JPH10173316A - Wiring substrate-forming transfer sheet and manufacture of wiring-substrate using the same - Google Patents

Wiring substrate-forming transfer sheet and manufacture of wiring-substrate using the same

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JPH10173316A
JPH10173316A JP8332391A JP33239196A JPH10173316A JP H10173316 A JPH10173316 A JP H10173316A JP 8332391 A JP8332391 A JP 8332391A JP 33239196 A JP33239196 A JP 33239196A JP H10173316 A JPH10173316 A JP H10173316A
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JP
Japan
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metal layer
transfer sheet
adhesive
sheet
insulating
Prior art date
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Pending
Application number
JP8332391A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akihiko Nishimoto
昭彦 西本
Katsura Hayashi
桂 林
Koyo Hiramatsu
幸洋 平松
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Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a transfer sheet with which a wiring substrate, having superior flatness when a semiconductor circuit pattern is transferred to an insulating substrate, can be manufactured without generation of transfer defects, dimensional errors and the disconnection of circuit, etc. SOLUTION: This transfer sheet is composed of a resin film 1, an adhesive layer 2 provided on the surface of the resin film 1, and a metal layer 3a on a circuit pattern formed on the adhesive layer. In this case, the metal layer 3a is adhered to the adhesive layer with the adhesive force (180 deg. peel strength) of 50g/20mm or higher, and at the same time, the adhesive layer is formed by the adhesive agent which decreases adhesive force by the irradiation of ultraviolet rays or by conducting heat treatment.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、配線基板、特に半
導体素子収納用パッケージ等に使用される配線基板を製
造するために用いる転写シート、及び該転写シートを用
いての配線基板の製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a transfer sheet used for manufacturing a wiring board, particularly a wiring board used for a package for accommodating a semiconductor element, and a method for manufacturing a wiring board using the transfer sheet. Things.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、高密度配線基板、例えば半導
体素子を収納するパッケージに使用される高密度多層配
線基板として、セラミック配線基板が多用されている。
このセラミック配線基板は、アルミナなどの絶縁性基板
上に、タングステンやモリブテン等の高融点金属から成
る配線導体を形成したものであり、この絶縁性基板の一
部に凹部が形成されており、この凹部内に半導体素子を
収納し、適当な蓋体によって凹部を気密に封止してパッ
ケージとするものである。
2. Description of the Related Art Conventionally, ceramic wiring boards have been widely used as high-density wiring boards, for example, high-density multilayer wiring boards used in packages for housing semiconductor elements.
This ceramic wiring board is obtained by forming a wiring conductor made of a high melting point metal such as tungsten or molybdenum on an insulating substrate such as alumina, and a concave portion is formed in a part of the insulating substrate. The semiconductor element is housed in the recess, and the recess is hermetically sealed with an appropriate lid to form a package.

【0003】ところが、このようなセラミック多層配線
基板では、絶縁性基板を構成するセラミックスが固くて
脆い性質を有することから、製造工程または搬送工程に
おいて、セラミックスの欠けや割れが発生しやすく、半
導体素子の気密封止性が損なわれることがあるために歩
留まりが低い等の問題があった。また、この多層セラミ
ック配線基板は、焼結前のグリーンシートにメタライズ
インクを印刷し、印刷後のシートを積層した後に焼結す
ることによって製造されるが、その製造工程において、
高温での焼成による収縮を生じるため、得られる基板に
反り等の変形や寸法のばらつき等が発生し易いという問
題がある。
However, in such a ceramic multilayer wiring board, since the ceramics constituting the insulating substrate has a hard and brittle property, chipping or cracking of the ceramics is liable to occur in a manufacturing process or a transporting process. There is a problem that the yield is low because the hermetic sealing property of the resin may be impaired. Further, this multilayer ceramic wiring board is manufactured by printing metallized ink on a green sheet before sintering, sintering after laminating the printed sheet, and in the manufacturing process,
Since shrinkage is caused by baking at a high temperature, there is a problem that deformation such as warpage and dimensional variation are likely to occur in the obtained substrate.

【0004】また、多層配線基板や半導体素子収容用パ
ッケージなどに使用される配線基板は、各種電子機器の
高性能化に伴って、今後益々高密度化が進み、配線幅や
配線ピッチを50μm 以下にすることが要求され、ビア
ホールもインターステイシャルピアホール(IVH)に
する必要や、ICチップの実装方法もワイヤーボンディ
ングからフリップチップヘと代わるため、基板自体の平
坦度を小さくする必要も生じている。上述したセラミッ
ク多層配線基板は、寸法安定性に欠けるため、このよう
な回路基板の超高密度化や、フィリップチップ実装が要
求する基板の平坦度等に対して十分に対応できないとい
うのが実情である。
[0004] Further, as the performance of various electronic devices increases, the density of wiring boards used for multilayer wiring boards and packages for accommodating semiconductor elements, etc. will further increase in the future, and wiring widths and wiring pitches will be reduced to 50 μm or less. And the via hole needs to be an interstitial peer hole (IVH), and the mounting method of the IC chip also changes from the wire bonding to the flip chip, so that the flatness of the substrate itself needs to be reduced. I have. Since the above-mentioned ceramic multilayer wiring board lacks dimensional stability, it is in fact impossible to sufficiently cope with such an ultra-high density circuit board or the flatness of the board required for flip chip mounting. is there.

【0005】セラミック配線基板以外の配線基板として
は、有機樹脂を含む絶縁性基板の表面に銅等の金属層か
ら成る回路パターンを形成した樹脂製配線基板が知られ
ている。この樹脂製配線基板は、セラミック配線基板の
ような欠けや割れ等の欠点がなく、また多層化に際して
も、焼成のような高温での熱処理を必要としないという
利点を有している。
As a wiring board other than the ceramic wiring board, a resin wiring board in which a circuit pattern made of a metal layer such as copper is formed on the surface of an insulating substrate containing an organic resin is known. This resin-made wiring board does not have defects such as chipping and cracking as in the case of a ceramic wiring board, and has the advantage that heat treatment at a high temperature, such as firing, is not required for multilayering.

【0006】然しながら、樹脂製配線基板は、一般に、
銅箔等の金属箔を絶縁製基板上に貼り、次いで金属箔の
不要な部分をエッチング法やメッキ法により除去するこ
とにより導体回路パターンを形成することにより製造さ
れるものであることから、種々の問題があった。例え
ば、エッチング液等の薬液により、絶縁性基板の特性が
変化したり、金属箔により形成されている導体回路パタ
ーンが絶縁性基板表面に載置されているのみであるた
め、この回路パターンと絶縁性基板との密着不良を生
じ、両者の界面に空隙等が発生し易く、また多層化にあ
たっては、IVHを形成する時には逐次積層によらねば
ならず、一括積層を行うことができない等の問題があ
る。さらに、導体回路パターンにより絶縁性基板上に凸
部が形成されるために平坦度が低く、フリップチップ実
装に要求される平坦度を満足するに至っていない。
However, resin wiring boards are generally
Since it is manufactured by pasting a metal foil such as a copper foil on an insulating substrate and then removing unnecessary portions of the metal foil by an etching method or a plating method to form a conductor circuit pattern, There was a problem. For example, the properties of the insulating substrate are changed by a chemical solution such as an etching solution, or the conductor circuit pattern formed by the metal foil is merely placed on the surface of the insulating substrate. Poor adhesion to the conductive substrate, voids and the like are likely to be generated at the interface between them, and in the case of multi-layering, the IVH must be formed by sequential lamination, which makes it impossible to perform batch lamination. is there. Further, since the conductive circuit pattern forms a convex portion on the insulating substrate, the flatness is low, and the flatness required for flip-chip mounting has not been satisfied.

【0007】また樹脂フィルム表面に導体回路形成用の
金属箔を貼付し、エッチング法等を用いて金属箔の不要
な部分を除去して導体回路パターンとし、これを転写シ
ートとして有機樹脂を含む絶縁性基板と圧着させ、次い
で樹脂フィルムを引き剥がすことにより導体回路パター
ンを絶縁性基板に転写して上記の樹脂製配線基板を製造
する方法が提案されている。この方法によれば、絶縁性
基板が各種の薬液に接触することがないので、薬液によ
る基板の特性低下を防止することができる。また、導体
回路パターンは絶縁性基板上に埋め込まれるため、両者
の密着性は良好であり、平坦度も高いという利点を有し
ている。
A metal foil for forming a conductor circuit is attached to the surface of the resin film, and unnecessary portions of the metal foil are removed by an etching method or the like to form a conductor circuit pattern. A method has been proposed in which a conductive circuit pattern is transferred to an insulative substrate by pressure-bonding it to an insulative substrate and then peeling off the resin film to manufacture the above-mentioned resin wiring substrate. According to this method, since the insulating substrate does not come into contact with various chemicals, it is possible to prevent the characteristics of the substrate from being deteriorated due to the chemicals. In addition, since the conductive circuit pattern is embedded on the insulating substrate, there is an advantage that the adhesion between the two is good and the flatness is high.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】然しながら、上記のよ
うな転写シートを用いての導体回路パターンの転写によ
り樹脂製配線基板を製造する場合、導体回路パターンの
転写不良や位置ずれ(寸法誤差)、断線或いは平坦度の
低下等を生じ易く、歩留りが極めて低いという問題があ
る。またこのような転写不良、寸法誤差及び平坦度の低
下等の問題は、導体回路パターンが50μm 以下の微細
パターンである場合に特に顕著であり、高密度配線化や
フリップチップ実装の妨げとなっている。このような問
題を解決するためには、絶縁性基板として可及的に柔軟
性の高いものを使用することが考えられるが、この場合
には、積層時等に基板の変形が生じる等の新たな問題が
発生する。
However, in the case where a resin wiring board is manufactured by transferring a conductive circuit pattern using the above-described transfer sheet, transfer defects and positional deviations (dimensional errors) of the conductive circuit pattern, There is a problem that disconnection or a decrease in flatness is likely to occur, and the yield is extremely low. In addition, such problems as poor transfer, dimensional errors, and reduced flatness are particularly remarkable when the conductive circuit pattern is a fine pattern of 50 μm or less, which hinders high-density wiring and flip-chip mounting. I have. In order to solve such a problem, it is conceivable to use an insulating substrate that is as flexible as possible. In this case, however, a new substrate such as deformation of the substrate during lamination or the like may be used. Problems occur.

【0009】従って、本発明の目的は、上述した転写不
良、寸法誤差、回路の断線及び平坦度の低下等の問題を
生じることなく、導体回路パターンを絶縁性基板に転写
することが可能な転写シート及び該転写シートを用いて
の配線基板の製造方法を提供することにある。本発明の
他の目的は、特に50μm 以下の微細な導体回路パター
ンを有する配線基板を歩留りよく製造することが可能な
方法を提供することにある。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a transfer method capable of transferring a conductive circuit pattern to an insulating substrate without causing the above-described problems such as transfer failure, dimensional error, disconnection of a circuit, and deterioration of flatness. An object of the present invention is to provide a sheet and a method for manufacturing a wiring board using the transfer sheet. Another object of the present invention is to provide a method capable of manufacturing a wiring substrate having a fine conductor circuit pattern of 50 μm or less with good yield.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明によれば、樹脂フ
ィルムと、該樹脂フィルム表面に設けられた粘着層と、
該粘着層上に形成された回路パターン状の金属層とから
成る配線基板形成用の転写シートにおいて、前記金属層
は、50g/20mm以上の粘着力(180°ピール強
度)で前記粘着層に粘着保持されていると共に、該粘着
層は、紫外線照射又は熱処理により粘着力が低下するよ
うな粘着剤で形成されていることを特徴とする転写シー
トが提供される。
According to the present invention, a resin film, an adhesive layer provided on a surface of the resin film,
In a transfer sheet for forming a wiring board, comprising a circuit pattern-shaped metal layer formed on the adhesive layer, the metal layer adheres to the adhesive layer with an adhesive force (180 ° peel strength) of 50 g / 20 mm or more. The transfer sheet is provided, wherein the transfer sheet is held while the pressure-sensitive adhesive layer is formed of a pressure-sensitive adhesive whose adhesive force is reduced by ultraviolet irradiation or heat treatment.

【0011】この転写シートでは、特に転写シート中の
樹脂フィルムを絶縁性基板から引き剥がす時の導体回路
パターンと絶縁性基板との密着性の低下を防止すること
ができ、これにより、前述した転写不良、回路の断線等
の問題を有効に解決することが可能となり、またフリッ
プチップ実装に適した平坦度を有する配線基板を得るこ
とが可能となる。
With this transfer sheet, it is possible to prevent a decrease in the adhesion between the conductor circuit pattern and the insulating substrate particularly when the resin film in the transfer sheet is peeled off from the insulating substrate. It is possible to effectively solve problems such as defects and disconnection of a circuit, and to obtain a wiring board having a flatness suitable for flip-chip mounting.

【0012】即ち、この転写シートでは、粘着層が紫外
線照射又は熱処理により粘着力が低下するような粘着剤
で形成されている。従って、この転写シートを用いて絶
縁性基板上への導体回路パターン(金属層)の転写を行
えば、紫外線照射或いは熱処理により粘着層の粘着力を
可及的に小さくしておくことにより、絶縁性基板に埋め
込まれた金属層に樹脂フィルムの引き剥がし力がほとん
ど作用せず、従って該金属層と絶縁性基板との密着性が
低下することがなく、導体回路パターンを構成する金属
層の転写不良、寸法誤差、断線及び平坦度の低下等を有
効に防止することが可能となる。
That is, in this transfer sheet, the pressure-sensitive adhesive layer is formed of a pressure-sensitive adhesive whose adhesive force is reduced by ultraviolet irradiation or heat treatment. Therefore, if the transfer of a conductive circuit pattern (metal layer) onto an insulating substrate is performed using this transfer sheet, the adhesive strength of the adhesive layer can be reduced as much as possible by irradiation with ultraviolet light or heat treatment. The peeling force of the resin film hardly acts on the metal layer embedded in the conductive substrate, so that the adhesion between the metal layer and the insulating substrate does not decrease, and the transfer of the metal layer forming the conductive circuit pattern is performed. It is possible to effectively prevent defects, dimensional errors, disconnections, reduction in flatness, and the like.

【0013】またかかる転写シートにおいて、転写シー
トの樹脂フィルム上に設けられる金属層は、50g/2
0mm以上の粘着力で粘着層に粘着保持されていることも
重要である。即ち、このような粘着力で金属層を保持し
ておくことにより、導体回路パターンの形成時や転写シ
ートの保存或いは搬送時に、該金属層が脱離したり或い
は位置ずれの発生が有効に防止されるのである。
In such a transfer sheet, the metal layer provided on the resin film of the transfer sheet has a thickness of 50 g / 2.
It is also important that the adhesive layer is adhesively held with an adhesive force of 0 mm or more. That is, by holding the metal layer with such adhesive force, the metal layer is effectively prevented from being detached or displaced during formation of the conductive circuit pattern or during storage or transportation of the transfer sheet. Because

【0014】上述した転写シートを用いての配線基板の
製造は、上記の転写シートを用い、該シートの金属層側
の面に絶縁性シートを重ね合わせ、前記転写シートと絶
縁性シートとを圧着して前記金属層を絶縁性シート表面
に埋め込むと共に、紫外線照射又は熱処理により、粘着
層の粘着力(180°ピール強度)を50g/20mm未
満に低下させ、前記転写シートの樹脂フィルムを引き剥
がすことにより、前記金属層を絶縁性シート上に転写さ
せることにより行うことができる。
In the production of a wiring board using the above-mentioned transfer sheet, the above-mentioned transfer sheet is used, an insulating sheet is superimposed on the surface of the sheet on the metal layer side, and the transfer sheet and the insulating sheet are pressure-bonded. Embedding the metal layer on the surface of the insulating sheet, reducing the adhesive strength (180 ° peel strength) of the adhesive layer to less than 50 g / 20 mm by ultraviolet irradiation or heat treatment, and peeling off the resin film of the transfer sheet. Thus, the transfer can be performed by transferring the metal layer onto an insulating sheet.

【0015】また本発明においては、前記金属層を埋め
込んだ絶縁性シートの形成を、転写シートの金属層側の
面に、絶縁性基板形成用の硬化性絶縁性スラリーを少な
くとも該金属層の厚み以上の厚みで塗布し、該絶縁性ス
ラリーを硬化させることにより行うことができる。この
ようにして絶縁性シートを形成した後は、上記と同様に
して、粘着層の粘着力の低下及び樹脂フィルムの引き剥
がしを行えばよい。
Further, in the present invention, the formation of the insulating sheet in which the metal layer is embedded is performed by coating a curable insulating slurry for forming an insulating substrate on at least the metal layer side of the transfer sheet. It can be performed by applying the above-mentioned thickness and curing the insulating slurry. After forming the insulating sheet in this manner, the adhesive strength of the adhesive layer may be reduced and the resin film may be peeled off in the same manner as described above.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、本発明を添付図面に示す具
体例に基づいて詳細に説明する。本発明の転写シートを
用いての配線基板の製造プロセスを示す図1において、
概説すると、このプロセスは次の各工程から成る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to specific examples shown in the accompanying drawings. FIG. 1 illustrates a process for manufacturing a wiring board using the transfer sheet of the present invention.
Briefly, the process consists of the following steps.

【0017】工程(a):先ず、樹脂フィルム1の片面
に粘着剤を塗布して粘着層2を形成し、次いで、この粘
着層2上に金属乃至合金箔層(以下、単に金属箔と呼
ぶ)3を貼付する。
Step (a): First, an adhesive is applied to one surface of the resin film 1 to form an adhesive layer 2, and then a metal or alloy foil layer (hereinafter simply referred to as a metal foil) is formed on the adhesive layer 2. ) 3 is attached.

【0018】この樹脂フィルム1としては、例えば、ポ
リエチレンテレフタレート等のポリエステル、ポリイミ
ド、ポリフェニレンサルファイド、ポリ塩化ビニル、ポ
リプロピレン等が使用されるが、後述する様に、粘着層
2の形成に用いる粘着剤として紫外線硬化型のものを用
いる場合には、この樹脂フィルム1は、特に紫外線透過
性の良好なものを使用する。また樹脂フィルム1の厚み
は、10乃至500μm 、特に20乃至300μm の範
囲にあることが好ましい。フィルム厚みがこの範囲より
も小さいと、フィルム1の変形や折れ曲がりを生じ易
く、例えば以下の工程で回路パターンを形成した場合、
或いは転写時等において、形成した回路パターンの断線
を起こしやすくなる。また厚みが上記範囲よりも大きい
と、フィルム1の柔軟性が損なわれ、後述する転写工程
において、フィルム1の剥離が困難となることがある。
As the resin film 1, for example, polyester such as polyethylene terephthalate, polyimide, polyphenylene sulfide, polyvinyl chloride, polypropylene and the like are used. As described later, as an adhesive used for forming the adhesive layer 2, When an ultraviolet-curable resin film is used, the resin film 1 is particularly excellent in ultraviolet transmittance. The thickness of the resin film 1 is preferably in the range of 10 to 500 μm, especially 20 to 300 μm. If the film thickness is smaller than this range, the film 1 is likely to be deformed or bent. For example, when a circuit pattern is formed in the following steps,
Alternatively, at the time of transfer or the like, the formed circuit pattern is likely to be broken. If the thickness is larger than the above range, the flexibility of the film 1 is impaired, and it may be difficult to peel off the film 1 in a transfer step described later.

【0019】本発明において、粘着層2に用いる粘着剤
としては、それ自体公知の光硬化型或いは熱硬化型のア
クリル樹脂系、シリコン樹脂系、エポキシ樹脂系、スチ
レン−ブタジエン系、SBS或いはSIS系、イソプレ
ン系、クロロプレン系、アクリルブタジエン系等のエラ
ストマー重合体や、天然ゴム、再生ゴム等に、必要に応
じてポリテルペン樹脂、ガムロジン、ロジンエステルま
たはロジン誘導体、油溶性フェノール樹脂、クマロン・
インデン樹脂、石油系炭化水素樹脂等の粘着付与剤を配
合した組成から成るものが使用され、これらは溶剤型、
エマルジョン型、無溶剤型等、何れのタイプのものであ
ってもよい。粘着剤層2の厚みは、粘着剤の種類によっ
ても異なるが、通常l乃至20μm程度の範囲がよい。
In the present invention, the pressure-sensitive adhesive used for the pressure-sensitive adhesive layer 2 may be a known photo-curing or thermosetting acrylic resin, a silicone resin, an epoxy resin, a styrene-butadiene, an SBS or a SIS. , Isoprene-based, chloroprene-based, acrylic butadiene-based elastomeric polymers, natural rubber, recycled rubber, etc., if necessary, polyterpene resin, gum rosin, rosin ester or rosin derivative, oil-soluble phenol resin, cumarone
Indene resin, those having a composition containing a tackifier such as petroleum hydrocarbon resin is used, these are solvent type,
Any type such as an emulsion type and a solventless type may be used. The thickness of the pressure-sensitive adhesive layer 2 varies depending on the type of the pressure-sensitive adhesive, but is usually preferably in the range of about 1 to 20 μm.

【0020】金属箔3は、所謂導体回路パターンを形成
するためのものであり、金、銀、銅、アルミニウム等の
低抵抗金属、或いはその合金等が好適である。特に好ま
しいものは、銅、または銅を含む合金である。金属箔3
の厚みは、1乃至100μm 、特に5乃至50μm の範
囲にあることが好ましい。この厚みが1μm よりも薄い
と形成される導体回路の抵抗率が高くなり、また100
μm よりも厚いと、後述する積層時に絶縁性基板5の変
形が大きくなったり、絶縁性基板5への金属層(導体回
路パターン)3aの埋め込み量が多くなり、絶縁性基板
5の歪が大きくなり、樹脂硬化後に基板が変形を起こし
やすくなる。更にエッチング処理しにくくなるため精度
のよい微細な回路パターンを得難くなる傾向がある。
The metal foil 3 is for forming a so-called conductor circuit pattern, and is preferably made of a low-resistance metal such as gold, silver, copper, or aluminum, or an alloy thereof. Particularly preferred is copper or an alloy containing copper. Metal foil 3
Is preferably in the range of 1 to 100 μm, especially 5 to 50 μm. If the thickness is less than 1 μm, the resistivity of the formed conductor circuit becomes high, and
If the thickness is larger than μm, the deformation of the insulating substrate 5 during lamination, which will be described later, increases, or the amount of the metal layer (conductor circuit pattern) 3a embedded in the insulating substrate 5 increases, and the distortion of the insulating substrate 5 increases. This causes the substrate to be easily deformed after the resin is cured. Further, since it becomes difficult to perform the etching process, it tends to be difficult to obtain a fine circuit pattern with high accuracy.

【0021】本発明において、金属箔3は、50g/2
0mm以上の粘着力で粘着層2に粘着保持されていること
が必要である。即ち、この粘着力が上記範囲よりも低い
と、以下の工程において、金属箔3或いは金属箔3から
形成される導体回路パターン形状の金属層3aが脱落し
たり、或いは位置ずれしたりするおそれがあり、微細な
回路パターンを形成することが困難となるからである。
また粘着力の調整は、前述した粘着剤の種類や組成によ
り調整することができ、例えば粘着付与剤の配合量を調
整することにより、上述した範囲の粘着力を付与するこ
とができる。尚、粘着力は、金属箔3を貼付した状態で
180°ピール強度(JIS−Z−0237)を測定す
ることにより算出することができる。
In the present invention, the metal foil 3 is 50 g / 2
It is necessary that the adhesive layer 2 has an adhesive strength of 0 mm or more. That is, if the adhesive strength is lower than the above range, in the following steps, the metal foil 3 or the metal layer 3a in the form of a conductor circuit pattern formed from the metal foil 3 may fall off or be displaced. This is because it is difficult to form a fine circuit pattern.
The adhesive strength can be adjusted by the kind and composition of the above-mentioned adhesive, and for example, by adjusting the amount of the tackifier, the adhesive strength in the above-described range can be imparted. The adhesive strength can be calculated by measuring a 180 ° peel strength (JIS-Z-0237) with the metal foil 3 attached.

【0022】工程(b):次いで、公知のレジスト法等
により、金属箔3から所定の回路パターン形状を有する
金属層3aを作成して、本発明の転写シートAとする。
例えば、金属箔3の全面にフォトレジスト4を塗布し、
所定パターンのマスクを介して露光を行い、現像後、プ
ラズマエッチングやケミカルエッチング等により、非パ
ターン部(フォトレジストが除去されている部分)の金
属箔3を除去する。これにより、金属箔3から所定の回
路パターンを有する金属層3aが形成される。またスク
リーン印刷等により、金属箔3上に所定回路パターン形
状にレジスト4を塗布し、上記と同様にエッチング処理
することにより、金属層3aを形成することができる。
尚、図示されているように、この金属層3a上には、レ
ジスト4が残存することになるが、後述する絶縁性基板
の特性や金属層3aと絶縁性基板との密着性に悪影響を
与えるものでない限り、例えば、絶縁性基板の構成素材
と同じ組成のレジストを用いれば、残存するレジスト4
を除去する必要はない。従って、図1の例では、このレ
ジスト4を除去せずに以下の工程を進めている。(但
し、このレジスト4を除去する場合には、適当なリンス
液で洗浄し乾燥すればよい。) フォトレジストとしては、ネガ型、ポジ型のいずれのも
のも使用することができる。
Step (b): Next, a metal layer 3a having a predetermined circuit pattern shape is formed from the metal foil 3 by a known resist method or the like to obtain a transfer sheet A of the present invention.
For example, a photoresist 4 is applied to the entire surface of the metal foil 3,
Exposure is performed through a mask having a predetermined pattern, and after development, the metal foil 3 in the non-pattern portion (the portion from which the photoresist has been removed) is removed by plasma etching, chemical etching, or the like. Thereby, a metal layer 3 a having a predetermined circuit pattern is formed from the metal foil 3. Further, the metal layer 3a can be formed by applying a resist 4 in a predetermined circuit pattern shape on the metal foil 3 by screen printing or the like and performing an etching process in the same manner as described above.
As shown in the figure, the resist 4 remains on the metal layer 3a, but adversely affects the characteristics of the insulating substrate described later and the adhesion between the metal layer 3a and the insulating substrate. For example, if a resist having the same composition as the constituent material of the insulating substrate is used, the remaining resist 4
Need not be removed. Therefore, in the example of FIG. 1, the following steps are performed without removing the resist 4. (However, when the resist 4 is removed, the resist 4 may be washed with an appropriate rinsing liquid and dried.) As the photoresist, either a negative type or a positive type can be used.

【0023】工程(c)又は(c’):上記のようにし
て形成された転写シートAの金属層3a側の面に絶縁性
シート5を積層し、絶縁性シート5に金属層3を埋め込
み固定する。工程(c)は、金属層3の一部が埋め込ま
れた例であり、工程(c’)は、金属層3が完全に埋め
込まれた例である。
Step (c) or (c '): The insulating sheet 5 is laminated on the metal layer 3a side of the transfer sheet A formed as described above, and the metal layer 3 is embedded in the insulating sheet 5. Fix it. Step (c) is an example in which a part of the metal layer 3 is buried, and step (c ′) is an example in which the metal layer 3 is completely buried.

【0024】絶縁性シート5は、配線基板の絶縁性基板
に相当するものであり、樹脂と無機質充填材或いは繊維
状基材とからなる。樹脂としては、例えばPPE(ポリ
フェニレンエーテル)、BTレジン(ビスマレイミドト
リアジン樹脂)、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、フッ
素樹脂、フェノール樹脂等が好適であり、特に製造上の
見地から、室温で液状の熱硬化性樹脂(未硬化状態)が
望ましい。また無機質充填材、繊維状基材は、絶縁性基
板に一定の強度を持たせ且つ膨張率等を適当な範囲に調
整するために使用されるものである。一般に無機質充填
材としては、シリカ(SiO2 )、アルミナ(Al2
3 )、酸化ジルコニウム(ZrO2 )、ゼオライト、酸
化チタン(TiO2 )、窒化アルミニウム(AlN)、
炭化ケイ素(SiC)、チタン酸バリウム(BaTiO
3 )、チタン酸ストロンチウム(SrTiO3 )、チタ
ン酸カルシウム(CaTiO3 )、ほう酸アルミニウム
等が代表的であり、これらは、平均粒径が20μm 以
下、特に10μm 以下、最も好適には7μm 以下で略球
形であるのがよい。また平均アスペクト比が2以上、特
に5以上の繊維状の粒子を使用することもできる。また
繊維状基材としては、例えば紙、ガラス織布、ガラス不
織布、テフロン等の合成繊維を上げることができる。上
述した樹脂と無機質充填材とは、体積比率で60:40
乃至30:70の範囲で使用されるのがよく、また樹脂
と繊維状基材とは、体積比率で60:40乃至40:6
0の割合で使用するのがよい。
The insulating sheet 5 corresponds to an insulating substrate of a wiring board, and is made of a resin and an inorganic filler or a fibrous base material. As the resin, for example, PPE (polyphenylene ether), BT resin (bismaleimide triazine resin), epoxy resin, polyimide resin, fluororesin, phenol resin and the like are suitable. Preferably, the resin is in an uncured state. The inorganic filler and the fibrous base material are used for imparting a certain strength to the insulating substrate and for adjusting the expansion coefficient and the like to an appropriate range. Generally, silica (SiO 2 ), alumina (Al 2 O)
3 ), zirconium oxide (ZrO 2 ), zeolite, titanium oxide (TiO 2 ), aluminum nitride (AlN),
Silicon carbide (SiC), barium titanate (BaTiO)
3 ), strontium titanate (SrTiO 3 ), calcium titanate (CaTiO 3 ), aluminum borate, and the like are typical. It should be spherical. Further, fibrous particles having an average aspect ratio of 2 or more, particularly 5 or more can also be used. Examples of the fibrous base material include synthetic fibers such as paper, glass woven fabric, glass nonwoven fabric, and Teflon. The above resin and the inorganic filler are in a volume ratio of 60:40.
The resin and the fibrous substrate are preferably used in a volume ratio of 60:40 to 40: 6.
It is better to use at a rate of 0.

【0025】金属層3aの絶縁性シート5への埋め込み
は、例えば転写シートAと半硬化状態の絶縁性シート5
とを、金属層3aが間になるように重ね合わせて圧着
し、次いで必要により、絶縁性シート5を硬化すること
によって行うことができる。
The embedding of the metal layer 3a into the insulating sheet 5 is performed, for example, by transferring the transfer sheet A and the insulating sheet 5 in a semi-cured state.
Can be performed by overlapping and press-bonding such that the metal layer 3a is interposed therebetween, and then, if necessary, by curing the insulating sheet 5.

【0026】この場合、半硬化状態の絶縁性シートとし
ては、ガラスの織布、不織布或いは紙、テフロン等の基
材にワニス状の硬化性樹脂を含浸乾燥させたブリブレグ
も用いることができる。勿論、このプリプレグの組成
は、先に述べた絶縁性シート5(絶縁性基板)の組成に
対応する。また前記熱硬化性樹脂を含む絶縁スラリーを
用いて、ドクターブレード法、押出成形、射出成形等に
より、絶縁性シートを作成することもできる。
In this case, as the semi-cured insulating sheet, a glass woven fabric, a non-woven fabric or a brigreg obtained by impregnating and drying a varnish-like curable resin on a base material such as paper or Teflon can be used. Of course, the composition of the prepreg corresponds to the composition of the insulating sheet 5 (insulating substrate) described above. Also, an insulating sheet can be formed by using an insulating slurry containing the thermosetting resin by a doctor blade method, extrusion molding, injection molding, or the like.

【0027】圧着のための機械的圧力は、一般に、10
乃至500kg/cm2 程度であるが、この圧力が小さけ
れば、金属層3aの一部が残存するレジスト4と共に絶
縁性シート5に埋め込まれ(工程(c)参照)、この圧
力を高くすれば、金属層3a全体を絶縁性シート5に埋
め込むことができる(工程(c’)参照)。
The mechanical pressure for crimping is generally 10
Or is a 500 kg / cm 2 or so, if the pressure is small, (see step (c)) part of the metal layer 3a is embedded in the insulating sheet 5 together with the resist 4 remaining, if a high pressure, The entire metal layer 3a can be embedded in the insulating sheet 5 (see step (c ')).

【0028】更に転写シートAの金属層3a側に、前述
したのと同様の熱硬化性樹脂を含む絶縁スラリーを、ド
クターブレード法、押出成形、射出成形等により、金属
層3aの厚みよりも大きく且つ絶縁性基板に対応する厚
みに施し、絶縁性スラリーの硬化を行うことによって、
前述した埋め込みを行うことができる。この場合には、
工程(c’)に示されている様に、金属層3a全体が絶
縁性シート5に埋め込まれる。尚、上述したスラリー
は、絶縁性基板を構成する前述したような熱硬化性の有
機樹脂と無機質フィラーとの複合材料に、トルエン、酢
酸プチル、メチルエチルケトン、メタノール、メチルセ
ロソルブアセテート、イソプロピルアルコール等の溶媒
を添加して粘度調整することにより調製される。スラリ
ー粘度は成形方法にもよるが、一般に100乃至300
0ポイズ(25℃)が適当である。
Further, on the metal layer 3a side of the transfer sheet A, an insulating slurry containing the same thermosetting resin as described above is applied to a thickness larger than the thickness of the metal layer 3a by a doctor blade method, extrusion molding, injection molding or the like. And by applying to the thickness corresponding to the insulating substrate, by curing the insulating slurry,
The embedding described above can be performed. In this case,
As shown in step (c ′), the entire metal layer 3 a is embedded in the insulating sheet 5. The above-mentioned slurry is prepared by adding a solvent such as toluene, butyl acetate, methyl ethyl ketone, methanol, methyl cellosolve acetate, or isopropyl alcohol to a composite material of the above-mentioned thermosetting organic resin and inorganic filler constituting the insulating substrate. It is prepared by adjusting the viscosity by adding. Although the slurry viscosity depends on the molding method, it is generally 100 to 300.
0 poise (25 ° C.) is appropriate.

【0029】本発明においては、上述した金属層3aの
埋め込み固定を行った後に、紫外線照射或いは加熱処理
を行い、粘着層2の粘着剤を硬化せしめる。この硬化に
より、金属層3aと粘着層2とを接着させる粘着力が低
下し、以下の工程でのフィルム1の剥離に際して、金属
層3a(回路パターン)の断線や転写不良を有効に防止
することができる。
In the present invention, after the embedding and fixing of the metal layer 3a described above, ultraviolet irradiation or heat treatment is performed to cure the adhesive of the adhesive layer 2. Due to this curing, the adhesive force for adhering the metal layer 3a and the adhesive layer 2 is reduced, and when the film 1 is peeled in the following steps, the disconnection and transfer failure of the metal layer 3a (circuit pattern) are effectively prevented. Can be.

【0030】本発明において、上述した硬化による低下
した粘着力は、通常、50g/20mm未満、好ましくは
30g/20mm未満、最も好ましくは実質上ゼロとする
のがよい。硬化による粘着力の低下の程度は、粘着剤の
配合組成等によって調整することができ、一般的には硬
化剤の配合量を多くして硬化収縮の程度が大きく設定さ
れているものほど粘着力の低下が大きい。尚、この粘着
力は、先に説明した通り、樹脂フィルム1を剥離する時
の180°ピール強度として測定される。
In the present invention, the reduced adhesion due to the above-mentioned curing is generally less than 50 g / 20 mm, preferably less than 30 g / 20 mm, and most preferably substantially zero. The degree of decrease in adhesive strength due to curing can be adjusted by the composition of the adhesive, etc. In general, the greater the amount of curing agent added and the greater the degree of cure shrinkage, the greater the adhesive strength. The drop is large. In addition, this adhesive force is measured as a 180 degree peel strength when the resin film 1 is peeled off as described above.

【0031】紫外線照射により粘着剤の硬化を行う場合
には、樹脂フィルム1として紫外線透過性のものを使用
し、樹脂フィルム1の背面から紫外線を照射する。紫外
線照射の条件は、粘着剤の種類によっても異なるが、一
般的には300mJ/cm2 以上の強度で1乃至10分間
程度とするのがよい。また加熱により硬化を行う場合に
は、少なくとも樹脂フィルム1の融点乃至軟化点以下の
温度、例えば70乃至130℃の温度でl乃至10分間
程度の加熱を行うことが望ましい。
In the case where the adhesive is cured by irradiation with ultraviolet rays, an ultraviolet ray permeable resin is used as the resin film 1, and ultraviolet rays are irradiated from the back of the resin film 1. The condition of the ultraviolet irradiation varies depending on the kind of the adhesive, but it is generally preferable to set the intensity at 300 mJ / cm 2 or more for about 1 to 10 minutes. In the case of curing by heating, it is desirable to perform heating at a temperature of at least the melting point or softening point of the resin film 1, for example, at a temperature of 70 to 130 ° C. for about 1 to 10 minutes.

【0032】工程(d)又は(d’):本発明によれ
ば、次いで樹脂フィルム1を粘着層2と共に絶縁性シー
ト5から引き剥すことにより、回路パターンを有する金
属層3aが絶縁性シート5に転写され、必要により、絶
縁性シート5を完全硬化させることにより、目的とする
単層の配線基板が得られる。この引き剥がしに際して
は、粘着層2の金属層3aに対する粘着力が低下してい
るため、金属層3aと絶縁性シート5との密着性が低下
することがなく、転写不良や断線を生じることがない。
この場合、工程(d’)に示されている様に、金属層3
aが絶縁性シート5に完全に埋め込まれているものは、
回路パターンを形成する金属層3aによる凸部が形成さ
れていないため、得られる基板は極めて平坦性に優れて
おり、特に一括積層による多層配線基板の製造やフリッ
プチップ実装に適している。
Step (d) or (d '): According to the present invention, the metal film 3a having a circuit pattern is then separated from the insulating sheet 5 by peeling the resin film 1 together with the adhesive layer 2 from the insulating sheet 5. The desired single-layer wiring board is obtained by completely curing the insulating sheet 5 if necessary. At the time of peeling, since the adhesive strength of the adhesive layer 2 to the metal layer 3a is reduced, the adhesion between the metal layer 3a and the insulating sheet 5 is not reduced, and poor transfer or disconnection may occur. Absent.
In this case, as shown in step (d ′), the metal layer 3
a is completely embedded in the insulating sheet 5
Since no protrusion is formed by the metal layer 3a forming the circuit pattern, the obtained substrate has extremely excellent flatness, and is particularly suitable for manufacturing a multilayer wiring board by batch lamination and flip chip mounting.

【0033】尚、上記で得られた単層の配線基板は、必
要によりさらに熱処理を行って絶縁性シート5を完全硬
化させ、更に所望により打ち抜き法やレーザーを用いた
方法でバイアホールを形成し、このバイアホール内に導
電性樹脂、金属フィラーを含有する導電性インク、金属
ペースト等の導電性物質を充填し、これを別個に形成さ
れた所定枚数の回路基板と積層し、加圧若しくは加熱し
て密着し一体化して多層配線基板を作成することができ
る。尚、バイアホールの形成及び導電性物質の充填は、
絶縁性シート5と転写シートAとの圧着に先立って、或
いは圧着等の段階で行うこともできる。
The single-layer wiring board obtained above is further subjected to a heat treatment if necessary to completely cure the insulating sheet 5, and if necessary, a via hole is formed by a punching method or a method using a laser. The via holes are filled with a conductive substance such as a conductive resin, a conductive ink containing a metal filler, and a metal paste, and the via holes are laminated with a predetermined number of separately formed circuit boards, and then pressurized or heated. Then, the multi-layer wiring board can be formed by tightly contacting and integrating. The formation of the via hole and the filling of the conductive material are as follows.
It can be performed prior to the pressure bonding of the insulating sheet 5 and the transfer sheet A or at the stage of pressure bonding.

【0034】[0034]

【実施例】【Example】

(実験例1〜15)種々の厚みを有するポリエチレンテ
レフタレート(PET)から成る樹脂のフィルム表面
に、紫外線硬化型のアクリル系樹脂から成る粘着剤を塗
布し、厚みが18μm の銅箔(平均表面粗さ0.8μm )
を一面に接着した転写シートを作成した。この時の銅箔
の180°ピール強度を初期粘着力として測定した。こ
のPETフィルムの厚み、及び初期粘着力を表1に示し
た。また、この転写シートに対して、PETフィルム側
から500mJ/cm2 の強度の紫外線を1分間照射して
粘着剤を硬化せしめ、この時のPETフィルムの180
°ピール強度を測定し、硬化後粘着力として、表1に示
した。尚、初期粘着力の調整は、粘着剤に配合する粘着
付与剤の量及び厚みを調整することにより行った。次い
で、後述する絶縁性基板を形成するために用いるものと
同じ絶縁性スラリーをレジストとして前記銅箔の表面に
導体回路パターン状に印刷し、これを塩化第二鉄溶液中
に浸漬して非パターン部をエッチング除去し、銅箔から
線幅が30μm 、配線と配線との間隔(配線ピッチ)が
30μm 以下の微細なパターンの導体回路を形成し、転
写シートとした。
(Experimental Examples 1 to 15) An adhesive made of an ultraviolet curable acrylic resin was applied to the surface of a resin film made of polyethylene terephthalate (PET) having various thicknesses, and a copper foil having a thickness of 18 μm (average surface roughness) was applied. 0.8μm)
Was bonded to one side to prepare a transfer sheet. The 180 ° peel strength of the copper foil at this time was measured as the initial adhesive strength. Table 1 shows the thickness of the PET film and the initial adhesive strength. The transfer sheet was irradiated with ultraviolet light having an intensity of 500 mJ / cm 2 for 1 minute from the PET film side to cure the pressure-sensitive adhesive.
The peel strength was measured, and the results are shown in Table 1 as the adhesive strength after curing. The adjustment of the initial adhesive strength was performed by adjusting the amount and thickness of the tackifier to be mixed with the adhesive. Then, the same insulating slurry as that used for forming the insulating substrate described later is printed as a resist on the surface of the copper foil in a conductive circuit pattern form, and immersed in a ferric chloride solution to form a non-patterned pattern. The portion was removed by etching, and a conductor circuit having a fine pattern with a line width of 30 μm and a space between wirings (wiring pitch) of 30 μm or less was formed from a copper foil, and a transfer sheet was obtained.

【0035】有機樹脂としてBTレジン、無機質フィラ
ーとして球状シリカを、体積比率で30:70の割合で
混合し、この混合物に酢酸ブチルを加えてミキサーによ
って十分に混合して粘度(25℃)が100ポイズの絶
縁性スラリーを調製した。この絶縁性スラリーを用い、
ドクタープレード法により約125μm の厚みの絶縁性
シートを作成した。
BT resin as an organic resin and spherical silica as an inorganic filler were mixed at a volume ratio of 30:70, butyl acetate was added to the mixture, and the mixture was sufficiently mixed by a mixer to have a viscosity (25 ° C.) of 100. A poise insulating slurry was prepared. Using this insulating slurry,
An insulating sheet having a thickness of about 125 μm was formed by the doctor blade method.

【0036】次いで前記で作成した転写シートの導体回
路側に、上記の絶縁性シートを重ね合わせ、真空積層機
により、30kg/cm2 の圧力で2分間加圧して、導体
回路を絶縁性シートに完全に埋め込ませた(図1
(c’))。この後、PETフィルム側から500mJ
/cm2 の強度の紫外線を1分間照射し、粘着剤を硬化さ
せ、次いでPETフィルムを剥して導体回路を絶縁性シ
ートに転写させた。
Next, the above-described insulating sheet is superimposed on the conductive circuit side of the transfer sheet prepared above, and is pressed by a vacuum laminator at a pressure of 30 kg / cm 2 for 2 minutes to convert the conductive circuit into an insulating sheet. Completely embedded (Fig. 1
(C ')). After this, 500mJ from the PET film side
/ Cm 2 for 1 minute to cure the adhesive, then peel off the PET film to transfer the conductor circuit to the insulating sheet.

【0037】PETフィルムの剥離後、絶縁性シートを
200℃、5時間加熱処理し完全に硬化させると共に、
レーザーによりバイアホールを形成し、そのホール内に
Cu−Ag合金粉末を含む銅ペーストを充填して単層の
配線基板を得た。この配線基板それぞれ20枚につい
て、双眼顕微鏡により、導体回路の断線及び転写不良の
発生率を求めた。また表面粗さ計によってICチップ搭
載領域の平坦度を測定した。結果は表1に併せて示す。
尚、この平坦度は、最も低い部分と最も高い部分との高
さの差(μm )を示すものであり、この値が小さいもの
程、平坦性が高い。
After peeling off the PET film, the insulating sheet was heated at 200 ° C. for 5 hours to be completely cured,
Via holes were formed by laser, and the holes were filled with a copper paste containing Cu-Ag alloy powder to obtain a single-layer wiring board. For each of the 20 wiring boards, the occurrence rates of disconnection and transfer failure of the conductor circuit were determined with a binocular microscope. The flatness of the IC chip mounting area was measured by a surface roughness meter. The results are shown in Table 1.
The flatness indicates the difference (μm) between the height of the lowest part and the height of the highest part. The smaller the value, the higher the flatness.

【0038】[0038]

【表1】 [Table 1]

【0039】以上の結果から初期の粘着力が50g/2
0mmよりも低い試料では、エッチング時に樹脂フィルム
から銅箔が剥離し断線が生じた。また転写シートのPE
Tフィルムの厚みが必要以上に小さくても、また必要以
上に大きくても断線或いは転写不良を生じ易く、この厚
みは10乃至500μm の範囲が適当であることが判
る。
From the above results, the initial adhesive strength was 50 g / 2.
In a sample lower than 0 mm, the copper foil was peeled off from the resin film at the time of etching, resulting in disconnection. The transfer sheet PE
If the thickness of the T film is unnecessarily small or unnecessarily large, disconnection or improper transfer is liable to occur, and it is found that the thickness is suitably in the range of 10 to 500 μm.

【0040】(実験例16〜23)75μm 厚みのPE
Tフィルムを使用し、用いる銅箔(金属層)の厚みを種
々変更した以外は、前述した実験例と同様にして配線基
板を作成した。結果を表2に示す。
(Experimental Examples 16 to 23) PE having a thickness of 75 μm
A wiring board was prepared in the same manner as in the experimental example described above, except that a T film was used and the thickness of the copper foil (metal layer) used was variously changed. Table 2 shows the results.

【0041】[0041]

【表2】 [Table 2]

【0042】以上の結果から、回路パターンを形成する
金属層(銅箔)の厚みが100μmを超えると、平坦度
が低下することが判る。また、金属層の厚みが1μm よ
りも薄いと、回路としての抵抗が増大した。
From the above results, it can be seen that when the thickness of the metal layer (copper foil) forming the circuit pattern exceeds 100 μm, the flatness decreases. Further, when the thickness of the metal layer was smaller than 1 μm, the resistance as a circuit increased.

【0043】(実験例24〜28)75μm 厚みのPE
Tフィルムと18μm の厚みの銅箔(金属層)を使用
し、粘着剤を、熱硬化型のアクリル系粘着剤に代え、粘
着剤硬化のための熱処理条件を種々変更した以外は、前
述した実験例と同様にして単層の配線基板を作成した。
その結果を表3に示す。
(Experimental Examples 24-28) PE having a thickness of 75 μm
The experiment described above was conducted using a T film and a copper foil (metal layer) having a thickness of 18 μm, replacing the pressure-sensitive adhesive with a thermosetting acrylic pressure-sensitive adhesive and changing various heat treatment conditions for curing the pressure-sensitive adhesive. A single-layer wiring board was prepared in the same manner as in the example.
Table 3 shows the results.

【0044】[0044]

【表3】 [Table 3]

【0045】(実験例29〜34)紫外線照射条件を変
更した以外は、実験例11と全く同様にして単層の配線
基板を作成した。結果を表4に示す。尚、実験例34
は、紫外線照射を全く行わなかった例である。
(Experimental Examples 29 to 34) A single-layer wiring board was prepared in exactly the same manner as in Experimental Example 11 except that the conditions for irradiation with ultraviolet light were changed. Table 4 shows the results. Experimental Example 34
Is an example in which no ultraviolet irradiation was performed.

【0046】[0046]

【表4】 [Table 4]

【0047】(実験例35〜40)ワニス状のBTレジ
ンをガラス布に体積比50:50となるように含浸乾燥
させてプリプレグを作成した。このプリプレグを絶縁性
シートとして使用し、紫外線照射条件を変更した以外
は、実験例11と全く同様にして単層の配線基板を作成
した。結果を表5に示す。
(Experimental Examples 35 to 40) A varnish-like BT resin was impregnated and dried in a glass cloth so as to have a volume ratio of 50:50 to prepare a prepreg. This prepreg was used as an insulating sheet, and a single-layer wiring board was prepared in exactly the same manner as in Experimental Example 11 except that the ultraviolet irradiation conditions were changed. Table 5 shows the results.

【0048】[0048]

【表5】 [Table 5]

【0049】(実験例41〜46)実験例35〜40で
作成したプリプレグを絶縁性シートとして使用した以外
は、実験例24〜28と同様にして熱処理条件を種々変
更して単層の配線基板を作成した。結果を表6に示す。
尚、実験例46は、熱処理を全く行わなかった。
(Experimental Examples 41 to 46) Except that the prepregs prepared in Experimental Examples 35 to 40 were used as insulating sheets, the heat treatment conditions were variously changed in the same manner as in Experimental Examples 24 to 28, and a single-layer wiring board was used. It was created. Table 6 shows the results.
In Experimental Example 46, no heat treatment was performed.

【0050】[0050]

【表6】 [Table 6]

【0051】以上の表3乃至表6の結果から明らかな通
り、PETフィルムの剥離前に粘着層の粘着力が50g
/20mm以上あった場合は、転写時に回路の断線が生じ
たが、紫外線或いは熱処理により50g/20mm未満と
した本発明品では、何れも回路の断線発生率及ぴ転写不
良発生率が2/20以下で実用的に満足でき、特に初期
の粘着力100g/20mm以上、紫外線照射或いは熱処
理後の粘着力を50g/20mm以下、厚み10乃至30
0μm とすることにより、回路パターンの断線及び転写
不良の発生をゼロにすることができ、平坦度フリップチ
ップ実装可能な高密度多層配線基板を一括積層法により
歩留まりよく安定に得ることができた。
As is clear from the results of Tables 3 to 6, the adhesive strength of the adhesive layer was 50 g before peeling of the PET film.
/ 20 mm or more, circuit breakage occurred at the time of transfer. However, in the case of the present invention, which was less than 50 g / 20 mm by ultraviolet light or heat treatment, the circuit breakage occurrence rate and transfer failure occurrence rate were 2/20. The following are practically satisfactory. Particularly, the initial adhesive strength is 100 g / 20 mm or more, the adhesive strength after ultraviolet irradiation or heat treatment is 50 g / 20 mm or less, and the thickness is 10 to 30 mm.
By setting the thickness to 0 μm, the occurrence of disconnection of the circuit pattern and the occurrence of transfer failure can be reduced to zero, and a high-density multilayer wiring board capable of flatness flip-chip mounting can be obtained stably with a high yield by the batch lamination method.

【0052】[0052]

【発明の効果】本発明によれば、転写法により配線基板
を製造するに際し、回路パターンの断線及び転写不良の
発生をゼロにすることができ、今後期待されているIV
H、50μm 以下の微細配線ピッチを持ち、平坦度も小
さくフリップチップ実装可能な高密度多層多層配線基板
を一括積層法により、歩留まりよく安定に得ることがで
きた。
According to the present invention, when a wiring substrate is manufactured by the transfer method, the occurrence of disconnection of the circuit pattern and the occurrence of transfer failure can be reduced to zero.
H, a high-density multilayer wiring substrate having a fine wiring pitch of 50 μm or less, a small flatness and a flip-chip mountability can be stably obtained with good yield by a batch lamination method.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の製造方法の一例の工程を説明するため
の図である。
FIG. 1 is a view for explaining steps of an example of a production method of the present invention.

【符合の説明】[Description of sign]

A:転写シート 1:樹脂フィルム 2:接着層 3:金属箔 3a:金属層(導体回路) 4:レジスト 5:絶縁性シート A: Transfer sheet 1: Resin film 2: Adhesive layer 3: Metal foil 3a: Metal layer (conductor circuit) 4: Resist 5: Insulating sheet

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 樹脂フィルムと、該樹脂フィルム表面に
設けられた粘着層と、該粘着層上に形成された回路パタ
ーン状の金属層とから成る配線基板形成用の転写シート
において、 前記金属層は、50g/20mm以上の粘着力(180°
ピール強度)で前記粘着層に粘着保持されていると共
に、該粘着層は、紫外線照射又は熱処理により粘着力が
低下するような粘着剤で形成されていることを特徴とす
る転写シート。
1. A transfer sheet for forming a wiring board, comprising a resin film, an adhesive layer provided on a surface of the resin film, and a circuit-patterned metal layer formed on the adhesive layer, wherein the metal layer Has an adhesive strength of at least 50 g / 20 mm (180 °
Transfer sheet, wherein the adhesive layer is adhesively held at a peel strength, and the adhesive layer is formed of an adhesive whose adhesive strength is reduced by ultraviolet irradiation or heat treatment.
【請求項2】 前記金属層の厚みが1乃至100μm で
あり、前記樹脂フィルムの厚みが10乃至500μm で
ある請求項1記載の転写シート。
2. The transfer sheet according to claim 1, wherein said metal layer has a thickness of 1 to 100 μm, and said resin film has a thickness of 10 to 500 μm.
【請求項3】 請求項1に記載の転写シートを用い、該
シートの金属層側の面に絶縁性シートを重ね合わせる工
程、 前記転写シートと絶縁性シートとを圧着して前記金属層
を絶縁性シート表面に埋め込むと共に、紫外線照射又は
熱処理により、粘着層の粘着力(180°ピール強度)
を50g/20mm未満に低下させる工程、及び、 前記転写シートの樹脂フィルムを引き剥がすことによ
り、前記金属層を絶縁性シート上に転写させる工程、か
ら成ることを特徴とする配線基板の製造方法。
3. A step of using the transfer sheet according to claim 1, and superposing an insulating sheet on a surface of the sheet on the metal layer side, wherein the transfer sheet and the insulating sheet are pressed to insulate the metal layer. The adhesive strength of the adhesive layer (180 ° peel strength) by embedding on the surface of the flexible sheet and irradiating with ultraviolet light or heat treatment
And a step of transferring the metal layer onto an insulating sheet by peeling off the resin film of the transfer sheet.
【請求項4】 請求項1に記載の転写シートを用い、該
転写シートの金属層側の面に、絶縁性基板形成用の硬化
性絶縁性スラリーを少なくとも該金属層の厚み以上の厚
みで塗布し、該絶縁性スラリーを硬化させて金属層を埋
め込んだ形で絶縁性シートを形成させる工程、 紫外線照射又は熱処理により、粘着層の粘着力(180
°ピール強度)を50g/20mm未満に低下させる工
程、及び、 前記転写シートの樹脂フィルムを引き剥がすことによ
り、前記金属層を絶縁性シート上に転写させる工程、か
ら成ることを特徴とする配線基板の製造方法。
4. The transfer sheet according to claim 1, wherein a curable insulating slurry for forming an insulating substrate is applied to a surface of the transfer sheet on a metal layer side at a thickness of at least the thickness of the metal layer. Curing the insulating slurry to form an insulating sheet in a form in which the metal layer is embedded.
(Peel strength) to less than 50 g / 20 mm, and a step of transferring the metal layer onto an insulating sheet by peeling off the resin film of the transfer sheet. Manufacturing method.
【請求項5】 前記粘着層の粘着力の低下を、転写シー
ト側からの紫外線照射により行う請求項3又は4に記載
の製造方法。
5. The method according to claim 3, wherein the reduction in the adhesive strength of the adhesive layer is performed by irradiating the transfer sheet with ultraviolet light.
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Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000228461A (en) * 1998-09-29 2000-08-15 Kyocera Corp Wiring board for high frequency
JP2002254417A (en) * 2001-03-05 2002-09-11 Nitto Denko Corp Method for manufacturing ceramic green sheet, method for manufacturing laminated ceramic electronic part, and carrier sheet for ceramic green sheet
JP2002361617A (en) * 2001-06-08 2002-12-18 Nitto Denko Corp Method for producing ceramic green sheet, method for producing laminated ceramic electronic part, and carrier sheet for ceramic green sheet
JP2002361618A (en) * 2001-06-08 2002-12-18 Nitto Denko Corp Method for producing ceramic green sheet, method for producing laminated ceramic electronic part, and carrier sheet for ceramic green sheet
US6871396B2 (en) 2000-02-09 2005-03-29 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Transfer material for wiring substrate
JP2006066909A (en) * 2004-07-30 2006-03-09 Toyo Ink Mfg Co Ltd Method for manufacturing electromagnetic wave shielding mesh for display, electromagnetic wave shielding mesh manufactured by the method, and display equipped with electromagnetic wave shielding mesh
JP2007095870A (en) * 2005-09-28 2007-04-12 Toppan Printing Co Ltd Electromagnetic wave shielding member
JP2007095901A (en) * 2005-09-28 2007-04-12 Toyo Ink Mfg Co Ltd Electromagnetic wave shielding light transmission member
JP2007095900A (en) * 2005-09-28 2007-04-12 Toyo Ink Mfg Co Ltd Electromagnetic wave shielding light transmission member
US7226520B2 (en) 2003-04-01 2007-06-05 Seiko Epson Corporation Method for forming pattern and method for forming multilayer wiring structure by droplet discharge system
WO2007132722A1 (en) * 2006-05-15 2007-11-22 Alps Electric Co., Ltd. Electronic component and method for manufacturing the same
JP2008016552A (en) * 2006-07-04 2008-01-24 Toppan Printing Co Ltd Component-mounting substrate, and manufacturing method therefor
KR100811768B1 (en) 2007-04-23 2008-03-07 삼성전기주식회사 Manufacturing method of pcb
JP2009238920A (en) * 2008-03-26 2009-10-15 Tdk Corp Manufacturing method of electronic component
JP2009246391A (en) * 2009-07-27 2009-10-22 Kyocera Corp Method of manufacturing ceramic wiring board
JP2010267719A (en) * 2009-05-13 2010-11-25 Shimadzu Corp Method of manufacturing thin film electronic element
JP2012074465A (en) * 2010-09-28 2012-04-12 Fujikura Ltd Transfer medium and method of manufacturing wiring board
US9510447B2 (en) 2014-07-15 2016-11-29 Ibiden Co., Ltd. Printed wiring board and method for manufacturing the same
US9538651B2 (en) 2014-08-07 2017-01-03 Ibiden Co., Ltd. Printed wiring board and method for manufacturing the same
US9704795B2 (en) 2014-08-07 2017-07-11 Ibiden Co., Ltd. Printed wiring board and method for manufacturing the same
US9713267B2 (en) 2014-03-31 2017-07-18 Ibiden Co., Ltd. Method for manufacturing printed wiring board with conductive post and printed wiring board with conductive post
JP2021079702A (en) * 2015-12-07 2021-05-27 三井金属鉱業株式会社 Laminate manufacturing method and metallic foil with resin layer

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56169392A (en) * 1980-05-29 1981-12-26 Nissha Printing Method of producing printed circuit board
JPS57186393A (en) * 1981-05-11 1982-11-16 Mitsubishi Gas Chemical Co Method of producing flash circuit
JPS5857783A (en) * 1981-09-30 1983-04-06 松下電工株式会社 Method of forming electric circuit for printed board
JPS62242389A (en) * 1986-04-14 1987-10-22 旭化成株式会社 Manufacture of flexible printed wiring board
JPH04127492A (en) * 1990-09-19 1992-04-28 Toppan Printing Co Ltd Material for printed wiring, manufacture thereof and printed wiring board
JPH05251851A (en) * 1992-05-07 1993-09-28 Hitachi Chem Co Ltd Manufacture of processed wiring article by use of adhesive film
JPH06310832A (en) * 1993-04-22 1994-11-04 Asahi Chem Ind Co Ltd Manufacture of printed-wiring board
JPH0730229A (en) * 1993-07-09 1995-01-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd Manufacture of printed circuit board
JPH07249864A (en) * 1994-03-14 1995-09-26 Toshiba Corp Manufacture of printed wiring board

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56169392A (en) * 1980-05-29 1981-12-26 Nissha Printing Method of producing printed circuit board
JPS57186393A (en) * 1981-05-11 1982-11-16 Mitsubishi Gas Chemical Co Method of producing flash circuit
JPS5857783A (en) * 1981-09-30 1983-04-06 松下電工株式会社 Method of forming electric circuit for printed board
JPS62242389A (en) * 1986-04-14 1987-10-22 旭化成株式会社 Manufacture of flexible printed wiring board
JPH04127492A (en) * 1990-09-19 1992-04-28 Toppan Printing Co Ltd Material for printed wiring, manufacture thereof and printed wiring board
JPH05251851A (en) * 1992-05-07 1993-09-28 Hitachi Chem Co Ltd Manufacture of processed wiring article by use of adhesive film
JPH06310832A (en) * 1993-04-22 1994-11-04 Asahi Chem Ind Co Ltd Manufacture of printed-wiring board
JPH0730229A (en) * 1993-07-09 1995-01-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd Manufacture of printed circuit board
JPH07249864A (en) * 1994-03-14 1995-09-26 Toshiba Corp Manufacture of printed wiring board

Cited By (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000228461A (en) * 1998-09-29 2000-08-15 Kyocera Corp Wiring board for high frequency
US6871396B2 (en) 2000-02-09 2005-03-29 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Transfer material for wiring substrate
US6936774B2 (en) 2000-02-09 2005-08-30 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Wiring substrate produced by transfer material method
US7888789B2 (en) 2000-02-09 2011-02-15 Panasonic Corporation Transfer material used for producing a wiring substrate
EP1933376A3 (en) * 2000-02-09 2010-06-30 Panasonic Corporation Transfer material, method for producing the same and wiring substrate produced by using the same
JP2002254417A (en) * 2001-03-05 2002-09-11 Nitto Denko Corp Method for manufacturing ceramic green sheet, method for manufacturing laminated ceramic electronic part, and carrier sheet for ceramic green sheet
JP2002361617A (en) * 2001-06-08 2002-12-18 Nitto Denko Corp Method for producing ceramic green sheet, method for producing laminated ceramic electronic part, and carrier sheet for ceramic green sheet
JP2002361618A (en) * 2001-06-08 2002-12-18 Nitto Denko Corp Method for producing ceramic green sheet, method for producing laminated ceramic electronic part, and carrier sheet for ceramic green sheet
US7226520B2 (en) 2003-04-01 2007-06-05 Seiko Epson Corporation Method for forming pattern and method for forming multilayer wiring structure by droplet discharge system
JP2006066909A (en) * 2004-07-30 2006-03-09 Toyo Ink Mfg Co Ltd Method for manufacturing electromagnetic wave shielding mesh for display, electromagnetic wave shielding mesh manufactured by the method, and display equipped with electromagnetic wave shielding mesh
JP2007095901A (en) * 2005-09-28 2007-04-12 Toyo Ink Mfg Co Ltd Electromagnetic wave shielding light transmission member
JP2007095900A (en) * 2005-09-28 2007-04-12 Toyo Ink Mfg Co Ltd Electromagnetic wave shielding light transmission member
JP2007095870A (en) * 2005-09-28 2007-04-12 Toppan Printing Co Ltd Electromagnetic wave shielding member
WO2007132722A1 (en) * 2006-05-15 2007-11-22 Alps Electric Co., Ltd. Electronic component and method for manufacturing the same
JP2008016552A (en) * 2006-07-04 2008-01-24 Toppan Printing Co Ltd Component-mounting substrate, and manufacturing method therefor
KR100811768B1 (en) 2007-04-23 2008-03-07 삼성전기주식회사 Manufacturing method of pcb
JP2009238920A (en) * 2008-03-26 2009-10-15 Tdk Corp Manufacturing method of electronic component
JP2010267719A (en) * 2009-05-13 2010-11-25 Shimadzu Corp Method of manufacturing thin film electronic element
JP2009246391A (en) * 2009-07-27 2009-10-22 Kyocera Corp Method of manufacturing ceramic wiring board
JP2012074465A (en) * 2010-09-28 2012-04-12 Fujikura Ltd Transfer medium and method of manufacturing wiring board
US9713267B2 (en) 2014-03-31 2017-07-18 Ibiden Co., Ltd. Method for manufacturing printed wiring board with conductive post and printed wiring board with conductive post
US9510447B2 (en) 2014-07-15 2016-11-29 Ibiden Co., Ltd. Printed wiring board and method for manufacturing the same
US9538651B2 (en) 2014-08-07 2017-01-03 Ibiden Co., Ltd. Printed wiring board and method for manufacturing the same
US9704795B2 (en) 2014-08-07 2017-07-11 Ibiden Co., Ltd. Printed wiring board and method for manufacturing the same
JP2021079702A (en) * 2015-12-07 2021-05-27 三井金属鉱業株式会社 Laminate manufacturing method and metallic foil with resin layer

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