JPH11281680A - 信号測定方法および装置 - Google Patents
信号測定方法および装置Info
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- JPH11281680A JPH11281680A JP10087610A JP8761098A JPH11281680A JP H11281680 A JPH11281680 A JP H11281680A JP 10087610 A JP10087610 A JP 10087610A JP 8761098 A JP8761098 A JP 8761098A JP H11281680 A JPH11281680 A JP H11281680A
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- JP
- Japan
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- measurement
- signal
- value
- convergence
- sampling
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 電子機器等の完成品検査における測定時間を
短縮する。 【解決手段】 被測定信号３をサンプリング計測装置４
により一定時間毎にサンプリングしてサンプリング測定
値５を求め、この測定値５に対し収束判定のための上限
値と下限値からなる収束判定基準を定め、サンプリング
回数カウンタ１１による各サンプリング時間毎に、測定
値５が収束判定基準内に入ったか否かをＣＰＵ８で調
べ、測定値５が予め定められた収束判定基準内に連続し
て入った回数を収束判定カウンタ１２により計数し、こ
のカウンタ１２の値が予め定めた連続収束回数と一致し
た時点でＣＰＵ８が収束と判定し、その時点における測
定値５を真の測定値とする。これにより、出力が安定し
た否かを短時間で判定することができ、測定時間の短縮
が可能になる。
短縮する。 【解決手段】 被測定信号３をサンプリング計測装置４
により一定時間毎にサンプリングしてサンプリング測定
値５を求め、この測定値５に対し収束判定のための上限
値と下限値からなる収束判定基準を定め、サンプリング
回数カウンタ１１による各サンプリング時間毎に、測定
値５が収束判定基準内に入ったか否かをＣＰＵ８で調
べ、測定値５が予め定められた収束判定基準内に連続し
て入った回数を収束判定カウンタ１２により計数し、こ
のカウンタ１２の値が予め定めた連続収束回数と一致し
た時点でＣＰＵ８が収束と判定し、その時点における測
定値５を真の測定値とする。これにより、出力が安定し
た否かを短時間で判定することができ、測定時間の短縮
が可能になる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、オーディオ機器等
における被測定信号が、測定条件によって多様に変化し
た後に一定レベルに収束し、この収束した時に真の測定
値を求める信号測定方法および装置に関する。
における被測定信号が、測定条件によって多様に変化し
た後に一定レベルに収束し、この収束した時に真の測定
値を求める信号測定方法および装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４は従来のこの種の信号測定装置の概
略構成を示している。図４において、１０１はラジオ等
の被試験物であり、１０２は被試験物１０１に対し種々
の測定を行うための信号を入力する信号変換部であり、
ボタンプッシュ機構やボリューム回転機構等を備えてい
る。１０４は被試験物１からの被測定信号１０３をサン
プリングしてサンプリング測定値１０５を出力するサン
プリング計測装置である。１０６はコントローラであ
り、入力回路１０７、ＣＰＵ１０８、比較・判断プログ
ラムを格納したＲＯＭ１０９、出力回路１１０等を備え
ている。出力回路１１０は、信号変換部１０２に対して
制御信号ａを出力し、サンプリング計測装置１０４に対
しては、サンプリング動作を開始させるためのサンプリ
ング要求信号ｂおよび種々の測定条件を設定するための
条件設定信号ｃを出力する。
略構成を示している。図４において、１０１はラジオ等
の被試験物であり、１０２は被試験物１０１に対し種々
の測定を行うための信号を入力する信号変換部であり、
ボタンプッシュ機構やボリューム回転機構等を備えてい
る。１０４は被試験物１からの被測定信号１０３をサン
プリングしてサンプリング測定値１０５を出力するサン
プリング計測装置である。１０６はコントローラであ
り、入力回路１０７、ＣＰＵ１０８、比較・判断プログ
ラムを格納したＲＯＭ１０９、出力回路１１０等を備え
ている。出力回路１１０は、信号変換部１０２に対して
制御信号ａを出力し、サンプリング計測装置１０４に対
しては、サンプリング動作を開始させるためのサンプリ
ング要求信号ｂおよび種々の測定条件を設定するための
条件設定信号ｃを出力する。
【０００３】次に上記のように構成された信号測定装置
の動作について説明する。スタートスイッチをオンする
と、予めＲＯＭ１０９に格納されている比較・判断プロ
グラムがＣＰＵ１０８により読み出され、出力回路１１
０からの制御信号ａおよび条件設定信号ｃにより規定さ
れた条件で測定が開始される。被試験物１０１は、信号
変換部１０２からの信号に基づいて動作し、その出力信
号である被測定信号１０３がサンプリング計測装置１０
４に入力される。サンプリング計測装置１０４では、そ
の出力であるサンプリング測定値１０５が安定した後
に、サンプリング要求信号ｂによりサンプリングが開始
され、その時のサンプリング測定値１０５がコントロー
ラ１０６の入力回路１０７に入力され、図示されない表
示器に測定値として表示されるとともに、メモリに記憶
される。このような動作が、プログラムに設定されたす
べての検査項目について繰り返される。
の動作について説明する。スタートスイッチをオンする
と、予めＲＯＭ１０９に格納されている比較・判断プロ
グラムがＣＰＵ１０８により読み出され、出力回路１１
０からの制御信号ａおよび条件設定信号ｃにより規定さ
れた条件で測定が開始される。被試験物１０１は、信号
変換部１０２からの信号に基づいて動作し、その出力信
号である被測定信号１０３がサンプリング計測装置１０
４に入力される。サンプリング計測装置１０４では、そ
の出力であるサンプリング測定値１０５が安定した後
に、サンプリング要求信号ｂによりサンプリングが開始
され、その時のサンプリング測定値１０５がコントロー
ラ１０６の入力回路１０７に入力され、図示されない表
示器に測定値として表示されるとともに、メモリに記憶
される。このような動作が、プログラムに設定されたす
べての検査項目について繰り返される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の信号測定装置では、サンプリング計測装置１０４の
出力が安定するまで、予め測定条件によって推定された
時間だけ待たなければならず、測定に時間がかかるとい
う問題があった。例えば、図５に示すように、スタート
スイッチオンによる測定要求が発生した後、実際にはＴ
ｓ時間後に出力が安定して測定が可能になるにも拘ら
ず、測定条件によるばらつきを考慮して長目に設定され
たＴｒ時間だけ待たなければならず、（Ｔｒ−Ｔｓ）時
間が無駄な待ち時間となって測定時間を延長させてい
た。
来の信号測定装置では、サンプリング計測装置１０４の
出力が安定するまで、予め測定条件によって推定された
時間だけ待たなければならず、測定に時間がかかるとい
う問題があった。例えば、図５に示すように、スタート
スイッチオンによる測定要求が発生した後、実際にはＴ
ｓ時間後に出力が安定して測定が可能になるにも拘ら
ず、測定条件によるばらつきを考慮して長目に設定され
たＴｒ時間だけ待たなければならず、（Ｔｒ−Ｔｓ）時
間が無駄な待ち時間となって測定時間を延長させてい
た。
【０００５】本発明は、このような従来の問題を解決す
るものであり、測定時間を短縮することのできる信号測
定方法およびその装置を提供することを目的とする。
るものであり、測定時間を短縮することのできる信号測
定方法およびその装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、被測定信号を一定間隔でサンプリングし
て得られた測定値に対し、収束判定のための上限値と下
限値からなる収束判定基準を定め、次のサンプリング時
間における測定値が、その収束判定基準内に連続して所
定回数入った場合に収束と判定するようにしたものであ
る。これにより、測定終了までの不必要な待ち時間をな
くすことができ、測定時間を短縮することができる。
成するために、被測定信号を一定間隔でサンプリングし
て得られた測定値に対し、収束判定のための上限値と下
限値からなる収束判定基準を定め、次のサンプリング時
間における測定値が、その収束判定基準内に連続して所
定回数入った場合に収束と判定するようにしたものであ
る。これにより、測定終了までの不必要な待ち時間をな
くすことができ、測定時間を短縮することができる。
【０００７】
【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の発明
は、被測定信号が測定条件によって多様に変化し、一定
レベルに収束した後に真の測定を行う信号測定方法にお
いて、被測定信号を一定時間毎にサンプリングして測定
値を求め、前記測定値に対し収束判定のための上限値と
下限値からなる収束判定基準を定め、次のサンプリング
時間における測定値が前記収束判定基準内に入ったか否
かを調べ、収束判定基準内に連続した入った回数が予め
定めた回数と一致した時点で収束と判定する信号測定方
法であり、測定値が収束判定基準内に連続して何回入っ
たかを計数するだけで、出力が安定した否かを判定する
ことができ、無駄な待ち時間を省いて測定時間を短縮す
ることができるという作用を有する。
は、被測定信号が測定条件によって多様に変化し、一定
レベルに収束した後に真の測定を行う信号測定方法にお
いて、被測定信号を一定時間毎にサンプリングして測定
値を求め、前記測定値に対し収束判定のための上限値と
下限値からなる収束判定基準を定め、次のサンプリング
時間における測定値が前記収束判定基準内に入ったか否
かを調べ、収束判定基準内に連続した入った回数が予め
定めた回数と一致した時点で収束と判定する信号測定方
法であり、測定値が収束判定基準内に連続して何回入っ
たかを計数するだけで、出力が安定した否かを判定する
ことができ、無駄な待ち時間を省いて測定時間を短縮す
ることができるという作用を有する。
【０００８】本発明の請求項２に記載の発明は、収束判
定基準の値を測定値に応じて変化させることを特徴とす
る請求項１記載の信号測定方法であり、測定値の値が大
きい場合は収束判定基準を広くし、値が小さい場合は収
束判定基準を狭くすることができるという作用を有す
る。
定基準の値を測定値に応じて変化させることを特徴とす
る請求項１記載の信号測定方法であり、測定値の値が大
きい場合は収束判定基準を広くし、値が小さい場合は収
束判定基準を狭くすることができるという作用を有す
る。
【０００９】本発明の請求項３に記載の発明は、被測定
信号が測定条件によって多様に変化し、一定レベルに収
束した後に真の測定を行う信号測定装置において、被測
定信号を一定時間毎にサンプリングして測定値を求める
手段と、前記測定値が予め定められた収束判定基準内に
連続して入った回数を計数する手段と、前記計数した回
数が予め定めた回数と一致した時点で収束と判定する手
段とを備えた信号測定装置であり、測定値が収束判定基
準内に連続して何回入ったかを計数するだけで、出力が
安定した否かを判定することができ、無駄な待ち時間を
省いて測定時間を短縮することができるという作用を有
する。
信号が測定条件によって多様に変化し、一定レベルに収
束した後に真の測定を行う信号測定装置において、被測
定信号を一定時間毎にサンプリングして測定値を求める
手段と、前記測定値が予め定められた収束判定基準内に
連続して入った回数を計数する手段と、前記計数した回
数が予め定めた回数と一致した時点で収束と判定する手
段とを備えた信号測定装置であり、測定値が収束判定基
準内に連続して何回入ったかを計数するだけで、出力が
安定した否かを判定することができ、無駄な待ち時間を
省いて測定時間を短縮することができるという作用を有
する。
【００１０】本発明の請求項４に記載の発明は、収束判
定基準の値を測定値に応じて変化させることを特徴とす
る請求項３記載の信号測定装置であり、測定値の値が大
きい場合は収束判定基準を広くし、値が小さい場合は収
束判定基準を狭くすることができるという作用を有す
る。
定基準の値を測定値に応じて変化させることを特徴とす
る請求項３記載の信号測定装置であり、測定値の値が大
きい場合は収束判定基準を広くし、値が小さい場合は収
束判定基準を狭くすることができるという作用を有す
る。
【００１１】（実施の形態）以下、本発明の実施の形態
を図面を参照して説明する。図１は本実施の形態におけ
る信号測定装置の概略構成を示すものである。図１にお
いて、１はラジオ等の被試験物であり、２は被試験物１
に対し種々の測定を行うための信号を入力する信号変換
部であり、ボタンプッシュ機構やボリューム回転機構等
を備えている。４は被試験物１からの被測定信号３をサ
ンプリングしてサンプリング測定値５を出力するサンプ
リング計測装置である。６はコントローラであり、入力
回路６、ＣＰＵ７、比較・判断プログラムを格納したＲ
ＯＭ９、出力回路１０、サンプリング回数カウンタ１１
および収束判定カウンタ１２等を備えている。出力回路
１０は、信号変換部２に対して制御信号ａを出力し、サ
ンプリング計測装置４に対しては、サンプリング動作を
開始させるためのサンプリング要求信号ｂおよび種々の
測定条件を設定するための条件設定信号ｃを出力する。
を図面を参照して説明する。図１は本実施の形態におけ
る信号測定装置の概略構成を示すものである。図１にお
いて、１はラジオ等の被試験物であり、２は被試験物１
に対し種々の測定を行うための信号を入力する信号変換
部であり、ボタンプッシュ機構やボリューム回転機構等
を備えている。４は被試験物１からの被測定信号３をサ
ンプリングしてサンプリング測定値５を出力するサンプ
リング計測装置である。６はコントローラであり、入力
回路６、ＣＰＵ７、比較・判断プログラムを格納したＲ
ＯＭ９、出力回路１０、サンプリング回数カウンタ１１
および収束判定カウンタ１２等を備えている。出力回路
１０は、信号変換部２に対して制御信号ａを出力し、サ
ンプリング計測装置４に対しては、サンプリング動作を
開始させるためのサンプリング要求信号ｂおよび種々の
測定条件を設定するための条件設定信号ｃを出力する。
【００１２】次に上記のように構成された信号測定装置
のＣＰＵ８における動作について、図２のフロー図を用
いて説明する。スタートスイッチをオンすると、予めＲ
ＯＭ９に格納されている比較・判断プログラムが読み出
され、出力回路１０からの制御信号ａにより信号変換部
２が被検査物１を動作させ、サンプリング計測装置４が
動作状態となる。次に、図示されない操作部から初期レ
ンジ値Ａ、最大サンプリング回数Ｂ、収束範囲（％）Ｃ
および連続収束回数Ｄを入力し、内部パラメータである
サンプリング回数カウンタ１１の値Ｅ、収束判定カウン
タ１２の値Ｆ、収束判定の上限値Ｇ、および収束判定の
下限値Ｈをクリアする（ステップ２１）。次に、被試験
物１からの被測定信号３をサンプリング計測装置４でサ
ンプリングしたサンプリング測定値５の信号レベル値Ｘ
ｉを測定し（ステップ２２）、サンプリング回数カウン
タ１１を１だけインクリメントする（ステップ２３）。
次に、測定された信号レベル値Ｘｉが上限値Ｇおよび下
限値Ｈの範囲に入っているかどうかを調べ（ステップ２
４）、入っていなければ、収束判定カウンタ１２の値Ｆ
を０にリセットする（ステップ２５）。次に、上限値Ｇ
および下限値Ｈの範囲から外れた信号レベル値Ｘｉに対
し一定の収束範囲Ｃを乗じて上限値Ｇおよび下限値Ｈを
更新し（ステップ２６）、次のサンプル時間における信
号レベル値Ｘｉを求め、同様な処理を繰り返す。
のＣＰＵ８における動作について、図２のフロー図を用
いて説明する。スタートスイッチをオンすると、予めＲ
ＯＭ９に格納されている比較・判断プログラムが読み出
され、出力回路１０からの制御信号ａにより信号変換部
２が被検査物１を動作させ、サンプリング計測装置４が
動作状態となる。次に、図示されない操作部から初期レ
ンジ値Ａ、最大サンプリング回数Ｂ、収束範囲（％）Ｃ
および連続収束回数Ｄを入力し、内部パラメータである
サンプリング回数カウンタ１１の値Ｅ、収束判定カウン
タ１２の値Ｆ、収束判定の上限値Ｇ、および収束判定の
下限値Ｈをクリアする（ステップ２１）。次に、被試験
物１からの被測定信号３をサンプリング計測装置４でサ
ンプリングしたサンプリング測定値５の信号レベル値Ｘ
ｉを測定し（ステップ２２）、サンプリング回数カウン
タ１１を１だけインクリメントする（ステップ２３）。
次に、測定された信号レベル値Ｘｉが上限値Ｇおよび下
限値Ｈの範囲に入っているかどうかを調べ（ステップ２
４）、入っていなければ、収束判定カウンタ１２の値Ｆ
を０にリセットする（ステップ２５）。次に、上限値Ｇ
および下限値Ｈの範囲から外れた信号レベル値Ｘｉに対
し一定の収束範囲Ｃを乗じて上限値Ｇおよび下限値Ｈを
更新し（ステップ２６）、次のサンプル時間における信
号レベル値Ｘｉを求め、同様な処理を繰り返す。
【００１３】ステップ２４で、測定された信号レベル値
Ｘｉが上限値Ｇおよび下限値Ｈの範囲に入っている場合
には、収束判定カウンタ１２の値Ｆを１だけインクリメ
ントし（ステップ２８）、その回数が予め設定した連続
収束回数Ｄに到達した場合は（ステップ２９）、測定値
が収束したものと判定し、その時点におけるサンプリン
グ測定値５をコントローラ６の入力回路７に入力して、
図示されない表示器に表示するとともにメモリに記憶す
る。測定された信号レベル値Ｘｉが上限値Ｇおよび下限
値Ｈの範囲に入っている回数が、予め設定した連続収束
回数Ｄに到達しない場合は、上記の処理を繰り返すとと
もに、サンプリング回数カウンタ１１の値Ｅが予め設定
した最大サンプリング回数Ｂになった場合は（ステップ
２７）、収束しないものとして処理を終了する。このよ
うな動作が、プログラムに設定されたすべての測定項目
について繰り返される。
Ｘｉが上限値Ｇおよび下限値Ｈの範囲に入っている場合
には、収束判定カウンタ１２の値Ｆを１だけインクリメ
ントし（ステップ２８）、その回数が予め設定した連続
収束回数Ｄに到達した場合は（ステップ２９）、測定値
が収束したものと判定し、その時点におけるサンプリン
グ測定値５をコントローラ６の入力回路７に入力して、
図示されない表示器に表示するとともにメモリに記憶す
る。測定された信号レベル値Ｘｉが上限値Ｇおよび下限
値Ｈの範囲に入っている回数が、予め設定した連続収束
回数Ｄに到達しない場合は、上記の処理を繰り返すとと
もに、サンプリング回数カウンタ１１の値Ｅが予め設定
した最大サンプリング回数Ｂになった場合は（ステップ
２７）、収束しないものとして処理を終了する。このよ
うな動作が、プログラムに設定されたすべての測定項目
について繰り返される。
【００１４】図３は上記の処理を図解したものである。
図３において、サンプリング時間をΔｔとし、連続収束
回数Ｄを４回とする。まず測定要求が発生した時点にお
けるサンプリング測定値５の信号レベル値がＸ1 とする
と、このＸ1 に対する上限値Ｇ1 および下限値Ｈ1 が設
定され、次のサンプリング時間におけるＸ2 がこの範囲
に入っているかどうかを調べる。そしてこの範囲内に入
っていれば、収束判定カウンタ１２の値を１つずつ繰り
上げ、入っていなければ収束判定カウンタ１２の値は０
のままとする。このような処理をサンプリング回数カウ
ンタ１１の値を１ずつ繰り上げながら行い、収束判定カ
ウンタ１２の値Ｆが４すなわち連続収束回数Ｄ＝４にな
った時点で処理を終了し、その時点における信号レベル
値Ｘｉを測定値として出力する。この結果、測定時間は
Ｔｓになり、従来の測定時間Ｔｒよりも短縮することが
できる。
図３において、サンプリング時間をΔｔとし、連続収束
回数Ｄを４回とする。まず測定要求が発生した時点にお
けるサンプリング測定値５の信号レベル値がＸ1 とする
と、このＸ1 に対する上限値Ｇ1 および下限値Ｈ1 が設
定され、次のサンプリング時間におけるＸ2 がこの範囲
に入っているかどうかを調べる。そしてこの範囲内に入
っていれば、収束判定カウンタ１２の値を１つずつ繰り
上げ、入っていなければ収束判定カウンタ１２の値は０
のままとする。このような処理をサンプリング回数カウ
ンタ１１の値を１ずつ繰り上げながら行い、収束判定カ
ウンタ１２の値Ｆが４すなわち連続収束回数Ｄ＝４にな
った時点で処理を終了し、その時点における信号レベル
値Ｘｉを測定値として出力する。この結果、測定時間は
Ｔｓになり、従来の測定時間Ｔｒよりも短縮することが
できる。
【００１５】このように、上記実施の形態によれば、被
測定信号３をサンプリング計測装置４により一定時間毎
にサンプリングしてサンプリング測定値５を求め、この
測定値５に対し収束判定のための上限値Ｇと下限値Ｈか
らなる収束判定基準を定め、サンプリング回数カウンタ
１１による各サンプリング時間毎に、測定値５が収束判
定基準内に入ったか否かをＣＰＵ８で調べ、測定値５が
予め定められた収束判定基準内に連続して入った回数を
収束判定カウンタ１２により計数し、このカウンタ１２
の値Ｆが予め定めた連続収束回数Ｄと一致した時点でＣ
ＰＵ８が収束と判定するようにしたので、測定値５が収
束判定基準内に連続して何回入ったかを計数するだけ
で、出力が安定した否かを判定することができる。
測定信号３をサンプリング計測装置４により一定時間毎
にサンプリングしてサンプリング測定値５を求め、この
測定値５に対し収束判定のための上限値Ｇと下限値Ｈか
らなる収束判定基準を定め、サンプリング回数カウンタ
１１による各サンプリング時間毎に、測定値５が収束判
定基準内に入ったか否かをＣＰＵ８で調べ、測定値５が
予め定められた収束判定基準内に連続して入った回数を
収束判定カウンタ１２により計数し、このカウンタ１２
の値Ｆが予め定めた連続収束回数Ｄと一致した時点でＣ
ＰＵ８が収束と判定するようにしたので、測定値５が収
束判定基準内に連続して何回入ったかを計数するだけ
で、出力が安定した否かを判定することができる。
【００１６】なお、上記実施の形態では、上限値Ｇおよ
び下限値Ｈを、図２のステップ２６のように、測定され
た信号レベル値Ｘｉに応じて更新しているが、その際に
収束範囲Ｃを一定の比率でなく、徐々に厳しくなるよう
に変化させてもよい。こうすることにより、測定精度を
高めることができる。また、逆に、上限値Ｇおよび下限
値Ｈを測定された信号レベル値Ｘｉに応じて更新するこ
となく、信号レベル値Ｘｉに一定の数値を加えたり減じ
たりすることにより、上限値Ｇおよび下限値Ｈを設定す
るようにしてもよい。どのような方法を取るかは、測定
精度との兼ね合いによる。
び下限値Ｈを、図２のステップ２６のように、測定され
た信号レベル値Ｘｉに応じて更新しているが、その際に
収束範囲Ｃを一定の比率でなく、徐々に厳しくなるよう
に変化させてもよい。こうすることにより、測定精度を
高めることができる。また、逆に、上限値Ｇおよび下限
値Ｈを測定された信号レベル値Ｘｉに応じて更新するこ
となく、信号レベル値Ｘｉに一定の数値を加えたり減じ
たりすることにより、上限値Ｇおよび下限値Ｈを設定す
るようにしてもよい。どのような方法を取るかは、測定
精度との兼ね合いによる。
【００１７】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、被測定
信号を一定間隔でサンプリングして得られた測定値に対
し、収束判定のための上限値と下限値からなる収束判定
基準を定め、次のサンプリング時間における測定値が、
その収束判定基準内に連続して所定回数入った場合に収
束と判定するようにしたので、測定終了までの不必要な
待ち時間をなくすことができ、測定時間を短縮すること
ができる。
信号を一定間隔でサンプリングして得られた測定値に対
し、収束判定のための上限値と下限値からなる収束判定
基準を定め、次のサンプリング時間における測定値が、
その収束判定基準内に連続して所定回数入った場合に収
束と判定するようにしたので、測定終了までの不必要な
待ち時間をなくすことができ、測定時間を短縮すること
ができる。
【図１】本発明の実施の形態における信号測定装置の概
略構成を示すブロック図
略構成を示すブロック図
【図２】実施の形態における動作を示すフロー図
【図３】実施の形態における動作を示す信号波形図
【図４】従来例における信号測定装置の概略構成を示す
ブロック図
ブロック図
【図５】従来例における動作を示す信号波形図
１ 被試験物 ２ 信号変換部 ３ 被測定信号 ４ サンプリング計測装置 ５ サンプリング測定値 ６ コントローラ ７ 入力回路 ８ ＣＰＵ ９ ＲＯＭ １０ 出力回路 １１ サンプリング回数カウンタ １２ 収束判定カウンタ
Claims (4)
- 【請求項１】 被測定信号が測定条件によって多様に変
化し、一定レベルに収束した後に真の測定を行う信号測
定方法において、被測定信号を一定時間毎にサンプリン
グして測定値を求め、前記測定値に対し収束判定のため
の上限値と下限値からなる収束判定基準を定め、次のサ
ンプリング時間における測定値が前記収束判定基準内に
入ったか否かを調べ、収束判定基準内に連続した入った
回数が予め定めた回数と一致した時点で収束と判定する
信号測定方法。 - 【請求項２】 収束判定基準の値を測定値に応じて変化
させることを特徴とする請求項１記載の信号測定方法。 - 【請求項３】 被測定信号が測定条件によって多様に変
化し、一定レベルに収束した後に真の測定を行う信号測
定装置において、被測定信号を一定時間毎にサンプリン
グして測定値を求める手段と、前記測定値が予め定めら
れた収束判定基準内に連続して入った回数を計数する手
段と、前記計数した回数が予め定めた回数と一致した時
点で収束と判定する手段とを備えた信号測定装置。 - 【請求項４】 収束判定基準の値を測定値に応じて変化
させることを特徴とする請求項３記載の信号測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10087610A JPH11281680A (ja) | 1998-03-31 | 1998-03-31 | 信号測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10087610A JPH11281680A (ja) | 1998-03-31 | 1998-03-31 | 信号測定方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11281680A true JPH11281680A (ja) | 1999-10-15 |
Family
ID=13919749
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10087610A Pending JPH11281680A (ja) | 1998-03-31 | 1998-03-31 | 信号測定方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11281680A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011058961A (ja) * | 2009-09-10 | 2011-03-24 | Nissan Motor Co Ltd | 電池制御装置および電池の内部抵抗推定方法 |
-
1998
- 1998-03-31 JP JP10087610A patent/JPH11281680A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011058961A (ja) * | 2009-09-10 | 2011-03-24 | Nissan Motor Co Ltd | 電池制御装置および電池の内部抵抗推定方法 |
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