JPH0972738A - ボアホール壁面の性状調査方法と装置 - Google Patents

ボアホール壁面の性状調査方法と装置

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JPH0972738A
JPH0972738A JP7254680A JP25468095A JPH0972738A JP H0972738 A JPH0972738 A JP H0972738A JP 7254680 A JP7254680 A JP 7254680A JP 25468095 A JP25468095 A JP 25468095A JP H0972738 A JPH0972738 A JP H0972738A
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JP
Japan
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wall surface
borehole
laser light
sonde
data
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JP7254680A
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English (en)
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Hiromichi Esumi
弘道 江角
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Fujii Consulting and Associates
Original Assignee
Fujii Consulting and Associates
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ボアホール壁面の性状を容易に測定する。 【解決手段】 ボアホール1内の所定深さに挿入された
ゾンデ2のレーザー光の投光装置からボアホールの壁面
1aの一部にレザー光18を照射し、且つレーザー光1
8を照射機構13によって壁面1aに周方向に照射せし
め、壁面1aで反射したレーザー光18をゾンデ2の受
光装置で受光し、レーザー光18の照射方位を方位測定
装置11によって計測し、上記投受光されたレーザー光
18と方位測定装置11の測定データーをコンピュータ
22で計算処理することで、方角に対応したボアホール
壁面1aのレーザー光18照射部分の性状を測定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は地層のボーリング
調査に際して、ボアホール壁面の凹凸や亀裂等の性状を
調査するボアホール壁面の性状調査方法と装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】一般に各種土木工事に際しての工事地の
地層調査は極めて重要であり、例えば岩盤の節理や亀裂
地層性状の調査は、露頭観察の他、ボーリングによって
得られたボーリングコアの観察又は塑性変形するチュー
ブをボアホール内に挿入して加圧変形させ、ボアホール
壁面の亀裂等を転写する方法(ボアホールスタンプ)等
でボアホール壁面の性状を調査すること等によって行わ
れていた。特に大規模なダムサイトや地下空洞の建物の
建設地においては、より正確に地層状況を調査する必要
があるため、ボアホールカメラ等を使用してボアホール
の壁面状況を映像化することで、ボアホール壁面の性状
をより正確に調査することも行われていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしボアホールスタ
ンプは装置が簡単で安価であるため経済的であるが、測
定時に塑性変形するチューブの挿入,加圧変形,チュー
ブの取り出し等複数の工程があるため、測定が繁雑で測
定時間がかかるという欠点がある。一方ボアホールカメ
ラ等のボアホール壁面の映像化装置はボアホール壁面を
直接撮影するため、ボアホールスタンプに比較して測定
が容易で測定時間もかからないが、装置が複雑且つ高額
であるのでコスト高になるだけでなく、カメラ等の専門
的装置の操作が必要となるので操作が複雑で、オペレー
ターに高度な技術が必要であるという欠点がある。また
ボアホール壁面の映像を岩盤の節理や亀裂地層性状の調
査データーとする場合、映像画面上ではデーター処理が
できないため、一旦ビデオ映像を写真化する必要があり
ビデオ映像からのデーター処理に時間がかかるという問
題点もあった。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めの本発明のボアホール壁面の性状調査方法は、レーザ
ー光の投光装置及び受光装置を備えたゾンデ2をボアホ
ール1内の所定深さに挿入し、ボアホールの壁面1aの
一部にレザー光18を照射し、且つレーザー光18を該
壁面1aに周方向に照射せしめ、この壁面1aで反射し
たレーザー光18を受光することによってボアホール壁
面1aにおけるレーザー光18照射部分の性状を測定す
ることを第1の特徴としている。
【0005】またレーザー光18の照射方位を計測し、
上記ボアホール壁面1aの性状を方角に対応させて測定
することを第2の特徴としている。
【0006】さらに上記ボアホール壁面1aの性状計算
を、上記投受光されたレーザー光18のデーター、又は
該レーザー光18のデータとレーザー光18の照射方位
の計測データとをコンピュータ22で処理して行うこと
を第3の特徴としている。
【0007】そして上記ボアホール壁面1aの性状測定
をボアホール1における深さ方向の複数箇所で行うこと
を第4の特徴としている。
【0008】一方本発明のボアホール壁面の性状調査装
置は、ボアホール1の壁面1aの一部にレーザー光18
を照射するレーザー投光装置と、該レーザー光18を該
壁面1aに周方向に照射せしめる照射機構13と、壁面
1aで反射した上記レーザー光18を受光するレーザー
受光装置とを備えたゾンデ2と、該ゾンデ2をボアホー
ル1内の所定深さに挿入する挿入装置4と、ゾンデ2の
データを処理し、ボアホール壁面1aにおけるレーザー
光18照射部分の性状を計算する処理装置とで構成され
たことを第1の特徴としている。
【0009】またゾンデ2のボアホール1内での方位を
測定する方位測定装置11を設け、処理装置を投受光さ
れたレーザー光18と方位測定装置11の測定データー
とによって上記ボアホール壁面1aの性状を方角に対応
させて計算する構成としたことを第2の特徴としてい
る。
【0010】そして上記データー処理を行う処理装置を
コンピュータ22で形成したことを第3の特徴としてい
る。
【0011】
【発明の実施の形態】以下図示する実施の形態について
詳細に説明する。図1は本発明の装置を用いて、ボアホ
ール壁面の凹凸,亀裂等の性状(形状)を調べるための
測定方法を示した側断面略図である。ボーリングによっ
て得られたボアホール1内には、後述する構造で上記性
状を測定するゾンデ2が、外部(地上の測定場所)に備
えられた制御装置3によってコントロールされるウイン
チ4等により挿入されており、該ゾンデ2によってボア
ホール1における深さ方向の複数位置でボアホール壁面
1aの形状を2次元的に測定し、最終的にボウリング孔
壁面1a全体の凹凸,亀裂5等の性状を測定する構成と
なっている。
【0012】上記ウインチ4は、ウインチ4のワイヤー
6端と前記ゾンデ2の上端との接続により、ゾンデ2を
ワイヤー6によって吊っており、上記制御装置3のコン
トローラー7,ジェネレータ8等によって該ウインチ4
を制御して動作させ、ワイヤー6の巻き上げ又は引きだ
しを行うことによって、ゾンデ2をボアホール1内の任
意の深さに挿入することができる構造となっている。そ
して該ゾンデ2は、挿入された位置(深さ)で、その位
置に対応するボアホール壁面1aの形状を後述するよう
に2次元的に測定する。
【0013】次にゾンデ2の構造を説明する。図2に示
されるように、ゾンデ2は円筒形状の透明なゾンデケー
ス9内に、ジャイロスコープ11,レーザー投受光装置
12,ミラー13,パルスモーター14等が上下方向に
備えられており、前述の制御装置3によって動作制御、
データー処理等が行われている。またゾンデ2の下端に
はウエイト16が設けられており、上記のようにゾンデ
2をボウリング孔1内に挿入する際、ウエイト16の自
重によってゾンデ2はボアホール1内に鉛直に挿入され
る。特にボアホール1内には水が溜まっている場合があ
るが、上記ウエイト16によってゾンデ2のボアホール
1内への鉛直挿入は確実に行われる。以下にゾンデケー
ス9内の各部の構造について詳細に説明する。
【0014】ゾンデケース9内の上下方向の略中央位置
付近には上記レーザー投受光装置12が、該ゾンデケー
ス9に固定されて設けられており、該レーザー投受光装
置12はレーザーダイオード17によってレーザー光1
8を発生させるとともに、鉛直下向きに該レーザー光1
8を投光し、そのレーザー光18の反射光を、レーザー
投受光装置12に備えられているゾンデケース9の内径
とほぼ同じ径の円板状のレーザー受光板19によって受
光することで、受光強度に比例したアナログ信号を出力
することができる構造となっている。このときレーザー
投受光装置12の入出力ケーブルは信号ケーブル31と
してゾンデケース9上端から外部に突出して上記制御装
置3側に接続されており、制御装置3のコンピューター
22等により上記アナログ信号の処理が行われる。
【0015】一方上記レーザー投受光装置12の下方に
は前述のミラー13が設けられており、該ミラー13
は、鉛直方向(レーザー投受光装置12から投光される
レーザー光18の進行方向)に対して45゜の角度を有
している反射面23を備えた反射部13aと、該反射部
13aの中心から鉛直下向に突設されたボス13bとで
構成されている。そして該ボス13bにはミラー13下
方に縦方向に設けられた前述のパルスモーター14の回
転軸14aが嵌入固定されている。
【0016】このときパルスモーター14はその下端側
がゾンデケース9に固定されているとともに、モーター
ケーブル(図示せず)がゾンデケース9上端から外部に
突出して上記制御装置3側に接続されており、制御装置
3のコントローラードライバー26,コンピューター2
2等により上記パルスモーター14の駆動が制御されて
いる。なおミラー13の中心(ボス13)及びパルスモ
ーター14の回転軸14aはゾンデケース9の中心線
(軸芯)上にあり、ミラー13はパルスモーター14が
動作することで、鉛直方向に対する45°の角度を保っ
たままゾンデケース9の軸芯を中心に回転する。
【0017】上記のようにレーザー投受光装置12とミ
ラー13がセットされているので、レーザー投受光装置
12から鉛直下向きに投光されたレーザー光18は、ミ
ラー13によって進行方向を90゜屈曲させられる。こ
のときゾンデケース9が透明であるため該屈曲させられ
たレーザー光18はゾンデケース9を通り抜け、ボアホ
ールの壁面1aの一部に照射されて反射する。そしてこ
の反射したレーザー光18はゾンデケース9を通り抜け
てゾンデケース9内に入り、再びミラー13によって進
行方向を屈曲させられて、レーザー投受光装置12のレ
ーザー受光板19に受光される。そしてこのとき出力さ
れるレーザー投受光装置12からのアナログ信号が上記
のように制御装置3(コンピュータ22)に入力され
る。
【0018】またパルスモーター14によって上記のよ
うにレーザー光18が投光されているミラー13をパル
スモーター14のステップ角毎に周方向に概ね360゜
回転させることで、ボアホール1における最初にレーザ
ー光18が照射された部分の深さを保ったままで、レー
ザー光18をボアホール壁面1aにステップ角間隔で概
ね360゜照射させることができる。このためコンピュ
ーター22の制御により、パルスモーター14を間欠的
(ステップ角毎)に回転させながら、パルスモーター1
4の各停止位置(ステップ角間隔)において上記レーザ
ー投受光装置12による測定(アナログ信号の出力)を
行い、例えばパルスモーター14の総回転角度を横軸
に、レーザー投受光装置12からのアナログ信号の強度
(電圧値,電流値等)を縦軸にとることによって、ボア
ホール1における所定深さの壁面1aの形状を2次元的
に測定することができる。
【0019】つまりボアホール壁面1aの凹凸と、壁面
1aからレーザー受光板19間までのレーザー光18の
経路の距離とは比例(凹部分では長く、凸部分では短
い)し、該距離が長いほど受光強度が落ちるため、レー
ザー投受光装置12からは、ボアホール壁面1aの一部
(レーザー光照射部分)の凹凸に比例したからアナログ
信号が出力される。このためパルスモーター14の総回
転角度を横軸にしたアナログ信号の波形はボアホール壁
面1aのレーザー光照射部分の凹凸形状に一致する。
【0020】一方上記パルスモーター14の回転軸14
aには、上記ミラー13のボス13bの下端位置より下
方位置にセンサー板27が一体的に固定されており、ま
たパルスモーター14の本体上面には、上記センサー板
27のセンシングが可能であるフォトセンサー28が固
定されている。これによってパルスモーター14(回転
軸14a)が回転すると、センサー板13が回転軸14
aと一体的に回転し、所定角度パルスモーター14が回
転すると、フォトセンサー28がセンサー板13をセン
シングする。
【0021】そして該フォトセンサー28のデーターが
パルスモーター14の駆動制御側に入力され、フォトセ
ンサー28がセンサー板27をセンシングするとパルス
モーター14の回転がストップするように制御されてい
る。これによりパルスモーター14がストップすると、
パルスモーター14(回転軸14a)のこの位置(回転
がストップした位置)でミラー13が固定され、レーザ
ー光18の照射方向が決定される。このレーザー光18
の照射方向をゾンデ2の方向とする。
【0022】また前述のレーザー投受光装置12の上方
には、前述のジャイロスコープ11がレーザー投受光装
置12に固定されて設けられており、該ジャイロスコー
プ11はゾンデ2の方向を測定する機能を有している。
そしてジャイロスコープ11のデータケーブルが信号ケ
ーブル31としてゾンデケース9上端から外部に突出し
て上記制御装置3側に接続されており、ジャイロスコー
プ11からの、ゾンデ2の方向の方角(方位)データー
が該データケーブル(信号ケーブル31)から制御装置
3に入力され、該データーの情報がコンピューター22
に入力されている。なお信号ケーブル31は上記ジャイ
ロスコープ11のデーターケーブルと前述のレーザー投
受光装置12の入出力ケーブルが一体となったものであ
る。
【0023】ゾンデ2は以上に示す構造となっているの
で、前述のレーザー投受光装置12によるボアホール1
における所定深さの壁面1aの形状データと、ジャイロ
スコープ11によるゾンデ2の基準方向の方角データー
とを、制御装置3のコンピューター22で解析して、上
記ボアホール壁面形状の2次元データーの横軸(パルス
モーターの総回転角度)を方角に変換することで、例え
ば北(N)を横軸の原点とした、方角に対応したボアホ
ール壁面1aの形状を2次元データーとして得ることが
できる。
【0024】そして制御装置3の一部であるオシロスコ
ープ32によって上記データーが2次元グラフに映像化
され、その後オシロスコープ32の映像データーがコン
ピューター22に送られ、該データーがコンピュータ2
2のメモリーに保存されると同時に、必要であればプロ
ッター33によって該データーを図面としてプリントア
ウトして取り出すことができる。つまりデーターをコン
ピューター22で管理するためデーターの保存性に優れ
ると同時にデーターがプロッター33によって直接プリ
ントアウトされるため、生データーを素早く得ることが
でき、データーの記録性が良く、データー処理を円滑に
行うことができる。
【0025】なお図3は上記のようにして得られたボア
ホール壁面1aの2次元データー(図面)である。横軸
は方角を示し原点が北(N)であり、右へ順に東
(E),南(S),西(W),北(N)となっている。
つまりボアホール壁面1aを平面視において北を始点に
時計回りに展開したものである。また縦軸はレーザー投
受光装置12からのアナログ信号の強度(電圧値,電流
値等)である。つまり図面上縦方向の凹凸が実際の凹凸
を再現しており、上方への突出35aが壁面1aの凸
を、下方への突出35bが凹を示す。特に下方に大きく
窪んだ部分35cはレーザー投受光装置12からのアナ
ログ信号が他の部分より極端に弱い部分となりつまり亀
裂5であるといえ、その幅Hが亀裂5の幅である。
【0026】そして以上に示す測定(サーチ)をボアホ
ール1において深さ方向に概ね5〜10ミリメートル間
隔で行って、ボアホール1内のほぼ全体の測定を行い、
それぞれの測定位置(深さ)で得られたデーターから、
次に述べる解析方法を基本とする解析を行うことによっ
て、ボアホール1内の壁面形状を2次元的に再現する。
その後再現されたボアホール1の壁面形状からボーリン
グが行われた地層における岩盤の節理や亀裂地層性状の
調査を行う。
【0027】なおパルスモーター14は約1.6秒で一
回転(360゜回転)するように設定されており、一回
のサーチ時間も1.6秒+αと比較的短く、このためボ
アホール壁面1a全体のサーチ時間も比較的短くなる。
また壁面形状の測定が基本的には上述のレーザー光18
によるアナログ信号出力のみであるため、測定に特別な
技術等を要しない。このため制御装置3の操作を行うこ
とのみで、誰でも容易にボアホール壁面1aの測定を行
うことができ、操作性がよい。さらに本発明の装置は、
比較的安価なレーザー投受光装置12を中心に構成され
ているため、映像装置等を有するボアホールテレビ等に
比較して安価で経済的でもある。
【0028】次に上記解析方法の基本について説明す
る。一般に岩盤の節理や亀裂地層性状は、その岩盤に設
けたボアホール1の壁面形状から容易に知ることができ
る。例えば図4に示すような水平面に対して東西方向が
α゜傾斜した節理34が存在している地盤の場合、図5
(a)に示すようにボアホール1の壁面1aには、東西
方向が長軸となる水平面に対してα゜角度を有した楕円
形状の亀裂36が存在する。つまり逆にボアホール1の
壁面1aに図5(a)に示すような亀裂36が存在して
いれば、その岩盤には図4に示すような節理34が存在
しているといえる。
【0029】このとき上記例(図5(a))のボアホー
ル壁面1aを平面上に展開すると、該亀裂36は図5
(b)に示されるように東(E)と西(W)が上下のピ
ークとなる波状カーブを描く。このためZを地表とした
A,B,C,D,E,F,Gの各深さにおいて前述のよ
うにレーザー投受光装置12によるボアホール壁面1a
の形状測定を行うと、それぞれ図6に示されるようなデ
ーターが得られる。なお図6は図3と同様に横軸に方角
を、縦軸にレーザー投受光装置12の出力強度をとって
おり、凹部分が亀裂36である。またA,B,C,D,
E,F,Gは順に深くなっている。
【0030】つまり本発明の性状調査装置によって得ら
れたボアホール1aの深さ方向の複数のデーター(図6
に示されるものと同様のもの)から図5(b)に示され
るものと同様のボアホール壁面1aの平面展開図を作成
することで、ボアホール壁面1aの性状が判り、地盤の
地層等を解析することができる。このため例えばボアホ
ール壁面1aの形状を本発明の装置で測定して、図6と
同じデーターが得られた場合、図6における凹部分のデ
ーターを例えば図7に示されるようにグラフ上に×でプ
ロットすると、図5(b)と同じ東と西が上下のピーク
となる波状カーブ形状のグラフを得ることができる。つ
まりボアホール壁面1aの平面展開図が得られる。そし
てこのようにして得られたボアホール壁面1aの平面展
開図から、このボアホール壁面1aの立体的な性状が解
析され、この地盤は図3に示されるような節理を有する
ということが解析できる。なおボアホール壁面1aの平
面展開図から地盤の節理等を解析する方法については、
従来のボアホールスタンプ等におけるものと同様である
ので、その詳細については割愛する。
【0031】以上に示す実施の形態はレーザー光による
測定例について説明したが、レーザー投受光装置12の
代わりに超音波の送受信装置を用い、ミラー13を超音
波反射型として上記レーザー光による測定を超音波によ
って行う構成にしても上記同様のボアホール1の測定を
行うことができる。また上記に示す解析をコンピュータ
ー22によって自動解析させてもよく、この場合はボア
ホール1内の性状測定から地盤の性状解析までをより短
時間で、簡単且つ正確に行うことができる。さらにゾン
デケース9はレーザー光又は超音波を通過させるもので
あれば、透明なものでなくてもどのような材料で形成さ
れていてもよく、またレーザー光又は超音波を通過させ
る部分は必要な所のみでも良い。
【0032】
【発明の効果】以上のように構成される本発明によれ
ば、映像装置等に比較して安価なレーザー投受光装置を
中心とした装置によってボアホール内の性状調査を行う
ことができるため、従来のボアホールテレビ等に比較し
て装置が安価で経済的であるというだけでなく、ボアホ
ール内を挿入装置とゾンデによって直接測定(サーチ)
するので測定が容易、且つ測定時間も短いという効果が
ある。またレーザー光の照射方向を方位測定装置によっ
て測定することで、より正確にボアホール内の性状調査
を行うこともできる
【0033】さらに上記測定をボアホールにおける深さ
方向の複数箇所で行うことにより、ボアホール壁面全体
の性状を測定することができ、より正確にボアホールが
設けられた地盤の性状を解析することができる。
【0034】加えて測定工程が挿入装置によるゾンデの
ボアホールへの挿入のみであるので操作性が良く、操作
オペレータに高度な技術を必要としないという利点もあ
る。さらにデーターをコンピュータで処理することによ
ってデーター処理を円滑に行うことができ、データーの
保存をコンピュータ側で行うことができるとともにプロ
ッターによって直接プリントアウトすることもできるの
でデーターの記録性に優れるという効果もある。
【図面の簡単な説明】
【図1】ゾンデによるボアホール壁面の測定状態を示す
側断面図である。
【図2】ゾンデの側断面図である。
【図3】ゾンデによる測定データーである。
【図4】地盤の状態をしめす側断面図である。
【図5】(a)は図4の地盤のボアホールの亀裂状態を
示す斜視図、(b)はボアホール壁面の平面展開図であ
る。
【図6】図5のボアホールのゾンデによる測定データー
である。
【図7】図6の測定データをグラフ上に示したものであ
る。
【符号の説明】 1 ボアホール 1a 壁面 2 ゾンデ 11 ジャイロスコープ(方位測定装置) 13 ミラー(照射機構) 18 レザー光 22 コンピュータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G01B 11/30 G01C 15/00 G01N 21/88

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザー光の投光装置及び受光装置を備
    えたゾンデ(2)をボアホール(1)内の所定深さに挿
    入し、ボアホールの壁面(1a)の一部にレザー光(1
    8)を照射し、且つレーザー光(18)を該壁面(1
    a)に周方向に照射せしめ、この壁面(1a)で反射し
    たレーザー光(18)を受光することによってボアホー
    ル壁面(1a)におけるレーザー光(18)照射部分の
    性状を測定するボアホール壁面の性状調査方法。
  2. 【請求項2】 レーザー光(18)の照射方位を計測
    し、上記ボアホール壁面(1a)の性状を方角に対応さ
    せて測定する請求項1のボアホール壁面の性状調査方
    法。
  3. 【請求項3】 上記ボアホール壁面(1a)の性状計算
    を、上記投受光されたレーザー光(18)のデーター、
    又は該レーザー光(18)のデータとレーザー光(1
    8)の照射方位の計測データとをコンピュータ(22)
    で処理して行う請求項1又は2のボアホール壁面の性状
    調査方法。
  4. 【請求項4】 上記ボアホール壁面(1a)の性状測定
    をボアホール(1)における深さ方向の複数箇所で行う
    請求項1又は2又は3のボアホール壁面の性状調査方
    法。
  5. 【請求項5】 ボアホール(1)の壁面(1a)の一部
    にレーザー光(18)を照射するレーザー投光装置と、
    該レーザー光(18)を該壁面(1a)に周方向に照射
    せしめる照射機構(13)と、壁面(1a)で反射した
    上記レーザー光(18)を受光するレーザー受光装置と
    を備えたゾンデ(2)と、該ゾンデ(2)をボアホール
    (1)内の所定深さに挿入する挿入装置(4)と、ゾン
    デ(2)のデータを処理し、ボアホール壁面(1a)に
    おけるレーザー光(18)照射部分の性状を計算する処
    理装置とで構成されるボアホール壁面の性状調査装置。
  6. 【請求項6】 ゾンデ(2)のボアホール(1)内での
    方位を測定する方位測定装置(11)を設け、処理装置
    を投受光されたレーザー光(18)と方位測定装置(1
    1)の測定データーとによって上記ボアホール壁面(1
    a)の性状を方角に対応させて計算する構成とした請求
    項5のボアホール壁面の性状調査装置。
  7. 【請求項7】上記データー処理を行う処理装置をコンピ
    ュータ(22)で形成した請求項5又は6のボアホール
    壁面の性状調査装置。
JP7254680A 1995-09-05 1995-09-05 ボアホール壁面の性状調査方法と装置 Pending JPH0972738A (ja)

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