JPH08304307A - 蛍光材料を用いる検査の画像取り込み方法 - Google Patents
蛍光材料を用いる検査の画像取り込み方法Info
- Publication number
- JPH08304307A JPH08304307A JP13866295A JP13866295A JPH08304307A JP H08304307 A JPH08304307 A JP H08304307A JP 13866295 A JP13866295 A JP 13866295A JP 13866295 A JP13866295 A JP 13866295A JP H08304307 A JPH08304307 A JP H08304307A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- inspected
- ccd camera
- light
- black light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 被検査材の表面欠陥に対し蛍光材料を用い非
破壊的に行う探傷検査の自動判定ができるようになる蛍
光材料を用いる検査の画像取り込み方法を提供する。 【構成】 被検査材１の表面に蛍光材料をかけたうえブ
ラックライトを当て表面欠陥からの蛍光色をＣＣＤカメ
ラ４に取り込み検査するにあたり、高周波ブラックライ
ト２を使用するとともにＣＣＤカメラ４の前に紫外線及
び外乱光カットフィルター３を置く。
破壊的に行う探傷検査の自動判定ができるようになる蛍
光材料を用いる検査の画像取り込み方法を提供する。 【構成】 被検査材１の表面に蛍光材料をかけたうえブ
ラックライトを当て表面欠陥からの蛍光色をＣＣＤカメ
ラ４に取り込み検査するにあたり、高周波ブラックライ
ト２を使用するとともにＣＣＤカメラ４の前に紫外線及
び外乱光カットフィルター３を置く。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁粉探傷検査，浸透探
傷検査等蛍光材料を用いる検査の画像取り込み方法に関
する。
傷検査等蛍光材料を用いる検査の画像取り込み方法に関
する。
【０００２】
【従来の技術】被検査材の表面欠陥を非破壊的に探傷検
査する磁粉探傷検査，浸透探傷検査においては、蛍光材
料を被検査材表面にかけて光学的に検査を行うが、例え
ば磁粉探傷検査においては、図４斜視図に示すように、
暗室内で検査員が、被検査材１１を磁粉探傷装置の磁化
ヘッド１２で挟んで蛍光材料用ノズル１３から蛍光材料
をかけて磁化し、ブラックライト１４の下で被検査材１
１を目視で観察し、検査する。しかしながらこのような
方法では、ＣＣＤカメラを用い自動判定しようとして
も、蛍光色を発光させるためのブラックライトの周波数
が低いためＣＣＤカメラに安定した欠陥からの蛍光色を
取り込めず、またＣＣＤカメラには欠陥からの蛍光色以
外の外乱光も取り込まれる等の不具合があり、結局ＣＣ
Ｄカメラによる自動判定ができなかった。
査する磁粉探傷検査，浸透探傷検査においては、蛍光材
料を被検査材表面にかけて光学的に検査を行うが、例え
ば磁粉探傷検査においては、図４斜視図に示すように、
暗室内で検査員が、被検査材１１を磁粉探傷装置の磁化
ヘッド１２で挟んで蛍光材料用ノズル１３から蛍光材料
をかけて磁化し、ブラックライト１４の下で被検査材１
１を目視で観察し、検査する。しかしながらこのような
方法では、ＣＣＤカメラを用い自動判定しようとして
も、蛍光色を発光させるためのブラックライトの周波数
が低いためＣＣＤカメラに安定した欠陥からの蛍光色を
取り込めず、またＣＣＤカメラには欠陥からの蛍光色以
外の外乱光も取り込まれる等の不具合があり、結局ＣＣ
Ｄカメラによる自動判定ができなかった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、このような
事情に鑑みて提案されたもので、被検査材の表面欠陥に
対し蛍光材料を用い非破壊的に行う探傷検査の自動判定
ができるようになる蛍光材料を用いる検査の画像取り込
み方法を提供することを目的とする。
事情に鑑みて提案されたもので、被検査材の表面欠陥に
対し蛍光材料を用い非破壊的に行う探傷検査の自動判定
ができるようになる蛍光材料を用いる検査の画像取り込
み方法を提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】そのために本発明は、被
検査材の表面に蛍光材料をかけたうえブラックライトを
当て表面欠陥からの蛍光色をＣＣＤカメラに取り込み検
査するにあたり、高周波ブラックライトを使用するとと
もにＣＣＤカメラの前に紫外線及び外乱光をカットする
フィルターを置くことを特徴とする。
検査材の表面に蛍光材料をかけたうえブラックライトを
当て表面欠陥からの蛍光色をＣＣＤカメラに取り込み検
査するにあたり、高周波ブラックライトを使用するとと
もにＣＣＤカメラの前に紫外線及び外乱光をカットする
フィルターを置くことを特徴とする。
【０００５】
【作用】本発明方法の作用の１点目は、例えば３０ｋＨ
ｚの高周波数のブラックライトを用い、あたかも交流波
形を直流波形のようにして安定した紫外線の発生を可能
とする。また２点目は、紫外線により発生した欠陥から
の蛍光色だけを取り込むために、被検査材表面から反射
してくる紫外線及びほこり，ごみ等の外乱光をカットす
るフィルターを設け、これを画像処理装置と組み合わせ
ることにより自動判定を可能とする。
ｚの高周波数のブラックライトを用い、あたかも交流波
形を直流波形のようにして安定した紫外線の発生を可能
とする。また２点目は、紫外線により発生した欠陥から
の蛍光色だけを取り込むために、被検査材表面から反射
してくる紫外線及びほこり，ごみ等の外乱光をカットす
るフィルターを設け、これを画像処理装置と組み合わせ
ることにより自動判定を可能とする。
【０００６】
【実施例】本発明蛍光材料を用いる検査の画像取り込み
方法の一実施例を図面について説明すると、図１は本方
法を実施する態様の模式図、図２は高周波ブラックライ
トの原理の説明図、図３は紫外線及び外乱光カットフィ
ルターの適用状況の説明図である。まず図１において本
方法の概要を説明すると、蛍光材料を散布し磁化した被
検査材１を暗室に置き、高周波ブラックライト２から出
る紫外線を当て、前面に紫外線及び外乱光カットフィル
ター３を具備したＣＣＤカメラ４で撮像する。
方法の一実施例を図面について説明すると、図１は本方
法を実施する態様の模式図、図２は高周波ブラックライ
トの原理の説明図、図３は紫外線及び外乱光カットフィ
ルターの適用状況の説明図である。まず図１において本
方法の概要を説明すると、蛍光材料を散布し磁化した被
検査材１を暗室に置き、高周波ブラックライト２から出
る紫外線を当て、前面に紫外線及び外乱光カットフィル
ター３を具備したＣＣＤカメラ４で撮像する。
【０００７】そこでこのような装置配備による本方法を
図２及び図３も参照して詳細に説明する。高周波ブラッ
クライト２は、図２に示すように、３０ｋＨｚの高周波
数であたかも交流波形を直流波形のようにして安定した
紫外線の発生を可能とし、ＣＣＤカメラ４の安定した画
像取り込みを可能とする。すなわちＣＣＤカメラ４の画
像取り込みは１／３０Ｓ毎であり、通常の５０／６０Ｈ
ｚのブラックライトでは紫外線の取り込みが１回しかな
く、ＣＣＤカメラ４上見えないため画像取り込みができ
ない。しかし３０ｋＨｚの高周波ブラックライト２では
５００回の画像取り込みが可能であり、十分ＣＣＤカメ
ラ４で見ることができる。
図２及び図３も参照して詳細に説明する。高周波ブラッ
クライト２は、図２に示すように、３０ｋＨｚの高周波
数であたかも交流波形を直流波形のようにして安定した
紫外線の発生を可能とし、ＣＣＤカメラ４の安定した画
像取り込みを可能とする。すなわちＣＣＤカメラ４の画
像取り込みは１／３０Ｓ毎であり、通常の５０／６０Ｈ
ｚのブラックライトでは紫外線の取り込みが１回しかな
く、ＣＣＤカメラ４上見えないため画像取り込みができ
ない。しかし３０ｋＨｚの高周波ブラックライト２では
５００回の画像取り込みが可能であり、十分ＣＣＤカメ
ラ４で見ることができる。
【０００８】このような高周波ブラックライト２から出
る紫外線を被検査材１に当てると、表面欠陥からは蛍光
色が出るとともに、被検査材１表面から反射された紫外
線及びほこり等の外乱光が反射されて、これを紫外線及
び外乱光カットフィルター３を前に置いたＣＣＤカメラ
４で撮像する。このとき紫外線及び外乱光カットフィル
ター３では紫外線及び外乱光をカットし欠陥からの蛍光
色のみを通す。すなわち図３に示すように、欠陥から出
る蛍光色の波長は約５３００Åであり、紫外線の反射光
の波長は約３５００Å，ほこり等からの外乱光の波長は
約７０００Åであるので、紫外線及び外乱光カットフィ
ルター３を、波長４０００Å以下をカットするフィルタ
ーと波長６２００Å以上をカットするフィルターと２枚
のフィルターを用いた２層コーティングフィルターとす
ることにより、紫外線及び外乱光をカットし蛍光色のみ
を通し、この蛍光色のみをＣＣＤカメラ４が取り込むこ
とができる。
る紫外線を被検査材１に当てると、表面欠陥からは蛍光
色が出るとともに、被検査材１表面から反射された紫外
線及びほこり等の外乱光が反射されて、これを紫外線及
び外乱光カットフィルター３を前に置いたＣＣＤカメラ
４で撮像する。このとき紫外線及び外乱光カットフィル
ター３では紫外線及び外乱光をカットし欠陥からの蛍光
色のみを通す。すなわち図３に示すように、欠陥から出
る蛍光色の波長は約５３００Åであり、紫外線の反射光
の波長は約３５００Å，ほこり等からの外乱光の波長は
約７０００Åであるので、紫外線及び外乱光カットフィ
ルター３を、波長４０００Å以下をカットするフィルタ
ーと波長６２００Å以上をカットするフィルターと２枚
のフィルターを用いた２層コーティングフィルターとす
ることにより、紫外線及び外乱光をカットし蛍光色のみ
を通し、この蛍光色のみをＣＣＤカメラ４が取り込むこ
とができる。
【０００９】しかしてＣＣＤカメラ４で取り込んだ欠陥
から出た蛍光色のみの画像につき画像処理装置５で検査
合否を自動判定し、この結果に基づいて選別装置６が働
いて、被検査材１は合格箱，不合格箱へ選別収納され
て、被検査材１の探傷検査の全自動化作業完了となる。
から出た蛍光色のみの画像につき画像処理装置５で検査
合否を自動判定し、この結果に基づいて選別装置６が働
いて、被検査材１は合格箱，不合格箱へ選別収納され
て、被検査材１の探傷検査の全自動化作業完了となる。
【００１０】
【発明の効果】要するに本発明によれば、被検査材の表
面に蛍光材料をかけたうえブラックライトを当て表面欠
陥からの蛍光色をＣＣＤカメラに取り込み検査するにあ
たり、高周波ブラックライトを使用するとともにＣＣＤ
カメラの前に紫外線及び外乱光をカットするフィルター
を置くことにより、被検査材の表面欠陥に対し蛍光材料
を用い非破壊的に行う探傷検査の自動判定ができるよう
になる蛍光材料を用いる検査の画像取り込み方法を得る
から、本発明は産業上極めて有益なものである。
面に蛍光材料をかけたうえブラックライトを当て表面欠
陥からの蛍光色をＣＣＤカメラに取り込み検査するにあ
たり、高周波ブラックライトを使用するとともにＣＣＤ
カメラの前に紫外線及び外乱光をカットするフィルター
を置くことにより、被検査材の表面欠陥に対し蛍光材料
を用い非破壊的に行う探傷検査の自動判定ができるよう
になる蛍光材料を用いる検査の画像取り込み方法を得る
から、本発明は産業上極めて有益なものである。
【図１】本発明蛍光材料を用いる検査の画像取り込み方
法の一実施例における実施態様の模式図である。
法の一実施例における実施態様の模式図である。
【図２】高周波ブラックライトの原理の説明図である。
【図３】紫外線及び外乱光カットフィルターの適用状況
の説明図である。
の説明図である。
【図４】従来の蛍光材料を用いる検査方法の斜視図であ
る。
る。
１ 被検査材 ２ 高周波ブラックライト ３ 紫外線及び外乱光カットフィルター ４ ＣＣＤカメラ ５ 画像処理装置 ６ 選別装置
Claims (1)
- 【請求項１】 被検査材の表面に蛍光材料をかけたうえ
ブラックライトを当て表面欠陥からの蛍光色をＣＣＤカ
メラに取り込み検査するにあたり、高周波ブラックライ
トを使用するとともにＣＣＤカメラの前に紫外線及び外
乱光をカットするフィルターを置くことを特徴とする蛍
光材料を用いる検査の画像取り込み方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13866295A JPH08304307A (ja) | 1995-05-12 | 1995-05-12 | 蛍光材料を用いる検査の画像取り込み方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13866295A JPH08304307A (ja) | 1995-05-12 | 1995-05-12 | 蛍光材料を用いる検査の画像取り込み方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08304307A true JPH08304307A (ja) | 1996-11-22 |
Family
ID=15227212
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13866295A Withdrawn JPH08304307A (ja) | 1995-05-12 | 1995-05-12 | 蛍光材料を用いる検査の画像取り込み方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08304307A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006065180A1 (en) * | 2004-12-16 | 2006-06-22 | Volvo Aero Corporation | A method and a device for detecting cracks in an object |
| CN107132272A (zh) * | 2017-06-08 | 2017-09-05 | 南京理工大学 | 多尺寸多结构工件的荧光磁粉表面缺陷成像检测系统 |
-
1995
- 1995-05-12 JP JP13866295A patent/JPH08304307A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006065180A1 (en) * | 2004-12-16 | 2006-06-22 | Volvo Aero Corporation | A method and a device for detecting cracks in an object |
| CN107132272A (zh) * | 2017-06-08 | 2017-09-05 | 南京理工大学 | 多尺寸多结构工件的荧光磁粉表面缺陷成像检测系统 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4469442A (en) | Detecting irregularities in a coating on a substrate | |
| JP2006162427A (ja) | Ｌｅｄチップの検査方法及びｌｅｄチップの検査装置 | |
| JP3938227B2 (ja) | 異物検査方法および装置 | |
| WO2000060344A1 (fr) | Procede et appareil d'essai non destructif | |
| JPH10282063A (ja) | 表面疵自動検査装置 | |
| JPS6348444A (ja) | ガラス基板の表面自動検査方法および装置 | |
| JP2001343330A (ja) | 外観検査装置 | |
| JPH08304307A (ja) | 蛍光材料を用いる検査の画像取り込み方法 | |
| JP3977503B2 (ja) | フィルム検査方法およびそれを用いたフィルム検査装置 | |
| JPH0410563B2 (ja) | ||
| JP4146678B2 (ja) | 画像検査方法および装置 | |
| JP2000258398A (ja) | 欠陥検査方法，欠陥検査装置及び欠陥検査支援方法 | |
| JP3135075B2 (ja) | 外観検査方法およびその装置、磁気ヘッド検査方法およびその装置並びに磁気ヘッド製造設備 | |
| JP2003121372A (ja) | 鋼板疵検査装置 | |
| JPH04223262A (ja) | 蛍光磁粉探傷における画像処理方法 | |
| JPS5922895B2 (ja) | 表面疵自動探傷方法及び装置 | |
| JPS62110148A (ja) | 磁粉探傷欠陥判別法 | |
| JP2001141664A (ja) | 表面検査における検査支援方法 | |
| JPH07151693A (ja) | 外観検査方法及びそれに用いる外観検査装置 | |
| JPH0375546A (ja) | コンパクトディスク等の表面保護膜の検査方法 | |
| JP2955686B2 (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JP2002082066A (ja) | 傷検査方法および傷検査装置 | |
| JP2564737B2 (ja) | 自動磁粉探傷装置 | |
| JP3206674B2 (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JPS60152937A (ja) | 磁粉探傷検査における欠陥抽出法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20020806 |