JPH0919044A - ディジタル形保護継電装置の試験方法 - Google Patents
ディジタル形保護継電装置の試験方法Info
- Publication number
- JPH0919044A JPH0919044A JP7165656A JP16565695A JPH0919044A JP H0919044 A JPH0919044 A JP H0919044A JP 7165656 A JP7165656 A JP 7165656A JP 16565695 A JP16565695 A JP 16565695A JP H0919044 A JPH0919044 A JP H0919044A
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- JP
- Japan
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- relay
- sample
- calculation
- digital
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 アナログ周波数の変化に基づくリレー誤動作
を確かめるためのリレー単体試験を、リレー判定の基準
演算ソフトウェアを変えることなく行う。 【構成】 アナログ入力をA/D変換し、その変換され
たサンプリングデータからCPU部でリレー演算して系
統保護するディジタルリレーにおいて、CPU部に単体
試験モード機能を設定してA/D変換のサンプル位相を
一定周期t1毎に変化させ、各一定周期中、それぞれ位
相変化したサンプルデータを用いてリレー演算をしてリ
レーの判定を行い、各一定期間中においてリレー演算が
安定するまでの間t3は前のリレー判定値を保持して出
力し、リレー演算が安定した後新たなリレー判定値を出
力する。
を確かめるためのリレー単体試験を、リレー判定の基準
演算ソフトウェアを変えることなく行う。 【構成】 アナログ入力をA/D変換し、その変換され
たサンプリングデータからCPU部でリレー演算して系
統保護するディジタルリレーにおいて、CPU部に単体
試験モード機能を設定してA/D変換のサンプル位相を
一定周期t1毎に変化させ、各一定周期中、それぞれ位
相変化したサンプルデータを用いてリレー演算をしてリ
レーの判定を行い、各一定期間中においてリレー演算が
安定するまでの間t3は前のリレー判定値を保持して出
力し、リレー演算が安定した後新たなリレー判定値を出
力する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、送電系統を保護するデ
ィジタル形保護継電装置の試験方法に関する。
ィジタル形保護継電装置の試験方法に関する。
【0002】
【従来の技術】ディジタル形保護継電装置(ディジタル
リレー)は図4に示すように、電圧,電流などのアナロ
グ入力信号を高調波分除去フィルタ11〜1nを通してサ
ンプルホールド回路21〜2nに入力し、図5に示すよう
に入力信号の規定周波数の30°サンプルでサンプリン
グホールドし、このサンプリングホールドされた各チャ
ネルのアナログ信号をマルチプレクサ3を介して順次A
/D変換器4に入力し、同時性のあるサンプリングデー
タを得て、CPU部5でリレー演算を行い、系統保護す
る。
リレー)は図4に示すように、電圧,電流などのアナロ
グ入力信号を高調波分除去フィルタ11〜1nを通してサ
ンプルホールド回路21〜2nに入力し、図5に示すよう
に入力信号の規定周波数の30°サンプルでサンプリン
グホールドし、このサンプリングホールドされた各チャ
ネルのアナログ信号をマルチプレクサ3を介して順次A
/D変換器4に入力し、同時性のあるサンプリングデー
タを得て、CPU部5でリレー演算を行い、系統保護す
る。
【0003】上記ディジタルリレーは規定周波数の30
°サンプル信号でA/D変換しているので、アナログ入
力の周波数が変化するとリレー誤動作となる恐れがあ
る。
°サンプル信号でA/D変換しているので、アナログ入
力の周波数が変化するとリレー誤動作となる恐れがあ
る。
【0004】そのため、従来ディジタルリレーではその
動作試験を、A/D変換器4からのサンプリングデータ
を用いCPU部5で種々のアルゴリズムにより実効値演
算をして、規格値との比較によって行っている。
動作試験を、A/D変換器4からのサンプリングデータ
を用いCPU部5で種々のアルゴリズムにより実効値演
算をして、規格値との比較によって行っている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来デ
ィジタルリレーは、その動作値に下記のような種々の誤
差要因がある。
ィジタルリレーは、その動作値に下記のような種々の誤
差要因がある。
【0006】(1)入力変換器、フィルタ、サンプルホ
ールド回路、A/D変換器の非線形型誤差 (2)A/D変換器の量子化誤差 (3)実効値演算アルゴリズムにおけるサンプル位相誤
差 (4)サンプル周期誤差 これらの中で(2)〜(4)は相互に関連して、規定動
作値近辺の入力に対し、リレー動作が不安定な状態とな
る。
ールド回路、A/D変換器の非線形型誤差 (2)A/D変換器の量子化誤差 (3)実効値演算アルゴリズムにおけるサンプル位相誤
差 (4)サンプル周期誤差 これらの中で(2)〜(4)は相互に関連して、規定動
作値近辺の入力に対し、リレー動作が不安定な状態とな
る。
【0007】ディジタルリレーでは一般にヒステリシス
特性を組込むような事をしていないので、リレー試験時
は下記の方法により、動作値、復帰値を測定している。
特性を組込むような事をしていないので、リレー試験時
は下記の方法により、動作値、復帰値を測定している。
【0008】動作値…完全動作点 復帰値…完全復帰点 即ち、リレー動作のバタツキの開始と安定点を測定して
いる。
いる。
【0009】以上の現象により、動作値,復帰値は試験
者の判断による影響が大きく、また、試験時の入力とサ
ンプル位相の影響により測定の度に若干値が変わってく
るようなことも発生する。これらはまた、自動試験装置
を採用した場合の入力変化方法や動作値,復帰値判定方
法の設定にも大きな問題を及ぼす。
者の判断による影響が大きく、また、試験時の入力とサ
ンプル位相の影響により測定の度に若干値が変わってく
るようなことも発生する。これらはまた、自動試験装置
を採用した場合の入力変化方法や動作値,復帰値判定方
法の設定にも大きな問題を及ぼす。
【0010】本発明は、従来のこのような問題点に鑑み
てなされたものであり、その目的とするところは、リレ
ー判定の基本演算ソフトウェアを変えることなくなしう
るディジタル保護継電装置の試験方法を提供することに
ある。
てなされたものであり、その目的とするところは、リレ
ー判定の基本演算ソフトウェアを変えることなくなしう
るディジタル保護継電装置の試験方法を提供することに
ある。
【0011】
【課題を解決するための手段及び作用】上記目的を達成
するために、本発明におけるディジタル保護継電装置の
試験方法は、アナログ入力をA/D変換し、その変換さ
れたサンプリングデータからCPU部でリレー演算をし
て系統保護をする保護継電装置において、前記CPU部
に単体試験モード機能を設定して前記A/D変換のサン
プル位相を一定周期毎に変化させ、前記各一定周期中、
位相変化したサンプルデータを用いてリレー演算をな
し、そのリレー演算が安定するまでの間は前回リレー演
算によるリレー判定値を保持し、リレー演算が安定した
後リレー演算された新たなリレー判定値を出力させるよ
うにしたものである。この方法によれば、サンプル位相
を一定周期毎に変化させているので、リレー判定の基本
演算ソフトウェアを変えることなくアナログ入力の周波
数が変化した場合のリレー誤動作を試験できる。
するために、本発明におけるディジタル保護継電装置の
試験方法は、アナログ入力をA/D変換し、その変換さ
れたサンプリングデータからCPU部でリレー演算をし
て系統保護をする保護継電装置において、前記CPU部
に単体試験モード機能を設定して前記A/D変換のサン
プル位相を一定周期毎に変化させ、前記各一定周期中、
位相変化したサンプルデータを用いてリレー演算をな
し、そのリレー演算が安定するまでの間は前回リレー演
算によるリレー判定値を保持し、リレー演算が安定した
後リレー演算された新たなリレー判定値を出力させるよ
うにしたものである。この方法によれば、サンプル位相
を一定周期毎に変化させているので、リレー判定の基本
演算ソフトウェアを変えることなくアナログ入力の周波
数が変化した場合のリレー誤動作を試験できる。
【0012】
【実施例】本発明の実施例について図面を参照して説明
する。図1はディジタルリレーの構成を示すもので、前
記従来図4に示したものと同一構成部分は、同一符号を
付してその重複する説明を省略する。図1において、6
はCPU部5からの指令に基づいたタイミングでA/D
変換がなしうるように、サンプルホールド回路21〜2n
とマルチプレクサ3及びA/D変換器4を制御するA/
D変換制御回路を示す。
する。図1はディジタルリレーの構成を示すもので、前
記従来図4に示したものと同一構成部分は、同一符号を
付してその重複する説明を省略する。図1において、6
はCPU部5からの指令に基づいたタイミングでA/D
変換がなしうるように、サンプルホールド回路21〜2n
とマルチプレクサ3及びA/D変換器4を制御するA/
D変換制御回路を示す。
【0013】まず、スイッチ,制御ピン等を用いてディ
ジタルリレーのCPU部5にリレーを単体試験するため
の単体試験モードの設定する機能を教え込み、単体試験
モード設定に切り替えた場合、CPU部5からA/D変
換制御回路6に一定周期でA/D変換のサンプリングタ
イミングを変化させるタイミング指令を出力するように
する。しかして単体試験モードに切り替えると、A/D
変換制御回路6はこのタイミング指令の入力によりサン
プリングホールド回路21〜2n及びA/D変換器4のサ
ンプルタイミングを制御すると共に、マルチプレクサ回
路3の切替タイミングを制御する。
ジタルリレーのCPU部5にリレーを単体試験するため
の単体試験モードの設定する機能を教え込み、単体試験
モード設定に切り替えた場合、CPU部5からA/D変
換制御回路6に一定周期でA/D変換のサンプリングタ
イミングを変化させるタイミング指令を出力するように
する。しかして単体試験モードに切り替えると、A/D
変換制御回路6はこのタイミング指令の入力によりサン
プリングホールド回路21〜2n及びA/D変換器4のサ
ンプルタイミングを制御すると共に、マルチプレクサ回
路3の切替タイミングを制御する。
【0014】タイミング指令は図2に示すように、一定
周期t1「1」,t1「2」,…毎にサンプルタイミング
(タイミング位相)を3°ずつ変化させる。周期t1は
アルゴリズム上、リレー判定の演算が安定する時間t3
以上とする。一定期t1終了毎に次のサンプル位相の変
化量を設定する時間t2を設ける。
周期t1「1」,t1「2」,…毎にサンプルタイミング
(タイミング位相)を3°ずつ変化させる。周期t1は
アルゴリズム上、リレー判定の演算が安定する時間t3
以上とする。一定期t1終了毎に次のサンプル位相の変
化量を設定する時間t2を設ける。
【0015】これにより周期t1でそのリレー判定演算
の安定する安定期間に少なくとも1回正常な結果を出力
し、リレー判定演算が安定するまでの時間t3は前の結
果を保持出力することで、短時間に幾つかのサンプル角
でのリレー動作を確認することが可能となる。
の安定する安定期間に少なくとも1回正常な結果を出力
し、リレー判定演算が安定するまでの時間t3は前の結
果を保持出力することで、短時間に幾つかのサンプル角
でのリレー動作を確認することが可能となる。
【0016】今、t3=50ms,t1=60ms,位相
変化を3°とすると、t=(60ms+α)×30/3
=600ms+(10・α)msの時間でサンプル角が
一周する。ただし、α=3°に相当時間を示す。
変化を3°とすると、t=(60ms+α)×30/3
=600ms+(10・α)msの時間でサンプル角が
一周する。ただし、α=3°に相当時間を示す。
【0017】上記単体試験モードにおけるリレー動作の
確認は図3に示すフローで行う。すなわち、割込等によ
り単体試験モード設定がなされると、周期t1「1」の
設定、時間t2とサンプル位相量の変化量の設定(変化
量0に設定)、時間t3のスタート及びサンプル時間用
クロックの再スタートさせる(101〜105)。
確認は図3に示すフローで行う。すなわち、割込等によ
り単体試験モード設定がなされると、周期t1「1」の
設定、時間t2とサンプル位相量の変化量の設定(変化
量0に設定)、時間t3のスタート及びサンプル時間用
クロックの再スタートさせる(101〜105)。
【0018】変化量が0に設定されているので、リレー
は通常と同じくサンプルタイミング30°のリレーとし
て動作し、そのリレー演算値と規定値の比較によりリレ
ー判定される。リレー判定値が安定するまでは前のリレ
ー判定値を出力し、時間t3が経過するとリレー判定値
が出力する(106〜108)。
は通常と同じくサンプルタイミング30°のリレーとし
て動作し、そのリレー演算値と規定値の比較によりリレ
ー判定される。リレー判定値が安定するまでは前のリレ
ー判定値を出力し、時間t3が経過するとリレー判定値
が出力する(106〜108)。
【0019】周期t1「1」が経過すると、周期t
1「2」の設定、時間t2とサンプル位相量の変化量の設
定(変化量3°に設定)、時間t3のスタート及びサン
プル時間用クロックの再スタートさせる(101〜10
5)。
1「2」の設定、時間t2とサンプル位相量の変化量の設
定(変化量3°に設定)、時間t3のスタート及びサン
プル時間用クロックの再スタートさせる(101〜10
5)。
【0020】変化量が3°に設定されているので、リレ
ーはサンプルタイミング33°のリレーとして動作し、
リレー判定される。このリレー判定値が安定するまでの
時間t3の間は前の判定値を保持して出力する(10
7,108)。時間t3が経過するとリレー判定値が出
力する(106〜108)。
ーはサンプルタイミング33°のリレーとして動作し、
リレー判定される。このリレー判定値が安定するまでの
時間t3の間は前の判定値を保持して出力する(10
7,108)。時間t3が経過するとリレー判定値が出
力する(106〜108)。
【0021】周期t1「2」が経過すると、前と同様に
周期t1「3」の設定、時間t2とサンプル位相量の変化
量の設定(変化量6°に設定)、時間t3のスタート及
びサンプル時間用クロックを再スタートさせる(101
〜105)。
周期t1「3」の設定、時間t2とサンプル位相量の変化
量の設定(変化量6°に設定)、時間t3のスタート及
びサンプル時間用クロックを再スタートさせる(101
〜105)。
【0022】変化量が6°に設定されているので、リレ
ーはサンプルタイミング36°のリレーとして動作し、
時間t1「3」中、106〜108のフローが実行され
る。単体試験モード設定中は上記のようにサンプルタイ
ミングを3°ずつ変化させて単体試験を行うが、サンプ
ルタイミングはマイナス側にも変化させる。
ーはサンプルタイミング36°のリレーとして動作し、
時間t1「3」中、106〜108のフローが実行され
る。単体試験モード設定中は上記のようにサンプルタイ
ミングを3°ずつ変化させて単体試験を行うが、サンプ
ルタイミングはマイナス側にも変化させる。
【0023】単体試験モードを通常のリレーモードに切
り替えると、リレーはサンプルタイミング30°のリレ
ーに戻る。なお、図3中109は動作確認シーケンスを
示す。
り替えると、リレーはサンプルタイミング30°のリレ
ーに戻る。なお、図3中109は動作確認シーケンスを
示す。
【0024】実施例によれば、t1周期で少なくとも1
回は正常な結果を出力し、途中は前の結果を出力するこ
とで、短時間にいくつかのサンプル前でのリレー動作を
確認することができる。
回は正常な結果を出力し、途中は前の結果を出力するこ
とで、短時間にいくつかのサンプル前でのリレー動作を
確認することができる。
【0025】なお、実施例ではサンプルタイミングの変
化量を3°としているがこれに限定されるものではな
い。
化量を3°としているがこれに限定されるものではな
い。
【0026】
【発明の効果】本発明は、上述のとおり構成されている
ので、次に記載する効果を奏する。
ので、次に記載する効果を奏する。
【0027】(1)単体試験時にA/D変換のサンプル
信号のタイミングを変化させているので、複雑なアルゴ
リズムの必要がなく、動作値、復帰値の判定が容易にな
り、試験者の違いや、判定時間の違いによる値のバラツ
キが少なくなる。
信号のタイミングを変化させているので、複雑なアルゴ
リズムの必要がなく、動作値、復帰値の判定が容易にな
り、試験者の違いや、判定時間の違いによる値のバラツ
キが少なくなる。
【0028】(2)時間tを規定することで、自動試験
の場合の入力変化を設定できるので、測定時期によるバ
ラツキが少なくなる。
の場合の入力変化を設定できるので、測定時期によるバ
ラツキが少なくなる。
【図1】ディジタルリレーの構成説明図。
【図2】単体試験のタイムチャート。
【図3】単体試験のフローチャート。
【図4】従来ディジタルリレーの構成説明図。
【図5】サンプリング波形図。
11〜1n…高調波除去フィルタ 21〜2n…サンプルホールド回路 3…マルチプレクサ 4…A/D変換器 5…CPU部 6…A/D変換制御回路
Claims (1)
- 【請求項1】 アナログ入力をA/D変換し、その変換
されたサンプリングデータからCPU部でリレー演算を
して系統保護をする保護継電装置の試験方法において、 A/D変換制御回路を設け、 前記CPU部に単体試験モード機能を設定して前記A/
D変換のサンプル位相を一定周期毎に変化させ、 前記各一定周期中、位相変化したサンプルデータを用い
てリレー演算をなし、そのリレー演算が安定するまでの
間は前回リレー演算によるリレー判定値を保持し、リレ
ー演算が安定した後リレー演算された新たなリレー判定
値を出力することを特徴としたディジタル形保護継電装
置の試験方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7165656A JPH0919044A (ja) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | ディジタル形保護継電装置の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7165656A JPH0919044A (ja) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | ディジタル形保護継電装置の試験方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0919044A true JPH0919044A (ja) | 1997-01-17 |
Family
ID=15816511
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7165656A Pending JPH0919044A (ja) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | ディジタル形保護継電装置の試験方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0919044A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AU707660B2 (en) * | 1996-04-01 | 1999-07-15 | Cic Global Llc | Distributed frequency relay |
-
1995
- 1995-06-30 JP JP7165656A patent/JPH0919044A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AU707660B2 (en) * | 1996-04-01 | 1999-07-15 | Cic Global Llc | Distributed frequency relay |
US6314378B1 (en) | 1996-04-01 | 2001-11-06 | Clc Global Llc | Distributed frequency relay |
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