JPH0989674A - 光測定器における被測定光の波長検出装置 - Google Patents
光測定器における被測定光の波長検出装置Info
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- JPH0989674A JPH0989674A JP27471695A JP27471695A JPH0989674A JP H0989674 A JPH0989674 A JP H0989674A JP 27471695 A JP27471695 A JP 27471695A JP 27471695 A JP27471695 A JP 27471695A JP H0989674 A JPH0989674 A JP H0989674A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 広い波長範囲で被測定光の波長を検出するこ
とができ、また、光検出器の感度の波長依存性を補正す
る必要のない装置を提供する。 【解決手段】 光分岐手段1と、光分岐手段2と、光ス
イッチ3と、光検出器4を備える光測定器において、被
測定光を分岐比に波長依存性がない光分岐手段1によっ
て2つに分岐し、分岐された一方の被測定光を分岐比に
波長依存性がある光分岐手段2によって2つに分岐し、
出力2aと出力2bの光パワーを光スイッチ3を切り替
えることによって光検出器4でそれぞれ測定し、その測
定値の比を求めることによって被測定光の波長を検出す
る。
とができ、また、光検出器の感度の波長依存性を補正す
る必要のない装置を提供する。 【解決手段】 光分岐手段1と、光分岐手段2と、光ス
イッチ3と、光検出器4を備える光測定器において、被
測定光を分岐比に波長依存性がない光分岐手段1によっ
て2つに分岐し、分岐された一方の被測定光を分岐比に
波長依存性がある光分岐手段2によって2つに分岐し、
出力2aと出力2bの光パワーを光スイッチ3を切り替
えることによって光検出器4でそれぞれ測定し、その測
定値の比を求めることによって被測定光の波長を検出す
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は光測定器に関する
ものであり、具体的には光測定器における被測定光の波
長検出装置についてのものである。
ものであり、具体的には光測定器における被測定光の波
長検出装置についてのものである。
【0002】
【従来の技術】光パワーメータ、光減衰器などの光測定
器は、内蔵する光検出器の感度や光減衰量などが被測定
光の波長に依存するので、正確な測定をするためには被
測定光の波長を検出し、光検出器の感度や光減衰量など
の波長依存性を補正する必要がある。
器は、内蔵する光検出器の感度や光減衰量などが被測定
光の波長に依存するので、正確な測定をするためには被
測定光の波長を検出し、光検出器の感度や光減衰量など
の波長依存性を補正する必要がある。
【0003】次に、従来技術による光測定器における被
測定光の波長検出装置を図2を用いて説明する。図2の
11は光分岐手段、12は光可変帯域フィルタ、13は
フィルタ駆動部、14は光検出器、15は光測定部であ
る。
測定光の波長検出装置を図2を用いて説明する。図2の
11は光分岐手段、12は光可変帯域フィルタ、13は
フィルタ駆動部、14は光検出器、15は光測定部であ
る。
【0004】被測定光は光分岐手段11によって2つに
分岐され、その一方は光可変帯域フィルタ12に入力さ
れる。光可変帯域フィルタ12はフィルタ駆動部13に
よって通過波長を連続的に可変することができ、入力光
を設定した通過波長ごとに分離して出力することが可能
である。このように、光可変帯域フィルタ12の通過波
長を連続的に可変し、被測定光を通過波長ごとに分離し
てその光パワーを光検出器14で測定すれば、被測定光
の光パワーがどの波長帯に分布するかを知ることができ
る。すなわち、被測定光の波長を検出することができ
る。
分岐され、その一方は光可変帯域フィルタ12に入力さ
れる。光可変帯域フィルタ12はフィルタ駆動部13に
よって通過波長を連続的に可変することができ、入力光
を設定した通過波長ごとに分離して出力することが可能
である。このように、光可変帯域フィルタ12の通過波
長を連続的に可変し、被測定光を通過波長ごとに分離し
てその光パワーを光検出器14で測定すれば、被測定光
の光パワーがどの波長帯に分布するかを知ることができ
る。すなわち、被測定光の波長を検出することができ
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来技術における波長検出装置では、被測定光を分離する
光可変帯域フィルタ12の通過波長の可変範囲が数10
nmと狭く、被測定光を分離できる波長範囲がこの範囲
内に限られる。すなわち、被測定光の検出は、この数1
0nm範囲においてのみ可能であり、そこから外れた波
長の被測定光は検出できないという問題がある。
来技術における波長検出装置では、被測定光を分離する
光可変帯域フィルタ12の通過波長の可変範囲が数10
nmと狭く、被測定光を分離できる波長範囲がこの範囲
内に限られる。すなわち、被測定光の検出は、この数1
0nm範囲においてのみ可能であり、そこから外れた波
長の被測定光は検出できないという問題がある。
【0006】また、光可変帯域フィルタ12のフィルタ
駆動部13としてモータ等による可動機構を必要とす
る。波長の検出は、フィルタ駆動部13により光可変帯
域フィルタ12の可変範囲全域を掃引してはじめて可能
であり、モータ等の動作速度に限界があるため波長の検
出に時間がかかるという問題が生じた。さらに、被測定
光の波長を検出する場合、常にモータ等の可動機構があ
ることによって装置全体の寿命が短くなるという問題が
あった。
駆動部13としてモータ等による可動機構を必要とす
る。波長の検出は、フィルタ駆動部13により光可変帯
域フィルタ12の可変範囲全域を掃引してはじめて可能
であり、モータ等の動作速度に限界があるため波長の検
出に時間がかかるという問題が生じた。さらに、被測定
光の波長を検出する場合、常にモータ等の可動機構があ
ることによって装置全体の寿命が短くなるという問題が
あった。
【0007】さらに、光可変帯域フィルタ12は設定し
た通過波長ごとに通過損失が異なるという波長依存性を
持ち、光検出器14は受光波長によって感度が異なると
いう波長依存性をもつ。すなわち、光可変帯域フィルタ
12と光検出器14を組み合わせて、被測定光を通過波
長ごとに分離して光パワーを測定するだけでは検出波長
に誤差を生じる。このため、検出波長の誤差を補正する
目的で、光可変帯域フィルタ12と光検出器14を組み
合わせた状態でこれらの波長依存性をあらかじめ測定し
ておくという煩雑で複雑な作業が必要となる問題があっ
た。
た通過波長ごとに通過損失が異なるという波長依存性を
持ち、光検出器14は受光波長によって感度が異なると
いう波長依存性をもつ。すなわち、光可変帯域フィルタ
12と光検出器14を組み合わせて、被測定光を通過波
長ごとに分離して光パワーを測定するだけでは検出波長
に誤差を生じる。このため、検出波長の誤差を補正する
目的で、光可変帯域フィルタ12と光検出器14を組み
合わせた状態でこれらの波長依存性をあらかじめ測定し
ておくという煩雑で複雑な作業が必要となる問題があっ
た。
【0008】この発明は、広い波長範囲で被測定光の波
長を常時検出することが可能で、信頼性が高く、作業効
率性の高い光測定器における被測定光の波長検出装置を
提供することを目的とする。
長を常時検出することが可能で、信頼性が高く、作業効
率性の高い光測定器における被測定光の波長検出装置を
提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明は、光測定器における被測定光の波長検出
装置は、被測定光を入力してこの被測定光を2つに分岐
する分岐比に波長依存性がない第1の光分岐手段1と、
第1の光分岐手段1で分岐された一方の被測定光を入力
してこの被測定光を波長に応じた分岐比で2つに分岐す
る波長依存性がある第2の光分岐手段2と、第2の光分
岐手段2により出力された第1の光出力2aと第2の光
出力2bを入力してこれら光出力を切り替えて出力する
光スイッチ3と、光スイッチ3より第1の光出力2aと
第2の光出力2bを入力してこれら第1の光出力2aと
第2の光出力2bの光パワーの比から被測定光の波長を
検出する光検出器4とを有する。
め、この発明は、光測定器における被測定光の波長検出
装置は、被測定光を入力してこの被測定光を2つに分岐
する分岐比に波長依存性がない第1の光分岐手段1と、
第1の光分岐手段1で分岐された一方の被測定光を入力
してこの被測定光を波長に応じた分岐比で2つに分岐す
る波長依存性がある第2の光分岐手段2と、第2の光分
岐手段2により出力された第1の光出力2aと第2の光
出力2bを入力してこれら光出力を切り替えて出力する
光スイッチ3と、光スイッチ3より第1の光出力2aと
第2の光出力2bを入力してこれら第1の光出力2aと
第2の光出力2bの光パワーの比から被測定光の波長を
検出する光検出器4とを有する。
【0010】
【発明の実施の形態】次に添付図面を参照してこの発明
による光測定器における被測定光の波長検出装置の実施
の形態を詳細に説明する。この発明による光測定器にお
ける被測定光の波長検出装置の実施の形態を示す機能ブ
ロック図を図1に示す。図1の1は分岐比に波長依存性
がない光分岐手段、2は分岐比に波長依存性がある光分
岐手段、3は光スイッチ、4は光検出器である。
による光測定器における被測定光の波長検出装置の実施
の形態を詳細に説明する。この発明による光測定器にお
ける被測定光の波長検出装置の実施の形態を示す機能ブ
ロック図を図1に示す。図1の1は分岐比に波長依存性
がない光分岐手段、2は分岐比に波長依存性がある光分
岐手段、3は光スイッチ、4は光検出器である。
【0011】被測定光は、光分岐手段1によって2つに
分岐され、その一方は分岐比に波長依存性がある光分岐
手段2に入力される。光分岐手段2は、入力光の波長に
よって分岐比が一意的に決定されるものを選定する。こ
のような光分岐手段2を使用することで、被測定光の波
長によって出力2aと出力2bの光パワーの比が一意的
に決定される。すなわち、出力2aと出力2bの光パワ
ーを光スイッチ3を切り替えることによって光検出器4
でそれぞれ測定し、その光パワーの比から被測定光の波
長を検出することができる。
分岐され、その一方は分岐比に波長依存性がある光分岐
手段2に入力される。光分岐手段2は、入力光の波長に
よって分岐比が一意的に決定されるものを選定する。こ
のような光分岐手段2を使用することで、被測定光の波
長によって出力2aと出力2bの光パワーの比が一意的
に決定される。すなわち、出力2aと出力2bの光パワ
ーを光スイッチ3を切り替えることによって光検出器4
でそれぞれ測定し、その光パワーの比から被測定光の波
長を検出することができる。
【0012】このように、本実施の形態では、光分岐手
段2が入力光の波長によって出力2aと出力2bに分岐
する光パワーの比が異なることを利用するものであり、
2つの出力光の波長成分は同一である。光スイッチ3を
使用して出力2aと出力2bの出力パワーを1つの光検
出器4で測定することによって、光検出器によってそれ
ぞれ異なる感度の波長依存性を考慮する必要がなくな
る。
段2が入力光の波長によって出力2aと出力2bに分岐
する光パワーの比が異なることを利用するものであり、
2つの出力光の波長成分は同一である。光スイッチ3を
使用して出力2aと出力2bの出力パワーを1つの光検
出器4で測定することによって、光検出器によってそれ
ぞれ異なる感度の波長依存性を考慮する必要がなくな
る。
【0013】次に、図3を参照して本発明による光測定
器における被測定光の波長検出装置の実施例を説明す
る。図3の21は光カプラ、22はWDM光カプラ(波
長分割多重光カプラであり以後単にWDM光カプラと称
す)、23は光スイッチ、24はフォトダイオード、2
5はA/D変換部、26は演算部、27は光測定部であ
る。光カプラ21は光分岐手段1に、WDM光カプラ2
2は光分岐手段2に、光スイッチ23は光スイッチ3
に、光測定部27は光測定部5に相当する。また、フォ
トダイオード24、A/D変換部25および演算部25
は、光検出器4に相当する。
器における被測定光の波長検出装置の実施例を説明す
る。図3の21は光カプラ、22はWDM光カプラ(波
長分割多重光カプラであり以後単にWDM光カプラと称
す)、23は光スイッチ、24はフォトダイオード、2
5はA/D変換部、26は演算部、27は光測定部であ
る。光カプラ21は光分岐手段1に、WDM光カプラ2
2は光分岐手段2に、光スイッチ23は光スイッチ3
に、光測定部27は光測定部5に相当する。また、フォ
トダイオード24、A/D変換部25および演算部25
は、光検出器4に相当する。
【0014】被測定光は、光カプラ21によって2つに
分岐され、その一方は分岐比に波長依存性があるWDM
光カプラ22に入力される。WDM光カプラ22は、図
4に示すように数100nmの広い波長範囲で、入力光
の波長によって分岐比が一意的に決定される。このよう
なWDM光カプラ22を使用すれば、被測定光の波長に
よって出力22aと出力22bの光パワーの比が一意的
に決定される。
分岐され、その一方は分岐比に波長依存性があるWDM
光カプラ22に入力される。WDM光カプラ22は、図
4に示すように数100nmの広い波長範囲で、入力光
の波長によって分岐比が一意的に決定される。このよう
なWDM光カプラ22を使用すれば、被測定光の波長に
よって出力22aと出力22bの光パワーの比が一意的
に決定される。
【0015】出力22aと出力22bの光パワーは光ス
イッチ23を切り替えることによってフォトダイオード
24でそれぞれ受光され、その光パワーはA/D変換部
25でデジタル信号に変換されて演算部26に入力され
る。演算部26は、出力22aと出力22bの比から被
測定光の波長を検出することができる。
イッチ23を切り替えることによってフォトダイオード
24でそれぞれ受光され、その光パワーはA/D変換部
25でデジタル信号に変換されて演算部26に入力され
る。演算部26は、出力22aと出力22bの比から被
測定光の波長を検出することができる。
【0016】光測定部27は、光パワーメータまたは光
可変減衰器などである。光パワーメータの場合、光検出
器は入力光波長に対して感度の波長依存性をもち、光測
定部27から演算部26に送られる光パワーのデータも
波長依存性を含んだ値である。演算部26は、光測定部
27から受け取った光パワーのデータに、検出した被測
定光の波長における波長依存性を補正して真の測定値と
する。
可変減衰器などである。光パワーメータの場合、光検出
器は入力光波長に対して感度の波長依存性をもち、光測
定部27から演算部26に送られる光パワーのデータも
波長依存性を含んだ値である。演算部26は、光測定部
27から受け取った光パワーのデータに、検出した被測
定光の波長における波長依存性を補正して真の測定値と
する。
【0017】光測定部27が光可変減衰器の場合、光学
経路の中に置かれる減衰板が入力波長に対して光減衰量
の波長依存性をもつため、基準波長においてある減衰量
に設定した状態から入力波長が変化したとき光減衰量に
ずれを生じる。演算部26は、光測定部27に対して、
検出した被測定光の波長によって光減衰量のずれを修正
するような補正制御を行う。
経路の中に置かれる減衰板が入力波長に対して光減衰量
の波長依存性をもつため、基準波長においてある減衰量
に設定した状態から入力波長が変化したとき光減衰量に
ずれを生じる。演算部26は、光測定部27に対して、
検出した被測定光の波長によって光減衰量のずれを修正
するような補正制御を行う。
【0018】このように本実施例では、数100nmと
いう広い波長範囲内で被測定光の波長を検出することが
可能であり、限定された波長範囲でしか使用できない従
来技術と異なり広く一般の光測定器にこの方法を採用す
ることができる。また、モータ等の可動機構を持たない
ため信頼性が高く長寿命である。
いう広い波長範囲内で被測定光の波長を検出することが
可能であり、限定された波長範囲でしか使用できない従
来技術と異なり広く一般の光測定器にこの方法を採用す
ることができる。また、モータ等の可動機構を持たない
ため信頼性が高く長寿命である。
【0019】さらに、本実施例は、WDM光カプラ22
が入力光の波長によって出力22aと出力22bに分岐
する光パワーの比が異なることを利用するものであり、
2つの出力光の波長成分は同一である。この2つの出力
光を光スイッチ23を使用して1つのフォトダイオード
24で受光することによって、フォトダイオードによっ
てそれぞれ異なる感度の波長依存性を考慮する必要がな
くなる。これによって、従来必要であった感度の波長依
存性の補正が不要となりコストを低減することができ
る。
が入力光の波長によって出力22aと出力22bに分岐
する光パワーの比が異なることを利用するものであり、
2つの出力光の波長成分は同一である。この2つの出力
光を光スイッチ23を使用して1つのフォトダイオード
24で受光することによって、フォトダイオードによっ
てそれぞれ異なる感度の波長依存性を考慮する必要がな
くなる。これによって、従来必要であった感度の波長依
存性の補正が不要となりコストを低減することができ
る。
【0020】
【発明の効果】この発明によれば、広い波長範囲内で被
測定光の波長を検出することが可能であり、限定された
波長範囲でしか使用できない従来技術と異なり広く一般
の光測定器にこの方法を採用することができる。また、
モータ等の可動機構を持たないため信頼性が高く長寿命
である。このため、汎用性に優れ、信頼性や経済性の高
い光測定器における被測定光の波長検出装置を提供でき
る。さらに、この発明によれば、従来必要であった感度
の波長依存性の補正が不要となる。したがって、作業効
率性の高い光測定器における被測定光の波長検出装置を
提供できる。
測定光の波長を検出することが可能であり、限定された
波長範囲でしか使用できない従来技術と異なり広く一般
の光測定器にこの方法を採用することができる。また、
モータ等の可動機構を持たないため信頼性が高く長寿命
である。このため、汎用性に優れ、信頼性や経済性の高
い光測定器における被測定光の波長検出装置を提供でき
る。さらに、この発明によれば、従来必要であった感度
の波長依存性の補正が不要となる。したがって、作業効
率性の高い光測定器における被測定光の波長検出装置を
提供できる。
【図1】この発明による光測定器における被測定光の波
長検出装置の実施の形態を示す機能ブロック図である。
長検出装置の実施の形態を示す機能ブロック図である。
【図2】従来技術による光測定器における被測定光の波
長検出装置の機能ブロック図である。
長検出装置の機能ブロック図である。
【図3】この発明の実施例に係わる光測定器における被
測定光の波長検出装置の構成図である。
測定光の波長検出装置の構成図である。
【図4】この発明の実施例において使用するWDM光カ
プラの入射光の波長と分岐比の関係の一例を示すグラフ
である。
プラの入射光の波長と分岐比の関係の一例を示すグラフ
である。
1・2 光分岐手段 3 光スイッチ 4 光検出器 5・27 光測定部 21 光カプラ 22 WDM光カプラ 23 光スイッチ 24 フォトダイオード 25 A/D変換部 26 演算部
Claims (3)
- 【請求項1】 光測定器における被測定光の波長検出装
置において、 前記被測定光を入力し、この被測定光を2つに分岐する
分岐比に波長依存性がない第1の光分岐手段(1) と、 第1の光分岐手段(1) で分岐された一方の被測定光を入
力し、この被測定光を波長に応じた分岐比で2つに分岐
する波長依存性がある第2の光分岐手段(2) と、 第2の光分岐手段(2) により出力された第1の光出力(2
a)と第2の光出力(2b)を入力し、これら光出力を切り替
えて出力する光スイッチ(3) と、 光スイッチ(3) より第1の光出力(2a)と第2の光出力(2
b)を入力し、これら第1の光出力(2a)と第2の光出力(2
b)の光パワーの比から前記被測定光の波長を検出する光
検出器(4) とを有することを特徴とする光測定器におけ
る被測定光の波長検出装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載の波長検出装置におい
て、第2の光分岐手段(2) は波長分割多重光カプラであ
ることを特徴とする光測定器における被測定光の波長検
出装置。 - 【請求項3】 請求項1に記載の波長検出装置におい
て、光検出器(4) は、第1の光出力(2a)と第2の光出力
(2b)を受光するフォトダイオード(24)と、フォトダイオ
ード(24)より出力された光パワーをデジタル信号に変換
するA/D変換部(25)と、このA/D変換部(25)でデジ
タル信号に変換された第1の光出力(2a)と第2の光出力
(2b)の比から前記被測定光の波長を検出する演算部(26)
とを有することを特徴とする光測定器における被測定光
の波長検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27471695A JPH0989674A (ja) | 1995-09-28 | 1995-09-28 | 光測定器における被測定光の波長検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27471695A JPH0989674A (ja) | 1995-09-28 | 1995-09-28 | 光測定器における被測定光の波長検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0989674A true JPH0989674A (ja) | 1997-04-04 |
Family
ID=17545581
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27471695A Pending JPH0989674A (ja) | 1995-09-28 | 1995-09-28 | 光測定器における被測定光の波長検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0989674A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1099943B1 (en) * | 2000-08-16 | 2003-01-08 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | Wavemeter comprising coarse and fine measuring units |
-
1995
- 1995-09-28 JP JP27471695A patent/JPH0989674A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1099943B1 (en) * | 2000-08-16 | 2003-01-08 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | Wavemeter comprising coarse and fine measuring units |
US6795188B2 (en) | 2000-08-16 | 2004-09-21 | Agilent Technologies, Inc. | High-accuracy wavemeter |
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