JPH08201443A - ピークホールド回路、これを備えた信号出力回路及びこれを用いた固体撮像装置並びにその信号処理回路 - Google Patents

ピークホールド回路、これを備えた信号出力回路及びこれを用いた固体撮像装置並びにその信号処理回路

Info

Publication number
JPH08201443A
JPH08201443A JP7012198A JP1219895A JPH08201443A JP H08201443 A JPH08201443 A JP H08201443A JP 7012198 A JP7012198 A JP 7012198A JP 1219895 A JP1219895 A JP 1219895A JP H08201443 A JPH08201443 A JP H08201443A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
output
signal
peak hold
mos transistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7012198A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuto Maki
康人 真城
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP7012198A priority Critical patent/JPH08201443A/ja
Publication of JPH08201443A publication Critical patent/JPH08201443A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Picture Signal Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 リーク電流に起因するピークホールド出力の
電圧変動によって後段の信号処理回路へ及ぼす悪影響
を、簡単な回路構成にて無くすことが可能なピークホー
ルド回路を提供する。 【構成】 ダイオード動作をなすMOSトランジスタQ
13と、このMOSトランジスタQ13の出力側とグラ
ンドとの間に接続されたコンデンサCとを備えたピーク
ホールド回路14において、MOSトランジスタQ13
の出力側とグランドとの間に電位的に逆バイアスになる
ような極性でダイオードD11を接続した構成とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ピークホールド回路、
これを備えた信号出力回路及びこれを用いた固体撮像装
置並びにその出力信号を処理する信号処理回路に関す
る。
【0002】
【従来の技術】固体撮像装置、例えばリニアセンサやエ
リアセンサとして用いられるCCD固体撮像装置におい
て、適正な信号出力レベルを得るオートゲインコントロ
ールのような制御を可能とするために、信号出力のピー
ク値をホールドし、これを出力することが行われる。す
なわち、ある時点で読み出した信号出力のピーク値をホ
ールドし、これを基にして次の撮像時には電子シャッタ
ー等によって蓄積時間を制御することで、適正な信号出
力レベルを得ることができるのである。
【0003】図9に、ピークホールド回路を備えた例え
ばCCDリニアセンサの構成の一例を示す。同図におい
て、CCDリニアセンサ100は、入射光をその光量に
応じた電荷量の信号電荷に変換して蓄積する受光部10
1が一列に多数(例えば、2000画素分)配列されて
なるセンサ列102と、このセンサ列102の各受光部
101から読出しゲート103を介して読み出された信
号電荷を一方向に転送するCCD(Charge Coupled Devi
ce) からなる電荷転送レジスタ104とを有する構成と
なっている。読出しゲート103による信号電荷の読出
しは、ゲートパルスφROGが印加されることによって
行われる。また、電荷転送レジスタ104は、転送クロ
ックφH1,φH2によって2相駆動される。
【0004】電荷転送レジスタ104の最終段には、電
荷転送レジスタ104にて転送された信号電荷を検出し
て電圧に変換する例えばフローティング・ディフュージ
ョンからなる電荷電圧変換部105が形成されている。
電荷電圧変換部105の後段には、この電荷電圧変換部
105の出力を電流増幅する例えばソースフォロワ回路
からなるバッファ106が設けられている。このバッフ
ァ106は、センサ列102、読出しゲート103及び
電荷転送レジスタ104と同一基板(チップ)上に作製
されている(オンチップ)。バッファ106の出力は、
出力端子107を介してCCD出力(撮像信号)CCD
outとして外部に導出される。
【0005】このCCD出力CCDoutは、外部回路
であるバッファ111を通して信号出力Voutとなる
とともに、ダイオード112及びコンデンサ113から
なるピークホールド回路114によってピーク値がホー
ルドされ、バッファ115を通してピークホールド出力
PHoutとなる。この例では、ピークホールド回路1
14がLoレベルを検出する回路構成となっており、そ
の出力波形を図10に示す。同図において、実線で示す
信号出力Voutに対してピークホールド出力PHou
tは破線で示すようになる。なお、図10中のVout
レベルとPHoutレベルとのレベル差Vdは、ダイオ
ード112の順方向ターンオン電圧(約0.6V)によ
るものである。
【0006】図11に、MOSトランジスタを用いて構
成されたピークホールド回路の従来例を、その前後のバ
ッファと共に示す。この従来回路は、MOS回路構成で
あるため、CCDチップにオンチップ可能である。図1
1において、入力段のバッファは、NchMOSトラン
ジスタQ51,Q52からなるソースフォロワ回路51
によって構成されている。このソースフォロワ回路51
の後段には、ダイオード動作をなすPchMOSトラン
ジスタQ53及びコンデンサCからなるピークホールド
回路52が配置されている。このピークホールド回路5
2は、入力信号Vinに基づく信号入力Vaのピーク値
を検出し、これをホールドする。
【0007】このピークホールド回路52の出力端(M
OSトランジスタQ53のソース)には、互いに並列接
続されたNchMOSトランジスタQ54及びPchM
OSトランジスタQ55からなるリセット回路53が接
続されている。このリセット回路53は、MOSトラン
ジスタQ54,Q55の各ゲートに、互いに逆相のリセ
ットパルスφrn,φrpが印加されることで、ピーク
ホールド回路52の出力Vbをある電位Vrにリセット
する。リセット回路53の後段には、NchMOSトラ
ンジスタQ56,Q57からなるソースフォロワ回路5
4がバッファとして設けられている。そして、前段のソ
ースフォロワ回路51の出力Vaが信号出力Voutと
なり、後段のソースフォロワ回路54の出力がピークホ
ールド出力PHoutとなる。
【0008】図12は、上記構成のピークホールド回路
の出力波形図である。また、図13は、図12の要部の
拡大波形図である。これらの図において、細い実線がピ
ークホールド回路52の入力Va、即ち信号出力Vou
tを表し、破線がピークホールド回路52の出力Vbを
表し、太い実線がピークホールド出力PHoutを表し
ている。このピークホールド出力PHoutの波形にお
いて、1ライン信号出力期間の後の部分が、その1ライ
ン信号期間のピーク値を出力している期間である。な
お、図13において、VxはMOSトランジスタの閾値
電圧Vthに起因する電圧であり、Vyはソースフォロ
ワ回路54の入出力間のレベルシフト分である。
【0009】ところで、CCDリニアセンサの出力信号
を処理する信号処理回路において、その出力信号を直接
A/D変換器でA/D変換して処理する場合がある。こ
のような場合には、CCDリニアセンサの出力信号の直
流レベルを、A/D変換の基準レベル以下に合わせる必
要がある。ここで、A/D変換器の入力信号レベルが基
準電圧以上になると、その信号レベルをA/D変換でき
ないばかりか、A/D変換器側の電源電圧以上になった
場合には、A/D変換器そのものが破壊されたり、ある
いはその後の基準電圧以下の正常レベルの信号に対して
も誤動作を起こさせたりする可能性がある。したがっ
て、どのような場合でも、信号レベルがA/D変換器の
基準電圧以上の電圧にならないようにする配慮が必要と
なる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来のピークホールド回路では、ダイオード動作をな
す素子としてMOSトランジスタQ53を用いた回路構
成となっているので、ピーク値を長時間ホールドする場
合は、図12に破線や一点鎖線で示すように、以下に述
べるリーク電流によってホールド電圧Vbが時間と共に
高レベル側か低レベル側へ変動する。すなわち、MOS
トランジスタの場合には、図14の断面図(CMOSト
ランジスタ)から明らかなように、ソースあるいはドレ
インとウェル(well)間に寄生ダイオードが存在
し、それぞれ逆バイアス状態になっている。この逆バイ
アス状態のダイオードでは、ジェネレーション電流や拡
散電流の微少リーク電流が流れる。
【0011】具体的には、NchMOSトランジスタの
ソースやドレイン(N+)へは、上記リーク電流によっ
て電子が流れ込む。そのソースやドレインが高インピー
ダンス状態であれば、流れ込む電子によって電圧が下が
る。逆に、PchMOSトランジスタの場合は、正孔が
流れ込み電圧が上がる。このことから考えて、図11の
MOSトランジスタQ53〜Q55のソースあるいはド
レインからの正孔及び電子のリーク電流のバランスによ
りホールド電圧が上がるか下がるかが決まる。なお、逆
バイアスでの正孔あるいは電子のリーク電流は、そのダ
イオードの拡散の面積や濃度や深さ、あるいはウェルの
濃度や逆バイアス電圧の電圧値等により決まる。
【0012】ピークホールドの理想は、長時間ピーク値
を電位変動無しで保持しておくことであるが、現実に
は、上述したように、pnジャンクションの微少リーク
電流によりほとんどの場合高レベル側か低レベル側へ変
動する。使用方法にも依るが、ピーク値を数秒保持して
おきたい場合もあり、その場合にリーク電流によってピ
ークホールド出力PHoutが高い方へ変動し、次段の
A/D変換器の基準電圧を越えると、先述したように、
A/D変換器に悪影響を及ぼすことになる。この問題点
に対する対策として最適なのは、リーク電流による電位
変動を無くすことであるが、それは非常に困難であり、
又大規模な回路追加が必要になり、回路構成が複雑化す
ることになる。
【0013】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
であり、その目的とするところは、リーク電流に起因す
るピークホールド出力の電圧変動によって後段の信号処
理回路へ及ぼす悪影響を、簡単な回路構成にて無くすこ
とが可能なピークホールド回路を提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明によるピークホー
ルド回路は、ダイオード動作をなすMOSトランジスタ
と、このMOSトランジスタの出力側と基準電位点との
間に接続されたコンデンサと、MOSトランジスタの出
力側と電源あるいはグランドとの間に電位的に逆バイア
スになるような極性で接続されたダイオードとを備えた
回路構成となっている。
【0015】
【作用】上記構成のピークホールド回路において、所定
の入力信号がダイオード動作をなすMOSトランジスタ
を通過することで、負側(又は、正側)のピーク値が検
出され、そのピーク値がコンデンサに保持される。この
とき、MOSトランジスタの出力側とグランド(又は、
電源)との間にダイオードが電位的に逆バイアスになる
ような極性で接続されていることで、このダイオードを
通してホールド電圧を時間の経過と共に下げる(又は、
上げる)方向にリーク電流が流れる。すなわち、リーク
電流に起因してピークホールド値が変動する方向が付加
したダイオードによって規制される。
【0016】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
つつ詳細に説明する。図1は、本発明の一実施例に係る
ピークホールド回路を備えた信号出力回路を示す回路図
である。図1において、入力段のバッファは、ドレイン
が電源Vddに接続され、かつゲートが入力端子11に
接続されたドライブ側NchMOSトランジスタQ11
と、このMOSトランジスタQ11のソースとグランド
(基準電位点)との間に接続され、かつゲートにバイア
ス電圧Vggが印加された負荷側NchMOSトランジ
スタQ12とからなるソースフォロワ回路12によって
構成されている。このソースフォロワ回路12の出力端
(MOSトランジスタQ11のソース)には、PchM
OSトランジスタQ13のドレイン及びゲートが接続さ
れているとともに、信号出力端子13が直接接続されて
いる。
【0017】PchMOSトランジスタQ13は、ドレ
イン及びゲートが共通接続されることでダイオード動作
をなすものであり、そのソースとグランドとの間に接続
されたコンデンサCと共にピークホールド回路14を構
成しており、入力信号Vinに基づくソースフォロワ回
路12の出力Vaのピーク値を検出し、これをホールド
する。このピークホールド回路14の出力端(MOSト
ランジスタQ13のソース)には、互いに並列接続され
たNchMOSトランジスタQ14及びPchMOSト
ランジスタQ15からなるリセット回路15が接続され
ている。このリセット回路15は、MOSトランジスタ
Q14,Q15の各ゲートに、互いに逆相のリセットパ
ルスφrn,φrpが印加されることで、ピークホール
ド回路14の出力Vbをある電位Vrにリセットする。
【0018】MOSトランジスタQ13のソースとグラ
ンドとの間には、ダイオードD11が電位的に逆バイア
スになるような極性で接続されている。すなわち、本例
の場合は、ダイオードD11のカソードがMOSトラン
ジスタQ13のソースに、アノードがグランドにそれぞ
れ接続されている。リセット回路15の後段には、ドレ
インが電源Vddに接続され、かつピークホールド回路
14の出力Vbをゲート入力とするドライブ側NchM
OSトランジスタQ16と、このMOSトランジスタQ
16のソースとグランドとの間に接続され、かつゲート
にバイアス電圧Vggが印加された負荷側NchMOS
トランジスタQ17とからなるソースフォロワ回路16
が後段のバッファとして設けられている。MOSトラン
ジスタQ16のソースは、ピークホールド出力端子17
に接続されている。そして、前段のソースフォロワ回路
12の出力Vaが信号出力Voutとなり、後段のソー
スフォロワ回路16の出力がピークホールド出力PHo
utとなる。
【0019】次に、上記構成の信号出力回路の回路動作
について、図2の出力波形図を参照しつつ説明する。な
お、本信号出力回路の入力端子11には、所定の入力信
号Vinとして例えばCCDリニアセンサの出力信号
(撮像信号)が入力されるものとする。この入力信号V
inは、ソースフォロワ回路12を経て信号出力Vou
tとして直接信号出力端子13から出力されるととも
に、ピークホールド回路14に供給される。ここで、ピ
ークホールド回路14は、Loレベルを検出する回路構
成となっている。したがって、ピークホールド回路14
では、図2から明らかなように、ソースフォロワ回路1
2の出力Va(=Vout)の負側のピーク値が検出さ
れ、コンデンサCにホールドされる。
【0020】ところで、ピークホールド回路14の出力
Vbが何らかの外乱等により低いレベル(あるいは、グ
ランドレベル近辺)にあると、ダイオード動作のPch
MOSトランジスタQ11が常に逆バイアス状態にな
り、ピーク値の検出動作ができないことになる。外乱等
がなくとも、CCDリニアセンサの1センサ列(1ライ
ン)の読出しが終わり、次の読出しを行うときに、前回
読み出した1ラインの信号のピーク値よりも今回の信号
レベルが低い場合は、前回のピーク値がそのままホール
ドされてしまうため、今回の1ラインの信号のピーク値
を検出できないことになる。
【0021】このような不具合を回避するために、リセ
ット回路15が設けられている。すなわち、リセット回
路15において、例えばセンサ列の各受光部に蓄積され
た信号電荷を読み出す直前のタイミングで、MOSトラ
ンジスタQ14,Q15の各ゲートにリセットパルスφ
rn,φrpを印加し、ピークホールド回路14の出力
Vbをある電位Vrにリセットするようにする。このよ
うに、1ライン毎にピークホールド回路14の出力Vb
をリセットすることにより、各ライン毎に確実にピーク
値を検出できるとともに、外乱等にも強いものとなる。
図2に示すピークホールド出力PHoutの波形におい
て、1ライン信号種期間の後の部分が、その1ライン信
号期間のピーク値を出力している期間である。
【0022】ここで、電圧保持用のコンデンサCに対し
てダイオードD11が電位的に逆バイアスになるような
極性で並列接続されていることにより、このダイオード
D11を通してホールド電圧Vbを下げる方向にリーク
電流が流れる。このダイオードD11としては、もちろ
んMOSトランジスタのソース・ドレインでの単位面積
当りのリーク電流との違いがあるが、同じであると考え
た場合には、MOSトランジスタのリーク電流に影響さ
れないようにMOSトランジスタQ13〜Q15のうち
リークによる電圧変動方向が対抗するPMOSトランジ
スタQ13,Q15の拡散面積よりも大きな面積を持つ
pnタイミングを挿入するのが実用的である。
【0023】すなわち、リーク電流による電圧変動を簡
単な回路構成にて無くすことは困難であることから、本
実施例においては、電位的に逆バイアスになるような極
性でダイオードD11を接続することにより、ピークホ
ールド出力PHoutを積極的に次段のA/D変換器に
対して悪影響を及ぼさない方向、即ちA/D変換器の基
準電圧から遠ざかる方向へ変動させるようにしている。
本実施例の場合には、ピークホールド出力PHoutが
時間と共に電圧的に低くなり、グランドレベルよりもV
d11だけ低いレベルまで低下することになる。ここに、
Vd11とは、ダイオードD11の順方向ターンオン電圧
である。
【0024】上述したように、ピークホールド出力PH
outを積極的に一方向に変動させると言っても、数秒
レベルでの変動は数mV〜数十mV程度に過ぎず、実用
上、ピーク値のモニターとしても問題ないレベルが達成
可能である。また、本発明の特徴とするところは、数十
秒あるいは数百秒以上のピークホールド期間があった際
に、その変動量が後段の信号処理回路に悪影響を及ぼす
程度に大きくなることに対する対策であり、このような
場合は、再度信号出力を行い、そのピーク値を読み取る
ように制御側で行うようにすることにより、ピーク値を
確実にモニターできることになる。
【0025】図3及び図4は、本発明の他の実施例を示
す回路図であり、図中、図1と同等部分には同一符号を
付して示してある。図3の実施例では、ピークホールド
回路14の出力端(PchMOSトランジスタQ13の
ソース)に、ダイオードD12がある正の電圧Vrに対
して電位的に逆バイアスになるような極性で接続されて
いる。すなわち、ダイオードD12のアノードがPch
MOSトランジスタQ13のソースに接続され、カソー
ドがある正の電圧Vrを出力する回路(図示せず)の出
力端に接続された回路構成となっている。この実施例の
場合には、ピークホールド出力PHoutが時間と共に
電圧的に高くなり、Vr+Vd12まで上昇することにな
る。ここに、Vd12とは、ダイオードD12の順方向タ
ーンオン電圧である。
【0026】一方、図4の実施例では、ピークホールド
回路14の出力端(PchMOSトランジスタQ13の
ソース)に、ダイオードD13がある負の電圧V1に対
して電位的に逆バイアスになるような極性で接続されて
いる。すなわち、ダイオードD13のカソードがPch
MOSトランジスタQ13のソースに接続され、アノー
ドがある負の電圧V1を出力する回路(図示せず)の出
力端に接続された回路構成となっている。この実施例の
場合は、ピークホールド出力PHoutが時間と共に電
圧的に低くなり、V1−Vd13まで低下することにな
る。ここに、Vd13とは、ダイオードD13の順方向タ
ーンオン電圧である。
【0027】なお、上記各実施例においては、信号入力
Vin(Va)のピーク値を検出するピークホールド回
路14として、図5(a)に示すように、PchMOS
トランジスタを用いたLoレベル検出型の回路構成のも
のを用いたが、これに限定されるものではなく、図5
(b)に示すように、NchMOSトランジスタを用い
たHiレベル検出型の回路構成のものを用いることも可
能である。ここに、VxはMOSトランジスタの閾値電
圧Vthに起因する電圧である。また、MOSトランジ
スタに限らず、ダイオード動作をする他の素子を用いて
ピークホールド回路14を構成することも可能である。
【0028】図6は、本発明に係る信号出力回路の他の
実施例を示すブロック図である。この実施例では、信号
出力Voutとピークホールド出力PHoutとを別々
に出力する構成の先の実施例に対し、信号出力Vout
とピークホールド出力PHoutとを択一的に出力する
構成となっている。すなわち、信号出力Voutとピー
クホールド出力PHoutとを2入力とし、これらを択
一的に出力する切換えスイッチ18と、この切換えスイ
ッチ18を制御するスイッチ制御回路19と、切換えス
イッチ18の選択出力を出力端子21に与えるバッファ
20とを備えた構成となっている。
【0029】スイッチ制御回路19は、CCDリニアセ
ンサの駆動系から与えられるタイミング信号に基づいて
センサ列の有効画素期間では切換えスイッチ18を信号
出力Vout側に切り換え、有効画素期間の終了後は切
り換えスイッチ18をピークホールド出力PHout側
に切り換える。その結果、有効画素期間では信号出力V
outが選択されてバッファ20を経て出力端子21か
ら出力され、有効画素期間以外ではピークホールド出力
PHoutが選択されてバッファ20を経て出力端子2
1から出力される。このように、信号出力Voutとピ
ークホールド出力PHoutとを択一的に出力する構成
とすることにより、出力端子21が1個で済むため、I
Cチップのピン数を削減できるとともに、外部回路であ
るA/D変換器22を含む信号処理回路23が1系統で
済むことになる。
【0030】図7は、図1,図3及び図4の実施例に係
る信号出力回路24を出力部として用いた例えばCCD
リニアセンサの構成図であり、図中、図9と同等部分に
は同一符号を付して示してある。この信号出力回路24
は、CCDリニアセンサ100と同一の基板上に作製さ
れる(オンチップ)。このように、CCDリニアセンサ
100の出力部として、図1,図3及び図4の実施例に
係る信号出力回路24を用いることにより、信号出力V
outと共にピークホールド出力PHoutを出力でき
る。これにより、ある時点で読み出した信号出力のピー
ク値をホールドし、これを基にして次の撮像時には電子
シャッター等によって蓄積時間を制御することで、適正
な信号出力レベルを得るオートゲインコントロールのよ
うな制御が可能となる。また、信号出力回路28をCC
Dチップにオンチップ化したことで、外部回路を簡略化
でき、外付け部品を簡素化できる。
【0031】また、ピークホールド出力PHoutとし
て一方向側にのみ変動する電圧を得ることができるの
で、後段の信号処理回路において、その入力段にA/D
変換器を用いてCCDリニアセンサの出力信号を直接A
/D変換する場合に、ピークホールド出力PHoutの
変動方向をA/D変換器の基準電圧と反対側に設定する
ことにより、変動に伴ってピークホールド出力PHou
tがA/D変換器の基準電圧以上になったり、A/D変
換器側の電源電圧以上になったりすることはないので、
A/D変換器の破壊やデータの破壊を回避できることに
なる。
【0032】さらに、図8に示すように、図6の実施例
に係る信号出力回路25をCCDリニアセンサ100の
出力部として用い、信号出力Voutとピークホールド
出力PHoutとを択一的に出力するように構成した場
合には、図7の実施例で得られる効果に加え、出力系を
1系統にできることで信号出力のための出力端子(端子
ピン)が1個で済むという効果を得ることができる。こ
の場合には、A/D変換器を含む信号処理回路も1系統
で済むことになる。
【0033】また、上記構成の信号出力回路24(2
5)を備えたCCDリニアセンサ100からなる固体撮
像装置の出力信号を処理するための信号処理回路では、
固体撮像装置から変動方向が規制されたピークホールド
出力PHoutが導出されることから、そのピークホー
ルド出力PHoutをA/D変換するに当たってはその
電圧変動に対する回路保護などのためのレベル合わせな
どの処理を当該回路側で行わなくても済むため、固体撮
像装置の出力信号を直接A/D変換することができ、そ
れに伴い回路構成を簡略化できることになる。
【0034】なお、上記各実施例では、CCDリニアセ
ンサに適用した場合について説明したが、エリアセンサ
を含む全てのCCD固体撮像素子、さらにはCCDで限
らず他のセンサにも適用可能である。また、本発明に係
る信号出力回路は、固体撮像素子の出力部への適用に限
られるものではなく、所定の入力信号に基づく信号とそ
のピーク値の信号とを出力する信号出力回路全般に適用
し得るものである。
【0035】ところで、電圧保持用のコンデンサに対し
てダイオードを並列に接続した構成のピークホールド回
路として、特開昭60−4866号公報に開示のものが
知られている。しかしながら、この公知技術におけるダ
イオードは、次段のインピーダンス変換用の電界効果ト
ランジスタのゲートバイアス素子として用いられたもの
である。これに対し、本発明は、ダイオード動作をなす
素子としてMOSトランジスタを用いた構成のピークホ
ールド回路において、MOSトランジスタの寄生ダイオ
ードに起因する課題を解決するために、ダイオード動作
をなすMOSトランジスタの出力側と電源あるいはグラ
ンドとの間に電位的に逆バイアスになるような極性でダ
イオードを接続したものである。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ダイオード動作をなすMOSトランジスタと、このMO
Sトランジスタの出力側と基準電位点との間に接続され
たコンデンサとを備えたピークホールド回路において、
MOSトランジスタの出力側とグランド(又は、電源)
との間に電位的に逆バイアスになるような極性でダイオ
ードを接続した構成としたことにより、このダイオード
を通してホールド電圧を時間の経過と共に下げる(又
は、上げる)方向にリーク電流が流れるので、リーク電
流に起因してピークホールド値が変動する方向が、付加
したダイオードによって規制される。したがって、後段
の信号処理回路の構成に対応してその変動方向を設定す
ることで、リーク電流に起因するピークホールド出力の
電圧変動によって後段の信号処理回路へ及ぼす悪影響
を、特別な回路を設けなくても簡単な回路構成にて無く
すことができることになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る回路図である。
【図2】本発明に係る出力波形図である。
【図3】本発明の他の実施例に係る回路図である。
【図4】本発明の更に他の実施例に係る回路図である。
【図5】ピークホールド回路の等価回路図である。
【図6】本発明に係る信号出力回路の他の実施例を示す
回路図である。
【図7】本発明に係るCCDリニアセンサの一例を示す
構成図である。
【図8】本発明に係るCCDリニアセンサの他の例を示
す構成図である。
【図9】従来のCCDリニアセンサを示す構成図であ
る。
【図10】従来例に係る出力波形図である。
【図11】従来例を示す回路図である。
【図12】従来例の問題点を説明する出力波形図であ
る。
【図13】図12の要部の拡大波形図である。
【図14】MOSトランジスタの断面図である。
【符号の説明】
12,16 ソースフォロワ回路 14 ピークホールド回路 15 リセット回路 18 切換えスイッチ 19 スイッチ制御回路 22 A/D変換器 23 信号処理回路 24,25 信号出力回路

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ダイオード動作をなすMOSトランジス
    タと、 前記MOSトランジスタの出力側と基準電位点との間に
    接続されたコンデンサと、 前記MOSトランジスタの出力側と電源あるいはグラン
    ドとの間に電位的に逆バイアスになるような極性で接続
    されたダイオードとを備えたことを特徴とするピークホ
    ールド回路。
  2. 【請求項2】 前記MOSトランジスタの出力側に得ら
    れるホールド出力をリセットするリセット回路を有する
    ことを特徴とする請求項1記載のピークホールド回路。
  3. 【請求項3】 所定の入力信号のピーク値をホールドす
    る請求項1又は2記載のピークホールド回路と、 前記ピークホールド回路のホールド出力を入力とするバ
    ッファとを備え、 前記入力信号に基づく出力信号と前記バッファの出力信
    号とをそれぞれ出力することを特徴とする信号出力回
    路。
  4. 【請求項4】 所定の入力信号のピーク値をホールドす
    る請求項1又は2記載のピークホールド回路と、 前記ピークホールド回路のホールド出力を入力とするバ
    ッファと、 前記入力信号に基づく出力信号と前記バッファの出力信
    号とを択一的に出力する切換えスイッチとを備えたこと
    を特徴とする信号出力回路。
  5. 【請求項5】 固体撮像素子と、この固体撮像素子の出
    力信号に対して信号処理を施して出力する請求項3又は
    4記載の信号出力回路とを備えたことを特徴とする固体
    撮像装置。
  6. 【請求項6】 前記信号出力回路が前記固体撮像素子と
    同一の基板上に作製されたことを特徴とする請求項5記
    載の固体撮像装置。
  7. 【請求項7】 請求項5又は6記載の固体撮像装置の出
    力信号を処理する信号処理回路であって、 前記固体撮像装置の出力信号を直接A/D変換するA/
    D変換器を有することを特徴とする信号処理回路。
JP7012198A 1995-01-30 1995-01-30 ピークホールド回路、これを備えた信号出力回路及びこれを用いた固体撮像装置並びにその信号処理回路 Pending JPH08201443A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7012198A JPH08201443A (ja) 1995-01-30 1995-01-30 ピークホールド回路、これを備えた信号出力回路及びこれを用いた固体撮像装置並びにその信号処理回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7012198A JPH08201443A (ja) 1995-01-30 1995-01-30 ピークホールド回路、これを備えた信号出力回路及びこれを用いた固体撮像装置並びにその信号処理回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08201443A true JPH08201443A (ja) 1996-08-09

Family

ID=11798717

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7012198A Pending JPH08201443A (ja) 1995-01-30 1995-01-30 ピークホールド回路、これを備えた信号出力回路及びこれを用いた固体撮像装置並びにその信号処理回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH08201443A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008072632A1 (ja) 2006-12-13 2008-06-19 Hamamatsu Photonics K.K. 固体撮像装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008072632A1 (ja) 2006-12-13 2008-06-19 Hamamatsu Photonics K.K. 固体撮像装置
JP2008148233A (ja) * 2006-12-13 2008-06-26 Hamamatsu Photonics Kk 固体撮像装置
EP2104341A1 (en) * 2006-12-13 2009-09-23 Hamamatsu Photonics K.K. Solid-state imaging device
EP2104341A4 (en) * 2006-12-13 2011-08-03 Hamamatsu Photonics Kk SEMICONDUCTOR IMAGE DEVICE
US8564704B2 (en) 2006-12-13 2013-10-22 Hamamatsu Photonics K.K. Solid-state imaging device having transimpedance amplifier

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7821556B2 (en) Amplifying solid-state imaging device, and method for driving the same
JP4905500B2 (ja) 固体撮像装置
US7176462B2 (en) Semiconductor device, and control method and device for driving unit component of semiconductor device
JP5080794B2 (ja) 固体撮像装置およびカメラ
EP1178674B1 (en) Solid-state image pickup device and camera system
JP3871439B2 (ja) 固体撮像装置およびその駆動方法
US20060007334A1 (en) Solid-state imaging device and method for driving the same
US6323479B1 (en) Sensor pixel with linear and logarithmic response
US7787038B2 (en) Solid-state image pickup device and driving method therefor
KR20010039849A (ko) 자기-보상 상관 이중 샘플링 회로
US9549138B2 (en) Imaging device, imaging system, and driving method of imaging device using comparator in analog-to-digital converter
US7196726B2 (en) CMOS sensor circuit having a voltage control circuit controlling a gate potential of a photodiode reset transistor to a potential other than power source potentials
EP1852914A1 (en) Solid-state image pickup device and method for driving the same
JPH08201443A (ja) ピークホールド回路、これを備えた信号出力回路及びこれを用いた固体撮像装置並びにその信号処理回路
JPH09163247A (ja) 昇圧回路、これを搭載した固体撮像装置並びにこれを用いたバーコードリーダ及びカメラ
JP3675593B2 (ja) バイアス回路、固体撮像素子およびカメラシステム
JP2000152090A (ja) 固体撮像装置
JP3697164B2 (ja) 走査回路とそれを用いた撮像装置
JP4336544B2 (ja) 固体撮像装置
US20030213962A1 (en) Solid-state image pickup device
JP4503955B2 (ja) 固体撮像装置およびカメラ
US11477401B2 (en) Imaging device and imaging system
JP3142943B2 (ja) 固体撮像装置
JP2739692B2 (ja) 光電変換装置
JP2005217819A (ja) 直流レベル変換回路および直流レベル変換回路を制御する方法