JPH10108836A - 眼屈折力測定装置 - Google Patents
眼屈折力測定装置Info
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- JPH10108836A JPH10108836A JP8283280A JP28328096A JPH10108836A JP H10108836 A JPH10108836 A JP H10108836A JP 8283280 A JP8283280 A JP 8283280A JP 28328096 A JP28328096 A JP 28328096A JP H10108836 A JPH10108836 A JP H10108836A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 より精度の高い位相差法に基づく眼屈折力を
得ることができ、また、不正乱視の有無を容易に発見で
きる眼屈折力測定装置を提供する。 【解決手段】 被検眼眼底には２つの方向のスリット状
の光束を走査して投影し、眼底で反射されたスリット光
束を被検眼角膜と略共役な位置に光軸を挟んで対称に配
置された受光素子１５ａ，１５ｂの対と、受光素子１５
ｃ，１５ｄの対で検出する。ある第１の方向のスリット
光束が乱視を持たない被検眼に投影されたとき、そのス
リット光束の長手方向に直交する方向に対応して受光素
子１５ａ，１５ｂが配置され、このときの受光素子１５
ｃ，１５ｄの位相差信号出力に基づいて被検眼の角膜中
心または視軸中心を検出する。検出した角膜中心または
視軸中心と前記第１の方向に対応して配置された受光素
子１５ａ，１５ｂの夫々の出力信号に基づいて各々の受
光素子位置に対応する角膜部位での屈折力を求める。こ
れにより、角膜中心または視軸中心に対する経線方向の
屈折力が求まり、不正乱視の有無を検知する。
得ることができ、また、不正乱視の有無を容易に発見で
きる眼屈折力測定装置を提供する。 【解決手段】 被検眼眼底には２つの方向のスリット状
の光束を走査して投影し、眼底で反射されたスリット光
束を被検眼角膜と略共役な位置に光軸を挟んで対称に配
置された受光素子１５ａ，１５ｂの対と、受光素子１５
ｃ，１５ｄの対で検出する。ある第１の方向のスリット
光束が乱視を持たない被検眼に投影されたとき、そのス
リット光束の長手方向に直交する方向に対応して受光素
子１５ａ，１５ｂが配置され、このときの受光素子１５
ｃ，１５ｄの位相差信号出力に基づいて被検眼の角膜中
心または視軸中心を検出する。検出した角膜中心または
視軸中心と前記第１の方向に対応して配置された受光素
子１５ａ，１５ｂの夫々の出力信号に基づいて各々の受
光素子位置に対応する角膜部位での屈折力を求める。こ
れにより、角膜中心または視軸中心に対する経線方向の
屈折力が求まり、不正乱視の有無を検知する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、被検眼の屈折力を
他覚的に測定する眼屈折力測定装置に関する。
他覚的に測定する眼屈折力測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】眼屈折力測定装置としては、スリット状
の光束を走査して被検眼眼底に投影し、スリット光束の
投影により被検眼眼底から反射される光を被検眼角膜と
略共役な位置に光軸を挟んで対称に配置された２対の受
光素子により検出することに基づいて被検眼の屈折力を
得るものが知られている。この種の装置の測定結果は、
被検眼の屈折力を角膜中心に対称と仮定して、Ｓ（球面
度数）、Ｃ（乱視度数）、Ａ（乱視軸角度）の３個のパ
ラメ−タにより演算出力される。
の光束を走査して被検眼眼底に投影し、スリット光束の
投影により被検眼眼底から反射される光を被検眼角膜と
略共役な位置に光軸を挟んで対称に配置された２対の受
光素子により検出することに基づいて被検眼の屈折力を
得るものが知られている。この種の装置の測定結果は、
被検眼の屈折力を角膜中心に対称と仮定して、Ｓ（球面
度数）、Ｃ（乱視度数）、Ａ（乱視軸角度）の３個のパ
ラメ−タにより演算出力される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、眼の屈折力は
角膜中心に対称とは限らず、不正乱視を持つ眼も少なく
ない。不正乱視眼では、被検眼が装置内部の固視標の中
心を見ているときと、そうでない位置を見ているときに
得られるＳ，Ｃ，Ａの結果は異なるものになる。不正乱
視の代表的な例として、円錐角膜の場合では、Ｓ，Ｃ，
Ａの値は全くあてにならない結果となることがあった。
角膜中心に対称とは限らず、不正乱視を持つ眼も少なく
ない。不正乱視眼では、被検眼が装置内部の固視標の中
心を見ているときと、そうでない位置を見ているときに
得られるＳ，Ｃ，Ａの結果は異なるものになる。不正乱
視の代表的な例として、円錐角膜の場合では、Ｓ，Ｃ，
Ａの値は全くあてにならない結果となることがあった。
【０００４】また、最近の屈折異常の矯正法として脚光
を浴びているエキシマレ−ザによる角膜手術では、角膜
の表面を切除してその曲率を変えるが、手術時に軸ずれ
があると、角膜の対称性が崩れる。
を浴びているエキシマレ−ザによる角膜手術では、角膜
の表面を切除してその曲率を変えるが、手術時に軸ずれ
があると、角膜の対称性が崩れる。
【０００５】このように屈折力の対称性が確保されてい
ない被検眼では、Ｓ，Ｃ，Ａの測定結果が不正確になる
ことも少なくない。この場合にはその後に続いて行われ
る自覚検査による眼鏡処方等においてその検査に時間を
要してしまうことになり、被検眼を疲労させたりして不
正確な処方値を出しかねない。
ない被検眼では、Ｓ，Ｃ，Ａの測定結果が不正確になる
ことも少なくない。この場合にはその後に続いて行われ
る自覚検査による眼鏡処方等においてその検査に時間を
要してしまうことになり、被検眼を疲労させたりして不
正確な処方値を出しかねない。
【０００６】本発明は、上記従来装置の欠点に鑑み、よ
り精度の高い位相差法に基づく眼屈折力を得ることがで
き、また、不正乱視の有無を容易に発見できる眼屈折力
測定装置を提供することを技術課題をする。
り精度の高い位相差法に基づく眼屈折力を得ることがで
き、また、不正乱視の有無を容易に発見できる眼屈折力
測定装置を提供することを技術課題をする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は次のような構成を有することを特徴として
いる。
に、本発明は次のような構成を有することを特徴として
いる。
【０００８】（１） 少なくとも２つの方向のスリット
状の光束を被検眼に走査するスリット光投影光学系と、
被検眼眼底で反射されるスリット光束を被検眼角膜と略
共役な位置に光軸を挟んで対称に配置された２対以上の
受光素子により検出する検出光学系とを備え、前記受光
素子間の位相差信号出力に基づいて被検眼の屈折力を得
る眼屈折力測定装置において、ある第１の方向のスリッ
ト状の光束に対応する方向の受光素子を除いた少なくと
も１対の受光素子間の位相差信号出力に基づいて被検眼
の角膜中心または視軸中心を検出する中心検知手段を備
えることを特徴とする。
状の光束を被検眼に走査するスリット光投影光学系と、
被検眼眼底で反射されるスリット光束を被検眼角膜と略
共役な位置に光軸を挟んで対称に配置された２対以上の
受光素子により検出する検出光学系とを備え、前記受光
素子間の位相差信号出力に基づいて被検眼の屈折力を得
る眼屈折力測定装置において、ある第１の方向のスリッ
ト状の光束に対応する方向の受光素子を除いた少なくと
も１対の受光素子間の位相差信号出力に基づいて被検眼
の角膜中心または視軸中心を検出する中心検知手段を備
えることを特徴とする。
【０００９】（２） （１）の中心検知手段は、前記少
なくとも１対の受光素子からそれぞれ出力される光電圧
信号の立上がりと立下がりの中間に相応する時間差に基
づいて中心位置を検知することを特徴とする。
なくとも１対の受光素子からそれぞれ出力される光電圧
信号の立上がりと立下がりの中間に相応する時間差に基
づいて中心位置を検知することを特徴とする。
【００１０】（３） 少なくとも２つの方向のスリット
状の光束を被検眼に走査するスリット光投影光学系と、
被検眼眼底で反射されるスリット光束を被検眼角膜と略
共役な位置に光軸を挟んで対称に配置された２対以上の
受光素子により検出する検出光学系とを備え、前記受光
素子間の位相差信号出力に基づいて被検眼の屈折力を得
る眼屈折力測定装置において、ある第１の方向のスリッ
ト状の光束に対応する方向の受光素子を除いた少なくと
も１対の受光素子間の位相差信号出力に基づいて被検眼
の第１の方向の中心を検知する中心検知手段と、検知さ
れた中心と前記第１の方向に対応して配置された受光素
子の夫々の出力信号とに基づいてその経線方向の各々の
受光素子位置に対応する角膜部位での屈折力を演算する
屈折力演算手段と、を備えることを特徴とする。
状の光束を被検眼に走査するスリット光投影光学系と、
被検眼眼底で反射されるスリット光束を被検眼角膜と略
共役な位置に光軸を挟んで対称に配置された２対以上の
受光素子により検出する検出光学系とを備え、前記受光
素子間の位相差信号出力に基づいて被検眼の屈折力を得
る眼屈折力測定装置において、ある第１の方向のスリッ
ト状の光束に対応する方向の受光素子を除いた少なくと
も１対の受光素子間の位相差信号出力に基づいて被検眼
の第１の方向の中心を検知する中心検知手段と、検知さ
れた中心と前記第１の方向に対応して配置された受光素
子の夫々の出力信号とに基づいてその経線方向の各々の
受光素子位置に対応する角膜部位での屈折力を演算する
屈折力演算手段と、を備えることを特徴とする。
【００１１】（４） （３）の眼屈折力測定装置は、さ
らに前記屈折力演算手段の結果に基づいて不正乱視の有
無を判定する判定手段と、該判定手段による判定結果を
表示または記録する表示・記録手段と、を備えることを
特徴とする。
らに前記屈折力演算手段の結果に基づいて不正乱視の有
無を判定する判定手段と、該判定手段による判定結果を
表示または記録する表示・記録手段と、を備えることを
特徴とする。
【００１２】（５） （３）の眼屈折力測定装置は、さ
らに前記屈折力演算手段の結果に基づいて屈折力の差を
演算する演算手段と、該演算結果を表示または記録する
表示・記録手段と、を備えることを特徴とする。
らに前記屈折力演算手段の結果に基づいて屈折力の差を
演算する演算手段と、該演算結果を表示または記録する
表示・記録手段と、を備えることを特徴とする。
【００１３】
【実施例】本発明の一実施例を図面に基づいて説明す
る。図１は実施例の装置の光学系概略配置図である。光
学系は、スリット投影光学系、スリット検出光学系、固
視標光学系、及び観察光学系に大別される。
る。図１は実施例の装置の光学系概略配置図である。光
学系は、スリット投影光学系、スリット検出光学系、固
視標光学系、及び観察光学系に大別される。
【００１４】１はスリット投影光学系である。２は赤外
の光を発するスリット照明光源、３はミラ−である。４
はモ−タ５により一定の速度で一定方向に回転される円
筒状の回転セクタ−である。回転セクタ−４の側面に
は、その展開図を図２に示すように、２種類の異なる傾
斜角度のスリット開口４ａ，４ｂがそれぞれ複数個設け
られている。スリット開口４ａは回転セクタ−４の回転
方向に対して４５度の傾斜角度を持つように設けられ、
スリット開口４ｂは開口４ａに直交するように回転方向
に対して１３５度の傾斜角度を持つように設けられてい
る。６は投影レンズであり、光源２は投影レンズ６に関
して被検眼角膜近傍と共役な位置に位置する。７は制限
絞り、８及び９はビ−ムスプリッタである。
の光を発するスリット照明光源、３はミラ−である。４
はモ−タ５により一定の速度で一定方向に回転される円
筒状の回転セクタ−である。回転セクタ−４の側面に
は、その展開図を図２に示すように、２種類の異なる傾
斜角度のスリット開口４ａ，４ｂがそれぞれ複数個設け
られている。スリット開口４ａは回転セクタ−４の回転
方向に対して４５度の傾斜角度を持つように設けられ、
スリット開口４ｂは開口４ａに直交するように回転方向
に対して１３５度の傾斜角度を持つように設けられてい
る。６は投影レンズであり、光源２は投影レンズ６に関
して被検眼角膜近傍と共役な位置に位置する。７は制限
絞り、８及び９はビ−ムスプリッタである。
【００１５】光源２を発した赤外の光はミラ−３に反射
されて回転セクタ−４のスリット開口４ａまたは４ｂを
照明する。回転セクタ−４の回転により走査されたスリ
ット光束は、投影レンズ６、制限絞り７を経た後にビ−
ムスプリッタ８で反射される。その後ビ−ムスプリッタ
９を透過して被検眼Ｅの角膜近傍で集光した後、眼底に
投影される。なお、回転セクタ−４は異なる傾斜角度の
スリット開口を持つため、いづれの角度のスリット光束
が投影されているかをセンサ２０が検出するようになっ
ている。
されて回転セクタ−４のスリット開口４ａまたは４ｂを
照明する。回転セクタ−４の回転により走査されたスリ
ット光束は、投影レンズ６、制限絞り７を経た後にビ−
ムスプリッタ８で反射される。その後ビ−ムスプリッタ
９を透過して被検眼Ｅの角膜近傍で集光した後、眼底に
投影される。なお、回転セクタ−４は異なる傾斜角度の
スリット開口を持つため、いづれの角度のスリット光束
が投影されているかをセンサ２０が検出するようになっ
ている。
【００１６】１０はスリット検出光学系であり、その光
軸Ｌ1 上に受光レンズ１１、絞り１３、受光部１４を備
える。絞り１３は受光レンズ１１の後ろ側焦点位置に配
置され、受光部１４は受光レンズ１１に関して被検眼角
膜と略共役な位置に配置される。受光部１４はその受光
面に、図３に示すように、４個の受光素子１５ａ〜１５
ｄを有している。受光素子１５ａ、１５ｂは光軸Ｌ1 を
中心にして対称に設けられ、同じく受光素子１５ｃ、１
５ｄは光軸Ｌ1 を中心にして対称になるように設けられ
ている。この２対の受光素子は、２種類の傾斜角度を持
つスリット開口４ａ、４ｂにより投影される被検眼眼底
上でのスリット光束の走査方向（眼底上でのスリット光
束は、あたかもスリットの長手方向に直交する方向に走
査されるようになる）にそれぞれ対応させて配置されて
いる。実施例の装置では乱視を持たない遠視または近視
の被検眼眼底上でスリット開口４ａによるスリット光束
が走査されたとき、受光部１４上で受光されるスリット
の長手方向に直交する方向に対応するように一対の受光
素子１５ａと１５ｂを配置し、同じくスリット開口４ｂ
によるスリット光束が走査されたとき、受光部１４上で
受光されるスリットの長手方向に直交する方向に対応す
るように一対の受光素子１５ｃと１５ｄを配置してい
る。
軸Ｌ1 上に受光レンズ１１、絞り１３、受光部１４を備
える。絞り１３は受光レンズ１１の後ろ側焦点位置に配
置され、受光部１４は受光レンズ１１に関して被検眼角
膜と略共役な位置に配置される。受光部１４はその受光
面に、図３に示すように、４個の受光素子１５ａ〜１５
ｄを有している。受光素子１５ａ、１５ｂは光軸Ｌ1 を
中心にして対称に設けられ、同じく受光素子１５ｃ、１
５ｄは光軸Ｌ1 を中心にして対称になるように設けられ
ている。この２対の受光素子は、２種類の傾斜角度を持
つスリット開口４ａ、４ｂにより投影される被検眼眼底
上でのスリット光束の走査方向（眼底上でのスリット光
束は、あたかもスリットの長手方向に直交する方向に走
査されるようになる）にそれぞれ対応させて配置されて
いる。実施例の装置では乱視を持たない遠視または近視
の被検眼眼底上でスリット開口４ａによるスリット光束
が走査されたとき、受光部１４上で受光されるスリット
の長手方向に直交する方向に対応するように一対の受光
素子１５ａと１５ｂを配置し、同じくスリット開口４ｂ
によるスリット光束が走査されたとき、受光部１４上で
受光されるスリットの長手方向に直交する方向に対応す
るように一対の受光素子１５ｃと１５ｄを配置してい
る。
【００１７】３０は固視標光学系である。３１は光源、
３２は固視標、３３は投光レンズである。投光レンズ３
３は光軸方向に移動することによって被検眼の雲霧を行
う。３４は固視標光学系と観察光学系を同軸にするビ−
ムスプリッタである。光源３１は固視標３２を照明し、
固視標３２からの光束は投光レンズ３３、ビ−ムスプリ
ッタ３４を経た後、ビ−ムスプリッタ９で反射して被検
眼Ｅに向かい、被検眼Ｅは固視標３２を固視する。
３２は固視標、３３は投光レンズである。投光レンズ３
３は光軸方向に移動することによって被検眼の雲霧を行
う。３４は固視標光学系と観察光学系を同軸にするビ−
ムスプリッタである。光源３１は固視標３２を照明し、
固視標３２からの光束は投光レンズ３３、ビ−ムスプリ
ッタ３４を経た後、ビ−ムスプリッタ９で反射して被検
眼Ｅに向かい、被検眼Ｅは固視標３２を固視する。
【００１８】３５は観察光学系である。照明光源３６に
照明された被検眼Ｅの前眼部像は、ビ−ムスプリッタ
９、３４を介して撮影レンズ３７によりＣＣＤカメラ３
８の撮像素子面に結像し、ＴＶモニタ３９に映出され
る。
照明された被検眼Ｅの前眼部像は、ビ−ムスプリッタ
９、３４を介して撮影レンズ３７によりＣＣＤカメラ３
８の撮像素子面に結像し、ＴＶモニタ３９に映出され
る。
【００１９】次に、各受光素子１５ａ〜１５ｄの出力信
号から角膜中心（または視軸中心）を求め、その角膜中
心に対して各受光素子の対応する角膜部位での屈折力を
求める方法について説明する。
号から角膜中心（または視軸中心）を求め、その角膜中
心に対して各受光素子の対応する角膜部位での屈折力を
求める方法について説明する。
【００２０】いま、スリット開口４ａによるスリット光
束が定速度で走査され、眼底から反射したスリット像が
各受光素子１５ａ〜１５ｄを横切るとき、その信号出力
波形がある基準時間ｔ0 に対してそれぞれ図４（イ）〜
（ニ）のようになったとする。これは、被検眼が遠視ま
たは近視の状態でかつ乱視を持つ場合である。
束が定速度で走査され、眼底から反射したスリット像が
各受光素子１５ａ〜１５ｄを横切るとき、その信号出力
波形がある基準時間ｔ0 に対してそれぞれ図４（イ）〜
（ニ）のようになったとする。これは、被検眼が遠視ま
たは近視の状態でかつ乱視を持つ場合である。
【００２１】さて、屈折力が角膜中心に対称であると仮
定したときには、図４（イ）の受光素子１５ａからの出
力信号と（ロ）の受光素子１４ｂからの出力信号との位
相差（時間差）に対応させて、受光素子１５ａと１５ｂ
に対応した角膜部位間の屈折力を得ることができる。し
かし、屈折力は必ずしも角膜中心に対称であるとは限ら
ない。そこで、受光素子１５ａと１５ｂに対し、これと
直交する方向に位置する受光素子１５ｃと１５ｄの信号
出力から受光素子１５ａと１５ｂの中心を得る方法を考
える。そして、受光素子１５ａ、１５ｂの各位置に対応
する角膜部位に対応する屈折力を求める。これにより、
屈折力の中心に対する対称性を評価することができる。
定したときには、図４（イ）の受光素子１５ａからの出
力信号と（ロ）の受光素子１４ｂからの出力信号との位
相差（時間差）に対応させて、受光素子１５ａと１５ｂ
に対応した角膜部位間の屈折力を得ることができる。し
かし、屈折力は必ずしも角膜中心に対称であるとは限ら
ない。そこで、受光素子１５ａと１５ｂに対し、これと
直交する方向に位置する受光素子１５ｃと１５ｄの信号
出力から受光素子１５ａと１５ｂの中心を得る方法を考
える。そして、受光素子１５ａ、１５ｂの各位置に対応
する角膜部位に対応する屈折力を求める。これにより、
屈折力の中心に対する対称性を評価することができる。
【００２２】ここで、説明を簡単にするために、光の入
射に伴って各受光素子に発生する光電圧信号波形の立上
がり時間を検出すると（図４のｔa 、ｔb 、ｔc 、ｔd
）、基準時間ｔ0 に対する受光素子１５ａと１５ｂの
中心は、 （ｔc ＋ｔd ）／２ で求めることができる。したがって、受光素子１５ａに
対応する角膜部位から角膜中心までの時間をＴａ、角膜
中心から受光素子１５ｂに対応する角膜部位までの時間
をＴｂとすると、 Ｔａ＝［（ｔc ＋ｔd ）／２−ｔa ］ Ｔｂ＝［ｔb −（ｔc ＋ｔd ）／２］ となり、この時間Ｔａ、Ｔｂを屈折力に対応させること
により、角膜中心と所定の角膜部位間での屈折力を求め
ることができる。
射に伴って各受光素子に発生する光電圧信号波形の立上
がり時間を検出すると（図４のｔa 、ｔb 、ｔc 、ｔd
）、基準時間ｔ0 に対する受光素子１５ａと１５ｂの
中心は、 （ｔc ＋ｔd ）／２ で求めることができる。したがって、受光素子１５ａに
対応する角膜部位から角膜中心までの時間をＴａ、角膜
中心から受光素子１５ｂに対応する角膜部位までの時間
をＴｂとすると、 Ｔａ＝［（ｔc ＋ｔd ）／２−ｔa ］ Ｔｂ＝［ｔb −（ｔc ＋ｔd ）／２］ となり、この時間Ｔａ、Ｔｂを屈折力に対応させること
により、角膜中心と所定の角膜部位間での屈折力を求め
ることができる。
【００２３】次に、各受光素子からの出力信号を２値化
処理して位相差時間を検出する場合について説明する。
各受光素子から出力された信号に対してあるスレッシュ
レベルを設定して２値化処理する場合、各受光素子間に
光量差があると位相差時間の検出に誤差を生じることが
ある。これは白内障眼のような眼の透光体に混濁がある
場合等に生じやすい。例えば、図５は受光素子１５ａに
対応する角膜部位に対して受光素子１５ｂに対応する角
膜部位の混濁が大であったときの、両素子からの信号波
形の例を示した図である（図は説明を簡単にするため
に、受光のタイミングを揃えている）。波形６５が受光
素子１５ａからの信号波形を示し、波形６６が受光素子
１５ｂからの信号波形を示す。受光素子１５ｂの波形振
幅は混濁のため小さい。このアナログ波形は２値化処理
によりあるスレッシュレベル６７で矩形波の波形に整形
されるが、振幅が変化すると、矩形波形に整形したとき
の基準時間ｔ0 からのそれぞれの立上がり時間ｔa1、ｔ
b1には、Δｔの時間差が生じてしまう。したがって、各
受光素子間に光量差があるときには、Δｔの時間差は屈
折力に変換したときの誤差となってしまう。
処理して位相差時間を検出する場合について説明する。
各受光素子から出力された信号に対してあるスレッシュ
レベルを設定して２値化処理する場合、各受光素子間に
光量差があると位相差時間の検出に誤差を生じることが
ある。これは白内障眼のような眼の透光体に混濁がある
場合等に生じやすい。例えば、図５は受光素子１５ａに
対応する角膜部位に対して受光素子１５ｂに対応する角
膜部位の混濁が大であったときの、両素子からの信号波
形の例を示した図である（図は説明を簡単にするため
に、受光のタイミングを揃えている）。波形６５が受光
素子１５ａからの信号波形を示し、波形６６が受光素子
１５ｂからの信号波形を示す。受光素子１５ｂの波形振
幅は混濁のため小さい。このアナログ波形は２値化処理
によりあるスレッシュレベル６７で矩形波の波形に整形
されるが、振幅が変化すると、矩形波形に整形したとき
の基準時間ｔ0 からのそれぞれの立上がり時間ｔa1、ｔ
b1には、Δｔの時間差が生じてしまう。したがって、各
受光素子間に光量差があるときには、Δｔの時間差は屈
折力に変換したときの誤差となってしまう。
【００２４】そこで、各受光素子間に光量差がある場合
を考慮し、測定する経方向の中心（角膜中心）及びその
中心に対する屈折力は、それぞれ整形された矩形波形の
パルス幅の半分の時間をとるようにする。こうすると、
各受光素子位置における振幅差の影響を排除することが
できる。すなわち、図５において、基準時間ｔ0 からの
ｔa1及びｔa2、ｔb1及びｔb2の時間を計測し、その中心
までの時間ｔa3又はｔb3を求めれば良い。ｔa3及びｔb3
はそれぞれ、 ｔa3＝ｔa1＋ｔa2／２ ｔb3＝ｔb1＋ｔb2／２ となる。このことは、各受光素子に対応する２値化処理
のときのスレッシュレベルが各々異なっても正確な時間
を求めることができることを意味している。
を考慮し、測定する経方向の中心（角膜中心）及びその
中心に対する屈折力は、それぞれ整形された矩形波形の
パルス幅の半分の時間をとるようにする。こうすると、
各受光素子位置における振幅差の影響を排除することが
できる。すなわち、図５において、基準時間ｔ0 からの
ｔa1及びｔa2、ｔb1及びｔb2の時間を計測し、その中心
までの時間ｔa3又はｔb3を求めれば良い。ｔa3及びｔb3
はそれぞれ、 ｔa3＝ｔa1＋ｔa2／２ ｔb3＝ｔb1＋ｔb2／２ となる。このことは、各受光素子に対応する２値化処理
のときのスレッシュレベルが各々異なっても正確な時間
を求めることができることを意味している。
【００２５】このような時間の検出方法を具体的に各受
光素子について示したものが図６である。（イ）は基準
となる計測パルスのデジタル波形を示し、この場合は受
光素子１５ａ〜１５ｄの内、２値化処理後のパルス波形
の最初の立上がり時のタイミングを基準にとるようにし
ている。（ロ）〜（ホ）はそれ４つの受光素子１５ａ〜
１５ｄから得られるデジタル波形を示し、ｔA3，ｔB3，
ｔC3，ｔD3がそれぞれ基準時間（計測パルスの立上がり
エッジ）からのパルス幅の中心までの時間を示すもので
ある。したがって、受光素子１５ａ，１５ｂの方向を測
定経線方向としたとき、その中心（角膜中心）は、（ｔ
C3＋ｔD3）／２で求められ、求められた中心までの受光
素子１５ａの位置での時間差ＴA 、及び中心から受光素
子１５ｂの位置での時間差ＴB は、 ＴA ＝（ｔC3＋ｔD3）／２−ｔA3 ＴB ＝ｔB3−（ｔC3＋ｔD3）／２ で求められる。そして、この時間差をその経線方向の中
心に対する屈折力に対応させることができる。
光素子について示したものが図６である。（イ）は基準
となる計測パルスのデジタル波形を示し、この場合は受
光素子１５ａ〜１５ｄの内、２値化処理後のパルス波形
の最初の立上がり時のタイミングを基準にとるようにし
ている。（ロ）〜（ホ）はそれ４つの受光素子１５ａ〜
１５ｄから得られるデジタル波形を示し、ｔA3，ｔB3，
ｔC3，ｔD3がそれぞれ基準時間（計測パルスの立上がり
エッジ）からのパルス幅の中心までの時間を示すもので
ある。したがって、受光素子１５ａ，１５ｂの方向を測
定経線方向としたとき、その中心（角膜中心）は、（ｔ
C3＋ｔD3）／２で求められ、求められた中心までの受光
素子１５ａの位置での時間差ＴA 、及び中心から受光素
子１５ｂの位置での時間差ＴB は、 ＴA ＝（ｔC3＋ｔD3）／２−ｔA3 ＴB ＝ｔB3−（ｔC3＋ｔD3）／２ で求められる。そして、この時間差をその経線方向の中
心に対する屈折力に対応させることができる。
【００２６】同様に、受光素子１５ｃ，１５ｄの方向を
測定経線方向としたとき、その中心（角膜中心）は受光
素子１５ａ，１５ｂからのデジタル波形に基づいて求め
られ、その中心に対する受光素子１５ｃ及び１５ｄの位
置でのそれぞれの時間差も求められる。
測定経線方向としたとき、その中心（角膜中心）は受光
素子１５ａ，１５ｂからのデジタル波形に基づいて求め
られ、その中心に対する受光素子１５ｃ及び１５ｄの位
置でのそれぞれの時間差も求められる。
【００２７】次に、装置の動作を図７の信号処理系の概
略ブロック図を使用して説明する。検者は照明光源３６
に照明された被検眼Ｅの前眼部像をＴＶモニタ３９によ
り観察しながら装置を上下左右及び前後に移動してアラ
イメントを行う（アライメントは位置合わせ用の指標を
角膜に投影し、その角膜反射輝点とレチクルとが所定の
関係になるようにする周知のものが使用できる）。アラ
イメントが完了したら、図示なき測定開始スイッチによ
りトリガ信号を発生させて測定を開始する。
略ブロック図を使用して説明する。検者は照明光源３６
に照明された被検眼Ｅの前眼部像をＴＶモニタ３９によ
り観察しながら装置を上下左右及び前後に移動してアラ
イメントを行う（アライメントは位置合わせ用の指標を
角膜に投影し、その角膜反射輝点とレチクルとが所定の
関係になるようにする周知のものが使用できる）。アラ
イメントが完了したら、図示なき測定開始スイッチによ
りトリガ信号を発生させて測定を開始する。
【００２８】測定が開始すると、スリット投影光学系１
からはスリット開口４ａ又は４ｂにより制限されたスリ
ット光束が瞳孔を介して眼内に入射し、眼底上を走査し
て投影される。眼底で反射され瞳孔を通過したスリット
像の光束は、スリット像検出光学系１０の受光レンズ１
１により集光され、絞り１３を介して受光部１４上に届
く。ここで、被検眼Ｅが正視眼であれば眼内に光束が入
射したと同時に受光部１４上の受光素子１５ａ〜１５ｄ
に光電圧が発生するが、屈折異常があれば眼底で反射さ
れたスリット像の光が受光部１４上を横切るように移動
する。
からはスリット開口４ａ又は４ｂにより制限されたスリ
ット光束が瞳孔を介して眼内に入射し、眼底上を走査し
て投影される。眼底で反射され瞳孔を通過したスリット
像の光束は、スリット像検出光学系１０の受光レンズ１
１により集光され、絞り１３を介して受光部１４上に届
く。ここで、被検眼Ｅが正視眼であれば眼内に光束が入
射したと同時に受光部１４上の受光素子１５ａ〜１５ｄ
に光電圧が発生するが、屈折異常があれば眼底で反射さ
れたスリット像の光が受光部１４上を横切るように移動
する。
【００２９】受光部１４上でのスリット像の光の移動に
伴い、各受光素子１５ａ〜１５ｄからはそれぞれ光電圧
が出力される（光電圧に時間差を生ずる）。出力された
各光電圧はそれぞれ４個の増幅器４０ａ〜４０ｄに入力
されて増幅され、さらに４個のレベルシフト回路４１ａ
〜４１ｄでそれぞれ電圧レベルのシフト処理がされた
後、２値化回路４２ａ〜４２ｄにより所定のスレッシュ
レベルでの２値化したデジタル信号に変えられる。その
後、各デジタル信号は各々カウンタ回路４６ａ〜４６ｄ
とＯＲ回路４３に入力される。ＯＲ回路４３は２値化回
路４２ａ〜４２ｄの中の最初の立上がりエッジを計測パ
ルスの立上がりとするためであり、次に続くフリップフ
ロップ４４に入力される。フリップフロップ４４は計測
の開始となる基準時間（立上がりエッジ）を含み、全て
の受光素子からのパルスを計測し終えた後に制御回路５
０から出力されるRset信号を受けるまでの間の計測時間
を意味する計測パルス信号をカウンタ回路４６ａ〜４６
ｄへ出力する。
伴い、各受光素子１５ａ〜１５ｄからはそれぞれ光電圧
が出力される（光電圧に時間差を生ずる）。出力された
各光電圧はそれぞれ４個の増幅器４０ａ〜４０ｄに入力
されて増幅され、さらに４個のレベルシフト回路４１ａ
〜４１ｄでそれぞれ電圧レベルのシフト処理がされた
後、２値化回路４２ａ〜４２ｄにより所定のスレッシュ
レベルでの２値化したデジタル信号に変えられる。その
後、各デジタル信号は各々カウンタ回路４６ａ〜４６ｄ
とＯＲ回路４３に入力される。ＯＲ回路４３は２値化回
路４２ａ〜４２ｄの中の最初の立上がりエッジを計測パ
ルスの立上がりとするためであり、次に続くフリップフ
ロップ４４に入力される。フリップフロップ４４は計測
の開始となる基準時間（立上がりエッジ）を含み、全て
の受光素子からのパルスを計測し終えた後に制御回路５
０から出力されるRset信号を受けるまでの間の計測時間
を意味する計測パルス信号をカウンタ回路４６ａ〜４６
ｄへ出力する。
【００３０】各カウンタ回路４６ａ〜４６ｄは２値化回
路４２ａ〜４２ｄで２値化されたパルス信号とフリップ
フロップ４４からの計測パルス信号が入力されると、計
測パルス信号の立上りエッジ（＝基準時間）に対するそ
れぞれのパルス信号の立上りまでの時間及びそれぞれの
パルス幅の時間をカウントして保持する。これを図６の
例にとって説明すると、基準時間ｔ0 に対するそれぞれ
のパルス信号入力までの時間は、それぞれの受光素子に
対して、ｔA1（図６ではｔA1＝０）、ｔB1、ｔC1、ｔD1
である。また、パルス幅の時間は、それぞれｔA2、
ｔB2、ｔC2、ｔD2である。
路４２ａ〜４２ｄで２値化されたパルス信号とフリップ
フロップ４４からの計測パルス信号が入力されると、計
測パルス信号の立上りエッジ（＝基準時間）に対するそ
れぞれのパルス信号の立上りまでの時間及びそれぞれの
パルス幅の時間をカウントして保持する。これを図６の
例にとって説明すると、基準時間ｔ0 に対するそれぞれ
のパルス信号入力までの時間は、それぞれの受光素子に
対して、ｔA1（図６ではｔA1＝０）、ｔB1、ｔC1、ｔD1
である。また、パルス幅の時間は、それぞれｔA2、
ｔB2、ｔC2、ｔD2である。
【００３１】各カウンタ回路が保持した時間は、制御回
路５０からの呼び出し指令信号（CSa 〜CSd ）により出
力され、デ−タバス４７を介して制御回路５０に入力さ
れる。制御回路５０は、各カウンタ回路４６ａ〜４６ｄ
からの各受光素子における基準時間に対するそれぞれの
パルス信号の立上りまでの時間（ｔA1、ｔB1、ｔC1、ｔ
D1）、パルス幅の時間（ｔA2、ｔB2、ｔC2、ｔD2）、及
びセンサ２０によるスリット投影の種類の判別信号に基
づき、前述した方法により測定経線方向（スリット光束
の走査方向）の角膜中心の時間を求めた後、測定経線方
向に位置する１対の受光素子各々の角膜中心に対する時
間差（位相差）を得る。
路５０からの呼び出し指令信号（CSa 〜CSd ）により出
力され、デ−タバス４７を介して制御回路５０に入力さ
れる。制御回路５０は、各カウンタ回路４６ａ〜４６ｄ
からの各受光素子における基準時間に対するそれぞれの
パルス信号の立上りまでの時間（ｔA1、ｔB1、ｔC1、ｔ
D1）、パルス幅の時間（ｔA2、ｔB2、ｔC2、ｔD2）、及
びセンサ２０によるスリット投影の種類の判別信号に基
づき、前述した方法により測定経線方向（スリット光束
の走査方向）の角膜中心の時間を求めた後、測定経線方
向に位置する１対の受光素子各々の角膜中心に対する時
間差（位相差）を得る。
【００３２】こうして時間差が得られたら、これを屈折
力に換算する。位相差法により検出される時間差と屈折
力との間には、図８のような関係がある。この関係は、
例えば、予め屈折力値が既知である模型眼を使用するこ
とによってサンプリングし、その位相差デ−タを記憶さ
せておくことにより時間差に対応した屈折力値を得るこ
とができる。
力に換算する。位相差法により検出される時間差と屈折
力との間には、図８のような関係がある。この関係は、
例えば、予め屈折力値が既知である模型眼を使用するこ
とによってサンプリングし、その位相差デ−タを記憶さ
せておくことにより時間差に対応した屈折力値を得るこ
とができる。
【００３３】また、従来と同様のＳ（球面度数）、Ｃ
（乱視度数）、Ａ（乱視軸角度）の３個のパラメ−タは
次のようにして得る。スリット開口４ａによるスリット
光束が走査されたときの１対の受光素子１５ａ、１５ｂ
の出力信号の位相差から得られる値をＤ1 、他方の対の
受光素子１５ｃ，１５ｄの出力信号の位相差から得られ
る値をＤ2 とし、同様に、スリット開口４ｂによるスリ
ット光束が走査されたときの１対の受光素子１５ａ、１
５ｂの出力信号の位相差から得られる値をＤ3 、他方の
対の受光素子１５ｃ，１５ｄの出力信号の位相差から得
られる値をＤ4 とすると、 Ｄ1 ＝Ｓ＋Ｃcos 2 θ Ｄ2 ＝（Ｃ／２）sin ２θ Ｄ3 ＝−（Ｃ／２）sin ２θ Ｄ4 ＝Ｓ＋Ｃsin 2 θ の関係式が成り立つので、これらの関係式を演算処理す
ることにより、Ｓ、Ｃ、Ａ（＝θ）の各値を得る。
（乱視度数）、Ａ（乱視軸角度）の３個のパラメ−タは
次のようにして得る。スリット開口４ａによるスリット
光束が走査されたときの１対の受光素子１５ａ、１５ｂ
の出力信号の位相差から得られる値をＤ1 、他方の対の
受光素子１５ｃ，１５ｄの出力信号の位相差から得られ
る値をＤ2 とし、同様に、スリット開口４ｂによるスリ
ット光束が走査されたときの１対の受光素子１５ａ、１
５ｂの出力信号の位相差から得られる値をＤ3 、他方の
対の受光素子１５ｃ，１５ｄの出力信号の位相差から得
られる値をＤ4 とすると、 Ｄ1 ＝Ｓ＋Ｃcos 2 θ Ｄ2 ＝（Ｃ／２）sin ２θ Ｄ3 ＝−（Ｃ／２）sin ２θ Ｄ4 ＝Ｓ＋Ｃsin 2 θ の関係式が成り立つので、これらの関係式を演算処理す
ることにより、Ｓ、Ｃ、Ａ（＝θ）の各値を得る。
【００３４】以上のようにして得られた測定結果を表示
部５１に表示する。このとき角膜中心に対する測定経線
方向の屈折力に所定量の差があるときは、不正乱視があ
る旨を表示する。また、その差の程度及び測定経線の方
向を表示するようにしても良い。
部５１に表示する。このとき角膜中心に対する測定経線
方向の屈折力に所定量の差があるときは、不正乱視があ
る旨を表示する。また、その差の程度及び測定経線の方
向を表示するようにしても良い。
【００３５】さらに、測定結果をプリンタ５２から印字
出力するときは、図９のように、Ｓ、Ｃ、Ａの値のほ
か、測定経線方向（実施例では、４５度方向と１３５度
方向）ごとに中心に対する各測定受光素子位置での屈折
力差７０を表示する。また、その差が所定の値以上（例
えば、ΔＤ＞0.5 ディオプタ）であれば、不正乱視があ
る旨及びコンタクトレンズの処方をしたほうが良い旨の
メッセ−ジ表示７１を表示する。このような表示によ
り、その後に続く最終処方のための検眼において、装置
から得られるＳ、Ｃ，Ａの値を慎重に再確認する等の注
意を検者に対して喚起することができる。
出力するときは、図９のように、Ｓ、Ｃ、Ａの値のほ
か、測定経線方向（実施例では、４５度方向と１３５度
方向）ごとに中心に対する各測定受光素子位置での屈折
力差７０を表示する。また、その差が所定の値以上（例
えば、ΔＤ＞0.5 ディオプタ）であれば、不正乱視があ
る旨及びコンタクトレンズの処方をしたほうが良い旨の
メッセ−ジ表示７１を表示する。このような表示によ
り、その後に続く最終処方のための検眼において、装置
から得られるＳ、Ｃ，Ａの値を慎重に再確認する等の注
意を検者に対して喚起することができる。
【００３６】以上の実施例では、２対の受光素子による
２経線方向の測定について説明したが、さらに測定精度
を上げるために、スリット光束の走査方向及び受光素子
の配置の数を増やしても良い。例えば、３経線方向の測
定を行う場合、回転セクタ−４には回転方向に対して３
０度、９０度、−３０度の３種類の傾斜角度を持つスリ
ット開口８０ａ，８０ｂ，８０ｃを設ける（図１０参
照）。一方、受光部１４上には３種類のスリット開口の
方向に対応させるように、６０度ごとに光軸を対称にそ
れぞれ受光素子８１ａ，８１ｂの対、受光素子８１ｃ，
８１ｄの対、受光素子８１ｅ，８１ｆの対を設ける（図
１１参照）。この場合、スリット開口の方向（被検眼眼
底上でのスリット光束の走査方向）が受光素子８１ａ，
８１ｂ方向に対応しているときには、この方向を除く一
対の受光素子８１ｃ，８１ｄ、又は一対の受光素子８１
ｅ，８１ｆを光が横切るときの位相差（あるいは両者の
平均位相差としても良い）から、前述の方法によりスリ
ット光束の走査方向の中心を求めることができ、その中
心に対する各経線方向の受光素子に対応した角膜位置で
の屈折力を得ることができる。
２経線方向の測定について説明したが、さらに測定精度
を上げるために、スリット光束の走査方向及び受光素子
の配置の数を増やしても良い。例えば、３経線方向の測
定を行う場合、回転セクタ−４には回転方向に対して３
０度、９０度、−３０度の３種類の傾斜角度を持つスリ
ット開口８０ａ，８０ｂ，８０ｃを設ける（図１０参
照）。一方、受光部１４上には３種類のスリット開口の
方向に対応させるように、６０度ごとに光軸を対称にそ
れぞれ受光素子８１ａ，８１ｂの対、受光素子８１ｃ，
８１ｄの対、受光素子８１ｅ，８１ｆの対を設ける（図
１１参照）。この場合、スリット開口の方向（被検眼眼
底上でのスリット光束の走査方向）が受光素子８１ａ，
８１ｂ方向に対応しているときには、この方向を除く一
対の受光素子８１ｃ，８１ｄ、又は一対の受光素子８１
ｅ，８１ｆを光が横切るときの位相差（あるいは両者の
平均位相差としても良い）から、前述の方法によりスリ
ット光束の走査方向の中心を求めることができ、その中
心に対する各経線方向の受光素子に対応した角膜位置で
の屈折力を得ることができる。
【００３７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
角膜中心に対する経線方向の角膜部位における屈折力を
得ることができる。したがって、不正乱視の有無を容易
に発見でき、その後の眼鏡処方等のための検眼において
検者に注意を喚起することができる。
角膜中心に対する経線方向の角膜部位における屈折力を
得ることができる。したがって、不正乱視の有無を容易
に発見でき、その後の眼鏡処方等のための検眼において
検者に注意を喚起することができる。
【図１】実施例の装置の光学系概略配置を示す図であ
る。
る。
【図２】回転セクタ−の側面に設けられるスリット開口
の展開図である。
の展開図である。
【図３】受光部が有する４個の受光素子の配置を示す図
である。
である。
【図４】基準時間ｔ0 に対する４個の受光素子のからの
信号出力波形の例を示した図である。
信号出力波形の例を示した図である。
【図５】受光素子１５ａに対応する角膜部位に対して受
光素子１５ｂに対応する角膜部位の混濁が大であったと
きの、両素子からの信号波形の例を示した図である。
光素子１５ｂに対応する角膜部位の混濁が大であったと
きの、両素子からの信号波形の例を示した図である。
【図６】本発明の２値化処理の検出方法を各受光素子に
ついて示した図である。
ついて示した図である。
【図７】実施例の装置の信号処理系の概略ブロック図で
ある。
ある。
【図８】位相差法により検出される時間差と屈折力との
関係を示す図である。
関係を示す図である。
【図９】実施例の装置による印字出力例を示す図であ
る。
る。
【図１０】３経線方向の測定を行う場合の回転セクタ−
の側面に設けるスリット開口の配置例を示す図である。
の側面に設けるスリット開口の配置例を示す図である。
【図１１】３経線方向の測定を行う場合の受光素子の配
置例を示す図である。
置例を示す図である。
１ スリット投影光学系 ４ａ，４ｂ スリット開口 １０ スリット検出光学系 １５ａ〜１５ｄ 受光素子 ４６ａ〜４６ｄ カウンタ回路 ５０ 制御回路
Claims (5)
- 【請求項１】 少なくとも２つの方向のスリット状の光
束を被検眼に走査するスリット光投影光学系と、被検眼
眼底で反射されるスリット光束を被検眼角膜と略共役な
位置に光軸を挟んで対称に配置された２対以上の受光素
子により検出する検出光学系とを備え、前記受光素子間
の位相差信号出力に基づいて被検眼の屈折力を得る眼屈
折力測定装置において、ある第１の方向のスリット状の
光束に対応する方向の受光素子を除いた少なくとも１対
の受光素子間の位相差信号出力に基づいて被検眼の角膜
中心または視軸中心を検出する中心検知手段を備えるこ
とを特徴とする眼屈折力測定装置。 - 【請求項２】 請求項１の中心検知手段は、前記少なく
とも１対の受光素子からそれぞれ出力される光電圧信号
の立上がりと立下がりの中間に相応する時間差に基づい
て中心位置を検知することを特徴とする眼屈折力測定装
置。 - 【請求項３】 少なくとも２つの方向のスリット状の光
束を被検眼に走査するスリット光投影光学系と、被検眼
眼底で反射されるスリット光束を被検眼角膜と略共役な
位置に光軸を挟んで対称に配置された２対以上の受光素
子により検出する検出光学系とを備え、前記受光素子間
の位相差信号出力に基づいて被検眼の屈折力を得る眼屈
折力測定装置において、ある第１の方向のスリット状の
光束に対応する方向の受光素子を除いた少なくとも１対
の受光素子間の位相差信号出力に基づいて被検眼の第１
の方向の中心を検知する中心検知手段と、検知された中
心と前記第１の方向に対応して配置された受光素子の夫
々の出力信号とに基づいてその経線方向の各々の受光素
子位置に対応する角膜部位での屈折力を演算する屈折力
演算手段と、を備えることを特徴とする眼屈折力測定装
置。 - 【請求項４】 請求項３の眼屈折力測定装置は、さらに
前記屈折力演算手段の結果に基づいて不正乱視の有無を
判定する判定手段と、該判定手段による判定結果を表示
または記録する表示・記録手段と、を備えることを特徴
とする眼屈折力測定装置。 - 【請求項５】 請求項３の眼屈折力測定装置は、さらに
前記屈折力演算手段の結果に基づいて屈折力の差を演算
する演算手段と、該演算結果を表示または記録する表示
・記録手段と、を備えることを特徴とする眼屈折力測定
装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28328096A JP3560746B2 (ja) | 1996-10-03 | 1996-10-03 | 眼屈折力測定装置 |
| US08/942,633 US5907388A (en) | 1996-10-03 | 1997-10-02 | Ophthalmic measurement apparatus having plural pairs of photoreceiving elements |
| DE69729701T DE69729701T2 (de) | 1996-10-03 | 1997-10-02 | Vorrichtung zur Messung der Refraktion eines Auges |
| EP97307778A EP0836830B1 (en) | 1996-10-03 | 1997-10-02 | Ophthalmic refraction measurement apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28328096A JP3560746B2 (ja) | 1996-10-03 | 1996-10-03 | 眼屈折力測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10108836A true JPH10108836A (ja) | 1998-04-28 |
| JP3560746B2 JP3560746B2 (ja) | 2004-09-02 |
Family
ID=17663414
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28328096A Expired - Fee Related JP3560746B2 (ja) | 1996-10-03 | 1996-10-03 | 眼屈折力測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3560746B2 (ja) |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5861937A (en) * | 1997-05-30 | 1999-01-19 | Nidek Co., Ltd. | Ophthalmic apparatus |
| JPH1170077A (ja) * | 1997-07-03 | 1999-03-16 | Nidek Co Ltd | 眼科装置 |
| US6030081A (en) * | 1997-08-29 | 2000-02-29 | Nidek Co., Ltd. | Eye refractive power measurement apparatus |
| WO2001028479A1 (fr) | 1999-10-21 | 2001-04-26 | Nidek Co., Ltd. | Dispositif pour determiner la quantite de cornee a enlever et dispositif de chirurgie corneenne |
| JP2002102169A (ja) * | 2000-09-28 | 2002-04-09 | Nidek Co Ltd | 眼科装置 |
| US6382796B1 (en) | 1999-06-04 | 2002-05-07 | Nidek Co., Ltd. | Corneal shape measuring apparatus |
| EP1317899A2 (en) | 2001-12-07 | 2003-06-11 | Nidek Co., Ltd | Shape measurement apparatus |
| EP1535567A1 (en) | 2003-11-28 | 2005-06-01 | Nidek Co., Ltd. | Ophthalmic apparatus |
| JP2006212299A (ja) * | 2005-02-04 | 2006-08-17 | Nidek Co Ltd | 眼科測定装置 |
| US7329002B2 (en) | 2004-02-03 | 2008-02-12 | Nidek Co., Ltd. | Ophthalmic apparatus |
| US7399081B2 (en) | 2003-03-31 | 2008-07-15 | Nidek Co., Ltd. | Ophthalmic apparatus |
| US7588336B2 (en) | 2005-03-04 | 2009-09-15 | Nidek Co., Ltd. | Ophthalmic apparatus |
-
1996
- 1996-10-03 JP JP28328096A patent/JP3560746B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5861937A (en) * | 1997-05-30 | 1999-01-19 | Nidek Co., Ltd. | Ophthalmic apparatus |
| JPH1170077A (ja) * | 1997-07-03 | 1999-03-16 | Nidek Co Ltd | 眼科装置 |
| US6056404A (en) * | 1997-07-03 | 2000-05-02 | Nidek Co., Ltd. | Ophthalmic apparatus |
| US6030081A (en) * | 1997-08-29 | 2000-02-29 | Nidek Co., Ltd. | Eye refractive power measurement apparatus |
| US6382796B1 (en) | 1999-06-04 | 2002-05-07 | Nidek Co., Ltd. | Corneal shape measuring apparatus |
| WO2001028479A1 (fr) | 1999-10-21 | 2001-04-26 | Nidek Co., Ltd. | Dispositif pour determiner la quantite de cornee a enlever et dispositif de chirurgie corneenne |
| JP2002102169A (ja) * | 2000-09-28 | 2002-04-09 | Nidek Co Ltd | 眼科装置 |
| JP2003169778A (ja) * | 2001-12-07 | 2003-06-17 | Nidek Co Ltd | 形状測定装置 |
| EP1317899A2 (en) | 2001-12-07 | 2003-06-11 | Nidek Co., Ltd | Shape measurement apparatus |
| US7399081B2 (en) | 2003-03-31 | 2008-07-15 | Nidek Co., Ltd. | Ophthalmic apparatus |
| US7515321B2 (en) | 2003-03-31 | 2009-04-07 | Nidek Co. Ltd. | Ophthalmic apparatus |
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