JPH11218482A - 粒度分布測定装置 - Google Patents
粒度分布測定装置Info
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- JPH11218482A JPH11218482A JP10020665A JP2066598A JPH11218482A JP H11218482 A JPH11218482 A JP H11218482A JP 10020665 A JP10020665 A JP 10020665A JP 2066598 A JP2066598 A JP 2066598A JP H11218482 A JPH11218482 A JP H11218482A
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- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 49
- 238000009826 distribution Methods 0.000 title claims abstract description 27
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 39
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract description 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
を規制し、測定条件を統一する。 【解決手段】 測定セル13内の粒子群に平行光束を照
射することによって得られる、粒子群による回折/散乱
光の強度分布を測定することにより、粒子群の粒度分布
を測定する装置であり、装置本体に固定されたホルダ3
1に設けた突起部32が測定セル13に設けた切り欠き
28に嵌まることで、測定セル13がホルダ31に正確
に装着されたことが確認でき、測定条件を統一すること
ができる。
Description
したときに生ずる光散乱現象を利用した、いわゆる光散
乱法に基づく粒度分布測定装置に関し、特に測定セル内
の媒液中に分散した粒子群の粒度分布を測定するいわゆ
る湿式の粒度分布測定装置に関する。
回折理論を用いた粒度分布測定装置においては、従来、
レンズを用いて被測定粒子群からの回折/散乱光を集光
して、リングディテクタ等のアレイセンサの受光面上に
回折/散乱像を結ばせ、その出力から回折/散乱光の空
間強度分布を得て、これを粒度分布に換算する構造のも
のが主として実用化されている。
粒子群の粒度を測定する、いわゆる湿式の粒度分布測定
では、図5に示した測定セルへの粒子群と媒液の収納と
洗浄等のメンテナンスを簡便化するため、測定セル51
を装置本体から着脱可能に構成し、測定前に測定セル5
1を装置本体に固定されたホルダ(図4に示したもので
突起部32のない形態のもの)に装着することで、測定
用光学系に対する位置決めを行っている。
向に位置する測定セルの2つの面の平行度と他の各面の
平行度が充分に得られなかった場合、サンプルからの回
折・散乱光が後段のリングディテクタ及び各センサに対
し、正しく入射されず、結果的に予想外の回折・散乱光
の屈折が発生して検出誤差を生じる。そこで、事前に同
一の測定セルを使用し、校正用のデータとしてバックグ
ランドデータをサンプリングしておき、そのデータに基
づいてサンプルである粒子群の回折・散乱光データを校
正している。また、図6に示したように、測定セル51
に対しロート52は使用の度ごとに装着していた。
測定セルでも、測定セルの装着方向が変わると、測定セ
ルに対するレーザ光の入射角が変わり、粒子群に対する
レーザ光の照射方向が異なって、測定条件が異なってく
る。
たときの測定セルの向きと、サンプルである粒子群のデ
ータを測定したときの向きが異なってしまうので、バッ
クグランドデータによる適正な測定データの校正が行え
なくなる。
る粒度分布測定装置を提供することを目的とする。
粒子群に平行光束を照射することによって得られる、粒
子群による回折/散乱光の強度分布を測定することによ
り、粒子群の粒度分布を測定する装置であり、装置本体
に固定されたホルダに対し、規制手段により、常に、所
定の方向でのみ測定セルをホルダに装着することで、校
正用のバックグランドデータとサンプルの測定データを
サンプリングする際の測定条件を統一する。
分布測定装置の構成図である。
ータ12でコリメート化され、測定セル13に照射され
る。測定セル13内には、サンプルである粒子群を媒液
中に分散させた懸濁液が収納されており、レーザ光を照
射された粒子からは散乱光や回折光が発生する。
前方には集光用レンズ14が配設されているとともに、
更にその前方にはその焦点位置にリングディテクタ15
が配設されている。リングディテクタ15は、レンズ1
4の光軸を中心として互いに半径の異なるリング状ない
しは半リング状の受光面を持つ光センサを複数個同心状
に配列したもので、測定セル13内の粒子による散乱/
回折光の内、40°以内の散乱/回折角の光はレンズ1
4によってこのリングディテクタ15上に集光される。
びディテクタ15と異なる角度で、例えば3個の光セン
サ16,17および18が配設されており、それぞれの
配設角度に応じて、測定セル13内の粒子による40°
を越える所定角度の前方散乱光、側方散乱光および後方
散乱光の強度を検出することができる。
光センサ16,17,18からの出力信号は、それぞれ
入出力インターフェース(図示省略)を経由してコンピ
ュータ19に採り込まれる。
M等を主体として構成されており、リングディテクタ1
5内の各素子および各光センサ16,17,18からの
光強度データをコンピュータ19内に採り込み、これら
データを用いて、所定の変換式により、被測定粒子の粒
度分布を一挙に算出することができる。
示したようなホルダ31が、測定セル13が光学的に位
置決めされて装着できるよう装置に固設されており、こ
のようなホルダ31を介して測定セル13を装置に装着
する。測定セル13の構成を図2を用いて説明すると、
21はサンプルを収容するガラス製のセル本体である。
セル21にはサンプルの収容口である開口端部の長手方
向の両側面側には、ツバ22が設けられている。また、
測定セル13を挿入したとき、このツバ22が引っ掛か
って測定セル13の移動を規制する突出部29の形成さ
れたガイド23が備えられている。また、セル21の開
口面にはサンプルの注入を容易にするためのロート24
がガイド23に載せられて、シール材25を介して、雄
ネジ26を雌ネジ27に螺合して取り付けられている。
図3はこのような部品から構成された測定セル13の外
観を表したものである。
個所設けられるとともに、かかる切り欠き28に嵌まり
込む突起部32が、図4のホルダ31に設けられてい
る。つまり、測定セル13の挿入方向が所定の方向と異
なった場合は、測定セル13が完全にホルダ31に装着
されず、オペレーターが測定セル21の装着方向の間違
いに気付くよう構成されている。
分布測定装置の使用方法について説明する。予め、使用
する媒液のみを測定セル13に収納し、バックグランド
データをサンプリングしておく。このとき、測定セル1
3のガイド23の切り欠き28にホルダ31の突起部3
2が嵌まり込んでおり、正常に測定セル13が粒度分布
測定装置に装着されている。
後、サンプルを測定セル13に収容するため、測定セル
13を一度ホルダ31から取り外す。そして、装置の外
でサンプルを測定セル13へ注入した後、再度測定セル
13をホルダ31へ装着する。このとき、万一、バック
グランドデータをサンプリングした際とは違う向きで測
定セル13を装着しようとすると、ホルダ31の突起部
32が測定セル13の切り欠き28に嵌まり込まないの
で、測定セル13の装着方向の間違いに気が付く。すな
わち、このような切り欠き28と突起部32とが、請求
項でいうところの所定方向以外の装着を規制する規制手
段となって、測定セル13を所定の方向からのみ装着す
ることができるのである。
に装着した後、測定セル13内の媒液中に分散する粒子
群にレーザ光を照射し、回折・散乱光を検出し、データ
をサンプリングした後、コンピュータ19で所定の演算
を行って粒度分布データを算出するとともに、事前にサ
ンプリングしたバックグランドデータで測定データの校
正を行うことで、誤差の少ない粒度分布データを得るこ
とができる。
き部を、ホルダ31に突起部32を設けたが、その変形
として、ガイド23に突起部を、ホルダ31に切り欠き
部を設けてもよい。
る。
射することによって得られる、粒子群による回折/散乱
光の強度分布を測定することにより、粒子群の粒度分布
を測定する装置において、前記測定セルを着脱可能に光
学的に位置決めするホルダと、前記ホルダに対し前記測
定セルを装着する際、所定方向以外の装着を規制する規
制手段とともに、測定セル内に収容する粒子群をガイド
するロートを取り付けたことを特徴とする粒度分布測定
装置。すなわち、測定セルにロートを取り付けたことに
より、装置に対して着脱可能な測定セルであっても、測
定セルにロートが常備されていることで、いつもサンプ
ルの収容にロートが使用でき、サンプルが飛び散って測
定セルの外面を汚すことが少なくなり、測定の準備が容
易になった。
メンテナンスを簡便化するため、測定セルを装置本体か
ら着脱可能に構成されていたとしても、装置本体に固定
されたホルダに対し、測定セルは、所定の方向でしか装
着できないので、バックグランドデータを得たときの同
じ測定条件で、サンプリングデータの校正が行え、適正
なデータの校正が行える。
を示した図。
た図。
図。
略構成を示した図。
Claims (1)
- 【請求項1】 測定セル内の粒子群に平行光束を照射す
ることによって得られる、粒子群による回折/散乱光の
強度分布を測定することにより、粒子群の粒度分布を測
定する装置において、前記測定セルを着脱可能に光学的
に位置決めするホルダと、前記ホルダに対し前記測定セ
ルを装着する際、所定方向以外の装着を規制する規制手
段とを備えたことを特徴とする粒度分布測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10020665A JPH11218482A (ja) | 1998-02-02 | 1998-02-02 | 粒度分布測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10020665A JPH11218482A (ja) | 1998-02-02 | 1998-02-02 | 粒度分布測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11218482A true JPH11218482A (ja) | 1999-08-10 |
Family
ID=12033504
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10020665A Pending JPH11218482A (ja) | 1998-02-02 | 1998-02-02 | 粒度分布測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11218482A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009121948A (ja) * | 2007-11-15 | 2009-06-04 | Shimadzu Corp | セル固定装置及び粒子測定装置 |
JP2009139235A (ja) * | 2007-12-06 | 2009-06-25 | Shimadzu Corp | セル固定装置及びそれを用いた粒子測定装置 |
-
1998
- 1998-02-02 JP JP10020665A patent/JPH11218482A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009121948A (ja) * | 2007-11-15 | 2009-06-04 | Shimadzu Corp | セル固定装置及び粒子測定装置 |
JP2009139235A (ja) * | 2007-12-06 | 2009-06-25 | Shimadzu Corp | セル固定装置及びそれを用いた粒子測定装置 |
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