JPH11241916A - Height measuring method, height data processing method, and height measuring device - Google Patents

Height measuring method, height data processing method, and height measuring device

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JPH11241916A
JPH11241916A JP4273098A JP4273098A JPH11241916A JP H11241916 A JPH11241916 A JP H11241916A JP 4273098 A JP4273098 A JP 4273098A JP 4273098 A JP4273098 A JP 4273098A JP H11241916 A JPH11241916 A JP H11241916A
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flat portion
image
light
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Mitsumasa Okabayashi
光正 岡林
Sumio Goto
純夫 後藤
Masaru Saito
勝 斉藤
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Juki Corp
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Juki Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a height measuring method significantly improve in processing cycle time (tact time), thus allowing precise height measurement. SOLUTION: The height of a cream solder part printed on a wiring board is measured by light-section method. A first line beam is projected to a flat part near the cream solder to take its image 112. A second line beam is successively projected to the cream solder part to take its images 113a, 113b. On the basis of the height of the flat part determined from the first line beam image 112, the height of the cream solder part 113a is determined. According to this structure, since the height data of the cream solder part 113a is determined on the basis of the height data of the flat part 112 different from the flat part 113b having the cream solder formed thereon, it is not required to find the height data of the flat part 113b prior to the printing of the cream solder, and the processing cycle time can be remarkably improved.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、高さ測定方法、高
さデータ処理方法及び高さ測定装置、更に詳細には、表
面実装システムに用いられるクリーム半田印刷機によっ
て印刷されたクリーム半田など微細な高さを測定する高
さ測定方法、高さデータ処理方法及び高さ測定装置に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a height measuring method, a height data processing method, and a height measuring device, and more particularly, to a fine solder paste printed by a cream solder printing machine used in a surface mounting system. The present invention relates to a height measuring method, a height data processing method, and a height measuring device for measuring a height.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から三次元形状を認識して高さを測
定する装置として光切断法を用いた三次元認識装置が知
られている。この光切断法による三次元認識装置を図1
4に示す。光源であるライン光発生器121からのライ
ン光122が被測定物123の斜め上方から所定の角度
で投光され、被測定物123の表面に形成された面形状
に沿ってできた像が垂直上方よりCCDカメラ124で
撮影される。CCDカメラ124で撮影した画像はCC
Dカメラ制御器125でA/D変換され、画像取込み器
126で取込まれる。そして、その取込まれたデータは
座標演算器127によって被測定物123の三次元座標
に変換される。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a device for recognizing a three-dimensional shape and measuring a height, a three-dimensional recognition device using a light section method has been known. Fig. 1 shows a three-dimensional recognition device using this light-section method.
It is shown in FIG. Line light 122 from a line light generator 121, which is a light source, is projected at a predetermined angle from obliquely above the DUT 123, and an image formed along the surface shape formed on the surface of the DUT 123 is vertical. Photographed by the CCD camera 124 from above. The image taken by the CCD camera 124 is CC
The data is A / D converted by the D camera controller 125 and captured by the image capturing unit 126. Then, the captured data is converted into three-dimensional coordinates of the device 123 by the coordinate calculator 127.

【0003】クリーム半田印刷機に組込んで使用するよ
うなクリーム半田高さ測定装置においては、図14で点
線で囲まれた部分(測定ユニット)128が、XY移動
ガントリー(XY移動機構)に組み込まれて使用され
る。まずクリーム半田印刷機に印刷用の配線基板が搬入
されると、配線基板とステンシルの位置決め完了後に、
XY移動ガントリーによって、初期待避位置から目的と
する測定位置まで測定ユニット128が移動される。そ
して、測定ユニットは被測定物である配線基板上のパッ
ド面(レジスト面)に形成されるライン光の像を、CC
Dカメラ124によって撮像してから初期待避位置に再
び移動待避する。次に配線基板のパッド面にクリーム半
田が印刷される。配線基板のパッド面への印刷が完了し
た後に、再びXY移動ガントリーによって測定ユニット
128が目的とする測定位置まで移動されて、クリーム
半田の形状に沿ってできたライン光の像を、CCDカメ
ラ124によって撮像してから、初期待避位置に再び移
動待避する。
In a cream solder height measuring apparatus which is used by being incorporated in a cream solder printing machine, a portion (measurement unit) 128 surrounded by a dotted line in FIG. 14 is incorporated in an XY moving gantry (XY moving mechanism). Used. First, when the wiring board for printing is carried into the cream solder printing machine, after the positioning of the wiring board and the stencil is completed,
The measurement unit 128 is moved by the XY moving gantry from the initial expected evacuation position to the target measurement position. Then, the measurement unit converts the image of the line light formed on the pad surface (resist surface) on the wiring substrate, which is the object to be measured, into CC.
After the image is taken by the D camera 124, it is moved and evacuated again to the first expected evacuation position. Next, cream solder is printed on the pad surface of the wiring board. After the printing on the pad surface of the wiring board is completed, the measuring unit 128 is again moved to the target measuring position by the XY moving gantry, and the image of the line light formed along the shape of the cream solder is transferred to the CCD camera 124. And then re-evacuate to the first expected escape position again.

【0004】以上の撮像データから、配線基板のパッド
面の高さ方向の重心位置座標と、クリーム半田部の高さ
方向の重心位置座標を計算する。そして、配線基板のパ
ッド面の高さ方向の重心位置座標とクリーム半田部の高
さ方向の重心位置座標の差し引きから、配線基板のパッ
ド面を基準として、印刷後のクリーム半田部の高さを算
出する。そして各パッド面にわたるクリーム半田部の平
均高さを算出する。
From the above image data, the coordinates of the center of gravity of the pad surface of the wiring board in the height direction and the coordinates of the center of gravity of the cream solder portion in the height direction are calculated. Then, the subtraction between the coordinates of the center of gravity of the pad surface of the wiring board in the height direction and the coordinates of the center of gravity of the cream solder portion in the height direction is used to calculate the height of the cream solder portion after printing with reference to the pad surface of the wiring board. calculate. Then, the average height of the cream solder portion over each pad surface is calculated.

【0005】三次元形状を得るためには、光切断位置を
変えた複数のデータが必要となる。例えば長さが2mm
のパッドに印刷されたクリーム半田の三次元形状を得る
ために、50μmのピッチで光切断を行うとする。この
場合は、クリーム半田の印刷前に、配線基板のパッド面
に形成されるライン光の像をCCDカメラによって、光
切断の位置を変えながら40回撮像する。さらに、クリ
ーム半田の印刷後に、クリーム半田の形状に沿って形成
されたライン光の像を、CCDカメラで光切断の位置を
変えながら40回撮像する必要がある。従って、CCD
カメラによる撮像回数の合計は80回となる。同じく、
測定ユニットの微小移動回数の合計も80回となる。
[0005] In order to obtain a three-dimensional shape, a plurality of data at different light-cut positions are required. For example, the length is 2mm
It is assumed that light cutting is performed at a pitch of 50 μm in order to obtain a three-dimensional shape of the cream solder printed on the pad. In this case, before printing the cream solder, the image of the line light formed on the pad surface of the wiring board is imaged 40 times by the CCD camera while changing the light cutting position. Further, after printing the cream solder, it is necessary to image the line light image formed along the shape of the cream solder 40 times while changing the light cutting position by the CCD camera. Therefore, CCD
The total number of times of imaging by the camera is 80 times. Similarly,
The total number of minute movements of the measurement unit is also 80.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
クリーム半田印刷機に組込んで使用するようなクリーム
半田の高さ測定装置においては、印刷前のライン光の像
と印刷後のライン光の像をCCDカメラで撮像してクリ
ーム半田の高さを算出しなければならない。このために
タクトタイムが長くなり、半導体の表面実装システム全
体の性能を下げてしまうという問題点があった。
However, in a cream solder height measuring device that is used by being incorporated in a conventional cream solder printing machine, an image of a line light before printing and an image of a line light after printing are used. Must be imaged with a CCD camera to calculate the height of the cream solder. For this reason, there has been a problem that the tact time is lengthened and the performance of the entire semiconductor surface mounting system is reduced.

【0007】さらに、光切断の位置を微小に変えるにも
CCDカメラが搭載された重い測定ユニットを移動しな
ければならず、XY移動ガントリーに対しては、目的と
する測定位置までのスキップ機能と、測定目的位置での
微小移動という二つの機能を持たせねばならず、XY移
動ガントリー駆動用のサーボ系が複雑になるという問題
点があった。
In addition, a heavy measuring unit equipped with a CCD camera must be moved to minutely change the position of light cutting. For an XY moving gantry, a skip function to a target measuring position is provided. In addition, there is a problem that the servo system for driving the XY movement gantry must be provided with two functions, that is, a minute movement at a measurement target position.

【0008】従って、本発明は、このような問題を解決
するためになされたもので、タクトタイムを大幅に向上
させて正確な高さを測定することが可能な高さ測定方
法、高さデータ処理方法及び高さ測定装置を提供するこ
とをその課題とする。
Accordingly, the present invention has been made to solve such a problem, and a height measuring method and a height data capable of measuring an accurate height by greatly improving a tact time. It is an object to provide a processing method and a height measuring device.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明は、この課題を解
決するために、平坦部から突出する突出物を有する被測
定物にライン光を投光し、ライン光によって切断される
平坦部及び突出物を撮像して光切断法により平坦部から
の突出物の高さを測定する高さ測定方法において、突出
物近傍の平坦部に第1のライン光を投光してその像を撮
像し、突出物に第2のライン光を投光してその像を撮像
し、第2のライン光の像から求められる突出物の高さを
第1のライン光の像から求められる平坦部の高さを基準
にして算出する構成を採用している。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a method for projecting line light onto an object to be measured having a projection projecting from a flat portion, and a flat portion cut by the line light; In a height measuring method for imaging a protrusion and measuring the height of the protrusion from a flat portion by a light cutting method, a first line light is projected on a flat portion near the protrusion to capture an image of the image. Projecting the second line light onto the protrusion, capturing an image of the second line light, and setting the height of the protrusion obtained from the image of the second line light to the height of the flat portion obtained from the image of the first line light. The calculation is performed based on the distance.

【0010】このような構成では、突出物が既に形成さ
れている被測定物の平坦部の高さデータを基準にして突
出物の高さデータが算出されるので、突出物が形成され
る前の平坦部の高さデータを求める必要がなく、平坦部
に突出物を形成するごとに突出物の高さを測定しなけれ
ばならないような場合、例えば、配線基板にクリーム半
田を印刷し、クリーム半田の高さを測定しなければなら
ない場合などにタクトタイムを顕著に向上させることが
できる。
In such a configuration, the height data of the protruding object is calculated based on the height data of the flat portion of the object to be measured on which the protruding object has already been formed. When it is not necessary to obtain the height data of the flat part of the flat part and it is necessary to measure the height of the protrusion every time a protrusion is formed on the flat part, for example, printing cream solder on the wiring board, cream The tact time can be significantly improved when the height of the solder must be measured.

【0011】また、本発明の高さデータ処理では、撮像
された画素の階調データに対して平坦化処理がなされた
あと二値化されるので、安定した高さデータが得られ
る。また二値化データに対してフィルタ処理を行なっ
て、その結果空白行が発生した場合、その前後の行の二
値化データの配列に応じて空白行にデータの埋め込みが
行なわれるので、信頼性のある高さデータが求められ
る。
Further, in the height data processing of the present invention, since the gradation data of the imaged pixel is binarized after being subjected to the flattening processing, stable height data can be obtained. In addition, when a blank line is generated as a result of performing a filtering process on the binarized data, the data is embedded in the blank line according to the array of the binarized data in the preceding and succeeding lines. Height data is required.

【0012】また、本発明では、平坦部から突出する突
出物を有する被測定物にライン光を投光し、ライン光に
よって切断される平坦部及び突出物を撮像して光切断法
により平坦部からの突出物の高さを測定する高さ測定装
置において、突出物近傍の平坦部並びに突出物にそれぞ
れ第1と第2のライン光を投光する投光装置と、前記第
1と第2のライン光が投光された突出物近傍の平坦部並
びに突出物の像を撮像する手段と、前記第1と第2のラ
イン光による突出物近傍の平坦部並びに突出物の画像を
処理して該平坦部並びに突出物の高さを算出する手段
と、前記突出物の高さを突出物近傍の平坦部の高さを基
準にして算出する手段とを有する構成も採用している。
このような構成においても、上記と同様な作用効果が得
られる。
Further, in the present invention, a line light is projected onto an object to be measured having a protrusion projecting from the flat portion, and the flat portion cut off by the line light and the protrusion are imaged, and the flat portion is cut by a light cutting method. A height measuring device for measuring the height of a projecting object from the light source, the light projecting device projecting first and second line lights to a flat portion near the projecting object and the projecting object, respectively; Means for capturing an image of the flat part and the protruding object in the vicinity of the projecting object on which the line light is projected, and processing the image of the flat part and the protruding object near the projecting object by the first and second line lights. A configuration having means for calculating the height of the flat portion and the projecting object, and means for calculating the height of the projecting object based on the height of the flat portion near the projecting object is also adopted.
In such a configuration, the same operation and effect as described above can be obtained.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、図面に示す実施の形態に基
づいて本発明を詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in detail based on embodiments shown in the drawings.

【0014】[基本構成]図1は本発明の1実施形態を
示した3次元測定装置の主要光学部品の基本構成図であ
り、図2はその側面図である。各図において、符号1で
示すものは、レーザ光源としてのレーザダイオードで、
このレーザダイオード1から発光されたレーザ光は、コ
リメートレンズ2で光学中心軸に平行な平行光束1aに
される。このレーザ平行光束1aは、フォーカスレンズ
3と投光ミラー4とラインジェネレータレンズ5が組み
込まれている投光ユニット7に入射する。レーザ光束
は、投光ユニット7内のフォーカスレンズ3によりスポ
ット光となるように絞り込まれ、投光ミラー4によって
垂直軸(Z方向)に対して45度の角度に反射され、ラ
インジェネレータレンズ5によって幅14〜20μm、
長さ10mmのライン光9となり、被測定物(クリーム
半田ないしそれが印刷される配線基板)11上にX方向
にライン光9を形成する。
[Basic Configuration] FIG. 1 is a basic configuration diagram of main optical components of a three-dimensional measuring apparatus showing an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a side view thereof. In each figure, the reference numeral 1 denotes a laser diode as a laser light source.
The laser light emitted from the laser diode 1 is converted by the collimator lens 2 into a parallel light beam 1a parallel to the optical center axis. This laser parallel light beam 1a enters a light projecting unit 7 in which a focus lens 3, a light projecting mirror 4, and a line generator lens 5 are incorporated. The laser beam is narrowed down to a spot light by the focus lens 3 in the light projecting unit 7, reflected by the light projecting mirror 4 at an angle of 45 degrees with respect to the vertical axis (Z direction), and is reflected by the line generator lens 5. 14 to 20 μm in width,
A line light 9 having a length of 10 mm is formed, and the line light 9 is formed in the X direction on the DUT (cream solder or a wiring board on which it is printed) 11.

【0015】被測定物11からの散乱反射光は、光軸6
aが垂直軸となるように配置された6.4mm×4.8
mm視野のノンインターレース式CCDカメラ6により
撮像される。また、この投光ユニット7は、リニアモー
タ8のシャフト8aに取り付けられており、リニアモー
タ8がY方向に約10mmのストロークで直線運動を行
なうことにより、2重矢印で示したように、平行光束1
aに平行に往復移動する。この投光ユニット7の移動に
よりライン光9はライン光の伸びるX方向と垂直方向に
移動することになる。
The scattered reflected light from the DUT 11 is reflected on the optical axis 6.
6.4 mm × 4.8 arranged so that a is the vertical axis
The image is picked up by a non-interlaced CCD camera 6 having a mm visual field. The light projecting unit 7 is attached to a shaft 8a of a linear motor 8, and the linear motor 8 performs a linear motion with a stroke of about 10 mm in the Y direction, so that the linear Luminous flux 1
Reciprocate in parallel with a. The movement of the light projecting unit 7 causes the line light 9 to move in a direction perpendicular to the X direction in which the line light extends.

【0016】[回路構成(データ取得)]図3は、3次
元測定装置において被測定物の画像データを取得する回
路構成を示したブロック図である。同図において、リニ
アモータ駆動指令器31は、CPU44からのスタート
信号を受けて、リニアモータドライバ32にリニアモー
タ駆動用の指令パルス列を出力し、リニアモータ8を1
パルス当たり0.25μm移動させる。リニアモータ駆
動指令器31は、同時にLD(レーザダイオード)オン
/CCDトリガタイミングデコーダ(以下タイミングデ
コーダという)35に正/逆方向信号を送り、リニアモ
ータ8が正方向か逆方向のどちらに移動しているかを知
らせる。
[Circuit Configuration (Data Acquisition)] FIG. 3 is a block diagram showing a circuit configuration for acquiring image data of an object to be measured in a three-dimensional measuring apparatus. In the figure, a linear motor drive commander 31 receives a start signal from a CPU 44, outputs a linear motor drive command pulse train to a linear motor driver 32, and sets the linear motor 8 to 1
Move 0.25 μm per pulse. The linear motor drive commander 31 simultaneously sends forward / reverse signals to an LD (laser diode) on / CCD trigger timing decoder (hereinafter referred to as a timing decoder) 35, and the linear motor 8 moves in either the forward or reverse direction. Let them know.

【0017】リニアモータドライバ32は、指令パルス
列を受けてリニアモータを駆動するとともに、リニアモ
ータ8内蔵の位置エンコーダ8bからの実際位置を示す
信号を受けてリニアモータ8への供給電圧を調整し、リ
ニアモータの位置をフィードバック制御する。
The linear motor driver 32 drives the linear motor in response to the command pulse train, and adjusts the supply voltage to the linear motor 8 in response to the signal indicating the actual position from the position encoder 8b built in the linear motor 8. Feedback control of the position of the linear motor.

【0018】位置カウンタ34は、リニアモータ8の位
置エンコーダ8bにより90度位相の異なるA相信号、
B相信号を受け、リニアモータ8の位置を示す位置信号
をデジタルデータで出力する。なお、位置カウンタ34
のリセットは、位置エンコーダ8bの原点リセット信号
により行なう。
The position counter 34 has an A-phase signal having a phase difference of 90 degrees by the position encoder 8b of the linear motor 8,
Upon receiving the B-phase signal, a position signal indicating the position of the linear motor 8 is output as digital data. The position counter 34
Is reset by an origin reset signal from the position encoder 8b.

【0019】タイミングデコーダ35は、位置カウンタ
34からの位置データを受けてLDオンのタイミング信
号(160μmピッチ)を出力する。この信号の立ち上
がりを受けて、ワンショットマルチバイブレータ(M
S)46は、2ms幅のLDオンパルスをレーザダイオ
ードドライバ36に出力し、レーザダイオード1をパル
ス点灯する。レーザダイオード1には、光量モニタフォ
トダイオード(不図示)が内蔵されており、これにより
レーザダイオード1の光量が一定に制御される。
The timing decoder 35 receives the position data from the position counter 34 and outputs an LD-on timing signal (160 μm pitch). In response to the rise of this signal, the one-shot multivibrator (M
S) 46 outputs an LD ON pulse having a width of 2 ms to the laser diode driver 36 to turn on the laser diode 1 in a pulsed manner. The laser diode 1 has a built-in light amount monitor photodiode (not shown), and the light amount of the laser diode 1 is controlled to be constant.

【0020】なお、LDオンの最中にも、リニアモータ
8が動いているために、移動方向によりライン光位置が
ずれるための補正と、正方向と逆方向で半ピッチ分(実
施例では80μm)ズラすために、上述したようにリニ
アモータ駆動指令器31から正/逆方向信号が入力され
る。
Note that since the linear motor 8 is moving even while the LD is on, the line light position is shifted depending on the moving direction, and a half pitch (in the embodiment, 80 μm In order to shift, the forward / reverse direction signal is input from the linear motor drive commander 31 as described above.

【0021】位置ラッチ37は、位置カウンタ34から
出力される位置データをLDオンのタイミングの立ち上
がりでラッチし、そのときのライン光のY方向の位置を
MS46からのLDオンパルスの立ち下がりタイミング
に同期してCPU44に伝えている。LDオン中にもラ
イン光が移動して、実際のライン光位置とずれを生じる
が、これについては、ライン光移動速度とLDオン時間
と正/逆方向信号により、CPU44内で補正を行なっ
ている。
The position latch 37 latches the position data output from the position counter 34 at the rising edge of the LD on timing, and synchronizes the position of the line light in the Y direction at that time with the falling timing of the LD on pulse from the MS 46. To the CPU 44. The line light moves while the LD is on, causing a deviation from the actual line light position. This is corrected in the CPU 44 by the line light moving speed, the LD on time, and the forward / reverse signal. I have.

【0022】一方、同期信号タイミング発生器39は、
タイミングデコーダ35からOR回路35’を介してC
CDカメラ同期タイミング信号を受け、HD水平同期信
号とタイミングを合わせたVD垂直同期信号を出力す
る。このVD垂直同期信号に関連して、前フレームの各
画素の光量データ読み出しが開始される。同時に、各画
素での光量蓄積が始まり、ライン光9による画像がCC
Dカメラ6のCCDエリアイメージセンサ38上に取得
される。
On the other hand, the synchronization signal timing generator 39
C from the timing decoder 35 via the OR circuit 35 '
In response to the CD camera synchronization timing signal, it outputs a VD vertical synchronization signal synchronized with the HD horizontal synchronization signal. In connection with this VD vertical synchronizing signal, reading of light amount data of each pixel of the previous frame is started. At the same time, the accumulation of light quantity in each pixel starts, and the image by the line light 9 is CC
It is acquired on the CCD area image sensor 38 of the D camera 6.

【0023】CCDエリアイメージセンサ38上の像
は、同期信号タイミング発生器39からの垂直レジスタ
転送クロック、水平レジスタ転送クロック等により、ド
ライバ33を介して各画素の光量値(アナログ値)とし
て読み出される。これが、アンプ47を介して、A/D
変換器48に入力され、デジタルデータとして、V−R
AM画像メモリ40に入力される。
An image on the CCD area image sensor 38 is read out as a light amount value (analog value) of each pixel via a driver 33 by a vertical register transfer clock, a horizontal register transfer clock, etc. from a synchronization signal timing generator 39. . This is, via the amplifier 47, the A / D
The data is input to the converter 48 and converted into digital data as VR data.
It is input to the AM image memory 40.

【0024】水平アドレスカウンタ42は、同期信号タ
イミング発生器39からの水平同期信号の立ち下がりよ
り所定の水平クロック数後にリセットされ、その後水平
クロックをカウントすることにより有効画面内の現在の
画素の水平方向の位置(水平アドレス)を出力する。こ
の水平アドレス値は、マルチプレクサ41を介してV−
RAM画像メモリ40の水平アドレスに入力される。
The horizontal address counter 42 is reset after a predetermined number of horizontal clocks from the fall of the horizontal synchronizing signal from the synchronizing signal timing generator 39, and then counts the horizontal clocks to thereby determine the horizontal position of the current pixel in the effective screen. Outputs the direction position (horizontal address). This horizontal address value is supplied to V-
It is input to the horizontal address of the RAM image memory 40.

【0025】一方、垂直アドレスカウンタ43は、同期
信号タイミング発生器39からの垂直同期信号の立ち下
がりより所定の水平同期信号のパルス数後にリセットさ
れ、その後水平同期信号のパルスをカウントすることに
より有効画面内の現在の画素の垂直方向の位置(垂直ア
ドレス)を出力する。この垂直アドレス値は、マルチプ
レクサ45を介してV−RAM画像メモリ40の垂直ア
ドレスに入力される。
On the other hand, the vertical address counter 43 is reset after a predetermined number of pulses of the horizontal synchronizing signal from the fall of the vertical synchronizing signal from the synchronizing signal timing generator 39, and thereafter is effective by counting the pulses of the horizontal synchronizing signal. The vertical position (vertical address) of the current pixel in the screen is output. This vertical address value is input to the vertical address of the V-RAM image memory 40 via the multiplexer 45.

【0026】書込タイミング発生器49は、水平アドレ
スカウンタ42よりの有効水平走査区間信号と、垂直ア
ドレスカウンタ43よりの有効垂直走査区間信号の間、
水平クロックに同期してV−RAM画像メモリ40に書
き込み信号を出力する。これによりV−RAM画像メモ
リ40は有効水平走査区間信号と有効垂直走査区間信号
で定まる有効画面内の各画素データを格納する。
The write timing generator 49 outputs a signal between the effective horizontal scanning section signal from the horizontal address counter 42 and the effective vertical scanning section signal from the vertical address counter 43.
A write signal is output to the V-RAM image memory 40 in synchronization with the horizontal clock. Thereby, the V-RAM image memory 40 stores each pixel data in the effective screen determined by the effective horizontal scanning section signal and the effective vertical scanning section signal.

【0027】水平/垂直アドレス発生器50は、水平ア
ドレス信号をマルチプレクサ41に、垂直アドレス信号
をマルチプレクサ45に、また読出し信号をV−RAM
画像メモリ40に出力する。マルチプレクサ41、45
はCPU44からの切替信号に応じて読み出し側に切り
替えられ、読出し信号に同期して水平アドレス信号及び
垂直アドレス信号で定まるアドレスのV−RAM画像メ
モリ40の画像データが順次読み出される。なお、この
画像データの読み出しは、V−RAM画像メモリ40に
画像データの書き込みが完了した後に行なわれる。これ
は、CPU44からの切替信号によりマルチプレクサ4
1、45が書き込みから読み出しモードに切り替えられ
ることにより保証される。
The horizontal / vertical address generator 50 outputs the horizontal address signal to the multiplexer 41, the vertical address signal to the multiplexer 45, and the read signal to the V-RAM.
Output to the image memory 40. Multiplexers 41, 45
Is switched to the reading side in response to the switching signal from the CPU 44, and the image data of the V-RAM image memory 40 at the address determined by the horizontal address signal and the vertical address signal is sequentially read in synchronization with the reading signal. The reading of the image data is performed after the writing of the image data to the V-RAM image memory 40 is completed. This is because the multiplexer 4 receives a switching signal from the CPU 44.
1, 45 are guaranteed by switching from write to read mode.

【0028】[回路構成(データ処理)]図4には、V
ーRAM画像メモリ40に格納された画像データを処理
するための回路構成が図示されており、VーRAM画像
メモリ40を中心とした回路構成は、図3に図示したも
のと同じものが図示されている。
[Circuit Configuration (Data Processing)] FIG.
3 illustrates a circuit configuration for processing image data stored in the RAM image memory 40. The circuit configuration centering on the V-RAM image memory 40 is the same as that illustrated in FIG. ing.

【0029】切替信号によりマルチプレクサ41、45
が読出しに切り替えられることにより読出し信号に同期
してVーRAM画像メモリ40から読み出される画像デ
ータは、階調データフィルタ処理ブロック60に入力さ
れ、ノイズ分が除去される。階調データフィルタ処理ブ
ロック60には、2つの1ラインバッファ61、62が
設けられ、これにより3ライン分の画像データが同時に
得られる。これらの3ライン分の画像データは演算回路
63に入力され、画像データの平坦度Fが演算され、ま
た演算回路64にも入力されて、階調の最大値MAXと
階調の最小値MINの差ΔBが演算される。また、3ラ
イン分の画像データは帯域除去フィルタ68にも入力さ
れ、帯域除去フィルタがかけられる。また1ラインバッ
ファ61の出力は遅延回路69に入力され、演算処理時
間分に相当する遅延がかけられる。なお、演算回路6
3、64及び帯域除去フィルタ68の処理はそれぞれ3
×3の各画素ブロック単位で処理が行なわれる。
The multiplexers 41 and 45 are switched according to the switching signal.
Is switched to readout, the image data read out from the V-RAM image memory 40 in synchronization with the readout signal is input to the gradation data filter processing block 60 to remove noise. The gradation data filter processing block 60 is provided with two one-line buffers 61 and 62, whereby three lines of image data can be obtained simultaneously. These three lines of image data are input to the arithmetic circuit 63, where the flatness F of the image data is calculated, and is also input to the arithmetic circuit 64, where the maximum gradation value MAX and the minimum gradation value MIN are calculated. The difference ΔB is calculated. Further, the image data for three lines is also input to the band elimination filter 68 and is subjected to the band elimination filter. The output of the one-line buffer 61 is input to the delay circuit 69, and a delay corresponding to the operation processing time is applied. The arithmetic circuit 6
3, 64 and the processing of the band elimination filter 68 are 3
The processing is performed in units of × 3 pixel blocks.

【0030】演算回路65は画像データの平坦度Fの差
ΔBに対する比を演算し、比較器66はその演算結果を
しきい値66’と比較する。しきい値以下であればマル
チプレクサ68は、帯域除去フィルタ68で帯域除去フ
ィルタ処理された画像データを選択し、またしきい値以
上であれば遅延回路69で各演算時間分に相当する遅延
のかけられた画像データを選択して二値化処理ブロック
70に出力する。
The arithmetic circuit 65 calculates the ratio of the flatness F of the image data to the difference ΔB, and the comparator 66 compares the calculation result with a threshold value 66 ′. If it is less than the threshold value, the multiplexer 68 selects the image data subjected to the band elimination filter processing by the band elimination filter 68, and if it is more than the threshold value, the delay circuit 69 applies a delay corresponding to each operation time. The selected image data is output to the binarization processing block 70.

【0031】二値化処理ブロック70では、階調データ
フィルタ処理ブロック60からの画像データに対して平
均値演算回路71で1ライン毎に平均値x(上にバー付
き)が演算され、また標準偏差演算回路72で1ライン
毎に標準偏差ρが演算され、しきい値演算回路74でし
きい値(x+1.5ρ)が演算される。比較器75は、
このしきい値と1ラインバッファ73で保持していた1
ライン分の画像データを比較し、画像データの二値化を
行なう。
In the binarization processing block 70, the average value x (with a bar above) is calculated for each line by the average value calculation circuit 71 on the image data from the gradation data filter processing block 60. The deviation calculation circuit 72 calculates a standard deviation ρ for each line, and the threshold calculation circuit 74 calculates a threshold value (x + 1.5ρ). The comparator 75 is
This threshold value and 1 held in the one-line buffer 73
The image data for the lines is compared, and the image data is binarized.

【0032】二値化処理ブロック70から二値化された
画像データは、二値化データフィルタ処理ブロック80
のノイズ除去処理回路83と2つの1ラインバッファ8
1、82に入力される。ノイズ除去フィルタ処理回路8
3は、入力側の2つの1ラインバッファ81、82と直
接の画像データから同時に3ライン分の画像データを受
け、3×3の各画像ブロック毎に小突起、孤立データが
あるかを調べ、あればそのデータを除去する処理を行な
う。ノイズ除去処理回路83の出力は判定回路87と1
ラインバッファ85に入力される。判定回路87は、1
ラインの全てが0かを判定し、1ライン全てが0の場合
はマルチプレクサ89でオア回路88の出力を、またそ
うでない場合は1ラインバッファ85の出力を選択し、
それを1ラインバッファ86に入力する。1ラインバッ
ファ85の画像データは、現在の画像データに、またノ
イズ除去処理回路83の出力と1ラインバッファ86の
画像データはその前後の画像データに相当するので、1
ライン全てが0の場合は、前後のラインの同じ水平位置
のデータのオア処理により穴埋めされた画像データが出
力される。
The binarized image data from the binarization processing block 70 is converted to a binarized data filter processing block 80
Noise removal processing circuit 83 and two one-line buffers 8
1 and 82 are input. Noise removal filter processing circuit 8
3 receives three lines of image data simultaneously from the two one-line buffers 81 and 82 on the input side and the direct image data, and examines each 3 × 3 image block for small projections and isolated data; If so, a process for removing the data is performed. The output of the noise removal processing circuit 83 is
The data is input to the line buffer 85. The judgment circuit 87
It is determined whether all the lines are 0. If all the lines are 0, the output of the OR circuit 88 is selected by the multiplexer 89, and if not, the output of the 1-line buffer 85 is selected.
It is input to the one-line buffer 86. Since the image data of the one-line buffer 85 corresponds to the current image data, and the output of the noise removal processing circuit 83 and the image data of the one-line buffer 86 correspond to the image data before and after that,
If all the lines are 0, image data filled by OR processing of data at the same horizontal position of the previous and next lines is output.

【0033】二値化データフィルタ処理ブロック80か
らの二値化された画像データは、重心位置演算処理ブロ
ック90に入力され重心位置が各ライン毎に演算され
る。重心位置演算処理ブロック90の立上り検出回路9
1は、二値化画像データが「0」から「1」に変化する
のを検出して、そのときの水平アドレスカウンタ93の
水平アドレス値をラッチ回路94にラッチする。また、
立下り検出回路92は、二値化画像データが「1」から
「0」に変化するのを検出して、そのときの水平アドレ
スカウンタ93の水平アドレス値をラッチ回路95にラ
ッチする。重心位置演算回路96は、この立上り及び立
下り時の水平アドレス値を平均して重心位置を演算し、
その値を重心位置演算結果メモリ100に格納する。な
お、水平アドレスカウンタ93は水平アドレス値を求め
るために、V−RAM画像メモリからの読み出し用の水
平クロックをカウントしている。また、水平アドレスカ
ウンタ93のリセットは画像データ1ラインの切り替わ
り時期に行なわれる。
The binarized image data from the binarized data filter processing block 80 is input to a center-of-gravity position calculation processing block 90, and the center-of-gravity position is calculated for each line. Rise detection circuit 9 of center-of-gravity position calculation processing block 90
1 detects that the binarized image data changes from “0” to “1”, and latches the horizontal address value of the horizontal address counter 93 at that time in the latch circuit 94. Also,
The falling detection circuit 92 detects that the binarized image data changes from “1” to “0”, and latches the horizontal address value of the horizontal address counter 93 at that time in the latch circuit 95. The center-of-gravity position calculating circuit 96 calculates the center-of-gravity position by averaging the horizontal address values at the time of the rise and the time of the fall.
The value is stored in the centroid position calculation result memory 100. The horizontal address counter 93 counts a horizontal clock for reading from the V-RAM image memory in order to obtain a horizontal address value. The horizontal address counter 93 is reset at the time of switching one line of image data.

【0034】[高さデータの測定]次にこのような構成
において、被測定物を配線基板に印刷されたクリーム半
田に例をとり配線基板ないしクリーム半田の高さデータ
を求める処理を図5、図6の流れを参照して説明する。
[Measurement of Height Data] Next, in such a configuration, a process of obtaining height data of the wiring board or the cream solder by taking an example of the object to be measured as cream solder printed on the wiring board, FIG. This will be described with reference to the flow of FIG.

【0035】一般に、クリーム半田の高さを測定する場
合、クリーム半田部の像の輝度に比べて、クリーム半田
間のレジスト面の像の画像の輝度が極端に低く、レジス
ト面のライン光の像を認識できないためにクリーム半田
の印刷基準を求めることができなくなるという問題があ
る。光強度を高めたり、露光時間を長くするとレジスト
面の像は認識できるようになるが、今度はクリーム半田
部の像がハレーションを起こして、重心計算を正確に処
理できなくなってしまう。そこで、以下で説明するよう
に2つの基準線を用いて高さ測定が行なわれる。
In general, when measuring the height of the cream solder, the brightness of the image of the resist surface between the cream solders is extremely lower than the brightness of the image of the cream solder portion, and the image of the line light on the resist surface There is a problem that it is not possible to determine the printing standard of cream solder because it is not possible to recognize the solder paste. If the light intensity is increased or the exposure time is increased, the image on the resist surface becomes recognizable, but this time, the image of the cream solder portion causes halation, and the center of gravity calculation cannot be processed accurately. Therefore, height measurement is performed using two reference lines as described below.

【0036】まず、CPU44はリニアモータ駆動指令
器31に位置指令信号とスタート信号を発生し、リニア
モータ8を第1基準位置(配線基板のレジスト位置)に
移動させる(ステップS11)。第1基準位置にくる
と、CPU44よりオア回路35’を介してCCDカメ
ラ同期タイミングパルスを送出するとともに(ステップ
S12)、LDオン信号を発生してレーザダイオード1
を例えば30ms点灯させる(ステップS13)。
First, the CPU 44 generates a position command signal and a start signal in the linear motor drive command unit 31, and moves the linear motor 8 to a first reference position (register position of the wiring board) (step S11). When the CPU 44 reaches the first reference position, the CPU 44 sends a CCD camera synchronization timing pulse via the OR circuit 35 '(step S12), and generates an LD ON signal to generate the laser diode 1
Is turned on, for example, for 30 ms (step S13).

【0037】レーザダイオード1から発光されたレーザ
光は、コリメートレンズ2で集光されて、光学中心軸に
対して平行な平行光束1aとなり、フォーカスレンズ3
によりスポット光となるように絞り込まれる。このレー
ザスポット光は、投光ミラー4によって入射角に対して
45度の方向に反射され、ラインジェネレータレンズ5
に入射する。このレンズ5によりレーザスポット光は、
プリズム効果によって一方向(X方向)に引き伸ばされ
て、被測定物11上で幅14μm、長さ10mmのライ
ン光9となる。このライン光は、視野6.4mm×4.
8mmでノンインターレース式のCCDカメラ6によっ
て撮像される。
The laser light emitted from the laser diode 1 is condensed by a collimator lens 2 to form a parallel light beam 1a parallel to the optical center axis.
Is narrowed down to a spot light. This laser spot light is reflected by the light projecting mirror 4 in the direction of 45 degrees with respect to the incident angle, and
Incident on. With this lens 5, the laser spot light is
The light is expanded in one direction (X direction) by the prism effect, and becomes a line light 9 having a width of 14 μm and a length of 10 mm on the DUT 11. This line light has a field of view of 6.4 mm × 4.
The image is picked up by a non-interlaced CCD camera 6 of 8 mm.

【0038】ステップS14でT1の時間待機した後、
ステップS15でCCDカメラ同期タイミングパルスを
送り、同期信号タイミング発生器39を駆動してCCD
カメラ6のイメージセンサ38の画像データを書込タイ
ミング発生器49の出力に同期してVーRAM画像メモ
リ40に読み込む(ステップS16)。このようにし
て、取得される画像データが第1基準線110として図
7に図示されている。
After waiting for the time T1 in step S14,
In step S15, a CCD camera synchronization timing pulse is sent, and a synchronization signal timing generator 39 is driven to drive the CCD camera.
The image data of the image sensor 38 of the camera 6 is read into the V-RAM image memory 40 in synchronization with the output of the write timing generator 49 (step S16). The image data thus obtained is shown in FIG. 7 as the first reference line 110.

【0039】この画像データはステップS17において
各画像処理を受ける。まず、CPU44の切替信号によ
りマルチプレクサ41、45が読み出しモードに切り替
わり、水平/垂直アドレス発生器50からの読み出し信
号に従って水平アドレス及び垂直アドレスに同期してV
ーRAM画像メモリ40から画像データが読み出され
る。
This image data undergoes each image processing in step S17. First, the multiplexers 41 and 45 are switched to the read mode by the switching signal of the CPU 44, and V is synchronized with the horizontal address and the vertical address according to the read signal from the horizontal / vertical address generator 50.
Image data is read from the RAM image memory 40;

【0040】読み出された画像データは階調データフィ
ルタ処理ブロック60で階調データフィルタ処理が行な
われる。演算回路63は、各3×3の画素ブロックの中
心の画素を注目画素として、その周りの階調の平坦度F
を演算する。この平坦度Fは、注目画素周囲の画素間差
の絶対値の平均値として求められ、画素列をA、B、C
・・・・、画素行を1、2、3・・・・として、例え
ば、注目画素をB2とすると、
The read image data is subjected to gradation data filtering in a gradation data filtering block 60. The arithmetic circuit 63 sets the pixel at the center of each 3 × 3 pixel block as the pixel of interest, and sets the flatness F
Is calculated. The flatness F is obtained as an average value of absolute values of differences between pixels around the target pixel, and the pixel columns are represented by A, B, and C.
.., The pixel rows are 1, 2, 3,...

【0041】[0041]

【数1】 (Equation 1)

【0042】を算出することにより平坦度Fが演算され
る。演算回路64は、各3×3の画素ブロックの画素の
最大値と階調の最小値の差ΔBを求め、演算回路65は
F/ΔBを演算する。比較器66はF/ΔBがしきい値
66’より小さいときには、画像データが平坦でないの
で、マルチプレクサ67を切り替える。これにより帯域
除去フィルタ回路68で注目画素に対して
The flatness F is calculated by calculating The arithmetic circuit 64 calculates the difference ΔB between the maximum value of the pixels of each 3 × 3 pixel block and the minimum value of the gradation, and the arithmetic circuit 65 calculates F / ΔB. When F / ΔB is smaller than the threshold value 66 ′, the comparator 66 switches the multiplexer 67 because the image data is not flat. As a result, the band elimination filter circuit 68

【0043】[0043]

【数2】 (Equation 2)

【0044】の帯域除去フィルタ処理のかけられたデー
タが出力され、一方ΔB=0の時またはF/ΔBがしき
い値より大きい時は遅延回路69からのデータが選択さ
れ、帯域除去フィルタ処理されないデータが出力され
る。
The data subjected to the band elimination filter processing is output. On the other hand, when ΔB = 0 or F / ΔB is larger than the threshold value, the data from the delay circuit 69 is selected and the band elimination filter processing is not performed. Data is output.

【0045】このように階調データのフィルタ処理が行
なわれた画像データは、二値化処理ブロック70で二値
化処理される。そのために、演算回路71、72は各ラ
インの階調の平均値xと標準偏差ρを計算する。比較器
75は、1ラインバッファ73の各画素毎にその画素の
階調データがそのラインの階調の平均値x+ρ×1.5
より大きい時は現在の画素の値を1に、以下の時は現在
の画素の値を0にして二値化する。
The image data that has been subjected to the gradation data filter processing is binarized by a binarization processing block 70. For this purpose, the arithmetic circuits 71 and 72 calculate the average value x and the standard deviation ρ of the gradation of each line. The comparator 75 calculates, for each pixel of the one-line buffer 73, the gradation data of the pixel as an average value x + ρ × 1.5 of the gradation of the line.
When the value is larger than the current pixel value, the current pixel value is set to 1;

【0046】この各二値化された画像データは、二値化
データフィルタ処理ブロック80に送られ、ノイズ除去
処理回路83は各3×3画素ブロック毎に小突起データ
並びに孤立データをノイズとして除去する。このノイズ
除去は、図8に示したようなa〜fのフィルタ処理を行
うことに対応している。3×3の中心の画素を注目画素
として、図8のパターンが現れた時、その注目画素の値
を0にする。f以外の5種類のフィルタは、90度づつ
回転させて実行する。このようにノイズ処理された二値
化画像データは、1ラインバッファ85、86に送られ
る。判定回路87は、1ラインの全ての画素が0の場合
には、前後のラインを参照して穴埋めを行なう。例え
ば、第2ラインの画素が全て0であった場合、その前後
のライン(第1と第3ライン)に1の画素がある場合に
は、その1の画素のあるところを1にする。
Each of the binarized image data is sent to a binarized data filter processing block 80, and a noise removal processing circuit 83 removes small projection data and isolated data as noise for each 3 × 3 pixel block. I do. This noise removal corresponds to performing the filtering processes a to f as shown in FIG. When the pattern shown in FIG. 8 appears with the pixel at the center of 3 × 3 as the target pixel, the value of the target pixel is set to 0. The five types of filters other than f are rotated by 90 degrees and executed. The binarized image data thus subjected to the noise processing is sent to the one-line buffers 85 and 86. When all the pixels in one line are 0, the determination circuit 87 performs padding with reference to the preceding and following lines. For example, if all the pixels on the second line are 0, and if there is one pixel on the preceding and succeeding lines (first and third lines), the location of the one pixel is set to one.

【0047】このように処理された画像データは重心位
置演算処理ブロック90に送られ、演算回路96で重心
位置(平均値)が演算される。この重心位置は、図13
に示すように、画素列A、B、C・・・に対して1、
2、3・・・のような連番を付けることにより行なわれ
る。この例では1、2行目に関してはI列、J列の画素
の値が1であり、I列の番号は9、J列の番号は10な
ので、1、2行目の重心値は9.5となる。また3、
4、5行目に関してはI列、H列、G列の画素が1であ
り、各行の重心値は各列に付された番号と同じ値の9、
8、7となる。以下同様にして各行の重心値を求める。
The image data processed in this way is sent to the center-of-gravity position calculation processing block 90, where the arithmetic circuit 96 calculates the center-of-gravity position (average value). This position of the center of gravity is shown in FIG.
As shown in FIG. 1, 1 for pixel rows A, B, C.
This is performed by assigning serial numbers such as 2, 3,. In this example, regarding the first and second rows, the values of the pixels in the I and J columns are 1, and the number of the I column is 9 and the number of the J column is 10, so the centroid value of the first and second rows is 9. It becomes 5. Also 3,
For the fourth and fifth rows, the pixels in the I, H, and G columns are 1, and the barycentric value of each row is 9, which is the same as the number assigned to each column.
8 and 7. Hereinafter, the barycenter value of each row is obtained in the same manner.

【0048】このようにして縦軸を重心値、横軸をライ
ン番号としてグラフを描くと図9(a)のようになる。
この結果がステップS18で第1基準位置(レジスト位
置)の高さデータとしてメモリ100に格納される。
FIG. 9A shows a graph in which the vertical axis represents the barycentric value and the horizontal axis represents the line number.
This result is stored in the memory 100 as height data of the first reference position (register position) in step S18.

【0049】このように第1基準位置の高さデータが求
められたので、次にこれからクリーム半田が印刷されよ
うとする第2基準位置にライン光を投光して、その面の
高さデータを測定する。そこで、ステップS21で、リ
ニアモータ8は、制御信号に従って一定速度4.8mm
/secでY方向に第2基準位置に直線移動され(2.
72mm移動)、それに従ってリニアモータ8のシャフ
トに結合された投光ユニット7もY方向に平行光束1a
に平行に直線運動する。投光ユニット7は、平行光線に
向かって前後方向に移動するが、フォーカスレンズ3は
常に平行光束1aを受光することになるので、フォーカ
スレンズ3の結像作用には影響を及ぼすことはない。
Since the height data of the first reference position is obtained in this manner, next, line light is projected to the second reference position where cream solder is to be printed, and the height data of the surface is obtained. Is measured. Therefore, in step S21, the linear motor 8 operates at a constant speed of 4.8 mm according to the control signal.
/ Sec linearly moves to the second reference position in the Y direction (2.
The light projecting unit 7 coupled to the shaft of the linear motor 8 also moves the parallel light beam 1a in the Y direction accordingly.
Make a linear motion in parallel with. The light projecting unit 7 moves in the front-rear direction toward the parallel light beam, but since the focus lens 3 always receives the parallel light beam 1a, it does not affect the image forming operation of the focus lens 3.

【0050】次のステップS22〜S27は、ステップ
S12〜S17と同じであり、撮像された画像データが
図7の111で示され、また演算された高さデータが図
9(b)に図示されている。この結果は、ステップS2
8で第2基準位置の高さデータとしてメモリ100に格
納される。次に、ステップS29で第1基準線と第2基
準線での平均高さデータの差Δxが演算される。図9の
例では、Δx=171μm−127μm=44μmとな
る。
The following steps S22 to S27 are the same as steps S12 to S17. The captured image data is indicated by 111 in FIG. 7, and the calculated height data is illustrated in FIG. 9B. ing. This result is obtained in step S2
At 8, the data is stored in the memory 100 as height data of the second reference position. Next, in step S29, a difference Δx between the average height data between the first reference line and the second reference line is calculated. In the example of FIG. 9, Δx = 171 μm−127 μm = 44 μm.

【0051】以上で、配線基板上に2本のライン光を投
光して、測定面の平行度が測定されたので、次に、配線
基板にクリーム半田を印刷する。図6のステップS30
でクリーム半田が印刷されていることが確認された場合
には、ステップS31でリニアモータ8を第1基準位置
(図7の110の位置)、すなわちレジスト位置に移動
する。ステップS31からS38は、ステップS11〜
S18と同様である。第1基準位置に投光されたライン
光の像が図10で112で図示されている。
As described above, two lines of light are projected on the wiring board, and the parallelism of the measurement surface is measured. Next, cream solder is printed on the wiring board. Step S30 in FIG.
In step S31, it is confirmed that the cream solder is printed, the linear motor 8 is moved to the first reference position (the position 110 in FIG. 7), that is, the registration position. Steps S31 to S38 correspond to steps S11 to S11.
This is the same as S18. An image of the line light projected to the first reference position is shown as 112 in FIG.

【0052】続いて、ステップS41でリニアモータ8
を2.72mm移動してクリーム半田が印刷された部分
(第2基準位置)に移動させる。続くステップS42〜
S47は、ステップS32〜S37と同様であるが、ス
テップS43でレーザダイオードは、クリーム半田に適
した露光量(2ms間露光)点灯されるところが相違し
ている。このライン光の像は、図10で113a、11
3bに示したような像になる。この場合、右側に突出し
た輝度の高い像がクリーム半田部113aであり、その
間の輝度の低い直線部分が配線基板のレジスト面ないし
パッド面113bである。
Subsequently, at step S41, the linear motor 8
Is moved by 2.72 mm to the portion where the cream solder is printed (second reference position). Subsequent steps S42 to
Step S47 is the same as steps S32 to S37, except that the laser diode is turned on in step S43 with an exposure amount (exposure for 2 ms) suitable for cream solder. The image of this line light is indicated by 113a, 11 in FIG.
The image is as shown in FIG. In this case, the image of high brightness protruding to the right is the cream solder portion 113a, and the straight line portion of low brightness therebetween is the resist surface or pad surface 113b of the wiring board.

【0053】ステップS47で演算される重心位置、す
なわちクリーム半田の高さデータは図11に示したごと
くになり、この高さデータがステップS48でメモリ1
00に格納される。この高さデータは第1の基準位置の
高さが「0」として処理されている。しかし、実際に
は、上記「0」としたレジスト面の高さはクリーム半田
の印刷されたレジスト面ではない。従って、両レジスト
面の高さの差に相当するステップS29で求めた第1基
準線と第2基準線での高さデータの差Δx(44μm)
で両レジスト面の高さの差に応じてクリーム半田部の高
さを補正する(ステップS49)。これが図12に図示
されており、クリーム半田の平均高さが103μmとな
っている。
The position of the center of gravity calculated in step S47, that is, the height data of the cream solder is as shown in FIG. 11, and this height data is stored in the memory 1 in step S48.
00 is stored. This height data is processed assuming that the height of the first reference position is “0”. However, actually, the height of the resist surface set to “0” is not the resist surface on which the cream solder is printed. Therefore, the difference Δx (44 μm) between the height data between the first reference line and the second reference line obtained in step S29 corresponding to the difference between the heights of the two resist surfaces.
Then, the height of the cream solder portion is corrected according to the difference between the heights of the two resist surfaces (step S49). This is illustrated in FIG. 12, where the average height of the cream solder is 103 μm.

【0054】予め別の計測器にて測定したクリーム半田
の平均高さが102μmであったので、上記方法によっ
てクリーム半田部の高さが正確であることが確認でき
た。平行度の取得と、クリーム半田部の高さ取得時に、
各ライン光の間隔を2.72mmと一致させたが、これ
は説明の便宜上であり、平行度は直線近似を行うことに
より、投光の位置と間隔が既知であれば、任意の位置と
間隔で投光し、計算することができる。
Since the average height of the cream solder previously measured by another measuring instrument was 102 μm, it was confirmed by the above method that the height of the cream solder portion was accurate. When acquiring the parallelism and the height of the cream solder part,
The interval between each line light was made to coincide with 2.72 mm, but this is for convenience of explanation. The parallelism is obtained by performing linear approximation, and if the position and interval of light projection are known, any position and interval can be used. And can be calculated.

【0055】このように、上記方法では、クリーム半田
の印刷されるレジスト面と別のレジスト面を基準にクリ
ーム半田の高さを測定するようにし、両レジスト面の高
さに差がある場合には、それを補正してクリーム半田の
高さを測定している。この場合、それぞれレジスト面並
びにクリーム半田に適した露光量でライン光を投光する
ことができ、鮮明なレジスト面並びにクリーム半田の光
切断像が得られるので、精度のよいクリーム半田の高さ
測定が可能になる。
As described above, in the above method, the height of the cream solder is measured with reference to the resist surface on which the cream solder is printed and another resist surface. Compensates for this and measures the height of the cream solder. In this case, the line light can be projected with an exposure amount suitable for the resist surface and the cream solder, respectively, and a clear photo-cut image of the resist surface and the cream solder can be obtained, so that the height of the cream solder can be accurately measured. Becomes possible.

【0056】なお、上述した例では、レジスト面及びク
リーム半田部は、ライン光の投光時間を変えてそれぞれ
に適した露光量で撮像されたが、ライン光の強さ、ある
いはCCDカメラの撮像感度を変化させることによりそ
れぞれ適した露光量で撮像するようにしてもよい。
In the above-described example, the resist surface and the cream solder portion were imaged with an exposure amount suitable for each of the lines by changing the light emission time of the line light. By changing the sensitivity, an image may be taken with an appropriate exposure amount.

【0057】[表計算ソフトを用いた高さデータの測
定]また、上述した実施形態では、VーRAM画像メモ
リ40の画像データは、図4に示す回路構成で画像処理
されたが、VーRAM画像メモリ40の画像データを表
計算ソフトに取り込んで行なうこともできる。VーRA
M画像メモリ40の画像データは、横640画素×縦4
80画素のビットマップ画像であるので、これを各画素
を256階調の階調データに変換した後、640列×4
80行のセルの表計算ソフトに取り込む。画素間の分解
能は10μmであるので、表計算ソフトに読み込んだ場
合は前記画素がセルに相当することから、セル間のピッ
チは10μmとなる。ただし、実際の表計算ソフトは最
大列数が256列という機能上の制約が有るので、20
0列×480行の階調データを取り込んで処理を行う。
[Measurement of Height Data Using Spreadsheet Software] In the above-described embodiment, the image data of the V-RAM image memory 40 was image-processed by the circuit configuration shown in FIG. The image data in the RAM image memory 40 can also be loaded into spreadsheet software for execution. V-RA
The image data of the M image memory 40 is 640 pixels in width × 4 pixels in height.
Since this is a bitmap image of 80 pixels, after converting each pixel into gradation data of 256 gradations, 640 columns × 4
Import into 80-cell spreadsheet software. Since the resolution between pixels is 10 μm, the pitch between cells is 10 μm when read into spreadsheet software because the pixels correspond to cells. However, since actual spreadsheet software has a functional limitation that the maximum number of columns is 256,
The processing is performed by taking in the gradation data of 0 columns × 480 rows.

【0058】まず、取込んだ階調データは3×3のセル
毎に取り出されて、階調の平坦度を調べてフィルタ処理
が行なわれる。3×3のセルの中心のセルを注目セルと
し、その周りの階調の平坦度を計算する。注目セル周囲
のセル間差の絶対値の平均値を求める。列をA、B、C
・・・・、行を1、2、3・・・・として、例えば、注
目セルをB2として、数1に従い平坦度Fを算出する
(図4の演算回路63による演算に対応)。次に3×3
のセルの中の階調の最大値と階調の最小値の差ΔBに対
する比を求め(演算回路65に対応)、F/ΔBがしき
い値より小さい時(比較器66に対応)に注目セルに対
して、数2の帯域除去フィルタ(フィルタ回路68に対
応)をかける。もしΔB=0の時またはF/ΔBがしき
い値より大きい時は何もしない。次に注目セルをB3に
移し以上の処理を実行し、B4、B5・・・・と処理を
する。そして次の行に移行してC2、C3・・・のよう
に順次処理を行う。
First, the taken-in gradation data is taken out for every 3 × 3 cells, and the filter processing is performed by checking the flatness of the gradation. The cell at the center of the 3 × 3 cell is set as the cell of interest, and the flatness of the gradation around the cell is calculated. The average of the absolute values of the differences between the cells around the cell of interest is determined. Columns A, B, C
.., The rows are 1, 2, 3,..., For example, the cell of interest is B2, and the flatness F is calculated according to Equation 1 (corresponding to the calculation by the calculation circuit 63 in FIG. 4). Then 3 × 3
The ratio to the difference ΔB between the maximum value of the gray scale and the minimum value of the gray scale in the cell No. is obtained (corresponding to the arithmetic circuit 65). The cell is subjected to the band elimination filter of Equation 2 (corresponding to the filter circuit 68). If ΔB = 0 or if F / ΔB is greater than the threshold, do nothing. Next, the cell of interest is moved to B3, the above processing is executed, and the processing is performed as B4, B5,. Then, the processing shifts to the next line and the processing is sequentially performed as in C2, C3,.

【0059】以上のように階調データのフィルタ処理が
終わると、次の二値化処理に移る。各行の階調の平均値
と標準偏差を計算する(演算回路71、72に対応)。
そして各セル毎にそのセルの階調データがその行の階調
の平均値+1.5×標準偏差より大きい時(比較器75
に対応)は現在のセルの値を1に書換え、以下の時は現
在のセルの値を消去する。セルA1、B1、C1・・・
に対しては1行目の平均値と標準偏差を用い、セルA
2、B2、C2・・・に対しては2行目の平均値と標準
偏差を用いる。各セルは1か空白の状態になる。
When the gradation data filtering process is completed as described above, the process proceeds to the next binarization process. The average value and the standard deviation of the gradation of each row are calculated (corresponding to the arithmetic circuits 71 and 72).
Then, for each cell, when the gradation data of the cell is larger than the average of the gradation of the row + 1.5 × standard deviation (comparator 75
) Rewrites the current cell value to 1, and erases the current cell value in the following cases. Cells A1, B1, C1,...
For the cell A
For 2, 2, B2, C2,..., The average value and standard deviation in the second row are used. Each cell is either 1 or blank.

【0060】このように各セルの値が二値化されたあ
と、小突起データ並びに孤立データはノイズと考えられ
るので、ノイズ除去のためにこれらのデータの消去処理
を行う。すなわち、図8に示す様なa〜fのフィルタ処
理を行う。3×3の中心のセルを注目セルとして、図8
のパターンが現れた時、その注目セルの値を消去する。
f以外の5種類のフィルタは、90度づつ回転させて実
行する(ノイズ除去処理回路83に対応)。
After the value of each cell is binarized in this way, the small projection data and the isolated data are considered to be noise. Therefore, erasure processing of these data is performed to remove noise. That is, the filter processing of a to f as shown in FIG. 8 is performed. Assuming that the cell at the center of 3 × 3 is the cell of interest, FIG.
, The value of the cell of interest is deleted.
The five types of filters other than f are rotated by 90 degrees and executed (corresponding to the noise removal processing circuit 83).

【0061】次は各行を参照して、全て空白の場合は上
下の行の数値1のセルの配列を参照して、穴埋めを行う
(判定回路87に対応)。次に、各行の数値1のセルに
対して重心値を計算する。これは、図13に示すよう
に、列A、B、C・・・に対しては、1、2、3・・・
と連番を付けるとこの数値が重心の値となる(重心位置
演算回路96に対応)。この例では1、2行目に関して
はI列、J列のセルの値が1であり、I列の番号は9、
J列の番号は10なので、1、2行目の重心値は9.5
となる。また3、4、5行目に関してはI列、H列、G
列のセルが1であり、各行の重心値は各列に付された番
号と同じ値の9、8、7となる。以下同様にして各行の
重心値を求める。
Next, each row is referred to, and if all are blank, padding is performed by referring to the array of cells of numerical value 1 in the upper and lower rows (corresponding to the determination circuit 87). Next, the center of gravity value is calculated for the cell of numerical value 1 in each row. This means that for columns A, B, C..., As shown in FIG.
The numerical value becomes the value of the center of gravity (corresponding to the center of gravity position calculation circuit 96). In this example, the values of the cells in columns I and J are 1 for the first and second rows, and the number of column I is 9,
Since the number in column J is 10, the centroid value of the first and second rows is 9.5.
Becomes For the third, fourth and fifth rows, I column, H column, G column
The cell in the column is 1, and the barycentric value of each row is 9, 8, 7 which is the same value as the number assigned to each column. Hereinafter, the barycenter value of each row is obtained in the same manner.

【0062】このように、図4の各処理ブロック60、
70、80、90をソフトウェアで処理することもでき
る。
As described above, each processing block 60 in FIG.
70, 80, 90 can also be processed by software.

【0063】[0063]

【発明の効果】以上説明したように、本発明では、突出
物近傍の平坦部に第1のライン光を投光してその像を撮
像し、突出物に第2のライン光を投光してその像を撮像
し、第2のライン光の像から求められる突出物の高さを
第1のライン光の像から求められる平坦部の高さを基準
にして求めるようにしているので、突出物が形成される
前の平坦部の高さデータを求める必要がなく、平坦部に
突出物を形成するごとに突出物の高さを測定しなければ
ならないような場合に、測定のタクトタイムを顕著に向
上させることができる。
As described above, according to the present invention, the first line light is projected on the flat portion near the protrusion to capture an image thereof, and the second line light is projected on the protrusion. The height of the protruding object obtained from the image of the second line light is obtained with reference to the height of the flat portion obtained from the image of the first line light. When it is not necessary to obtain the height data of the flat part before the object is formed, and when it is necessary to measure the height of the protrusion every time a protrusion is formed on the flat part, the tact time of the measurement is reduced. It can be significantly improved.

【0064】また、第2のライン光が投光される位置の
平坦部の高さを求め、第1のライン光の像から求められ
る平坦部の高さとの差を用いて突出物の高さを補正する
ようにしているので、両ラインが投光される平坦部が平
行でない場合でも突出物の正確な高さ測定が可能にな
る。
Further, the height of the flat portion at the position where the second line light is projected is obtained, and the height of the protruding object is calculated using the difference from the height of the flat portion obtained from the image of the first line light. Is corrected, it is possible to accurately measure the height of the protrusion even when the flat portions on which both lines are projected are not parallel.

【0065】また、平坦部及び突出部は、ライン光の投
光時間、ライン光の強さ、あるいは撮像感度を変化させ
ることにより平坦部と突出部にそれぞれ適した露光量で
撮像されるので、鮮明な撮像が可能になり、高さデータ
の品質を向上させることができる。
Further, the flat portion and the protruding portion are imaged with exposure amounts suitable for the flat portion and the protruding portion, respectively, by changing the projection time of the line light, the intensity of the line light, or the imaging sensitivity. Clear imaging becomes possible, and the quality of height data can be improved.

【0066】また、本発明での高さデータ処理では、撮
像された画素の階調データに対して平坦化処理がなされ
たあと二値化されるので、安定した高さデータが得られ
る。また二値化データに対してフィルタ処理を行なっ
て、その結果空白行が発生した場合、その前後の行の二
値化データの配列に応じて空白行にデータの埋め込みが
行なわれるので、信頼性のある高さデータが求められ
る。
In the height data processing according to the present invention, the gradation data of the imaged pixel is binarized after being subjected to the flattening processing, so that stable height data can be obtained. In addition, when a blank line is generated as a result of performing a filtering process on the binarized data, the data is embedded in the blank line according to the array of the binarized data in the preceding and succeeding lines. Height data is required.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に用いられる高さ測定装置の構成を示す
斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a configuration of a height measuring device used in the present invention.

【図2】図1の高さ測定装置の側面図である。FIG. 2 is a side view of the height measuring device of FIG.

【図3】ライン光を投光して得られる像から画像データ
を取得する回路構成を示した回路図である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a circuit configuration for acquiring image data from an image obtained by projecting line light.

【図4】取得された画像データを処理する回路構成を示
した回路図である。
FIG. 4 is a circuit diagram showing a circuit configuration for processing acquired image data.

【図5】クリーム半田を印刷する前に2つのライン光を
投光した場合に得られる画像の処理の流れを示したフロ
ーチャート図である。
FIG. 5 is a flowchart showing a flow of processing of an image obtained when two line lights are emitted before printing the cream solder.

【図6】クリーム半田を印刷した後に2つのライン光を
投光した場合に得られる画像の処理の流れを示したフロ
ーチャート図である。
FIG. 6 is a flowchart illustrating a flow of processing of an image obtained when two line lights are emitted after printing the cream solder.

【図7】クリーム半田を印刷する前に2つのライン光を
投光した場合に得られる画像を示した説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing an image obtained when two line lights are emitted before printing cream solder.

【図8】画像データのフィルタ処理に用いられるフィル
タデータを示す説明図である。
FIG. 8 is an explanatory diagram showing filter data used for a filtering process on image data.

【図9】クリーム半田を印刷する前に2つのライン光を
投光した場合に得られる画像データから求めた平坦部の
高さを示す線図である。
FIG. 9 is a diagram showing the height of a flat portion obtained from image data obtained when two line lights are projected before printing cream solder.

【図10】クリーム半田を印刷した後に2つのライン光
を投光した場合に得られる画像を示した説明図である。
FIG. 10 is an explanatory diagram showing an image obtained when two line lights are projected after printing the cream solder.

【図11】クリーム半田部分の画像データから求めたク
リーム半田の高さを示す線図である。
FIG. 11 is a diagram showing the height of the cream solder obtained from the image data of the cream solder part.

【図12】補正したクリーム半田の高さデータを示す線
図である。
FIG. 12 is a diagram showing corrected height data of cream solder.

【図13】画素あるいはセルの情報から重心値を求める
ための例を示した説明図である。
FIG. 13 is an explanatory diagram showing an example for obtaining a barycentric value from pixel or cell information.

【図14】従来の三次元測定装置の構成を示した斜視図
である。
FIG. 14 is a perspective view showing a configuration of a conventional three-dimensional measuring device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 レーザ光源 5 ラインジェネレータ 6 CCDカメラ 9 ライン光 1 laser light source 5 line generator 6 CCD camera 9 line light

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 平坦部から突出する突出物を有する被測
定物にライン光を投光し、ライン光によって切断される
平坦部及び突出物を撮像して光切断法により平坦部から
の突出物の高さを測定する高さ測定方法において、 突出物近傍の平坦部に第1のライン光を投光してその像
を撮像し、 突出物に第2のライン光を投光してその像を撮像し、 第2のライン光の像から求められる突出物の高さを第1
のライン光の像から求められる平坦部の高さを基準にし
て算出することを特徴とする高さ測定方法。
A line light is projected onto an object to be measured having a protrusion projecting from the flat portion, and the flat portion and the protrusion which are cut by the line light are imaged, and the protrusion from the flat portion is detected by a light cutting method. In a height measuring method for measuring the height of a projection, a first line light is projected on a flat portion in the vicinity of the projection to capture an image of the projection, and a second line light is projected on the projection to capture the image. And the height of the protrusion obtained from the image of the second line light is set to the first height.
A height measurement method, wherein the height is calculated based on the height of the flat portion obtained from the image of the line light.
【請求項2】 第2のライン光が投光される位置の平坦
部の高さを求め、第1のライン光の像から求められる平
坦部の高さとの差を用いて前記突出物の高さを補正する
ことを特徴とする請求項1に記載の高さ測定方法。
2. A height of a flat portion at a position where the second line light is projected, and a height of the protrusion is determined by using a difference from a height of the flat portion obtained from an image of the first line light. The height measuring method according to claim 1, wherein the height is corrected.
【請求項3】 前記平坦部及び突出部は、ライン光の投
光時間、ライン光の強さ、あるいは撮像感度を変化させ
ることにより平坦部と突出部にそれぞれ適した露光量で
撮像されることを特徴とする請求項1または2に記載の
高さ測定方法。
3. The flat portion and the protruding portion are imaged with an exposure amount suitable for the flat portion and the protruding portion by changing the projection time of the line light, the intensity of the line light, or the imaging sensitivity. The height measuring method according to claim 1 or 2, wherein:
【請求項4】 ライン光によって切断される突出物を撮
像して光切断法により得られる突出物の高さデータを処
理する高さデータ処理方法において、 突出物の像を画素ごとに階調データとして取り出し、 各画素ごとにその周辺の画素の階調の平坦度を調べ、 平坦でない場合には対象画素にフィルタ処理を行うよう
な階調処理を行ない、 前記階調処理の行なわれた階調データに対して二値化を
行ない突出物の像を二値化データに変換することを特徴
とする高さデータ処理方法。
4. A height data processing method for imaging a projecting object cut by line light and processing height data of the projecting object obtained by a light cutting method. And, for each pixel, check the flatness of the gradation of the surrounding pixels. If not flat, perform gradation processing such as performing filter processing on the target pixel. A height data processing method, comprising performing binarization on data and converting an image of a protrusion into binary data.
【請求項5】 各行ごとにフィルタ処理の行なわれた階
調データの平均値と標準偏差を求め、行ごとに前記平均
値と標準偏差から決まるしきい値とその行にある各画素
の階調データを比較して各画素の二値化を行なうことを
特徴とする請求項4に記載の高さデータ処理方法。
5. An average value and a standard deviation of the gradation data subjected to the filtering process for each row, a threshold value determined from the average value and the standard deviation for each row, and a gradation of each pixel in the row. 5. The height data processing method according to claim 4, wherein each pixel is binarized by comparing data.
【請求項6】 ライン光によって切断される突出物を撮
像して光切断法により得られる突出物の高さデータを処
理する高さデータ処理方法において、 突出物の像を行と列に配置された画素の二値化データと
して取り出し、 二値化データに対してフィルタ処理を行ない、 フィルタ処理の結果空白行となった場合には、前後の行
の二値化データの配列に応じて空白行にデータの埋め込
みを行なうことを特徴とする高さデータ処理方法。
6. A height data processing method for imaging a protrusion cut by line light and processing height data of the protrusion obtained by a light cutting method, wherein the images of the protrusions are arranged in rows and columns. The pixel data is extracted as binarized data, and the binarized data is filtered. If a blank line is obtained as a result of the filter processing, a blank line is set according to the binarized data array in the preceding and following rows. A height data processing method, wherein data is embedded in a height.
【請求項7】 平坦部から突出する突出物を有する被測
定物にライン光を投光し、ライン光によって切断される
平坦部及び突出物を撮像して光切断法により平坦部から
の突出物の高さを測定する高さ測定装置において、 突出物近傍の平坦部並びに突出物にそれぞれ第1と第2
のライン光を投光する投光装置と、 前記第1と第2のライン光が投光された突出物近傍の平
坦部並びに突出物の像を撮像する手段と、 前記第1と第2のライン光による突出物近傍の平坦部並
びに突出物の画像を処理して該平坦部並びに突出物の高
さを算出する手段と、 前記突出物の高さを突出物近傍の平坦部の高さを基準に
して算出する手段と、 を有することを特徴とする高さ測定装置。
7. A projecting object having a projection projecting from a flat portion is irradiated with line light, the flat portion and the projecting object cut by the line light are imaged, and the projecting object from the flat portion is projected by a light cutting method. A height measuring device for measuring the height of the object, wherein a first portion and a second
A light projecting device for projecting the first and second line lights, a flat portion near the projecting object on which the first and second line lights are projected, and a unit for imaging an image of the projecting object; Means for processing the image of the flat portion and the protrusion near the protrusion by the line light to calculate the height of the flat portion and the protrusion, and calculating the height of the protrusion by changing the height of the flat portion near the protrusion. A height measuring device, comprising: means for calculating based on a reference.
【請求項8】 第2のライン光が投光される位置の平坦
部の高さを求め、第1のライン光の像から求められる平
坦部の高さとの差を用いて前記突出物の高さを補正する
ことを特徴とする請求項7に記載の高さ測定装置。
8. A height of the flat portion at a position where the second line light is projected, and a height of the protruding object is calculated using a difference from a height of the flat portion obtained from an image of the first line light. The height measuring device according to claim 7, wherein the height is corrected.
【請求項9】 前記平坦部及び突出部は、ライン光の投
光時間、ライン光の強さ、あるいは撮像感度を変化させ
ることにより平坦部と突出部にそれぞれ適した露光量で
撮像されることを特徴とする請求項7または8に記載の
高さ測定装置。
9. The flat portion and the projecting portion are imaged with an exposure amount suitable for each of the flat portion and the projecting portion by changing the light projection time of the line light, the intensity of the line light, or the imaging sensitivity. The height measuring device according to claim 7 or 8, wherein:
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005207918A (en) * 2004-01-23 2005-08-04 Renesas Technology Corp Manufacturing method for semiconductor integrated circuit
JP2009109450A (en) * 2007-11-01 2009-05-21 Anritsu Corp Device and method for inspecting printed solder
JP2009115536A (en) * 2007-11-05 2009-05-28 Anritsu Corp Printed solder inspection system and printed solder inspection method
JP2010033593A (en) * 2009-10-30 2010-02-12 Renesas Technology Corp Manufacturing method for semiconductor integrated circuit device
JP2010243508A (en) * 2006-01-26 2010-10-28 Koh Young Technology Inc Method for measuring three-dimensional shape

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005207918A (en) * 2004-01-23 2005-08-04 Renesas Technology Corp Manufacturing method for semiconductor integrated circuit
JP4746841B2 (en) * 2004-01-23 2011-08-10 ルネサスエレクトロニクス株式会社 Manufacturing method of semiconductor integrated circuit device
US8125632B2 (en) 2004-01-23 2012-02-28 Renesas Electronics Corporation Fabrication method of semiconductor integrated circuit device
US8259295B2 (en) 2004-01-23 2012-09-04 Renesas Electronics Corporation Fabrication method of semiconductor integrated circuit device
JP2010243508A (en) * 2006-01-26 2010-10-28 Koh Young Technology Inc Method for measuring three-dimensional shape
JP2009109450A (en) * 2007-11-01 2009-05-21 Anritsu Corp Device and method for inspecting printed solder
JP2009115536A (en) * 2007-11-05 2009-05-28 Anritsu Corp Printed solder inspection system and printed solder inspection method
JP2010033593A (en) * 2009-10-30 2010-02-12 Renesas Technology Corp Manufacturing method for semiconductor integrated circuit device

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