11340089A publication Critical patent/JPH11340089A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 セラミック焼結体内にサイドギャップ領域を
有せず、材料使用効率及び電気的特性の向上を図り得る
だけでなく、絶縁層を容易に形成し得る積層セラミック
電子部品の製造方法。 【解決手段】 外表面に内部電極3,4の端縁が露出さ
れている未焼成のセラミック積層体を用意し、セラミッ
ク積層体を焼成し、かつセラミック積層体中に含有され
ているガラス成分を外表面に析出させて外表面がガラス
を主成分とする絶縁層7で被覆されたセラミック焼結体
6を得、セラミック焼結体6の外表面のうち、外部電極
9,10が形成される領域を研磨して絶縁層を該領域に
おいて除去し、内部電極を露出させ、該領域に外部電極
9,10を形成して積層コンデンサ8を得る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、積層コン
デンサや積層バリスタなどの積層セラミック電子部品に
関し、より詳細には、内部電極側方にサイドギャップ領
域を設けないことにより、小型化、材料使用効率の向上
及び電気的特性の精度の向上を図った積層セラミック電
子部品の製造方法及び積層セラミック電子部品に関す
る。
【0002】
【従来の技術】積層コンデンサなどの積層セラミック電
子部品は、複数の内部電極をセラミック層を介して重な
りあうように配置してなる一体焼成型のセラミック焼結
体を用いて構成されている。この種の積層セラミック電
子部品では、絶縁耐圧を高めるため及び耐湿性を高める
ために内部電極は、通常、外部電極と電気的に接続され
ている端縁を除いてはセラミック焼結体内に埋設されて
いる。すなわち、内部電極の側方にサイドマージン領域
が形成されているのが普通である。
【0003】しかしながら、例えば、積層コンデンサに
おいては、上記サイドマージン領域を設けた分だけ、セ
ラミック焼結体が大きくなり、あるいは取得静電容量が
低下することになる。また、サイドマージン領域の寸法
ばらつきにより、静電容量がばらつくこともあった。
【0004】そこで、サイドマージン領域を設けずにセ
ラミック焼結体を得、該セラミック焼結体を用いて積層
コンデンサを製造する方法が知られている。例えば、特
公平2−30570号公報に記載の製造方法では、ま
ず、未焼成のセラミック積層体において、内部電極が外
部電極と接続される端面だけでなく、一対の側面にも露
出されているセラミック積層体を用いる。すなわち、内
部電極は、セラミック積層体の全幅に至るように形成さ
れている。しかる後、このセラミック積層体を焼成した
後、一対の側面に、絶縁性を確保するために合成樹脂や
ガラス等からなる絶縁層を形成し、かつセラミック焼結
体の一対の端面に外部電極を形成する。
【0005】また、上記セラミック積層体を得た後、セ
ラミック積層体を構成しているセラミックスと同じセラ
ミックスラリーを用いてセラミック焼結体の側面に該ス
ラリーを塗布した後、焼成することにより絶縁層を形成
する方法も知られている。
【0006】他方、特開平3−82006号公報には、
上記と同様に、内部電極が焼結体の端面だけでなく、一
対の側面にも露出するように、セラミック焼結体の全幅
に至るように形成されているセラミック焼結体を用いた
製造方法が開示されている。ここでは、このセラミック
焼結体の一対の側面を、エッチングすることにより、あ
るいはサンドブラストなどの物理的加工方法を用いるこ
とにより、内部電極側端縁近傍部分を除去する。しかる
後、内部電極側端縁近傍部分が除去されることにより生
じた空間に入り込み得るように、セラミック焼結体の側
面に合成樹脂などからなる絶縁材料を塗布し、硬化させ
て絶縁層を形成する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、特公
平2−30570号公報や特開平3−82006号公報
に記載の製造方法では、いずれの場合においても、内部
電極がセラミック積層体の全幅に至るように形成された
未焼成のセラミック積層体を用いている。しかしなが
ら、絶縁耐圧を確保するために、焼成後に合成樹脂など
からなる絶縁層を別途形成したり、あるいは焼成に先立
ちセラミック積層体を構成しているセラミックと同質の
セラミックスラリーを塗布した後焼成したりする必要が
あった。すなわち、セラミック焼結体自体を得る工程と
は別に、絶縁層を形成するために余分な工程を実施しな
ければならず、製造工程が煩雑であった。
【0008】加えて、特開平3−82006号公報に開
示されている方法では、エッチングや物理的な加工方法
により内部電極側端縁近傍を除去していたが、この処理
に際し、セラミックスが損傷を受けることもあった。加
えて、上記エッチングや物理的方法により内部電極側端
縁近傍を除去した場合、その内部電極側端縁近傍が均一
に除去され難く、静電容量などの電気的特性の精度を高
めることが非常に困難であった。
【0009】本発明の目的は、上述した従来技術の欠点
を解消し、セラミック焼結体内において内部電極の側方
に余分なサイドギャップ領域が設けられておらず、従っ
て材料の使用効率が高められており、小型に構成するこ
とができ、かつ電気的特性の精度が高められた積層セラ
ミック電子部品を比較的簡単な工程でかつ安定に得るこ
とを可能とする積層セラミック電子部品の製造方法、並
びにそのように積層セラミック電子部品を提供すること
にある。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、積層セラミック電子部品の製造方法であって、外表
面に内部電極端縁が露出されており、かつガラス成分を
含有しているセラミックスからなる未焼成のセラミック
積層体を用意する工程と、前記セラミック積層体を焼成
し、かつ前記セラミック積層体中に含有されていたガラ
ス成分を外表面に析出させて外表面がガラスを主成分と
する絶縁層で被覆されたセラミック焼結体を得る工程
と、前記セラミック焼結体の外表面のうち、外部電極が
形成される領域を研磨し、該領域において絶縁層を除去
し、内部電極を露出させる工程と、露出された内部電極
に電気的に接続されるように、焼結体外表面に外部電極
を形成する工程とを備えることを特徴とする。
【0011】請求項2に記載の発明では、前記未焼成の
セラミック積層体が、上面、下面、対向しあう一対の端
面及び一対の側面を有する直方体状の形状を有し、前記
内部電極端縁がセラミック積層体の一つの端面及び両側
面に露出されており、前記外部電極がセラミック焼結体
の一対の端面にそれぞれ形成される。
【0012】請求項3に記載の発明では、前記セラミッ
ク積層体を構成しているセラミック材料が、B、Li、
Pb、Ba、Sr、Na、Ca、Ti、Zn、K、Al
及びSiのうち少なくとも2種以上の元素からなるガラ
スを含む組成を有する。
【0013】請求項4に記載の発明は、請求項1に記載
の積層セラミック電子部品の製造方法により得られる積
層セラミック電子部品であって、セラミック焼結体と、
セラミック焼結体内に配置された内部電極と、前記内部
電極に接続されるようにセラミック焼結体の外表面に形
成された外部電極と、外部電極が形成される領域以外に
おいてセラミック焼結体の外表面を被覆するように形成
されており、かつガラスを主成分とする絶縁層とを備え
ることを特徴とする。
【0014】請求項5に記載の発明では、前記セラミッ
ク焼結体が、上面、下面、対向しあう一対の端面及び一
対の側面を有する直方体状の形状を有し、前記一対の端
面を覆うように第1,第2の外部電極がそれぞれ形成さ
れている。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ、本発明
の具体的な実施例を説明することにより、本発明をより
詳細に説明する。
【0016】図1(a)及び(b)は、本発明に係る積
層セラミック電子部品の一実施例としての積層コンデン
サを示す縦断面図及びA−A線に沿う断面図である。以
下、本実施例の積層コンデンサ1の製造方法を、図1〜
図3を参照して説明する。
【0017】積層コンデンサ8を得るにあたっては、ま
ず、誘電体セラミックスを主成分とし、ガラス成分を含
有するガラスリッチな組成のセラミックスラリーを用い
て、セラミックグリーンシートを成形する。
【0018】次に、図2(a)及び(b)に示すよう
に、矩形のセラミックグリーンシート1,2上に、該セ
ラミックグリーンシートの全幅に至るように内部電極
3,4が形成される。内部電極3は、セラミックグリー
ンシート1の一方端縁1aから他方端縁1bに向かっ
て、但し他方端縁1bには至らないように形成されてい
る。
【0019】図2(b)に示すように、内部電極4は、
セラミックグリーンシート2の一方端縁2aから他方端
縁2bに向かって、但し,他方端縁2bには至らないよ
うに形成されている。
【0020】上記内部電極3,4は、AgやNiなどの
導電ペーストをスクリーン印刷などにより付与すること
により形成することができる。もっとも、内部電極3,
4は、蒸着、スパッタリングなどの薄膜形成方法により
形成されていてもよい。
【0021】内部電極3,4は、それぞれ、セラミック
グリーンシート1,2の両側縁1c,1d,2c,2d
に至るように形成されいてる。すなわち、内部電極3,
4は、セラミックグリーンシート1,2の全幅に至るよ
うに形成されている。
【0022】次に、内部電極3,4が形成されたセラミ
ックグリーンシート1,2を、交互に繰り返し積層し、
上下に必要に応じて適宜の枚数の無地のセラミックグリ
ーンシートを積層し、厚み方向に加圧することにより、
未焼成のセラミック積層体を得る。
【0023】上記のようにして得られた未焼成のセラミ
ック積層体を、図3(a)及び(b)に示す。セラミッ
ク積層体5では、内部電極3,4が交互に積層されてお
り、内部電極3,3の端縁は、積層体5の一方端面5a
に突き出されている。また、内部電極4,4の端縁は、
他方端面5bに引き出されている。また、図3(b)に
示すように、内部電極3,3,4,4は、厚み方向に重
なりあっている領域においては、セラミック積層体5の
全幅に至るように形成されている。
【0024】すなわち、内部電極3,4は、セラミック
積層体5の一方の端面5aあるいは5bと、両側面5
c,5dにその端縁が露出している。上記セラミックグ
リーンシートを構成するセラミックスラリーとしては、
ガラス成分として、例えばB、Li、Pb、Ba、S
r、Na、Ca、Ti、Zn、K、Al及びSiのうち
少なくとも2種以上の元素からなるものが用いられる。
【0025】次に、セラミック積層体5を焼成すること
により、セラミック焼結体を得る。このようにして、図
1に示すセラミック焼結体6が得られる。ここで、前述
したセラミック積層体5は、上述したガラス成分を含む
セラミックスを用いて構成されている。従って、セラミ
ック焼結体6においては、焼成に際してガラス成分が外
表面に析出し、ガラス成分を主体とする絶縁層7が形成
される。この絶縁層7は、セラミック焼結体6の全外表
面を覆うように形成される。なお、図1においては、セ
ラミック焼結体6の端面6a,6bでは、絶縁層は形成
されていないが、これは、次に述べる研磨工程で除去さ
れているからである。
【0026】すなわち、上記のようにして得たセラミッ
ク焼結体6の外表面のうち、外部電極の形成が予定され
ている領域、すなわち一対の端面を例えはサンドブラス
トなどにより研磨する。その結果、図1に示すようにセ
ラミック焼結体6の端面6a,6bにおいては、絶縁層
7が除去されている。この研磨により、端面6a,6b
には、内部電極3,3,4,4の端縁が露出されてい
る。
【0027】他方、図1(b)から明らかなように、内
部電極3,4の端縁は、セラミック焼結体6の一対の側
面6c,6dに露出している。しかしながら、上記絶縁
層7によりセラミック焼結体6の側面6c,6dが被覆
されているので、その絶縁性が確保されている。また、
上記絶縁層7は、セラミック焼結体6の上面6e及び下
面6fをも被覆するように形成されている。
【0028】従って、セラミック焼結体6を用いた本実
施例の積層コンデンサ8は、十分な耐電圧特性、水分等
に対する耐シール性を示す。上記のようにして、端面6
a,6 b上の絶縁層を除去した後、図1に示す第1,第
2の外部電極9,10を形成する。外部電極9,10
は、端面6a,6bをそれぞれ覆うように、すなわち内
部電極3または内部電極4に電気的に接続されるように
形成されている。
【0029】外部電極9,10の形成方法については、
特に限定されず、メッキ、蒸着、スパッタリング、導電
ペーストの塗布・焼き付けなどの適宜の方法により行い
得る。
【0030】本実施例の積層コンデンサ8の製造方法に
よれば、上記のように、セラミック焼結体6を得る焼成
工程において、セラミックスに含有されていたガラス成
分が析出し、セラミックスの焼成と同時に絶縁層7が形
成される。従って、上述した先行技術では、絶縁層を形
成するために別途余分な工程を実施する必要があったの
に対し、本実施例の製造方法では、絶縁層7を形成する
ための余分な工程を必要としない。
【0031】また、上記絶縁層7は、セラミック焼結体
6の両側面6c,6dにおいて内部電極3,4の露出部
分を被覆しているだけでなく、上面6e,下面6fをも
被覆しているため、積層コンデンサ8の絶縁耐圧や耐シ
ール性が十分に高められる。
【0032】また、セラミック焼結体6においては、内
部電極3,4は全幅に至るように形成されているので、
すなわちセラミック焼結体6においてはサイドギャップ
領域は設けられていないため、小型化及び大容量化を容
易に図ることができる。
【0033】上記実施例は、積層コンデンサに適用した
例を示したが、本発明は、積層コンデンサ以外の積層イ
ンダクタ、積層バリスタ、積層サーミスタ、積層圧電セ
ラミック部品などの様々な積層セラミック電子部品に同
様に適用することができる。すなわち、本発明は、積層
セラミック電子部品において、内部電極側方にサイドマ
ージン領域を設けずに、セラミック焼結体を得、絶縁を
確保するために焼成に際して上記ガラス成分を主体とす
る絶縁層を同時に形成することを特徴とするものである
ため、内部電極を有する積層型セラミック電子部品に一
般的に適用することができる。
【0034】上記のように、焼成に際しガラス成分を主
体とする絶縁層を形成するには、上述したようにガラス
成分がリッチなセラミックスラリーを用いる必要があ
る。このようなセラミックの組成としては、セラミック
粉末100重量%に対し、ガラス粉末を0.5〜12重
量%程度含むものを用いることが望ましい。ガラス成分
の配合割合が0.5重量%未満の場合には、ガラス成分
を析出させて十分な膜厚の絶縁層を形成することが困難
となることがあり、12重量%を超えると所望の誘電体
が得られないことがある。
【0035】もっとも、上記ガラス成分の配合割合は、
セラミックの焼結性によっても依存するため、セラミッ
ク粉末の焼結性が高い場合には、ガラス成分の含有割合
は上記配合割合よりも少なくてもよい場合がある。
【0036】
【発明の効果】請求項1に記載の発明に係る積層セラミ
ック電子部品の製造方法によれば、セラミック焼結体を
焼成する工程において、セラミック中のガラス成分が外
表面に析出し、それによって絶縁層が形成される。すな
わち、セラミックの焼成と同じ工程で絶縁層が形成され
るので、絶縁層を形成するために余分な工程を必要とし
ない。
【0037】また、従来法では、エッチングや物理的加
工方法により内部電極側端縁近傍を除去していたため、
該工程において内部電極側端縁のばらつきが生じたり、
セラミックスに損傷を与えることがあった。これに対し
て、請求項1に記載の発明に係る製造方法では、このよ
うな処理工程を必要としないため、セラミックスの損傷
が生じ難く、かつ内部電極側端縁の位置のばらつきも生
じ難い。
【0038】従って、サイドギャップ領域を有しないセ
ラミック焼結体を用いて、小型化及び電気的特性の精度
の向上を図り得るだけでなく、煩雑な工程を実施するこ
となく絶縁層を形成することができ、従って、十分な耐
絶縁性に優れた積層セラミック電子部品を容易に提供す
ることができる。
【0039】請求項2に記載の発明では、セラミック積
層体が上面、下面、対向し合う一対の側面及び一対の端
面を有する直方体状の形状を有し、従って、矩形のセラ
ミックグリーンシートに内部電極を介在させて積層する
従来の一般的なセラミック積層一体焼成技術を用い、積
層セラミック電子部品を容易に得ることができる。この
場合、絶縁層は、セラミック焼結体の上面及び下面をも
被覆するように形成されるので、絶縁耐圧、耐シール性
が十分に高められる。
【0040】請求項3に記載の発明では、上記セラミッ
ク積層体を構成するセラミック材料が、B、Li、P
b、Ba、Sr、Na、Ca、Ti、Zn、K、Al及
びSiのうち少なくとも2種以上の元素よりなる組成を
有するため、焼成に際し、ガラス成分がセラミック焼結
体外表面に確実に析出し、絶縁層を安定にかつ確実に形
成することができる。
【0041】請求項4に記載の発明に係る積層セラミッ
ク電子部品では、外部電極が形成される領域以外のセラ
ミック焼結体の外表面が絶縁層で被覆されているので、
絶縁耐圧が効果的に高められる。加えて、請求項1に記
載の発明の製造方法により得られるため、小型化及び静
電容量などの電気的特性の精度の向上を図り得るだけで
なく、セラミックスの損傷も生じ難い。
【0042】また、請求項1に記載の発明の製造方法に
より得ることができるため、比較的簡単な工程で製造す
ることができ、従って積層セラミック電子部品を安価に
提供することができる。
【0043】請求項5に記載の発明では、セラミック積
層体が上面、下面、対向し合う一対の側面及び一対の端
面を有する直方体状の形状を有し、従って、矩形のセラ
ミックグリーンシートを内部電極を介在させて積層する
従来の一般的なセラミック積層一体焼成技術を用い、積
層セラミック電子部品を容易に得ることができる。この
場合、絶縁層は、セラミック焼結体の上面及び下面をも
被覆するように形成されるので、絶縁耐圧や耐シール性
が十分に高められる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)及び(b)は、それぞれ、本発明の一実
施例に係る積層コンデンサの縦断面図及びA−A線に沿
う断面図。
【図2】(a)及び(b)は、それぞれ、未焼成のセラ
ミック積層体を得るのに用いられるセラミックグリーン
シート及びその上に形成される内部電極の形状を説明す
るための各平面図。
【図3】(a)及び(b)は、本発明の一実施例の製造
方法において用意される未焼成のセラミック積層体を説
明するための縦断面図及びA−A線に沿う断面図。
【符号の説明】
1,2…セラミックグリーンシート 3,4…内部電極 5…セラミック積層体 5a,5b…端面 5c,5d…側面 5e…上面 5f…下面 6…セラミック焼結体 6a,6b…端面 6c,6d…側面 6e…上面 6f…下面 7…絶縁層 8…積層コンデンサ 9,10…第1,第2の外部電極
フロントページの続き (72)発明者 小村 好浩 京都府長岡京市天神二丁目26番10号 株式 会社村田製作所内 (72)発明者 安積 健 京都府長岡京市天神二丁目26番10号 株式 会社村田製作所内 (72)発明者 田中 雪夫 京都府長岡京市天神二丁目26番10号 株式 会社村田製作所内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 積層セラミック電子部品の製造方法であ
    って、 外表面に内部電極端縁が露出されており、かつガラス成
    分含有セラミックスを主体とする未焼成のセラミック積
    層体を用意する工程と、 前記セラミック積層体を焼成し、かつ前記セラミック積
    層体中に含有されていたガラス成分を外表面に析出させ
    て外表面がガラスを主成分とする絶縁層で被覆されたセ
    ラミック焼結体を得る工程と、 前記セラミック焼結体の外表面のうち、外部電極が形成
    される領域を研磨し、該領域において絶縁層を除去し、
    内部電極を露出させる工程と、 露出された内部電極に電気的に接続されるように、焼結
    体外表面に外部電極を形成する工程とを備えることを特
    徴とする、積層セラミック電子部品の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記未焼成のセラミック積層体が、上
    面、下面、対向しあう一対の端面及び一対の側面を有す
    る直方体状の形状を有し、前記内部電極端縁がセラミッ
    ク積層体の一つの端面及び両側面に露出されており、 前記外部電極がセラミック焼結体の一対の端面にそれぞ
    れ形成される、請求項1に記載の積層セラミック電子部
    品の製造方法。
  3. 【請求項3】 前記セラミック積層体を構成しているセ
    ラミック材料が、B、Li、Pb、Ba、Sr、Na、
    Ca、Ti、Zn、K、Al及びSiのうち少なくとも
    2種以上の元素からなるガラスを含む組成を有する、請
    求項1または2に記載の積層セラミック電子部品の製造
    方法。
  4. 【請求項4】 請求項1に記載の積層セラミック電子部
    品の製造方法により得られる積層セラミック電子部品で
    あって、 セラミック焼結体と、 セラミック焼結体内に配置された内部電極と、 前記内部電極に接続されるようにセラミック焼結体の外
    表面に形成された外部電極と、 外部電極が形成される領域以外においてセラミック焼結
    体の外表面を被覆するように形成されており、かつガラ
    スを主成分とする絶縁層とを備えることを特徴とする、
    積層セラミック電子部品。
  5. 【請求項5】 前記セラミック焼結体が、上面、下面、
    対向しあう一対の端面及び一対の側面を有する直方体状
    の形状を有し、前記一対の端面を覆うように第1,第2
    の外部電極がそれぞれ形成されている、請求項4に記載
    の積層セラミック電子部品。
JP10140113A 1998-05-21 1998-05-21 積層セラミック電子部品の製造方法及び積層セラミック電子部品 Pending JPH11340089A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10140113A JPH11340089A (ja) 1998-05-21 1998-05-21 積層セラミック電子部品の製造方法及び積層セラミック電子部品

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10140113A JPH11340089A (ja) 1998-05-21 1998-05-21 積層セラミック電子部品の製造方法及び積層セラミック電子部品

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11340089A true JPH11340089A (ja) 1999-12-10

Family

ID=15261226

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10140113A Pending JPH11340089A (ja) 1998-05-21 1998-05-21 積層セラミック電子部品の製造方法及び積層セラミック電子部品

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11340089A (ja)

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001168406A (ja) * 1999-12-08 2001-06-22 Tdk Corp 積層型圧電セラミック電子部品及びその製造方法
US6367134B1 (en) 1999-02-04 2002-04-09 Murata Manufacturing Co., Ltd. Method of producing a ceramic electronic part
JP2002110451A (ja) * 2000-09-28 2002-04-12 Kyocera Corp 積層型電子部品およびその製法
JP2002170736A (ja) * 2000-11-29 2002-06-14 Kyocera Corp 積層型電子部品およびその製法
JP2006216709A (ja) * 2005-02-02 2006-08-17 Murata Mfg Co Ltd 積層型電子部品を内蔵した多層配線基板及び積層型電子部品
JP2010518651A (ja) * 2007-02-13 2010-05-27 エプコス アクチエンゲゼルシャフト 多層素子及び多層素子を製造する方法
JP2010141073A (ja) * 2008-12-11 2010-06-24 Mitsubishi Materials Corp サーミスタ素子の製造方法及びサーミスタ素子
US9218910B2 (en) 2012-12-21 2015-12-22 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor, manufacturing method of the same, and circuit board with multilayer ceramic capacitor mounted thereon
KR20170078101A (ko) 2015-12-29 2017-07-07 삼성전기주식회사 적층 전자 부품
US9966191B2 (en) 2015-09-15 2018-05-08 Tdk Corporation Multilayer electronic component
US10049820B2 (en) 2015-12-29 2018-08-14 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Multilayer electronic component having first and second internal electrode base patterns exposed to different respective end and side surfaces of a body, and method of manufacturing the same
US10090107B2 (en) 2015-12-29 2018-10-02 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Multilayer electronic component having first internal electrode base patterns exposed to an end and opposing side surfaces of a body, and method of manufacturing the same
CN108695051A (zh) * 2017-03-30 2018-10-23 Tdk株式会社 电子部件
US10366837B2 (en) 2016-12-14 2019-07-30 Tdk Corporation Multilayer electronic component
JP2019176176A (ja) * 2019-06-17 2019-10-10 太陽誘電株式会社 積層セラミックコンデンサ
US10446321B2 (en) 2016-12-14 2019-10-15 Tdk Corporation Multilayer electronic component
CN115249585A (zh) * 2021-04-28 2022-10-28 Tdk株式会社 电子零件
CN115249586A (zh) * 2021-04-28 2022-10-28 Tdk株式会社 电子零件

Cited By (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6367134B1 (en) 1999-02-04 2002-04-09 Murata Manufacturing Co., Ltd. Method of producing a ceramic electronic part
JP2001168406A (ja) * 1999-12-08 2001-06-22 Tdk Corp 積層型圧電セラミック電子部品及びその製造方法
JP2002110451A (ja) * 2000-09-28 2002-04-12 Kyocera Corp 積層型電子部品およびその製法
JP2002170736A (ja) * 2000-11-29 2002-06-14 Kyocera Corp 積層型電子部品およびその製法
JP2006216709A (ja) * 2005-02-02 2006-08-17 Murata Mfg Co Ltd 積層型電子部品を内蔵した多層配線基板及び積層型電子部品
JP2010518651A (ja) * 2007-02-13 2010-05-27 エプコス アクチエンゲゼルシャフト 多層素子及び多層素子を製造する方法
JP2010141073A (ja) * 2008-12-11 2010-06-24 Mitsubishi Materials Corp サーミスタ素子の製造方法及びサーミスタ素子
US9218910B2 (en) 2012-12-21 2015-12-22 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor, manufacturing method of the same, and circuit board with multilayer ceramic capacitor mounted thereon
US9966191B2 (en) 2015-09-15 2018-05-08 Tdk Corporation Multilayer electronic component
KR20170078101A (ko) 2015-12-29 2017-07-07 삼성전기주식회사 적층 전자 부품
US10049820B2 (en) 2015-12-29 2018-08-14 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Multilayer electronic component having first and second internal electrode base patterns exposed to different respective end and side surfaces of a body, and method of manufacturing the same
US10090107B2 (en) 2015-12-29 2018-10-02 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Multilayer electronic component having first internal electrode base patterns exposed to an end and opposing side surfaces of a body, and method of manufacturing the same
US10181380B2 (en) 2015-12-29 2019-01-15 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Multilayer electronic component having first and second internal elctrode patterns alternately stacked, and method of manufacturing the same
US10249437B2 (en) 2015-12-29 2019-04-02 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Multilayer electronic component with side parts on external surfaces, and method of manufacturing the same
US10340087B2 (en) 2015-12-29 2019-07-02 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Multilayer electronic component having first internal electrode base patterns exposed to an end and opposing side surfaces of a body, and method of manufacturing the same
US10366837B2 (en) 2016-12-14 2019-07-30 Tdk Corporation Multilayer electronic component
US10446321B2 (en) 2016-12-14 2019-10-15 Tdk Corporation Multilayer electronic component
CN108695051A (zh) * 2017-03-30 2018-10-23 Tdk株式会社 电子部件
JP2018170429A (ja) * 2017-03-30 2018-11-01 Tdk株式会社 電子部品
US10847301B2 (en) 2017-03-30 2020-11-24 Tdk Corporation Electronic component
JP2019176176A (ja) * 2019-06-17 2019-10-10 太陽誘電株式会社 積層セラミックコンデンサ
CN115249585A (zh) * 2021-04-28 2022-10-28 Tdk株式会社 电子零件
CN115249586A (zh) * 2021-04-28 2022-10-28 Tdk株式会社 电子零件
CN115249586B (zh) * 2021-04-28 2024-05-28 Tdk株式会社 电子零件
CN115249585B (zh) * 2021-04-28 2024-06-11 Tdk株式会社 电子零件

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH11340089A (ja) 積層セラミック電子部品の製造方法及び積層セラミック電子部品
TWI436388B (zh) 陶瓷電子零件
US20100202098A1 (en) Ceramic electronic part
KR101463125B1 (ko) 적층형 세라믹 콘덴서
US9232673B2 (en) Ceramic electronic component including coating layer
JP2016189423A (ja) 積層セラミックコンデンサ
JP2020057738A (ja) 電子部品、回路基板、および電子部品の回路基板への実装方法
KR101871281B1 (ko) 적층 세라믹 콘덴서, 적층 세라믹 콘덴서의 실장구조 및 테이핑 연속 전자부품
JP2012253245A (ja) 積層電子部品及び積層電子部品の製造方法
JP2020053577A (ja) 電子部品
JPH10247601A (ja) Ntcサーミスタ素子
JP7322336B2 (ja) 積層型電子部品
JP2012009679A (ja) セラミック電子部品及びその製造方法
JP7460043B2 (ja) 積層セラミック電子部品及びその製造方法
TWI490897B (zh) 多層陶瓷電容器及其製造方法
JP7248363B2 (ja) 積層セラミックキャパシタ及びその製造方法
JPH07122455A (ja) セラミック積層電子部品の製造方法
JPH1012475A (ja) 積層型セラミック電子部品
JPH11273950A (ja) 積層チップコイル部品
JPH11340081A (ja) 積層セラミック電子部品及びその製造方法
JP2000340448A (ja) 積層セラミックコンデンサ
JP2000106322A (ja) 積層セラミックコンデンサ
KR102609156B1 (ko) 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조 방법
JP3706503B2 (ja) 積層型電子部品
JP6935707B2 (ja) 積層セラミックコンデンサ