JPH11218482A - 粒度分布測定装置 - Google Patents
粒度分布測定装置Info
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- JPH11218482A JPH11218482A JP10020665A JP2066598A JPH11218482A JP H11218482 A JPH11218482 A JP H11218482A JP 10020665 A JP10020665 A JP 10020665A JP 2066598 A JP2066598 A JP 2066598A JP H11218482 A JPH11218482 A JP H11218482A
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 粒度分布測定において、測定セルの装着方向
を規制し、測定条件を統一する。 【解決手段】 測定セル１３内の粒子群に平行光束を照
射することによって得られる、粒子群による回折／散乱
光の強度分布を測定することにより、粒子群の粒度分布
を測定する装置であり、装置本体に固定されたホルダ３
１に設けた突起部３２が測定セル１３に設けた切り欠き
２８に嵌まることで、測定セル１３がホルダ３１に正確
に装着されたことが確認でき、測定条件を統一すること
ができる。
を規制し、測定条件を統一する。 【解決手段】 測定セル１３内の粒子群に平行光束を照
射することによって得られる、粒子群による回折／散乱
光の強度分布を測定することにより、粒子群の粒度分布
を測定する装置であり、装置本体に固定されたホルダ３
１に設けた突起部３２が測定セル１３に設けた切り欠き
２８に嵌まることで、測定セル１３がホルダ３１に正確
に装着されたことが確認でき、測定条件を統一すること
ができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、粒子群に光を照射
したときに生ずる光散乱現象を利用した、いわゆる光散
乱法に基づく粒度分布測定装置に関し、特に測定セル内
の媒液中に分散した粒子群の粒度分布を測定するいわゆ
る湿式の粒度分布測定装置に関する。
したときに生ずる光散乱現象を利用した、いわゆる光散
乱法に基づく粒度分布測定装置に関し、特に測定セル内
の媒液中に分散した粒子群の粒度分布を測定するいわゆ
る湿式の粒度分布測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ミーの散乱理論ないしフラウンホーファ
回折理論を用いた粒度分布測定装置においては、従来、
レンズを用いて被測定粒子群からの回折／散乱光を集光
して、リングディテクタ等のアレイセンサの受光面上に
回折／散乱像を結ばせ、その出力から回折／散乱光の空
間強度分布を得て、これを粒度分布に換算する構造のも
のが主として実用化されている。
回折理論を用いた粒度分布測定装置においては、従来、
レンズを用いて被測定粒子群からの回折／散乱光を集光
して、リングディテクタ等のアレイセンサの受光面上に
回折／散乱像を結ばせ、その出力から回折／散乱光の空
間強度分布を得て、これを粒度分布に換算する構造のも
のが主として実用化されている。
【０００３】特に、媒液中に分散させたサンプルである
粒子群の粒度を測定する、いわゆる湿式の粒度分布測定
では、図５に示した測定セルへの粒子群と媒液の収納と
洗浄等のメンテナンスを簡便化するため、測定セル５１
を装置本体から着脱可能に構成し、測定前に測定セル５
１を装置本体に固定されたホルダ（図４に示したもので
突起部３２のない形態のもの）に装着することで、測定
用光学系に対する位置決めを行っている。
粒子群の粒度を測定する、いわゆる湿式の粒度分布測定
では、図５に示した測定セルへの粒子群と媒液の収納と
洗浄等のメンテナンスを簡便化するため、測定セル５１
を装置本体から着脱可能に構成し、測定前に測定セル５
１を装置本体に固定されたホルダ（図４に示したもので
突起部３２のない形態のもの）に装着することで、測定
用光学系に対する位置決めを行っている。
【０００４】このような測定セルは、レーザ光の進行方
向に位置する測定セルの２つの面の平行度と他の各面の
平行度が充分に得られなかった場合、サンプルからの回
折・散乱光が後段のリングディテクタ及び各センサに対
し、正しく入射されず、結果的に予想外の回折・散乱光
の屈折が発生して検出誤差を生じる。そこで、事前に同
一の測定セルを使用し、校正用のデータとしてバックグ
ランドデータをサンプリングしておき、そのデータに基
づいてサンプルである粒子群の回折・散乱光データを校
正している。また、図６に示したように、測定セル５１
に対しロート５２は使用の度ごとに装着していた。
向に位置する測定セルの２つの面の平行度と他の各面の
平行度が充分に得られなかった場合、サンプルからの回
折・散乱光が後段のリングディテクタ及び各センサに対
し、正しく入射されず、結果的に予想外の回折・散乱光
の屈折が発生して検出誤差を生じる。そこで、事前に同
一の測定セルを使用し、校正用のデータとしてバックグ
ランドデータをサンプリングしておき、そのデータに基
づいてサンプルである粒子群の回折・散乱光データを校
正している。また、図６に示したように、測定セル５１
に対しロート５２は使用の度ごとに装着していた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、同一の
測定セルでも、測定セルの装着方向が変わると、測定セ
ルに対するレーザ光の入射角が変わり、粒子群に対する
レーザ光の照射方向が異なって、測定条件が異なってく
る。
測定セルでも、測定セルの装着方向が変わると、測定セ
ルに対するレーザ光の入射角が変わり、粒子群に対する
レーザ光の照射方向が異なって、測定条件が異なってく
る。
【０００６】すなわち、バックグランドデータを測定し
たときの測定セルの向きと、サンプルである粒子群のデ
ータを測定したときの向きが異なってしまうので、バッ
クグランドデータによる適正な測定データの校正が行え
なくなる。
たときの測定セルの向きと、サンプルである粒子群のデ
ータを測定したときの向きが異なってしまうので、バッ
クグランドデータによる適正な測定データの校正が行え
なくなる。
【０００７】本発明は、上記課題を解決することのでき
る粒度分布測定装置を提供することを目的とする。
る粒度分布測定装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、測定セル内の
粒子群に平行光束を照射することによって得られる、粒
子群による回折／散乱光の強度分布を測定することによ
り、粒子群の粒度分布を測定する装置であり、装置本体
に固定されたホルダに対し、規制手段により、常に、所
定の方向でのみ測定セルをホルダに装着することで、校
正用のバックグランドデータとサンプルの測定データを
サンプリングする際の測定条件を統一する。
粒子群に平行光束を照射することによって得られる、粒
子群による回折／散乱光の強度分布を測定することによ
り、粒子群の粒度分布を測定する装置であり、装置本体
に固定されたホルダに対し、規制手段により、常に、所
定の方向でのみ測定セルをホルダに装着することで、校
正用のバックグランドデータとサンプルの測定データを
サンプリングする際の測定条件を統一する。
【０００９】
【発明の実施の形態】図１は本発明の実施例である粒度
分布測定装置の構成図である。
分布測定装置の構成図である。
【００１０】レーザ光源１１から出たレーザ光はコリメ
ータ１２でコリメート化され、測定セル１３に照射され
る。測定セル１３内には、サンプルである粒子群を媒液
中に分散させた懸濁液が収納されており、レーザ光を照
射された粒子からは散乱光や回折光が発生する。
ータ１２でコリメート化され、測定セル１３に照射され
る。測定セル１３内には、サンプルである粒子群を媒液
中に分散させた懸濁液が収納されており、レーザ光を照
射された粒子からは散乱光や回折光が発生する。
【００１１】照射レーザ光の進行方向、測定セル１３の
前方には集光用レンズ１４が配設されているとともに、
更にその前方にはその焦点位置にリングディテクタ１５
が配設されている。リングディテクタ１５は、レンズ１
４の光軸を中心として互いに半径の異なるリング状ない
しは半リング状の受光面を持つ光センサを複数個同心状
に配列したもので、測定セル１３内の粒子による散乱／
回折光の内、４０°以内の散乱／回折角の光はレンズ１
４によってこのリングディテクタ１５上に集光される。
前方には集光用レンズ１４が配設されているとともに、
更にその前方にはその焦点位置にリングディテクタ１５
が配設されている。リングディテクタ１５は、レンズ１
４の光軸を中心として互いに半径の異なるリング状ない
しは半リング状の受光面を持つ光センサを複数個同心状
に配列したもので、測定セル１３内の粒子による散乱／
回折光の内、４０°以内の散乱／回折角の光はレンズ１
４によってこのリングディテクタ１５上に集光される。
【００１２】測定セル１３の周囲には、レンズ１４およ
びディテクタ１５と異なる角度で、例えば３個の光セン
サ１６，１７および１８が配設されており、それぞれの
配設角度に応じて、測定セル１３内の粒子による４０°
を越える所定角度の前方散乱光、側方散乱光および後方
散乱光の強度を検出することができる。
びディテクタ１５と異なる角度で、例えば３個の光セン
サ１６，１７および１８が配設されており、それぞれの
配設角度に応じて、測定セル１３内の粒子による４０°
を越える所定角度の前方散乱光、側方散乱光および後方
散乱光の強度を検出することができる。
【００１３】リングディテクタ１５の各素子、および各
光センサ１６，１７，１８からの出力信号は、それぞれ
入出力インターフェース（図示省略）を経由してコンピ
ュータ１９に採り込まれる。
光センサ１６，１７，１８からの出力信号は、それぞれ
入出力インターフェース（図示省略）を経由してコンピ
ュータ１９に採り込まれる。
【００１４】コンピュータ１９はＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡ
Ｍ等を主体として構成されており、リングディテクタ１
５内の各素子および各光センサ１６，１７，１８からの
光強度データをコンピュータ１９内に採り込み、これら
データを用いて、所定の変換式により、被測定粒子の粒
度分布を一挙に算出することができる。
Ｍ等を主体として構成されており、リングディテクタ１
５内の各素子および各光センサ１６，１７，１８からの
光強度データをコンピュータ１９内に採り込み、これら
データを用いて、所定の変換式により、被測定粒子の粒
度分布を一挙に算出することができる。
【００１５】このような粒度分布測定装置では、図４に
示したようなホルダ３１が、測定セル１３が光学的に位
置決めされて装着できるよう装置に固設されており、こ
のようなホルダ３１を介して測定セル１３を装置に装着
する。測定セル１３の構成を図２を用いて説明すると、
２１はサンプルを収容するガラス製のセル本体である。
セル２１にはサンプルの収容口である開口端部の長手方
向の両側面側には、ツバ２２が設けられている。また、
測定セル１３を挿入したとき、このツバ２２が引っ掛か
って測定セル１３の移動を規制する突出部２９の形成さ
れたガイド２３が備えられている。また、セル２１の開
口面にはサンプルの注入を容易にするためのロート２４
がガイド２３に載せられて、シール材２５を介して、雄
ネジ２６を雌ネジ２７に螺合して取り付けられている。
図３はこのような部品から構成された測定セル１３の外
観を表したものである。
示したようなホルダ３１が、測定セル１３が光学的に位
置決めされて装着できるよう装置に固設されており、こ
のようなホルダ３１を介して測定セル１３を装置に装着
する。測定セル１３の構成を図２を用いて説明すると、
２１はサンプルを収容するガラス製のセル本体である。
セル２１にはサンプルの収容口である開口端部の長手方
向の両側面側には、ツバ２２が設けられている。また、
測定セル１３を挿入したとき、このツバ２２が引っ掛か
って測定セル１３の移動を規制する突出部２９の形成さ
れたガイド２３が備えられている。また、セル２１の開
口面にはサンプルの注入を容易にするためのロート２４
がガイド２３に載せられて、シール材２５を介して、雄
ネジ２６を雌ネジ２７に螺合して取り付けられている。
図３はこのような部品から構成された測定セル１３の外
観を表したものである。
【００１６】さらに、ガイド２３には切り欠き２８が２
個所設けられるとともに、かかる切り欠き２８に嵌まり
込む突起部３２が、図４のホルダ３１に設けられてい
る。つまり、測定セル１３の挿入方向が所定の方向と異
なった場合は、測定セル１３が完全にホルダ３１に装着
されず、オペレーターが測定セル２１の装着方向の間違
いに気付くよう構成されている。
個所設けられるとともに、かかる切り欠き２８に嵌まり
込む突起部３２が、図４のホルダ３１に設けられてい
る。つまり、測定セル１３の挿入方向が所定の方向と異
なった場合は、測定セル１３が完全にホルダ３１に装着
されず、オペレーターが測定セル２１の装着方向の間違
いに気付くよう構成されている。
【００１７】次に、かかる測定セル１３を使用した粒度
分布測定装置の使用方法について説明する。予め、使用
する媒液のみを測定セル１３に収納し、バックグランド
データをサンプリングしておく。このとき、測定セル１
３のガイド２３の切り欠き２８にホルダ３１の突起部３
２が嵌まり込んでおり、正常に測定セル１３が粒度分布
測定装置に装着されている。
分布測定装置の使用方法について説明する。予め、使用
する媒液のみを測定セル１３に収納し、バックグランド
データをサンプリングしておく。このとき、測定セル１
３のガイド２３の切り欠き２８にホルダ３１の突起部３
２が嵌まり込んでおり、正常に測定セル１３が粒度分布
測定装置に装着されている。
【００１８】バックグランドデータをサンプリングした
後、サンプルを測定セル１３に収容するため、測定セル
１３を一度ホルダ３１から取り外す。そして、装置の外
でサンプルを測定セル１３へ注入した後、再度測定セル
１３をホルダ３１へ装着する。このとき、万一、バック
グランドデータをサンプリングした際とは違う向きで測
定セル１３を装着しようとすると、ホルダ３１の突起部
３２が測定セル１３の切り欠き２８に嵌まり込まないの
で、測定セル１３の装着方向の間違いに気が付く。すな
わち、このような切り欠き２８と突起部３２とが、請求
項でいうところの所定方向以外の装着を規制する規制手
段となって、測定セル１３を所定の方向からのみ装着す
ることができるのである。
後、サンプルを測定セル１３に収容するため、測定セル
１３を一度ホルダ３１から取り外す。そして、装置の外
でサンプルを測定セル１３へ注入した後、再度測定セル
１３をホルダ３１へ装着する。このとき、万一、バック
グランドデータをサンプリングした際とは違う向きで測
定セル１３を装着しようとすると、ホルダ３１の突起部
３２が測定セル１３の切り欠き２８に嵌まり込まないの
で、測定セル１３の装着方向の間違いに気が付く。すな
わち、このような切り欠き２８と突起部３２とが、請求
項でいうところの所定方向以外の装着を規制する規制手
段となって、測定セル１３を所定の方向からのみ装着す
ることができるのである。
【００１９】そして、測定セル１３を正しくホルダ３１
に装着した後、測定セル１３内の媒液中に分散する粒子
群にレーザ光を照射し、回折・散乱光を検出し、データ
をサンプリングした後、コンピュータ１９で所定の演算
を行って粒度分布データを算出するとともに、事前にサ
ンプリングしたバックグランドデータで測定データの校
正を行うことで、誤差の少ない粒度分布データを得るこ
とができる。
に装着した後、測定セル１３内の媒液中に分散する粒子
群にレーザ光を照射し、回折・散乱光を検出し、データ
をサンプリングした後、コンピュータ１９で所定の演算
を行って粒度分布データを算出するとともに、事前にサ
ンプリングしたバックグランドデータで測定データの校
正を行うことで、誤差の少ない粒度分布データを得るこ
とができる。
【００２０】なお、本実施例では、ガイド２３に切り欠
き部を、ホルダ３１に突起部３２を設けたが、その変形
として、ガイド２３に突起部を、ホルダ３１に切り欠き
部を設けてもよい。
き部を、ホルダ３１に突起部３２を設けたが、その変形
として、ガイド２３に突起部を、ホルダ３１に切り欠き
部を設けてもよい。
【００２１】また、次のような形態も、本発明に含まれ
る。
る。
【００２２】（１）測定セル内の粒子群に平行光束を照
射することによって得られる、粒子群による回折／散乱
光の強度分布を測定することにより、粒子群の粒度分布
を測定する装置において、前記測定セルを着脱可能に光
学的に位置決めするホルダと、前記ホルダに対し前記測
定セルを装着する際、所定方向以外の装着を規制する規
制手段とともに、測定セル内に収容する粒子群をガイド
するロートを取り付けたことを特徴とする粒度分布測定
装置。すなわち、測定セルにロートを取り付けたことに
より、装置に対して着脱可能な測定セルであっても、測
定セルにロートが常備されていることで、いつもサンプ
ルの収容にロートが使用でき、サンプルが飛び散って測
定セルの外面を汚すことが少なくなり、測定の準備が容
易になった。
射することによって得られる、粒子群による回折／散乱
光の強度分布を測定することにより、粒子群の粒度分布
を測定する装置において、前記測定セルを着脱可能に光
学的に位置決めするホルダと、前記ホルダに対し前記測
定セルを装着する際、所定方向以外の装着を規制する規
制手段とともに、測定セル内に収容する粒子群をガイド
するロートを取り付けたことを特徴とする粒度分布測定
装置。すなわち、測定セルにロートを取り付けたことに
より、装置に対して着脱可能な測定セルであっても、測
定セルにロートが常備されていることで、いつもサンプ
ルの収容にロートが使用でき、サンプルが飛び散って測
定セルの外面を汚すことが少なくなり、測定の準備が容
易になった。
【００２３】
【発明の効果】本発明は、サンプルの収容や洗浄などの
メンテナンスを簡便化するため、測定セルを装置本体か
ら着脱可能に構成されていたとしても、装置本体に固定
されたホルダに対し、測定セルは、所定の方向でしか装
着できないので、バックグランドデータを得たときの同
じ測定条件で、サンプリングデータの校正が行え、適正
なデータの校正が行える。
メンテナンスを簡便化するため、測定セルを装置本体か
ら着脱可能に構成されていたとしても、装置本体に固定
されたホルダに対し、測定セルは、所定の方向でしか装
着できないので、バックグランドデータを得たときの同
じ測定条件で、サンプリングデータの校正が行え、適正
なデータの校正が行える。
【図１】本発明の実施例の粒度分布測定装置の概略構成
を示した図。
を示した図。
【図２】本発明の実施例の測定セルの組み立て方を示し
た図。
た図。
【図３】本発明の実施例の測定セルの概略構成を示した
図。
図。
【図４】測定セルのホルダの概略構成を示した図。
【図５】従来の測定セルの概略構成を示した図。
【図６】従来の測定セルのロートを取り付けたときの概
略構成を示した図。
略構成を示した図。
１３ 測定セル ２４ ロート ２８ 切り欠き ３１ ホルダ ３２ 突起部
Claims (1)
- 【請求項１】 測定セル内の粒子群に平行光束を照射す
ることによって得られる、粒子群による回折／散乱光の
強度分布を測定することにより、粒子群の粒度分布を測
定する装置において、前記測定セルを着脱可能に光学的
に位置決めするホルダと、前記ホルダに対し前記測定セ
ルを装着する際、所定方向以外の装着を規制する規制手
段とを備えたことを特徴とする粒度分布測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10020665A JPH11218482A (ja) | 1998-02-02 | 1998-02-02 | 粒度分布測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10020665A JPH11218482A (ja) | 1998-02-02 | 1998-02-02 | 粒度分布測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11218482A true JPH11218482A (ja) | 1999-08-10 |
Family
ID=12033504
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10020665A Pending JPH11218482A (ja) | 1998-02-02 | 1998-02-02 | 粒度分布測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11218482A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009121948A (ja) * | 2007-11-15 | 2009-06-04 | Shimadzu Corp | セル固定装置及び粒子測定装置 |
| JP2009139235A (ja) * | 2007-12-06 | 2009-06-25 | Shimadzu Corp | セル固定装置及びそれを用いた粒子測定装置 |
-
1998
- 1998-02-02 JP JP10020665A patent/JPH11218482A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009121948A (ja) * | 2007-11-15 | 2009-06-04 | Shimadzu Corp | セル固定装置及び粒子測定装置 |
| JP2009139235A (ja) * | 2007-12-06 | 2009-06-25 | Shimadzu Corp | セル固定装置及びそれを用いた粒子測定装置 |
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| JPH06241974A (ja) | 粒度分布測定装置 |
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