JPH10200334A - 電圧制御発振器 - Google Patents

電圧制御発振器

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JPH10200334A
JPH10200334A JP9001111A JP111197A JPH10200334A JP H10200334 A JPH10200334 A JP H10200334A JP 9001111 A JP9001111 A JP 9001111A JP 111197 A JP111197 A JP 111197A JP H10200334 A JPH10200334 A JP H10200334A
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JP
Japan
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voltage
control voltage
internal
nmos
reference voltage
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Application number
JP9001111A
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Inventor
Shigekazu Mori
重和 守
Hitoshi Shirasawa
仁 白澤
Masaya Hiroeda
正也 廣枝
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Oki Electric Industry Co Ltd
Kyocera Crystal Device Corp
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Kyocera Crystal Device Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 製造プロセスや温度変化等による特性のばら
つきを抑制し、特性の均一な電圧制御発振器を提供す
る。 【解決手段】 外部制御電圧VCから固定抵抗41に電
流Idsが流れ、ノードN41は電圧V41になる。電
圧V41と基準電圧Vrefは、演算増幅器42の入力
側に与えられ、内部制御電圧Viが出力されてNMOS
43のゲートに与えられる。内部制御電圧Viによって
NMOS43のオン抵抗が変化し、電流Idsを制御す
る。演算増幅器42とNMOS43によるフィードバッ
ク作用により、電圧V41は基準電圧Vrefに等しく
なる。即ち、NMOS43のオン抵抗は外部制御電圧V
Cと基準電圧Vrefと固定抵抗41で規定され、温度
や特性のばらつきに依存しない。NMOS43,32は
電流ミラー回路を構成しているので、NMOS32によ
って、特性の均一な発振周波数制御が可能になる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、水晶振動子等の圧
電発振子を用い、負荷容量を外部制御電圧によって制御
することにより、発振周波数を制御できる電圧制御水晶
発振器(以下、「VCXO」という)等の電圧制御発振
器(以下、「VCO」という)に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のVCOには、電圧制御型の可変容
量コンデンサ等を負荷容量として用い、この可変容量コ
ンデンサ等の容量を制御することにより、発振周波数を
制御するものがある。しかし、可変容量コンデンサ等
は、温度変化による特性の変化が大きく、更に製造プロ
セスの僅かな相違による特性のばらつきが大きいという
問題点がある。このため、精密な周波数制御を行うため
には、VCO毎にその温度特性等を測定し、その測定結
果に基づいて制御電圧を与えるようにしなければなら
ず、制御電圧発生回路の調整作業に手間がかかった。ま
た、可変容量コンデンサ等を用いないVCOとしては、
例えば次のような文献に記載されるものがあった。 文献:特開平5−75344号公報 図2は、前記文献に記載された従来のVCXOの構成例
を示す回路図である。このVCXOは、水晶振動子1、
インバータ2、帰還抵抗3、及びコンデンサ4,5,6
で構成される水晶発振回路10を有している。コンデン
サ6は、Nチャネル型MOSトランジスタ(以下、「N
MOS」という)11を介して接地電位GNDに接続さ
れている。また、このVCXOは、電流加算型のディジ
タル/アナログ(以下、「D/A」という)変換回路1
2を有しており、このD/A変換回路12には、ディジ
タル値で電流値を設定するためのスイッチ13が接続さ
れている。D/A変換回路12の入力側は電源電位VC
Cに接続され、出力側にはNMOS14のドレインとゲ
ートが共通接続されている。NMOS14のソースは接
地電位GNDに接続され、ゲートはNMOS11のゲー
トに接続されており、これらのNMOS11,14が、
電流ミラー回路を構成している。
【0003】このような構成のVCXOにおいて、スイ
ッチ13で電流値を設定することにより、D/A変換回
路12においてその設定された値の電流が生成され、そ
の電流がNMOS14に流れる。NMOS11,14
は、電流ミラー回路を構成しているので、このNMOS
11にも同じ大きさの電流が流れることになる。NMO
S11に流れる電流を大きくすると、水晶発振回路10
の見掛け上の負荷容量が大きくなり、発振信号の負荷容
量による遅延時間が大きくなり、発振周波数は低くな
る。一方、NMOS11に流れる電流を小さくすると、
水晶発振回路10の見掛け上の負荷容量が小さくなり、
発振信号の負荷容量による遅延時間が小さくなり、発振
周波数は高くなる。NMOS11に流れる電流は、スイ
ッチ13の設定によって決まるので、このスイッチ13
によって水晶発振回路10の発振周波数を制御すること
ができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記文
献に記載された従来のVCXOでは、次のような課題が
あった。即ち、D/A変換回路12の出力電流によって
NMOS14の電流を制御し、このNMOS14とカレ
ントミラーを構成するNMOS11のゲート電圧を制御
することにより、このNMOS11の導通状態を変化さ
せ、コンデンサ6及びNMOS11で構成される負荷容
量の値を制御して発振周波数を制御している。このた
め、NMOS14は飽和領域で動作を行い、NMOS1
1は非飽和領域で動作を行うことになる。このように、
異なる動作領域で動作するNMOS14の電流により、
このNMOS14とカレントミラーを構成するNMOS
11のゲート電圧を制御し、このNMOS11の導通状
態(即ち、オン抵抗)を、温度特性や閾値電圧Vtのば
らつきを含めた形で正確に制御することは困難である。
【0005】一般的に、NMOS11等のトランジスタ
は、製造プロセスの相違による相互コンダクタンスgm
や閾値電圧Vtの特性のばらつきが大きく、例えば、平
均値に対して±25%程度のばらつきがある。更に、ト
ランジスタは温度による特性変化も大きく、−10〜+
80℃の温度変化に対して20〜30%のオン抵抗値の
変化を生ずる。このため、正確な発振周波数を得るため
に、温度特性と個別の特性とをパラメータとした制御電
圧を与える必要があり、一定した周波数を発振させるた
めには複雑な制御電圧発生回路を必要とし、更にその調
整にも手数がかかった。本発明は、前記従来技術が持っ
ていた課題を解決し、製造プロセス等によるトランジス
タの特性のばらつきによる影響を抑制し、均一な特性を
有するVCXO等のVCOを提供するものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、本発明のうちの第1の発明は、VCOにおいて、リ
ニアな増幅特性を有する論理ゲートの出力信号によって
圧電発振子を励振し、該圧電発振子の出力信号を該論理
ゲートに正帰還させて発振信号を出力する発振手段と、
前記論理ゲートの入力側及び出力側と第1の基準電圧と
の間に接続され、内部制御電圧に応じて導通状態が制御
される単数または並列接続された複数の第1のトランジ
スタを有し、該第1のトランジスタの導通状態によって
該論理ゲートの負荷を変化させる可変負荷手段と、内部
電圧と前記第1の基準電圧との間に接続され、前記第1
のトランジスタと等しい特性を有し、前記内部制御電圧
に応じて導通状態が制御される単数または並列接続され
た複数の第2のトランジスタと、発振周波数制御用の外
部制御電圧を前記第2のトランジスタに流れる電流に比
例して降下させ、前記内部電圧を生成するとともに、該
内部電圧と第2の基準電圧との電圧差に応じて生成した
前記内部制御電圧を該第2のトランジスタにフィードバ
ックして、該内部電圧が該第2の基準電圧に等しくなる
ように該内部制御電圧を制御する内部制御電圧生成手段
とを備えている。
【0007】第2の発明は、第1の発明の可変負荷手段
を、前記論理ゲートの入力側または出力側と負荷ノード
との間に接続された固定容量の第1のキャパシタと、前
記負荷ノードと前記第1の基準電圧との間に接続された
前記単数または複数の第1のトランジスタと、前記論理
ゲートの出力側または入力側と前記第1の基準電圧との
間に接続された固定容量の第2のキャパシタとで構成し
ている。また、内部制御電圧生成手段を、前記外部制御
電圧が印加され、該外部制御電圧を降下させて前記内部
電圧を出力する電圧降下手段と、前記内部電圧と前記第
2の基準電圧とが入力され、該内部電圧と該第2の基準
電圧との電圧差に応じて前記内部制御電圧を出力する演
算増幅器とで構成している。
【0008】第1及び第2の発明によれば、以上のよう
にVCOを構成したので、次のような作用が行われる。
外部制御電圧が内部制御電圧生成手段に印加されると、
電圧降下手段を介して第2のトランジスタに電流が流れ
る。この第2のトランジスタに流れる電流に比例した電
圧降下により、内部電圧が生成される。内部制御電圧生
成手段によって、内部電圧と第2の基準電圧との電圧差
に応じた内部制御電圧が生成されて、第2のトランジス
タにフィードバックされる。第2のトランジスタは、内
部制御電圧によって導通状態が変化し、それに流れる電
流が制御される。このフィードバック動作により、内部
電圧が第2の基準電圧に等しくなるような内部制御電圧
が生成される。内部制御電圧は、可変負荷手段の第1の
トランジスタの制御電圧として与えられ、この第1のト
ランジスタの導通状態によって、発振手段内の論理ゲー
トの負荷が変化し、発振周波数の制御が行われる。
【0009】
【発明の実施の形態】第1の実施形態 図1は、本発明の第1の実施形態を示すVCXOの回路
図である。このVCXOは、例えば温度補償型の水晶発
振回路として使用されるもので、発振信号OUTを出力
する発振手段(例えば、発振部)20、この発振部20
の入出力側と基準電圧(例えば、接地電位)GNDとの
間の負荷容量を変化させることによって発振周波数を制
御する可変負荷手段(例えば、負荷部)30、及びこの
可変負荷手段30に対して周波数制御用の内部制御電圧
Viを供給する内部制御電圧生成手段(例えば、制御
部)40を備えている。発振部20は、リニアな増幅特
性を有する論理ゲート(例えば、インバータ)21を有
しており、この出力側には、その出力信号によって励振
される圧電発振子(例えば、水晶発振子)22の一端が
接続されている。水晶発振子22の他端は、インバータ
21の入力側に接続されている。水晶発振子22には、
並列に帰還抵抗23が接続されており、これらの水晶発
振子22及び帰還抵抗23は、インバータ21に対する
正帰還回路を構成している。この正帰還回路とインバー
タ21による正帰還増幅作用により、このインバータ2
1の出力側に発振信号OUTが出力される。インバータ
21の入力側及び出力側には、負荷部30が接続されて
いる。
【0010】負荷部30は、直列接続された固定容量の
キャパシタ(即ち、コンデンサ)31及びNMOS32
を有しており、このコンデンサ31がインバータ21の
入力側に接続され、NMOS32のソースが接地電位G
NDに接続されている。NMOS32のゲートには、制
御部40から内部制御電圧Viが与えられ、この内部制
御電圧Viによって、このNMOS32の導通状態が制
御されて、インバータ21の入力側の負荷を制御するよ
うになっている。また、インバータ21の出力側と接地
電位GNDの間には、固定容量のコンデンサ33が接続
されている。制御部40は、温度変化のない一定の抵抗
値R41の電圧降下手段(例えば、固定抵抗)41を有
しており、この固定抵抗41の一端に、発振周波数を制
御するための外部制御電圧VCが印加されている。外部
制御電圧VCは、図示されない温度補償回路から与えら
れる制御電圧であり、例えば、温度センサから得られた
温度信号をディジタル値に変換し、そのディジタル値に
より、予め温度に対応した補正データが記憶されたメモ
リを読み出し、更にその補正データをアナログの電圧に
変換することによって得られるものである。固定抵抗4
1の他端はノードN41に接続されている。ノードN4
1には、演算増幅器42の非反転入力端子とNMOS4
3のドレインとが接続されている。演算増幅器42の反
転入力端子には、基準電圧Vref(例えば、0.3
V)が与えられており、この演算増幅器42の出力側
が、NMOS32と等しい特性を有するNMOS43の
ゲートに接続されている。NMOS43のソースは、接
地電位GNDに接続されている。演算増幅器42の出力
側には、更にNMOS32のゲートが接続され、このN
MOS32とNMOS43によって、電流ミラー回路が
構成されている。
【0011】次に、このVCXOの動作を説明する。発
振部20のインバータ21に、図示しない電源部から電
源が供給されると、インバータ21は増幅動作を開始
し、電源投入時の雑音や周囲の熱雑音等により入力側に
与えらた微小電圧等を増幅して出力する。増幅された様
々な周波数成分の内で、水晶発振子22及び帰還抵抗2
3で構成される帰還回路と負荷部30による固有周波数
成分のみが、再びインバータ21の入力側に正帰還され
ることにより、次第にその出力信号の振幅が増大する。
一方、固定抵抗41の一端に外部制御電圧VCが与えら
れると、この固定抵抗41を流れる電流Idsによって
電圧が降下し、ノードN41の電圧は内部電圧V41に
なる。内部電圧V41は、演算増幅器42の非反転入力
端子に与えられ、この演算増幅器42によって、その非
反転及び反転入力端子に与えられた入力電圧の差の電圧
(=V41−Vref)が増幅される。演算増幅器42
から出力される内部制御電圧Viは、NMOS43のゲ
ートに与えられる。
【0012】ここで、演算増幅器42の入力側の電圧
が、V41>Vrefであれば、この演算増幅器42か
ら出力される内部制御電圧Viは、Vi>Vrefとな
り、固定抵抗41及びNMOS43に流れる電流Ids
は増加する。電流Idsが増加すると、固定抵抗41に
よる電圧降下が増加し、電圧V41は低下する。一方、
V41<Vrefであれば、Vi<Vrefとなり、電
流Idsは減少する。電流Idsが減少すると、固定抵
抗41による電圧降下が減少し、電圧V41は上昇す
る。このような、演算増幅器42とNMOS43による
フィードバック動作により、ノードN41の内部電圧V
41は、基準電圧Vrefに等しくなるように制御され
る。従って、この時、NMOS43に流れる電流Ids
は、次の(1)式のようになる。 Ids=(VC−Vref)/R41 ・・・(1) (1)式において、VCは外部から与えられる外部制御
電圧であり、Vrefは基準電圧であるから、温度によ
る変化は生じない。従って、固定抵抗41に温度変化の
ない基準抵抗を用いることにより、電流Idsを温度に
影響されない一定の値に維持することができる。NMO
S32とNMOS43とは、電流ミラー回路を構成して
おり、これらのNMOS32,43の特性は等しいの
で、その導通状態(即ち、オン抵抗値)は等しくなる。
【0013】このように、外部制御電圧VCにより、N
MOS43を流れる電流Idsを制御し、このNMOS
43に連動してNMOS32のオン抵抗値を制御する。
そして、NMOS32のオン抵抗値により、インバータ
21の負荷容量を制御することにより、発振部20の発
振周波数を制御するようにしている。即ち、外部制御電
圧VCを高くすると、(1)式に示すように電流Ids
は大きくなり、NMOS43,32のオン抵抗が小さく
なる。これにより、負荷部30の見掛け上の負荷容量が
大きくなり、発振信号OUTの負荷容量による遅延時間
が大きくなって、発振周波数は低くなる。一方、外部制
御電圧VCを低くすると、電流Idsは小さくなり、N
MOS43,32のオン抵抗が大きくなる。これによ
り、負荷部30の見掛け上の負荷容量が小さくなり、発
振信号OUTの負荷容量による遅延時間が小さくなっ
て、発振周波数は高くなる。以上のように、この第1の
実施形態では、次の(i)〜(iii)のような利点があ
る。
【0014】(i) NMOS43を流れる電流Ids
は、温度変化による影響を受けることが無いので、この
NMOS43とともに電流ミラー回路を構成するNMO
S32のオン抵抗値は一定に保たれ、発振部20によっ
て、常に外部制御電圧VCに対応した一定周波数の発振
信号OUTを出力することができる。 (ii) 外部制御電圧VCとして、水晶発振子22の温
度補償用の制御電圧TCを与える場合、NMOS32の
温度特性やばらつきを考慮する必要がなく、この水晶発
振子22のみの温度特性に基づいた外部制御電圧VCを
与えれば良いので、温度補償回路の構成が簡素化でき
る。 (iii) 演算増幅器42によるフィードバック制御で、
抵抗41及びNMOS43に流れる電流Idsを制御す
るので、このNMOS43は非飽和領域(即ち、リニア
動作領域)で動作する。このため、NMOS43とNM
OS32のオン抵抗値は等しくなる。従って、温度特性
や閾値電圧Vtのばらつきに拘らず、正確にNMOS3
2の電流制御を行うことが可能となる。
【0015】第2の実施形態 図3は、本発明の第2の実施形態を示すVCXOの回路
図であり、図1中の要素と共通の要素には共通の符号が
付されている。この図3のVCXOでは、図1の負荷部
30に代えて、構成の異なる負荷部30Aが設けられて
いる。即ち、負荷部30Aのコンデンサ31は、インバ
ータ21の入力側と接地電位GNDとの間に接続されて
いる。また、インバータ21の出力側のコンデンサ33
は、NMOS34を介して接地電位GNDに接続されて
いる。そして、NMOS34のゲートに、制御部40か
らの内部制御電圧Viが与えられている。この図3のV
CXOの動作は、図1のVCXOの動作と同様である。
但し、インバータ21の出力側の負荷容量を制御するよ
うにしているので、一般的に、周波数制御範囲を図1の
VCXOよりも広くすることができるという利点があ
る。
【0016】第3の実施形態 図4は、本発明の第3の実施形態を示すVCXOの回路
図であり、図1中の要素と共通の要素には共通の符号が
付されている。図4のVCXOは、図1のコンデンサ3
1とNMOS32で構成される負荷回路に代えて、特性
の等しいNMOS32a,32b,32c、及び同一容
量のコンデンサ31a,31b,31cを並列接続した
負荷回路を用いるとともに、NMOS43に代えて、特
性の等しいNMOS43a,43bを並列接続して用い
る構成になっている。図4のVCXOの動作は、図1の
VCXOの動作とほぼ同様である。但し、図4のVCX
Oでは、固定抵抗41を流れる電流IdsがNMOS4
3a,43bに分流するので、このNMOS43a等の
オン抵抗値は、図1のNMOS43のオン抵抗値の2倍
となる。一方、NMOS32a〜32cの個々のオン抵
抗値はNMOS43aのオン抵抗値と等しいので、並列
接続されたコンデンサ31a〜31cとNMOS32a
〜32cからなる負荷回路の全体のインピーダンスは、
図1のNMOS32のインピーダンスの2/3となる。
このように、図4のVCXOでは、並列接続されたコン
デンサ31a〜31cとNMOS32a〜32c、及び
並列接続されたNMOS43a,43bを有するので、
より少ない電流Idsで負荷容量を制御することができ
るという利点がある。
【0017】第4の実施形態 図5は、本発明の第4の実施形態を示すVCXOの回路
図である。このVCXOは、2つの独立した外部制御電
圧によって、発振周波数を制御することのできるVCX
Oであり、図1と図3のVCXOの回路を組み合わせた
構成となっている。即ち、図5のVCXOは、図1と同
様の発振部20を有している。一方、負荷部30Cは、
インバータ21の入力側と接地電位GNDの間に設けら
れ、直列接続されたコンデンサ31及びNMOS32に
よる可変容量負荷と、このインバータ21の出力側と接
地電位GNDの間に設けられ、直列接続されたコンデン
サ33及びNMOS34による可変容量負荷とによって
構成されている。そして、NMOS32,34のゲート
には、図1の制御部40と同一構成の第1の制御部40
B、及び第2の制御部40Cから、それぞれ内部制御電
圧Vi1,Vi2が与えられるようになっている。この
ような構成のVCXOにおいて、例えば、第1の制御部
40Bの外部制御電圧VC1として、図1と同様の温度
補償用の制御電圧TCを印加し、第2の制御部40Cの
外部制御電圧VC2として、受信機等における自動周波
数制御用の制御電圧AFCを印加する。これにより、2
つの独立した制御電圧TC,AFCにより、それぞれ独
立して発振周波数を制御することができるという利点が
ある。
【0018】なお、本発明は、上記実施形に限定され
ず、種々の変形が可能である。この変形例としては、例
えば、次の(a)〜(g)のようなものがある。 (a) 発振部20は、インバータ21、水晶発振子2
2等を用いて構成されているが、インバータ21に代え
てNANDゲート等の論理素子を用いても良い。また、
水晶発振子22に代えてセラミック発振子のような圧電
素子を用いても良い。 (b) NMOS32等のトランジスタは、NMOSに
限らず、Pチャネル型MOSトランジスタ、バイポーラ
トランジスタ等を使用することができる。その場合、電
源の極性をそれらのトランジスタの極性に合わせる必要
がある。 (c) 電圧降下手段として、固定抵抗41を使用して
いるが、固定抵抗に限らず、温度変化のない一定の直流
抵抗を有するものであれば、どのような素子または回路
を用いても良い。 (d) 図4のVCXOでは、3個並列接続したNMO
S32a〜32cと、2個並列接続したNMOS43
a,43bを用いているが、これらのNMOSの並列個
数は、任意に設定することができる。負荷部30B内の
NMOS32a等の並列個数を多くすることにより、外
部制御電圧VCからの供給電流Idsを小さくすること
ができるという利点がある。
【0019】(e) 図1、図3及び図5の外部制御電
圧VCは、温度補償用の制御電圧TCを印加している
が、例えば、送受信機等に適用する場合の送信または受
信チャネル切替え用の制御電圧CCを印加するようにし
ても良い。 (f) 図1等のVCOXでは、外部制御電圧VCを温
度補償のみを加味して与えるようにしているが、例えば
図6に示すような構成により、他の信号を加味して与え
ても良い。図6は、外部制御電圧生成回路の構成例を示
す回路図であり、演算増幅器51を用いた一般的な加算
回路である。演算増幅器51の非反転入力端子には、抵
抗52を介して温度補償用の制御電圧TCと、抵抗53
を介して送受信チャネル制御用の制御電圧CCとが入力
される。また、演算増幅器51の反転入力端子には、抵
抗54,55によって分圧されたこの演算増幅器51の
出力信号が、フィードバックされるようになっている。
そして、演算増幅器51の出力側には、温度補償用の制
御電圧TCと送受信チャネル制御用の制御電圧CCとが
加算された外部制御電圧VCが生成される。そして、こ
の外部制御電圧VCを、図1等の外部制御電圧VCとし
て与えることができる。 (g) 図1等のVCXOは個別部品で構成している
が、製造プロセスの異なる水晶発振子や、温度変化の少
ない特性が要求される固定抵抗41を除き、1つの半導
体集積回路で構成することができる。これにより、特性
の等しいNMOS32等のトランジスタを容易に得るこ
とができるので、特性のばらつきの少ないVCOが得ら
れる。
【0020】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、第1の発明
によれば、可変負荷手段を構成する第1のトランジスタ
と等しい特性を有する第2のトランジスタによる電流ミ
ラー回路を設け、この第2のトランジスタに、内部制御
電圧生成手段によって外部制御電圧に対応する電流が流
れるように、フィードバック制御を行っている。これに
より、第1のトランジスタの導通状態は、温度やトラン
ジスタ自体の特性のばらつきに影響されず、外部制御電
圧のみによって制御されることになり、特性のばらつき
の少ないVCOを得ることができる。第2の発明によれ
ば、外部制御電圧に対応する電流を流すための電圧降下
手段を設けるとともに、第2のトランジスタを制御する
内部制御電圧を、演算増幅器によって生成するようにし
ているので、第1の発明よりも更に均一な特性を有する
VCOを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態を示すVCXOの回路
図である。
【図2】従来のVCXOの構成例を示す回路図である。
【図3】本発明の第2の実施形態を示すVCXOの回路
図である。
【図4】本発明の第3の実施形態を示すVCXOの回路
図である。
【図5】本発明の第4の実施形態を示すVCXOの回路
図である。
【図6】外部制御電圧生成回路の構成例を示す回路図で
ある。
【符号の説明】
20 発振部 21 インバータ 22 水晶発振子 23 帰還抵抗 30,30A〜30C 負荷部 31,33 コンデンサ 32,34,43 NMOS 40,40A〜40C 制御部 41 固定抵抗 42 演算増幅器 VC 外部制御電圧 Vi 内部制御電圧 Vref 基準電圧 GND 接地電位 V41 内部電圧
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 廣枝 正也 東京都狛江市和泉本町1丁目8番1号 キ ンセキ株式会社内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 リニアな増幅特性を有する論理ゲートの
    出力信号によって圧電発振子を励振し、該圧電発振子の
    出力信号を該論理ゲートに正帰還させて発振信号を出力
    する発振手段と、 前記論理ゲートの入力側及び出力側と第1の基準電圧と
    の間に接続され、内部制御電圧に応じて導通状態が制御
    される単数または並列接続された複数の第1のトランジ
    スタを有し、該第1のトランジスタの導通状態によって
    該論理ゲートの負荷を変化させる可変負荷手段と、 内部電圧と前記第1の基準電圧との間に接続され、前記
    第1のトランジスタと等しい特性を有し、前記内部制御
    電圧に応じて導通状態が制御される単数または並列接続
    された複数の第2のトランジスタと、 発振周波数制御用の外部制御電圧を前記第2のトランジ
    スタに流れる電流に比例して降下させ、前記内部電圧を
    生成するとともに、該内部電圧と第2の基準電圧との電
    圧差に応じて生成した前記内部制御電圧を該第2のトラ
    ンジスタにフィードバックして、該内部電圧が該第2の
    基準電圧に等しくなるように該内部制御電圧を制御する
    内部制御電圧生成手段とを、 備えたことを特徴とする電圧制御発振器。
  2. 【請求項2】 前記可変負荷手段は、 前記論理ゲートの入力側または出力側と負荷ノードとの
    間に接続された固定容量の第1のキャパシタと、 前記負荷ノードと前記第1の基準電圧との間に接続され
    た前記単数または複数の第1のトランジスタと、 前記論理ゲートの出力側または入力側と前記第1の基準
    電圧との間に接続された固定容量の第2のキャパシタと
    で構成し、 前記内部制御電圧生成手段は、 前記外部制御電圧が印加され、該外部制御電圧を降下さ
    せて前記内部電圧を出力する電圧降下手段と、 前記内部電圧と前記第2の基準電圧とが入力され、該内
    部電圧と該第2の基準電圧との電圧差に応じて前記内部
    制御電圧を出力する演算増幅器とで構成したことを特徴
    とする請求項1記載の電圧制御発振器。
JP9001111A 1997-01-08 1997-01-08 電圧制御発振器 Pending JPH10200334A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008071376A (ja) * 2006-09-12 2008-03-27 Sony Corp 電流電圧変換回路及びそれを備えたフォトディテクタ回路及び光ディスク装置
US7663420B2 (en) 2006-11-09 2010-02-16 Kabushiki Kaisha Toshiba MOS resistance controlling device and MOS attenuator
JP2010166438A (ja) * 2009-01-16 2010-07-29 Epson Toyocom Corp 圧電発振器
CN102624335A (zh) * 2012-04-17 2012-08-01 钜泉光电科技(上海)股份有限公司 新型的晶体振荡器电路

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