JPH08315012A - Process tracking method and manufacturing line device using the method - Google Patents
Process tracking method and manufacturing line device using the methodInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、工程追跡方法およびそ
の方法を用いた製造ライン装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a process tracking method and a manufacturing line apparatus using the method.
【0002】[0002]
【従来の技術】たとえば液晶表示装置の製造において
は、その基体となるガラス基板(被生産物)を複数個ロ
ット毎にまとめて製造ラインに搬送させることによって
いくつかの製造工程を経て完成されるようになってい
る。2. Description of the Related Art For example, in the manufacture of a liquid crystal display device, a plurality of glass substrates (product) to be the base thereof are collected in batches and conveyed to a manufacturing line, and completed through several manufacturing steps. It is like this.
【0003】また、これら各製造工程の間には、必要と
する個所において、検査装置が配置され、たとえばガラ
ス基板上に形成された配線層の断線等が発生しているか
否かがチェックされるようになっている。In addition, an inspection apparatus is arranged at a required place between these manufacturing steps, and it is checked whether or not the wiring layer formed on the glass substrate is broken. It is like this.
【0004】そして、その際に断線等が発生し不良品と
判定された場合には、それら不良品を取り除き、いまま
で同様の工程を経て良品と判定されたガラス基板を他の
ロットから補充して、次の製造工程に移行させるように
している。このようにすることにより、結果としてロッ
トの数が少なくなり製造の効率化を図ることができるか
らである。Then, when disconnection or the like occurs at this time and it is determined that the product is defective, the defective product is removed, and a glass substrate determined to be a non-defective product is replenished from another lot through the same steps until now. Then, the process is moved to the next manufacturing process. By doing so, as a result, the number of lots is reduced and the manufacturing efficiency can be improved.
【0005】さらに、このような製造ラインにおいて
は、製品として完成された液晶表示装置が、後において
なんらかの原因で故障個所が発生した場合に、その原因
を追及するために、その液晶表示装置の製造履歴を調査
するいわゆる工程追跡装置が備えられているのが通常と
なる。Further, in such a manufacturing line, in the case where a liquid crystal display device completed as a product has a failure portion due to some cause later, the manufacture of the liquid crystal display device is investigated in order to investigate the cause. A so-called process tracking device for investigating history is usually provided.
【0006】すなわち、各ガラス基板にはそれらを固有
に識別できる情報(被生産物識別情報)が付されてお
り、該工程追跡装置は、これらの識別情報に基づいて特
定される各ガラス基板のそれぞれがどのような製造装置
を備える工程を順次経ているかの記録を逐次行っている
ものとなっている。That is, each glass substrate is provided with information (product identification information) capable of uniquely identifying them, and the process tracking device identifies each glass substrate based on these identification information. It is to be noted that the manufacturing process of each manufacturing process is sequentially recorded.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな工程追跡装置は、上述したように各ガラス基板毎に
それぞれ管理した方法を採用していることから、生産さ
れる液晶表示装置の数の増大にともなって、それらの工
程追跡に必要な情報は膨大となることが指摘されるに至
った。However, since such a process tracking device adopts the method of controlling each glass substrate as described above, the number of liquid crystal display devices produced increases. As a result, it has been pointed out that the amount of information necessary for tracking these processes will be enormous.
【0008】本発明は、このような事情に基づいてなさ
れたものであり、その目的は、工程追跡に必要な情報を
大幅に減少させることのできる工程追跡方法およびその
方法を用いた製造ライン装置を提供することにある。The present invention has been made under such circumstances, and an object of the invention is to provide a process tracking method and a manufacturing line apparatus using the process, which can significantly reduce information required for process tracking. To provide.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。Of the inventions disclosed in the present application, a representative one will be briefly described below.
It is as follows.
【0010】すなわち、検査工程を含む一連の加工工程
をロット毎に順次経て加工がなされる複数の各被生産物
のうち前記検査工程によって不良品と判定された被生産
物を他のロットからの被生産物と交換させる工程が含ま
れるものであって、各被生産物の工程履歴に関する情報
を得る工程追跡方法において、各ロットおよび被生産物
にはそれぞれロット識別情報および被生産物識別情報が
付され、ロット内の被生産物に交換がなされた際にはそ
のロット識別情報の変更がなされるとともに、最初の工
程の前段階と検査工程の後段階においてそれぞれロット
識別情報および被生産物識別情報の読み取りを行う工程
と、最初の工程を経るロットの識別情報とこのロット内
の各被生産物情報とをそれぞれ関連づけたデータと、検
査工程を経たロットの変更識別情報とこのロット内の各
被生産物情報とをそれぞれ関連づけたデータとの参照に
よって、各被生産物の工程履歴をロットの変更過程に基
づいて検出する工程とからなることを特徴とするもので
ある。That is, among a plurality of products to be processed which are sequentially processed for each lot through a series of processing processes including an inspection process, the products determined to be defective products by the inspection process are processed from other lots. In a process tracking method that includes a process of exchanging with a product, the lot identification information and the product identification information are provided for each lot and product in the process tracking method. When the product in the lot is replaced, the lot identification information is changed, and lot identification information and product identification are performed in the pre-stage of the first process and the post-stage of the inspection process, respectively. Data that associates the process of reading information, the identification information of the lot that has undergone the first process, and each product information in this lot, and the lock that has undergone the inspection process. And a process of detecting a process history of each product based on the process of changing the lot, by referring to the data in which each of the product identification information in the lot is associated with each other. To do.
【0011】[0011]
【作用】このように構成された工程追跡方法は、最初の
工程を経るロットの識別情報とこのロット内の各被生産
物情報とをそれぞれ関連づけたデータと、検査工程を経
たロットの変更識別情報とこのロット内の各被生産物情
報とをそれぞれ関連づけたデータとの相互参照によっ
て、各被生産物の工程履歴をロットの変更過程に基づい
て検出するようになっている。With the process tracking method configured as described above, the data for associating the identification information of the lot having passed the first process with the product information of each lot in the lot and the change identification information of the lot having undergone the inspection process are provided. The process history of each product is detected on the basis of the process of changing the lot by cross-reference with the data in which the product information in each lot is associated with each other.
【0012】すなわち、各ガラス基板の製造履歴をロッ
トの変更過程を介して検出できるようになっている。That is, the manufacturing history of each glass substrate can be detected through the lot changing process.
【0013】このことから、各ガラス基板毎のそれぞれ
の製造履歴情報を逐次格納していた従来の場合に比較し
て工程追跡に必要とする情報を大幅に減少させることが
できるようになる。As a result, the information required for process tracking can be greatly reduced as compared with the conventional case in which the manufacturing history information for each glass substrate is stored sequentially.
【0014】[0014]
【実施例】図2は、本発明による製造ライン装置の一実
施例である液晶表示装置の製造ライン装置を示す概略構
成図である。FIG. 2 is a schematic diagram showing a liquid crystal display manufacturing line apparatus which is an embodiment of the manufacturing line apparatus according to the present invention.
【0015】同図において、製造されるべく液晶表示装
置の基体となるガラス基板2が順次搬送されるようにな
っている。この場合の各ガラス基板2は所定数毎に容器
に収納されて、すなわち各ロット1毎にまとめられて搬
送されるようになっている。In the figure, the glass substrate 2 which is the base of the liquid crystal display device to be manufactured is sequentially conveyed. In this case, each glass substrate 2 is accommodated in a container in a predetermined number, that is, is collectively transported for each lot 1.
【0016】そして、ここでは、各ロット1には識別名
として順次たとえばA、B、C、…からなるロット識別
情報が付されているものとし、また、このように識別情
報Aが付されたロット1の各ガラス基板2にはa1、
a2、a3、a4、a5、…からなる非生産物識別情報が、
識別情報Bが付されたロット1の各ガラス基板2にはb
1、b2、b3、b4、b5、…からなる非生産物識別情報
が、識別情報Cが付されたロット1の各ガラス基板2に
はc1、c2、c3、c4、c5、…からなる被生産物識別
情報が付されているものとする。Here, it is assumed that each lot 1 is sequentially provided with lot identification information consisting of, for example, A, B, C, ... As an identification name, and the identification information A is provided in this manner. a 1 in each glass substrate 2 of lot 1,
The non-product identification information consisting of a 2 , a 3 , a 4 , a 5 , ...
For each glass substrate 2 of the lot 1 to which the identification information B is attached, b
The non-product identification information consisting of 1 , b 2 , b 3 , b 4 , b 5 , ... Is c 1 , c 2 , c 3 , c on each glass substrate 2 of the lot 1 to which the identification information C is attached. Product identification information consisting of 4 , c 5 , ... Is attached.
【0017】また、ロット識別情報はたとえば各容器の
所定の個所に描出され、被生産物識別情報は各ガラス基
板のたとえば周辺部に描出されている。The lot identification information is drawn, for example, at a predetermined portion of each container, and the product identification information is drawn, for example, on the peripheral portion of each glass substrate.
【0018】そして、このようなガラス基板1は、まず
被生産物識別情報読取装置3を経ることによって各ガラ
ス基板1に付された被生産物識別情報が読み込まれると
もに、ロット識別情報読取装置4を経ることによって各
ロット識別情報が読み込まれるようになっている。この
場合の各読取装置としては、たとえば撮像装置を介して
得られた映像から各識別情報を判別する等の方法が採用
される。In such a glass substrate 1, the product identification information attached to each glass substrate 1 is first read by passing through the product identification information reading device 3, and the lot identification information reading device 4 is also read. Each lot identification information is read by going through. As each reading device in this case, for example, a method of discriminating each identification information from an image obtained through an imaging device is adopted.
【0019】被生産物識別情報読取装置3およびロット
識別情報読取装置4で得られる各情報は工程追跡装置5
へ送信され、この工程追跡装置5内の図示しないメモリ
に格納されるようになっている。Each information obtained by the product identification information reading device 3 and the lot identification information reading device 4 is the process tracking device 5.
And is stored in a memory (not shown) in the process tracking device 5.
【0020】この場合におけるメモリへの格納は、図1
のデータαに示すように、ロット識別情報Aに対して被
生産物情報a1、a2、a3、a4、a5、…があり、ロッ
ト識別情報Bに対して被生産物情報b1、b2、b3、
b4、b5、…があり、さらに、ロット識別情報Cに対し
て被生産物情報c1、c2、c3、c4、c5、…があると
いうようになされるようになっている。The storage in the memory in this case is as shown in FIG.
, The product identification information a 1 , a 2 , a 3 , a 4 , a 5 , ... For the lot identification information A, the product identification information b for the lot identification information B. 1 , b 2 , b 3 ,
b 4, b 5, there ... further, lot identification information under manufacture information c 1 relative to C, c 2, c 3, c 4, c 5, ... so made and so is There is.
【0021】すなわち、ロット識別情報とこのロット識
別情報が付された容器に収納されている各ガラス基板の
それぞれの被生産物識別情報とをそれぞれ対応づけがな
されて格納されるようになっている。That is, the lot identification information and the product identification information of each glass substrate stored in the container to which the lot identification information is attached are stored in association with each other. .
【0022】そして、このような情報の読み取りがなさ
れた後、各ガラス基板2はロット毎に工程(1)を経る
ようになっている。この場合の工程(1)はたとえばガ
ラス基板2の表面にたとえばゲート(走査)信号線から
なる配線層を複数形成する工程だとする。After such information is read, each glass substrate 2 goes through the process (1) for each lot. In this case, step (1) is assumed to be a step of forming a plurality of wiring layers formed of, for example, gate (scanning) signal lines on the surface of the glass substrate 2.
【0023】その後、検査装置6を経ることによって各
配線層の断線検査が行われるようになっている。この結
果、断線が生じているガラス基板2を不良品として判定
し、このガラス基板2を製造ラインから取り外すととも
に、これによりロット(識別情報A)に空きが生じた部
分に他のロット(たとえば識別情報Bが付されているロ
ット)からのガラス基板2を補充する。そして、これに
伴いロット(識別情報Bが付されているロット)に生じ
た空きの部分に他のロット(たとえば識別情報Cが付さ
れているロット)からのガラス基板2を補充する。さら
に、ロット(識別情報Cが付されているロット)に生じ
た空きの部分に他のロット(たとえば識別情報Dが付さ
れているロット)からのガラス基板2を補充する。この
ようにガラス基板2の入替えを行うのは、結果としてロ
ットの数を減少させて製造の効率を図らんがためであ
る。Thereafter, the inspection device 6 is used to perform a disconnection inspection of each wiring layer. As a result, the broken glass substrate 2 is determined as a defective product, the glass substrate 2 is removed from the manufacturing line, and the lot (identification information A) is vacant in another lot (for example, the identification). The glass substrate 2 from the lot marked with information B) is replenished. Then, the glass substrate 2 from another lot (for example, the lot to which the identification information C is attached) is replenished to the vacant portion generated in the lot (the lot to which the identification information B is attached). Furthermore, the glass substrate 2 from another lot (for example, the lot to which the identification information D is attached) is replenished to the vacant portion generated in the lot (the lot to which the identification information C is attached). The reason why the glass substrate 2 is replaced in this way is to reduce the number of lots as a result and to improve the manufacturing efficiency.
【0024】なお、ガラス基板2のこのような入替え
は、上述したように必ずしも同一生産ラインにおけるガ
ラス基板どおしに限定されることはなく、平行してなさ
れる同一の工程からなる他の生産ラインからの補充がな
されても同様である。It should be noted that such replacement of the glass substrate 2 is not necessarily limited to the glass substrates in the same production line as described above, but other productions performed in the same process in parallel. The same is true even if replenishment is made from the line.
【0025】そして、この場合、ガラス基板2の収納状
態が変更されたそれぞれのロットにはその識別情報の変
更が行われるようになっている。たとえば、上述した例
の場合、ロット識別情報Aをロット識別情報Oに、ロッ
ト識別情報Bをロット識別情報Pに、そしてロット識別
情報Cをロット識別情報Qにという具合にである。In this case, the identification information of each lot whose glass substrate 2 has been stored is changed. For example, in the case of the above-mentioned example, the lot identification information A is the lot identification information O, the lot identification information B is the lot identification information P, the lot identification information C is the lot identification information Q, and so on.
【0026】なお、この場合のロット識別情報の変更は
容器自体を変更させてもよいし、また、識別情報それ自
体を変更するようにしてもよいことはいうまでもない。Needless to say, in this case, the lot identification information may be changed by changing the container itself or by changing the identification information itself.
【0027】この場合における各ロットのガラス基板2
の入替えにともなう移動の状態を図3に示している。同
図から明らかなように、ロット識別情報Aが付されたロ
ットはロット識別情報Oに変更され、その変更されたロ
ットは被生産物識別情報a1、a2、b2、a4、a5、
a6、b4、…が付されたガラス基板2からなり、ロット
識別情報Bが付されたロットはロット識別情報Pに変更
され、その変更されたロットは被生産物識別情報c1、
c2、c3、c4、b5、b6、b4、…が付されたガラス基
板2からなり、さらに、ロット識別情報Cが付されたロ
ットはロット識別情報Qに変更され、その変更されたロ
ットは被生産物識別情報d1、d2、d3、d4、c5、
c6、c4、…が付されたガラス基板2からなっている。The glass substrates 2 of each lot in this case
FIG. 3 shows the state of movement accompanying the replacement of. As is apparent from the figure, the lot with the lot identification information A is changed to the lot identification information O, and the changed lots are the product identification information a 1 , a 2 , b 2 , a 4 , a. 5 ,
a 6, b 4, ... are made of glass substrate 2 that is attached, lot identification information B is attached lot is changed to the lot identification information P, the changed lot under manufacture identification information c 1,
It consists of the glass substrate 2 with c 2 , c 3 , c 4 , b 5 , b 6 , b 4 , ... And the lot with lot identification information C is changed to lot identification information Q. The changed lots are the product identification information d 1 , d 2 , d 3 , d 4 , c 5 ,
The glass substrate 2 is provided with c 6 , c 4 , ...
【0028】そして、このような各ガラス基板1は、さ
らに被生産物識別情報読取装置7を経ることによって各
ガラス基板1に付された被生産物識別情報が読み込まれ
るともに、ロット識別情報読取装置8を経ることによっ
て各ロット識別情報が読み込まれるようになっている。Then, each glass substrate 1 is further passed through the product identification information reading device 7 so that the product identification information attached to each glass substrate 1 is read and the lot identification information reading device is read. Each lot identification information is read by going through 8.
【0029】被生産物識別情報読取装置7およびロット
識別情報読取装置8で得られる各情報は前記工程追跡装
置5へ送信され、この工程追跡装置5内の図示しないメ
モリに格納されるようになっている。Each information obtained by the product identification information reading device 7 and the lot identification information reading device 8 is transmitted to the process tracking device 5 and stored in a memory (not shown) in the process tracking device 5. ing.
【0030】この場合におけるメモリへの格納は、図1
のデータβに示すように、ロット識別情報Oに対して被
生産物情報a1、a2、b2、a4、a5、a6、b4、…が
あり、ロット識別情報Pに対して被生産物情報c1、
c2、c3、c4、b5、b6、b4、…があり、さらに、ロ
ット識別情報Qに対して被生産物情報d1、d2、d3、
d4、c5、c6、c4、…があるというようになされるよ
うになっている。The storage in the memory in this case is as shown in FIG.
As shown in the data β of the lot identification information O, there is product information a 1 , a 2 , b 2 , a 4 , a 5 , a 6 , b 4 , ... Product information c 1 ,
c 2, c 3, c 4 , b 5, b 6, b 4, ... There are, furthermore, object product information d 1 with respect to the lot identification information Q, d 2, d 3,
d 4, c 5, c 6 , c 4, ... so that the made are such that there is.
【0031】すなわち、ロット識別情報とこのロット識
別情報が付された容器に収納されている各ガラス基板の
それぞれの被生産物識別情報とをそれぞれ対応づけがな
されて格納されるようになっている。That is, the lot identification information and the product identification information of each glass substrate stored in the container to which the lot identification information is attached are stored in association with each other. .
【0032】その後は、工程(2)9および工程(3)
10を経た後に、検査装置11による検査がなされ、こ
の際に不良品が発生した場合に、上述と同様の方法でガ
ラス基板2の入替えとロット識別情報の変更がなされ
る。After that, step (2) 9 and step (3)
After 10 times, the inspection is performed by the inspection device 11, and when a defective product is generated at this time, the glass substrate 2 is replaced and the lot identification information is changed by the same method as described above.
【0033】以下、液晶表示装置が完成されるまで、上
述した工程が繰り返され、被生産物識別情報読取装置お
よびロット識別情報読取装置からは上述した内容の情報
が工程追跡装置へ順次送信されかつ記憶されるようにな
っている。Thereafter, the above-described steps are repeated until the liquid crystal display device is completed, and the product identification information reading device and the lot identification information reading device sequentially transmit the above-mentioned information to the process tracking device, and It is supposed to be remembered.
【0034】そして、このようにして工程追跡装置5内
のメモリに上述した各情報が格納された後において、特
定のガラス基板(液晶表示装置として完成されている)
についての製造履歴を調査したい場合には、対象となる
ガラス基板の被生産物識別情報を該工程追跡装置5に入
力させることによって、該ガラス基板の製造履歴がロッ
トの変更過程を介して判るようになっている。Then, after the above-mentioned respective information is stored in the memory in the process tracking device 5 in this way, a specific glass substrate (completed as a liquid crystal display device)
In order to investigate the manufacturing history of the glass substrate, the manufacturing history of the glass substrate can be known through the lot changing process by inputting the product identification information of the target glass substrate to the process tracking device 5. It has become.
【0035】たとえば図1の場合においては、対象とな
る被生産物識別情報がa1のガラス基板の場合、予め与
えられているデータαとデータβとから、ロットがAか
らOに変更されていることが容易に検出できることにな
る。また、同様に、対象となる被生産物識別情報がb5
のガラス基板の場合、ロットがBからPに変更されてい
ることが判る。同図の下段に示すデータχは、実際に存
在するデータではなく、被生産物識別情報のいかなる指
定によってもそのロットの変更過程がデータα、βに基
づいて全て判明できることを示している。For example, in the case of FIG. 1, when the target product identification information is a 1 glass substrate, the lot is changed from A to O based on the data α and data β given in advance. It will be easy to detect that there is. Similarly, the target product identification information is b 5
It can be seen that the lot is changed from B to P in the case of the glass substrate. The data χ shown in the lower part of the figure is not the data that actually exist, but indicates that the change process of the lot can be completely determined based on the data α and β by any designation of the product identification information.
【0036】ここで、図1の場合、与えられているデー
タは1回目の検査までに得られるもののみとなってお
り、実際には各検査の後に順次得られる多数のデータか
らなるものであり、この場合においても、対象となる被
生産物情報に対してロットの変更過程が順次検出できる
ことはいうまでもない。Here, in the case of FIG. 1, the given data are only those obtained by the first inspection, and in reality they consist of a large number of data obtained sequentially after each inspection. Even in this case, it goes without saying that the lot change process can be sequentially detected for the target product information.
【0037】このことから、各ガラス基板の製造履歴を
ロットの変更過程を介して誤りなく検出できることか
ら、各ガラス基板毎の製造履歴情報を逐次格納していた
従来の場合に比較して少ない情報で済むことができるよ
うになる。From this fact, since the manufacturing history of each glass substrate can be detected without error through the process of changing the lot, there is less information as compared with the conventional case in which the manufacturing history information for each glass substrate is sequentially stored. Will be able to do it.
【0038】図4は、本発明による他の実施例を示す説
明図であり、図1と対応づけられている。FIG. 4 is an explanatory view showing another embodiment according to the present invention and is associated with FIG.
【0039】図1と異なるのは、検査後に得られるデー
タβにおける変更されたロットの識別情報を変更前のロ
ットの識別情報と関連(リンク)させて格納させるとと
もに、変更された被生産物識別情報のみを変更前の被生
産物識別情報と関連(リンク)させて格納させるように
している。The difference from FIG. 1 is that the changed lot identification information in the data β obtained after the inspection is stored in association with the lot identification information before the change (link), and the changed product identification is performed. Only the information is stored in association with the product identification information before the change.
【0040】この場合においても、上述したと同様の効
果が得られることはいうまでもない。Even in this case, it goes without saying that the same effect as described above can be obtained.
【0041】上述した実施例では、液晶表示装置の製造
において本発明を適用した場合について説明したもので
あるが、たとえば半導体装置等の他の製造においても適
用できることはいうまでもない。In the above-described embodiments, the case where the present invention is applied to the manufacture of the liquid crystal display device has been described, but it goes without saying that the present invention can also be applied to other manufacture of semiconductor devices and the like.
【0042】[0042]
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明による工程追跡方法およびその方法を用いた製造
ライン装置によれば、工程追跡に必要な情報を大幅に減
少させることができるようになる。As is apparent from the above description,
According to the process tracking method and the manufacturing line device using the method of the present invention, the information required for the process tracking can be significantly reduced.
【図1】本発明による工程追跡方法の一実施例を示す説
明図である。FIG. 1 is an explanatory diagram showing an embodiment of a process tracking method according to the present invention.
【図2】本発明による製造ライン装置の一実施例を示す
説明図である。FIG. 2 is an explanatory view showing an embodiment of a production line device according to the present invention.
【図3】本発明による工程追跡方法の工程過程の一実施
例を示す説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram showing an example of a process step of a process tracking method according to the present invention.
【図4】本発明による工程追跡方法の他の実施例を示す
説明図である。FIG. 4 is an explanatory view showing another embodiment of the process tracking method according to the present invention.
【符号の説明】 1……ロット、2……ガラス基板、3、7……被生産物
識別情報読取装置、4、8……ロット識別情報読取装
置、5……工程追跡装置。[Explanation of Codes] 1 ... lot, 2 ... glass substrate, 3,7 ... product identification information reading device, 4,8 ... lot identification information reading device, 5 ... process tracking device.
Claims (2)
毎に順次経て加工がなされる複数の各被生産物のうち前
記検査工程によって不良品と判定された被生産物を他の
ロットからの被生産物と交換させる工程が含まれるもの
であって、各被生産物の工程履歴に関する情報を得る工
程追跡方法において、 各ロットおよび被生産物にはそれぞれロット識別情報お
よび被生産物識別情報が付され、ロット内の被生産物に
交換がなされた際にはそのロット識別情報の変更がなさ
れるとともに、 最初の工程の前段階と検査工程の後段階においてそれぞ
れロット識別情報および被生産物識別情報の読み取りを
行う工程と、 最初の工程を経るロットの識別情報とこのロット内の各
被生産物情報とをそれぞれ関連づけたデータと、検査工
程を経たロットの変更識別情報とこのロット内の各被生
産物情報とをそれぞれ関連づけたデータとの参照によっ
て、各被生産物の工程履歴をロットの変更過程に基づい
て検出する工程とからなることを特徴とする工程追跡方
法。1. A product determined to be defective by the inspection process among a plurality of products to be processed by sequentially performing a series of processing processes including an inspection process for each lot from other lots. In the process tracking method that includes the process of exchanging with the product, the lot identification information and the product identification information are provided for each lot and the product, respectively. When the product in the lot is replaced, the lot identification information is changed, and lot identification information and product identification are performed at the stage before the first process and the stage after the inspection process, respectively. Data that associates the process of reading information, the identification information of the lot that passed the first process, and each product information in this lot, and the change of the lot that passed the inspection process A step of detecting the process history of each product based on the change process of the lot by referring to the identification information and the data in which each product information in this lot is associated with each other. Tracking method.
毎に順次経て加工がなされる複数の各被生産物のうち前
記検査工程によって不良品と判定された被生産物を他の
ロットからの被生産物と交換させる工程が含まれるもの
であって、 各被生産物の工程履歴に関する情報を記録する工程追跡
装置を備える製造ライン装置において、 各ロットおよび被生産物にはそれぞれロット識別情報お
よび被生産物識別情報が付され、ロット内の被生産物に
交換がなされた際にはそのロット識別情報の変更がなさ
れるとともに、 前記工程追跡装置は、最初の工程の前段階と検査工程の
後段階においてそれぞれロット識別情報および被生産物
識別情報の読み取り装置とを備え、 かつ、最初の工程を経るロットの識別情報とこのロット
内の各被生産物情報とをそれぞれ関連づけたデータと、
検査工程を経たロットの変更識別情報とこのロット内の
各被生産物情報とをそれぞれ関連づけたデータとの参照
によって、各被生産物の工程履歴をロットの変更過程に
基づいて検出する検出手段とを備えていることを特徴と
する製造ライン装置。2. A product determined to be defective by the inspection process among a plurality of products to be processed by sequentially performing a series of processing processes including an inspection process for each lot from other lots. In a manufacturing line device including a process of exchanging with a product, and including a process tracking device that records information about the process history of each product, lot identification information and lot identification information are provided for each lot and product. Product identification information is attached, and when the product in the lot is exchanged, the lot identification information is changed, and the process tracking device is used for the pre-stage of the first process and the inspection process. It is equipped with a device for reading the lot identification information and the product identification information at a later stage, and the identification information of the lot that has undergone the first process and each product information in this lot are provided. And the associated data, respectively Re,
Detection means for detecting the process history of each product based on the process of changing the lot by referring to the change identification information of the lot that has undergone the inspection process and the data in which each product information in this lot is associated with each other. A manufacturing line device comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12095295A JPH08315012A (en) | 1995-05-19 | 1995-05-19 | Process tracking method and manufacturing line device using the method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12095295A JPH08315012A (en) | 1995-05-19 | 1995-05-19 | Process tracking method and manufacturing line device using the method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08315012A true JPH08315012A (en) | 1996-11-29 |
Family
ID=14799048
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12095295A Pending JPH08315012A (en) | 1995-05-19 | 1995-05-19 | Process tracking method and manufacturing line device using the method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08315012A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001144159A (en) * | 1999-11-15 | 2001-05-25 | Matsushita Electronics Industry Corp | Wafer-replenishing method |
JP2005284626A (en) * | 2004-03-29 | 2005-10-13 | Jfe Steel Kk | Manufacture progress evaluation device and method by order lot unit in actual goods appropriation system |
-
1995
- 1995-05-19 JP JP12095295A patent/JPH08315012A/en active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2001144159A (en) * | 1999-11-15 | 2001-05-25 | Matsushita Electronics Industry Corp | Wafer-replenishing method |
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JP4613504B2 (en) * | 2004-03-29 | 2011-01-19 | Jfeスチール株式会社 | Manufacturing progress evaluation apparatus and method for order lot unit in actual product allocation system |
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