JPH09243694A - Method for testing impulse of transformer for rectifier with built-in reactor - Google Patents

Method for testing impulse of transformer for rectifier with built-in reactor

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Publication number
JPH09243694A
JPH09243694A JP8047839A JP4783996A JPH09243694A JP H09243694 A JPH09243694 A JP H09243694A JP 8047839 A JP8047839 A JP 8047839A JP 4783996 A JP4783996 A JP 4783996A JP H09243694 A JPH09243694 A JP H09243694A
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JP
Japan
Prior art keywords
voltage
reactor
iron core
test
impulse
Prior art date
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Pending
Application number
JP8047839A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akira Matsuyama
亮 松山
Osamu Hataya
修 幡谷
Motoo Wada
元生 和田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Priority to JP8047839A priority Critical patent/JPH09243694A/en
Publication of JPH09243694A publication Critical patent/JPH09243694A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Testing Relating To Insulation (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To immediately determine whether or not a defect exists in a device to be inspected by applying test voltage with a voltage adjusting reactor grounded via a resistor. SOLUTION: A transformer for a rectifier comprises a primary coil T and a secondary coil (t), wherein a voltage adjusting reactor VCR is connected in series with the secondary coil (t), and its output terminal to , is grounded via a resistor R. Since magnitude of current flowing in the voltage adjusting reactor VCR is limited by the resistor R, an iron core F may not be saturated, and waveforms of IR observed by a current shunt S may not change due to magnitude of impulse voltage. As a result, whether or not a defect exists in the transformer for rectifier can be immediately and correctly determined.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【発明の属する技術分野】この発明は、交流−直流変換
装置に用いられる整流器用変圧器のインパルス試験方法
に関し、とくに、装置が正常なときは電流波形に変歪が
生じない試験方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an impulse test method for a rectifier transformer used in an AC / DC converter, and more particularly to a test method for preventing distortion of a current waveform when the apparatus is normal.

【従来の技術】交流−直流変換装置は、整流器用変圧器
と整流器とにより構成され、整流器用変圧器は、電源側
の交流高電圧を直流側で必要な低電圧に変換し、この低
電圧を電圧調整リアクトルを介して整流器に出力するも
のである。この整流器用変圧器の出力を受けて、整流器
が直流に変換して負荷側へ出力する。整流器用変圧器
は、交流側の一次巻線と直流側の二次巻線とを備え、二
次巻線には電圧調整リアクトルが接続されている。この
電圧調整リアクトルには制御巻線が備られ、整流器側へ
の出力電圧の微調整がなされる。整流器用変圧器は高電
圧機器なので、整流器とは分離され、電圧調整リアクト
ルを含めた状態でインパルス試験などの高電圧絶縁試験
が行われる。図13と図14とは、従来のリアクトル内
蔵形整流器用変圧器のインパルス試験方法を示す試験回
路図であり、図13に一次巻線側の試験回路図を、図1
4に二次巻線側および電圧調整リアクトルの試験回路図
が示されている。この回路図を用いて、整流器用変圧器
の巻線構成と試験方法とを説明する。図13において、
整流器用変圧器が2つの一次巻線T1,T2を備え、そ
れぞれの一次巻線T1,T2は星形に結線されるととも
に、各端子1U,1V,1W同士が接続されている。ま
た、図14において、二次巻線t3,t4は一次巻線T
1に対応する巻線であり、三角結線されている。一方、
二次巻線t1,t2は一次巻線T2に対応する巻線であ
り、星形結線されている。二次巻線t1ないしt4の各
端子u1,v1,w1,・・・には、それぞれ2台の電
圧調整リアクトルVCRが接続され、合計24個の出力
端子t0が設けられている。この端子t0のそれぞれに
図示されていない整流器が接続される。二次巻線の各端
子に2台の電圧調整リアクトルVCRが接続されてある
のは、端子t0に整流素子をそれぞれ向きを変えて接続
するためのものである。例えば、電圧調整リアクトルV
CRの一方にある整流素子のカソード側が接続され、他
方が別の整流素子のアノード側が接続される。また、図
14において、電圧調整リアクトルVCRは、円筒状の
鉄心の内部をその軸方向に主導体が貫通したものであ
る。主導体の一方端が二次巻線t1ないしt4の各端子
に接続され、主導体の他方端が出力端子t0に接続され
ている。なお、図14では図示されていないが、電圧調
整リアクトルVCRの鉄心にそれぞれ制御巻線が巻回さ
れている。インパルス試験においては、図13のように
一次巻線T1,T2の端子1Uに負極性のインパルス電
圧Vが印加され、一次巻線T1,T2の端子1Vと1W
が接地される。端子1V,1Wと接地Eとの間に電流シ
ャントSが介装され、インパルス試験電圧Vの印加時に
流れる電流波形が観測される。図13の試験回路は、イ
ンパルス試験における一例であり、端子1V,1Wにも
同様にして他の端子を接地してインパルス試験電圧Vが
印加される。また、各試験においては正極性のインパル
ス試験電圧Vも印加される。一方、二次巻線t1ないし
t4側は、図14のように出力端子t0でそれぞれ接地
される。図15は、図13および図14の回路をまとめ
て示した試験回路図である。整流器用変圧器である供試
器TRの端子1Uに負極性のインパルス試験電圧Vが印
加され、端子1Vと1Wが電流シャントSを介して接地
されている。一方、24個の出力端子t0の内、12個
が接地されている。出力端子t0には、u1P,u3
P,・・などの記号が符されている。この記号は、第1
文字と第2文字とで二次巻線の端子を示し、第3文字で
整流素子を向きを示す。第3文字がPならば、その出力
端子t0に整流素子のアノード側が接続され、第3文字
がNならば、その出力端子t0に整流素子のカソード側
が接続される。例えば、記号u1Pは、二次巻線t1の
端子u1が電圧調整リアクトルVCRを介して整流素子
のアノード側に接続される。図15の試験回路におい
て、インパルス試験電圧Vが印加されたときに、電流シ
ャントSにより電流波形が観測されることは前述された
が、同時に、インパルス試験電圧Vの電圧波形も図示さ
れていない観測装置によって観測される。インパルス試
験は、きめられた波高値をもった規定電圧に供試器が耐
えるか否かを調べる試験である。供試器が絶縁破壊すれ
ば、通常は異常音が聞こえたり、電圧波形が途中で零に
変化するので、供試器が規定電圧に耐えたか否かを知る
ことができる。しかし、供試器の内部が部分的に絶縁破
壊しただけの場合は、異常音も聞こえず、また、電圧波
形も全く変化しないことがある。そのために、インパル
ス試験では、規定電圧を印加する前に、規定電圧より低
い低減電圧を予め印加する。低減電圧と規定電圧の印加
において流れる電流波形を互いに比較することが行われ
る。供試器が正常ならば、両者の電流波形には変化がな
い(電流レベルは異なる)が、内部に部分的な絶縁破壊
が発生すると電流波形が互いに異なってくるので供試器
の故障の有無を知ることができる。これは、部分的な絶
縁破壊が発生すると、内部回路におけるインピーダンス
が急変するためである。
2. Description of the Related Art An AC-DC converter is composed of a rectifier transformer and a rectifier. The rectifier transformer converts an AC high voltage on the power supply side into a low voltage required on the DC side, and this low voltage. Is output to the rectifier via the voltage adjustment reactor. Upon receiving the output of the rectifier transformer, the rectifier converts it into direct current and outputs it to the load side. The rectifier transformer includes an AC-side primary winding and a DC-side secondary winding, and a voltage adjustment reactor is connected to the secondary winding. The voltage adjustment reactor is equipped with a control winding, and the output voltage to the rectifier side is finely adjusted. Since the rectifier transformer is a high-voltage device, it is separated from the rectifier, and a high-voltage insulation test such as an impulse test is performed with the voltage adjustment reactor included. 13 and 14 are test circuit diagrams showing a conventional impulse test method for a transformer for a built-in reactor rectifier. FIG. 13 is a test circuit diagram of the primary winding side.
4 shows a test circuit diagram of the secondary winding side and the voltage adjustment reactor. The winding configuration of the rectifier transformer and the test method will be described with reference to this circuit diagram. In FIG.
The rectifier transformer includes two primary windings T1 and T2, and the respective primary windings T1 and T2 are connected in a star shape, and the terminals 1U, 1V and 1W are connected to each other. Further, in FIG. 14, the secondary windings t3 and t4 are primary windings T
It is a winding wire corresponding to 1 and is connected in a triangular shape. on the other hand,
The secondary windings t1 and t2 are windings corresponding to the primary winding T2 and are star-connected. Two voltage adjusting reactors VCR are respectively connected to the terminals u1, v1, w1, ... Of the secondary windings t1 to t4, and a total of 24 output terminals t0 are provided. A rectifier (not shown) is connected to each of the terminals t0. Two voltage adjusting reactors VCR are connected to the respective terminals of the secondary winding for connecting the rectifying elements to the terminal t0 in different directions. For example, the voltage adjustment reactor V
The cathode side of the rectifying element in one of the CRs is connected, and the other side is connected to the anode side of the other rectifying element. Further, in FIG. 14, the voltage adjustment reactor VCR is one in which a main conductor penetrates the inside of a cylindrical iron core in the axial direction thereof. One end of the main conductor is connected to each terminal of the secondary windings t1 to t4, and the other end of the main conductor is connected to the output terminal t0. Although not shown in FIG. 14, control windings are wound around the iron core of the voltage adjustment reactor VCR. In the impulse test, as shown in FIG. 13, a negative impulse voltage V is applied to the terminals 1U of the primary windings T1 and T2, and the terminals 1V and 1W of the primary windings T1 and T2 are applied.
Is grounded. A current shunt S is interposed between the terminals 1V and 1W and the ground E, and a current waveform flowing when the impulse test voltage V is applied is observed. The test circuit of FIG. 13 is an example of an impulse test, and the terminals 1V and 1W are similarly grounded at the other terminals and the impulse test voltage V is applied. In each test, a positive impulse test voltage V is also applied. On the other hand, the secondary windings t1 to t4 are grounded at the output terminal t0 as shown in FIG. FIG. 15 is a test circuit diagram collectively showing the circuits of FIGS. 13 and 14. A negative impulse test voltage V is applied to the terminal 1U of the tester TR, which is a rectifier transformer, and the terminals 1V and 1W are grounded via the current shunt S. On the other hand, of the 24 output terminals t0, 12 are grounded. U1P and u3 are connected to the output terminal t0.
Symbols such as P, ... Are marked. This symbol is the first
The letter and the second letter indicate the terminals of the secondary winding, and the third letter indicates the direction of the rectifying element. If the third character is P, the output terminal t0 is connected to the anode side of the rectifying element, and if the third character is N, the output terminal t0 is connected to the cathode side of the rectifying element. For example, in the symbol u1P, the terminal u1 of the secondary winding t1 is connected to the anode side of the rectifying element via the voltage adjustment reactor VCR. In the test circuit of FIG. 15, it has been described above that the current waveform is observed by the current shunt S when the impulse test voltage V is applied, but at the same time, the voltage waveform of the impulse test voltage V is also not shown. Observed by the device. The impulse test is a test for checking whether or not the EUT can withstand a specified voltage having a specified peak value. When the EUT has a dielectric breakdown, an abnormal sound is usually heard and the voltage waveform changes to zero on the way, so that it is possible to know whether the EUT has withstood the specified voltage. However, if the inside of the EUT is only partially broken down, no abnormal sound is heard and the voltage waveform may not change at all. Therefore, in the impulse test, a reduced voltage lower than the specified voltage is applied in advance before the specified voltage is applied. The waveforms of the currents that flow when the reduced voltage and the specified voltage are applied are compared with each other. If the EUT is normal, there is no change in both current waveforms (the current levels are different), but if partial internal breakdown occurs, the current waveforms will be different from each other. You can know. This is because the impedance in the internal circuit changes abruptly when partial insulation breakdown occurs.

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
たような従来の方法は、供試器が正常であっても低減電
圧と規定電圧との電流波形が同じにならない場合があ
り、供試器故障の判定が困難になるという問題があっ
た。すなわち、供試器が正常であっても、インパルス試
験電圧を何度も印加しているうちに電流波形が変化し、
あたかも供試器が故障したかのように判定される場合が
あった。図16は、従来のインパルス試験方法による電
圧・電流波形図であり、それぞれ(A)は低減電圧印加
時の波形、(B)と(C)と(D)は規定電圧印加時の
波形である。図15の試験回路において、(1×50)
μsの負極性標準雷インパルスの試験電圧Vが印加され
た。各図において、上段の波形が印加された電圧波形と
その電圧の基線(零ライン)であり、下段の波形が電流
シャントS(図15)で観測された電流波形とその電流
の基線である。初めに、低減電圧を印加し、次に規定電
圧を順次繰り返して複数回印加した。(A)が初めに低
減電圧が印加されたときに観測されたものであり、
(B),(C),(D)が、それぞれ規定電圧の印加の
順に観測されたものである。図16において、(A)と
(B)とは、電流波形が互いに同じであるが、(B),
(C),(D)となるにしたがって、電流波形に変化が
見られる。これでは、供試器が故障したか否かを判定す
ることができない。このような場合、供試器を分解して
内部が損傷されていないかを調べたり、交流電圧を印加
して供試器が正常か否を調べることなどがなされ、合否
の判定に時間がかかったり、正確な判定ができなかった
りしていた。この発明の目的は、供試器が正常な場合は
必ず低減電圧の電流波形と規定電圧の電流波形とが同じ
になる試験方法を提供することにある。
However, in the conventional method as described above, the current waveforms of the reduced voltage and the specified voltage may not be the same even if the EUT is normal, and the EUT malfunctions. There is a problem that it becomes difficult to judge. That is, even if the EUT is normal, the current waveform changes as the impulse test voltage is repeatedly applied,
In some cases, it was judged as if the EUT failed. FIG. 16 is a voltage / current waveform diagram according to a conventional impulse test method. (A) is a waveform when a reduced voltage is applied, and (B), (C) and (D) are waveforms when a specified voltage is applied. . In the test circuit of FIG. 15, (1 × 50)
A test voltage V of negative standard lightning impulse of μs was applied. In each figure, the upper waveform is the applied voltage waveform and the baseline (zero line) of the voltage, and the lower waveform is the current waveform observed in the current shunt S (FIG. 15) and its current baseline. First, the reduced voltage was applied, and then the specified voltage was sequentially repeated and applied multiple times. (A) is what was observed when the reduced voltage was first applied,
(B), (C), and (D) are observed in the order of application of the specified voltage. In FIG. 16, (A) and (B) have the same current waveform, but (B),
A change is seen in the current waveform as (C) and (D). This makes it impossible to determine whether or not the EUT has failed. In such a case, disassembling the EUT to check whether the inside is damaged or applying an AC voltage to check whether the EUT is normal or not is done, and it takes time to judge whether the test is successful or not. Or, it was not possible to make an accurate judgment. An object of the present invention is to provide a test method in which the current waveform of the reduced voltage and the current waveform of the specified voltage are always the same when the EUT is normal.

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明の方法によれば、一次巻線を交流側の巻線
とするとともに、二次巻線を直流側の巻線とし、二次巻
線の出力端が電圧調整リアクトルを介して整流器に接続
され、電圧調整リアクトルの鉄心に制御巻線が巻回され
てなるリアクトル内蔵形整流器用変圧器のインパルス試
験方法であって、二次巻線が電圧調整リアクトルを介し
て接地され、一次巻線の他方端が接地された状態で一次
巻線の一方端にインパルスの試験電圧が印加される方法
において、電圧調整リアクトルの鉄心を飽和させない状
態で試験電圧を印加することとするとよい。その理由を
次に示す。供試器が正常な場合でも、低減電圧の電流波
形と規定電圧の電流波形とが同じにならないのは、電圧
調整リアクトルの鉄心が飽和するためであることが分か
った。図17は、従来の試験回路(図15)の原理図で
ある。この図は、図15の試験回路を簡潔に等価回路的
に示したものである。整流器用変圧器が一次巻線Tと二
次巻線tとにより構成され、二次巻線tに直列に電圧調
整リアクトルVCRが接続されている。二次巻線tの各
端子は全て電圧調整リアクトルVCRを介して接地され
ているので、二次巻線Tの両端は、等価回路的には電圧
調整リアクトルVCRを介して短絡されている。図17
において、一次巻線Tの端子1Uと接地Eとの間にイン
パルス試験電圧Vが印加され、電流シャントSによっ
て、そこを流れる電流Iが観測される。この電流Iによ
って二次巻線tに電圧が誘起され、出力端子t0を介し
て接地された電圧調整リアクトルVCRに電流I1が流
れるようになる。図18は、従来の試験回路による電圧
調整リアクトルの鉄心の磁気状態を示す特性図である。
実線Mは、電圧調整リアクトル鉄心自体の特性であり、
正極側では点Q1で、負極側では点Q2でそれぞれ飽和
している。図18において、電圧調整リアクトルの鉄心
F(図17)は、試験の開始前は、その磁気状態が原点
Oにある。鉄心Fが電流I1で磁化されると、その磁気
状態が点線M1で示す経路を辿る。その場合、電流I1
の大きさによって、鉄心Fの磁気状態に二つのケースが
考えられる。第一のケースは、鉄心Fが点Pまで磁化さ
れた場合である。その場合は、電流I1が零になると、
鉄心Fの磁気状態は点P1の位置に来て残留磁気が残っ
たままになる。また、第二のケースは、鉄心Fが点Q1
を超えて飽和領域Qまで磁化された場合である。その場
合は、電流I1が零になると、鉄心Fの磁気状態は点P
2の位置に来て残留磁気が残る。第一のケースでは、磁
気特性が点線M1のようにほぼ線形なので、電流Iの波
形に変化は見られず問題は起きない。しかし、第二のケ
ースでは、点Q1から鉄心Fが飽和するので、電圧調整
リアクトルVCRのインピーダンスが変化し、電流Iの
波形が変化する。例えば、第一のケースが低減電圧Vの
印加に相当し、第二のケースが規定電圧Vの印加に相当
すると仮定すると、観測される電流波形が互いに異な
り、供試器が正常であっても内部に故障が生じたのでは
ないかと疑われてしまう。また、第一のケースが規定電
圧Vの印加に相当する場合であっても、次の試験電圧V
の印加は、点P1の残留磁気が残ったところから始まる
ので、電圧Vを数回も印加すると、鉄心Fが飽和領域Q
まで磁化され電流波形が変化する可能性がある。発明者
らは、上記のことから、電圧調整リアクトルの鉄心を飽
和させない状態で試験電圧を印加する方法を用いると、
供試器が正常な場合は必ず低減電圧の電流波形と規定電
圧の電流波形とが同じになることを発見した。図1は、
この発明の方法を説明するための電圧調整リアクトルの
鉄心の磁気状態を示す特性図である。横軸および縦軸の
目盛りは図18と同じであり、実線Mは電圧調整リアク
トルの鉄心自体の特性である。上述の方法は、この実線
Mの磁気特性において、点線M2で示す経路を辿る未飽
和領域B0以内に鉄心の磁束を必ず抑えることである。
鉄心を飽和させないようにするためには、電圧調整リア
クトルの鉄心の磁束密度を下げる方法があるが、これで
は鉄心が太くなり、電圧調整リアクトルの体格が大きく
なってしまう。鉄心の磁束密度を下げないで電圧調整リ
アクトルの鉄心を飽和させない方法として、二次巻線を
電圧調整リアクトルと抵抗とを介して接地した状態で試
験電圧を印加する方法を発明者らが発見した。図2は、
この発明の方法を説明するための抵抗が介装されて行わ
れる試験回路の原理図である。電圧調整リアクトルVC
Rの出力端子t0が抵抗Rを介して接地されている。そ
の他の構成は、図17と同じであるので、同じ部分には
同一参照符号を付け詳細な説明をここで繰り返すことは
省略する。電圧調整リアクトルVCRを流れる電流I2
の大きさが、抵抗Rによって制限されるので鉄心Fが飽
和することがなくなり、電流シャントSによって観測さ
れる電流IRの波形がインパルス電圧の大きさによって
変化することがなくなる。このように、インパルス試験
のときだけ抵抗を挿入することによって、電圧調整リア
クトルに流れる電流を抑制し、鉄心が飽和しないように
することができる。また、電圧調整リアクトルの鉄心を
飽和させない別の方法として、電圧調整リアクトルの鉄
心に試験電圧で磁化される極性とは逆極性の飽和磁界を
与えた後、一旦前記鉄心の磁界を零に戻し、これに続け
て試験電圧を印加する方法も発明者らが発見した。図3
は、この発明の方法を説明するための電圧調整リアクト
ルの鉄心の磁気状態を示す特性図である。横軸および縦
軸の目盛りは図1と同じであり、実線Mは電圧調整リア
クトルの鉄心自体の特性である。上述の方法は、この実
線Mの磁気特性において、電圧調整リアクトルの鉄心を
負極性側に一旦磁化させ、磁気状態を実線M3を辿って
負極性側で飽和する点Q2の位置にまで至らす。そこ
で、電流を零にし、磁気状態を実線M4を辿らせて点P
3の位置に至らす。磁気状態が点P3にあるときにイン
パルス試験を行えば、点線M2に沿った未飽和領域B0
の幅全体を使うことができる。例えば、低減電圧または
規定電圧の印加によってそれぞれ領域B1,B2が使わ
れても、未飽和領域B0の幅が広いので電流波形が変化
することはない。かかる方法において、試験電圧印加の
度に逆極性の飽和磁界を与えることとするとよい。試験
電圧レベルによっては、数回のインパルス試験電圧を続
けて印加しても構わない。要は、その試験において鉄心
の磁気状態が未飽和領域B0以内にあれば構わない。し
かし、試験電圧印加の度に何時も鉄心の磁気状態を図3
の点P3の状態に戻しておけば、未飽和領域B0を点P
3から全幅いっぱいに使うことができ、鉄心が飽和領域
にかかってしまうような試験の失敗がなくなり、再試験
と言う無駄な時間を節約することができる。電圧調整リ
アクトルの鉄心に逆極性の飽和磁界を与える一つの方法
として、試験電圧の極性とは逆極性のインパルス電圧を
一次巻線の一方端に印加するとよい。また、電圧調整リ
アクトルの鉄心に逆極性の飽和磁界を与える別の方法と
して、制御巻線に直流電流を流してもよい。また、この
発明の別の方法によれば、一次巻線を交流側の巻線とす
るとともに、二次巻線を直流側の巻線とし、二次巻線の
出力端が電圧調整リアクトルを介して整流器に接続さ
れ、電圧調整リアクトルの鉄心に制御巻線が巻回されて
なるリアクトル内蔵形整流器用変圧器のインパルス試験
方法であって、電圧調整リアクトルの鉄心を試験電圧で
磁化される極性と同じ極性の側に飽和させた状態で試験
電圧を印加することとするとよい。その理由を次に示
す。図4は、この発明のさらに別の方法を説明するため
の電圧調整リアクトルの鉄心の磁気状態を示す特性図で
ある。横軸および縦軸の目盛りは図1と同じであり、実
線Mは電圧調整リアクトルの鉄心自体の特性である。上
述の方法は、この実線Mの磁気特性において、点Q1よ
りさらに磁化させ、点線M5に沿った範囲、すなわち、
飽和領域H0内に鉄心の磁化状態を常に維持しておく方
法である。この飽和領域H0内ならば、電圧調整リアク
トルのインピーダンスが変化することはなく、観測され
る電流波形が低減電圧の場合と規定電圧の場合とで変化
することはなくなる。鉄心の磁化状態を飽和領域H0内
に維持するためには、鉄心の飽和用の巻線を予め巻回し
ておく方法もあるが、既に配されている制御巻線に直流
電流を試験中、常時流せば鉄心を飽和状態におくことが
できる。
In order to achieve the above object, according to the method of the present invention, the primary winding is an AC side winding, and the secondary winding is a DC side winding. An impulse test method for a reactor built-in rectifier transformer, in which the output terminal of the secondary winding is connected to a rectifier via a voltage adjustment reactor, and the control winding is wound around the iron core of the voltage adjustment reactor. Saturate the core of the voltage adjustment reactor in the method in which the secondary winding is grounded via the voltage adjustment reactor, and the impulse test voltage is applied to one end of the primary winding with the other end of the primary winding grounded. It is advisable to apply the test voltage in a state in which the test voltage is not applied. The reason is as follows. It was found that the current waveform of the reduced voltage and the current waveform of the specified voltage do not become the same even when the EUT is normal because the iron core of the voltage adjustment reactor is saturated. FIG. 17 is a principle diagram of a conventional test circuit (FIG. 15). This diagram is a simplified equivalent circuit diagram of the test circuit of FIG. The rectifier transformer is composed of a primary winding T and a secondary winding t, and a voltage adjusting reactor VCR is connected in series to the secondary winding t. Since all terminals of the secondary winding t are grounded via the voltage adjusting reactor VCR, both ends of the secondary winding T are short-circuited via the voltage adjusting reactor VCR in terms of an equivalent circuit. FIG.
In, the impulse test voltage V is applied between the terminal 1U of the primary winding T and the ground E, and the current I flowing through the current shunt S is observed. A voltage is induced in the secondary winding t by this current I, and the current I1 flows through the voltage adjustment reactor VCR grounded via the output terminal t0. FIG. 18 is a characteristic diagram showing a magnetic state of the iron core of the voltage adjustment reactor according to the conventional test circuit.
The solid line M is the characteristic of the voltage adjustment reactor core itself,
The positive side is saturated at point Q1 and the negative side is saturated at point Q2. In FIG. 18, the magnetic state of the iron core F (FIG. 17) of the voltage adjustment reactor is at the origin O before the start of the test. When the iron core F is magnetized by the current I1, its magnetic state follows the path indicated by the dotted line M1. In that case, the current I1
There are two cases in the magnetic state of the iron core F depending on the size of. The first case is when the iron core F is magnetized to the point P. In that case, when the current I1 becomes zero,
The magnetic state of the iron core F comes to the position of the point P1 and the residual magnetism remains. In the second case, the iron core F has a point Q1.
This is the case where the magnetization is performed up to the saturation region Q. In that case, when the current I1 becomes zero, the magnetic state of the iron core F changes to the point P.
The residual magnetism remains at the position 2. In the first case, since the magnetic characteristic is almost linear as indicated by the dotted line M1, no change is seen in the waveform of the current I and no problem occurs. However, in the second case, since the iron core F is saturated from the point Q1, the impedance of the voltage adjustment reactor VCR changes and the waveform of the current I changes. For example, assuming that the first case corresponds to the application of the reduced voltage V and the second case corresponds to the application of the specified voltage V, the observed current waveforms are different from each other, and the test device is normal. It is suspected that an internal failure has occurred. Even if the first case corresponds to the application of the specified voltage V, the next test voltage V
Since the application of the voltage starts from the point where the residual magnetism at the point P1 remains, if the voltage V is applied several times, the iron core F becomes the saturation region Q.
May be magnetized and the current waveform may change. From the above, the inventors use the method of applying the test voltage in a state in which the iron core of the voltage adjustment reactor is not saturated,
It was discovered that the current waveform of the reduced voltage and the current waveform of the specified voltage are always the same when the EUT is normal. FIG.
It is a characteristic view which shows the magnetic state of the iron core of the voltage adjustment reactor for demonstrating the method of this invention. The scales on the horizontal axis and the vertical axis are the same as those in FIG. 18, and the solid line M represents the characteristics of the iron core itself of the voltage adjustment reactor. The above-described method is to suppress the magnetic flux of the iron core within the unsaturated region B0 that follows the path indicated by the dotted line M2 in the magnetic characteristic of the solid line M without fail.
In order to prevent the iron core from being saturated, there is a method of lowering the magnetic flux density of the iron core of the voltage adjusting reactor, but this makes the iron core thick and the physique of the voltage adjusting reactor becomes large. As a method of not saturating the iron core of the voltage adjustment reactor without lowering the magnetic flux density of the iron core, the inventors have found a method of applying a test voltage with the secondary winding being grounded via the voltage adjustment reactor and a resistor. . FIG.
FIG. 6 is a principle diagram of a test circuit performed by interposing a resistor for explaining the method of the present invention. Voltage adjustment reactor VC
The R output terminal t0 is grounded via a resistor R. Since other configurations are the same as those in FIG. 17, the same parts are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will not be repeated here. Current I2 flowing through voltage regulator reactor VCR
Is limited by the resistance R, the iron core F is not saturated, and the waveform of the current IR observed by the current shunt S is not changed by the magnitude of the impulse voltage. In this way, by inserting the resistance only during the impulse test, the current flowing through the voltage adjusting reactor can be suppressed and the iron core can be prevented from being saturated. Further, as another method of not saturating the iron core of the voltage adjustment reactor, after applying a saturation magnetic field having a polarity opposite to the polarity magnetized by the test voltage to the iron core of the voltage adjustment reactor, once returning the magnetic field of the iron core to zero, The inventors have also found a method of applying a test voltage subsequently to this. FIG.
FIG. 4 is a characteristic diagram showing a magnetic state of an iron core of a voltage adjustment reactor for explaining the method of the present invention. The scales of the horizontal axis and the vertical axis are the same as in FIG. 1, and the solid line M is the characteristic of the iron core itself of the voltage adjustment reactor. In the magnetic characteristic of the solid line M, the above-described method magnetizes the iron core of the voltage adjustment reactor to the negative polarity side once and reaches the position of the point Q2 where the magnetic state follows the solid line M3 and is saturated on the negative polarity side. Therefore, the current is set to zero and the magnetic state is traced along the solid line M4 to obtain the point P.
Reach position 3. If the impulse test is performed when the magnetic state is at the point P3, the unsaturated region B0 along the dotted line M2
You can use the entire width of. For example, even if the regions B1 and B2 are used by applying the reduced voltage or the specified voltage, respectively, the width of the unsaturated region B0 is wide, and therefore the current waveform does not change. In such a method, it is preferable to apply a saturation magnetic field having an opposite polarity each time the test voltage is applied. Depending on the test voltage level, the impulse test voltage may be applied several times in succession. In short, it does not matter if the magnetic state of the iron core in the test is within the unsaturated region B0. However, the magnetic state of the iron core is always shown in Fig. 3 every time the test voltage is applied.
If it is returned to the state of point P3 of
It can be used from 3 to the full width, there is no failure of the test that the iron core is in the saturated region, and wasteful time called retest can be saved. As one method of applying a saturation magnetic field having an opposite polarity to the iron core of the voltage adjustment reactor, it is preferable to apply an impulse voltage having a polarity opposite to the polarity of the test voltage to one end of the primary winding. Further, as another method of applying a saturation magnetic field of opposite polarity to the iron core of the voltage adjusting reactor, a direct current may be passed through the control winding. According to another method of the present invention, the primary winding is an AC side winding, the secondary winding is a DC side winding, and the output terminal of the secondary winding is connected via a voltage adjustment reactor. It is an impulse test method for a transformer with built-in reactor that is connected to a rectifier and a control winding is wound around the iron core of the voltage adjustment reactor. It is advisable to apply the test voltage in a saturated state on the same polarity side. The reason is as follows. FIG. 4 is a characteristic diagram showing a magnetic state of the iron core of the voltage adjustment reactor for explaining still another method of the present invention. The scales of the horizontal axis and the vertical axis are the same as in FIG. 1, and the solid line M is the characteristic of the iron core itself of the voltage adjustment reactor. In the magnetic characteristic of the solid line M, the above-mentioned method further magnetizes the magnetic field from the point Q1 and extends the range along the dotted line M5, that is,
This is a method of always maintaining the magnetized state of the iron core in the saturated region H0. Within this saturation region H0, the impedance of the voltage adjustment reactor does not change, and the observed current waveform does not change between the case of the reduced voltage and the case of the specified voltage. In order to maintain the magnetized state of the iron core in the saturation region H0, there is a method of previously winding a winding for saturation of the iron core. The iron core can be saturated if it is run.

【発明の実施の形態】以下に、この発明の方法が用いら
れた実施例を紹介する。図5は、この発明の実施例にか
かるインパルス試験方法を示す試験回路図である。図2
の原理図にしたがって、電圧調整リアクトルの出力端子
t0が抵抗Rを介して接地されている。その他は、図1
5と同じである。図6は、図5の試験回路による電圧・
電流波形図であり、それぞれ(A)は低減電圧印加時の
波形、(B)と(C)と(D)は規定電圧印加時の波形
である。各図において、電圧波形と電流波形と基線の並
べ方は、図16の場合と同じである。初めに、低減電圧
が印加され、次に規定電圧が順次印加された。(A)が
初めに低減電圧が印加されたときに観測されたものであ
り、(B),(C),(D)が、規定電圧の印加順に観
測されたものである。図6において、(A)ないし
(D)の電流波形にはいずれも差異がないことが分か
る。抵抗Rの介装によって、電圧調整リアクトルの鉄心
が飽和しなくなり、整流器用変圧器TRの故障の有無を
直ちに、かつ、正確に判定できるようになった。図7
は、この発明の異なる実施例にかかるインパルス試験方
法による電圧・電流波形図であり、それぞれ(A)は低
減電圧印加時の波形、(B)と(C)と(D)は規定電
圧印加時の波形である。各図において、電圧波形と電流
波形と基線の並べ方は、図6の場合と同じである。図7
の試験回路は図15によった。(A)は、初めに正極性
で、かつ、低減電圧と同一レベル、同一波形のインパル
ス電圧を印加し、その後、負極性の正規の低減電圧が印
加されて得られたものである。また、(B)は、正規の
低減電圧が印加された後に、正極性で、かつ、規定電圧
と同一レベル、同一波形のインパルス電圧を印加し、そ
の後、負極性の正規の規定電圧が印加されて得られたも
のである。以下、(C)と(D)は、同様に、規定電圧
の印加の前に逆極性にインパルス電圧を印加し、その順
に得られたものである。すなわち、最初の正極性のイン
パルス電圧印加によって、図3において説明されたよう
に、電圧調整リアクトルの鉄心が実線M3,M4にそっ
て磁化され、点P3の状態において、正規の低減電圧ま
たは規定電圧が印加されたことになる。図7において、
(A)ないし(D)の電流波形にはいずれも差異がない
ことが分かる。予め逆極性のインパルス電圧を印加する
ことによって、電圧調整リアクトルの鉄心が飽和しなく
なり、整流器用変圧器TRの故障の有無を直ちに、か
つ、正確に判定できるようになった。図8は、この発明
のさらに異なる実施例にかかるインパルス試験方法を示
す試験回路図であり、図15と異なる点は、別の符号の
出力端子t0が接地されている点と、図示されていない
制御巻線に直流電流が流される点だけである。図9は、
図8の試験回路において図示されていなかった制御巻線
の結線状態を示す試験回路図である。二次巻線tと出力
端子t0との間に介装された電圧調整リアクトルVCR
の鉄心にそれぞれ3個の制御巻線Gが巻回されている。
各電圧調整リアクトルVCRの制御巻線Gの一つが互い
に直列に接続され、この直列回路の両端に直流電源A1
が結線されている。この直流電源A1によって制御巻線
Gに流される直流電流の極性方向は、電圧調整リアクト
ルVCRの鉄心がインパルス試験において正規の低減電
圧または規定電圧の印加によって磁化される方向とは逆
方向に磁化されるようになっている。各インパルス電圧
の前に予め直流電流を制御巻線Gに流し、電圧調整リア
クトルVCRの鉄心を磁化して置く。すなわち、事前の
直流電圧印加によって、図3において説明されたよう
に、電圧調整リアクトルの鉄心のそれぞれが実線M3,
M4にそって磁化され、点P3の状態において正規の低
減電圧または規定電圧が印加される。なお、図9では一
次巻線は記載が省略されているが、一次巻線は図13と
同じ構成である。図10は、図8および図9の試験回路
による電圧・電流波形図であり、それぞれ(A)は低減
電圧印加時の波形、(B)と(C)は規定電圧印加時の
波形である。各図において、電圧波形と電流波形と基線
の並べ方は、図6の場合と同じである。(A)は、初め
に図9の直流電源A1が生かされ、つぎに直流電源A1
が遮断された状態で正規の低減電圧が印加されて得られ
たものである。また、(B)は、(A)において正規の
低減電圧が印加された後に、再び、図9の直流電源A1
が生かされ、つぎに直流電源A1が遮断された状態で正
規の規定電圧が印加されて得られたものである。さら
に、(C)は、(B)において正規の規定電圧が印加さ
れた後に、再び、図9の直流電源A1が生かされ、つぎ
に直流電源A1が遮断された状態で正規の規定電圧が印
加されて得られたものである。図10において、(A)
ないし(C)の電流波形にはいずれも差異がないことが
分かる。予め直流電圧を印加することによって、電圧調
整リアクトルの鉄心が飽和しなくなり、整流器用変圧器
TRの故障の有無を直ちに、かつ、正確に判定できるよ
うになった。図11は、この発明のさらに異なる実施例
にかかるインパルス試験方法を示す試験回路図である。
図9と異なる点は、直流電源A2の極性方向が直流電源
A1の逆に向いていることだけである。また、一次巻線
や二次巻線の結線は、図8と同じである。この直流電源
A2によって制御巻線Gに流される直流電流の極性方向
は、電圧調整リアクトルVCRの鉄心がインパルス試験
において正規の低減電圧または規定電圧の印加によって
磁化される方向と同じ方向に磁化されるようになってい
る。各インパルス電圧の印加においては、直流電流を制
御巻線Gに常時流し、電圧調整リアクトルVCRの全て
の鉄心を常に飽和状態にして置く。すなわち、直流電圧
印加によって、図4において説明されたように、電圧調
整リアクトルの鉄心のそれぞれが磁化され、点Q3の状
態において正規の低減電圧または規定電圧が印加される
ようになっている。図12は、図11の試験回路による
電圧・電流波形図であり、それぞれ(A)は低減電圧印
加時の波形、(B)と(C)と(D)は規定電圧印加時
の波形である。各図において、電圧波形と電流波形と基
線の並べ方は、図6の場合と同じである。図19の直流
電源A2が生かされた状態で、(A)は、初めに正規の
低減電圧が印加されて得られたものである。(B)は、
(A)において正規の低減電圧が印加された後に得られ
たものであり、以下(C)、(D)は、(B)の後に順
に正規の規定電圧が印加されて得られたものである。図
12において、(A)ないし(D)の電流波形にはいず
れも差異がないことが分かる。直流電圧を常時印加する
ことによって、電圧調整リアクトルの鉄心が飽和状態に
あり、整流器用変圧器TRの故障の有無を直ちに、か
つ、正確に判定できるようになった。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, examples in which the method of the present invention is used will be introduced. FIG. 5 is a test circuit diagram showing an impulse test method according to the embodiment of the present invention. FIG.
The output terminal t0 of the voltage adjusting reactor is grounded via the resistor R according to the principle diagram of FIG. Others are shown in Fig. 1.
Same as 5. FIG. 6 shows the voltage by the test circuit of FIG.
It is a current waveform figure, (A) is a waveform at the time of application of a reduction voltage, (B), (C) and (D) is a waveform at the time of application of a regulation voltage, respectively. In each drawing, the arrangement of the voltage waveform, the current waveform, and the base line is the same as in the case of FIG. First, the reduced voltage was applied, and then the specified voltage was sequentially applied. (A) is observed when the reduced voltage is first applied, and (B), (C), and (D) are observed in the order of application of the prescribed voltage. In FIG. 6, it can be seen that there is no difference in the current waveforms of (A) to (D). By interposing the resistor R, the iron core of the voltage adjustment reactor is not saturated, and it becomes possible to immediately and accurately determine whether the rectifier transformer TR has a failure. Figure 7
6A and 6B are voltage / current waveform diagrams according to an impulse test method according to different embodiments of the present invention, in which (A) is a waveform when a reduced voltage is applied, and (B), (C), and (D) are when a specified voltage is applied. Is the waveform of. In each figure, the arrangement of the voltage waveform, the current waveform, and the base line is the same as in the case of FIG. Figure 7
The test circuit of FIG. (A) is obtained by first applying an impulse voltage having a positive polarity and the same level and waveform as the reduction voltage, and then applying a regular reduction voltage having a negative polarity. Further, in (B), after the normal reduction voltage is applied, a positive polarity impulse voltage having the same level and waveform as the specified voltage is applied, and then the negative polarity specified voltage is applied. It was obtained by Hereinafter, (C) and (D) are obtained in the same order by applying an impulse voltage of opposite polarity before applying the specified voltage. That is, when the first positive polarity impulse voltage is applied, the iron core of the voltage adjustment reactor is magnetized along the solid lines M3 and M4 as described in FIG. 3, and in the state of the point P3, the regular reduction voltage or the specified voltage is applied. Has been applied. In FIG.
It can be seen that there is no difference in the current waveforms of (A) to (D). By applying the reverse polarity impulse voltage in advance, the iron core of the voltage adjustment reactor is not saturated, and it becomes possible to immediately and accurately determine whether or not there is a failure in the rectifier transformer TR. FIG. 8 is a test circuit diagram showing an impulse test method according to a further different embodiment of the present invention. What is different from FIG. 15 is that the output terminal t0 having a different sign is grounded and is not shown. The only point is that a direct current is applied to the control winding. FIG.
9 is a test circuit diagram showing a connection state of control windings not shown in the test circuit of FIG. 8. FIG. Voltage regulation reactor VCR interposed between the secondary winding t and the output terminal t0
Three control windings G are wound around each iron core.
One of the control windings G of each voltage regulation reactor VCR is connected in series with each other, and the DC power supply A1 is connected to both ends of this series circuit.
Are connected. The polarity direction of the DC current supplied to the control winding G by the DC power supply A1 is magnetized in the opposite direction to the direction in which the iron core of the voltage adjusting reactor VCR is magnetized by the application of the regular reduced voltage or the regulated voltage in the impulse test. It has become so. Before each impulse voltage, a direct current is made to flow through the control winding G to magnetize the iron core of the voltage adjusting reactor VCR. That is, by applying a direct DC voltage in advance, each of the iron cores of the voltage adjusting reactor has a solid line M3, as described in FIG.
It is magnetized along M4, and a regular reduction voltage or a specified voltage is applied in the state of point P3. It should be noted that although the primary winding is not shown in FIG. 9, the primary winding has the same configuration as in FIG. FIG. 10 is a voltage / current waveform diagram by the test circuit of FIGS. 8 and 9, where (A) is a waveform when a reduced voltage is applied, and (B) and (C) are waveforms when a specified voltage is applied. In each figure, the arrangement of the voltage waveform, the current waveform, and the base line is the same as in the case of FIG. In (A), the DC power supply A1 in FIG. 9 is first used, and then the DC power supply A1 is used.
It is obtained by applying a regular reduced voltage in the state of being cut off. In addition, (B) shows the DC power supply A1 of FIG. 9 again after the regular reduction voltage is applied in (A).
Is obtained, and then a normal specified voltage is applied in a state in which the DC power supply A1 is cut off. Further, in (C), after the normal specified voltage is applied in (B), the DC power supply A1 of FIG. 9 is used again, and then the normal specified voltage is applied in the state where the DC power supply A1 is cut off. It has been obtained. In FIG. 10, (A)
It can be seen that there is no difference in the current waveforms of (C) to (C). By applying the DC voltage in advance, the iron core of the voltage adjustment reactor is not saturated, and it becomes possible to immediately and accurately determine whether the rectifier transformer TR has a failure. FIG. 11 is a test circuit diagram showing an impulse test method according to still another embodiment of the present invention.
The only difference from FIG. 9 is that the polarity of the DC power supply A2 is opposite to that of the DC power supply A1. Also, the connection of the primary winding and the secondary winding is the same as in FIG. The polarity direction of the DC current supplied to the control winding G by the DC power supply A2 is magnetized in the same direction as the direction in which the iron core of the voltage adjusting reactor VCR is magnetized by the application of the regular reduced voltage or the specified voltage in the impulse test. It is like this. When each impulse voltage is applied, a direct current is always passed through the control winding G, and all the iron cores of the voltage adjustment reactor VCR are always kept in a saturated state. That is, as described with reference to FIG. 4, each of the iron cores of the voltage adjusting reactor is magnetized by the application of the DC voltage, and the regular reduction voltage or the specified voltage is applied in the state of the point Q3. FIG. 12 is a voltage / current waveform diagram by the test circuit of FIG. 11, where (A) is a waveform when a reduced voltage is applied, and (B), (C), and (D) are waveforms when a specified voltage is applied. . In each figure, the arrangement of the voltage waveform, the current waveform, and the base line is the same as in the case of FIG. In the state where the DC power supply A2 of FIG. 19 is utilized, (A) is obtained by first applying a regular reduced voltage. (B)
(A) is obtained after the regular reduction voltage is applied, and (C) and (D) are obtained by sequentially applying the regular specified voltage after (B). . In FIG. 12, it can be seen that there is no difference in the current waveforms of (A) to (D). By constantly applying the DC voltage, the iron core of the voltage adjusting reactor is in a saturated state, and it becomes possible to immediately and accurately determine whether the rectifier transformer TR has a failure.

【発明の効果】電圧調整リアクトルの鉄心を飽和させな
いようにして試験電圧を印加する方法、具体的には、電
圧調整リアクトルを抵抗を介して接地した状態で試験電
圧を印加する、あるいは、事前に逆極性のインパルス電
圧または直流電圧を印加した後に試験電圧を印加するこ
とによって、供試器の故障の有無を直ちに、かつ正確に
判定できるようになり、試験時間が短縮されるととも
に、信頼性の高い品質保証試験ができるようになる。ま
た、かかる構成において、試験電圧印加の度に逆極性の
飽和磁界を与えることにより、各試験において供試器の
前記鉄心を確実に飽和させないようにすることができ、
再試験など試験時間が増えるのを防止することができ
る。また、この発明の方法は前述のように、電圧調整リ
アクトルの鉄心を飽和させる、具体的には、電圧調整リ
アクトルの制御巻線に直流電流を流した状態で試験電圧
を印加する。この方法によっても、低減電圧の電流波形
と規定電圧の電流波形とが同じになり、供試器の故障の
有無を直ちに、かつ正確に判定できるようになり、試験
時間が短縮されるとともに、信頼性の高い品質保証試験
ができるようになる。
EFFECT OF THE INVENTION A method of applying a test voltage so as not to saturate the iron core of the voltage adjusting reactor, specifically, applying the test voltage with the voltage adjusting reactor grounded via a resistor, or in advance. By applying the test voltage after applying the reverse polarity impulse voltage or DC voltage, it becomes possible to immediately and accurately determine the presence or absence of a failure of the EUT, shortening the test time and improving the reliability. Be able to perform high quality assurance tests. Further, in such a configuration, by applying a saturation magnetic field of opposite polarity each time the test voltage is applied, it is possible to ensure that the iron core of the EUT in each test is not saturated,
It is possible to prevent an increase in test time such as a retest. In addition, as described above, the method of the present invention saturates the iron core of the voltage adjusting reactor, specifically, the test voltage is applied in a state in which a direct current is applied to the control winding of the voltage adjusting reactor. Even with this method, the current waveform of the reduced voltage and the current waveform of the specified voltage become the same, and it becomes possible to immediately and accurately determine the presence or absence of a failure of the EUT, shorten the test time, and reduce the reliability. It becomes possible to perform quality assurance tests with high quality.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の方法を説明するための電圧調整リア
クトルの鉄心の磁気状態を示す特性図
FIG. 1 is a characteristic diagram showing a magnetic state of an iron core of a voltage adjustment reactor for explaining a method of the present invention.

【図2】この発明の方法として抵抗が介装されて行われ
る試験回路の原理図
FIG. 2 is a principle diagram of a test circuit performed by interposing a resistor as the method of the present invention.

【図3】この発明の別の方法を説明するための電圧調整
リアクトルの鉄心の磁気状態を示す特性図
FIG. 3 is a characteristic diagram showing a magnetic state of an iron core of a voltage adjustment reactor for explaining another method of the present invention.

【図4】この発明のさらに別の方法を説明するための電
圧調整リアクトルの鉄心の磁気状態を示す特性図
FIG. 4 is a characteristic diagram showing a magnetic state of an iron core of a voltage adjustment reactor for explaining still another method of the present invention.

【図5】この発明の実施例にかかるインパルス試験方法
を示す試験回路図
FIG. 5 is a test circuit diagram showing an impulse test method according to an embodiment of the present invention.

【図6】図5の試験回路による電圧・電流波形図であ
り、それぞれ(A)は低減電圧印加時の波形図、(B)
と(C)と(D)は規定電圧印加時の波形図
6A and 6B are voltage / current waveform diagrams by the test circuit of FIG. 5, where FIG. 6A is a waveform diagram when a reduced voltage is applied, and FIG.
And (C) and (D) are waveform diagrams when the specified voltage is applied.

【図7】この発明の異なる実施例にかかるインパルス試
験方法による電圧・電流波形図であり、それぞれ(A)
は低減電圧印加時の波形図、(B)と(C)と(D)は
規定電圧印加時の波形図
FIG. 7 is a voltage / current waveform diagram by an impulse test method according to a different embodiment of the present invention.
Is a waveform diagram when a reduced voltage is applied, and (B), (C) and (D) are waveform diagrams when a specified voltage is applied.

【図8】この発明のさらに異なる実施例にかかるインパ
ルス試験方法を示す試験回路図
FIG. 8 is a test circuit diagram showing an impulse test method according to still another embodiment of the present invention.

【図9】図8の試験回路において図示されていなかった
制御巻線の結線状態を示す試験回路図
9 is a test circuit diagram showing a connection state of control windings not shown in the test circuit of FIG.

【図10】図8および図9の試験回路による電圧・電流
波形図
FIG. 10 is a voltage / current waveform diagram by the test circuit of FIGS. 8 and 9.

【図11】この発明のさらに異なる実施例にかかるイン
パルス試験方法を示す試験回路図
FIG. 11 is a test circuit diagram showing an impulse test method according to still another embodiment of the present invention.

【図12】図11の試験回路による電圧・電流波形図FIG. 12 is a voltage / current waveform diagram by the test circuit of FIG. 11.

【図13】従来のリアクトル内蔵形整流器用変圧器のイ
ンパルス試験方法による一次巻線側の試験回路図
FIG. 13 is a test circuit diagram of a primary winding side of a conventional reactor built-in type rectifier transformer by an impulse test method.

【図14】従来のリアクトル内蔵形整流器用変圧器のイ
ンパルス試験方法による二次巻線側の試験回路図
FIG. 14 is a test circuit diagram on the secondary winding side of the conventional reactor built-in type rectifier transformer by an impulse test method.

【図15】図13および図14の回路をまとめて示した
試験回路図
FIG. 15 is a test circuit diagram showing the circuits of FIGS. 13 and 14 together.

【図16】従来のインパルス試験方法による電圧・電流
波形図であり、それぞれ(A)は低減電圧印加時の波形
図、(B)と(C)と(D)は規定電圧印加時の波形図
FIG. 16 is a voltage / current waveform diagram by a conventional impulse test method, (A) is a waveform diagram when a reduced voltage is applied, and (B), (C), and (D) are waveform diagrams when a specified voltage is applied.

【図17】従来の試験回路の原理図FIG. 17 is a principle diagram of a conventional test circuit.

【図18】従来の試験回路による電圧調整リアクトルの
鉄心の磁気状態を示す特性図
FIG. 18 is a characteristic diagram showing a magnetic state of an iron core of a voltage adjustment reactor according to a conventional test circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

T,T1,T2:一次巻線、t,t1,t2:二次巻
線、VCR:電圧調整リアクトル、F:鉄心、t0:出
力端子、R:抵抗、S:電流シャント、E:接地、A
1,A2:直流電源
T, T1, T2: primary winding, t, t1, t2: secondary winding, VCR: voltage adjusting reactor, F: iron core, t0: output terminal, R: resistance, S: current shunt, E: ground, A
1, A2: DC power supply

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】一次巻線を交流側の巻線とするとともに、
二次巻線を直流側の巻線とし、二次巻線の出力端が電圧
調整リアクトルを介して整流器に接続され、電圧調整リ
アクトルの鉄心に制御巻線が巻回されてなるリアクトル
内蔵形整流器用変圧器のインパルス試験方法であって、
二次巻線が電圧調整リアクトルを介して接地され、一次
巻線の他方端が接地された状態で一次巻線の一方端にイ
ンパルスの試験電圧が印加される方法において、電圧調
整リアクトルの鉄心を飽和させない状態で試験電圧を印
加することを特徴とするリアクトル内蔵形整流器用変圧
器のインパルス試験方法。
1. The primary winding is a winding on the AC side, and
The secondary winding is the winding on the DC side, the output terminal of the secondary winding is connected to the rectifier via the voltage adjustment reactor, and the control winding is wound around the iron core of the voltage adjustment reactor. An impulse test method for a transformer for
In the method in which the secondary winding is grounded via the voltage adjustment reactor, and the impulse test voltage is applied to one end of the primary winding with the other end of the primary winding grounded, the core of the voltage adjustment reactor is An impulse test method for a reactor built-in rectifier transformer, characterized in that a test voltage is applied without being saturated.
【請求項2】請求項1に記載の方法において、二次巻線
を電圧調整リアクトルと抵抗とを介して接地した状態で
試験電圧を印加することを特徴とするリアクトル内蔵形
整流器用変圧器のインパルス試験方法。
2. A reactor built-in rectifier transformer according to claim 1, wherein a test voltage is applied in a state where the secondary winding is grounded via a voltage adjusting reactor and a resistor. Impulse test method.
【請求項3】請求項1に記載の方法において、電圧調整
リアクトルの鉄心に試験電圧で磁化される極性とは逆極
性の飽和磁界を与えた後、一旦前記鉄心の磁界を零に戻
し、これに続けて試験電圧を印加することを特徴とする
リアクトル内蔵形整流器用変圧器のインパルス試験方
法。
3. The method according to claim 1, wherein a magnetic field of the iron core of the voltage adjusting reactor is applied with a saturation magnetic field having a polarity opposite to the polarity magnetized by a test voltage, and then the magnetic field of the iron core is once returned to zero. Impulse test method for rectifier transformer with built-in reactor, characterized by applying a test voltage continuously.
【請求項4】請求項3に記載の方法において、試験電圧
印加の度に逆極性の飽和磁界を与えることを特徴とする
リアクトル内蔵形整流器用変圧器のインパルス試験方
法。
4. The impulse test method for a rectifier transformer with a built-in reactor according to claim 3, wherein a saturation magnetic field having an opposite polarity is applied each time a test voltage is applied.
【請求項5】請求項3または4に記載の方法において、
試験電圧の極性とは逆極性のインパルス電圧を一次巻線
の一方端に印加することによって電圧調整リアクトルの
鉄心に逆極性の飽和磁界を与えることを特徴とするリア
クトル内蔵形整流器用変圧器のインパルス試験方法。
5. The method according to claim 3 or 4,
Impulse of a rectifier transformer with a built-in reactor characterized by applying an opposite polarity saturation magnetic field to the iron core of the voltage adjustment reactor by applying an impulse voltage of opposite polarity to the test voltage polarity to one end of the primary winding. Test method.
【請求項6】請求項3または4に記載の方法において、
電圧調整リアクトルの制御巻線に直流電流を流すことに
よって電圧調整リアクトルの鉄心に逆極性の飽和磁界を
与えることを特徴とするリアクトル内蔵形整流器用変圧
器のインパルス試験方法。
6. The method according to claim 3 or 4,
An impulse test method for a rectifier transformer with a built-in reactor, characterized in that a saturation magnetic field of reverse polarity is applied to the iron core of the voltage adjustment reactor by applying a direct current to the control winding of the voltage adjustment reactor.
【請求項7】一次巻線を交流側の巻線とするとともに、
二次巻線を直流側の巻線とし、二次巻線の出力端が電圧
調整リアクトルを介して整流器に接続され、電圧調整リ
アクトルの鉄心に制御巻線が巻回されてなるリアクトル
内蔵形整流器用変圧器のインパルス試験方法であって、
電圧調整リアクトルの鉄心を試験電圧で磁化される極性
と同じ極性の側に飽和させた状態で試験電圧を印加する
ことを特徴とするリアクトル内蔵形整流器用変圧器のイ
ンパルス試験方法。
7. The primary winding is an AC side winding, and
The secondary winding is the winding on the DC side, the output terminal of the secondary winding is connected to the rectifier via the voltage adjustment reactor, and the control winding is wound around the iron core of the voltage adjustment reactor. An impulse test method for a transformer for
An impulse test method for a rectifier transformer with a built-in reactor, characterized in that the test voltage is applied while the iron core of the voltage adjustment reactor is saturated on the side of the same polarity as that magnetized by the test voltage.
【請求項8】請求項7記載の方法において、制御巻線に
直流電流を流すことによって電圧調整リアクトルの鉄心
を飽和させることを特徴とするリアクトル内蔵形整流器
用変圧器のインパルス試験方法。
8. The impulse test method for a transformer for a rectifier with a built-in reactor according to claim 7, wherein an iron core of the voltage adjusting reactor is saturated by passing a direct current through the control winding.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2011169694A (en) * 2010-02-17 2011-09-01 Chugoku Electric Power Co Inc:The Voltage monitor apparatus
JP2011216630A (en) * 2010-03-31 2011-10-27 Takaoka Electric Mfg Co Ltd Method and device for controlling density of residual magnetic fluxes in transformer iron core
CN103399255A (en) * 2013-07-05 2013-11-20 西安交通大学 Method for identifying state of power transformer winding by using pseudorandom sequence

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