JPH09269336A - G microswitch - Google Patents

G microswitch

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JPH09269336A
JPH09269336A JP7856796A JP7856796A JPH09269336A JP H09269336 A JPH09269336 A JP H09269336A JP 7856796 A JP7856796 A JP 7856796A JP 7856796 A JP7856796 A JP 7856796A JP H09269336 A JPH09269336 A JP H09269336A
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JP
Japan
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switch
micro
movable
movable mass
contact
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JP7856796A
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Kiyomitsu Suzuki
清光 鈴木
Masahiro Matsumoto
昌大 松本
Satoshi Shimada
嶋田  智
Terumi Nakazawa
照美 仲沢
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01HELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H1/00Contacts
    • H01H1/0036Switches making use of microelectromechanical systems [MEMS]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01HELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H35/00Switches operated by change of a physical condition
    • H01H35/14Switches operated by change of acceleration, e.g. by shock or vibration, inertia switch

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a G microswitch whose size is small, which is suitable for mass producitivity, whose performance is high and whose reliability is high. SOLUTION: A silicon substrate 2 is fine worked, a beam 4 and a moving mass 5 are formed, at least one moving contact 14 is installed at the moving mass 5 which is supported by the beam 4, a fixed contact 15 is installed so as to face the moving contact 14, and the center of gravity of the moving mass 5 is arranged on the central axis of the beam 4. The thickness and the width of the moving mass 5 are set at values which are sufficiently larger than those of the beam 4, and the moving contact 14 and the fixed contact 15 are constituted of a high-melting-point metal material. An electrode for self-diagnosis and an electrode for prebias are arranged so as to face the moving mass 5.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、各種安全装置用マ
イクロGスイッチ、特に自動車のエアバッグシステムな
どに使用されるマイクロGスイッチに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a micro G switch for various safety devices, and more particularly to a micro G switch used in an automobile airbag system or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種のGスイッチ(即ち、加速
度スイッチ)として、特開平6−43181号に記載されてい
る機械式のGスイッチやTRANSDUCERS'87,pp410
−413に記載されているシリコン板を微細加工して製
作されたマイクロGスイッチが知られている。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a G switch (that is, an acceleration switch) of this type, a mechanical G switch described in JP-A-6-43181 or TRANSDUCERS'87, pp410 is used.
There is known a micro G switch manufactured by microfabrication of a silicon plate described in No. 413.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】機械式のGスイッチは
サイズが大きく、自己診断機能がないなどの問題点があ
った。マイクロGスイッチはサイズが小さいものの、同
じく自己診断機能がない問題点があった。また、両者は
一方向の加速度しか検出できなかった。特に、後者のタ
イプはこの他に次のような問題点もあった。小さな加速
度(即ち、G)を検出することができず、低感度であっ
た。検出したい方向の加速度に直交した成分の加速度に
感じやすい、即ち、他軸感度が大きかった。製造歩留ま
りが悪く、量産性がなかった。パルス状の加速度に応答
してスイッチがオンした後、このオン状態を長く持続さ
せることができなかった。また、スイッチ部の溶着問題
により、スイッチがオンして加速度がゼロになったと
き、自らスイッチのオフ状態に必ず移行できるといった
信頼性に欠けていた。
The mechanical G switch has a problem that it has a large size and does not have a self-diagnosis function. Although the micro G switch is small in size, it also has a problem that it does not have a self-diagnosis function. Moreover, both of them could only detect acceleration in one direction. In particular, the latter type has the following other problems. The small acceleration (that is, G) could not be detected, and the sensitivity was low. It was easy to feel the acceleration of the component orthogonal to the acceleration in the direction to be detected, that is, the sensitivity of the other axis was large. The production yield was poor and mass production was not possible. After the switch was turned on in response to the pulsed acceleration, this on state could not be maintained for a long time. Further, due to the problem of welding of the switch section, when the switch is turned on and the acceleration becomes zero, the switch itself cannot be turned off without reliability.

【0004】本発明の目的は、サイズが小さくて量産性
に適し、高性能で高信頼度なマイクロGスイッチを提供
することにある。
An object of the present invention is to provide a micro G switch which is small in size, suitable for mass production, high performance and high reliability.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】シリコン板を微細加工し
てビームと可動マスを形成し、ビームで支持した可動マ
スに少なくとも1個以上の可動接点、この可動接点に対
向して固定接点を設け、可動マスの重心をビームの中心
軸上に配置した。可動マスの厚さと幅をビームのそれに
比べて十分に大きな値にし、可動接点と固定接点を高溶
点の金属材料で構成した。可動マスに対向して、自己診
断用の電極やプリバイアス用の電極を配置した。可動マ
スに空気流通溝や空気流通孔を設けた。場合によって
は、前記可動マスとビームの間に第2の可動マスとビー
ムを配置した。シリコン板にMOSスイッチを形成し、
このMOSスイッチのゲート部と電気的に接続した導体
部を可動マスに対向させた。スイッチ部を流れる電流を
ある値以下に制限する機能をシリコン板中に形成した。
MOSスイッチのオン状態を長く持続させる機能をシリ
コン板中に設けた。マイクロGスイッチ部とパワー素子
部を同じシリコン板中に集積化し、クラッシュセンサと
共に同じパッケージ内に実装できるようにした。
A beam and a movable mass are formed by finely processing a silicon plate, and at least one movable contact is provided on the movable mass supported by the beam, and a fixed contact is provided facing the movable contact. The center of gravity of the movable mass was placed on the central axis of the beam. The thickness and width of the movable mass are made sufficiently larger than those of the beam, and the movable contact and the fixed contact are made of a high melting point metal material. Electrodes for self-diagnosis and electrodes for pre-bias were arranged facing the movable mass. The movable mass was provided with air circulation grooves and air circulation holes. In some cases, a second movable mass and beam were placed between the movable mass and the beam. Form a MOS switch on a silicon plate,
The conductor portion electrically connected to the gate portion of this MOS switch was opposed to the movable mass. A function of limiting the current flowing through the switch part to a certain value or less was formed in the silicon plate.
A function of keeping the ON state of the MOS switch for a long time is provided in the silicon plate. The micro G switch part and the power element part were integrated in the same silicon plate so that they could be mounted in the same package together with the crash sensor.

【0006】次に、前述の課題が前記手段によってどの
ように解決されるかをより詳細に説明する。シリコン板
を微細加工してマイクロGスイッチを構成することによ
り、Gスイッチのサイズが小さくなる。マイクロGスイ
ッチ部とパワー素子部を同じシリコン板中に集積化し、
クラッシュセンサと共に同じパッケージ内に実装できる
ようにすることにより、エアバッグシステム用のコント
ロールモジュールのサイズを小さくできる。ビームで支
持した可動マスの両側に可動接点、この可動接点に対向
して固定接点を設けることにより、二方向成分の加速度
(+方向の加速度とー方向の加速度)を検出できるよう
にした。可動マスの重心をビームの中心軸上に配置する
ことにより、他軸感度をゼロにできるようにした。可動
マスの厚さと幅をビームのそれに比べて十分に大きな値
にすることにより、マイクロGスイッチの感度を上げ、
小さな加速度も検出できるようにした。シリコン板にMO
Sスイッチを形成し、このMOSスイッチのゲート部と
電気的に接続した導体部を可動マスに対向させ、加速度
に応じてゲート部の電位をコントロールすることによ
り、非常に小さな加速度も検出できるようにした。スイ
ッチ部を流れる電流をある値以下に制限する機能をシリ
コン板中に形成したり、可動接点と固定接点を高溶点の
金属材料で構成することにより、可動電極と固定電極間
の溶着を防止でき信頼性の高いGスイッチが得られるよ
うにした。可動マスに対向して自己診断用の電極を設
け、静電気力で可動マスを変位させることにより、Gス
イッチが動作できる状態にあるのか?ないのか?をアク
ティブに自己診断できるようにした。可動マス及びビー
ムの厚さと幅を高精度に微細加工することによって、検
出する加速度の大きさをある狭い領域内におさえこむこ
とが可能になり、製造時の歩留まりを向上できる。プリ
バイアス用の電極を設けてこの電極に印加する電圧の値
によって、可動マスが変位し始める加速度の大きさを一
定の値に調整することが可能になり、さらに製造時の歩
留まりを高めることできる。可動マスに空気流通溝や空
気流通孔を設けたりあるいは可動マスとビームの間に第
2の可動マスとビームを配置することによって、可動マ
スとビーム系のダンピング量を最適化することが可能に
なり、加速度がゼロになった後もスイッチがオンしてい
る状態を長く持続させることができる。また、MOSス
イッチのオン状態を長く持続させる機能をシリコン板中
に設けることにより、加速度がゼロになった後もスイッ
チがオンしている状態を同様に長く持続させることがで
きる。
Next, how the above problems are solved by the above means will be described in more detail. The size of the G switch is reduced by finely processing the silicon plate to form the micro G switch. The micro G switch part and the power element part are integrated in the same silicon plate,
By allowing it to be mounted in the same package with the crash sensor, the size of the control module for the airbag system can be reduced. By providing a movable contact on both sides of the movable mass supported by the beam and a fixed contact facing the movable contact, it is possible to detect acceleration in two directions (acceleration in the + direction and acceleration in the − direction). By arranging the center of gravity of the movable mass on the central axis of the beam, the sensitivity of other axes can be reduced to zero. By making the thickness and width of the movable mass sufficiently larger than that of the beam, the sensitivity of the micro G switch is increased,
Enabled to detect small acceleration. MO on silicon plate
A very small acceleration can be detected by forming an S switch, and facing the movable mass with a conductor part electrically connected to the gate part of this MOS switch and controlling the potential of the gate part according to the acceleration. did. Prevents welding between the movable electrode and the fixed electrode by forming the function of limiting the current flowing through the switch to a certain value or less in the silicon plate, and by configuring the movable contact and the fixed contact with a metal material with a high melting point. It is possible to obtain a reliable and highly reliable G switch. Is it possible to operate the G switch by disposing the self-diagnosis electrode facing the movable mass and displacing the movable mass by electrostatic force? Is not it? Enabled active self-diagnosis. By finely processing the thickness and width of the movable mass and the beam with high accuracy, the magnitude of the acceleration to be detected can be suppressed within a certain narrow region, and the manufacturing yield can be improved. By providing an electrode for pre-bias and adjusting the value of the voltage applied to this electrode, it is possible to adjust the magnitude of the acceleration at which the movable mass starts to be displaced to a constant value, and further increase the yield during manufacturing. . It is possible to optimize the damping amount of the movable mass and the beam system by providing an air circulation groove or an air circulation hole in the movable mass or by disposing the second movable mass and the beam between the movable mass and the beam. Therefore, the state in which the switch is on can be maintained for a long time even after the acceleration becomes zero. Further, by providing the function of keeping the ON state of the MOS switch for a long time in the silicon plate, it is possible to similarly keep the state where the switch is on even after the acceleration becomes zero.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】本発明によるマイクロGスイッチ
の実施例を図1に示す。マイクロGスイッチはガラス板
1,シリコン板2,ガラス板3の積層体よりなり、シリ
コン板2をエッチングによる微細加工してビーム4と可
動マス5を形成している。可動マス5はビーム4で支持
され、可動マス5の一部に可動接点14を設けている。
可動接点14に対向してガラス板1の底面に固定接点1
5を配置している。固定接点15はガラス板1の底面に
形成した配線リード12,シリコンの立体柱13,ガラ
ス板1に加工したスルーホール7の内面に形成した配線
リード9を介してガラス板1の上面に電気的に引き出さ
れる。ここで、立体柱13はシリコン板2をエッチング
加工して得られる柱状のもので、枠部16とは機械的に
分離されており、可動マス5と電気的に絶縁されてい
る。同様に、可動接点14は可動マス5,ビーム4,シ
リコン板2の枠部16,ガラス板1に加工したスルーホ
ール6の内面に形成した配線リード部8を介してガラス
板1の上面に電気的に引き出されている。可動マス5の
表面に垂直な成分の加速度が作用すると、ビーム4で支
持された可動マス5が変位して可動接点14と固定接点
15を接触させる。この結果、両接点が電気的に接続さ
れ、マイクロGスイッチに作用した加速度の大きさを検
出できることになる。図に示すように、可動マス5の重
心軸上にビーム4を形成しており、他軸感度の極めて小
さいマイクロGスイッチを得ることができる。可動マス
5の厚さに対してビーム4の厚さを十分に小さな値にす
ることにより、小さな加速度で可動接点14が固定接点
15に接触できるようにした。つまり、高感度なマイク
ロGスイッチが得られる。また、可動マス5及びビーム
4の厚さと幅を高精度にエッチングにより微細加工する
ことによって、検出する加速度の大きさをある狭い領域
内におさえこむことが可能になり、マイクロGスイッチ
を製造する時の歩留まりを向上できる。なお、ガラス板
1,シリコン板2,ガラス板3よりなる積層体はシリコ
ン板2の両面にそれぞれガラス板1とガラス板3を良く
知られた陽極接合によって接着することにより得られ
る。このとき、可動マス5とガラス板1間の空隙17及
び可動マス5とガラス板3間の空隙18の寸法が約数ミ
クロンと小さいため、陽極接合時に何らかの工夫を施さ
ないと、接合時の高電圧による静電気力で可動マス5は
ガラス板1あるいはガラス板3のどちらかに引き寄せら
れて、そのガラス板に接着されてしまうことになる。こ
れを防止するために、可動マス5に対向したガラス板の
表面に、シリコン板2と電気的に接続されている金属薄
膜10,11をスパッタや蒸着などで形成し、陽極接合
時に可動マス5とガラス板1及びガラス板3間に作用す
る電位差をゼロにして静電気力が作用しないようにし
た。
1 shows an embodiment of a micro G switch according to the present invention. The micro G switch is composed of a laminated body of a glass plate 1, a silicon plate 2 and a glass plate 3, and the silicon plate 2 is finely processed by etching to form a beam 4 and a movable mass 5. The movable mass 5 is supported by the beam 4, and a movable contact 14 is provided on a part of the movable mass 5.
The fixed contact 1 is provided on the bottom surface of the glass plate 1 so as to face the movable contact 14.
5 are arranged. The fixed contact 15 is electrically connected to the upper surface of the glass plate 1 via the wiring lead 12 formed on the bottom surface of the glass plate 1, the three-dimensional pillar 13 of silicon, and the wiring lead 9 formed on the inner surface of the through hole 7 formed on the glass plate 1. Be drawn to. Here, the three-dimensional column 13 is a column-shaped column obtained by etching the silicon plate 2, is mechanically separated from the frame 16, and is electrically insulated from the movable mass 5. Similarly, the movable contact 14 is electrically connected to the upper surface of the glass plate 1 through the movable mass 5, the beam 4, the frame portion 16 of the silicon plate 2, and the wiring lead portion 8 formed on the inner surface of the through hole 6 formed in the glass plate 1. Have been pulled out. When the acceleration of the component perpendicular to the surface of the movable mass 5 acts, the movable mass 5 supported by the beam 4 is displaced to bring the movable contact 14 and the fixed contact 15 into contact with each other. As a result, both contacts are electrically connected and the magnitude of the acceleration acting on the micro G switch can be detected. As shown in the drawing, the beam 4 is formed on the axis of the center of gravity of the movable mass 5, so that a micro G switch with extremely small sensitivity to the other axis can be obtained. By making the thickness of the beam 4 sufficiently smaller than the thickness of the movable mass 5, the movable contact 14 can contact the fixed contact 15 with a small acceleration. That is, a highly sensitive micro G switch can be obtained. Further, by finely processing the thickness and width of the movable mass 5 and the beam 4 by etching with high accuracy, it becomes possible to suppress the magnitude of the acceleration to be detected within a certain narrow region, and manufacture the micro G switch. The time yield can be improved. The laminated body composed of the glass plate 1, the silicon plate 2 and the glass plate 3 is obtained by bonding the glass plate 1 and the glass plate 3 to both surfaces of the silicon plate 2 by well-known anodic bonding. At this time, since the size of the space 17 between the movable mass 5 and the glass plate 1 and the size of the space 18 between the movable mass 5 and the glass plate 3 are as small as several microns, the height at the time of bonding should be improved unless some measures are taken during the anodic bonding. The movable mass 5 is attracted to either the glass plate 1 or the glass plate 3 by the electrostatic force due to the voltage and adhered to the glass plate. In order to prevent this, the metal thin films 10 and 11 electrically connected to the silicon plate 2 are formed on the surface of the glass plate facing the movable mass 5 by sputtering or vapor deposition, and the movable mass 5 is formed at the time of anodic bonding. The potential difference acting between the glass plate 1 and the glass plate 3 was set to zero so that the electrostatic force would not act.

【0008】本発明によるマイクロGスイッチの他の実
施例を図2に示す。本図以降、図1と同一の要素には同
じ番号をつけた。また、説明に使用しない要素には番号
を省略した。本図は、可動マス5の表面を深くエッチン
グ加工して、可動マス5と上下のガラス板間との空隙部
17,18の寸法を大きくした実施例である。こうする
ことによって、陽極接合時に可動マス5と上下のガラス
板間に発生する静電気力を小さくできるため、図1に示
したような金属薄膜10,11が不要になる。その代わ
り、可動接点14を可動マス5の表面の微小な凸部19
に設けている。なお、可動マス5の下部にも可動接点
と、これに対向して下側のガラス板上に固定接点を配置
することにより、正負二方向の加速度成分を検出可能な
マイクロGスイッチを提供できる。
Another embodiment of the micro G switch according to the present invention is shown in FIG. From this figure, the same elements as those in FIG. 1 are denoted by the same numbers. Also, the numbers are omitted for the elements that are not used in the description. This drawing shows an embodiment in which the surface of the movable mass 5 is deeply etched to increase the dimensions of the gaps 17 and 18 between the movable mass 5 and the upper and lower glass plates. By doing so, the electrostatic force generated between the movable mass 5 and the upper and lower glass plates at the time of anodic bonding can be reduced, so that the metal thin films 10 and 11 as shown in FIG. 1 become unnecessary. Instead, the movable contact 14 is replaced by a small convex portion 19 on the surface of the movable mass 5.
Is provided. By disposing the movable contact also on the lower portion of the movable mass 5 and the fixed contact on the lower glass plate so as to face the movable contact, it is possible to provide a micro G switch capable of detecting acceleration components in both positive and negative directions.

【0009】本発明によるマイクロGスイッチの他の実
施例を図3に示す。本図は、可動接点を有さない可動マ
ス5の表面に対向するように、下側のガラス板3にプリ
バイアス用の電極22を設けた例である。プリバイアス
用の電極22は立体柱13を迂回するように設けた配線
リード部23,立体柱25及びガラス板1に加工したス
ルーホール20の内面に設けた配線リード部21を介し
て、ガラス板1の上面に電気的に引き出されている。可
動マス5の表面に、シリコンの熱酸化膜などで構成され
る絶縁物の突起24が形成されている。電極22に作用
させた電圧による静電気力で、可動マス5の絶縁物突起
24が電極22へ接触するように、可動マス5がガラス
板3側に引き寄せられている。可動マス5と電極22と
の間の空隙18の寸法は絶縁物の突起24の高さで一義
的に決まる。リード部21を介してマイクロGスイッチ
の外部からプリバイアス用の電極22に印加する電圧の
大きさを調節することにより、可動マス5を電極22の
側へ引き寄せる力の大きさを自由にコントロールでき
る。この結果、可動マス5が電極22を離れるときの加
速度の大きさ、即ちマイクロGスイッチの可動接点と固
定接点が接触(オン状態)するときの加速度の大きさを
正確に決定できることになり、製造時の歩留まりが高い
マイクロGスイッチを提供できる。
Another embodiment of the micro G switch according to the present invention is shown in FIG. This figure shows an example in which an electrode 22 for pre-bias is provided on the lower glass plate 3 so as to face the surface of the movable mass 5 having no movable contact. The electrode 22 for pre-bias is provided on the glass plate through the wiring lead portion 23 provided so as to bypass the solid column 13, the solid column 25, and the wiring lead portion 21 provided on the inner surface of the through hole 20 processed in the glass plate 1. 1 is electrically drawn to the upper surface. On the surface of the movable mass 5, a protrusion 24 of an insulating material such as a thermal oxide film of silicon is formed. The movable mass 5 is attracted to the glass plate 3 side so that the insulator protrusion 24 of the movable mass 5 contacts the electrode 22 by the electrostatic force generated by the voltage applied to the electrode 22. The size of the gap 18 between the movable mass 5 and the electrode 22 is uniquely determined by the height of the protrusion 24 of the insulator. By adjusting the magnitude of the voltage applied from the outside of the micro G switch to the electrode 22 for pre-bias via the lead portion 21, the magnitude of the force that pulls the movable mass 5 toward the electrode 22 side can be freely controlled. . As a result, it is possible to accurately determine the magnitude of acceleration when the movable mass 5 leaves the electrode 22, that is, the magnitude of acceleration when the movable contact and the fixed contact of the micro G switch come into contact (on state). A micro G switch with high yield can be provided.

【0010】本発明によるマイクロGスイッチの他の実
施例を図4に示す。可動マス5に対向して上側のガラス
板1に自己診断用の電極26を形成している。電極26
は立体柱13を迂回するように設けた配線リード部2
7,立体柱25及びガラス板1に加工したスルーホール
20の内面に設けたリード部21を介して、ガラス板1
の上面に電気的に引き出されている。リード部21を介
してマイクロGスイッチの外部から自己診断用の電極2
6に電圧を印加することにより、静電気力で可動マス5
を電極26の側へ引き寄せ、マイクロGスイッチの可動
接点と固定接点を接触(オン状態)させることができ
る。このように、可動マス5に対向して自己診断用の電
極26を設け、静電気力で可動マス5を変位させること
により、マイクロGスイッチが実際に動作できる状態に
あるのか?ないのか?をアクティブに自己診断できる。
例えば、空隙17部にゴミなどが存在して動作不能の状
態にあることもアクティブに検出できる。
Another embodiment of the micro G switch according to the present invention is shown in FIG. An electrode 26 for self-diagnosis is formed on the upper glass plate 1 so as to face the movable mass 5. Electrode 26
Is a wiring lead portion 2 provided so as to bypass the solid pillar 13.
7, the three-dimensional column 25 and the glass plate 1 through the lead portion 21 provided on the inner surface of the through hole 20 formed in the glass plate 1.
Is electrically drawn to the upper surface of. Electrode 2 for self-diagnosis from outside the micro G switch via the lead portion 21
By applying a voltage to 6, the movable mass 5 is moved by electrostatic force.
Can be drawn toward the electrode 26 to bring the movable contact and the fixed contact of the micro G switch into contact (on state). Thus, by providing the self-diagnosis electrode 26 facing the movable mass 5 and displacing the movable mass 5 by electrostatic force, is the micro-G switch actually operable? Is not it? Can actively self-diagnose.
For example, it is possible to actively detect that there is dust or the like in the space 17 and the device is in an inoperable state.

【0011】本発明によるマイクロGスイッチの他の実
施例を図5に示す。本図は図4に示したマイクロGスイ
ッチにおけるシリコン板2部の概略平面図を示したもの
である。可動マス5は二本のビーム4で支持され、可動
マス5の先端、中央部に可動接点14を設けている。立
体柱13と25は図のように配置され、シリコン板2の
枠部16とは機械的に分離、電気的に絶縁されている。
なお、マイクロGスイッチの断面である図4は摸式的に
示したもので、立体柱13と25の位置は図4と図5で
違うことに注意されたい。前図のスルーホール6,7及
び20の下部における配線リード部はそれぞれ8,9及
び21であり、金属の薄膜をスパッタや蒸着などでシリ
コン部材の表面に形成したものである。また、マイクロ
Gスイッチとして特に応答性が要求される場合、可動マ
ス5の表面に28で示すような深さ数ミクロンから数十
ミクロンの溝がエッチングで形成されることがある。こ
れはガラス板とシリコン板間の空隙部における空気の流
動性を改善し、この部分のエアダンピング量をコントロ
ールする空気流通溝である。可動マス5とビーム4系の
ダンピング量を最適化することが可能になり、マイクロ
Gスイッチの応答性を改善したり、あるいは加速度がゼ
ロになった後もスイッチがオンしている状態を長く持続
させることができる。
Another embodiment of the micro G switch according to the present invention is shown in FIG. This drawing shows a schematic plan view of the silicon plate 2 part in the micro G switch shown in FIG. The movable mass 5 is supported by the two beams 4, and a movable contact 14 is provided at the tip and center of the movable mass 5. The three-dimensional columns 13 and 25 are arranged as shown in the figure, and are mechanically separated from the frame portion 16 of the silicon plate 2 and electrically insulated.
It should be noted that FIG. 4 which is a cross section of the micro G switch is schematically shown, and the positions of the solid columns 13 and 25 are different between FIG. 4 and FIG. The wiring lead portions below the through holes 6, 7 and 20 in the previous figure are 8, 9 and 21, respectively, and are formed by forming a thin metal film on the surface of the silicon member by sputtering or vapor deposition. Further, when the responsiveness is particularly required as the micro G switch, a groove having a depth of several microns to several tens of microns as shown by 28 may be formed on the surface of the movable mass 5 by etching. This is an air flow groove that improves the fluidity of air in the gap between the glass plate and the silicon plate and controls the amount of air damping in this portion. It is possible to optimize the damping amount of the movable mass 5 and the beam 4 system, improve the response of the micro G switch, or keep the switch on for a long time even after the acceleration becomes zero. Can be made.

【0012】本発明によるマイクロGスイッチの実装方
法の一例を図6に示す。本図は自動車のエアバッグシス
テム用のコントロールモジュールにマイクロGスイッチ
を実装する方法の一例を示したものである。マイクロG
スイッチ200のリード部8と9をモジュール31の表
面の導電性のパッド部(図には特に示していない!)へ
半田層29と30で機械的に接合し、且つ電気的に接続
する方法である。このように、モジュール31へ直接的
にマイクロGスイッチをマウントすることにより、エア
バッグシステム用のコントロールモジュールのサイズを
小さくできる。本発明によるマイクロGスイッチの他の
実施例を図7に示す。本図はSOI基板を犠牲層エッチ
ングして得られるマイクロGスイッチである。シリコン
板34(素子形成用基板),熱酸化膜33,シリコン板3
2(支持基板)からなるSOI基板のシリコン板34部
のシリコンエッチングと熱酸化膜33部の犠牲層エッチ
ングにより可動マスとビームからなる可動部44をシリ
コン板32の上に形成する方法である。なお、SOI基
板は熱酸化膜を介して支持基板に素子形成基板を直接的
に接合した後、上面の素子形成基板を所望の厚さまで研
磨加工して得られる。シリコン板34の上に接合したガ
ラス板1へ加工したスルーホール38,39及び40内
に配線したリード部41,42及び43を介して、マイ
クロGスイッチは外部の信号処理回路他と電気的に結線
される。ここで、配線リード部42と43は、それぞれ
シリコン板34の枠部35と電気的に絶縁されているシ
リコンの立体柱36と37へ電気的に接続されている。
また、SOI基板としては熱酸化膜を形成した支持基板
の表面へ、素子形成基板として多結晶シリコンをエピ成
長させたものでも良い。
FIG. 6 shows an example of a method of mounting the micro G switch according to the present invention. This figure shows an example of a method for mounting a micro G switch on a control module for an automobile air bag system. Micro G
By a method in which the lead portions 8 and 9 of the switch 200 are mechanically joined and electrically connected to the conductive pad portion (not shown in the figure!) On the surface of the module 31 by the solder layers 29 and 30. is there. Thus, by mounting the micro G switch directly on the module 31, the size of the control module for the airbag system can be reduced. Another embodiment of the micro G switch according to the present invention is shown in FIG. This figure shows a micro G switch obtained by etching a sacrificial layer on an SOI substrate. Silicon plate 34 (element forming substrate), thermal oxide film 33, silicon plate 3
This is a method of forming a movable part 44 composed of a movable mass and a beam on the silicon plate 32 by etching the silicon plate 34 part of the SOI substrate composed of 2 (support substrate) with silicon and the thermal oxide film 33 part with the sacrificial layer. The SOI substrate is obtained by directly bonding the element formation substrate to the support substrate via the thermal oxide film, and then polishing the element formation substrate on the upper surface to a desired thickness. The micro G switch is electrically connected to an external signal processing circuit or the like through the lead portions 41, 42 and 43 wired in the through holes 38, 39 and 40 processed into the glass plate 1 joined onto the silicon plate 34. Wired. Here, the wiring lead portions 42 and 43 are electrically connected to silicon solid columns 36 and 37, which are electrically insulated from the frame portion 35 of the silicon plate 34, respectively.
Further, the SOI substrate may be one in which polycrystalline silicon is epitaxially grown as an element forming substrate on the surface of a supporting substrate on which a thermal oxide film is formed.

【0013】図7に示したマイクロGスイッチにおける
シリコン板34部の概略平面図を図図8に示す。前図の
可動部44は三本のビーム45で支持された可動マス4
6より構成される。可動マス46の両側中央部に可動接
点49,49aを設け、これに対向して固定接点48,
48aを配置している。固定接点48,48aはそれぞ
れ立体柱36,37と一体となっている固定部47,5
0へ図のように形成されている。ここで、シリコンの立
体柱36と37は、それぞれシリコン板34の枠部35
とは電気的に絶縁されている。本図のマイクロGスイッ
チはシリコン基板34の表面と平行な成分の加速度を検
出して、可動接点49と固定接点48を接触あるいは可
動接点49aと固定接点48aを接触させるものであ
る。可動接点49と固定接点48を接触させる方向の加
速度を正方向と定義すると、可動接点49aと固定接点
48aを接触させる方向の加速度は負方向になる。この
ように、正負二方向の加速度成分を検出可能なマイクロ
Gスイッチを実現できる。なお、配線リード部41,4
2及び43を介して、マイクロGスイッチ部の可動接点
と固定接点は外部の信号処理回路他と電気的に結線され
る。
FIG. 8 is a schematic plan view of the silicon plate 34 in the micro G switch shown in FIG. The movable part 44 in the previous figure is a movable mass 4 supported by three beams 45.
It is composed of 6. Movable contacts 49, 49a are provided at the central portions on both sides of the movable mass 46, and fixed contacts 48,
48a is arranged. The fixed contacts 48 and 48a are fixed portions 47 and 5 which are integrated with the solid columns 36 and 37, respectively.
It is formed to 0 as shown in the figure. Here, the three-dimensional columns 36 and 37 of silicon are respectively the frame portions 35 of the silicon plate 34.
And are electrically insulated. The micro G switch in this figure detects the acceleration of a component parallel to the surface of the silicon substrate 34 and brings the movable contact 49 and the fixed contact 48 into contact with each other or the movable contact 49a and the fixed contact 48a into contact with each other. When the acceleration in the direction of contact between the movable contact 49 and the fixed contact 48 is defined as the positive direction, the acceleration in the direction of contact between the movable contact 49a and the fixed contact 48a is the negative direction. In this way, it is possible to realize a micro G switch capable of detecting acceleration components in both positive and negative directions. The wiring lead portions 41, 4
The movable contact and the fixed contact of the micro G switch unit are electrically connected to an external signal processing circuit and the like via 2 and 43.

【0014】本発明によるマイクロGスイッチの他の実
施例を図9に示す。本図の例は可動部とリードの引き出
し方法が図7に示したスイッチと異なる。図7に示した
場合と同じように、シリコン板34(素子形成用基
板),熱酸化膜33,シリコン板32(支持基板)から
なるSOI基板のシリコン板34部のシリコンエッチン
グと熱酸化膜33部の犠牲層エッチングにより可動マス
とビームからなる可動部53をシリコン板32の上に形
成している。可動部53の上部の空間52を密封するよ
うに、シリコン板34の上にガラスやシリコンなどで構
成されるキャップ51を接合している。空間52内に設
けられた可動接点や固定接点は、キャップ51の下部に
設けた配線リード部55を介してシリコン板34の上に
設けたパッド54と電気的に接続されている。スイッチ
の接点はパッド54を介して、マイクロGスイッチ外部
の信号処理回路と結線される。
Another embodiment of the micro G switch according to the present invention is shown in FIG. The example of this drawing differs from the switch shown in FIG. 7 in the method of pulling out the movable part and the leads. Similar to the case shown in FIG. 7, the silicon etching and the thermal oxide film 33 of the silicon plate 34 of the SOI substrate including the silicon plate 34 (element forming substrate), the thermal oxide film 33, and the silicon plate 32 (supporting substrate). The movable portion 53 including the movable mass and the beam is formed on the silicon plate 32 by etching the sacrifice layer of the portion. A cap 51 made of glass, silicon or the like is bonded onto the silicon plate 34 so as to seal the space 52 above the movable portion 53. The movable contact and the fixed contact provided in the space 52 are electrically connected to the pad 54 provided on the silicon plate 34 via the wiring lead portion 55 provided at the bottom of the cap 51. The contact of the switch is connected to the signal processing circuit outside the micro G switch via the pad 54.

【0015】図9に示したマイクロGスイッチにおける
可動部53近傍の概略平面図を図10に示す。前図の可
動部53は二本のビーム56で支持された可動マス57
から構成される。ビーム56は固定端64で、前図の熱
酸化膜33の上にしっかりと固着されている。可動マス
57は凸部58と59を有する櫛歯形状になっている。
凸部58に可動接点62,62aを設け、この可動接点
に対向して固定接点61,61aを配置している。そし
て、この固定接点61,61aは熱酸化膜の上に固着さ
れた固定部63の突起部60に形成されている。本図の
マイクロGスイッチは、シリコン板34の表面に平行
で、且つ二本のビーム56に直交した正負の加速度成分
を検出することができる。なお、本図には配線リード部
55やパッド54は記載されていない。
FIG. 10 shows a schematic plan view of the vicinity of the movable portion 53 in the micro G switch shown in FIG. The movable part 53 in the previous figure is a movable mass 57 supported by two beams 56.
Consists of The beam 56 has a fixed end 64 and is firmly fixed on the thermal oxide film 33 in the previous figure. The movable mass 57 has a comb-tooth shape having protrusions 58 and 59.
Movable contacts 62 and 62a are provided on the convex portion 58, and fixed contacts 61 and 61a are arranged facing the movable contacts. The fixed contacts 61, 61a are formed on the protrusion 60 of the fixed portion 63 fixed on the thermal oxide film. The micro G switch in this figure can detect positive and negative acceleration components parallel to the surface of the silicon plate 34 and orthogonal to the two beams 56. The wiring lead portion 55 and the pad 54 are not shown in this figure.

【0016】本発明によるマイクロGスイッチを自動車
のエアバッグシステム用の集積化点火デバイスに適用し
た例を図11に示す。マイクロGスイッチ65は抵抗6
6を介して電源Vsと直列に接続されている。この抵抗
66はマイクロGスイッチ65を流れる電流をある値以
下に制限する。この結果、可動接点と固定接点間の発熱
による溶着が生じないため信頼性の高いマイクロGスイ
ッチが得られる。この抵抗66はこれまでに述べてきた
シリコン板へ拡散によって形成するかあるいは細長いビ
ーム自身で持たせても良い。電源Vs,抵抗66,マイ
クロGスイッチ65に対して、PMOSのスイッチ6
7,コンデンサ68及びNMOSのパワー素子69を図
のように接続している。また、パワー素子69へ直列に
パワー素子71とインフレータ74が、各パワー素子へ
並列にそれぞれ抵抗72と73が接続されている。この
抵抗72と73はこの部分に微小な電流を流して、イン
フレータ74の動作状態を自己診断するためのものであ
る。今、加速度が所定の値以上になるとマイクロGスイ
ッチ65はこれを検出し、可動接点と固定接点間はオン
状態になる。そして、A点の電位が減少してスイッチ6
7をオンさせ、その後B点の電位が増加してパワー素子
69をオン状態にする。このとき、自動車が衝突事故を
起こしてこれをクラッシュセンサ(図には示していな
い)からの出力信号をマイクロコンピュータ70で処理
して検出すると、パワー素子71をオン状態にする。パ
ワー素子69と71が同時にオン状態になると、インフ
レータ74が点火しエアバッグを起動させて乗員を保護
するシステムである。なお、マイクロGスイッチでは加
速度がゼロになった後もスイッチがオンしている状態を
長く保持することは簡単なことではない。この場合、コ
ンデンサ68によってマイクロGスイッチ65がオフ状
態になった後も、パワー素子69を実質的にオン状態に
することができる。つまり、加速度がゼロになった後
も、マイクロGスイッチ65が見掛け上オンしている状
態をある期間だけ持続させることができる。こうするこ
とによって、エアバッグシステムの信頼度を向上させる
ことができる。
FIG. 11 shows an example in which the micro G switch according to the present invention is applied to an integrated ignition device for an automobile airbag system. The micro G switch 65 has a resistor 6
It is connected in series with the power supply Vs via 6. The resistor 66 limits the current flowing through the micro G switch 65 to a certain value or less. As a result, since the welding due to the heat generation between the movable contact and the fixed contact does not occur, a highly reliable micro G switch can be obtained. The resistor 66 may be formed by diffusion into the silicon plate described above or may be carried by the elongated beam itself. For the power supply Vs, the resistor 66, the micro G switch 65, the PMOS switch 6
7, the capacitor 68 and the NMOS power element 69 are connected as shown. A power element 71 and an inflator 74 are connected in series to the power element 69, and resistors 72 and 73 are connected in parallel to each power element. The resistors 72 and 73 are used for self-diagnosis of the operating state of the inflator 74 by passing a minute current through this portion. Now, when the acceleration exceeds a predetermined value, the micro G switch 65 detects this, and the movable contact and the fixed contact are turned on. Then, the potential at the point A decreases and the switch 6
7 is turned on, and then the potential at the point B is increased to turn on the power element 69. At this time, when the automobile has a collision and the output signal from the crash sensor (not shown in the figure) is processed and detected by the microcomputer 70, the power element 71 is turned on. When the power elements 69 and 71 are turned on at the same time, the inflator 74 is ignited to activate the airbag and protect the occupant. Note that it is not easy for the micro G switch to keep the switch on for a long time even after the acceleration becomes zero. In this case, the power element 69 can be substantially turned on even after the micro G switch 65 is turned off by the capacitor 68. That is, even after the acceleration becomes zero, the state in which the micro G switch 65 is apparently turned on can be maintained for a certain period. By doing so, the reliability of the airbag system can be improved.

【0017】本発明によるマイクロGスイッチを用いた
集積化点火デバイスの実装方法を図12に示す。セラミ
ックスなどの基板75の上にマイクロGスイッチ65,
パワー素子69及び前図の抵抗66,スイッチ67,コ
ンデンサ68などからなる信号処理回路78を配置して
いる。基板75の上部にキャップ77を接合し、マイク
ロGスイッチ65他を収納した空間76を気密に封止し
ている。本集積化点火デバイスは基板75に設けたパッ
ド79,80を介して外部の電源やインフレータと電気
的に接続される。この結果、サイズが小さくて量産性に
適し、高性能で高信頼度な集積化点火デバイスを提供す
ることができる。
FIG. 12 shows a method of mounting the integrated ignition device using the micro G switch according to the present invention. Micro G switch 65 on the substrate 75 such as ceramics,
A signal processing circuit 78 including a power element 69 and a resistor 66, a switch 67, a capacitor 68 and the like in the previous figure is arranged. A cap 77 is joined to the upper part of the substrate 75 to hermetically seal a space 76 containing the micro G switch 65 and the like. The integrated ignition device is electrically connected to an external power source or an inflator via pads 79 and 80 provided on the substrate 75. As a result, it is possible to provide an integrated ignition device that is small in size, suitable for mass production, and has high performance and high reliability.

【0018】本発明によるマイクロGスイッチの他の実
施例を図13に示す。本図は可動マスとビームの間に第
2の可動マスとビームを配置した実施例である。即ち、
ビーム4で支持された可動マス82の間に第二の可動マ
ス81と第二のビーム83を設けている。加速度が作用
して可動マス82の表面に形成した可動接点14がオン
した後、ビーム4と83がさらに変形して、やがて可動
マス81の全面をガラス板1の下面に接触させる。可動
マス81の表面やそれ自体のダンピング効果によって、
加速度がゼロになった後も可動接点がオンしている状態
を長く持続させることができる。
Another embodiment of the micro G switch according to the present invention is shown in FIG. This drawing shows an embodiment in which a second movable mass and a beam are arranged between the movable mass and the beam. That is,
The second movable mass 81 and the second beam 83 are provided between the movable masses 82 supported by the beam 4. After the movable contact 14 formed on the surface of the movable mass 82 is turned on by the acceleration, the beams 4 and 83 are further deformed, and eventually the entire surface of the movable mass 81 is brought into contact with the lower surface of the glass plate 1. By the damping effect of the surface of the movable mass 81 and itself,
Even after the acceleration becomes zero, the movable contact can be kept on for a long time.

【0019】本発明によるマイクロGスイッチの他の実
施例を図14に示す。本図はMOSスイッチのゲート電
極を可動にしたマイクロGスイッチとパワー素子部を同
一のシリコン板へ集積化した複合化マイクロGスイッチ
である。熱酸化膜150,151でパッシベーションさ
れたp型のシリコン板84の表面部分へn+ 領域を拡散
やイオン打ち込み法で作り、パワー素子やマイクロGス
イッチのソースやドレイン部を形成している。そして、
86,87,88はそれぞれパワー素子部のソース電
極,ドレイン電極,ゲート電極である。また、89,9
0,91はそれぞれマイクロGスイッチ部のソース電
極,ドレイン電極,ゲート電極である。なお、パワー素
子部を流れる電流値は数〜数十アンペアであるのに対し
て、マイクロGスイッチ部を流れる電流値は無視できる
ほど小さい値である。マイクロGスイッチ部のゲート電
極91はビーム92で支持された可動マスである。な
お、ビーム92はその端部152で熱酸化膜150の上
にしっかりと固着されている。シリコン板84の表面に
直交した加速度が作用すると、ゲート電極91と熱酸化
膜150間の空隙153の寸法が小さくなる。この空隙
153の寸法値が所定の値以下になると、マイクロGス
イッチのソース電極89とドレイン電極90間はオン状
態になる。そして、図11で説明したように、パワー素
子部のソース電極86とドレイン電極87間をオン状態
にさせることができる。これらのマイクロGスイッチ部
とパワー素子部はシリコン板84の上部に接合したキャ
ップ85により、空間94の内部に気密に収納される。
本複合化マイクロGスイッチはシリコン板84の上に形
成したパッド93を介して外部の信号処理回路と電気的
に接続される。この結果、サイズが小さくて量産性に適
し、高性能で高信頼度なマイクロGスイッチを実現でき
る。
Another embodiment of the micro G switch according to the present invention is shown in FIG. This figure shows a micro G switch in which the gate electrode of a MOS switch is movable and a composite micro G switch in which a power element portion is integrated on the same silicon plate. An n + region is formed on the surface of the p-type silicon plate 84 passivated with the thermal oxide films 150 and 151 by a diffusion or ion implantation method to form the source and drain parts of the power element and the micro G switch. And
Reference numerals 86, 87 and 88 denote a source electrode, a drain electrode and a gate electrode of the power element part, respectively. Also 89, 9
Reference numerals 0 and 91 respectively denote a source electrode, a drain electrode and a gate electrode of the micro G switch section. The value of the current flowing through the power element part is several to several tens of amperes, whereas the value of the current flowing through the micro G switch part is so small that it can be ignored. The gate electrode 91 of the micro G switch unit is a movable mass supported by the beam 92. The beam 92 is firmly fixed on the thermal oxide film 150 at its end portion 152. When the acceleration orthogonal to the surface of the silicon plate 84 acts, the size of the void 153 between the gate electrode 91 and the thermal oxide film 150 becomes smaller. When the dimension value of the gap 153 becomes a predetermined value or less, the source electrode 89 and the drain electrode 90 of the micro G switch are turned on. Then, as described in FIG. 11, the source electrode 86 and the drain electrode 87 of the power element portion can be turned on. The micro G switch section and the power element section are hermetically housed in the space 94 by the cap 85 joined to the upper portion of the silicon plate 84.
The composite micro G switch is electrically connected to an external signal processing circuit via a pad 93 formed on the silicon plate 84. As a result, a micro G switch having a small size, suitable for mass production, high performance and high reliability can be realized.

【0020】本発明による複合化マイクロGスイッチの
他の実施例を図15に示す。本実施例のマイクロGスイ
ッチは機械式のスイッチ部と電子式のMOSスイッチ部
とを分離した構造のものである。シリコン板84の熱酸
化膜150の上に、端部100でしっかりと固着したビー
ム99により支持された可動マス98を犠牲層エッチン
グの手法で形成している。機械式のスイッチ部はビーム
99で支持された可動マス98,可動マス98に形成し
た可動接点97及び可動接点97に対向して配置された
固定接点96よりなる。電子式のMOSスイッチ部はソ
ース電極89,ドレイン電極90及びゲート電極95よ
りなる。ゲート電極95と固定接点96は熱酸化膜15
0の上で電気的に接続されており、複合化マイクロGス
イッチが加速度を受けて可動接点97と固定接点96が
接触すると、ゲート電極95の電位が増加してMOSス
イッチ部をオン状態にさせるように、可動マス98には
ビーム99を介してあらかじめ高い電圧が電源より供給
されている。可動接点97と固定接点96が接触する
と、MOSスイッチがオン状態になりパワー素子部を動
作させる。このように、シリコン板84にMOSスイッ
チを形成し、このMOSスイッチのゲート電極95と固定
接点96を電気的に接続することにより、機械式のスイ
ッチ部を流れる電流を微小な値に制限することができ
る。スイッチ部を流れる電流をある値以下に制限する機
能をシリコン板中に形成したり、可動接点と固定接点を
高溶点の金属材料で構成することにより、可動電極と固
定電極間の溶着を完全に防止でき信頼性の高い複合化マ
イクロGスイッチが得られる。また、加速度がゼロにな
った後も、MOSスイッチのオン状態を長く持続させる
機能をシリコン板84へ容易に集積化することができ
る。
Another embodiment of the composite micro G switch according to the present invention is shown in FIG. The micro G switch of this embodiment has a structure in which a mechanical switch section and an electronic MOS switch section are separated. On the thermal oxide film 150 of the silicon plate 84, the movable mass 98 supported by the beam 99 firmly fixed at the end portion 100 is formed by a sacrifice layer etching method. The mechanical switch section includes a movable mass 98 supported by the beam 99, a movable contact 97 formed on the movable mass 98, and a fixed contact 96 arranged so as to face the movable contact 97. The electronic MOS switch section includes a source electrode 89, a drain electrode 90 and a gate electrode 95. The gate electrode 95 and the fixed contact 96 are formed of the thermal oxide film 15
0 is electrically connected, and when the composite micro G switch receives the acceleration and the movable contact 97 and the fixed contact 96 come into contact with each other, the potential of the gate electrode 95 increases to turn on the MOS switch section. As described above, the movable mass 98 is previously supplied with a high voltage from the power supply through the beam 99. When the movable contact 97 and the fixed contact 96 come into contact with each other, the MOS switch is turned on to operate the power element section. Thus, by forming a MOS switch on the silicon plate 84 and electrically connecting the gate electrode 95 of this MOS switch and the fixed contact 96, the current flowing through the mechanical switch unit is limited to a minute value. You can The function of limiting the current flowing through the switch to a certain value or less is formed in the silicon plate, and the movable contact and the fixed contact are made of a metal material with a high melting point to ensure complete welding between the movable electrode and the fixed electrode. A highly reliable composite micro G switch can be obtained. Further, the function of keeping the ON state of the MOS switch for a long time even after the acceleration becomes zero can be easily integrated in the silicon plate 84.

【0021】本発明による複合化マイクロGスイッチの
他の実施例を図16に示す。本実施例のマイクロGスイ
ッチも機械式のスイッチ部と電子式のMOSスイッチ部
とを分離した構造のものである。ビーム99で支持され
た可動マス98の表面に対向して固定電極101を配置
し、この固定電極101とMOSスイッチ部のゲート電
極95を熱酸化膜150の上などで間接あるいは直接的
に電気的な接続をしている。マイクロGスイッチに作用
する加速度に応じて、可動マス98と固定電極101間
の空隙154の寸法が変化し、空隙154部の静電容量
を変化させる。そして、マイクロGスイッチに加速度が
作用すると、ゲート電極95部の電位が上昇しMOSス
イッチ部をオン状態にさせる。このように、シリコン板
にMOSスイッチを形成し、このMOSスイッチのゲー
ト電極部と電気的に接続した導体部(固定電極)を可動
マスに対向させることにより、加速度に応じてゲート電
極部の電位が変化してMOSスイッチがオンするので、
非常に小さな加速度で動作する感度の高い複合化マイク
ロGスイッチが得られる。なお、シリコン板84へ可動
マス98に対向して拡散した領域を固定電極としても良
い。
Another embodiment of the composite micro G switch according to the present invention is shown in FIG. The micro G switch of this embodiment also has a structure in which a mechanical switch section and an electronic MOS switch section are separated. A fixed electrode 101 is arranged so as to face the surface of the movable mass 98 supported by the beam 99, and the fixed electrode 101 and the gate electrode 95 of the MOS switch part are electrically connected indirectly or directly on the thermal oxide film 150. Have a good connection. The size of the space 154 between the movable mass 98 and the fixed electrode 101 changes according to the acceleration acting on the micro G switch, and the capacitance of the space 154 changes. Then, when acceleration acts on the micro G switch, the potential of the gate electrode 95 portion rises to turn on the MOS switch portion. In this way, by forming a MOS switch on the silicon plate and making the conductor portion (fixed electrode) electrically connected to the gate electrode portion of this MOS switch face the movable mass, the potential of the gate electrode portion is increased according to the acceleration. Changes and the MOS switch turns on,
A highly sensitive composite micro-G switch that operates at very low acceleration is obtained. The fixed electrode may be a region diffused to the silicon plate 84 so as to face the movable mass 98.

【0022】本発明による複合化マイクロGスイッチの
実装方法を図17に示す。本実施例は、マイクロGスイ
ッチ部とパワー素子部を同じシリコン板中に集積化した
複合化マイクロGスイッチ102(図14〜図16で説
明したもの)をクラッシュセンサ103と共に同じパッ
ケージ内に実装できるようにしたものである。複合化マ
イクロGスイッチ102とクラッシュセンサ103を接
着材104,105でセラミックス基板113へ接着し
ている。次に、クラッシュセンサ103の構造を簡単に
説明する。シリコン板106,107及び108を熱酸
化膜などの絶縁物109,110を介して層状に積層し
た構造で、内部にビームで支持された可動マス111を
微細加工によって形成している。可動マス111と上下
に配置されたシリコン板106と108間の静電容量の
変化から、クラッシュ時の加速度をアナログ的に検出す
るものである。セラミックス基板113にキャップ11
2を接着材114で接合し、スイッチやセンサの周囲を
気密に封止している。そして、エアバッグシステムのモ
ジュール用基板115へセラミックス基板113の導電
層116を介し、半田層117を用いて表面実装され
る。クラッシュセンサと共に同じパッケージ内に実装で
きるようにすることにより、エアバッグシステム用のコ
ントロールモジュールのサイズを小さくできる。
A mounting method of the composite micro G switch according to the present invention is shown in FIG. In this embodiment, the composite micro G switch 102 (described in FIGS. 14 to 16) in which the micro G switch part and the power element part are integrated in the same silicon plate can be mounted together with the crash sensor 103 in the same package. It was done like this. The composite micro G switch 102 and the crash sensor 103 are adhered to the ceramic substrate 113 with adhesive materials 104 and 105. Next, the structure of the crash sensor 103 will be briefly described. The silicon plates 106, 107 and 108 are laminated in layers via insulators 109 and 110 such as thermal oxide films, and a movable mass 111 supported by a beam is formed inside by fine processing. The acceleration at the time of a crash is detected in an analog manner from the change in the electrostatic capacitance between the movable mass 111 and the silicon plates 106 and 108 arranged above and below. Cap 11 on the ceramic substrate 113
The two are bonded with an adhesive 114 to hermetically seal the periphery of the switch and the sensor. Then, it is surface-mounted on the module substrate 115 of the airbag system using the solder layer 117 via the conductive layer 116 of the ceramic substrate 113. By allowing it to be mounted in the same package with the crash sensor, the size of the control module for the airbag system can be reduced.

【0023】本発明による複合化マイクロGスイッチの
他の実施例を図18に示す。本実施例は、シリコン板8
4へ図14〜図16で説明した複合化マイクロGスイッ
チ102と共に、クラッシュセンサ121を一体に集積
化したものである。SOI基板の熱酸化膜150を犠牲
層エッチングすることにより、可動マス120の下部に
空隙118を形成している。可動マス120を支持する
ビーム(本図には示されていない)の固定端119は熱
酸化膜150の上にしっかりと固着されている。可動マ
ス120とシリコン板84間の静電容量の変化から、ク
ラッシュ時の加速度をアナログ的に検出するクラッシュ
センサである。複合化マイクロGスイッチをクラッシュ
センサと共に同一のシリコン板へ一体に集積化すること
により、エアバッグシステム用のコントロールモジュー
ルのサイズをより一層小さくできる。
Another embodiment of the composite micro G switch according to the present invention is shown in FIG. In this embodiment, the silicon plate 8
The crash sensor 121 is integrally integrated with the composite micro G switch 102 described with reference to FIGS. 14 to 16. By etching the thermal oxide film 150 of the SOI substrate as a sacrificial layer, a void 118 is formed below the movable mass 120. The fixed end 119 of the beam (not shown in the figure) supporting the movable mass 120 is firmly fixed on the thermal oxide film 150. This is a crash sensor that detects the acceleration at the time of crash in an analog manner from the change in the electrostatic capacitance between the movable mass 120 and the silicon plate 84. By integrating the integrated micro G switch together with the crash sensor on the same silicon plate, the size of the control module for the airbag system can be further reduced.

【0024】[0024]

【発明の効果】前述したように、本発明によりサイズが
小さくて量産性に適し、高性能で高信頼度なマイクロG
スイッチが得られる。
As described above, according to the present invention, the size of the micro G is small, suitable for mass production, and has high performance and high reliability.
You get a switch.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明によるマイクロGスイッチの実施例を示
した図。
FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of a micro G switch according to the present invention.

【図2】本発明によるマイクロGスイッチの他の実施例
を示した図。
FIG. 2 is a diagram showing another embodiment of the micro G switch according to the present invention.

【図3】本発明によるマイクロGスイッチの他の実施例
を示した図。
FIG. 3 is a diagram showing another embodiment of the micro G switch according to the present invention.

【図4】本発明によるマイクロGスイッチの他の実施例
を示した図。
FIG. 4 is a diagram showing another embodiment of the micro G switch according to the present invention.

【図5】本発明によるマイクロGスイッチの他の実施例
を示した図。
FIG. 5 is a diagram showing another embodiment of the micro G switch according to the present invention.

【図6】本発明によるマイクロGスイッチの実装方法を
示した図。
FIG. 6 is a diagram showing a mounting method of a micro G switch according to the present invention.

【図7】本発明によるマイクロGスイッチの他の実施例
を示した図。
FIG. 7 is a diagram showing another embodiment of the micro G switch according to the present invention.

【図8】前図に示したマイクロGスイッチの概略平面図
を示した図。
FIG. 8 is a diagram showing a schematic plan view of the micro G switch shown in the previous figure.

【図9】本発明によるマイクロGスイッチの他の実施例
を示した図。
FIG. 9 is a diagram showing another embodiment of the micro G switch according to the present invention.

【図10】前図に示したマイクロGスイッチの可動部の
概略平面図を示した図。
FIG. 10 is a diagram showing a schematic plan view of a movable part of the micro G switch shown in the previous figure.

【図11】本発明による集積化点火デバイスへの適用例
を示した図。
FIG. 11 is a diagram showing an example of application to an integrated ignition device according to the present invention.

【図12】本発明による集積化点火デバイスの実装方法
を示した図。
FIG. 12 is a diagram showing a method of mounting the integrated ignition device according to the present invention.

【図13】本発明によるマイクロGスイッチの他の実施
例を示した図。
FIG. 13 is a diagram showing another embodiment of the micro G switch according to the present invention.

【図14】本発明による複合化マイクロGスイッチの実
施例を示した図。
FIG. 14 is a diagram showing an embodiment of a composite micro G switch according to the present invention.

【図15】本発明による複合化マイクロGスイッチの他
の実施例を示した図。
FIG. 15 is a view showing another embodiment of the composite micro G switch according to the present invention.

【図16】本発明による複合化マイクロGスイッチの他
の実施例を示した図。
FIG. 16 is a diagram showing another embodiment of the composite micro G switch according to the present invention.

【図17】本発明による複合化マイクロGスイッチの実
装方法を示した図。
FIG. 17 is a diagram showing a method of mounting the composite micro G switch according to the present invention.

【図18】本発明による複合化マイクロGスイッチの他
の実施例を示した図。
FIG. 18 is a view showing another embodiment of the composite micro G switch according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,3…ガラス板、2,32,34,84,106,1
07,108…シリコン板、4,45,56,83,9
2,99…ビーム、5,46,57,81,82,9
8,111,120…可動マス、6,7,20,38,
39,40…スルーホール、8,9,12,21,2
3,27,41,42,43,55…配線リード部、1
0,11…金属薄膜、13,25,36,37…立体
柱、14,49,49a,62,62a,97…可動接
点、15,48,48a,61,61a,96…固定接
点、16,35…枠部、17,18,118,153,
154…空隙、19…微小な凸部、22,26…電極、
24…絶縁物の突起、28…空気流通溝、29,30,
117…半田層、31…モジュール、33,109,1
10,150,151…熱酸化膜、44,53…可動
部、47,50,63…固定部、51,77,85,1
12…キャップ、52,76,94…空間、54,7
9,80,93…パッド、58,59…凸部、60…突
起部、64,119…固定端、66…抵抗、65,20
0…マイクロGスイッチ、66,72,73…抵抗、6
7…スイッチ、68…コンデンサ、69,71…パワー
素子、70…マイクロコンピュータ、74…インフレー
タ、75,115…基板、78…信号処理回路、86,
89…ソース電極、87,90…ドレイン電極、88,
91,95…ゲート電極、101…固定電極、102…
複合化マイクロGスイッチ、103…クラッシュセン
サ、104,105,114…接着材、113…セラミッ
クス基板、116…導電層、152…端部。
1, 3 ... Glass plate, 2, 32, 34, 84, 106, 1
07, 108 ... Silicon plate, 4, 45, 56, 83, 9
2, 99 ... Beam, 5, 46, 57, 81, 82, 9
8, 111, 120 ... Movable mass, 6, 7, 20, 38,
39, 40 ... through holes, 8, 9, 12, 21, 21
3, 27, 41, 42, 43, 55 ... Wiring lead portion, 1
0, 11 ... Metal thin film, 13, 25, 36, 37 ... Solid column, 14, 49, 49a, 62, 62a, 97 ... Movable contact, 15, 48, 48a, 61, 61a, 96 ... Fixed contact, 16, 35 ... Frame part, 17, 18, 118, 153
154 ... Void, 19 ... Minute convex portion, 22, 26 ... Electrode,
24 ... Insulator protrusion, 28 ... Air circulation groove, 29, 30,
117 ... Solder layer, 31 ... Module, 33, 109, 1
10, 150, 151 ... Thermal oxide film, 44, 53 ... Movable part, 47, 50, 63 ... Fixed part, 51, 77, 85, 1
12 ... Cap, 52, 76, 94 ... Space, 54, 7
9, 80, 93 ... Pads, 58, 59 ... Projections, 60 ... Projections, 64, 119 ... Fixed end, 66 ... Resistance, 65, 20
0 ... Micro G switch, 66, 72, 73 ... Resistor, 6
7 ... Switch, 68 ... Capacitor, 69, 71 ... Power element, 70 ... Microcomputer, 74 ... Inflator, 75, 115 ... Board, 78 ... Signal processing circuit, 86,
89 ... Source electrode, 87, 90 ... Drain electrode, 88,
91, 95 ... Gate electrode, 101 ... Fixed electrode, 102 ...
Composite micro G switch, 103 ... Crash sensor, 104, 105, 114 ... Adhesive material, 113 ... Ceramics substrate, 116 ... Conductive layer, 152 ... End part.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 仲沢 照美 茨城県ひたちなか市大字高場2520番地 株 式会社日立製作所自動車機器事業部内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Terumi Nakazawa 2520 Odaiba, Hitachinaka-city, Ibaraki Pref.

Claims (28)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】シリコン板を微細加工して得られるビーム
と可動マス、前記可動マスはビームで支持され可動マス
の一部に設けた可動接点、前記可動接点に対向してガラ
ス板上に設けた固定接点よりなり、可動マスの重心はビ
ームの中心軸上に配置され、且つ前記ビーム,可動マ
ス,可動接点及び固定接点が前記シリコン板とガラス板
を陽極接合して得られる気密空間内に配置していること
を特徴とするマイクロGスイッチ。
1. A beam obtained by finely processing a silicon plate and a movable mass, the movable mass is a movable contact supported by the beam and provided on a part of the movable mass, and is provided on a glass plate facing the movable contact. And the center of gravity of the movable mass is arranged on the central axis of the beam, and the beam, the movable mass, the movable contact and the fixed contact are in an airtight space obtained by anodic bonding the silicon plate and the glass plate. A micro G switch characterized by being arranged.
【請求項2】請求項1において、シリコン板とガラス板
を陽極接合するときに、可動マスがガラス板に接合しな
いように、可動マスに対向した部分のガラス板上へシリ
コン板と電気的に接続した金属薄膜を形成していること
を特徴とするマイクロGスイッチ。
2. The silicon plate according to claim 1, wherein when the silicon plate and the glass plate are anodically bonded, the silicon plate is electrically connected to the portion of the glass plate facing the movable mass so that the movable mass does not bond to the glass plate. A micro G switch characterized by forming a connected metal thin film.
【請求項3】請求項1において、可動マスの凸部に可動
接点を設けたことを特徴とするマイクロGスイッチ。
3. The micro G switch according to claim 1, wherein a movable contact is provided on the convex portion of the movable mass.
【請求項4】請求項1において、可動マスの可動接点を
設けた表面の反対側の表面に対向してプリバイアス用の
電極をガラス板上へ形成したことを特徴とするマイクロ
Gスイッチ。
4. A micro G switch according to claim 1, wherein a pre-bias electrode is formed on the glass plate so as to face the surface of the movable mass opposite to the surface on which the movable contact is provided.
【請求項5】請求項1において、可動マスの可動接点を
設けた表面に対向して自己診断用の電極をガラス板上へ
形成したことを特徴とするマイクロGスイッチ。
5. The micro G switch according to claim 1, wherein an electrode for self-diagnosis is formed on a glass plate so as to face a surface of the movable mass on which the movable contact is provided.
【請求項6】請求項1において、可動マスの両サイドに
可動接点、この可動接点に対向して固定接点を配置した
ことを特徴とするマイクロGスイッチ。
6. The micro G switch according to claim 1, wherein movable contacts are provided on both sides of the movable mass, and fixed contacts are arranged facing the movable contacts.
【請求項7】請求項1から6のいずれかにおいて、可動
マスの表面にエアダンピング用の空気流通溝あるいは空
気流通孔を設けたことを特徴とするマイクロGスイッ
チ。
7. A micro G switch according to any one of claims 1 to 6, wherein an air circulation groove or air circulation hole for air damping is provided on the surface of the movable mass.
【請求項8】請求項1から6のいずれかにおいて、ガラ
ス板に加工したスルーホールを介してスイッチ用の各パ
ッドをガラス板の表面に設けたことを特徴とするマイク
ロGスイッチ。
8. A micro G switch according to claim 1, wherein each switch pad is provided on the surface of the glass plate through a through hole formed in the glass plate.
【請求項9】請求項7または8において、可動接点およ
び固定接点がAu,Pt,Pdなどの高融点金属材料で
構成されることを特徴とするマイクロGスイッチ。
9. The micro G switch according to claim 7, wherein the movable contact and the fixed contact are made of a refractory metal material such as Au, Pt, or Pd.
【請求項10】請求項7から9のいずれかにおいて、ス
イッチ用の各パッドがスイッチを実装する基板の導電部
上へダイレクトに実装されることを特徴とするマイクロ
Gスイッチ。
10. The micro G switch according to claim 7, wherein each switch pad is directly mounted on a conductive portion of a substrate on which the switch is mounted.
【請求項11】SOI半導体基板を微細加工して得られ
るビームと可動マス、前記可動マスはビームで支持され
可動マスに設けた可動接点、前記可動接点に対向して半
導体基板に設けた固定接点よりなり、前記SOI半導体
基板上に陽極接合して得られる気密空間内にビーム,可
動マス,可動接点及び固定接点を配置したことを特徴と
するマイクロGスイッチ。
11. A beam and a movable mass obtained by finely processing an SOI semiconductor substrate, a movable contact provided on the movable mass, the movable mass being supported by the beam, and a fixed contact provided on the semiconductor substrate facing the movable contact. And a beam, a movable mass, a movable contact and a fixed contact arranged in an airtight space obtained by anodic bonding on the SOI semiconductor substrate.
【請求項12】請求項11において、可動マスは少なく
とも一本以上のビームで支持され、可動接点と固定接点
は少なくとも一組以上あることを特徴とするマイクロG
スイッチ。
12. The micro G according to claim 11, wherein the movable mass is supported by at least one beam, and the movable contact and the fixed contact are at least one set.
switch.
【請求項13】請求項12において、可動マスあるいは
固定接点を設けた部分の半導体基板の形状が櫛歯状にな
っていることを特徴とするマイクロGスイッチ。
13. The micro G switch according to claim 12, wherein the shape of the semiconductor substrate at the portion where the movable mass or the fixed contact is provided is comb-shaped.
【請求項14】請求項12または13において、半導体
基板を微細加工して自己診断用の電極を設けたことを特
徴とするマイクロGスイッチ。
14. A micro G switch according to claim 12, wherein a semiconductor substrate is finely processed to provide electrodes for self-diagnosis.
【請求項15】請求項12または13において、半導体
基板を微細加工してプリバイアス用の電極を設けたこと
を特徴とするマイクロGスイッチ。
15. A micro G switch according to claim 12, wherein a semiconductor substrate is microfabricated to provide electrodes for pre-bias.
【請求項16】請求項11から15のいずれかにおい
て、可動接点および固定接点がAu,Pt,Pdなどの
高融点金属材料で構成されていることを特徴とするマイ
クロGスイッチ。
16. A micro G switch according to claim 11, wherein the movable contact and the fixed contact are made of a refractory metal material such as Au, Pt or Pd.
【請求項17】エアバッグシステムのインフレータを点
火する半導体式のパワー素子部,マイクロGスイッチ部
および自動車の衝突信号と前記マイクロGスイッチがオ
ン状態のとき前記インフレータを点火させる信号処理回
路部を半導体基板上に一体に集積化したことを特徴とす
るエアバッグシステム用集積化点火デバイス。
17. A semiconductor type power element section for igniting an inflator of an airbag system, a micro G switch section, and a signal processing circuit section for igniting the inflator when a collision signal of an automobile and the micro G switch is in an ON state. An integrated ignition device for an airbag system, characterized by being integrated on a substrate.
【請求項18】請求項17において、半導体基板上に接
合された部材によってパワー素子部,マイクロGスイッ
チ部及び信号処理回路部が気密空間内に保持されること
を特徴とする集積化点火デバイス。
18. The integrated ignition device according to claim 17, wherein the power element section, the micro G switch section and the signal processing circuit section are held in an airtight space by a member bonded on the semiconductor substrate.
【請求項19】請求項17または18において、スイッ
チ部を流れる電流を制限する機能を前記半導体基板へ設
けたことを特徴とするマイクロGスイッチ。
19. The micro G switch according to claim 17, wherein the semiconductor substrate has a function of limiting a current flowing through the switch portion.
【請求項20】請求項17または18において、見掛け
上のスイッチオン状態の持続時間を確保する機能を前記
半導体基板へ設けたことを特徴とするマイクロGスイッ
チ。
20. The micro G switch according to claim 17, wherein the semiconductor substrate is provided with a function of ensuring the duration of an apparent switch-on state.
【請求項21】請求項1において、ビームと可動マスの
間に、第2の可動マスと第2のビームを配置したことを
特徴とするマイクロGスイッチ。
21. The micro G switch according to claim 1, wherein a second movable mass and a second beam are arranged between the beam and the movable mass.
【請求項22】ビームで支持された可動ゲートより構成
されるマイクロGスイッチとパワー素子を半導体基板上
に集積化し、前記半導体基板上に接合した部材で前記マ
イクロGスイッチ部とパワー素子部を気密空間内に保持
したことを特徴とする集積化マイクロGスイッチ。
22. A micro G switch composed of a movable gate supported by a beam and a power element are integrated on a semiconductor substrate, and the member bonded to the semiconductor substrate hermetically seals the micro G switch section and the power element section. An integrated micro G switch characterized by being held in space.
【請求項23】シリコンを微細加工して得られるビーム
と可動マス、前記可動マスの一部に設けた可動接点、前
記可動接点に対向して半導体基板上に設けた固定接点、
前記半導体基板に形成したMOSスイッチよりなり、前
記固定接点が前記MOSスイッチのゲート電極と電気的
に接続されていることを特徴とするマイクロGスイッ
チ。
23. A beam obtained by finely processing silicon, a movable mass, a movable contact provided on a part of the movable mass, a fixed contact provided on the semiconductor substrate so as to face the movable contact,
A micro G switch comprising a MOS switch formed on the semiconductor substrate, wherein the fixed contact is electrically connected to a gate electrode of the MOS switch.
【請求項24】シリコンを微細加工して得られるビーム
と可動マス、前記可動マスに対向して半導体基板上に設
けた固定電極、前記半導体基板に形成したMOSスイッ
チよりなり、前記固定電極が前記MOSスイッチのゲー
ト電極と電気的に接続されていることを特徴とするマイ
クロGスイッチ。
24. A beam and a movable mass obtained by finely processing silicon, a fixed electrode provided on a semiconductor substrate facing the movable mass, and a MOS switch formed on the semiconductor substrate, wherein the fixed electrode is the A micro G switch which is electrically connected to a gate electrode of a MOS switch.
【請求項25】シリコンを微細加工して得られるビーム
と可動マス、前記可動マスに対向してSOI基板の支持
基板中へ拡散した領域、前記支持基板に形成したMOS
スイッチよりなり、前記拡散領域が前記MOSスイッチ
のゲート電極と電気的に接続されていることを特徴とす
るマイクロGスイッチ。
25. A beam obtained by finely processing silicon, a movable mass, a region opposed to the movable mass, diffused into a supporting substrate of an SOI substrate, and a MOS formed on the supporting substrate.
A micro G switch comprising a switch, wherein the diffusion region is electrically connected to a gate electrode of the MOS switch.
【請求項26】セラミックスパッケージ内に半導体式ク
ラッシュセンサと共にマイクロGスイッチ部を気密に実
装したことを特徴とする複合化マイクロGスイッチ。
26. A composite micro G switch, characterized in that a semiconductor type crash sensor and a micro G switch part are hermetically mounted in a ceramic package.
【請求項27】同一のシリコン板へ半導体式クラッシュ
センサとマイクロGスイッチを集積化したことを特徴と
する複合化マイクロGスイッチ。
27. A composite micro G switch characterized in that a semiconductor crash sensor and a micro G switch are integrated on the same silicon plate.
【請求項28】同一のシリコン板へ半導体式クラッシュ
センサ,マイクロGスイッチ及びパワー素子を集積化し
たことを特徴とする複合化マイクロGスイッチ。
28. A composite micro G switch comprising a semiconductor crash sensor, a micro G switch and a power element integrated on the same silicon plate.
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999042843A1 (en) * 1998-02-19 1999-08-26 Akebono Brake Industry Co., Ltd. Semiconductor acceleration sensor and self-diagnosis thereof
WO2001092896A1 (en) * 2000-05-29 2001-12-06 Kabushiki Kaisha Tokai Rika Denki Seisakusho Acceleration switch
US6483395B2 (en) 2000-03-16 2002-11-19 Nec Corporation Micro-machine (MEMS) switch with electrical insulator
JP2003530234A (en) * 2000-04-07 2003-10-14 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング Micromechanical structure element and corresponding manufacturing method
EP1596407A1 (en) * 2004-05-13 2005-11-16 Motorola, Inc. Acceleration switch
KR20080001241A (en) * 2006-06-29 2008-01-03 삼성전자주식회사 Mems switch and manufacturing method thereof
JP2008203278A (en) * 2008-06-02 2008-09-04 Tokyo Electron Ltd Method for manufacturing acceleration sensor
JP2012002560A (en) * 2010-06-15 2012-01-05 Denso Corp Dynamic quantity sensor
CN108469535A (en) * 2018-03-26 2018-08-31 温州大学 Micro-acceleration gauge based on Electrostatic Absorption effect

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0997737A1 (en) * 1998-02-19 2000-05-03 Akebono Brake Industry Co., Ltd. Semiconductor acceleration sensor and self-diagnosis thereof
US6230564B1 (en) 1998-02-19 2001-05-15 Akebono Brake Industry Co., Ltd. Semiconductor acceleration sensor and its self-diagnosing method
WO1999042843A1 (en) * 1998-02-19 1999-08-26 Akebono Brake Industry Co., Ltd. Semiconductor acceleration sensor and self-diagnosis thereof
EP0997737A4 (en) * 1998-02-19 2002-04-03 Akebono Brake Ind Semiconductor acceleration sensor and self-diagnosis thereof
US6483395B2 (en) 2000-03-16 2002-11-19 Nec Corporation Micro-machine (MEMS) switch with electrical insulator
JP2003530234A (en) * 2000-04-07 2003-10-14 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング Micromechanical structure element and corresponding manufacturing method
WO2001092896A1 (en) * 2000-05-29 2001-12-06 Kabushiki Kaisha Tokai Rika Denki Seisakusho Acceleration switch
US6797899B2 (en) 2000-05-29 2004-09-28 Kabushiki Kaisha Tokai Rika Denki Seisakusho Acceleration switch
EP1596407A1 (en) * 2004-05-13 2005-11-16 Motorola, Inc. Acceleration switch
KR20080001241A (en) * 2006-06-29 2008-01-03 삼성전자주식회사 Mems switch and manufacturing method thereof
JP2008203278A (en) * 2008-06-02 2008-09-04 Tokyo Electron Ltd Method for manufacturing acceleration sensor
JP2012002560A (en) * 2010-06-15 2012-01-05 Denso Corp Dynamic quantity sensor
CN108469535A (en) * 2018-03-26 2018-08-31 温州大学 Micro-acceleration gauge based on Electrostatic Absorption effect
CN108469535B (en) * 2018-03-26 2020-04-24 温州大学 Micro-accelerometer based on electrostatic adsorption effect

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