JPH0817707A - Spin coating apparatus - Google Patents

Spin coating apparatus

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Publication number
JPH0817707A
JPH0817707A JP14628594A JP14628594A JPH0817707A JP H0817707 A JPH0817707 A JP H0817707A JP 14628594 A JP14628594 A JP 14628594A JP 14628594 A JP14628594 A JP 14628594A JP H0817707 A JPH0817707 A JP H0817707A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
spacer
plate
angle
spin coating
Prior art date
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Pending
Application number
JP14628594A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koji Kizaki
幸治 木▲崎▼
Hirofumi Yoshino
裕文 吉野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Priority to JP14628594A priority Critical patent/JPH0817707A/en
Publication of JPH0817707A publication Critical patent/JPH0817707A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To obtain a spin coating apparatus which prevents a surplus treatment liquid from being stuck to an upper-part rotating plate in a spin coating operation by a method wherein, in a closed space, a boundary part between a spacer and the upper-part rotating plate is situated in the upward outer direction at a prescribed set angle with reference to the horizontal direction as viewed from the outer circumference of a substrate. CONSTITUTION:A through hole whose shape is similar to that of a substrate and whose outward-shape size is a little larger than the outward-shape size of the substrate is made on the surface of a spacer 16. As a result, when a boundary part 26 is viewed from the outer circumference of the substrate, it is situated in the direction at an angle theta which is close to nearly 90 deg. with reference to the horizontal direction. As a result, when the substrate is turned after a treatment liquid has been supplied, a surplus treatment liquid L is discharged to the outer circumferential direction from the substrate due to a centrifugal force F generated by its rotation. However, even when the treatment liquid L is scattered to the upward outer direction at an angle PHIwith reference to the horizontal direction, the treatment liquid L is received wholly by a slope 28 on the spacer 16 so as to prevent it from being scattered and stuck to the boundary part 26 and a top plate 14. The set angle is set within a range of 45 to 90 deg..

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、液晶用ガラス角型基
板、半導体ウエハ、カラーフィルタ用基板などの基板
(以下単に「基板」という)を回転させて当該基板の表
面に供給されたフォトレジスト液などの処理液を表面全
体に拡散させて、当該処理液を基板に塗布する回転塗布
装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention rotates a substrate such as a glass rectangular substrate for liquid crystal, a semiconductor wafer, a substrate for color filter (hereinafter simply referred to as "substrate"), and supplies a photoresist to the surface of the substrate. The present invention relates to a spin coater that diffuses a treatment liquid such as a liquid over the entire surface and applies the treatment liquid to a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、この種の回転塗布装置として
は、例えば特開平4−61955号公報に記載されたも
のがある。図4は、その公報に記載された回転塗布装置
を示す断面図である。この回転塗布装置では、基板60
を水平に支持しつつ回転させる回転台62が設けられて
いる。この回転台62には、基板支持ピン64が立設さ
れるとともに、基板60の四隅に係合する係合ピン66
が設けられており、基板支持ピン64で基板60を水平
支持した状態で基板60を回転台62と一体に回転する
ことができるようになっている。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a spin coating apparatus of this type, there is one described in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 4-61955. FIG. 4 is a sectional view showing the spin coating apparatus described in that publication. In this spin coater, the substrate 60
There is provided a turntable 62 that rotates while horizontally supporting. Substrate support pins 64 are erected on the turntable 62, and engaging pins 66 are engaged with the four corners of the substrate 60.
Is provided, and the substrate 60 can be rotated integrally with the turntable 62 in a state where the substrate 60 is horizontally supported by the substrate support pins 64.

【0003】また、回転台62に支持された基板60の
上方位置には上部回転板68が配置され、上部支持板7
0,リングプレート72及びリング状のスペーサ74を
介して回転台62と連結されている。そして、回転台6
2上に基板60を載置し、さらにその基板60の上面中
央部に処理液を滴下した後、上部回転板68を降下させ
て基板60上面と近接した状態とし、その基板60を搭
載した状態のままで回転台62を回転させることによっ
て処理液を拡張させて、均一な薄膜を基板60の上面に
形成することができる。
An upper rotary plate 68 is disposed above the substrate 60 supported by the rotary table 62, and the upper support plate 7 is provided.
0, the ring plate 72, and the ring-shaped spacer 74 are connected to the turntable 62. And turntable 6
The substrate 60 is placed on the substrate 2, the processing liquid is further dropped on the central portion of the upper surface of the substrate 60, and then the upper rotary plate 68 is lowered to bring the substrate 60 into close proximity to the upper surface of the substrate 60. The processing solution can be expanded by rotating the turntable 62 in this state to form a uniform thin film on the upper surface of the substrate 60.

【0004】図示を省略しているが、リングプレート7
2とスペーサ74との間及びスペーサ74と回転台62
との間に、座金が介挿されて、隙間が形成されている。
このため、基板60を水平支持した状態で回転台62を
回転させると、回転により生じた遠心力および回転方向
の風によって基板60の外周から外方に排出され、隙間
を経由して余剰の処理液が外部に流出されて飛散する。
Although not shown, the ring plate 7
2 between the spacer 74 and the spacer 74 and the turntable 62.
A washer is inserted between and to form a gap.
Therefore, when the turntable 62 is rotated while the substrate 60 is horizontally supported, the centrifugal force generated by the rotation and the wind in the rotation direction cause the substrate 60 to be discharged outward from the outer periphery of the substrate 60, and the surplus processing is performed via the gap. The liquid flows out and scatters.

【0005】なお、図4の回転塗布装置では、回転台6
2の周囲を囲う廃液回収ケース80を設け、上記のよう
にして隙間から飛散した処理液が廃液回収ケース80に
て回収されるように構成されている。
In the spin coating apparatus of FIG. 4, the rotary table 6
2 is provided with a waste liquid recovery case 80, and the processing liquid scattered from the gap as described above is collected by the waste liquid recovery case 80.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところで、回転により
基板60から排出される余剰の処理液の一部は水平方向
に対して上向きで、かつ外方向(以下「上向外方向」と
いう)に飛散し、上部回転板68に付着する。そして、
付着した処理液が乾燥固化すると、上部回転板68の開
閉動作や回転動作などに生じる振動等によって細かな塵
埃(パーティクル)となって回転台62周囲に漂い、基
板60に付着して歩留まりを低下させるなどの問題を引
き起こす。
By the way, a part of the excess processing liquid discharged from the substrate 60 by the rotation is upward with respect to the horizontal direction and is scattered outward (hereinafter referred to as "upward outward"). And adheres to the upper rotary plate 68. And
When the adhered processing liquid is dried and solidified, fine dust (particles) is floated around the rotary table 62 due to vibration or the like caused by the opening / closing operation or the rotating operation of the upper rotary plate 68, and adheres to the substrate 60 to reduce the yield. Cause problems such as letting.

【0007】そこで、この発明は、上記課題を解決する
ためになされたもので、回転塗布時に余剰の処理液が上
部回転板に付着するのを防止することができる回転塗布
装置を提供することを目的とする。
Therefore, the present invention has been made to solve the above problems, and it is an object of the present invention to provide a spin coating apparatus capable of preventing excess processing liquid from adhering to an upper rotary plate during spin coating. To aim.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、基板
を回転させてその表面に供給された処理液を基板表面全
体に拡散させることにより処理液を基板に塗布する回転
塗布装置であって、上記目的を達成するため、基板を水
平に支持して回転させる回転支持手段と、回転支持手段
に支持された基板と所定の間隔を隔てて平行に配置さ
れ、基板とともに回転させられる上部回転板と、その上
に上部回転板が載置されて回転支持手段及び上部回転板
とともに基板が収容された空間を形成して基板及び上部
回転板とともに回転させられるとともに、回転支持手段
に支持された基板の外周から回転時の径方向かつ水平方
向に対して45゜から90゜までの設置角度をもって上
向外方向にその外周が配置された開口部が上部中央に形
成されたスペーサと、を有している。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a spin coater for coating a substrate by rotating the substrate and diffusing the treating liquid supplied to the surface thereof over the entire surface of the substrate. In order to achieve the above object, the rotation supporting means for horizontally supporting and rotating the substrate, and the upper rotation for rotating together with the substrate are arranged in parallel with the substrate supported by the rotation supporting means at a predetermined distance. The plate and the upper rotary plate are placed on the plate to form a space for accommodating the substrate together with the rotation support means and the upper rotary plate to rotate together with the substrate and the upper rotary plate, and are supported by the rotary support means. A spacer having an opening formed in the upper center of the substrate, the opening having its outer periphery arranged in an upward outward direction at an installation angle of 45 ° to 90 ° with respect to the radial direction and the horizontal direction during rotation from the outer periphery of the substrate; The it has.

【0009】請求項2の発明は、前記設置角度を、前記
基板を回転させた際に前記基板の外周から上向外方向に
飛散する処理液の水平方向に対する飛散角度の最大値以
上の角度に設定している。
According to a second aspect of the present invention, the installation angle is set to an angle equal to or larger than a maximum value of a horizontal scattering angle of the processing liquid scattered upward and outward from the outer periphery of the substrate when the substrate is rotated. It is set.

【0010】請求項3の発明は、前記設置角度を70゜
から80゜までに設定している。
According to a third aspect of the invention, the installation angle is set to 70 ° to 80 °.

【0011】請求項4の発明は、前記基板が角型形状で
あるとともに、スペーサの開口部を角型基板と相似形の
短形としている。
According to a fourth aspect of the present invention, the substrate has a rectangular shape, and the opening portion of the spacer has a short shape similar to the rectangular substrate.

【0012】[0012]

【作用】請求項1の発明では、回転支持手段、上部回転
板およびスペーサで閉空間が形成され、当該閉空間内で
基板が水平支持された状態のままで、前記回転支持手
段,前記上部回転板及び前記スペーサを一体として回転
されて、その表面に処理液が塗布される。この閉空間に
おいては、前記スペーサと前記上部回転板との境界部
が、前記基板の外周から見て、水平方向に対して45゜
ないし90゜の設置角度をもって上向外方向に位置され
ており、前記基板を回転させた際に前記基板の外周から
外方向に飛散する処理液のすべては前記スペーサによっ
て受けられ、処理液による前記上部回転板の汚染が防止
される。
According to the invention of claim 1, a closed space is formed by the rotation support means, the upper rotation plate and the spacer, and the substrate is horizontally supported in the closed space, and the rotation support means and the upper rotation are provided. The plate and the spacer are rotated as a unit, and the treatment liquid is applied to the surface thereof. In this closed space, the boundary between the spacer and the upper rotary plate is located upward and outward at an installation angle of 45 ° to 90 ° with respect to the horizontal direction when viewed from the outer periphery of the substrate. All the processing liquid scattered outward from the outer periphery of the substrate when the substrate is rotated is received by the spacer, and the upper rotating plate is prevented from being contaminated by the processing liquid.

【0013】請求項2の発明では、前記設置角度が前記
基板を回転させた際に前記基板の外周から上向外方向に
飛散する処理液の水平方向に対する飛散角度の最大値以
上の角度に設定されており、前記基板の外周からの処理
液が前記境界部を越えて前記上部回転板に飛散するのが
防止される。
According to a second aspect of the present invention, the installation angle is set to an angle equal to or greater than a maximum value of a horizontal scattering angle of the processing liquid scattered upward and outward from the outer periphery of the substrate when the substrate is rotated. Therefore, it is possible to prevent the processing liquid from the outer periphery of the substrate from scattering over the boundary portion to the upper rotary plate.

【0014】請求項3の発明では、前記設置角度が70
゜ないし80゜に設定されており、基板の外周から排出
された処理液は前記スペーサに飛散し、前記上部回転板
の汚染が防止される。
According to the invention of claim 3, the installation angle is 70.
The processing liquid discharged from the outer periphery of the substrate is scattered to the spacers to prevent the upper rotary plate from being contaminated.

【0015】請求項4の発明では、前記基板が角型形状
であり、前記スペーサの開口が前記角型基板と相似形の
短形とされているため、前記設置角度がほぼ一定とな
る。
In the invention of claim 4, since the substrate has a rectangular shape and the opening of the spacer has a short shape similar to the rectangular substrate, the installation angle is substantially constant.

【0016】[0016]

【実施例】図1は、この発明にかかる回転塗布装置の一
実施例を示す断面図であり、図2は当該回転塗布装置の
部分斜視図であり、また図3は当該回転塗布装置の部分
拡大断面図である。この回転塗布装置では、角形の基板
2を支持することができ、しかも回転軸4回りに回転自
在なアンダープレート6が設けられている。すなわち、
回転軸4に沿って回転シャフト8が垂設されており、そ
の上端に連結ボス10を介して基板2の外形と同等以上
の大きさを有するアンダープレート6が水平に取り付け
られる一方、その下端に図示を省略するモータが連結さ
れている。また、この回転シャフト8の先端部には、吸
着チャック12が固着されており、基板2を吸着支持可
能となっている。これらの構成により、基板2を水平支
持した状態で回転させる回転支持手段が構成されてい
る。
1 is a sectional view showing an embodiment of a spin coating apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a partial perspective view of the spin coating apparatus, and FIG. 3 is a portion of the spin coating apparatus. It is an expanded sectional view. In this spin coater, an under plate 6 that can support the rectangular substrate 2 and that is rotatable about the rotation axis 4 is provided. That is,
A rotating shaft 8 is vertically provided along the rotating shaft 4, and an under plate 6 having a size equal to or larger than the outer shape of the substrate 2 is horizontally attached to an upper end of the rotating shaft 8 via a connecting boss 10, while an under plate 6 is attached to a lower end thereof. A motor (not shown) is connected. A suction chuck 12 is fixed to the tip of the rotary shaft 8 to support the substrate 2 by suction. With these configurations, a rotation supporting unit that rotates the substrate 2 while horizontally supporting the substrate 2 is configured.

【0017】このアンダープレート6の上方側には、ト
ッププレート14がアンダープレート6に支持された基
板2と所定間隔を隔てた上方位置に平行配置されてい
る。このトッププレート14は図示しない昇降装置によ
り上下方向に移動自在であり(図2)、下降時には後述
するスペーサ16と嵌合して、アンダープレート6,ス
ペーサ16と一体化した状態で回転軸4回りに回転する
ようになっている。
On the upper side of the under plate 6, a top plate 14 is arranged parallel to the substrate 2 supported by the under plate 6 at a predetermined distance above the substrate 2. The top plate 14 can be moved in the vertical direction by an elevator device (not shown) (FIG. 2). When the top plate 14 is lowered, the top plate 14 is fitted with a spacer 16 which will be described later, and is integrated with the under plate 6 and the spacer 16 so as to rotate around the rotary shaft 4. It is designed to rotate.

【0018】また、アンダープレート6の上面には、回
転軸4を同心とした整流板18が固定されており、基板
2やアンダープレート6と一体的に回転されるようにな
っている。この整流板18を設けることで、図2に示す
ように、基板2の外周下面には、わずかな隙間しか存在
しなくなり、基板2を回転させた場合でも、基板2の外
周部付近で渦状の気流が発生するのを抑制することがで
き、レジスト液などの処理液が基板2の裏面側に回り込
むなどの不都合を防止することができる。
A rectifying plate 18 having the rotating shaft 4 as a concentric center is fixed to the upper surface of the under plate 6 so as to rotate integrally with the substrate 2 and the under plate 6. By providing this straightening plate 18, as shown in FIG. 2, only a small gap exists on the outer peripheral lower surface of the substrate 2, and even when the substrate 2 is rotated, a spiral shape is formed near the outer peripheral portion of the substrate 2. It is possible to suppress the generation of an air flow, and it is possible to prevent the inconvenience that the processing liquid such as the resist liquid flows around to the back surface side of the substrate 2.

【0019】さらに、アンダープレート6の上面に吸着
支持された基板2および整流板18を取り囲むように、
スペーサ16がアンダープレート6の上面の外周部に固
設されている。このスペーサ16の上面20には、図2
に示すように、基板2と相似形状で、しかも基板2の外
形サイズより若干大きな外形サイズを有する貫通孔22
が設けられており、この貫通孔22を介して基板2の装
置内部への搬入および装置からの搬出が可能となってい
る。また、この上面20には、3つのピンPが上方に向
けて突設されており、トッププレート14の外周部に設
けられた位置決め孔24と嵌合可能となっている。この
ため、トッププレート14を降下させると、図3に示す
ように、各ピンPが位置決め孔24と嵌合してスペーサ
16にトッププレート14がはめ合わされて、基板2へ
の処理液による所定の処理を行う閉空間Sが形成され
る。この実施例では、基板2の搬入および搬出用として
機能する貫通孔22を除いて、スペーサ16の上面20
全体でトッププレート14を支持するようにしているの
で、従来のようにリング状のスペーサを用いた場合に比
べて両者の接触面積が増え、両者間のシール性を向上さ
せることができる。
Further, so as to surround the substrate 2 and the current plate 18 which are suction-supported on the upper surface of the under plate 6,
The spacer 16 is fixed to the outer peripheral portion of the upper surface of the under plate 6. As shown in FIG.
As shown in FIG. 2, the through hole 22 having a shape similar to that of the substrate 2 and having an outer size slightly larger than the outer size of the substrate 2 is formed.
Is provided, and the substrate 2 can be carried in and out of the device through the through hole 22. Further, three pins P are provided on the upper surface 20 so as to project upward, and can be fitted into the positioning holes 24 provided on the outer peripheral portion of the top plate 14. Therefore, when the top plate 14 is lowered, as shown in FIG. 3, the pins P fit into the positioning holes 24 and the top plate 14 is fitted to the spacers 16, so that the substrate 2 is subjected to a predetermined treatment liquid. A closed space S for processing is formed. In this embodiment, the upper surface 20 of the spacer 16 is excluded, except for the through holes 22 that function for loading and unloading the substrate 2.
Since the top plate 14 is supported as a whole, the contact area between the two is increased as compared with the case where a ring-shaped spacer is used as in the conventional case, and the sealing property between the two can be improved.

【0020】このようにしてトッププレート14がスペ
ーサ16に装着されると、図3に示すように、基板2の
上向外方向にトッププレート14とスペーサ16の境界
部26が形成される。境界部26が形成される点に関し
ては、従来例と同様であるが、次の点で大きく異なる。
すなわち、この実施例では、スペーサ16の上面20に
基板2と相似形状で、しかも基板2の外形サイズより若
干大きな外形サイズを有する貫通孔22が設けているた
め、基板2の外周から当該境界部26を見ると、水平方
向に対してほぼ90゜に近い角度(以下、説明の便宜か
ら、この角度を「設置角度」という)θ方向に位置して
いる。このため、処理液を供給した後、基板2を回転さ
せると、図3に示すように、回転により発生した遠心力
Fによって当該基板2から外周方向に余剰の処理液Lが
排出されるが、その処理液Lが水平方向に対してある角
度φをもって上向外方向に飛散したとしても、当該処理
液Lはすべてスペーサ16の傾斜面28に受けられて、
境界部26およびトッププレート14への飛散付着を防
止することができる。
When the top plate 14 is mounted on the spacer 16 in this way, as shown in FIG. 3, a boundary portion 26 between the top plate 14 and the spacer 16 is formed in the upward and outward direction of the substrate 2. The boundary 26 is formed in the same manner as in the conventional example, but differs greatly in the following points.
That is, in this embodiment, since the through hole 22 having a similar shape to the substrate 2 and having an outer size slightly larger than the outer size of the substrate 2 is provided on the upper surface 20 of the spacer 16, the boundary portion from the outer periphery of the substrate 2 is changed. As seen from 26, it is located in the angle θ with respect to the horizontal direction (hereinafter, this angle is referred to as “installation angle” for convenience of description), which is approximately 90 °. For this reason, when the substrate 2 is rotated after supplying the processing liquid, the excess processing liquid L is discharged from the substrate 2 in the outer peripheral direction by the centrifugal force F generated by the rotation, as shown in FIG. Even if the processing liquid L is scattered upward at an angle φ with respect to the horizontal direction, the processing liquid L is entirely received by the inclined surface 28 of the spacer 16,
It is possible to prevent scattering and adhesion to the boundary portion 26 and the top plate 14.

【0021】この角度φは処理液の粘度や回転数などの
回転塗布条件により異なり、例えば、粘度が20cpの
レジスト液(処理液)を大きさ(300mm×400mm)
の基板2の表面に供給した後、回転加速度500rpm
/秒で、回転数1500rpmで回転させて回転塗布処
理を行う場合、当該角度φは約20゜であり、この実施
例ではトッププレート14への付着を問題とすることな
く、基板2からの処理液Lを確実に回収することができ
る。また、設置角度θについては、この実施例に限定さ
れるものではなく、種々の回転塗布条件を調べた結果、
45゜ないし90゜の範囲に設定することでトッププレ
ート14への処理液の付着を防止することができる。要
は、設置角度θを、回転塗布条件で処理液が飛散する角
度φの最大値、つまり最大飛散角度φMAXよりも大きく
設定すれば、回転塗布時に余剰の処理液Lがトッププレ
ート14に付着するのを防止することができる。
This angle φ varies depending on the spin coating conditions such as the viscosity of the treatment liquid and the number of revolutions. For example, a resist liquid (treatment liquid) having a viscosity of 20 cp has a size (300 mm × 400 mm).
After being supplied to the surface of the substrate 2, the rotational acceleration is 500 rpm.
When the spin coating process is performed at a rotation speed of 1500 rpm at a rotation speed of 1 / sec, the angle φ is about 20 °, and in this embodiment, the process from the substrate 2 is performed without causing the adhesion to the top plate 14. The liquid L can be reliably recovered. Further, the installation angle θ is not limited to this example, and as a result of examining various spin coating conditions,
By setting the angle in the range of 45 ° to 90 °, it is possible to prevent the treatment liquid from adhering to the top plate 14. In short, if the installation angle θ is set to be larger than the maximum value of the angle φ at which the processing liquid is scattered under the spin coating condition, that is, the maximum scattering angle φMAX, the surplus processing liquid L adheres to the top plate 14 during the spin coating. Can be prevented.

【0022】ただし、上記のように貫通孔22を介して
基板2を搬入および搬出するため、その作業をスムーズ
に行うためには、少なくとも2ないし3mm程度以上のク
リアランスを設けることが好ましく、この点を考慮する
と設置角度θを70゜ないし80゜に設定するのが好適
である。
However, in order to carry in and carry out the substrate 2 through the through hole 22 as described above, it is preferable to provide a clearance of at least about 2 to 3 mm in order to carry out the work smoothly. Considering the above, it is preferable to set the installation angle θ to 70 ° to 80 °.

【0023】このように構成されたスペーサ16には、
その下面の所定位置には溝30が穿設されており(図3
参照)、この溝30によってアンダープレート6とスペ
ーサ16との間に余剰の処理液Lを外部に流出するため
の流出経路32が形成される。スペーサ16の前記流出
経路32の外周側開口部と対向する位置には、断面形状
が台形のトラップ部34が設けられている。このトラッ
プ部34は流出経路32を介して閉空間Sと連通され
る。また、トラップ部34の下側には、アンダープレー
ト6の半径方向内側に向かって低くなる傾斜面36が形
成され、傾斜面36の下端には、排出穴38が設けられ
ている。したがって、基板2およびアンダープレート6
が高速回転し、遠心力Fが付加されている間、基板2か
らの余剰の処理液Lがスペーサ16の傾斜面28で受け
られ、さらに溝30を介してトラップ部34に流入する
とともに、そのトラップ部34で貯留される。そして、
基板2およびアンダープレート6の回転数が落ちて、遠
心力Fが一定未満になる、あるいはゼロになったとき、
トラップ部34に貯留されていた処理液が、排出穴38
から下方に流出する。
The spacer 16 thus constructed has
A groove 30 is formed at a predetermined position on the lower surface (see FIG. 3).
By reference to this groove 30, an outflow path 32 for outflowing the excess processing liquid L to the outside is formed between the under plate 6 and the spacer 16. A trap portion 34 having a trapezoidal cross section is provided at a position of the spacer 16 facing the outer peripheral side opening of the outflow passage 32. The trap portion 34 communicates with the closed space S via the outflow path 32. Further, an inclined surface 36 is formed on the lower side of the trap portion 34 so as to decrease inward in the radial direction of the under plate 6, and a discharge hole 38 is provided at the lower end of the inclined surface 36. Therefore, the substrate 2 and the under plate 6
Is rotated at a high speed and the centrifugal force F is applied, the excess processing liquid L from the substrate 2 is received by the inclined surface 28 of the spacer 16, further flows into the trap portion 34 through the groove 30, and It is stored in the trap section 34. And
When the rotation speeds of the substrate 2 and the under plate 6 drop and the centrifugal force F becomes less than a certain value or becomes zero,
The processing liquid stored in the trap portion 34 is discharged into the discharge hole 38.
Flows down from.

【0024】なお、図示を省略しているが、アンダープ
レート6のまわりには、環状のカップが配置されてお
り、上記のようにして排出された処理液を回収し、所定
の排液回収部に排出するようになっている。
Although not shown in the drawings, an annular cup is arranged around the under plate 6 to collect the processing liquid discharged as described above, and a predetermined drain collecting part. It is designed to be discharged to.

【0025】以上のように、この実施例によれば、閉空
間Sにおけるスペーサ16とトッププレート14との境
界部26が、適当な設置角度θをもって基板2の外周に
対して上向外方向に位置するようにしているので、回転
塗布処理時に基板2から飛散する処理液Lのすべてがス
ペーサ16の傾斜面28で受けられ、余剰の処理液Lが
トッププレート14に付着するのを防止することができ
る。
As described above, according to this embodiment, the boundary portion 26 between the spacer 16 and the top plate 14 in the closed space S moves upward and outward with respect to the outer periphery of the substrate 2 with an appropriate installation angle θ. Since it is positioned, all of the processing liquid L scattered from the substrate 2 during the spin coating process is received by the inclined surface 28 of the spacer 16 and the excess processing liquid L is prevented from adhering to the top plate 14. You can

【0026】なお、上記実施例では、処理液を供給した
後に基板を回転させているが、処理液を基板に供給しな
がら基板を回転させる装置にも本発明を適用することが
できることはいうまでもない。
Although the substrate is rotated after the processing liquid is supplied in the above embodiment, it is needless to say that the present invention can be applied to an apparatus that rotates the substrate while supplying the processing liquid to the substrate. Nor.

【0027】また、上記実施例では、角型基板2の場合
について説明したが、半導体ウエハのような略円形基板
に対して処理液を供給し、当該円形基板を回転させるこ
とで所定の処理を行う回転塗布装置にも、本発明を適用
することができる。
Further, in the above embodiment, the case of the rectangular substrate 2 has been described. However, a processing liquid is supplied to a substantially circular substrate such as a semiconductor wafer, and the circular substrate is rotated to perform a predetermined processing. The present invention can also be applied to a spin coating device.

【0028】[0028]

【発明の効果】請求項1の発明によれば、スペーサと上
部回転板との境界部が、基板の外周から見て、水平方向
に対して45゜ないし90゜の設置角度をもって上向外
方向に位置するように構成しているため、前記基板を回
転させた際に前記基板の外周から外方向に飛散する処理
液のすべてを前記スペーサによって受けることができ、
処理液による前記上部回転板の汚染を防止することがで
きる。
According to the first aspect of the present invention, the boundary portion between the spacer and the upper rotary plate has an installation angle of 45.degree. Since it is configured to be located in, it is possible to receive all of the processing liquid scattered outward from the outer periphery of the substrate by the spacer when the substrate is rotated,
It is possible to prevent the upper rotary plate from being contaminated by the processing liquid.

【0029】請求項2の発明によれば、前記設置角度を
前記基板を回転させた際に前記基板の外周から上向外方
向に飛散する処理液の水平方向に対する飛散角度の最大
値以上の角度に設定しているので、前記基板の外周から
の処理液が前記境界部を越えて前記上部回転板に飛散す
るのを防止することができる。
According to the second aspect of the present invention, the installation angle is equal to or more than the maximum value of the scattering angle with respect to the horizontal direction of the processing liquid scattered upward and outward from the outer periphery of the substrate when the substrate is rotated. Therefore, it is possible to prevent the processing liquid from the outer periphery of the substrate from splashing over the boundary portion to the upper rotary plate.

【0030】請求項3の発明によれば、前記設置角度を
70゜ないし80゜に設定しているので、基板の外周か
ら排出された処理液による前記上部回転板の汚染を防止
することができる。
According to the invention of claim 3, since the installation angle is set to 70 ° to 80 °, it is possible to prevent the upper rotary plate from being contaminated by the processing liquid discharged from the outer periphery of the substrate. .

【0031】請求項4の発明によれば、角型形状の基板
に対応して、前記スペーサの中央部に角型形状の貫通孔
を設け、前記回転支持手段,前記上部回転板及び前記ス
ペーサを一体化したときに前記境界部が前記基板の外周
に沿って形成されるようにしているため、前記設置角度
をほぼ一定にすることができる。
According to the fourth aspect of the present invention, a square through hole is provided in the central portion of the spacer corresponding to the square substrate, and the rotation supporting means, the upper rotary plate and the spacer are provided. Since the boundary portion is formed along the outer periphery of the substrate when integrated, the installation angle can be made substantially constant.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明にかかる回転塗布装置の一実施例を示
す断面図である。
FIG. 1 is a sectional view showing an embodiment of a spin coating device according to the present invention.

【図2】図1の装置の部分斜視図である。2 is a partial perspective view of the device of FIG. 1. FIG.

【図3】図1の装置の部分拡大図である。3 is a partially enlarged view of the device of FIG.

【図4】従来の回転塗布装置を示す断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view showing a conventional spin coating device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 基板 6 アンダープレート 12 吸着チャック 14 トッププレート 16 スペーサ 26 境界部 L 余剰の処理液 θ 設置角度 2 Substrate 6 Underplate 12 Adsorption chuck 14 Top plate 16 Spacer 26 Boundary L Excessive processing liquid θ Installation angle

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板を回転させてその表面に供給された
処理液を基板表面全体に拡散させることにより処理液を
基板に塗布する回転塗布装置において、 基板を水平に支持して回転させる回転支持手段と、 回転支持手段に支持された基板と所定の間隔を隔てて平
行に配置され、基板とともに回転させられる上部回転板
と、 その上に上部回転板が載置されて回転支持手段及び上部
回転板とともに基板が収容された空間を形成して基板及
び上部回転板とともに回転させられるとともに、回転支
持手段に支持された基板の外周から回転時の径方向かつ
水平方向に対して45゜から90゜までの設置角度をも
って上向外方向にその外周が配置された開口部が上部中
央に形成されたスペーサと、を有することを特徴とする
回転塗布装置。
1. A rotary coating apparatus for coating a substrate with a treatment liquid by rotating the substrate and diffusing the treatment liquid supplied to the surface of the substrate over the entire surface of the substrate. Means, an upper rotating plate which is arranged in parallel with the substrate supported by the rotation supporting means at a predetermined interval and is rotated together with the substrate, and an upper rotating plate is mounted on the upper rotating plate and the rotation supporting means and the upper rotation plate. A space for accommodating the substrate is formed together with the plate to be rotated together with the substrate and the upper rotary plate, and from the outer periphery of the substrate supported by the rotation supporting means to 45 ° to 90 ° with respect to the radial direction and the horizontal direction during rotation. And a spacer having an opening whose outer periphery is arranged in an upward and outward direction at an installation angle up to and including a spacer formed at the center of the upper portion.
【請求項2】 前記設置角度が、前記基板を回転させた
際に前記基板の外周から上向外方向に飛散する処理液の
水平方向に対する飛散角度の最大値以上の角度に設定さ
れた請求項1記載の回転塗布装置。
2. The installation angle is set to an angle equal to or larger than a maximum value of a scattering angle with respect to a horizontal direction of a processing liquid scattered upward and outward from the outer periphery of the substrate when the substrate is rotated. 1. The spin coating apparatus according to 1.
【請求項3】 前記設置角度が70゜から80゜までの
角度に設定された請求項1記載の回転塗布装置。
3. The spin coating apparatus according to claim 1, wherein the installation angle is set to an angle of 70 ° to 80 °.
【請求項4】 基板が角型基板であるとともに、スペー
サの開口部が角型基板と相似形の短形であることを特徴
とする請求項1から3までのいずれかに記載の回転塗布
装置。
4. The spin coating apparatus according to claim 1, wherein the substrate is a rectangular substrate, and the opening of the spacer is a short form similar to the rectangular substrate. .
JP14628594A 1994-06-28 1994-06-28 Spin coating apparatus Pending JPH0817707A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1064784A (en) * 1996-08-19 1998-03-06 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Rotary coater
JP2001300409A (en) * 2000-04-28 2001-10-30 Shin Sti Technology Kk Scattering preventing method for spin coater
JP2013038184A (en) * 2011-08-05 2013-02-21 Tokyo Electron Ltd Liquid processing apparatus

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1064784A (en) * 1996-08-19 1998-03-06 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Rotary coater
JP2001300409A (en) * 2000-04-28 2001-10-30 Shin Sti Technology Kk Scattering preventing method for spin coater
JP2013038184A (en) * 2011-08-05 2013-02-21 Tokyo Electron Ltd Liquid processing apparatus

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