JPH08254686A - Production of display device - Google Patents

Production of display device

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JPH08254686A
JPH08254686A JP8645795A JP8645795A JPH08254686A JP H08254686 A JPH08254686 A JP H08254686A JP 8645795 A JP8645795 A JP 8645795A JP 8645795 A JP8645795 A JP 8645795A JP H08254686 A JPH08254686 A JP H08254686A
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substrate
display device
semiconductor integrated
integrated circuit
film
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Shunpei Yamazaki
舜平 山崎
Yasuhiko Takemura
保彦 竹村
Setsuo Nakajima
節男 中嶋
Yasuyuki Arai
康行 荒井
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Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
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    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73203Bump and layer connectors
    • H01L2224/73204Bump and layer connectors the bump connector being embedded into the layer connector

Abstract

PURPOSE: To provide a packaging method for driver circuits which are small in occupying area of a passive matrix type or active matrix type electro-optical display device (for example, liquid crystal display device). CONSTITUTION: The circuits (stick crystal) of nearly the same length as the length of one side of a matrix 8 are formed as the driver circuits 7 on a supporting substrate. These circuits 7 are adhered onto a display device substrate 1 and the terminals of the circuits are connected to the terminals of the display device and thereafter, the circuits are treated in gas contg. halogen, by which the supporting substrate of the driver circuits 7 is removed. As a result, the circuits of the extremely simple constitution without having the turning around area of wirings which is heretofore needed by a TAB method and COG method are formed. More particularly, the driver circuits 7 are formed on the large area substrate 1 consisting of glass, etc., in this embodiment. Further, the display device may be formed on a material, such as plastic substrate, which is light and is highly resistant to impact. The display device having excellent portability is thereby obtd.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示装置等のパッ
シブマトリクス型もしくはアクティブマトリクス型の表
示装置に関し、特に、表示画面の周辺に取り付ける半導
体集積回路を効果的に実装する方法であり、プラスチッ
クフィルム等の薄型の基板にも実装可能な、表示装置の
作製方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a passive matrix type or active matrix type display device such as a liquid crystal display device, and more particularly to a method for effectively mounting a semiconductor integrated circuit mounted on the periphery of a display screen. The present invention relates to a method for manufacturing a display device that can be mounted on a thin substrate such as a film.

【0002】[0002]

【従来の技術】マトリクス型の表示装置としては、パッ
シブマトリクス型とアクティブマトリクス型の構造が知
られている。パッシブマトリクス型では、第1の基板上
に透明導電膜等でできた多数の短冊型の電気配線(ロー
配線)をある方向に形成し、第2の基板上には、前記第
1の基板上の電気配線とは概略垂直な方向に同様な短冊
型の電気配線(カラム配線)を形成する。そして、両基
板上の電気配線が対向するように基板を配置する。
2. Description of the Related Art Passive matrix type and active matrix type structures are known as matrix type display devices. In the passive matrix type, a large number of strip-shaped electric wirings (low wirings) made of a transparent conductive film or the like are formed in a certain direction on the first substrate, and on the second substrate, the above-mentioned first substrate is formed. Similar strip-shaped electrical wiring (column wiring) is formed in a direction substantially perpendicular to the electrical wiring. Then, the substrates are arranged so that the electric wirings on both substrates face each other.

【0003】基板間に液晶材料のように電圧・電流等に
よって、透光性、光反射・散乱性の変化する電気光学材
料を設けておけば、第1の基板の任意のロー配線と第2
の基板の任意のカラム配線との間に電圧・電流等を印加
すれば、その交差する部分の透光性、光反射・散乱性等
を選択できる。このようにして、マトリクス表示が可能
となる。
If an electro-optical material, such as a liquid crystal material, whose translucency, light reflection / scattering property is changed by voltage / current, etc. is provided between the substrates, an arbitrary low wiring of the first substrate and the second wiring are provided.
By applying a voltage / current or the like between the substrate and any column wiring, it is possible to select the translucency, the light reflection / scattering property or the like of the intersecting portion. In this way, matrix display is possible.

【0004】アクティブマトリクス型では、第1の基板
上に多層配線技術を用いて、ロー配線とカラム配線とを
形成し、この配線の交差する部分に画素電極を設け、画
素電極には薄膜トランジスタ(TFT)等のアクティブ
素子を設けて、画素電極の電位や電流を制御する構造と
する。また、第2の基板上にも透明導電膜を設け、第1
の基板の画素電極と、第2の基板の透明導電膜とが対向
するように基板を配置する。
In the active matrix type, a row wiring and a column wiring are formed on the first substrate by using a multi-layer wiring technique, a pixel electrode is provided at an intersection of these wirings, and a thin film transistor (TFT) is provided on the pixel electrode. ) Is provided to control the potential and current of the pixel electrode. In addition, a transparent conductive film is provided on the second substrate,
The substrate is arranged so that the pixel electrode on the substrate and the transparent conductive film on the second substrate face each other.

【0005】通常、これらの表示装置は、ガラスが基板
として用いられた。パッシブマトリクス型では、基板上
に透明導電膜を形成し、これをエッチングして、ロー・
カラム配線パターンを形成する以外には特に複雑なプロ
セスのないため、プラスチックを基板とすることも可能
であった。一方、比較的、高温の成膜工程を有し、ま
た、ナトリウム等の可動イオンを避ける必要のあるアク
ティブマトリクス型では、基板としてアルカリ濃度の極
めて低いガラス基板を用いる必要があった。
In these display devices, glass is usually used as a substrate. In the passive matrix type, a transparent conductive film is formed on the substrate and this is etched to
Since there is no particularly complicated process other than forming the column wiring pattern, it was possible to use plastic as the substrate. On the other hand, in the active matrix type, which has a relatively high temperature film forming process and needs to avoid mobile ions such as sodium, it is necessary to use a glass substrate having an extremely low alkali concentration as a substrate.

【0006】[0006]

【発明の解決しようとする課題】いずれにせよ、従来の
マトリクス型表示装置においては、特殊なもの以外は、
マトリクスを駆動するための半導体集積回路(周辺駆動
回路、もしくは、ドライバー回路という)を取り付ける
必要があった。従来は、これは、テープ自動ボンディン
グ(TAB)法やチップ・オン・グラス(COG)法に
よってなされてきた。しかしながら、マトリクスの規模
は数100行にも及ぶ大規模なものであるので、集積回
路の端子も非常に多く、対するドライバー回路は、長方
形状のICパッケージや半導体チップであるため、これ
らの端子を基板上の電気配線と接続するために配線を引
き回す必要から、表示画面に比して、周辺部分の面積が
無視できないほど大きくなった。
In any case, in the conventional matrix type display device, except the special one,
It was necessary to attach a semiconductor integrated circuit (referred to as a peripheral drive circuit or a driver circuit) for driving the matrix. Traditionally, this has been done by tape automated bonding (TAB) or chip-on-glass (COG). However, since the scale of the matrix is as large as several hundreds of rows, the number of terminals of the integrated circuit is very large, and since the driver circuit corresponding thereto is a rectangular IC package or semiconductor chip, these terminals are Since the wiring needs to be routed to connect with the electric wiring on the substrate, the area of the peripheral portion becomes so large that it cannot be ignored compared to the display screen.

【0007】この問題を解決する方法として、特開平7
−14880には、ドライバー回路を、マトリクスの1
辺とほぼ同じ程度の細長い基板(スティック、もしく
は、スティック・クリスタルという)上に形成し、これ
をマトリクスの端子部に接続するという方法が開示され
ている。ドライバー回路としては、幅2mmほど程度で
十分であることにより、このような配置が可能となる。
このため、基板のほとんどを表示画面とすることができ
た。
As a method for solving this problem, Japanese Unexamined Patent Publication No. Hei 7
-14880 has a driver circuit in the matrix 1
A method is disclosed in which it is formed on an elongated substrate (called a stick or a stick crystal) having approximately the same size as the sides, and this is connected to the terminal portion of the matrix. Such a layout is possible because a driver circuit having a width of about 2 mm is sufficient.
Therefore, most of the substrates can be used as the display screen.

【0008】しかしながら、スティック・クリスタルに
関しては、ドライバー回路の基板の厚さが、表示装置全
体の小型化に支障をきたした。例えば、表示装置をより
薄くする必要から基板の厚さを0.3mmとすること
は、基板の種類や工程を最適化することにより可能であ
る。しかし、スティック・クリスタルの厚さは、製造工
程で必要とされる強度から0.5mm以下とすることは
困難であり、結果として、基板を張り合わせたときに、
0.2mm以上もスティック・クリスタルが出ることと
なる。
However, regarding the stick crystal, the thickness of the substrate of the driver circuit hinders the miniaturization of the entire display device. For example, it is possible to reduce the thickness of the substrate to 0.3 mm because it is necessary to make the display device thinner by optimizing the type and process of the substrate. However, it is difficult to set the thickness of the stick crystal to 0.5 mm or less because of the strength required in the manufacturing process. As a result, when the substrates are laminated,
Stick crystals will be produced for 0.2 mm or more.

【0009】さらに、スティック・クリスタルと表示装
置の基板の種類が異なると、熱膨張の違い等の理由によ
り、回路に欠陥が生じることがあった。特に、表示装置
の基板として、プラスチック基板を用いると、この問題
が顕著であった。なぜならば、スティック・クリスタル
の基板としては、プラスチックを用いることは、耐熱性
の観点から、実質的に不可能なためである。
Further, when the stick crystal and the substrate of the display device are different in type, a circuit may be defective due to a difference in thermal expansion or the like. This problem was particularly noticeable when a plastic substrate was used as the substrate of the display device. This is because it is practically impossible to use plastic as the stick crystal substrate from the viewpoint of heat resistance.

【0010】また、この問題を解決するための他の方法
として、TFTを有する半導体集積回路を他の支持基板
上に形成し、これを剥離して、他の基板に接着する方法
や、または、他の基板に接着した後、元の支持基板を除
去する方法が知られている。これは、一般にはシリコン
・オン・インシュレタ─(SOI)の技術として知られ
ている。しかし、この技術では半導体集積回路は、支持
基板のサイズで規定されてしまい、例えば、表示素子の
大面積化には十分対応できないことは明らかであった。
As another method for solving this problem, a method of forming a semiconductor integrated circuit having a TFT on another supporting substrate, peeling it off and adhering it to another substrate, or A method of removing the original supporting substrate after adhering it to another substrate is known. This is commonly known as the Silicon on Insulator (SOI) technology. However, with this technique, the semiconductor integrated circuit is defined by the size of the supporting substrate, and it is clear that it cannot sufficiently cope with, for example, an increase in the area of a display element.

【0011】さらに、支持基板を除去するに際して、半
導体集積回路に損傷を与えることが多く、よって、歩留
りが低下することも問題であった。本発明は、このよう
な問題点を解決し、表示装置のより一層の小型・軽量化
を実現せしめ、かつ、高い歩留りを達成するための、表
示装置の作製方法を提供することを目的とする。
Further, when the supporting substrate is removed, the semiconductor integrated circuit is often damaged, resulting in a decrease in yield. An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a display device, which solves such problems, realizes further reduction in size and weight of the display device, and achieves a high yield. .

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明は、表示装置の基
板上に、スティック・クリスタルと同等な半導体集積回
路を機械的に接着し、かつ、電気的な接続を完了したの
ち、該スティック・クリスタルの支持基板のみを除去す
ることによって、ドライバー回路部分の薄型化を実施す
ることを特徴とする。このような構造では、基板の熱膨
張による変形応力は、回路全般に均一にかかり、したが
って、特定の箇所にのみ応力が集中して、欠陥が発生す
るということは避けられる。
According to the present invention, a semiconductor integrated circuit equivalent to a stick crystal is mechanically bonded on a substrate of a display device, and electrical connection is completed. The feature is that the driver circuit portion is thinned by removing only the crystal support substrate. In such a structure, the deformation stress due to the thermal expansion of the substrate is evenly applied to the entire circuit, so that it is possible to avoid that the stress concentrates only on a specific portion and a defect is generated.

【0013】この場合、最も高い技術が要求されるのは
支持基板を除去し、半導体集積回路を剥離する方法であ
る。本発明では、前記支持基板から半導体集積回路を剥
離するに際し、ハロゲン、特に、フッ化ハロゲン、を含
む気体を用いることを特色とする。フッ化ハロゲンと
は、化学式XFn (Xはフッ素以外のハロゲン、nは整
数)で示される物質であり、例えば、一フッ化塩素(C
lF)、三フッ化塩素(ClF3 )、一フッ化臭素(B
rF)、三フッ化臭素(BrF3 )、一フッ化沃素(I
F)、三フッ化沃素(IF3 )等が知られている。
In this case, what requires the highest technology is a method of removing the supporting substrate and peeling the semiconductor integrated circuit. The present invention is characterized in that a gas containing halogen, particularly halogen fluoride, is used when the semiconductor integrated circuit is peeled from the supporting substrate. Halogen fluoride is a substance represented by the chemical formula XF n (X is a halogen other than fluorine, n is an integer), and for example, chlorine monofluoride (C
IF), chlorine trifluoride (ClF 3 ), bromine monofluoride (B
rF), bromine trifluoride (BrF 3 ), iodine monofluoride (I
F), iodine trifluoride (IF 3 ) and the like are known.

【0014】フッ化ハロゲンは、シリコンを非プラズマ
状態でもエッチングするが、酸化珪素は全くエッチング
しないという特徴を有する。プラズマを用いる必要がな
いということは、プラズマダメージによる回路の破壊が
なく、よって歩留り向上に効果的である。さらに、酸化
珪素とシリコンとのエッチングの選択性が極めて高いこ
とも、回路や素子を破壊しないという意味で有益であ
る。
Halogen fluoride has a characteristic that silicon is etched even in a non-plasma state, but silicon oxide is not etched at all. The fact that there is no need to use plasma is effective in improving the yield because there is no circuit destruction due to plasma damage. Further, the extremely high etching selectivity between silicon oxide and silicon is also advantageous in that it does not damage the circuit or the device.

【0015】本発明においては、支持基板上にシリコン
を主成分とする剥離層を形成し、その上に、酸化珪素に
よって被覆された半導体集積回路を形成する。シリコン
は、前記したようにフッ化ハロゲンにより、プラズマを
用いないでもエッチングされるが、その他のハロゲンを
有する気体、例えば、四フッ化炭素(CF4 )や三フッ
化窒素(NF3 )等も、プラズマ状態になるとシリコン
をエッチングするので、本発明に用いることができる。
したがって、支持基板をフッ化ハロゲン等のハロゲンを
有する気体中、もしくはプラズマ中に置くことにより、
支持基板の剥離層をエッチングし、よって半導体集積回
路を剥離することができる。
In the present invention, a release layer containing silicon as a main component is formed on a supporting substrate, and a semiconductor integrated circuit covered with silicon oxide is formed thereon. Silicon is etched by halogen fluoride without using plasma as described above, but other halogen-containing gases such as carbon tetrafluoride (CF 4 ) and nitrogen trifluoride (NF 3 ) are also included. Since silicon is etched in a plasma state, it can be used in the present invention.
Therefore, by placing the supporting substrate in a gas containing halogen such as halogen fluoride, or in plasma,
The release layer of the supporting substrate can be etched, and thus the semiconductor integrated circuit can be released.

【0016】本発明によって作製されるべき表示装置
は、電気配線と、これに電気的に接続され、TFTを有
する細長い半導体集積回路を有する第1の基板の電気配
線の形成された面に対して、表面に透明導電膜を有する
第2の基板の透明導電膜を対向させた構造を有し、特開
平7−14880のスティック・クリスタルと同様、前
記半導体集積回路は、表示装置の表示面(すなわち、マ
トリクス)の1辺の長さに概略等しい。そして、この半
導体集積回路は、他の支持基板上に作製されたものを、
前記したように、ハロゲンを有する気体を用いて剥離し
て、前記第1の基板に装着する方法である。
A display device to be manufactured according to the present invention is provided with respect to a surface of the first substrate which has an electrical wiring and an elongated semiconductor integrated circuit electrically connected to the electrical wiring and on which the electrical wiring is formed. The semiconductor integrated circuit has a structure in which the transparent conductive film of the second substrate having a transparent conductive film on the surface is opposed to each other. Like the stick crystal of JP-A-7-14880, the semiconductor integrated circuit is , Matrix) is approximately equal to the length of one side. And, this semiconductor integrated circuit is manufactured on another supporting substrate,
As described above, it is a method of peeling using a gas having a halogen and mounting it on the first substrate.

【0017】特に、パッシブマトリクス型の場合には、
第1の方向に延びる複数の透明導電膜の第1の電気配線
と、これに接続され、TFTを有し、第1の方向に概略
垂直な第2の方向に延びる細長い第1の半導体集積回路
とを有する第1の基板と、第2の方向に延びる複数の透
明導電膜の第2の電気配線と、これに接続され、TFT
を有し、前記第1の方向に延びる第2の半導体集積回路
とを有する第2の基板とを、第1の電気配線と第2の電
気配線が対向するように配置した表示装置で、第1およ
び第2の半導体集積回路は他の支持基板上に作製された
ものを剥離して、それぞれの基板に装着する。
Particularly in the case of the passive matrix type,
A first electric wiring of a plurality of transparent conductive films extending in the first direction, and a long and narrow first semiconductor integrated circuit connected to the first electric wiring and having a TFT and extending in a second direction substantially perpendicular to the first direction. And a second electric wiring of a plurality of transparent conductive films extending in the second direction and connected to the first electric wiring.
A second substrate having a second semiconductor integrated circuit extending in the first direction, the first electric wiring and the second electric wiring being arranged to face each other. The first and second semiconductor integrated circuits are separated from those formed on the other supporting substrate and mounted on the respective substrates.

【0018】また、アクティブマトリクス型の場合に
は、第1の方向に延びる複数の第1の電気配線と、これ
に接続され、TFTを有し、第1の方向に概略垂直な第
2の方向に延びる第1の半導体集積回路と、第2の方向
に延びる複数の第2の電気配線と、これに接続され、T
FTを有し、第1の方向に延びる第2の半導体集積回路
とを有する第1の基板を表面に透明導電膜を有する第2
の基板に、第1の基板の第1および第2の電気配線と、
第2の基板の透明導電膜とが、対向するように、配置さ
せた表示装置で、第1および第2の半導体集積回路は他
の支持基板上に作製されたものを剥離して、第1の基板
に装着する。
In the case of the active matrix type, a plurality of first electric wirings extending in the first direction and TFTs connected to the first electric wirings are provided, and the second electric wirings are substantially perpendicular to the first direction. A first semiconductor integrated circuit extending in the second direction, a plurality of second electric wirings extending in the second direction, connected to the second electric wiring, and
A second substrate having a transparent conductive film on the surface of a first substrate having an FT and having a second semiconductor integrated circuit extending in the first direction.
The first and second electrical wiring of the first substrate,
In the display device arranged so that the transparent conductive film of the second substrate faces each other, the first and second semiconductor integrated circuits, which are formed on another supporting substrate, are peeled off to form the first and second semiconductor integrated circuits. Attach to the board.

【0019】本発明によって作製された表示装置の断面
の例を示すと、図1のようになる。図1(A)は、比較
的、小さな倍率で見たものである。図の左側は、半導体
集積回路の設けられたドライバー回路部7を、また、右
側は、マトリクス部8を示す。基板1上には透明等電膜
等の材料でできた電気配線4のパターンを形成し、さら
に、金のような材料で突起物(バンプ)6を設ける。一
方、半導体集積回路2は、実質的にTFTと同程度の厚
さのもので、これには、接続部分に導電性酸化物のよう
に、酸化によって接触抵抗の変動しない材料によって、
電極5を設けておき、これをバンプ6に接触させる。そ
して、機械的に固定するために、半導体集積回路2と基
板1の間には、樹脂3を封入する。(図1(A))
An example of a cross section of a display device manufactured according to the present invention is shown in FIG. FIG. 1A is viewed at a relatively small magnification. The left side of the figure shows a driver circuit section 7 provided with a semiconductor integrated circuit, and the right side shows a matrix section 8. On the substrate 1, a pattern of the electric wiring 4 made of a material such as a transparent isoelectric film is formed, and a protrusion (bump) 6 is further provided by a material such as gold. On the other hand, the semiconductor integrated circuit 2 has substantially the same thickness as the TFT, and is made of a material whose contact resistance does not fluctuate due to oxidation, such as a conductive oxide, in the connection portion.
The electrode 5 is provided and brought into contact with the bump 6. Then, a resin 3 is sealed between the semiconductor integrated circuit 2 and the substrate 1 for mechanical fixing. (Fig. 1 (A))

【0020】図1(A)のうち、点線で囲まれた接触部
を拡大したのが、図1(B)である。符号は、図1
(A)と同じ物を示す。さらに、図1(B)の点線で囲
まれた部分を拡大したのが、図1(C)である。すなわ
ち、半導体集積回路は、Nチャネル型TFT(12)と
Pチャネル型TFT(13)が、下地絶縁膜11、層間
絶縁物14、あるいは、窒化珪素等のパッシベーション
膜15で挟まれた構造となる。(図1(B)、図1
(C))
FIG. 1B is an enlarged view of the contact portion surrounded by a dotted line in FIG. 1A. The reference numeral is FIG.
The same thing as (A) is shown. Further, FIG. 1 (C) is an enlarged view of a portion surrounded by a dotted line in FIG. 1 (B). That is, the semiconductor integrated circuit has a structure in which the N-channel type TFT (12) and the P-channel type TFT (13) are sandwiched between the base insulating film 11, the interlayer insulator 14 or the passivation film 15 such as silicon nitride. . (FIG. 1 (B), FIG.
(C))

【0021】通常、半導体集積回路を形成する際の下地
膜11としては酸化珪素を用いるが、それだけでは、耐
湿性等が劣るので、別途、パッシベーション膜をその上
に設けなければならないが、図3に示すように、半導体
回路とその接触部の厚さが液晶の基板間厚さよりも薄け
れば、対向基板16を回路の上に重ねることも可能であ
る。その場合には、特開平5−66413に開示されて
いる液晶表示装置と同等に、ドライバー回路部7の外側
で、エポキシ樹脂等のシール剤17によって液晶封止
(シール)処理をおこない、また、基板1と16の間に
は、液晶材料18を満たすので、外部から可動イオン等
が侵入することが無く、特別にパッシベーション膜を設
ける必要はない。(図3)
Normally, silicon oxide is used as the base film 11 when forming a semiconductor integrated circuit. However, since it is inferior in moisture resistance and the like by itself, a passivation film must be separately provided thereon. As shown in FIG. 7, if the thickness of the semiconductor circuit and its contact portion is smaller than the thickness of the liquid crystal between the substrates, it is possible to stack the counter substrate 16 on the circuit. In that case, as in the liquid crystal display device disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 5-66413, liquid crystal sealing (sealing) processing is performed on the outside of the driver circuit portion 7 with a sealing agent 17 such as epoxy resin. Since the liquid crystal material 18 is filled between the substrates 1 and 16, mobile ions and the like do not enter from the outside, and it is not necessary to provide a special passivation film. (Fig. 3)

【0022】また、接触部分に関しては、バンプを用い
る方法の他に、図1(D)に示すように、金の粒9のよ
うな導電性粒子を接着部分に拡散させ、これによって、
電気的な接触を得るようにしてもよい。粒子の直径は、
半導体集積回路2と基板1の間隔よりやや大きくすると
よい。(図1(D))このような表示装置の作製順序の
概略は、図2に示される。図2はパッシブマトリクス型
の表示装置の作製手順を示す。まず、多数の半導体集積
回路22が、剥離層を介して支持基板21の上に形成す
る。(図2(A))
Regarding the contact portion, in addition to the method using bumps, as shown in FIG. 1 (D), conductive particles such as gold particles 9 are diffused to the adhesive portion, whereby
Electrical contact may be obtained. The particle diameter is
It may be set to be slightly larger than the distance between the semiconductor integrated circuit 2 and the substrate 1. (FIG. 1D) An outline of the manufacturing order of such a display device is shown in FIG. FIG. 2 shows a procedure for manufacturing a passive matrix display device. First, a large number of semiconductor integrated circuits 22 are formed on the supporting substrate 21 with the peeling layer interposed therebetween. (Fig. 2 (A))

【0023】そして、これを分断して、スティック・ク
リスタル23、24を得る。得られたスティック・クリ
スタルは、次の工程に移る前に電気特性をテストして、
良品・不良品に選別するとよい。(図2(B))次に、
スティック・クリスタル23、24の回路の形成された
面を、それぞれ、別の基板25、27の透明導電膜によ
る配線のパターンの形成された面26、28上に接着
し、電気的な接続を取る。(図2(C)、図2(D))
Then, this is divided to obtain stick crystals 23 and 24. The stick crystal obtained is tested for electrical properties before moving on to the next step,
It is good to select good products and defective products. (Fig. 2 (B)) Next,
The surfaces of the stick crystals 23, 24 on which the circuits are formed are adhered to the surfaces 26, 28 of the wiring patterns of the transparent conductive film of the other substrates 25, 27, respectively, to establish electrical connection. . (Fig. 2 (C), Fig. 2 (D))

【0024】その後、本発明の方法によって、ハロゲン
を含む気体によって、剥離層をエッチングし、よって、
スティック・クリスタル23、24の支持基板をはが
し、半導体集積回路29、30のみを前記基板の面2
6、28上に残す。(図2(E)、図2(F))最後
に、このようにして得られた基板を向かい合わせること
により、パッシブマトリクス型表示装置が得られる。な
お、面26は、面26の逆の面、すなわち、配線パター
ンの形成されていない方の面を意味する(図2(G))
The release layer is then etched by a gas containing halogen by the method of the invention, and
The supporting substrate for the stick crystals 23, 24 is peeled off, and only the semiconductor integrated circuits 29, 30 are attached to the surface 2 of the substrate.
Leave on 6, 28. (FIG. 2 (E), FIG. 2 (F)) Finally, the substrates thus obtained are faced to each other to obtain a passive matrix display device. The surface 26 means the surface opposite to the surface 26, that is, the surface on which the wiring pattern is not formed (FIG. 2 (G)).

【0025】上記の場合には、ロー・スティック・クリ
スタル(ロー配線を駆動するドライバー回路用のスティ
ック・クリスタル)とカラム・スティック・クリスタル
(カラム配線を駆動するドライバー回路用のスティック
・クリスタル)を同じ基板21から切りだしたが、別の
基板から切りだしてもよいことは言うまでもない。ま
た、図2ではパッシブマトリクス型表示装置の例を示し
たが、アクティブマトリクス型表示装置でも、同様にお
こなえることは言うまでもない。さらに、フィルムのよ
うな材料を基板として形成される場合は実施例に示し
た。
In the above case, the row stick crystal (the stick crystal for the driver circuit that drives the row wiring) and the column stick crystal (the stick crystal for the driver circuit that drives the column wiring) are the same. It is cut out from the substrate 21, but needless to say, it may be cut out from another substrate. Although FIG. 2 shows an example of the passive matrix type display device, it goes without saying that the same can be applied to the active matrix type display device. Further, the case where a material such as a film is formed as the substrate is shown in the embodiment.

【0026】[0026]

【実施例】【Example】

〔実施例1〕本実施例は、パッシブマトリクス型液晶表
示装置の一方の基板の作製工程の概略を示すものであ
る。本実施例を図4および図5を用いて説明する。図4
には、スティック・クリスタル上にドライバー回路を形
成する工程の概略を示す。また、図5には、スティック
・クリスタルを液晶表示装置の基板に実装する工程の概
略を示す。
[Embodiment 1] This embodiment outlines a manufacturing process of one substrate of a passive matrix liquid crystal display device. This embodiment will be described with reference to FIGS. 4 and 5. FIG.
Shows an outline of a process of forming a driver circuit on a stick crystal. Further, FIG. 5 shows an outline of a process of mounting the stick crystal on the substrate of the liquid crystal display device.

【0027】スティック・クリスタルの支持基板にはガ
ラス基板を用いた。まず、ガラス基板31上に剥離層と
して、厚さ3000Åのシリコン膜32を堆積した。シ
リコン膜32は、その上に形成される回路と基板とを分
離する際にエッチングされるので、膜質についてはほと
んど問題とされないので、量産可能な方法によって堆積
すればよい。さらに、シリコン膜はアモルファスでも結
晶性でもよい。
A glass substrate was used as a supporting substrate for the stick crystal. First, a 3000 Å thick silicon film 32 was deposited as a release layer on the glass substrate 31. Since the silicon film 32 is etched when the circuit formed on it and the substrate are separated from each other, there is almost no problem with the film quality, and therefore the silicon film 32 may be deposited by a method that can be mass-produced. Further, the silicon film may be amorphous or crystalline.

【0028】また、ガラス基板は、コーニング705
9、同1737、NHテクノグラスNA45、同35、
日本電気硝子OA2等の無アルカリもしくは低アルカリ
ガラスや石英ガラスを用いればよい。石英ガラスを用い
る場合には、そのコストが問題となるが、本発明では1
つの液晶表示装置に用いられる面積は極めて小さいの
で、単位当たりのコストは十分に小さい。
The glass substrate is Corning 705.
9, 1737, NH Techno Glass NA45, 35,
Non-alkali or low-alkali glass such as Nippon Electric Glass OA2 or quartz glass may be used. When quartz glass is used, its cost becomes a problem, but in the present invention, 1
Since the area used for one liquid crystal display device is extremely small, the cost per unit is sufficiently small.

【0029】シリコン膜32上には、厚さ1000Åの
酸化珪素膜33を堆積した。この酸化珪素膜は下地膜と
なるので、作製には十分な注意が必要である。そして、
公知の方法により、結晶性の島状シリコン領域(シリコ
ン・アイランド)34、35を形成した。このシリコン
膜の厚さは、必要とする半導体回路の特性を大きく左右
するが、一般には、薄いほうが好ましかった。本実施例
では400〜600Åとした。
A silicon oxide film 33 having a thickness of 1000 Å was deposited on the silicon film 32. Since this silicon oxide film serves as a base film, sufficient care must be taken in its fabrication. And
The crystalline island-shaped silicon regions (silicon islands) 34 and 35 were formed by a known method. Although the thickness of the silicon film largely influences the required characteristics of the semiconductor circuit, it is generally preferable that the thickness is thin. In this embodiment, it is set to 400 to 600Å.

【0030】また、結晶性シリコンを得るには、アモル
ファスシリコンにレーザー等の強光を照射する方法(レ
ーザーアニール法)や、熱アニールによって固相成長さ
せる方法(固相成長法)が用いられる。固相成長法を用
いる際には、特開平6−244104に開示されるよう
に、ニッケル等の触媒元素をシリコンに添加すると、結
晶化温度を下げ、アニール時間を短縮できる。さらに
は、特開平6−318701のように、一度、固相成長
法によって結晶化せしめたシリコンを、レーザーアニー
ルしてもよい。いずれの方法を採用するかは、必要とさ
れる半導体回路の特性や基板の耐熱温度等によって決定
すればよい。
In order to obtain crystalline silicon, a method of irradiating amorphous silicon with strong light such as laser (laser annealing method) or a method of solid phase growth by thermal annealing (solid phase growth method) is used. When the solid phase growth method is used, as disclosed in JP-A-6-244104, if a catalytic element such as nickel is added to silicon, the crystallization temperature can be lowered and the annealing time can be shortened. Further, as in Japanese Patent Laid-Open No. 6-318701, silicon once crystallized by the solid phase growth method may be laser annealed. Which method should be adopted may be determined depending on the required characteristics of the semiconductor circuit, the heat resistant temperature of the substrate, and the like.

【0031】その後、プラズマCVD法もしくは熱CV
D法によって、厚さ1200Åの酸化珪素のゲイト絶縁
膜36を堆積し、さらに、厚さ5000Åの結晶性シリ
コンによって、ゲイト電極・配線37、38を形成し
た。ゲイト配線は、アルミニウムやタングステン、チタ
ン等の金属や、あるいはそれらの珪化物でもよい。さら
に、金属のゲイト電極を形成する場合には、特開平5−
267667もしくは同6−338612に開示される
ように、その上面もしくは側面を陽極酸化物で被覆して
もよい。ゲイト電極をどのような材料で構成するかは、
必要とされる半導体回路の特性や基板の耐熱温度等によ
って決定すればよい。(図4(A))
After that, a plasma CVD method or a thermal CV method is used.
The gate insulating film 36 of silicon oxide having a thickness of 1200 Å was deposited by the D method, and the gate electrodes / wirings 37 and 38 were further formed from crystalline silicon having a thickness of 5000 Å. The gate wiring may be a metal such as aluminum, tungsten or titanium, or a silicide thereof. Furthermore, in the case of forming a metal gate electrode, the method disclosed in Japanese Patent Laid-Open No.
As disclosed in 267667 or 6-338612, its top or side may be coated with an anodic oxide. The material used to construct the gate electrode depends on
It may be determined according to the required characteristics of the semiconductor circuit, the heat resistant temperature of the substrate, and the like. (Fig. 4 (A))

【0032】その後、セルフアライン的に、イオンドー
ピング法等の手段によりN型およびP型の不純物をシリ
コン・アイランドに導入し、N型領域39、P型領域4
0を形成した。そして、公知の手段で、層間絶縁物(厚
さ5000Åの酸化珪素膜)41を堆積した。そして、
これにコンタクトホールを開孔し、アルミニウム合金配
線41〜44を形成した。(図4(B))
After that, in self-alignment, N-type and P-type impurities are introduced into the silicon island by means such as an ion doping method, so that the N-type region 39 and the P-type region 4 are formed.
Formed 0. Then, an interlayer insulator (a silicon oxide film having a thickness of 5000Å) 41 was deposited by a known means. And
Contact holes were opened in this, and aluminum alloy wirings 41 to 44 were formed. (Fig. 4 (B))

【0033】さらに、これらの上に、パッシベーション
膜として、厚さ2000Åの窒化珪素膜46をプラズマ
CVD法によって堆積し、これに、出力端子の配線44
に通じるコンタクトホールを開孔した。そして、スパッ
タ法によって、インディウム錫酸化物被膜(ITO、厚
さ1000Å)の電極47を形成した。ITOは透明の
導電性酸化物である。その後、直径約50μm、高さ約
30μmの金のバンプ48を機械的にITO電極47の
上に形成した。このようにして得られた回路を適当な大
きさに分断し、よって、スティック・クリスタルが得ら
れた。(図4(C))
Further, a silicon nitride film 46 having a thickness of 2000 Å is deposited thereon as a passivation film by the plasma CVD method, and the wiring 44 of the output terminal is formed thereon.
A contact hole leading to was opened. Then, an electrode 47 of an indium tin oxide coating (ITO, thickness 1000 Å) was formed by the sputtering method. ITO is a transparent conductive oxide. Then, a gold bump 48 having a diameter of about 50 μm and a height of about 30 μm was mechanically formed on the ITO electrode 47. The circuit thus obtained was cut into suitable sizes, and thus stick crystals were obtained. (Fig. 4 (C))

【0034】一方、液晶表示装置の基板49にも、厚さ
1000ÅのITOによって電極50を形成した。本実
施例では、液晶表示装置の基板としては、厚さ0.3m
mのポリエチレン・サルファイル(PES)を用いた。
そして、この基板49に、スティックドライバーの基板
31を圧力を加えて接着した。このとき、電極47と電
極50はバンプ48によって、電気的に接続される。
(図5(A))
On the other hand, on the substrate 49 of the liquid crystal display device, the electrode 50 was formed of ITO having a thickness of 1000Å. In this embodiment, the substrate of the liquid crystal display device has a thickness of 0.3 m.
m polyethylene polyethylene file (PES) was used.
Then, the substrate 31 of the stick driver was adhered to the substrate 49 by applying pressure. At this time, the electrode 47 and the electrode 50 are electrically connected by the bump 48.
(Figure 5 (A))

【0035】次に熱硬化性の有機樹脂を混合した接着剤
51をスティック・クリスタル31と液晶表示装置の基
板49の隙間に注入した。なお、接着剤は、スティック
・クリスタル31と液晶表示装置の基板49を圧着する
前に、いずれかの表面に塗布しておいてもよい。
Next, an adhesive 51 mixed with a thermosetting organic resin was injected into the gap between the stick crystal 31 and the substrate 49 of the liquid crystal display device. The adhesive may be applied to either surface before the stick crystal 31 and the substrate 49 of the liquid crystal display device are pressure-bonded.

【0036】そして、120℃の窒素雰囲気のオーブン
て、15分間処理することにより、スティック・クリス
タル31と基板49との電気的な接続と機械的な接着を
完了した。なお、完全な接着の前に、電気的な接続が不
十分であるか否かを、特開平7−14880に開示され
る方法によってテストした後、本接着する方法を採用し
てもよい。(図5(B))
Then, by treating in an oven at 120 ° C. in a nitrogen atmosphere for 15 minutes, electrical connection and mechanical adhesion between the stick crystal 31 and the substrate 49 were completed. Note that, before complete bonding, a method of testing whether electrical connection is insufficient by the method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-14880 and then performing permanent bonding may be adopted. (Fig. 5 (B))

【0037】このように処理した基板を、三フッ化塩素
(ClF3 )と窒素の混合ガスの気流中に放置した。三
フッ化塩素と窒素の流量は、共に500sccmとし
た。反応圧力は1〜10Torrとした。温度は室温と
した。三フッ塩素等のハロゲン化物は、シリコンを選択
的にエッチングするが、酸化物(酸化珪素やITO)は
ほとんどエッチングせず、アルミニウムも表面に安定な
酸化物被膜を形成すると、その段階で反応が停止するの
で、エッチングされない。
The substrate thus treated was left in a gas stream of a mixed gas of chlorine trifluoride (ClF 3 ) and nitrogen. The flow rates of chlorine trifluoride and nitrogen were both 500 sccm. The reaction pressure was 1 to 10 Torr. The temperature was room temperature. Halides such as trifluorochlorine selectively etch silicon, but hardly etch oxides (silicon oxide or ITO), and aluminum also forms a stable oxide film on the surface, which causes a reaction at that stage. It stops, so it is not etched.

【0038】本実施例では、三フッ化塩素に侵される可
能性のある材料は、剥離層(シリコン)32、シリコン
・アイランド34、35、ゲイト電極37、38、アル
ミニウム合金配線41〜44、接着剤51であるが、こ
のうち、剥離層と接着剤以外は外側に酸化珪素等の材料
が存在するため、三フッ化塩素が到達できない。実際に
は、図5(C)に示すように、剥離層32のみが選択的
にエッチングされ、空孔52が形成された。(図5
(C))
In the present embodiment, the material which may be attacked by chlorine trifluoride is the peeling layer (silicon) 32, the silicon islands 34 and 35, the gate electrodes 37 and 38, the aluminum alloy wirings 41 to 44, and the adhesive. Although it is the agent 51, chlorine trifluoride cannot reach it because there is a material such as silicon oxide on the outside except the peeling layer and the adhesive. Actually, as shown in FIG. 5C, only the peeling layer 32 was selectively etched to form the holes 52. (Fig. 5
(C))

【0039】さらに、経過すると剥離層は完全にエッチ
ングされ、下地膜の底面53が露出し、スティック・ク
リスタルの基板31を半導体回路と分離することができ
た。三塩化フッ素によるエッチングでは、下地膜の底面
でエッチングが停止するので、該底面53は極めて平坦
であった。(図5(D))このようにして、液晶表示装
置の一方の基板への半導体集積回路の形成を終了した。
このようにして得られる基板を用いて、液晶表示装置が
完成される。
Further, after a lapse of time, the peeling layer was completely etched, the bottom surface 53 of the base film was exposed, and the stick crystal substrate 31 could be separated from the semiconductor circuit. In the etching with fluorine trichloride, since the etching stops at the bottom surface of the base film, the bottom surface 53 was extremely flat. (FIG. 5D) In this way, formation of the semiconductor integrated circuit on one substrate of the liquid crystal display device is completed.
A liquid crystal display device is completed using the substrate thus obtained.

【0040】〔実施例2〕本実施例は、フィルム状のパ
ッシブマトリクス型液晶表示装置を連続的に形成する方
法(ロール・トゥー・ロール法)に関するものである。
図6に本実施例の生産システムを示す。フィルム状の液
晶表示装置を得るための基板材料としては、PES(ポ
リエチレンサルファイル)、PC(ポリカーボネー
ト)、ポリイミドから選ばれたものを用いればよい。P
ET(ポリエチレンテレフタレート)、PEN(ポリエ
チレンナフタレート)は、多結晶性のプラスチックであ
るため、特に偏光に用いて表示をおこなう液晶材料には
用いることが適切でなかった。
[Embodiment 2] This embodiment relates to a method (roll-to-roll method) for continuously forming a film-like passive matrix type liquid crystal display device.
FIG. 6 shows the production system of this embodiment. As a substrate material for obtaining a film-like liquid crystal display device, a material selected from PES (polyethylene salfile), PC (polycarbonate) and polyimide may be used. P
Since ET (polyethylene terephthalate) and PEN (polyethylene naphthalate) are polycrystalline plastics, they were not suitable for use as a liquid crystal material which is used particularly for polarized light for displaying.

【0041】図6に示すシステムは、液晶電気光学装置
を構成する基板として、カラーフィルターの設けられた
基板を作製する流れ(図の下側)と、その対向基板を作
製する流れ(図の上側)とに大別される。まず、カラー
フィルター側基板の作製工程について説明する。
In the system shown in FIG. 6, as a substrate constituting a liquid crystal electro-optical device, a flow of manufacturing a substrate provided with a color filter (lower side of the drawing) and a flow of manufacturing a counter substrate thereof (upper side of the drawing). ) And roughly divided. First, the manufacturing process of the color filter side substrate will be described.

【0042】ロール71に巻き取られているフィルム
に、印刷法により、その表面にRGBの3色のカラーフ
ィルタを形成する。カラーフィルタの形成は、3組のロ
ール72によっておこわれる。なお作製する液晶表示装
置がモノクロの場合は、この工程は不要である。(工程
「カラーフィルター印刷」)
A color filter of three colors RGB is formed on the surface of the film wound on the roll 71 by a printing method. The color filters are formed by the three sets of rolls 72. If the liquid crystal display device to be manufactured is monochrome, this step is unnecessary. (Process "color filter printing")

【0043】さらに、ロール73によって、オーバーコ
ート剤(平坦化膜)を印刷法によって形成する。オーバ
ーコート剤は、カラーフィルタの形成によって凹凸とな
った表面を平坦化するためのものである。このオーバー
コート剤を構成する材料としては、透光性を有する樹脂
材料を用いればよい。(工程「オーバーコート剤(平坦
化膜)印刷」)次に、ロール74を用い、印刷法により
必要とするパターンにロー(カラム)電極を形成する。
この印刷法による電極の形成は、導電性のインクを用い
ておこなう。(工程「電極形成」)
Further, the roll 73 is used to form an overcoating agent (planarizing film) by a printing method. The overcoat agent is for flattening the surface that is uneven due to the formation of the color filter. A resin material having a light-transmitting property may be used as a material forming the overcoat agent. (Process “overcoating agent (planarizing film) printing”) Next, by using the roll 74, row (column) electrodes are formed in a required pattern by a printing method.
The electrodes are formed by this printing method using a conductive ink. (Process "electrode formation")

【0044】さらに、ロール75によって、配向膜を印
刷法で形成し(工程「配向膜印刷」)、加熱炉76を通
過させることによって、配向膜を焼き固める。(工程
「配向膜焼成」)さらに、ロール77を通過させること
によって、配向膜の表面にラビング処理をおこなう。こ
うして配向処理が完了する。(工程「ラビング」)
Further, an alignment film is formed by a printing method by the roll 75 (step "alignment film printing"), and the alignment film is baked by passing through a heating furnace 76. (Step “Firing of Alignment Film”) Further, the surface of the alignment film is rubbed by passing through the roll 77. In this way, the alignment process is completed. (Process "rubbing")

【0045】次に、圧着装置78によって、基板上にス
ティック・クリスタルを装着し(工程「スティック装
着」)、加熱炉79を通過させることにより、接着剤が
硬化し、接着が完了する。(工程「接着剤硬化」)本実
施例では、剥離層は実施例1と同様にシリコンを用いた
ので、次に、三フッ化塩素チャンバー80(差圧排気し
て、三フッ化塩素が外部に漏出しないようにしたチャン
バー)によって、剥離層をエッチングし、よって、ステ
ィック・クリスタルの基板を剥離する。(工程「スティ
ック剥離」
Next, the stick crystal is mounted on the substrate by the pressure bonding device 78 (step "stick mounting"), and the adhesive is cured by passing through the heating furnace 79, and the bonding is completed. (Step “adhesive curing”) In this example, since the release layer was made of silicon as in Example 1, the chlorine trifluoride chamber 80 (exhaust differential pressure to remove chlorine trifluoride from the outside). The release layer and thus the substrate of the stick crystal is released by means of a chamber which is kept leak-proof. (Process "stick peeling"

【0046】その後、スペーサー散布器81より、フィ
ルム基板上にスペーサーを散布し(工程「スペーサー散
布」)、ロール82を用いて、シール材を印刷法によっ
て形成する。シール剤は、対向する基板同士を接着する
ためと、液晶が一対の基板間から漏れ出ないようにする
ためのものである。なお、本実施例では、半導体回路の
厚みを液晶基板間よりも薄くすることにより、図3のよ
うに、半導体集積回路の外部がシールされるような構造
(特開平5−66413に開示されている)とした。
(工程「シール印刷」)
Thereafter, spacers are sprayed on the film substrate by the spacer sprayer 81 (step "spacer spraying"), and the roll 82 is used to form a sealing material by a printing method. The sealant is for adhering the substrates facing each other and for preventing the liquid crystal from leaking between the pair of substrates. In this embodiment, the thickness of the semiconductor circuit is made thinner than that between the liquid crystal substrates so that the outside of the semiconductor integrated circuit is sealed as shown in FIG. 3 (disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 5-66413). There is).
(Process "sticker printing")

【0047】この後、液晶滴下装置83を用いて液晶の
滴下をおこない、液晶層をフィルム基板上に形成する。
こうして、カラーフィルター側基板が完成する。以上の
工程は、各ロールが回転することにより、連続的に進行
していく。次に、対向基板の作製工程を示す。ロール6
1から送りだされたフィルム基板上に、ロール62によ
って、所定のパターンにカラム(ロー)電極を形成す
る。(工程「電極形成」)さらにロール63によって、
配向膜を印刷法により形成し(工程「配向膜印刷」)、
加熱炉64を通過させることによって、配向膜を焼き固
める。(工程「配向膜焼成」)
After that, liquid crystal is dropped by using the liquid crystal dropping device 83 to form a liquid crystal layer on the film substrate.
Thus, the color filter side substrate is completed. The above steps are continuously performed as each roll rotates. Next, a manufacturing process of the counter substrate will be described. Roll 6
A roll (62) is used to form a column (row) electrode in a predetermined pattern on the film substrate sent from 1. (Step “electrode formation”) Further, by the roll 63,
Alignment film is formed by printing method (process "alignment film printing"),
The alignment film is baked and solidified by passing through the heating furnace 64. (Process "Firing of alignment film")

【0048】その後、フィルム基板を、ロール65に通
過させることによって、配向処理をおこなう。(工程
「ラビング」)次に、圧着装置66によって、基板上に
スティック・クリスタルを装着し(工程「スティック装
着」)、加熱炉67を通過することにより、接着剤が硬
化する。(工程「接着剤硬化」)さらに、三フッ化塩素
チャンバー68によって、スティック・クリスタルの基
板を剥離する。この際の条件等については実施例1と同
じとした。(工程「スティック剥離」
After that, the film substrate is passed through a roll 65 for orientation treatment. (Step "rubbing") Next, the stick crystal is mounted on the substrate by the pressure bonding device 66 (step "stick mounting"), and the adhesive is cured by passing through the heating furnace 67. (Step “Adhesive curing”) Further, the chlorine trifluoride chamber 68 separates the stick crystal substrate. The conditions and the like at this time were the same as in Example 1. (Process "stick peeling"

【0049】以上の処理を経たフィルム基板はロール6
9を経由して、次のロール84に送られる。ロール84
では、カラーフィルター側基板と対向基板を貼り合わせ
て、セルとする。(工程「セル組」)その後、加熱炉8
5において加熱することにより、シール材を硬化せし
め、基板同士の貼り合わせが完了する。(工程「シール
剤硬化」)さらにカッター86によって所定の寸法に切
断することにより、フィルム状の液晶表示装置が完成す
る。(工程「分段」)
The film substrate that has undergone the above-mentioned treatment is roll 6
It is sent to the next roll 84 via 9. Roll 84
Then, the color filter side substrate and the counter substrate are bonded together to form a cell. (Process “cell assembly”) After that, heating furnace 8
By heating in 5, the sealing material is hardened and the bonding of the substrates is completed. (Step “Curing the sealant”) Further, the film is cut into a predetermined size by the cutter 86, and the film-shaped liquid crystal display device is completed. (Process "division")

【0050】[0050]

【発明の効果】本発明によって、表示装置の基板の種類
や厚さ、大きさに関して、さまざななバリエーションが
可能となった。例えば、実施例2に示したように、極め
て薄いフィルム状の液晶表示装置を得ることもできる。
この場合には、表示装置を曲面に合わせて張りつけても
よい。さらに、基板の種類の制約が緩和された結果、プ
ラスチック基板のように、軽く、耐衝撃性の強い材料を
用いることもでき、携行性も向上する。
According to the present invention, various variations are possible with respect to the type, thickness and size of the substrate of the display device. For example, as shown in Example 2, it is possible to obtain an extremely thin film type liquid crystal display device.
In this case, the display device may be attached to the curved surface. Further, as a result of relaxing the restrictions on the type of substrate, a light material having high impact resistance such as a plastic substrate can be used, and portability is also improved.

【0051】また、ドライバー回路の専有する面積が小
さいので、表示装置と他の装置の配置の自由度が高ま
る。典型的には、ドライバー回路を表示面の周囲の幅数
mmの領域に押し込めることが可能であるので、表示装
置自体は極めてシンプルであり、ファッション性に富ん
だ製品となり、その応用範囲もさまざまに広がる。この
ように本発明の工業的価値は極めて高い。
Further, since the area occupied by the driver circuit is small, the degree of freedom in arranging the display device and other devices is increased. Typically, the driver circuit can be pushed into a region with a width of several mm around the display surface, so that the display device itself is extremely simple and has a wide range of fashionability, and its application range is also varied. spread. Thus, the industrial value of the present invention is extremely high.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明による表示装置の断面構造を示す。FIG. 1 shows a cross-sectional structure of a display device according to the present invention.

【図2】 本発明による表示装置の作製方法の概略を示
す。
FIG. 2 shows an outline of a method for manufacturing a display device according to the present invention.

【図3】 本発明によって作製される1例の表示装置の
断面構造を示す。
FIG. 3 shows a cross-sectional structure of an example display device manufactured according to the present invention.

【図4】 本発明に用いるスティック・クリスタルの作
製工程を示す。
FIG. 4 shows a manufacturing process of a stick crystal used in the present invention.

【図5】 スティック・クリスタルを基板に接着する工
程を示す。
FIG. 5 shows a process of adhering a stick crystal to a substrate.

【図6】 フィルム液晶表示装置の連続的製法システム
を示す。
FIG. 6 shows a continuous manufacturing system of a film liquid crystal display device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ・・・ 液晶表示装置の基板 2 ・・・ 半導体集積回路 3 ・・・ 接着剤 4 ・・・ 液晶表示装置の電極 5 ・・・ 半導体集積回路の電極 6 ・・・ バンプ 7 ・・・ ドライバー回路部 8 ・・・ マトリクス部 9 ・・・ 導電性粒子 11・・・ 下地膜 12・・・ Nチャネル型TFT 13・・・ Pチャネル型TFT 14・・・ 層間絶縁物 15・・・ パッシベーション膜 16・・・ 液晶表示装置の対向基板 17・・・ シール剤 18・・・ 液晶材料 21・・・ スティック・クリスタルを形成する基板 22・・・ 半導体集積回路 23、24 スティック・クリスタル 25、27 液晶表示装置の基板 26、28 配線パターンの形成されている面 29、30 液晶表示装置の基板上に移されたドライバ
ー回路26 ・・・ 配線パターンの形成されている面と逆の面 31・・・ スティック・クリスタルを形成する基板 32・・・ 剥離層 33・・・ 下地膜 34、35 シリコン・アイランド 36・・・ ゲイト絶縁膜 37、38 ゲイト電極 39・・・ N型領域 40・・・ P型領域 41・・・ 層間絶縁物 42〜44 アルミニウム合金配線 46・・・ パッシベーション膜 47・・・ 導電性酸化物膜 48・・・ バンプ 49・・・ 液晶表示装置の基板 50・・・ 液晶表示装置の電極 51・・・ 接着剤 52・・・ 空孔 53・・・ 下地膜の底面
1 ... Substrate of liquid crystal display device 2 ... Semiconductor integrated circuit 3 ... Adhesive 4 ... Electrode of liquid crystal display device 5 ... Electrode of semiconductor integrated circuit 6 ... Bump 7 ... Driver Circuit part 8 ... Matrix part 9 ... Conductive particles 11 ... Underlayer film 12 ... N-channel type TFT 13 ... P-channel type TFT 14 ... Interlayer insulator 15 ... Passivation film 16 ... Counter substrate of liquid crystal display device 17 ... Sealing agent 18 ... Liquid crystal material 21 ... Substrate forming stick crystal 22 ... Semiconductor integrated circuit 23, 24 Stick crystal 25, 27 Liquid crystal Substrate 26, 28 of display device Surface 29, 30 on which wiring pattern is formed Driver circuit 26 transferred onto substrate of liquid crystal display device 26 ... Shape of wiring pattern Surface opposite to the formed surface 31 ... Stick crystal forming substrate 32 ... Release layer 33 ... Underlayer film 34, 35 Silicon island 36 ... Gate insulating film 37, 38 Gate electrode 39 ... N type region 40 ... P type region 41 ... Interlayer insulator 42-44 Aluminum alloy wiring 46 ... Passivation film 47 ... Conductive oxide film 48 ... Bump 49 ... -Substrate of liquid crystal display device 50 ... Electrode of liquid crystal display device 51 ... Adhesive 52 ... Hole 53 ... Bottom surface of base film

フロントページの続き (72)発明者 荒井 康行 神奈川県厚木市長谷398番地 株式会社半 導体エネルギ−研究所内Front Page Continuation (72) Inventor Yasuyuki Arai 398 Hase, Atsugi City, Kanagawa Semiconductor Energy Research Institute Co., Ltd.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 第1の基板上に形成された、第1の方向
に延びる複数の透明導電膜の第1の電気配線と、 該第1の電気配線に接続され、薄膜トランジスタを有
し、前記第1の方向に概略垂直な第2の方向に延びる第
1の半導体集積回路と、 第2の基板上に形成された、第2の方向に延びる複数の
透明導電膜の第2の電気配線と、 該第2の電気配線に接続され、薄膜トランジスタを有
し、前記第1の方向に延びる第2の半導体集積回路と、
を有し、 前記第1の電気配線と第2の電気配線が対向するように
基板が配置された表示装置の作製方法において、 剥離層を介して支持基板上に形成された前記第1および
第2の半導体集積回路を、前記第1および第2の基板
に、それぞれ、接着する工程と、 ハロゲンを含む気体によって、処理することにより前記
剥離層を除去することにより、前記第1および第2の半
導体集積回路を各支持基板から剥離する工程とを有する
ことを特徴とする表示装置の作製方法。
1. A first electric wiring of a plurality of transparent conductive films formed on a first substrate and extending in a first direction; and a thin film transistor connected to the first electric wiring, A first semiconductor integrated circuit extending in a second direction substantially perpendicular to the first direction, and second electric wirings of a plurality of transparent conductive films extending in the second direction formed on the second substrate. A second semiconductor integrated circuit connected to the second electric wiring, having a thin film transistor, and extending in the first direction,
In the method for manufacturing a display device, in which the substrate is arranged so that the first electric wiring and the second electric wiring face each other, the first and the first electric wirings formed on a supporting substrate with a peeling layer interposed therebetween. The step of adhering the semiconductor integrated circuit of No. 2 to the first and second substrates, respectively, and the step of treating the semiconductor integrated circuit with a gas containing halogen to remove the peeling layer. And a step of peeling the semiconductor integrated circuit from each supporting substrate.
【請求項2】 第1の基板上に形成された、第1の方向
に延びる複数の第1の電気配線と、 該第1の電気配線に接続され、薄膜トランジスタを有
し、前記第1の方向に概略垂直な第2の方向に延びる第
1の半導体集積回路と、 第1の基板上に形成された、第2の方向に延びる複数の
第2の電気配線と、 該第2の電気配線に接続され、薄膜トランジスタを有
し、前記第1の方向に延びる第2の半導体集積回路と、 表面に透明導電膜を有する第2の基板と、を有し、 前記第1の基板の第1および第2の電気配線と、前記第
2の基板の透明導電膜とが対向するように基板が配置さ
れた表示装置の作製方法において、 剥離層を介して支持基板上に形成された前記第1および
第2の半導体集積回路を前記第1の基板に接着する工程
と、 ハロゲンを含む気体によって、処理することにより前記
剥離層を除去することにより、前記第1および第2の半
導体集積回路を各支持基板から剥離する工程とを有する
ことを特徴とする表示装置の作製方法。
2. A plurality of first electric wirings formed on a first substrate and extending in a first direction, and a thin film transistor connected to the first electric wirings, the first electric wirings being provided in the first direction. A first semiconductor integrated circuit extending in a second direction substantially perpendicular to the first electric wiring; a plurality of second electric wirings extending in the second direction formed on the first substrate; A second semiconductor integrated circuit connected to each other, having a thin film transistor and extending in the first direction, and a second substrate having a transparent conductive film on a surface thereof. In the method for manufacturing a display device, in which the substrate is arranged so that the electric wiring of No. 2 and the transparent conductive film of the second substrate face each other, the first and the first layers formed on the supporting substrate via a peeling layer are provided. Bonding the semiconductor integrated circuit of No. 2 to the first substrate; By the gas, by removing the peeling layer by treating method for manufacturing a display device characterized by a step of removing the first and second semiconductor integrated circuits from each supporting substrate.
【請求項3】 請求項1または請求項2において、剥離
層はシリコンを主成分とする半導体で形成され、ハロゲ
ンを含む気体には、少なくとも、三フッ化塩素が含まれ
ていることを特徴とする表示装置の作製方法。
3. The peeling layer according to claim 1 or 2, wherein the peeling layer is formed of a semiconductor containing silicon as a main component, and the halogen-containing gas contains at least chlorine trifluoride. Method for manufacturing display device.
【請求項4】 請求項1乃至請求項3において、少なく
とも第1の基板がプラスチックであることを特徴とする
表示装置。
4. The display device according to claim 1, wherein at least the first substrate is plastic.
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