JPH09281395A - レーザリペア機能付顕微鏡 - Google Patents

レーザリペア機能付顕微鏡

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JPH09281395A
JPH09281395A JP8094240A JP9424096A JPH09281395A JP H09281395 A JPH09281395 A JP H09281395A JP 8094240 A JP8094240 A JP 8094240A JP 9424096 A JP9424096 A JP 9424096A JP H09281395 A JPH09281395 A JP H09281395A
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JP
Japan
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laser
lens
magnification
sample
objective lens
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Application number
JP8094240A
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English (en)
Inventor
Kazuhiro Kanzaki
和宏 神崎
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、レーザリペアの作業効率を高めるこ
とができるレーザリペア機能付顕微鏡を提供する。 【解決手段】倍率10×の対物レンズ23を共通にし
て、試料24の観察像を結像させる観察用光学系と、レ
ーザ発振管30からのレーザを照射するレーザ照射用光
学系を別々に用意していて、このうちのレーザ照射用光
学系に倍率2×のリレーレンズ331または5×のリレ
ーレンズ332を挿入するようにしている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶モジュール、
ITO基板、カラーフィルター等の製造工程で、IO
T、CrのショートやCFの突起などの不良部分をレー
ザを用いて修正するレーザリペア機能を有するレーザリ
ペア機能付顕微鏡に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体または高密度多層基板など
の試料表面を、TVカメラで観察しながらレーザ加工す
る装置の一例として、特開平4−23453号公報に開
示されるように、XYステージに乗せた試料像を、凸レ
ンズで一旦拡大するとともに、ハーフミラーを用いて透
過および反射させ、この反射した像をTVカメラの撮像
面で結像させ、また透過した像をレーザ光源のパターン
マスクに結像させるようにしたものがある。
【0003】また、従来、レーザリペア機能付顕微鏡と
して、図3に示すように、落射照明用光源1からの落射
照明光をプリズム2で反射させ、対物レンズ3を通して
試料4に照射し、この試料4からの観察像を対物レンズ
3より、プリズム2、結像レンズ5、プリズム6を通し
て、TVカメラユニット7のカメラ撮像面71に結像さ
せるとともに、リレーレンズ8を介して接眼レンズ9に
結像させて、これらTVカメラユニット7および接眼レ
ンズ9の観察により試料4上での欠陥を検索し、この検
索結果から、レーザ発振管10の図示しない電源により
試料4上の欠陥位置にスリット101像を結像させた
後、レーザ発振管10からのレーザ光をプリズム11、
リレーレンズ12よりプリズム6、結像レンズ5、対物
レンズ3を通して試料4上に照射して、これら欠陥箇所
に対するレーザリペアを行うようにしたものがある。
【0004】この場合、プリズム6は、光路上でTVカ
メラユニット7および接眼レンズ9に対する顕微鏡観察
用光路とレーザ発振管10に対するレーザ照射用光路と
を切替えできるようにしている。また、TVカメラユニ
ット7および接眼レンズ9での観察の際は、試料4上で
の欠陥箇所を見付けやすくするため、対物レンズ3とし
て、5×〜10×程度の低倍率のものを用いて広範囲で
の検察を可能にし、修正箇所が発見され、レーザ発振管
10からのレーザ光を照射する際には、レーザのエネル
ギーを集中させるため、対物レンズ3を符号3´に示す
20×以上の光倍率のものに切替え、再度ピント合わせ
を行い、レーザ発振管10のスリット101により修正
箇所の位置決めを行った後に、レーザリペアを実行する
ようにしている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、このような
構成によると、前者は、顕微鏡観察用光路の倍率とレー
ザ照射用光路との倍率が等しいため、特に、凸レンズと
して低倍率のものを使用すると、レーザのエネルギー集
中が難しくなってレーザリペアを行うことができず、ま
た、凸レンズとして高倍率のものを使用すると、広範囲
におよぶ顕微鏡観察が難しくなるので、試料上での欠陥
検出に手間がかかってしまう。
【0006】一方、後者によれば、上述の問題点は解決
できるが、かかる後者の構成によっても、TVカメラユ
ニット7による顕微鏡観察からレーザリペアを実行する
には、低倍率の対物レンズ3を高倍率の対物レンズ3´
に切替えてピント合わせを行い、さらに、レーザ発振管
10のスリット101により修正箇所の位置決めを行っ
た後に、レーザリペアを実行するような、それぞれの作
業が必要となるため、レーザリペアの作業効率が著しく
悪化するという問題点があった。本発明は、上記事情に
鑑みてなされたもので、レーザリペアの作業効率を高め
ることができるレーザリペア機能付顕微鏡を提供するこ
とを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
所定倍率の対物レンズを介して対象物の観察像を結像さ
せる観察用光学手段と、レーザリペアのためのレーザ手
段と、前記対物レンズを介して前記レーザ手段からのレ
ーザを対象物上に結像させるレーザ照射用光学手段と、
前記レーザ照射用光学手段に設けられ前記対物レンズを
含めた該レーザ照射用光学手段による倍率を高めるため
の光学手段とにより構成している。
【0008】請求項2記載の発明は、請求項1記載にお
いて、前記所定倍率の光学手段は、リレーレンズからな
っている。請求項3記載の発明は、請求項1記載におい
て、前記所定倍率の光学手段は、異なる倍率の複数のリ
レーレンズを有し、これらリレーレンズを選択的に設け
られている。
【0009】この結果、請求項1または2記載の発明に
よれば、対象物の欠陥検出は、低倍率の対物レンズによ
る観察用光学系を用いて広範囲に亘る観察を行うことが
でき、レーザリペアでは、対物レンズとリレーレンズの
光学手段による高倍率のレーザ照射用光路によりレーザ
手段のレーザを対象物上に結像させるようにできるの
で、従来の対象物の欠陥検出とレーザリペアの際で、そ
れぞれ対物レンズの倍率を切替え、さらにピント合わ
せ、レーザ手段のレーザに対する対象物の位置決めなど
の作業を必要とするものと比べ、これら一連の作業を省
略することが可能となり、レーザリペアのための作業効
率を高めることができる。また、請求項3記載の発明に
よれば、異なる倍率の複数のリレーレンズを選択的に設
けられるので、レーザリペアの精度を任意に選択するこ
とができる。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に従い説明する。 (第1の実施の形態)図1は、本発明の第1の実施の形
態の概略構成を示すものである。
【0011】図において、21は落射照明用光源で、こ
の落射照明用光源21からの落射照明光をプリズム22
で反射させ、対物レンズ23を通して試料24に照射す
るようにしている。また、試料24からの観察像を対物
レンズ23より、プリズム22、結像レンズ25、プリ
ズム261を通して、TVカメラユニット27のカメラ
撮像面271に、リレーレンズ28を介して接眼レンズ
29の中間位置にそれぞれ結像するようにしている。
【0012】一方、30はレーザ発振管で、このレーザ
発振管30は、図示しない光源によるスリット301像
をプリズム31、リレーレンズ32よりプリズム26
2、結像レンズ25、対物レンズ23を通して試料24
上に結像させるとともに、このスリット像の範囲でレー
ザ発振管30からのレーザ光を照射するようにしてい
る。
【0013】この場合、プリズムユニット26は、プリ
ズム261、262を図示しないアリ溝または転がり案
内機構などのガイドに沿って直線移動させ、TVカメラ
ユニット27および接眼レンズ29に対する顕微鏡観察
用光路とレーザ発振管30に対するレーザ照射用光路と
を切替えできるようになっている。
【0014】このプリズム261の切替によって、試料
からの反射光を透過と反射に分光光量比20:80に分
割する。透過する光路の先には、TVカメラユニット2
7、反射する光路の先には、リレーレンズ28を介して
接眼レンズ29がある。
【0015】また、プリズム262によって、試料から
の反射光を透過と反射に分光光量比50:50に分割す
る。透過する光路の先には、TVカメラユニット27、
反射する光路の先には、リレーレンズ32、プリスム3
1、リレーレンズ33を介してレーザ発振管30があ
る。
【0016】レーザ発振管30とプリズム31との間
に、さらにリレーレンズユニット33を挿入している。
このリレーレンズユニット33は、異なる倍率、例え
ば、2×のリレーレンズ331と5×のリレーレンズ3
32を有していて、これらリレーレンズ331、332
をレンズ切替え部34により選択的に光路に挿入可能に
している。この場合、レンズ切替え部34としては、エ
アシリンダーを用い、このエアシリンダーまたはモータ
の駆動によりリレーレンズユニット33を図示しないア
リ溝または転がり案内機構などのガイドに沿って直線移
動させることで、2×のリレーレンズ331と5×のリ
レーレンズ332を選択的に光路中に挿入できるように
している。
【0017】なお、ここでは、リレーレンズユニット3
3は、異なる倍率のものに切替えられるようにしたが、
倍率を固定したものでもよい。また、リレーレンズユニ
ット33の切替えは、手動であってもよい。また、リレ
ーレンズは、異なる倍率に任意に切替え可能にしたもの
として、ズームレンズを使用することもできる。
【0018】しかして、このような構成において、い
ま、落射照明用光源21から落射照明光を出射すると、
プリズム22で反射され、対物レンズ23を通して試料
24に照射される。
【0019】すると、試料24からの観察像が、対物レ
ンズ23より、プリズム22、結像レンズ25を通って
プリズムユニット26に送られる。この場合、プリズム
261により顕微鏡観察用光路が確立されていれば、結
像レンズ25を通った観察像は、TVカメラユニット2
7のカメラ撮像面271に結像されるとともに、リレー
レンズ28を介して接眼レンズ29に結像され、これら
TVカメラユニット27および接眼レンズ29での観察
により試料24上での欠陥検出が行われる。
【0020】この場合、顕微鏡観察用光路中に挿入され
る対物レンズ23の倍率を、例えば10×とすれば、こ
の10×の倍率の対物レンズ23により試料24面での
欠陥検出を広範囲に亘って行うことができる。
【0021】この状態から、試料24上に欠陥部を発見
してレーザリペアを実行するには、プリズムユニット2
6をプリズム262に切替えることにより、レーザ発振
管30に対するレーザ照射用光路に切替える。すると、
レーザ発振管30のスリット301の像が、リレーレン
ズ33により結像位置を延長されるとともに、2×また
は5×に縮小された後、プリズム31、26を通り、さ
らに結像レンズ25から対物レンズ23を通って試料2
4上に結像される。
【0022】この場合、試料24上に結像されるスリッ
ト301の像は、対物レンズ23の倍率を10×とし、
リレーレンズ33の倍率を5×とすれば、レーザ照射用
光路の倍率は、50×もの高倍率となる。そして、この
高倍率のレーザ照射用光路を通って試料24上に結像さ
れたスリット301像に対し、レーザ発振管30からの
レーザ光が照射され、欠陥部の修正などが実行される。
【0023】従って、このようにすれば、倍率10×の
対物レンズ23を共通にして、試料24の観察像を結像
させる観察用光学系と、レーザ発振管30からのレーザ
を照射するレーザ照射用光学系を別々に用意していて、
このうちのレーザ照射用光学系に倍率2×または5×の
リレーレンズ331または332を挿入するようにして
いる。これにより、試料24上での欠陥検索は、倍率1
0×の対物レンズ23による観察用光学系を用いて試料
24面上で広範囲に亘る観察を行うことができ、また、
レーザリペアでは、倍率10×の対物レンズと倍率2×
または5×のリレーレンズにより高倍率に設定されたレ
ーザ照射用光路により、レーザ発振管30からのレーザ
を試料24上に結像させるようにできるので、従来の対
象物の欠陥検出とレーザリペアの際で、それぞれ対物レ
ンズの倍率を切替え、さらにピント合わせ、レーザ手段
のレーザに対する対象物の位置決めなどの作業を必要と
するものと比べ、これら一連の作業を省略することが可
能となり、レーザリペアのための作業効率を高めること
ができる。 (第2の実施の形態)図2は、本発明の第2の実施の形
態の概略構成を示すもので、図1と同一部分には、同符
号を付している。
【0024】上述した第1の実施の形態では、結像レン
ズ25を有する直筒部分の延長線上にTVカメラユニッ
ト27を配置していたが、第2の実施の形態では、TV
カメラユニット27を取り払ってレーザ発振管30を配
置し、このレーザ発振管30とプリズム26との間にリ
レーレンズ33を挿入している。
【0025】このような構成では、落射照明用光源21
から落射照明光に対する試料24からの観察像は、対物
レンズ23より、プリズム22、結像レンズ25を通っ
てプリズム26に送られ、リレーレンズ28を介して接
眼レンズ29の中間像位置に結像され、この接眼レンズ
29での顕微鏡観察により、試料24上の欠陥が検索さ
れる。
【0026】そして、試料24上に欠陥部を発見してレ
ーザリペアを実行する際、プリズム26により、レーザ
発振管30に対するレーザ照射用光路に切替えるととも
に、リレーレンズ33に所望倍率のものを選択し、さら
に試料24上に結像されたスリット301像に対し、レ
ーザ発振管30よりレーザ光を照射することにより、欠
陥部の修正などが実行される。
【0027】従って、このようにしても上述した第1の
実施の形態と同様な効果を得られる。さらに、第1の実
施の形態と比べると、TVカメラユニット27による観
察はできないが、直筒20の延長線上にレーザ発振管3
0を配置しているので、プリズム31やリレーレンズ3
2が不要となり、光学系を簡略化して、装置の小型化を
も実現できる。
【0028】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、対象
物の欠陥検出は、低倍率の対物レンズによる観察用光学
系を用いて広範囲に亘る観察を行うことができ、レーザ
リペアでは、対物レンズとリレーレンズの光学手段によ
る高倍率のレーザ照射用光路によりレーザ手段のレーザ
を対象物上に結像させるようにでき、レーザリペアのた
めの作業を効率よく行うことができる。また、異なる倍
率の複数のリレーレンズを選択的に挿入するようにでき
ることから、レーザリペアの精度を任意に選択すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態の概略構成を示す
図。
【図2】本発明の第2の実施の形態の概略構成を示す
図。
【図3】従来のレーザリペア機能付顕微鏡の一例を示す
概略構成図。
【符号の説明】
21…落射照明用光源、 22…プリズム、 23…対物レンズ、 24…試料、 25…結像レンズ、 26…プリズムユニット、 261、262…プリズム、 27…TVカメラユニット、 271…カメラ撮像面、 28…リレーレンズ、 29…接眼レンズ、 30…レーザ発振管、 301…スリット、 31…プリズム、 32…リレーレンズ、 33…リレーレンズユニット、 331…2×のリレーレンズ、 332…5×のリレーレンズ、 34…レンズ切替え部。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定倍率の対物レンズを介して対象物の
    観察像を結像させる観察用光学手段と、 レーザリペアのためのレーザ手段と、 前記対物レンズを介して前記レーザ手段からのレーザを
    対象物上に結像させるレーザ照射用光学手段と、 前記レーザ照射用光学手段に設けられ前記対物レンズを
    含めた該レーザ照射用光学手段による倍率を高めるため
    の光学手段とを具備したことを特徴とするレーザリペア
    機能付顕微鏡。
  2. 【請求項2】 前記所定倍率の光学手段は、リレーレン
    ズからなることを特徴とする請求項1記載のレーザリペ
    ア機能付顕微鏡。
  3. 【請求項3】 前記所定倍率の光学手段は、異なる倍率
    の複数のリレーレンズを有し、これらリレーレンズを選
    択的に設けられることを特徴とする請求項1記載のレー
    ザリペア機能付顕微鏡。
JP8094240A 1996-04-16 1996-04-16 レーザリペア機能付顕微鏡 Pending JPH09281395A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009056507A (ja) * 2007-09-03 2009-03-19 Olympus Corp レーザ加工装置
JP2012040573A (ja) * 2010-08-16 2012-03-01 Fuji Electric Co Ltd 試料の微細加工方法

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