JPH10300615A - 半導体圧力センサの自己診断方法 - Google Patents

半導体圧力センサの自己診断方法

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JPH10300615A
JPH10300615A JP10859097A JP10859097A JPH10300615A JP H10300615 A JPH10300615 A JP H10300615A JP 10859097 A JP10859097 A JP 10859097A JP 10859097 A JP10859097 A JP 10859097A JP H10300615 A JPH10300615 A JP H10300615A
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JP
Japan
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pressure sensor
self
semiconductor
semiconductor pressure
pressure
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JP10859097A
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English (en)
Inventor
Kiyomitsu Suzuki
清光 鈴木
Shinya Sato
真也 佐藤
Masayuki Miki
政之 三木
Hisao Sonobe
久雄 園部
Atsushi Miyazaki
敦史 宮崎
Masanori Kubota
正則 久保田
Shinichi Yamaguchi
真市 山口
Yoshiyuki Sasada
義幸 笹田
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Hitachi Ltd
Hitachi Automotive Systems Engineering Co Ltd
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Hitachi Ltd
Hitachi Car Engineering Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】流体の圧力を高精度に測定するセンサが正常か
否かをオンラインで自己診断することを目的とする。 【解決手段】半導体圧力センサを2出力信号型の構成に
し、この2出力信号をマイクロコンピュータで時分割的
に読み込んで演算,処理することにより、ダイアフラム
が破壊するかあるいは接続部が完全に断線するかなどの
極端な故障はもとより、検出部や信号処理回路の微妙な
経時変化並びに接続部の半導通状態に起因した圧力セン
サのゼロ点や感度の経時変化もオンラインで正確に自己
診断する方法。 【効果】本発明によって、あらゆる故障モードをオンラ
インで自己診断できる半導体圧力センサを提供すること
ができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体圧力センサの
診断方法に関し、特には気体,燃料,オイル,油圧など
の流体の圧力を高精度に測定するセンサが正常か否かを
オンラインで自己診断する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】本発明に係わる従来技術としては、圧力
センサが故障したとき出力信号を電源に吊り上げるか、
グランドに落としていた。あるいはブリッジ回路の合成
抵抗をチェックするなどの方法が用いられていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来技術では
ダイアフラムが破壊するかあるいは接続部が完全に断線
するかなどの極端な故障にしか対応できなかった。検出
部や信号処理回路の微妙な経時変化や接続部の半導通状
態などに起因した圧力センサのゼロ点や感度の経時変化
をオンラインで正確に自己診断することができなかっ
た。
【0004】本発明は以上の問題に鑑みてなされたもの
で、オンラインであらゆる故障モードに対応可能な半導
体圧力センサの自己診断方法を実現することを目的とす
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】基本的には圧力に対して
異なる出力特性を持つ2出力型の半導体圧力センサと
し、本圧力センサが使用されるシステム中のマイクロコ
ンピュータで所定の圧力に対する出力特性の初期値を読
み込んで記憶しておく。そして、実使用状態での圧力に
対する前記の2出力をマイクロコンピュータで演算,処
理することによって、全ての故障モードに対して本半導
体圧力センサが正常か否かをオンラインで自己診断でき
るようにする。
【0006】より具体的には、ボス,ストッパ及び半導
体歪ゲージからなるブリッジ回路を表面に形成したダイ
アフラムを有するシリコンチップを台座に接合し、印加
された圧力に応じてダイアフラムが変形して、所定の圧
力でストッパを台座に接触させるようにする。そして、
ストッパが台座に接触する前後の圧力でブリッジ回路に
発生する信号に段折れ特性を持たせ、ストッパが台座に
接触する前後の圧力をそれぞれ増幅,調整して出力する
2出力型の信号処理回路を半導体圧力センサに付加す
る。半導体圧力センサが使用されるシステム中のマイク
ロコンピュータで前記2出力を演算,処理することによ
って、全ての故障モードに対して半導体圧力センサが正
常か否かをオンラインで自己診断できるようになる。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図面に示す実施例
に基づいて詳細に説明する。図1は本発明に係わる半導
体圧力センサの全体構成図である。第1のシリコン基板
1,熱酸化膜2,第2のシリコン基板3よりなるSOI
基板を、パイレックスガラスよりなる台座4に陽極接合
で気密に接合している。台座4はハウジング7に溶接さ
れたステム6へ低融点ガラス5で接着される。コバール
などの材料で構成されるステム6には、リードピン11
が高融点のガラス部材12でハーメチックに装着されて
いる。台座4にはスルーホール10が加工されており、
スルーホール10内に挿入した半田9とリードピン11
は接続されている。SOI基板よりなる検出部は半田
9,リードピン11,導線13を介して信号処理回路8
と電気的に結線されるている。なお、後述する同一番号
の要素は全て同じ機能を有するものである。図2は本発
明による半導体圧力センサの検出部の詳細な断面図であ
る。第1のシリコン基板1と第2のシリコン基板3を熱
酸化膜2を介して1100℃以上の温度で直接接合した
SOI基板をエッチング加工して、第1のシリコン基板
1へダイアフラム16とボス17を、第2のシリコン基
板3へストッパ18,半導体歪ゲージ20,シリコンパ
ッド19を形成している。第1のシリコン基板1,熱酸
化膜2,第2のシリコン基板3の厚さはそれぞれ約数百
ミクロン,1ミクロン,10ミクロンである。なお、ス
トッパ18と台座4間にはギャップ21が形成されてい
る。スルーホール10の底面のシリコンパッド19上に
は金属薄膜14がスパッタあるいは蒸着などの方法で形
成されている。金属薄膜14はAl/Ti/Ni/Au
などの多層膜で、この金属薄膜14を介して半田9はシ
リコンパッド19と電気的に接続される。シリコンパッ
ド19は溝15で第2のシリコン基板3の外枠部とは分
離されている。
【0008】第2のシリコン基板3を台座4側から見た
平面図を図3に示す。4個のシリコンパッド19は溝1
5により、第2のシリコン基板3の外枠部22とは分離
されている。シリコンパッド19のほぼ中央に金属薄膜
14が成膜される。2個の半径方向半導体歪ゲージ20
aと2個の接線方向半導体歪ゲージ20bは熱酸化膜2
の表面に形成され、この熱酸化膜2により第1のシリコ
ン基板1と第2のシリコン基板3の外枠部22とは電気
的に絶縁されている。これらの4個の半導体歪ゲージで
ブリッジ回路が構成され、リード引き出し部23を介し
てシリコンパッド部19と電気的に接続されている。前
図のように、ストッパ18はボス17の下部に形成され
る。第1のシリコン基板1,第2のシリコン基板3は
(100)P型の単結晶シリコンよりなり、シリコンパッ
ド19とリード引き出し部23にはボロンをドーピング
してこの部分を低抵抗にしている。半導体歪ゲージ20
a,20bとリード引き出し部23の厚さは約0.5〜
3.0ミクロンの値に設計される。また、ストッパ18
の厚さは前図で説明したギャップ21が約1ミクロン前
後になるように加工される。
【0009】SOI検出部をダイアフラム側から見た平
面図を図4に示す。ダイアフラム16の中央部分にボス
17が形成される。傾斜部分24と25はダイフラム1
6とボス17をアルカリ溶液でエッチング加工したとき
に生じたものである。また、半導体歪ゲージ20a,2
0bはダイアフラム16側からは見えないが、ダイアフ
ラム16の下部のその位置に配置されているという意味
で図中に示した。
【0010】2個の半導体歪ゲージ20a,20bより
なるブリッジ回路部に発生するブリッジ出力Vbの例を
図5に示す。本図は測定すべき圧力Pに対するブリッジ
出力Vbの関係を示したものである。出力特性(a)は
ストッパ18がある場合で、1Mpaの圧力でストッパ
18を台座4へ接触させたときの例である。図に示すよ
うに、0〜1Mpaの低圧領域と1〜10Mpaの高圧
領域の検出感度は異なり、低圧領域の感度を高圧領域の
約10倍に設計した例である。ストッパ18が台座4へ
接触するとダイアフラム16が小さくなったことと等価
であり、結果的に単位圧力変化に対する感度は高圧領域
側で小さくなり、1Mpaの圧力で出力特性は段折れに
なる。一方、ストッパ18がない場合、ブリッジ出力V
bは(b)のようになる。
【0011】本発明によるオンラインでの半導体圧力セ
ンサの自己診断方法を図6に示す。本図は半導体圧力セ
ンサが使用される極めて一般的なシステム中での自己診
断方法を示したものである。例えば、自動車のエンジン
制御システムの場合は半導体圧力センサ26の他に、流
量センサ27,温度センサ28など多数のセンサが使用
される。そして、これらのセンサの信号を処理してイン
ジェクタ30や点火装置31などのアクチュエータがマ
イクロコンピュータ29でコントロールされる。今、本
発明による半導体圧力センサ26は前述の信号処理回路
8で、測定すべき圧力Pに対して異なった形態の出力信
号VxとVyを出す機能を持っている。半導体圧力セン
サ26の製造,調整時の出力信号Vx,Vyあるいはシ
ステムに組み込んだときの出力信号Vx,Vyの初期値
をマイクロコンピュータ29中のメモリ(図には記載し
ていない)へあらかじめ記憶しておく。そして、オンラ
インでマイクロコンピュータ29で半導体圧力センサ2
6の出力信号VxとVyを演算,処理することによっ
て、半導体圧力センサ26自身を自己診断するものであ
る。演算,処理の内容はVxとVyの絶対値及びVxと
Vyの比(即ち、Vx/Vy)を初期値と比較すること
によって自己診断を行うものである。VxとVyの絶対
値の他にこれらの比を演算,処理することによって、半
導体圧力センサ26が製造時あるいはシステムに組み込
んだときから経時的に変化したか?どうか、また完全に
故障していないか?どうかを容易に自己診断することが
可能になる。
【0012】2出力を利用した自己診断方法の詳細を図
7及び図8を用いて説明する。図7における出力信号V
xとVyは、図5に示したブリッジ出力Vb中の出力特
性(a)を信号処理回路8で変換したものである。即
ち、出力特性(a)のオフセットと感度を信号処理回路
8中の差動増幅器で調整することによって、図7に示し
たような圧力Pに対する出力信号VxとVyが容易に得
られる。なお、出力信号Vxはストッパ18が台座4に
接触する前の低圧領域(0〜1Mpa)の圧力Pを、出
力信号Vyはストッパ18が台座4に接触した後の高圧
領域(1〜10Mpa)の圧力Pを特に高精度に検出で
きるように変換したものである。ここで、出力信号Vx
は図に示すように、1〜10Mpaの高圧領域でも測定
すべき圧力Pに対して十分な感度を有している。前図に
示したマイクロコンピュータ29は半導体圧力センサ2
6からの出力信号VxとVyを時分割的に読み込んで処
理することにより、測定すべき圧力Pの値を本図の特性
図から正確に決定することができる。図に示すように、
1〜10Mpaの高圧領域で出力信号VxとVyはオー
バーラップしている。測定すべき圧力Pが高圧領域に入
ったとき、マイクロコンピュータ29で出力信号Vxと
Vyを時分割的に読み込んで演算,処理することによ
り、これらの信号値が本図の出力特性曲線に乗っている
かどうか?を判定する。また、出力信号の比(即ち、V
x/Vy)が半導体圧力センサ26の製造時あるいはシ
ステムに組み込んだ時の初期値から変化していないかど
うか?も、マイクロコンピュータ29で演算,処理する
ことによって判定することが容易である。
【0013】この結果、ダイアフラムが破壊するかある
いは接続部が完全に断線するかなどの極端な故障はもと
より、検出部や信号処理回路の微妙な経時変化並びに接
続部の半導通状態に起因した圧力センサのゼロ点や感度
の経時変化もオンラインで正確に自己診断することが可
能になる。
【0014】次に、ブリッジ回路のブリッジ出力Vbが
図5に示した出力特性(b)のように、測定すべき圧力
Pに対して段折れ特性を持たない場合でも、同様にあら
ゆる故障モードに対応した圧力センサの自己診断が可能
になる。この場合の自己診断方法を図8に示した。図に
おいて、圧力Pに対する出力信号Vyは全領域(0〜1
0Mpa)の圧力を検出できるように、信号処理回路8
で前述の出力特性(b)を調整したものである。一方、圧
力Pが0Mpaのときの出力電圧Voの値を出力信号V
yのときと変え、且つ圧力Pに対する感度も変えて調整
した出力信号をVx1及びVx2として示した。図に示
すように、出力信号Vx1及びVx2は圧力Pに対する
感度がそれぞれVyより大きく及び小さくなるように調
整したものである。なお、出力電圧の再現性が優れてい
れば、出力信号Vx1を用いて低圧領域の圧力Pをより
高分解能で検出できる。前図の場合と同様に、出力信号
Vx1とVyの関係あるいはVx2とVyの関係をマイ
クロコンピュータ29で演算,処理することにより、半
導体圧力センサが正常状態にあるのか?それとも故障状
態にあるのか?を自己診断することができる。なお、出
力信号Vx1を用いたときは0〜4Mpaの低圧領域で
しか自己診断できないのに対して、出力信号Vx2を用
いたときは0〜10Mpaの全領域で自己診断を行うこ
とができる。
【0015】最後に、本発明は図2に示したSOI構造
の検出部に限定される必要はなく、非SOI構造の半導
体圧力センサにも適用できるのは言うまでもない。ま
た、1個の検出部に対して少なくとも2個以上の出力信
号を出すように構成することが本質的に重要であり、特
定の圧力値で必ずしも段折れ特性にする必要はない。従
って、ボスやストッパを有さない構造の半導体圧力セン
サにも適用できる。なお、検出部の実施例には半導体歪
ゲージからなる半導体圧力センサを示したが、2出力型
の信号形態にすれば静電容量式などの他の測定原理の圧
力センサに対しても適用できるのは言うまでもない。
【0016】
【発明の効果】オンラインであらゆる故障モードに対し
て、半導体圧力センサを正確に自己診断することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる半導体圧力センサの全体構成図
を示した図。
【図2】本発明による半導体圧力センサの検出部の詳細
な断面構造の一実施例を示した図。
【図3】本発明による半導体圧力センサの第2のシリコ
ン基板の平面図の一実施例を示した図。
【図4】本発明による半導体圧力センサの第1のシリコ
ン基板の平面図の一実施例を示した図。
【図5】本発明による半導体圧力センサのブリッジ出力
の例を示した図。
【図6】本発明によるオンラインでの半導体圧力センサ
の自己診断方法を示した図。
【図7】本発明による2出力を利用した半導体圧力セン
サの自己診断方法の説明を示した図。
【図8】本発明による2出力を利用した半導体圧力セン
サの自己診断方法の説明を示した図。
【符号の説明】
1…第1のシリコン基板、2…熱酸化膜、3…第2のシ
リコン基板、4…台座、5…低融点ガラス、6…ステ
ム、7…ハウジング、8…信号処理回路、9…半田、1
0…スルーホール、11…リードピン、12…高融点の
ガラス部材、13…導線、14…金属薄膜、15…溝、
16…ダイアフラム、16a…厚さの薄いダイアフラム
部、16b…厚さの厚いダイアフラム部、17…ボス、
18…ストッパ、19…シリコンパッド、20…半導体
歪ゲージ、20a,20c…半径方向の半導体歪ゲー
ジ、20b,20d…接線方向の半導体歪ゲージ、21
…ギャップ、22…外枠部、23…リード引き出し部、
24,25…傾斜部分、26…半導体圧力センサ、27
…流量センサ、28…温度センサ、29…マイクロコン
ピュータ、30…インジェクタ、31…点火装置。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 三木 政之 茨城県ひたちなか市大字高場2520番地 株 式会社日立製作所自動車機器事業部内 (72)発明者 園部 久雄 茨城県日立市大みか町七丁目1番1号 株 式会社日立製作所日立研究所内 (72)発明者 宮崎 敦史 茨城県ひたちなか市大字高場2520番地 株 式会社日立製作所自動車機器事業部内 (72)発明者 久保田 正則 茨城県ひたちなか市高場2477番地 株式会 社日立カーエンジニアリング内 (72)発明者 山口 真市 茨城県ひたちなか市高場2477番地 株式会 社日立カーエンジニアリング内 (72)発明者 笹田 義幸 茨城県ひたちなか市大字高場2520番地 株 式会社日立製作所自動車機器事業部内

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ボス,ストッパ及び半導体歪ゲージからな
    るブリッジ回路を表面に形成したダイアフラムを有する
    シリコンチップを台座に接合し、印加された圧力に応じ
    て前記ダイアフラムが変形して、所定の圧力で前記スト
    ッパを前記台座に接触させるようにすることにより、該
    ストッパが該台座に接触する前後の圧力で該ブリッジ回
    路に発生する信号に段折れ特性を持たせ、該ストッパが
    該台座に接触する前後の圧力をそれぞれ増幅して出力す
    る2出力型の信号処理回路を持つ半導体圧力センサにお
    いて、本半導体圧力センサが使用されるシステム中のマ
    イクロコンピュータで前記2出力を演算,処理すること
    によって、半導体圧力センサが正常か否かをオンライン
    で自己診断できるようにしたことを特徴とする半導体圧
    力センサの自己診断方法。
  2. 【請求項2】請求項1において、シリコンチップはSO
    I基板からなりダイアフラムの一方の面にボス、他方の
    面にストッパとブリッジ回路を配置したことを特徴とす
    る半導体圧力センサの自己診断方法。
  3. 【請求項3】請求項1または2において、台座はガラス
    基板よりなり陽極接合でシリコンチップと接合されてい
    ることを特徴とする半導体圧力センサ。
  4. 【請求項4】請求項1または2または3において、2出
    力型の信号処理回路はそれぞれ低圧領域と高圧領域で調
    整された出力信号を出す機能を有することを特徴とする
    半導体圧力センサの自己診断方法。
  5. 【請求項5】ストッパ及び半導体歪ゲージからなるブリ
    ッジ回路を表面に形成したダイアフラムを有するシリコ
    ンチップを台座に接合し、印加された圧力に応じて前記
    ダイアフラムが変形して、所定の圧力で前記ストッパを
    前記台座に接触させるようにすることにより、該ストッ
    パが該台座に接触する前後の圧力で該ブリッジ回路に発
    生する信号に段折れ特性を持たせ、該ストッパが該台座
    に接触する前後の圧力をそれぞれ増幅して出力する2出
    力型の信号処理回路を持つ半導体圧力センサにおいて、
    本半導体圧力センサが使用されるシステム中のマイクロ
    コンピュータで前記2出力を演算,処理することによっ
    て、半導体圧力センサが正常か否かをオンラインで自己
    診断できるようにしたことを特徴とする半導体圧力セン
    サの自己診断方法。
  6. 【請求項6】圧力に対して異なる出力特性を出す2出力
    型の信号処理回路を持つ半導体圧力センサにおいて、本
    半導体圧力センサが使用されるシステム中のマイクロコ
    ンピュータで前記2出力を演算,処理することによっ
    て、該半導体圧力センサが正常か否かをオンラインで自
    己診断できるようにしたことを特徴とする半導体圧力セ
    ンサの自己診断方法。
  7. 【請求項7】圧力に対して異なる出力特性を出す2出力
    型の信号処理回路を持つ圧力センサにおいて、本圧力セ
    ンサが使用されるシステム中のマイクロコンピュータで
    前記2出力を演算,処理することによって、該圧力セン
    サが正常か否かをオンラインで自己診断できるようにし
    たことを特徴とする圧力センサの自己診断方法。
  8. 【請求項8】圧力に対して異なる出力特性を出す2出力
    型の信号処理回路を持つ半導体圧力センサにおいて、本
    半導体圧力センサが使用されるシステム中のマイクロコ
    ンピュータで所定の圧力に対する出力特性の初期値を読
    み込んで記憶しておき、実使用状態での圧力に対する前
    記2出力を該マイクロコンピュータで演算処理すること
    によって、該半導体圧力センサが正常か否かをオンライ
    ンで自己診断できるようにしたことを特徴とする半導体
    圧力センサの自己診断方法。
  9. 【請求項9】圧力に対して異なる出力特性を出す2出力
    型の信号処理回路を持つ圧力センサにおいて、本圧力セ
    ンサが使用されるシステム中のマイクロコンピュータで
    所定の圧力に対する出力特性の初期値を読み込んで記憶
    しておき、実使用状態での圧力に対する前記2出力を該
    マイクロコンピュータで演算,処理することによって、
    該圧力センサが正常か否かをオンラインで自己診断でき
    るようにしたことを特徴とする圧力センサの自己診断方
    法。
JP10859097A 1997-04-25 1997-04-25 半導体圧力センサの自己診断方法 Pending JPH10300615A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6518880B2 (en) 2000-06-28 2003-02-11 Denso Corporation Physical-quantity detection sensor
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