JPH0851336A - 自動校正可能低域通過フィルタ装置 - Google Patents
自動校正可能低域通過フィルタ装置Info
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- JPH0851336A JPH0851336A JP20129294A JP20129294A JPH0851336A JP H0851336 A JPH0851336 A JP H0851336A JP 20129294 A JP20129294 A JP 20129294A JP 20129294 A JP20129294 A JP 20129294A JP H0851336 A JPH0851336 A JP H0851336A
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 可変ＬＰＦ１０は、制御電圧により可変容量
ダイオード２２、２４が調整され、可変容量ダイオード
のキャパシタンス及び第１インダクタのインダクタで決
まる遮断周波数を有する。第２インダクタは、可変容量
ダイオードに並列接続されてタンク回路となり、増幅器
３２と共にＶＣＯ３４を構成する。可変ＬＰＦが所望の
遮断周波数を有するための可変容量ダイオードの特定キ
ャパシタンスを求め、更にこのキャパシタンスによるＶ
ＣＯの特定出力周波数を求めておく。ＶＣＯ、分周器３
６、位相比較器４４及びループ・フィルタ４６から成る
位相ロック・ループの動作により、ＶＣＯが特定出力周
波数を有するようにすることで、ＬＰＦの遮断周波数を
所望値にするための、可変容量ダイオードの特定キャパ
シタンスが設定される。 【効果】 ＬＰＦが所望の正確で安定した遮断周波数を
有するように自動的に校正できる。
ダイオード２２、２４が調整され、可変容量ダイオード
のキャパシタンス及び第１インダクタのインダクタで決
まる遮断周波数を有する。第２インダクタは、可変容量
ダイオードに並列接続されてタンク回路となり、増幅器
３２と共にＶＣＯ３４を構成する。可変ＬＰＦが所望の
遮断周波数を有するための可変容量ダイオードの特定キ
ャパシタンスを求め、更にこのキャパシタンスによるＶ
ＣＯの特定出力周波数を求めておく。ＶＣＯ、分周器３
６、位相比較器４４及びループ・フィルタ４６から成る
位相ロック・ループの動作により、ＶＣＯが特定出力周
波数を有するようにすることで、ＬＰＦの遮断周波数を
所望値にするための、可変容量ダイオードの特定キャパ
シタンスが設定される。 【効果】 ＬＰＦが所望の正確で安定した遮断周波数を
有するように自動的に校正できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、遮断周波数を自動的に
校正する自動校正可能低域通過フィルタ装置に関する
校正する自動校正可能低域通過フィルタ装置に関する
【０００２】
【従来の技術】図３は、遮断周波数を電圧制御可能な従
来の３次可変低域通過フィルタ（ＬＰＦ）１０の回路図
を示す。入力端子１２及び出力端子１４に、インダクタ
ンスＬ0を有するインダクタ１６の両端が夫々接続され
ると共に、キャパシタンスが共にＣ0であるコンデンサ
１８及び２０の各々の一端が夫々接続される。コンデン
サ１８の他端には、アノードが接地された可変容量ダイ
オード２２のカソードが接続され、コンデンサ２０の他
端には、アノードが接地された可変容量ダイオード２４
のカソードが接続される。コンデンサ１８及び２０の他
端間には、抵抗器２６及び２８が直列接続され、両抵抗
器の接続点に制御電圧Ｖcontが供給される。可変容量ダ
イオード２２及び２４は、制御電圧Ｖcontにより変化す
る同一のキャパシタンスＣ1を有する。キャパシタンス
Ｃ0は、キャパシタンスＣ1より大幅に大きく、直流分を
遮断する。可変容量ダイオード２２、２４のキャパシタ
ンスＣ1及びインダクタ１６のインダクタンスＬoにより
ＬＰＦ１０の遮断周波数ｆcutが決まる。
来の３次可変低域通過フィルタ（ＬＰＦ）１０の回路図
を示す。入力端子１２及び出力端子１４に、インダクタ
ンスＬ0を有するインダクタ１６の両端が夫々接続され
ると共に、キャパシタンスが共にＣ0であるコンデンサ
１８及び２０の各々の一端が夫々接続される。コンデン
サ１８の他端には、アノードが接地された可変容量ダイ
オード２２のカソードが接続され、コンデンサ２０の他
端には、アノードが接地された可変容量ダイオード２４
のカソードが接続される。コンデンサ１８及び２０の他
端間には、抵抗器２６及び２８が直列接続され、両抵抗
器の接続点に制御電圧Ｖcontが供給される。可変容量ダ
イオード２２及び２４は、制御電圧Ｖcontにより変化す
る同一のキャパシタンスＣ1を有する。キャパシタンス
Ｃ0は、キャパシタンスＣ1より大幅に大きく、直流分を
遮断する。可変容量ダイオード２２、２４のキャパシタ
ンスＣ1及びインダクタ１６のインダクタンスＬoにより
ＬＰＦ１０の遮断周波数ｆcutが決まる。
【０００３】図３のＬＰＦ１０の遮断周波数ｆcutを校
正する一つの方法は、制御電圧Ｖcont及び可変容量ダイ
オード２２及び２４のキャパシタンスＣ1の関係を予め
調べておき、インダクタ１６との関係で所望の遮断周波
数が得られるキャパシタンスになるように、制御電圧Ｖ
contを調整する。また、他の方法では、ＬＰＦ１０の入
力端子に、所望の遮断周波数に周波数が等しく、所定振
幅Ａの正弦波を印加したときと、遮断周波数より周波数
が十分に低く、振幅が所定振幅Ａに等しい正弦波を印加
したときの各々の出力振幅の比が０.７１：１になるよ
うに、制御電圧Ｖcontを調整する。
正する一つの方法は、制御電圧Ｖcont及び可変容量ダイ
オード２２及び２４のキャパシタンスＣ1の関係を予め
調べておき、インダクタ１６との関係で所望の遮断周波
数が得られるキャパシタンスになるように、制御電圧Ｖ
contを調整する。また、他の方法では、ＬＰＦ１０の入
力端子に、所望の遮断周波数に周波数が等しく、所定振
幅Ａの正弦波を印加したときと、遮断周波数より周波数
が十分に低く、振幅が所定振幅Ａに等しい正弦波を印加
したときの各々の出力振幅の比が０.７１：１になるよ
うに、制御電圧Ｖcontを調整する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前者の方法で
は、温度等の影響により制御電圧及び可変容量ダイオー
ドの関係が変化することがあり、キャパシタンスＣ1を
正確に設定することが難しい。また、後者では、可変周
波数発振器又は複数の発振器を必要とすると共に、制御
電圧Ｖcontを正しく調整するまでの作業が面倒である。
更に、一度設定しても、温度変化等による素子特性の変
化や制御電圧の変動により遮断周波数が変化することが
あり、正確な遮断周波数を保つことができない。
は、温度等の影響により制御電圧及び可変容量ダイオー
ドの関係が変化することがあり、キャパシタンスＣ1を
正確に設定することが難しい。また、後者では、可変周
波数発振器又は複数の発振器を必要とすると共に、制御
電圧Ｖcontを正しく調整するまでの作業が面倒である。
更に、一度設定しても、温度変化等による素子特性の変
化や制御電圧の変動により遮断周波数が変化することが
あり、正確な遮断周波数を保つことができない。
【０００５】したがって、本発明の目的は、所望の正確
な遮断周波数を有するように自動的に校正できる自動校
正可能低域通過フィルタの提供にある。
な遮断周波数を有するように自動的に校正できる自動校
正可能低域通過フィルタの提供にある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の自動校正可能低
域通過フィルタ装置の第１実施例では、可変ＬＰＦは、
出力制御電圧により可変容量ダイオードのキャパシタン
スを調整して、可変容量ダイオードのキャパシタンス及
び第１インダクタのインダクタで決まる遮断周波数を有
する。第２インダクタは、可変容量ダイオードに並列接
続されてタンク回路を生成する。このタンク回路は、増
幅器の２つの入力端に接続され、電圧制御発振器（ＶＣ
Ｏ）を構成する。ＶＣＯの出力信号は、好適には分周比
を１ステップずつ変化可能なスワロー型の分周器に入力
される。この分周器の出力信号及び基準周波数の基準信
号は、位相比較器に入力される。ループ・フィルタは、
位相比較器の出力信号を受けて、出力信号を制御電圧と
して可変低域通過フィルタに供給する。また、第２実施
例では、第２インダクタを使用せずに、増幅器の２つの
入力端を第１インダクタに並列接続することにより、第
１インダクタ及び可変容量ダイオードから成るタンク回
路が増幅器に接続されることになりＶＣＯを構成する。
域通過フィルタ装置の第１実施例では、可変ＬＰＦは、
出力制御電圧により可変容量ダイオードのキャパシタン
スを調整して、可変容量ダイオードのキャパシタンス及
び第１インダクタのインダクタで決まる遮断周波数を有
する。第２インダクタは、可変容量ダイオードに並列接
続されてタンク回路を生成する。このタンク回路は、増
幅器の２つの入力端に接続され、電圧制御発振器（ＶＣ
Ｏ）を構成する。ＶＣＯの出力信号は、好適には分周比
を１ステップずつ変化可能なスワロー型の分周器に入力
される。この分周器の出力信号及び基準周波数の基準信
号は、位相比較器に入力される。ループ・フィルタは、
位相比較器の出力信号を受けて、出力信号を制御電圧と
して可変低域通過フィルタに供給する。また、第２実施
例では、第２インダクタを使用せずに、増幅器の２つの
入力端を第１インダクタに並列接続することにより、第
１インダクタ及び可変容量ダイオードから成るタンク回
路が増幅器に接続されることになりＶＣＯを構成する。
【０００７】
【作用】可変ＬＰＦの遮断周波数は、第１インダクタ及
び２つの可変容量ダイオードの値により決まる。また、
ＶＣＯの発振周波数は、第１実施例では、可変容量ダイ
オード及び第２インダクタの値により決まり、第２実施
例では、第１インダクタ及び２つの可変容量ダイオード
の値により決まる。可変ＬＰＦが所望の遮断周波数を有
するための可変容量ダイオードの特定キャパシタンスＣ
1’を求め、更にキャパシタンスＣ1’によるＶＣＯの特
定出力周波数ｆcal’を求めておく。ＶＣＯ、分周器、
位相比較器及びループ・フィルタは、位相ロック・ルー
プ（ＰＬＬ）を形成し、ＶＣＯの出力周波数が特定周波
数ｆcalになるように分周器の分周比を設定しておく。
ＰＬＬの動作により、自動的にＬＰＦ１０の遮断周波数
が所望値ｆcut’になるように、可変容量ダイオードの
キャパシタンスが所定値Ｃ1’に設定される。
び２つの可変容量ダイオードの値により決まる。また、
ＶＣＯの発振周波数は、第１実施例では、可変容量ダイ
オード及び第２インダクタの値により決まり、第２実施
例では、第１インダクタ及び２つの可変容量ダイオード
の値により決まる。可変ＬＰＦが所望の遮断周波数を有
するための可変容量ダイオードの特定キャパシタンスＣ
1’を求め、更にキャパシタンスＣ1’によるＶＣＯの特
定出力周波数ｆcal’を求めておく。ＶＣＯ、分周器、
位相比較器及びループ・フィルタは、位相ロック・ルー
プ（ＰＬＬ）を形成し、ＶＣＯの出力周波数が特定周波
数ｆcalになるように分周器の分周比を設定しておく。
ＰＬＬの動作により、自動的にＬＰＦ１０の遮断周波数
が所望値ｆcut’になるように、可変容量ダイオードの
キャパシタンスが所定値Ｃ1’に設定される。
【０００８】
【実施例】図１は、本発明の自動校正可能低域通過フィ
ルタの一実施例を示す回路ブロック図である。この図に
おいて、ＬＰＦ１０は図３に示すＬＰＦ１０と同一であ
るので、各構成要素は図３と同一の参照符号が付されて
おり、重複を避けるためにその構成の説明はここでは省
略する。
ルタの一実施例を示す回路ブロック図である。この図に
おいて、ＬＰＦ１０は図３に示すＬＰＦ１０と同一であ
るので、各構成要素は図３と同一の参照符号が付されて
おり、重複を避けるためにその構成の説明はここでは省
略する。
【０００９】ＬＰＦ１０の一方の可変容量ダイオード２
４の接地側でない一端には、既知のインダクタンスＬca
lを有するインダクタ３０の一端がコンデンサ３１を介
して接続される。インダクタ３０の他端は、接地され
る。コンデンサ３１は、インダクタ３０のインピーダン
スがＬＰＦ１０に影響を与えるのを防止する目的で接続
され、可変容量ダイオード２２及び２４のキャパシタン
スの１／１０倍程度のキャパシタンスを有する。可変容
量ダイオード２４及びインダクタ３０から成る並列回路
はタンク回路であり、増幅器３２の２つの入力端間に接
続される。増幅器３２は、例えば、モトローラ社製ＭＣ
１６４８型の如き増幅器であり、タンク回路と共に電圧
制御発振器（ＶＣＯ）３４を構成する。ＶＣＯ３４の発
振周波数ｆcalは、抵抗器２６及び２８の接続点に供給
される制御電圧Ｖcontに応じて変化する可変容量ダイオ
ード２４のキャパシタンスＣ1と、インダクタ３０のイ
ンダクタンスＬcalによって決まり、次の式で表され
る。 ｆcal≒１／２π・（Ｌcal・Ｃ1）*（１／２） ・・・（１） （ここで、Ｎ*ｎは、Ｎのｎ乗を表す。）
４の接地側でない一端には、既知のインダクタンスＬca
lを有するインダクタ３０の一端がコンデンサ３１を介
して接続される。インダクタ３０の他端は、接地され
る。コンデンサ３１は、インダクタ３０のインピーダン
スがＬＰＦ１０に影響を与えるのを防止する目的で接続
され、可変容量ダイオード２２及び２４のキャパシタン
スの１／１０倍程度のキャパシタンスを有する。可変容
量ダイオード２４及びインダクタ３０から成る並列回路
はタンク回路であり、増幅器３２の２つの入力端間に接
続される。増幅器３２は、例えば、モトローラ社製ＭＣ
１６４８型の如き増幅器であり、タンク回路と共に電圧
制御発振器（ＶＣＯ）３４を構成する。ＶＣＯ３４の発
振周波数ｆcalは、抵抗器２６及び２８の接続点に供給
される制御電圧Ｖcontに応じて変化する可変容量ダイオ
ード２４のキャパシタンスＣ1と、インダクタ３０のイ
ンダクタンスＬcalによって決まり、次の式で表され
る。 ｆcal≒１／２π・（Ｌcal・Ｃ1）*（１／２） ・・・（１） （ここで、Ｎ*ｎは、Ｎのｎ乗を表す。）
【００１０】ＶＣＯ３４の周波数ｆcalの出力信号は、
好適には、固定値Ｐ、プログラム可能な値Ｎ及びＳから
成る分周比１／（Ｎ・Ｍ＋Ｓ）を有し、１ステップ毎に
分周比を変化可能なスワロー型分周器３６に供給され
る。値Ｎ及びＳは、マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）３８
により設定される。この様なスワロー型分周器について
は、例えば、ＣＱ出版社発行「アナログ回路のグレード
アップ技法」の第１００頁〜第１０２頁の記載を参照さ
れたい。分周器３６は、周波数ｆcal／（Ｎ・Ｐ＋Ｓ）
の信号を出力する。
好適には、固定値Ｐ、プログラム可能な値Ｎ及びＳから
成る分周比１／（Ｎ・Ｍ＋Ｓ）を有し、１ステップ毎に
分周比を変化可能なスワロー型分周器３６に供給され
る。値Ｎ及びＳは、マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）３８
により設定される。この様なスワロー型分周器について
は、例えば、ＣＱ出版社発行「アナログ回路のグレード
アップ技法」の第１００頁〜第１０２頁の記載を参照さ
れたい。分周器３６は、周波数ｆcal／（Ｎ・Ｐ＋Ｓ）
の信号を出力する。
【００１１】好適には水晶発振器である基準発振器４０
は、正確で安定した高周波数ｆrefの信号を発生する。
分周器４２は、ＭＰＵ３８により一定の分周比Ｒが設定
される通常の分周器であり、基準発振器４０の出力信号
を受けて、周波数ｆref／Ｒの信号を出力する。分周器
３６のの出力信号及び分周器４２の出力信号は、位相比
較器４４に供給される。位相比較器４４の出力信号は、
ループ・フィルタ４６に供給される。ループ・フィルタ
４６の出力信号は、制御電圧Ｖcontとして抵抗器２６及
び２８の接続に供給される。この構成から明かな様に、
ＶＣＯ３２、分周器３６、分周器４２、位相比較器４４
及びループ・フィルタ４６は、位相ロック・ルー（ＰＬ
Ｌ）を形成し、周知の動作によりＶＣＯ３４の出力周波
数ｆcalは、次の式で表される。 ｆcal≒（Ｎ・Ｐ＋Ｓ）・ｆref／Ｒ ・・・（２）
は、正確で安定した高周波数ｆrefの信号を発生する。
分周器４２は、ＭＰＵ３８により一定の分周比Ｒが設定
される通常の分周器であり、基準発振器４０の出力信号
を受けて、周波数ｆref／Ｒの信号を出力する。分周器
３６のの出力信号及び分周器４２の出力信号は、位相比
較器４４に供給される。位相比較器４４の出力信号は、
ループ・フィルタ４６に供給される。ループ・フィルタ
４６の出力信号は、制御電圧Ｖcontとして抵抗器２６及
び２８の接続に供給される。この構成から明かな様に、
ＶＣＯ３２、分周器３６、分周器４２、位相比較器４４
及びループ・フィルタ４６は、位相ロック・ルー（ＰＬ
Ｌ）を形成し、周知の動作によりＶＣＯ３４の出力周波
数ｆcalは、次の式で表される。 ｆcal≒（Ｎ・Ｐ＋Ｓ）・ｆref／Ｒ ・・・（２）
【００１２】次に図１において、ＬＰＦ１０の遮断周波
数ｆcutを所望の値ｆcut’に設定するための、校正動作
を説明する。上述の如く、ＬＰＦ１０の遮断周波数ｆcu
tは、インダクタ１６及び可変容量ダイオード２４の値
で決まる。インダクタ１６のインダクタンスＬ0は既知
であり、ＬＰＦ１０の遮断周波数ｆcutを所望の値ｆcu
t’にするための可変容量ダイオード２４のキャパシタ
ンスＣ1’が計算により求められる。また、（１）式か
ら、可変容量ダイオード２４のキャパシタンスがＣ1’
であるときの出力周波数ｆcal’が得られる。ＭＰＵ３
８は、式（２）に従って、ＶＣＯ３４の出力周波数ｆca
lがｆcal’になるように分周器３６内の値Ｎ及びＳを適
切に選択して設定する。ＰＬＬの動作により、出力周波
数ｆcalはｆcal’に等しくなり、自動的にＬＰＦ１０の
遮断周波数が所望値ｆcut’になるように、可変容量ダ
イオード２４のキャパシタンスが所定値Ｃ1’に設定さ
れる。ＰＬＬの作用により、常に、ＶＣＯ３４の出力周
波数がｆcal'に維持されて、可変容量ダイオード２４の
キャパシタンスがＣ1’に維持され、よって、ＬＰＦ１
０の遮断周波数は所望値ｆcut’に正確に安定して維持
される。
数ｆcutを所望の値ｆcut’に設定するための、校正動作
を説明する。上述の如く、ＬＰＦ１０の遮断周波数ｆcu
tは、インダクタ１６及び可変容量ダイオード２４の値
で決まる。インダクタ１６のインダクタンスＬ0は既知
であり、ＬＰＦ１０の遮断周波数ｆcutを所望の値ｆcu
t’にするための可変容量ダイオード２４のキャパシタ
ンスＣ1’が計算により求められる。また、（１）式か
ら、可変容量ダイオード２４のキャパシタンスがＣ1’
であるときの出力周波数ｆcal’が得られる。ＭＰＵ３
８は、式（２）に従って、ＶＣＯ３４の出力周波数ｆca
lがｆcal’になるように分周器３６内の値Ｎ及びＳを適
切に選択して設定する。ＰＬＬの動作により、出力周波
数ｆcalはｆcal’に等しくなり、自動的にＬＰＦ１０の
遮断周波数が所望値ｆcut’になるように、可変容量ダ
イオード２４のキャパシタンスが所定値Ｃ1’に設定さ
れる。ＰＬＬの作用により、常に、ＶＣＯ３４の出力周
波数がｆcal'に維持されて、可変容量ダイオード２４の
キャパシタンスがＣ1’に維持され、よって、ＬＰＦ１
０の遮断周波数は所望値ｆcut’に正確に安定して維持
される。
【００１３】図２は、本発明の自動校正可能低域通過フ
ィルタ装置の他の実施例を示す回路ブロック図である。
この図において、図１と同一の構成要素には同一の参照
符号を付し、ここでは、図１の増幅器３２に相当する増
幅器４２の２つの入力端はインダクタ１６の両端に夫々
接続される。この場合、インダクタ１６、コンデンサ１
８、２０、２２、及び２４がタンク回路を形成し、増幅
器４２と共にＶＣＯ４４を構成する。コンデンサ１８及
び２０のキャパシタンスＣoは、可変容量ダイオード２
２及び２４のキャパシタンスＣ1より大幅に大きいの
で、ＶＣＯ４４の発振周波数ｆcalは、略インダクタ１
６のインダクタンスＬ0、可変容量ダイオード２２及び
２４のキャパシタンスＣ1の値により決まり、ダイオー
ド２２及び２４は直列に接続されているので、ｆcalは
次の式で表される。 ｆcal≒１／２π・（Ｌ0・Ｃ1／２）*（１／２） ・・・（２）
ィルタ装置の他の実施例を示す回路ブロック図である。
この図において、図１と同一の構成要素には同一の参照
符号を付し、ここでは、図１の増幅器３２に相当する増
幅器４２の２つの入力端はインダクタ１６の両端に夫々
接続される。この場合、インダクタ１６、コンデンサ１
８、２０、２２、及び２４がタンク回路を形成し、増幅
器４２と共にＶＣＯ４４を構成する。コンデンサ１８及
び２０のキャパシタンスＣoは、可変容量ダイオード２
２及び２４のキャパシタンスＣ1より大幅に大きいの
で、ＶＣＯ４４の発振周波数ｆcalは、略インダクタ１
６のインダクタンスＬ0、可変容量ダイオード２２及び
２４のキャパシタンスＣ1の値により決まり、ダイオー
ド２２及び２４は直列に接続されているので、ｆcalは
次の式で表される。 ｆcal≒１／２π・（Ｌ0・Ｃ1／２）*（１／２） ・・・（２）
【００１４】図２において、ＬＰＦ１０の遮断周波数ｆ
cutを所望の値ｆcut’に設定するための校正動作を行う
には、上述の同様に、まず、ＬＰＦ１０の遮断周波数ｆ
cutを所望の値ｆcut’にするための可変容量ダイオード
２４のキャパシタンスＣ1’が計算により求め、（２）
式から、可変容量ダイオード２４のキャパシタンスがＣ
1’であるときの発振周波数ｆcal’を求める。以下の動
作は、図１と同様であるので省略する。
cutを所望の値ｆcut’に設定するための校正動作を行う
には、上述の同様に、まず、ＬＰＦ１０の遮断周波数ｆ
cutを所望の値ｆcut’にするための可変容量ダイオード
２４のキャパシタンスＣ1’が計算により求め、（２）
式から、可変容量ダイオード２４のキャパシタンスがＣ
1’であるときの発振周波数ｆcal’を求める。以下の動
作は、図１と同様であるので省略する。
【００１５】以上、本発明の一実施例について説明した
が、本発明の要旨を逸脱することなく、種々の変更が可
能なことは当業者には明かである。例えば、３次可変Ｌ
ＰＦに本発明を適用した場合について上述したが、更に
高次の可変ＬＰＦにも適用可能である。基準発振器４０
の発振周波数が適当な周波数であれば、分周器４２は必
要としない。
が、本発明の要旨を逸脱することなく、種々の変更が可
能なことは当業者には明かである。例えば、３次可変Ｌ
ＰＦに本発明を適用した場合について上述したが、更に
高次の可変ＬＰＦにも適用可能である。基準発振器４０
の発振周波数が適当な周波数であれば、分周器４２は必
要としない。
【００１６】
【発明の効果】上述の様に、可変ＬＰＦが所望の遮断周
波数を有するための可変容量ダイオードの特定キャパシ
タンスを求め、更に、このキャパシタンスによるＶＣＯ
の特定周波数を求めておく。ＶＣＯ、分周器、位相比較
器及びループ・フィルタはＰＬＬを形成し、ＶＣＯの出
力周波数が特定周波数になるように分周器の分周比を設
定することにより、常に、可変容量ダイオードの特定キ
ャパシタンスに維持し、ＬＰＦ１０の遮断周波数は所望
値に正確に安定して維持できる。
波数を有するための可変容量ダイオードの特定キャパシ
タンスを求め、更に、このキャパシタンスによるＶＣＯ
の特定周波数を求めておく。ＶＣＯ、分周器、位相比較
器及びループ・フィルタはＰＬＬを形成し、ＶＣＯの出
力周波数が特定周波数になるように分周器の分周比を設
定することにより、常に、可変容量ダイオードの特定キ
ャパシタンスに維持し、ＬＰＦ１０の遮断周波数は所望
値に正確に安定して維持できる。
【図１】本発明の自動校正可能低域通過フィルタ装置の
一実施例を示す回路ブロック図。
一実施例を示す回路ブロック図。
【図２】本発明の自動校正可能低域通過フィルタ装置の
他の実施例を示す回路ブロック図。
他の実施例を示す回路ブロック図。
【図３】従来のバタワース型３次低域通過フィルタを示
す回路図
す回路図
１６ 第１インダクタ ２２、２４ 可変容量ダイオード ３０ 第２インダクタ ３２、４２ 増幅器 ３４、４４ 電圧制御発振器 ３６ 分周器 ４４ 位相比較器 ４６ ループ・フィルタ
Claims (2)
- 【請求項１】 制御電圧により可変容量ダイオードのキ
ャパシタンスを調整して、上記可変容量ダイオードのキ
ャパシタンス及び第１インダクタのインダクタンスで決
まる遮断周波数を制御可能な可変低域通過フィルタと、 上記可変容量ダイオードに並列に接続された第２インダ
クタと、 上記可変容量ダイオード及び上記第２インダクタに接続
されて電圧制御発振器を構成する増幅器と、 上記電圧制御発振器の出力信号が入力される分周器と、 該分周器の出力信号及び基準信号が入力される位相比較
器と、 該位相比較器の出力信号を受けて、出力信号を上記制御
電圧として上記可変低域通過フィルタに供給するループ
・フィルタとを具えることを特徴とする自動校正可能低
域通過フィルタ装置。 - 【請求項２】 制御電圧により可変容量ダイオードのキ
ャパシタンスを調整して、上記可変容量ダイオードのキ
ャパシタンス及びインダクタのインダクタンスで決まる
遮断周波数を制御可能な可変低域通過フィルタと、 ２つの入力端が上記インダクタに並列接続されて電圧制
御発振器を構成する増幅器と、 上記電圧制御発振器の出力信号が入力される分周器と、 該分周器の出力信号及び基準信号が入力される位相比較
器と、 該位相比較器の出力信号を受けて、出力信号を上記制御
電圧として上記可変低域通過フィルタに供給するループ
・フィルタとを具えることを特徴とする自動校正可能低
域通過フィルタ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20129294A JPH0851336A (ja) | 1994-08-03 | 1994-08-03 | 自動校正可能低域通過フィルタ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20129294A JPH0851336A (ja) | 1994-08-03 | 1994-08-03 | 自動校正可能低域通過フィルタ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0851336A true JPH0851336A (ja) | 1996-02-20 |
Family
ID=16438567
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20129294A Pending JPH0851336A (ja) | 1994-08-03 | 1994-08-03 | 自動校正可能低域通過フィルタ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0851336A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001194207A (ja) * | 1999-11-01 | 2001-07-19 | Nohken:Kk | 静電容量式検知装置 |
| WO2007094298A1 (ja) * | 2006-02-17 | 2007-08-23 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | フィルタ回路 |
| KR100964262B1 (ko) * | 2007-05-31 | 2010-06-16 | 후지쯔 세미컨덕터 가부시키가이샤 | 필터 회로 및 반도체 장치 |
| US11108370B2 (en) | 2019-01-04 | 2021-08-31 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Filter circuit and amplifier circuit |
-
1994
- 1994-08-03 JP JP20129294A patent/JPH0851336A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001194207A (ja) * | 1999-11-01 | 2001-07-19 | Nohken:Kk | 静電容量式検知装置 |
| WO2007094298A1 (ja) * | 2006-02-17 | 2007-08-23 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | フィルタ回路 |
| KR100964262B1 (ko) * | 2007-05-31 | 2010-06-16 | 후지쯔 세미컨덕터 가부시키가이샤 | 필터 회로 및 반도체 장치 |
| US11108370B2 (en) | 2019-01-04 | 2021-08-31 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Filter circuit and amplifier circuit |
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