JPH11172447A - Plasma treating device and production of optical parts - Google Patents

Plasma treating device and production of optical parts

Info

Publication number
JPH11172447A
JPH11172447A JP9343087A JP34308797A JPH11172447A JP H11172447 A JPH11172447 A JP H11172447A JP 9343087 A JP9343087 A JP 9343087A JP 34308797 A JP34308797 A JP 34308797A JP H11172447 A JPH11172447 A JP H11172447A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
microwave
plasma
processed
gas
container
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP9343087A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Goushiyu Chiyou
剛洙 丁
Nobuyoshi Tanaka
信義 田中
Masaki Hirayama
昌樹 平山
Tadahiro Omi
忠弘 大見
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP9343087A priority Critical patent/JPH11172447A/en
Priority to US09/209,496 priority patent/US20020011215A1/en
Publication of JPH11172447A publication Critical patent/JPH11172447A/en
Priority to US10/449,106 priority patent/US6929830B2/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a plasma treating device capable of forming a coating excellent in plane uniformity, small in pinholes and local defects and excellent in coating properties. SOLUTION: This plasma treating device is the one having a vessel 101 permitting evacuation, a gas supply means 103 for supplying a gas for exciting plasma into the vessel, an exhausting means 102 for exhausting the inside of the vessel and a microwave feeding means feeding microwaves into the vessel and applying surface treatment to a body to be treated. The microwave feeding means has plural microwave radiators 200, and the face opposite to the body to be treated is directed in a prescribed direction corresponding to the face to be treated in the body to be treated.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、凸レンズ、凹レン
ズ、凹面鏡等の非平面状の被処理面を有する光学部品の
表面処理に適したプラズマ処理装置とそれを用いた光学
部品の製造法の技術分野に属する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a plasma processing apparatus suitable for surface treatment of an optical component having a non-planar surface to be processed, such as a convex lens, a concave lens, a concave mirror, etc., and a technique for manufacturing an optical component using the same. Belongs to the field.

【0002】[0002]

【従来の技術】非平面状の被処理面を有する被処理体
に、クリーニングや被膜形成といった表面処理を行う技
術が求められている。
2. Description of the Related Art There is a need for a technique for performing a surface treatment such as cleaning or film formation on an object having a non-planar surface.

【0003】その代表例に凸レンズへの反射防止膜の形
成が挙げられる。
A typical example is formation of an anti-reflection film on a convex lens.

【0004】従来は、特開平2−232367号公報に
開示されているようにスパッタリング等のPVD法を用
いて成膜がなされていた。
Conventionally, as disclosed in JP-A-2-23267, a film is formed by a PVD method such as sputtering.

【0005】PVD法は凹凸を有する面への被覆性に劣
るために、本発明者らはCVD法による被膜形成を試み
た。
[0005] Since the PVD method is inferior in coverage on a surface having irregularities, the present inventors have tried to form a film by a CVD method.

【0006】熱CVDは、被処理体の熱変形の点で不向
きであり、光CVDはスループットの点で充分なもので
はない。
[0006] Thermal CVD is not suitable in terms of thermal deformation of an object to be processed, and optical CVD is not sufficient in terms of throughput.

【0007】現在PVD法で得られている反射防止膜よ
り高透過率(低吸収率)で耐光性,耐環境性に優れた膜
を得るには、13.56MHzのRF電源を用いたプラ
ズマ励起CVD(PE−CVD)でも不充分であり、よ
り高密度のプラズマが得られるPE−CVDでなければ
ならない。
In order to obtain a film having a higher transmittance (lower absorptivity) and superior light resistance and environmental resistance than the antireflection film obtained by the PVD method at present, plasma excitation using a 13.56 MHz RF power source is required. CVD (PE-CVD) is also insufficient, and must be PE-CVD that can provide a higher density plasma.

【0008】1010cm-3以上の高密度プラズマが得ら
れるPE−CVDとしては、エレクトロン・サイクロト
ロン共鳴CVD(ECR−PECVD)等マイクロ波を
用いた無電極PECVDがある。
As a PE-CVD capable of obtaining a high-density plasma of 10 10 cm −3 or more, there is an electrodeless PECVD using a microwave such as electron cyclotron resonance CVD (ECR-PECVD).

【0009】図7は特開平6−216047号公報に記
載されているプラズマ処理装置である。
FIG. 7 shows a plasma processing apparatus described in JP-A-6-216047.

【0010】この装置は、プラズマ生成室2と、処理室
4を備え、プラズマ生成室2には、マイクロ波電力導入
手段5,6,8および磁界印加手段10が設置してある
と共に、プラズマ原料ガス導入系20が接続してあり、
処理室4には、化学反応材料ガス導入系22が接続して
あると共に、試料台14にRF電力導入手段18が接続
してあり、マイクロ波電力の発生源8およびRF電力の
発生源18に対して、それぞれの電力を変調するための
制御装置27が設置してある。RF電力とマイクロ波電
力を互いに同期して変調し、成膜が優先する条件とスパ
ッタエッチングが優先する条件を交互に繰り返して、C
VD膜を形成するものである。
This apparatus includes a plasma generation chamber 2 and a processing chamber 4, in which microwave power introducing means 5, 6, 8 and a magnetic field applying means 10 are installed. Gas introduction system 20 is connected,
A chemical reaction material gas introduction system 22 is connected to the processing chamber 4, and an RF power introduction unit 18 is connected to the sample stage 14. The microwave power generation source 8 and the RF power generation source 18 are connected to the processing stage 4. On the other hand, a control device 27 for modulating each power is provided. The RF power and the microwave power are modulated in synchronization with each other, and the condition in which the film formation is prioritized and the condition in which the sputter etching is prioritized are alternately repeated.
A VD film is formed.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】図7の装置で凸レンズ
への反射防止膜の形成を行うと平均的に緻密な膜ができ
るものの面内均一性が劣る膜となってしまう。
When an antireflection film is formed on a convex lens using the apparatus shown in FIG. 7, a dense film can be formed on average, but the film has poor in-plane uniformity.

【0012】また、反応副生成物が被処理面近傍に滞留
する確率が高く、膜にピンホールが生じたり、局所的に
組成比の異なる膜になってしまう。
Further, there is a high probability that the reaction by-products stay near the surface to be processed, resulting in pinholes in the film or a film having a locally different composition ratio.

【0013】本発明の目的は、面内均一性に優れ、ピン
ホールや局所的に欠陥の少ない被覆性に優れた被覆を形
成し得るプラズマ処理装置を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a plasma processing apparatus capable of forming a coating having excellent in-plane uniformity and having less pinholes and local defects and excellent coating properties.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】上述した目的を達成する
ために、本発明によるプラズマ処理装置は、減圧可能な
容器と、プラズマを励起する為のガスを該容器内に供給
する為のガス供給手段と、前記容器内を排気する為の排
気手段と、前記容器内にマイクロ波を供給するマイクロ
波供給手段と、を有し、被処理体に表面処理を施すプラ
ズマ処理装置において、前記マイクロ波供給手段は、複
数のマイクロ波放射体を有し、その前記被処理体に対向
する面が該被処理体の被処理面に対応して所定の方向に
向いていることを特徴とする。
In order to achieve the above object, a plasma processing apparatus according to the present invention comprises a container capable of reducing pressure and a gas supply for supplying gas for exciting plasma into the container. Means, an exhaust unit for exhausting the inside of the container, and a microwave supply unit for supplying a microwave to the inside of the container, wherein the microwave processing apparatus performs a surface treatment on an object to be processed. The supply means has a plurality of microwave radiators, and the surface of the object facing the object is oriented in a predetermined direction corresponding to the surface of the object.

【0015】ここで、前記マイクロ波放射体は、多数の
スロットを有する導体平板からなるアンテナを有するこ
とが好ましい。
Here, it is preferable that the microwave radiator has an antenna formed of a conductive flat plate having a number of slots.

【0016】本発明による光学部品の製造法は、上述し
たプラズマ装置を用いて光学部品の被覆を行う工程を含
むことを特徴とする。
A method of manufacturing an optical component according to the present invention includes a step of coating the optical component using the above-described plasma apparatus.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】図1は本発明のプラズマ処理装置
の一実施形態を示す模式的断面図である。
FIG. 1 is a schematic sectional view showing an embodiment of a plasma processing apparatus according to the present invention.

【0018】101は減圧可能な真空容器であり、排気
口102に接続される不図示の排気手段により1.33
×10-6Pa〜133Pa程度に減圧できるように構成
されている。
Reference numeral 101 denotes a vacuum vessel which can be decompressed.
It is configured so that the pressure can be reduced to about 10 -6 Pa to 133 Pa.

【0019】容器101にはガス供給口103が多数設
けられていて、マイクロ波等のUHF,SHF,EHF
帯の高周波エネルギーによってプラズマとなるガスがこ
こから導入される。
The container 101 is provided with a large number of gas supply ports 103, such as UHF, SHF, EHF such as microwaves.
A gas which becomes a plasma by the high frequency energy of the band is introduced from here.

【0020】また、容器101内には、被処理体Wを載
置し、保持するためのホルダー104が設けられてお
り、その上下位置を適宜選択できるように上下動可能に
なっており、また自転可能になっている。ホルダー10
4にはバイアス電位が印加できるようになっている。そ
してホルダーの駆動機構105がホルダー104を上下
動および自転させる。
Further, a holder 104 for placing and holding the object to be processed W is provided in the container 101, and is vertically movable so that the vertical position thereof can be appropriately selected. It can rotate. Holder 10
4, a bias potential can be applied. Then, the holder driving mechanism 105 vertically moves and rotates the holder 104.

【0021】200はマイクロ波放射部材、201はマ
イクロ波放射部材間の封止材であり、セラミックなどか
らなる。115はOリングである。
Reference numeral 200 denotes a microwave radiating member, and 201 denotes a sealing material between the microwave radiating members, which is made of ceramic or the like. 115 is an O-ring.

【0022】不図示のガス供給系に接続されたガス導入
口107から導入されたガスは、誘電体202内のガス
供給通路108を経てガス供給口103からプラズマプ
ロセス空間A内に供給される。
A gas introduced from a gas introduction port 107 connected to a gas supply system (not shown) is supplied from the gas supply port 103 into the plasma process space A via a gas supply passage 108 in the dielectric 202.

【0023】本例では被処理体として凸の球面を有する
レンズ表面の処理を想定している。
In the present embodiment, it is assumed that the surface of a lens having a convex spherical surface is processed as an object to be processed.

【0024】図2は図1の装置に用いられるマイクロ波
供給手段を上方から見た図である。
FIG. 2 is a top view of the microwave supply means used in the apparatus of FIG.

【0025】マイクロ波供給手段は、矩形のマイクロ波
放射部材200が図2のように5つ集積化されて構成さ
れている。
The microwave supply means is constituted by integrating five rectangular microwave radiating members 200 as shown in FIG.

【0026】図3は図2のA′A´線による断面図であ
り、一つのマイクロ波放射部材200の断面を示してい
る。
FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line A′A ′ in FIG. 2 and shows a cross section of one microwave radiating member 200.

【0027】211は多数のスロットを有する導体平板
アンテナである。導体平板アンテナ211の中心付近に
は同軸導波管110の内導体110aが接続されてお
り、導体平板アンテナ211の外周端は同軸導波管11
0の外側導体110bに接続された導体カバー215で
覆われている。
Reference numeral 211 denotes a conductor plate antenna having a number of slots. The inner conductor 110a of the coaxial waveguide 110 is connected near the center of the conductor plate antenna 211, and the outer peripheral end of the conductor plate antenna 211 is connected to the coaxial waveguide 11
0 is covered with a conductor cover 215 connected to the outer conductor 110b.

【0028】導体平板アンテナ211のマイクロ波放射
面側には、マイクロ波透過性の誘電体板210が配さ
れ、導体平板アンテナ211の裏面にも必要に応じて誘
電体212を配置する。誘電体212はアンテナ211
接してもよく、両者の間に空間を介在させてもよい。誘
電体板210としてはアルミナ,石英,アルミニウムナ
イトライド(AlN),フッ化カルシウム,フッ化マグ
ネシウム等が用いられる。
A microwave permeable dielectric plate 210 is arranged on the microwave radiating surface side of the conductor plate antenna 211, and a dielectric 212 is also arranged on the back surface of the conductor plate antenna 211 as necessary. The dielectric 212 is an antenna 211
They may be in contact with each other or a space may be interposed between them. As the dielectric plate 210, alumina, quartz, aluminum nitride (AlN), calcium fluoride, magnesium fluoride, or the like is used.

【0029】図4は、スロット付導体平板アンテナ21
1の平面図であり、同心円状又はうず巻き状に多数のス
ロット211Sが設けられている。
FIG. 4 shows a slotted conductor plate antenna 21.
FIG. 2 is a plan view of FIG. 1 in which a number of slots 211S are provided in a concentric or spiral shape.

【0030】このようなアンテナをラジアルラインスロ
ットアンテナといい、特開平1−184923号公報や
米国特許第5,034,086号、或いは特開平8−1
11297号公報、特開平4−48805号公報又は特
開平5−22025号公報等に詳しく記されている。
Such an antenna is called a radial line slot antenna and is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 1-184923, US Pat. No. 5,034,086, or Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-1.
No. 11,297, JP-A-4-48805, JP-A-5-22025, and the like.

【0031】マイクロ波放射部材200のマイクロ波放
射面と被処理体Wとの間隔Tgは、全てある許容範囲内
例えば10mm乃至50mmでほぼ一定になるように構
成されている。
The distance Tg between the microwave radiating surface of the microwave radiating member 200 and the object to be processed W is substantially constant within a certain allowable range, for example, 10 mm to 50 mm.

【0032】マイクロ波の導入は以下のようになる。The introduction of microwaves is as follows.

【0033】不図示のマイクロ波発振器にて発生したマ
イクロ波は同軸管110を伝わって導体平板アンテナ2
11に伝搬する。
A microwave generated by a microwave oscillator (not shown) propagates through the coaxial tube 110 and passes through the conductor plate antenna 2.
Propagate to 11.

【0034】アンテナ211に設けられた多数のスロッ
トより伝搬してきたマイクロ波が放射される。
Microwaves propagated from a number of slots provided in the antenna 211 are radiated.

【0035】次に本発明の装置を用いた球面レンズへの
薄膜の形成動作について述べる。
Next, the operation of forming a thin film on a spherical lens using the apparatus of the present invention will be described.

【0036】装置内のホルダー104上に、凸レンズを
被処理面が上を向くように配置し固定する。
A convex lens is arranged and fixed on a holder 104 in the apparatus so that the surface to be processed faces upward.

【0037】駆動機構105によりホルダー104を上
昇させ、マイクロ波供給手段の被処理体対向面106a
と被処理体の被処理面Waとの間隔Tgが10mmない
し50mmになる位置で上昇を停止させる。
The holder 104 is raised by the driving mechanism 105, and the object-supplying surface 106a of the microwave supply means is turned on.
The ascent is stopped at a position where the distance Tg between the substrate and the surface Wa to be processed becomes 10 mm to 50 mm.

【0038】排気口102に接続された排気ポンプによ
り容器101内を1.3×10-5Pa程度まで減圧した
後、処理ガスをガス導入口107に接続されたガス供給
系より、ガス供給通路108を介してプラズマプロセス
空間A内に導入する。容器内の圧力を、ガス供給量、排
気量を制御して、13.3Paないし1.33×103
Paから選択される適当な圧力に維持する。同軸管11
0に接続されたマイクロ波発振器から同軸管110を通
してマイクロ波を導体平板アンテナ211に供給する。
After the pressure in the container 101 is reduced to about 1.3 × 10 −5 Pa by an exhaust pump connected to the exhaust port 102, the processing gas is supplied from a gas supply system connected to the gas inlet 107 to a gas supply passage. It is introduced into the plasma process space A through 108. The pressure in the container is controlled from 13.3 Pa to 1.33 × 10 3 by controlling the gas supply amount and the exhaust amount.
Maintain an appropriate pressure selected from Pa. Coaxial tube 11
Microwaves are supplied from a microwave oscillator connected to the conductor plate antenna 211 through the coaxial tube 110.

【0039】こうして、プラズマプロセス空間でグロー
放電が生起され、ガスのプラズマが生成される。この時
のプラズマ密度は1011ないし1013cm-3の高密度で
あり、緻密な良質の膜が形成できる。
Thus, a glow discharge is generated in the plasma process space, and a gas plasma is generated. At this time, the plasma density is as high as 10 11 to 10 13 cm -3 , and a dense and high-quality film can be formed.

【0040】また、本例によればマイクロ波を用いても
プロセス空間の間隔Tgを10cm以下(本例では10
cmより充分小さい50mm未満)と狭くできるので、
空間A内で生じた反応副生成物を高速で排気除去でき
る。よって、ピンホールの少ない良質の膜が形成でき
る。
Further, according to this embodiment, even when microwaves are used, the interval Tg of the process space is 10 cm or less (in this embodiment, 10 g).
cm less than 50mm)
The reaction by-product generated in the space A can be exhausted and removed at high speed. Therefore, a high-quality film with few pinholes can be formed.

【0041】図5は、誘電体210と被処理体Wの間隔
Tgとプラズマ密度の関係を示すグラフである。Tgが
10mm以下であると間隔が少し異なるだけでプラズマ
密度が大きく変化してしまい、Tgが50mmを越える
と急激にプラズマ密度の低下が生じる。変曲点が存在す
る10mm<Tg≦50mmの範囲であればプラズマの
相対密度差が20%以内に収まり、その結果均一な膜が
できる。
FIG. 5 is a graph showing the relationship between the interval Tg between the dielectric 210 and the workpiece W and the plasma density. If the Tg is less than 10 mm, the plasma density will change greatly even if the interval is slightly different, and if the Tg exceeds 50 mm, the plasma density will drop sharply. If the inflection point is in the range of 10 mm <Tg ≦ 50 mm, the relative density difference of the plasma falls within 20%, and as a result, a uniform film can be formed.

【0042】図6は本発明の別の実施形態によるプラズ
マ処理装置のマイクロ波放射部材200と、被処理体W
との関係を示している。
FIG. 6 shows a microwave radiating member 200 and a workpiece W of a plasma processing apparatus according to another embodiment of the present invention.
The relationship is shown.

【0043】隣合うマイクロ波放射部材200の間に
は、それらマイクロ波放射部材の角度αを可変とする調
整手段201aが設けられている。調整手段201aは
伸縮ベローズ又はダイアフラムを有しており、放射部材
200の境界には気密が保てるようにOリング等を配し
ておく。導体平板アンテナ211と誘電体210との間
にはアンテナ冷却用の空間214が形成されている。2
16,217は誘電体210を押さえ、固定するための
部材であり、誘電体からなる。
An adjusting means 201a for varying the angle α of the microwave radiating members is provided between the adjacent microwave radiating members 200. The adjusting means 201a has a telescopic bellows or a diaphragm, and an O-ring or the like is arranged at the boundary of the radiating member 200 so as to maintain airtightness. A space 214 for cooling the antenna is formed between the conductor plate antenna 211 and the dielectric 210. 2
Reference numerals 16 and 217 denote members for pressing and fixing the dielectric 210, and are made of a dielectric.

【0044】角度αを調整し、更にはホルダー104の
位置を上下させることにより、間隔Tgが10mm〜5
0mmの範囲内に収まるように調整する。
By adjusting the angle α and further raising and lowering the position of the holder 104, the interval Tg is set to 10 mm to 5 mm.
Adjust so that it falls within the range of 0 mm.

【0045】本例によれば、曲率半径の異なる複数種の
凸レンズに表面処理を施すことが出来る。
According to this embodiment, a surface treatment can be applied to a plurality of types of convex lenses having different radii of curvature.

【0046】本発明の装置は、凸面を有する球面レンズ
の表面処理だけではなく、凹面を有する球面レンズの表
面処理にも用いることができる。その場合は、凹凸の形
状を逆にしたアンテナをもつマイクロ波供給手段を用い
れば良い。
The apparatus of the present invention can be used not only for the surface treatment of a spherical lens having a convex surface but also for the surface treatment of a spherical lens having a concave surface. In that case, a microwave supply means having an antenna with an inverted concavo-convex shape may be used.

【0047】本発明において処理し得る被処理体Wとし
ては、石英、蛍石等からなる絶縁性の透光性部材、アル
ミニウム等の導電性の非透光性部材が挙げられ、前者は
凸レンズ、凹レンズ、反射ミラー、窓部材として用いら
れ、後者は反射ミラーとして用いられる。
Examples of the object W to be treated in the present invention include an insulating light-transmitting member made of quartz, fluorite, etc., and a conductive non-light-transmitting member such as aluminum. The former is a convex lens, It is used as a concave lens, a reflection mirror, and a window member, and the latter is used as a reflection mirror.

【0048】本発明の装置により施せる表面処理として
は、薄膜の形成、プラズマクリーニング、プラズマエッ
チング等である。特に本発明の装置は薄膜の形成に有利
であり、具体的には酸化アルミニウム、酸化シリコン、
酸化タンタル、酸化マグネシウム、フッ化アルミニウ
ム、フッ化マグネシウム膜の形成である。
The surface treatment performed by the apparatus of the present invention includes formation of a thin film, plasma cleaning, and plasma etching. In particular, the device of the present invention is advantageous for forming a thin film, specifically, aluminum oxide, silicon oxide,
The formation of tantalum oxide, magnesium oxide, aluminum fluoride, and magnesium fluoride films.

【0049】薄膜の形成はプラズマCVDであるので、
用いる原料ガスとしてはトリメチルアルミニウム(TM
A)、トリイソブチルアルミニウム(TiBA)、ジメ
チルアルミニウムハイドライド(DMAH)等の有機ア
ルミニウム化合物、または、SiH4 、Si26 、S
iF4 、テトラエチルオルソシリケート(TEOS)等
のシリコン化合物、あるいはタンタルやビスエチルシク
ロペンタジエニルマグネシウム等のマグネシウムの有機
化合物である。さらにはこれら原料ガスに加えて、酸
素、酸化窒素、フッ素、NF3 等の酸化性ガスを用いる
ことが望ましく、必要に応じて、水素、ヘリウム、ネオ
ン、アルゴン、キセノン、クリプトン等のガスを添加し
てもよい。
Since the thin film is formed by plasma CVD,
The source gas used is trimethyl aluminum (TM
A), triisobutylaluminum (TiBA), organic aluminum compounds such as dimethyl aluminum hydride (DMAH), or, SiH 4, Si 2 H 6 , S
iF 4 , a silicon compound such as tetraethylorthosilicate (TEOS), or an organic compound of magnesium such as tantalum or bisethylcyclopentadienyl magnesium. Further, in addition to these source gases, it is desirable to use an oxidizing gas such as oxygen, nitrogen oxide, fluorine, and NF 3. If necessary, a gas such as hydrogen, helium, neon, argon, xenon, or krypton is added. May be.

【0050】マイクロ波発振器としては、2.45GH
z、5.0GHz、8.3GHz等の通常のマイクロ波
発振器が用いられる。
As a microwave oscillator, 2.45 GHz
An ordinary microwave oscillator having a frequency of 5.0 GHz, 8.3 GHz, or the like is used.

【0051】[0051]

【実施例】表面を球面状に研磨した石英からなる凸レン
ズを図1の装置のホルダー104上に配置固定した。
EXAMPLE A convex lens made of quartz whose surface was polished into a spherical shape was arranged and fixed on a holder 104 of the apparatus shown in FIG.

【0052】駆動機構105を動作させてホルダー10
4を上昇させ、Tgが20〜30mmとなる位置にホル
ダー104を固定した。アルミニウム製の容器1内を
1.3×104 Paまで一旦排気し減圧した後、ホルダ
ー104を自転させた。処理ガスとして気化させたTM
AとO2 とを導入し、圧力を13.3Paとしてマイク
ロ波を供給して、ガスプラズマを生成した。こうして石
英の球面状の凸面には、酸化アルミニウムの膜が形成で
きた。
The holder 10 is operated by operating the drive mechanism 105.
4 was raised, and the holder 104 was fixed at a position where Tg was 20 to 30 mm. After the interior of the aluminum container 1 was once evacuated to 1.3 × 10 4 Pa and decompressed, the holder 104 was rotated. TM vaporized as processing gas
A and O 2 were introduced, the pressure was set to 13.3 Pa, and microwaves were supplied to generate gas plasma. Thus, an aluminum oxide film was formed on the spherical convex surface of quartz.

【0053】[0053]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
凹面または凸面の被処理面をもつ光学部品にも高密度マ
イクロ波プラズマを用いて均一な処理を行うことができ
る。
As described above, according to the present invention,
An optical component having a concave or convex surface to be processed can be uniformly processed using high-density microwave plasma.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明によるプラズマ処理装置の一実施形態の
断面図である。
FIG. 1 is a sectional view of an embodiment of a plasma processing apparatus according to the present invention.

【図2】マイクロ波供給手段の上面図である。FIG. 2 is a top view of a microwave supply unit.

【図3】図2のA′A´線による断面図で、一つのマイ
クロ波放射部材を示す図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line A′A ′ of FIG. 2, showing one microwave radiating member.

【図4】スロット付導体平板アンテナの平面図である。FIG. 4 is a plan view of a slotted conductor plate antenna.

【図5】マイクロ波放射手段と被処理体の間隔とプラズ
マ密度の関係を示す線図である。
FIG. 5 is a diagram showing the relationship between the distance between the microwave radiating means and the object to be processed and the plasma density.

【図6】本発明の他の実施形態によるプラズマ処理装置
の断面図である。
FIG. 6 is a sectional view of a plasma processing apparatus according to another embodiment of the present invention.

【図7】従来のプラズマ処理装置の断面図である。FIG. 7 is a sectional view of a conventional plasma processing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101 真空容器 102 排気口 103 ガス供給口 104 ホルダー 105 駆動機構 107 ガス導入口 108 ガス供給通路 110 同軸管 115 Oリング 200 マイクロ波放射部材 201a 調整手段 210 誘電板 211 導体平板アンテナ 211s スロット 212 誘電体 214 空間 A プラズマプロセス空間 W 被処理体 Reference Signs List 101 vacuum vessel 102 exhaust port 103 gas supply port 104 holder 105 driving mechanism 107 gas introduction port 108 gas supply path 110 coaxial tube 115 O-ring 200 microwave radiating member 201a adjusting means 210 dielectric plate 211 conductor flat plate antenna 211s slot 212 dielectric 214 Space A Plasma process space W Workpiece

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田中 信義 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 平山 昌樹 宮城県仙台市若林区舟丁52 パンション相 原103 (72)発明者 大見 忠弘 宮城県仙台市青葉区米ケ袋2−1−17− 301 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Nobuyoshi Tanaka 3-30-2 Shimomaruko, Ota-ku, Tokyo Inside Canon Inc. (72) Inventor Masaki Hirayama 52 Funacho, Wakabayashi-ku, Sendai City, Miyagi Prefecture 103 Pansion Aihara (72) Inventor Tadahiro Omi 2-1-17- 301 Yonegabukuro, Aoba-ku, Sendai, Miyagi

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 減圧可能な容器と、プラズマを励起する
為のガスを該容器内に供給する為のガス供給手段と、前
記容器内を排気する為の排気手段と、前記容器内にマイ
クロ波を供給するマイクロ波供給手段と、を有し、被処
理体に表面処理を施すプラズマ処理装置において、前記
マイクロ波供給手段は、複数のマイクロ波放射体を有
し、その前記被処理体に対向する面が該被処理体の被処
理面に対応して所定の方向に向いていることを特徴とす
るプラズマ処理装置。
A container capable of reducing pressure, a gas supply means for supplying a gas for exciting plasma into the container, an exhaust means for exhausting the inside of the container, and a microwave in the container. And a microwave supply unit that supplies a surface of the object to be processed, wherein the microwave supply unit includes a plurality of microwave radiators and faces the object to be processed. A surface to be processed is oriented in a predetermined direction corresponding to the surface to be processed of the object to be processed.
【請求項2】 前記マイクロ波放射体は、多数のスロッ
トを有する導体平板からなるアンテナを有することを特
徴とする請求項1に記載のプラズマ処理装置。
2. The plasma processing apparatus according to claim 1, wherein the microwave radiator has an antenna formed of a conductive flat plate having a number of slots.
【請求項3】 請求項1に記載の装置を用いて光学部品
の被覆を行う工程を含むことを特徴とする光学部品の製
造法。
3. A method for manufacturing an optical component, comprising a step of coating an optical component using the apparatus according to claim 1.
JP9343087A 1997-12-12 1997-12-12 Plasma treating device and production of optical parts Withdrawn JPH11172447A (en)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9343087A JPH11172447A (en) 1997-12-12 1997-12-12 Plasma treating device and production of optical parts
US09/209,496 US20020011215A1 (en) 1997-12-12 1998-12-11 Plasma treatment apparatus and method of manufacturing optical parts using the same
US10/449,106 US6929830B2 (en) 1997-12-12 2003-06-02 Plasma treatment method and method of manufacturing optical parts using the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9343087A JPH11172447A (en) 1997-12-12 1997-12-12 Plasma treating device and production of optical parts

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11172447A true JPH11172447A (en) 1999-06-29

Family

ID=18358848

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9343087A Withdrawn JPH11172447A (en) 1997-12-12 1997-12-12 Plasma treating device and production of optical parts

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11172447A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1306893A1 (en) * 2000-07-11 2003-05-02 Tokyo Electron Limited Plasma processing apparatus
WO2005061757A1 (en) * 2003-12-24 2005-07-07 Konica Minolta Holdings, Inc. Method for producing magnesium fluoride thin film, magnesium fluoride thin film, multilayer film, transparent plastic film, and organic el device
WO2006000599A1 (en) * 2004-06-18 2006-01-05 Indo Internacional S.A. Lens-coating gas dispenser and corresponding coating device, lens and method

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1306893A1 (en) * 2000-07-11 2003-05-02 Tokyo Electron Limited Plasma processing apparatus
EP1306893A4 (en) * 2000-07-11 2005-09-28 Tokyo Electron Ltd Plasma processing apparatus
US7395779B2 (en) 2000-07-11 2008-07-08 Tokyo Electron Limited Plasma processing apparatus
WO2005061757A1 (en) * 2003-12-24 2005-07-07 Konica Minolta Holdings, Inc. Method for producing magnesium fluoride thin film, magnesium fluoride thin film, multilayer film, transparent plastic film, and organic el device
JP4752507B2 (en) * 2003-12-24 2011-08-17 コニカミノルタホールディングス株式会社 Transparent plastic film and organic EL element
WO2006000599A1 (en) * 2004-06-18 2006-01-05 Indo Internacional S.A. Lens-coating gas dispenser and corresponding coating device, lens and method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6929830B2 (en) Plasma treatment method and method of manufacturing optical parts using the same
JP2925535B2 (en) Microwave supplier having annular waveguide, plasma processing apparatus and processing method having the same
KR100317208B1 (en) Thin Film Forming Apparatus and Method of Forming Thin Film of Compound by Using the Same
US8136479B2 (en) Plasma treatment apparatus and plasma treatment method
US6677549B2 (en) Plasma processing apparatus having permeable window covered with light shielding film
US20050005854A1 (en) Surface wave plasma treatment apparatus using multi-slot antenna
EP0880164A1 (en) Plasma processing apparatus provided with microwave applicator having annular waveguide and processing method
JP4268231B2 (en) Plasma treatment apparatus, surface treatment method, and optical component manufacturing method
JPH11319545A (en) Plasma treatment method and method treating substrate
JPWO2002080249A1 (en) Plasma processing equipment
JP2005093737A (en) Plasma film forming device, plasma film forming method, method of manufacturing semiconductor device, liquid crystal display device, and organic el element
EP0474244A2 (en) Plasma processing method
US5804923A (en) Plasma processing apparatus having a protected microwave transmission window
JPH11172447A (en) Plasma treating device and production of optical parts
JPH11172448A (en) Production of optical parts
JPH11172446A (en) Plasma treating device and production of optical parts
JP4478352B2 (en) Plasma processing apparatus, plasma processing method, and structure manufacturing method
US5635144A (en) Low temperature plasma film deposition using dielectric chamber as source material
JP2002164330A (en) Plasma treatment apparatus having transmission window covered with light shielding film
JP3530788B2 (en) Microwave supplier, plasma processing apparatus and processing method
JP2003017479A (en) Precoating method, treatment method, and plasma apparatus
US5368647A (en) Photo-excited processing apparatus for manufacturing a semiconductor device that uses a cylindrical reflecting surface
JP3295336B2 (en) Microwave plasma processing apparatus and plasma processing method
JPH0790591A (en) Microwave plasma cvd system and formation of deposited film
JPS6141763A (en) Thin film manufacturing apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20041209

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070626

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070629

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20070828