JPH08136634A

JPH08136634A - 多機能測定器

Info

Publication number: JPH08136634A
Application number: JP6271469A
Authority: JP
Inventors: Akira Mitsuyama; 亮光山; Mikio Matsui; 幹雄松井
Original assignee: READER DENSHI KK
Current assignee: READER DENSHI KK
Priority date: 1994-11-04
Filing date: 1994-11-04
Publication date: 1996-05-31
Anticipated expiration: 2019-01-06
Also published as: KR960019094A; KR100310054B1; JP3483632B2

Abstract

(57)【要約】【目的】多機能測定器の自己校正を簡単に行う。【構成】入力端子１と、出力端子２と、信号源部３の
各々の信号源の出力と、計器部４の各々の計器の入力と
に接続部５を接続する。自己校正モード時には、接続部
５を測定／自己校正制御部９により制御して、信号源の
出力を計器の入力に内部接続して、信号源若しくは計器
の校正を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、多数の測定機能を備え
た多機能測定器に関するものであり、特に、ある製品に
関する各種の異なった測定項目あるいはパラメータにつ
いて測定するのに適した多機能測定器に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】従来、多目的の測定用途を考慮して複数
の測定機能と信号源を一体化した測定器が用いられてお
り、このような測定器を本明細書においては“多機能測
定器”と呼ぶことにする。多機能測定器は、主に、最近
の多機能／高性能化された電気製品の生産ラインにおけ
る自動化／省力化の１手段として開発されたものであっ
て、多くの測定機能を一体化して備えることにより、そ
の製品に関する実質上全ての測定／検査を行えるによう
になっている。更に、多機能測定器を使えば、多種類の
個別の測定器を生産ラインに用意する必要がなくなるた
め、生産ラインの省スペースにも役立っている。

【０００３】このような多機能測定器の例として、本願
出願人製造のModel 4850 ２チャンネル・オーディオ・
アナライザがある。このアナライザは、ＶＴＲやカセッ
トデッキ等のオーディオ系の調整／検査のため、試験信
号源としての発振器や、電圧計、周波数カウンタ、良否
判定装置等の計器を一体化させて、レベル、チャンネル
バランス、Ｓ／Ｎ比、ひずみ率、周波数特性、テープス
ピード、ワウ・フラッタ、直流電圧等の種々の項目の測
定を行うことができる。多機能測定器のその他の例とし
ては、松下通信工業株式会社製造の型番ＶＰ−１６１２
Ａの計測システムプロセッサ、等もある。

【０００４】生産ラインで使用する測定器は、そのライ
ンで生産する製品の信頼性を確保するためには、それら
測定器の性能確認を行うことは不可欠である。上記のよ
うな多機能測定器の性能確認をするには、通常、多機能
測定器が備える多数の測定機能の各々について、個別
に、しかもその各測定機能の全測定範囲について、外部
に別に用意した信号源、計器等の測定器を使って詳細に
検査して、各測定機能における測定誤差の検査あるいは
校正を行っている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上記の方法による測定
誤差検査あるいは校正では、各測定機能を個々にしかも
正確に検査できる反面、種々の問題もある。例えば、
１）外部に別の測定器が多数必要となること、２）校正
用の測定器の置き場所が必要となること、３）校正に時
間かかること、４）熟練者による操作が必要となるこ
と、である。

【０００６】従って、本発明の目的は、測定誤差検査を
含む校正を簡便に行える多機能測定器及びその校正方法
を提供することである。本発明の別の目的は、外部の測
定器を必要とせずに校正を行える多機能測定器及びその
校正方法を提供することである。本発明の更に別の目的
は、校正時間を短縮できる多機能測定器及びその校正方
法を提供することである。本発明の更に別の目的は、校
正に熟練者を要しない多機能測定器及びその校正方法を
提供することである。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記目的を実現するた
め、本発明では、多機能測定器に、測定モードに加えて
自己校正モードを設け、多機能測定器の内部接続により
多数の測定機能の各々の測定誤差検査を含む校正を可能
にする。

【０００８】詳しくは、被測定物の複数のパラメータに
関する測定を行うための複数の測定機能を備えた多機能
測定器であって少なくとも１つの試験信号源手段と複数
の単機能の計器手段を含む多機能測定器において、本発
明による前記複数の計器手段を校正する校正方法は、
イ）前記複数の計器手段の内の任意の１つを選択するス
テップと、ロ）該選択した計器手段を校正するために使
用する前記少なくとも１つの試験信号源手段の内の１つ
を選択するステップと、ハ）該選択した試験信号源手段
の出力を前記選択した計器手段の入力に接続して、該計
器手段の出力から信号を得るステップと、ニ）該計器手
段出力からの信号の値を、良否判定のための、基準値を
含む所定の許容範囲と比較するステップと、ホ）該比較
の結果に従って、良否判定結果を表示するステップと、
を備える。本発明によれば、更に、前記計器手段出力信
号値が前記所定の許容範囲内にあってしかも前記基準値
との誤差がある時、該誤差を用いて前記選択した計器手
段の特性を補償するステップ、を含むようにできる。

【０００９】また、本発明による、被測定物の複数のパ
ラメータに関する測定を行うための複数の測定機能を備
えた、入力端子と出力端子とを有する多機能測定器は、
イ）前記複数の測定機能に夫々対応する機能を備えた複
数の単機能の測定手段であって、該複数の単機能測定手
段は、少なくとも１つの試験信号源手段を含み、前記複
数の単機能測定手段の各々は、入力と出力又は出力を有
している、前記の複数の単機能測定手段と、ロ）前記入
力端子と、前記出力端子と、前記複数の単機能測定手段
の各々と、の間の接続を行う接続手段と、ハ）前記多機
能測定器の測定モード又は自己校正モードを指定するモ
ード指定信号を発生するモード指定手段と、ニ）前記モ
ード指定信号に応答する制御手段であって、前記モード
指定信号が前記測定モードを指定している場合、前記接
続手段を制御することにより、前記複数のパラメータの
内の選択された少なくとも１つのパラメータの各々の測
定のための、前記複数の単機能測定手段と前記出力端子
と前記入力端子との間の接続を行わせ、前記モード指定
信号が前記自己校正モードを指定している場合、前記接
続手段を制御することにより、前記選択された少なくと
も１つのパラメータの各々の測定に関係する前記単機能
測定手段の各々を、該手段の自己校正に使用する前記単
機能測定手段と接続させる、前記の制御手段と、を備え
る。

【００１０】本発明によれば、前記複数の単機能測定手
段は、前記少なくとも１つの試験信号源手段と、入力と
出力とを各々有する複数の計器手段と、から成るように
できる。更に、本発明の多機能測定器は、イ）前記複数
の計器手段の前記出力に接続された手段であって、前記
複数の計器手段の各々からの出力信号に対し処理を行っ
て測定結果を表す第１の信号を発生する処理手段と、
ロ）前記第１信号を受け、該結果を所定の判定基準と比
較して良否判定結果を表す第２の信号を発生する判定手
段と、ハ）前記第１信号又は前記第２信号を受けて、前
記測定結果又は前記良否判定結果を表示する表示手段
と、を含むようにできる。

【００１１】また、本発明の多機能測定器は、前記制御
手段に接続されており、前記測定モードにおける測定条
件及び前記自己校正モードにおける検査条件を入力する
手段であって、前記測定及び検査の条件は、各前記パラ
メータについて、測定点及び検査点、及び前記所定の判
定基準である測定結果の第１許容範囲と検査結果の第２
許容範囲とを含む、前記の入力手段、を含むようにでき
る。本発明によれば、各前記パラメータについて、前記
自己校正モードにおける前記検査点は、前記測定モード
における前記測定点と同じとすることができる。また、
前記検査結果の第２許容範囲は、前記測定結果の第１許
容範囲よりも狭くすることができる。

【００１２】更に、本発明によれば、前記自己校正モー
ドにおいては、前記検査結果が、前記第２許容範囲内に
ある場合には、前記表示手段は、前記パラメータの測定
に関する前記単機能測定手段が良好であることを示し、
前記第２許容範囲内にない場合には、前記表示手段は、
前記パラメータの測定に関する前記単機能測定手段が良
好でないことを示すようにできる。

【００１３】更に、本発明によれば、前記入力手段は、
前記検査結果により該当の単機能測定手段の特性を補償
することを指定するための補償指定手段を含み、前記制
御手段は、更に、前記複数の多機能測定手段の各々の特
性を補償する補償手段であって、前記検査結果が前記第
２許容範囲内にあってしかも測定誤差がある時、前記補
償指定手段が補償を指定している場合に、前記補償手段
により前記測定誤差を用いて該当の単機能測定手段の特
性を補償する、前記の補償手段、を含むようにできる。

【００１４】更に、本発明によれば、前記制御手段は、
前記試験信号源手段に接続されており、前記パラメータ
の測定値点と同じ値の信号を発生するように制御する試
験信号源制御手段、を含むことができる。また、前記制
御手段は、更に、前記選択された少なくとも１つのパラ
メータが２以上の場合、該２以上のパラメータの各々に
ついての自己校正を順番に行うためのシーケンス手段、
を含むことができる。

【００１５】更にまた、本発明によれば、前記シーケン
ス手段は、各前記パラメータの測定及び検査において、
所定の待機時間を設定する待機時間設定手段、を含むよ
うにできる。また、前記待機時間設定手段は、前記所定
の待機時間は、各前記パラメータの測定においては第１
の待機時間を、該パラメータの検査においては第２の待
機時間を設定するようにできる。

【００１６】本発明によれば、前記複数の計器手段は、
互いに共通の回路を備えるものとすることができる。

【００１７】

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て詳細に説明する。

【００１８】図１は、１組の入力端子と１組の出力端子
を備えた被測定物ＭＤの測定、検査、調整等に使用する
多機能測定器Ａを示している。この多機能測定器Ａは、
被測定物ＭＤの入力端子及び出力端子に接続するための
１組の入力端子１と１組の出力端子２、試験信号源ＳＳ
１〜ＳＳｉ（正しｉ≧１）を含む信号源部３と、計器Ｍ
１〜Ｍｊ（但しｊ≧２）を含む計器部４と、接続部５
と、処理／判定／表示部６と、動作モード指定部７と、
測定／自己校正条件入力部８と、測定／自己校正制御部
９と、を備えている。

【００１９】試験信号源ＳＳ１〜ＳＳｉは各々、対応す
る測定機能を実現するのに必要な試験信号を発生する出
力と、そして必要な場合には、出力する試験信号の波
形、振幅、周波数、位相等の電気的パラメータに関する
制御信号を制御部９から受けるための制御入力（図では
簡略図示）と、を備えている。計器Ｍ１〜Ｍｊの各々
は、対応する測定機能を実現するのに必要なものであっ
て、入力と、計測結果の信号を発生する出力と、そして
必要な場合には、動作周波数、動作レンジ等の測定動作
に関する制御信号を受けるための制御入力（図では簡略
図示）と、を有している。接続部５は、入力端子１に接
続した出力と、出力端子２に接続した入力と、信号源Ｓ
Ｓ１〜ＳＳｉの各出力に接続した入力と、計器Ｍ１〜Ｍ
ｊの各入力に接続した出力と、制御部９からの接続に関
する制御信号を受けるための制御入力とを有している。
この制御入力に受ける信号に応答して、接続部５は、こ
の接続部の入力／出力間を所要の形式に接続する。処理
／判定／表示部６は、計器Ｍ１〜Ｍｊの各出力に接続し
た入力と、処理／判定／表示に関する制御信号を制御部
９から受けるための制御入力と、判定の結果を表す信号
を制御部９に送るための出力とを有している。この処理
／判定／表示部６は、各計器からの出力について数値化
その他の所要の処理を行い、その処理結果について良否
判定を行い、そして処理結果又は良否判定結果の表示を
行う。測定／自己校正制御部９は、上記の制御信号を発
生するための出力と、上記判定結果を受けるための入力
と、モード指定部７及び入力部８の各出力を受けるため
に入力を備えている。モード指定部７は、多機能測定器
Ａの動作モード、即ち測定モードと自己校正モードのい
ずれかを指示する信号を出力に発生する。測定／自己校
正条件入力部８は、測定モードにおける測定条件と、自
己校正モードにおける校正条件を表す信号を出力に発生
する。測定あるいは自己校正の条件には、被測定物ＭＤ
の測定対象の各パラメータについて、測定あるいは検査
する値の点、並びに測定結果及び検査結果の各許容範囲
を含む。

【００２０】以上の構成をもつ多機能測定器Ａの動作
は、以下の通りである。即ち、モード指定部７が測定モ
ードを指示している場合、入力部８からの測定条件に従
って信号源部３、計器部４、接続部５、処理／判定／表
示部６を制御して、所与のパラメータの測定のため、試
験信号を被測定物ＭＤに印加することが必要な場合に
は、所要の試験信号源の出力を接続部５を介して出力端
子２に発生して被測定物ＭＤに印加する。試験信号の印
加が必要な場合必要でない場合共に、被測定物ＭＤの出
力は、入力端子１と接続部５を介して、上記パラメータ
の測定に該当する計器の入力に送る。この計器の出力を
受ける処理／判定／表示部６は、所要の処理を行って測
定結果を得ると共に、当該パラメータに関する測定結果
用の許容範囲を使って良否判定を行う。更に、その測定
結果と良否判定結果の一方又は双方を表示する。次に、
良否判定結果に応じてあるいはその結果に拘わらずに、
測定すべき他のパラメータがある場合には、以上のプロ
セスを繰り返す。

【００２１】一方、自己校正モードにおいては、入力部
８からの自己校正条件に従い、信号源ＳＳ１〜ＳＳｉ及
び計器Ｍ１〜Ｍｊの指定された１つあるいはそれ以上の
ものについて校正を行う。信号源を校正する場合には、
その信号源の出力を接続部５を介してその校正に必要な
計器に印加する。この計器の出力は、処理／判定／表示
部６で、処理、判定、表示を行うが、この場合、校正用
の許容範囲を使う。一方、計器について校正する場合に
は、この計器の校正に必要な信号源の出力を接続部５を
介してその計器に印加すると共に、処理／判定／表示部
６でその計器校正用の許容範囲を使って上記測定モード
と同様の処理、判定、表示を行う。校正すべきものが２
以上ある場合には、残りの各々について順番に上記のプ
ロセスを繰り返す。尚、自己校正モードにおいては、測
定モードにおける各パラメータの測定点と同じ点につい
て検査を行うため、信号源あるいは計器を制御すること
ができる。

【００２２】次に、図２を参照して、図１の多機能測定
器Ａをより具体化したオーディオ・メジャリング・シス
テムＢについて述べる。このメジャリング・システムＢ
は、カーステレオ、ラジカセ、ＶＴＲ、カセットデッキ
等の被測定物ＭＤ’のオーディオ系の調整／検査に必要
なＡＣ電圧計、発振器、周波数カウンタ、直流電圧計、
ひずみ率計及び判定部を一体化して、測定、並びに治具
や外部機器の制御とを高速で行うことができる自動計測
システムである。図示のように、システムＢは、チャン
ネル（ＣＨ）１と２の各々のＡＣ入力端子１０（図では
片方のみ図示）、１つのＤＣ入力端子１２、１つのカウ
ンタ入力端子１４、ＣＨ１及びＣＨ２の各々の出力端子
２０（図では片方のみ図示）を有しており、そしてこれ
らに対し、例示として示す被測定物ＭＤ’の出力端子Ｏ
ＵＴ、２つのチェック端子ＴＰ（被測定物内部のチェッ
ク端子の２つの例であって、図示の場合、周波数のチェ
ック端子と、ＤＣ電圧のチェック端子である。）、入力
端子ＩＮを夫々接続することができる。更に、図示しな
いが、ワウ・フラッタＤＣ入力端子、ＣＨ１，ＣＨ２用
の各種モニタ端子がある。尚、入力端子１０と出力端子
２０についてのＣＨ１とＣＨ２の切換は、図示しないス
イッチによって行う。

【００２３】システムＢは、図１の試験信号源部３に対
応するものとして、３１５Ｈｚ，４００Ｈｚ，１ＫＨｚ
のいずれかの発振周波数の基準（ＲＥＦ）発振部３０、
１０Ｈｚ〜２００ＫＨｚの発振周波数の高域（ＨＩ）発
振部３１、１０Ｈｚ〜１０ＫＨｚの発振周波数の低域
（ＬＯＷ）発振部３２と、そしてＤＣ電圧源として、後
述のＡ／Ｄ変換器６０の基準電圧出力３３と、を備えて
いる。発振部３０，３１，３２の各出力は、対応の切換
制御式のスイッチ３４，３５，３６の入力端（ＯＮ位
置）に接続し、そして他方の入力端（ＯＦＦ位置）が接
地に接続したそれらスイッチの出力端は混合部３７の各
入力に接続しており、そして発振部出力を混合する混合
部３７の出力は減衰量可変式のアッテネータ（ＡＴＴ）
３８の入力に接続している。

【００２４】システムＢは、図１の接続部５に相当する
ものとして、リレー式切換制御のスイッチ５０，５１
と、切換制御式スイッチ５２，５３とを備えている。即
ち、スイッチ５０の入力端は、ＡＴＴ３８の出力に接続
しており、そしてスイッチ５０の測定（Ｍ）モード時の
出力端は出力端子２０に接続しそして校正（Ｃ）モード
時出力端はスイッチ５１の校正（Ｃ）モード時入力端に
接続している。スイッチ５１の測定時入力端はＡＣ入力
端子１０に接続している。また、スイッチ５２は、校正
時入力端がＡ／Ｄ変換器６０の基準電圧出力３３に接続
しており、その測定時入力端がＤＣ入力端子１２に接続
している。スイッチ５３の校正時入力端はスイッチ３６
の出力端に接続しており、そしてその測定時入力端はカ
ウンタ入力端子１４に接続している。

【００２５】システムＢは、図１の計器部４の一部に対
応する要素として、ＡＣ入力に関係した計測を行うた
め、スイッチ５１の出力端に入力が接続した減衰量可変
式ＡＴＴ４０と、これの出力に接続した入力を各々もつ
４組のフィルタ／減衰量可変式ＡＴＴ／検波回路部４
１，４２，４３，４４とを備えており、そしてこれら回
路部の出力は、切換制御式スイッチ４８の基準（ＲＥ
Ｆ），高域（ＨＩ），低域（ＬＯＷ），ひずみ率（ＤＩ
ＳＴ）入力端に夫々接続している。回路部４１のフィル
タは、基準発振周波数成分を抜き取るフィルタ特性をも
ち、回路部４２のフィルタは、高域発振周波数成分を抜
き取るフィルタ特性と、測定ウェイトフィルタ特性（Ｊ
ＩＳ−Ａ，ＣＣＩＲ−ＡＲＭ，ＤＩＮ−ＡＵＤＩＯ，Ｉ
ＨＦ−Ｔ２００等）を持ち、それぞれを切り換えられる
構成となっている。そして回路部４３のフィルタは、低
発振周波数成分を抜き取るフィルタ特性をもっている。
また、回路部４４は、ひずみ率測定用の回路であって、
そのフィルタは、ひずみ率測定のためのフィルタ特性を
もっている。更に、システムＢは、ＤＣ入力に関係した
計測のため、スイッチ５２の出力端に入力が接続したデ
ジタル・マルチメータ（ＤＭＭ）ユニット４５を備え、
このユニットの入力制御部はスイッチ５２の制御入力に
接続している。また、周波数に関係した計測を行うた
め、スイッチ５３の出力端に入力が接続したカウンタ用
プリスケーラ４６を備えており、これの入力制御部は、
スイッチ５３の制御入力に接続している。またプリスケ
ーラ４６の出力はカウンタ４７の入力に接続している。
計器部４のその他の要素は、後述のＣＰＵ９０等で実現
している。

【００２６】システムＢは更に、処理／判定／表示部６
の一部の要素として、スイッチ４８の出力端に入力が接
続したＡ／Ｄ変換器６０を含み、これは、受けた各入力
をデジタル化して出力する。また、表示装置として、シ
ステムＢに外部モニタ（ＣＲＴ）６２を接続することが
できるようになっている。また、図１の指定部７及び入
力部８に対応する要素として、キーボード７０を備えて
おり、このキーボードは、図示しないが、テンキー、モ
ードページ（ＭＥＮＵ，ＭＥＡＳＵＲＥ，ＥＤＩＴ，Ｔ
ＩＭＥＲのモード）を選択するためのＰＡＧＥキー、Ｅ
ＮＴＲＹキー、ＦＵＮＣＴＩＯＮキー群、ジョグダイア
ル、その他のキーがある。処理／判定／表示部６のその
他の要素については、後述のＣＰＵ９０等で実現してい
る。

【００２７】また、システムＢは、図１に示す測定／自
己校正制御部９に対応する要素、並びに、計器部４の残
りの要素、処理／判定／表示部６の残りの要素に相当す
るものとして、ＣＰＵ９０、ＣＰＵバス９１−１，内部
制御バス９１−２、プログラム及びデータを記憶するた
めのＲＯＭ／ＲＡＭ９２、各種インターフェース９３−
１〜９３−６、各種制御部９４−１〜９４−９、グラフ
ィック・ディスプレイ・コントローラ９５を備えてい
る。詳しくは、ＣＰＵ９０は、ＣＰＵバス９１−１を介
して、ＲＯＭ／ＲＡＭ９２に、また更にコントローラ９
５を介して外部モニタ６２に、更にキーボード・インタ
ーフェース（Ｉ／Ｆ）９３−１を介してキーボード７０
に、メモリカードＩ／Ｆ９３−２を介して測定／自己校
正条件を記憶するためのメモリカードＭＣに接続してい
る。ＣＰＵ９０はまた、バス９１−１並びにＡ／ＤＩ
／Ｆ９３−３を介しＡ／Ｄ変換器６０のデジタル出力を
受けるように接続している。

【００２８】また、ＣＰＵ９０は、バス９１−１、制御
Ｉ／Ｆ９３−４、及び内部制御バス９１−２を介して各
種制御部９４−１〜９４−８に接続している。これら制
御部には、発振部３０，３１，３２の各制御入力に発振
周波数を制御するための信号を夫々出力する周波数制御
９４−１と、スイッチ３４，３５，３６を切換制御し混
合部３７に入力する発振出力の組合せを制御する混合制
御９４−２と、試験信号として出力する信号のレベルを
制御するためＡＴＴ３８の減衰量を制御する出力レベル
制御９４−３とがある。また、出力切換制御９４−４と
入力切換制御９４−５とは、測定モード時にはスイッチ
５０及び５１をＭ位置に切り換え、一方自己校正モード
時にはＣ位置に切り換えるようにリレーを制御する信号
を発生する。入力レンジ制御９４−６は、各回路部４１
〜４４に共通のＡＴＴ４０と、回路部４１〜４２に固有
のＡＴＴに対し、減衰量を制御する信号を夫々送る。フ
ィルタ制御９４−７は、回路部４２のフィルタの測定ウ
ェイトフィルタの切換を制御する信号を送る。また、ひ
ずみ率レンジ制御９４−８は、回路部４４のＡＴＴの減
衰量を制御する信号を発生する。Ａ／Ｄ入力切換制御９
４−９は、スイッチ４８の制御入力に対し切換制御信号
を発生する。また、ＣＰＵは、更に内部制御バス９１−
２を介してＤＭＭユニット４５の入力制御部とプリスケ
ーラ４６の入力制御部にも接続していて、これら制御部
は、測定モード時には各スイッチ５２，５３をＭ位置に
そして自己校正モード時にはＣ位置に切り換えるように
制御する。

【００２９】更に、システムＢには、ＲＳ−２３２Ｃイ
ンターフェース９３−５を介して外部のパーソナル・コ
ンピュータ１００に、またＧＰＩＢインターフェース９
３−６を介して外部のＧＰＩＢ機器（例えば、追加の試
験信号源、計器等）に接続できるようになっている。ま
た、システムＢには、リモコンを接続するためのリモー
トユニット１０２と、被測定物ＭＤ’に装着することの
ある治具を制御するためのＩ／Ｏユニット１０３を備え
ている。

【００３０】従って、このシステムＢには、以下の測定
手段からなる測定系を装備している。

【００３１】１）２チャンネルＡＣ電圧計２）３周波混合周波数特性測定計３）２チャンネルひずみ率計４）測定ウェイトフィルタ５）直流電圧計６）周波数カウンタ７）基準周波数発振器８）ＬＯＷ周波数発振器９）ＨＩＧＨ周波数発振器 10）ＤＣ電圧源（Ａ／Ｄ変換器）。

【００３２】また、その測定項目あるいはパラメータ
と、各測定項目におけるＩＴＥＭ名称とその測定内容及
びその説明は、以下の通りである。

【００３３】１）ＡＣレベル測定ＭＶ：ミリバル（基準レベル），（入力レベルを測定。
信号源は、高域発振部３１を使用。）ＭＶＦ：広帯域ミリバル（入力レベルを測定。信号源
は、高域発振部３１を使用。）２）ＤＣ電圧測定ＤＣ：ＤＣ電圧（直流電圧を測定）３）３波混合周波数特性測定ＲＥＦ：基準レベル（混合波による周波数特性測定の基
準周波数レベルを測定。基準発振部３０を使用）ＨＩ：高域レベル（ＲＥＦ×３〜２０ＫＨｚ） (混合波による周波数特性測定の高域周波数レベルを測
定。高域発振部３１を使用。尚、基準周波数のレベルを０
ｄＢとして相対値測定。) ＬＯＷ：低域レベル（５０Ｈｚ〜ＲＥＦ／３） (混合波による周波数特性測定の低域周波数レベルを測
定。低域発振部３２を使用。尚、基準周波数のレベルを０
ｄＢとして相対値測定。) ＳＨＩ：中域レベル（２ＫＨｚ〜１５ＫＨｚ） (混合波による周波数特性測定の中域周波数レベルを測
定。低域発振部３２を使用。尚、基準周波数のレベルを０
ｄＢとして相対値測定。) ４）Ｓ／Ｎ測定ＭＶＳ：Ｓ／Ｎ比（入力レベルを測定し、ミリバル
（ＭＶ）項目で測定したレベルを基準として相対レベル
を求める。）５）ひずみ率測定ＴＨＤ：ひずみ率（０.３％〜１２％フルスケール，６
レンジ）（ひずみ率判定基準値設定に応じ、０.３〜１２％のレ
ンジを自動的に選択し、ひずみ率を測定する。測定周波
数は４００Ｈｚ又は１ＫＨｚを選択。）６）周波数測定ＳＰＥＤ：テープスピード，カウンタ（３ＫＨｚ又は１
９ＫＨｚを中心周波数とした、入力周波数を高速カウン
タで測定。）７）チャンネルバランス測定ＢＡＬ：チャンネルバランス、（ＣＨ１（Ｌ）とＣＨ２
（Ｒ）のレベル差を測定。）８）チャンネルセパレーション測定ＭＶＣＬ：チャンネルセパレーションＲ→Ｌ，（ＣＨ２
（Ｒ）からＣＨ１（Ｌ）への漏れを測定。）ＭＶＣＲ：チャンネルセパレーションＬ→Ｒ（ＣＨ１
（Ｌ）からＣＨ２（Ｒ）への漏れを測定。）９）ワウ・フラッタ測定ＷＯＷ：ワウ・フラッタ（ワウ・フラッタ・メータを接
続して併用し、モニタＣＲＴ上にワウ・フラッタを表
示。） 10）設定終了ＥＮＤ。

【００３４】以上に述べたシステムＢにおいて、測定モ
ード時においては、スイッチ５０，５１，５２，５３を
夫々のＭ位置に切り換え、そして自己校正モード時には
それらスイッチをＣ（ＣＡＬ）位置に切り換える。各モ
ードにおいて、即ち３４，３５，３６，４８を切換制御
することにより、上記測定項目の箇所で説明した測定を
行えるようにする。

【００３５】次に、本システムＢの動作について、図３
〜図３３のフローチャート及び画面図を参照して説明す
る。尚、本システムＢは、上記からも分かるように、測
定モードと自己校正モードを有しており、そして自己校
正モードにおいては、各測定機能の測定誤差の検査と、
この測定誤差に基づくその測定機能部分の特性の補正
と、が含まれる。

【００３６】まず初めに、図３は、ＣＰＵ９０により実
行されるメインルーチンを示している。このフローの最
初のステップにおいて、ファンクションキー又はページ
キーによるキー入力を待ち、そしてそのキー入力が［Ｍ
ＥＮＵ］キーの場合（ステップ９０１）、ステップ９０
２で、図４に示すＭＥＮＵ画面を表示して最初に戻る。
図４に示す状態で、測定を示す［ＭＥＡＳＵＲＥ］キー
のキー入力があると、ステップ９０３からステップ９０
４に入って測定ＭＥＮＵルーチン（図７）に入る。この
サブルーチンに入ると、必要に応じて、図９の測定メイ
ンルーチン、図１１の測定サブルーチン、図１３の測定
ルーチン、図２１の自己校正（ＣＡＬ）メインルーチ
ン、図２３の検査サブルーチン、図２４の信号源制御ル
ーチン、図２６の検査ルーチンに示すフローにも入る。
図７の測定ＭＥＮＵルーチンが終了すると、図４のメイ
ンルーチンの初めに戻る。また、キー入力が編集を示す
［ＥＤＩＴ］キーの場合、ステップ９０５からステップ
９０６に入ってＥＤＩＴＭＥＮＵサブルーチンに入っ
て、図５，図６に示すような設定／編集を行い、そして
これが終了すると初めに戻る。更に、キー入力がタイマ
設定を示す［ＴＩＭＥＲ］キーの場合、ステップ９０７
からステップ９０８に入って、本体内蔵の時計をセット
するタイマ設定サブルーチンに入り、そしてこれが終了
すると初めに戻る。

【００３７】初めに、図５，図６を参照してＥＤＩＴ
ＭＥＮＵサブルーチンにおける設定／編集について説明
する。後述の図８の測定ＭＥＮＵ画面にも示すように、
本システムＢでは、自動測定として、８つの異なったモ
デル１〜８、即ち８つの異なったタイプの被測定物につ
いて設定することができ、そして各モデルに対し、最大
２０の測定又は自己校正のモデルステップ（単にステッ
プとも呼ぶ）を設定することができる。尚、各測定／自
己校正のモデルステップは、６本のメータをＣＲＴに同
時表示する１画面に対応している。１例として、図５及
び図６は、モデル１（型番等の名称が“111111111”）
の編集画面を示しており、このモデル１はモデルステッ
プ１〜１５（モデルステップ６〜１０は図示省略）から
成っている。図から分かるように、各モデルステップに
おいては、その測定ＩＴＥＭ（上記の測定項目参照）、
信号源の周波数／出力レベル、終端抵抗オン−オフ／出
力チャンネル（３桁の数字の最初の数字が１の時終端抵
抗ＯＮ；２番目の数字が１の時ＣＨ１のみ出力、２の時
ＣＨ２のみ出力、３の時ＣＨ１／ＣＨ２共に出力；３番
目の数字は、発振器出力端子選択）、入力チャンネル選
択（最初のＦはＣＨ１入力選択；２番目のＦはＣＨ２入
力選択）、メータ表示の中心値、内部フィルタの選択
（００：オフ；０Ａ：ＪＩＳ−Ａフィルタ）、測定値の
判定基準となる許容範囲の上限値及び下限値、並びに、
その他の設定（測定開始前のＷＡＩＴ時間、ＮＧの時に
停止するＮＧＳＴＯＰモード選択、自動モデルステッ
プ送り時間）を行うことができる。図６に示すモデルス
テップ１５は、設定終了（ＥＮＤ）ステップである。

【００３８】次に、図７を参照して、図３のステップ９
０４から入る測定ＭＥＮＵルーチンについて説明する。
最初のステップ９１０で、図８に示す測定ＭＥＮＵ画面
を表示する。図示画面例では、８つのモデルが設定され
ている。次に、ステップ９１１で、モデル番号のキー入
力を待ち、そしてテンキー入力の場合にはステップ９１
２でステップ９１６に入り、そしてジョグダイアルによ
るモデル番号入力（図８には矢印でモデル選択マークを
示す）の場合には、ステップ９１４と９１５を経てステ
ップ９１３で［ＥＮＴＥＲ］キー（ファンクションキー
７）を押された時にステップ９１６に進む。ステップ９
１６では、入力されたモデル番号を設定し、そして続く
ステップ９１７で、その番号のモデル測定条件データを
メモリカードＭＣ（図２参照）から読み出す。この後、
ステップ９１８で図９の測定メインルーチンに入り、そ
してこのルーチンの終了時に、測定ＭＥＮＵルーチンも
終了して図３のメインルーチンに戻る。

【００３９】次に、図９を参照して、測定メインルーチ
ンについて説明する。最初のステップ９２０で、測定画
面を表示する。測定の初期においては、図１０に示す画
面である。図１０からも分かるように、１モデルステッ
プは、ＣＨ−ＬとＣＨ−Ｒ各々３本づつの計６本のメー
タ表示部分６２０（メータ番号ＭＮ＝１〜６）を含んで
いる。次にステップ９２１で、キー入力を待ち、［ＣＡ
Ｌ］キー入力の場合ステップ９２２からステップ９２３
に進み、ここで図２１の自己校正（ＣＡＬ）メインルー
チンを実行し、その後本ルーチンの最初に戻る。一方、
［ＳＴＡＲＴ］キー入力の場合ステップ９２４からステ
ップ９２５に進んで、図１１の測定サブルーチンに入
り、そしてこの後本ルーチンの最初に戻る。また、［Ｍ
ＥＮＵ］キー入力の場合、ステップ９２６を介して終了
し、従って図７のルーチンを終了する。

【００４０】まず初めに、図１１の測定サブルーチンに
ついて説明する。最初のステップ９３０で、モデルステ
ップ番号を１にセットする。次に、ステップ９３１〜９
３５で、メモリカードＭＣから読み出したモデル測定条
件データに従った制御を行う。即ちステップ９３１で、
治具等のＩ／Ｏ制御出力及びＧＰＩＢ機器制御のための
出力の発生を含む外部制御を行う。ステップ９３２で
は、各測定項目に応じて内部接続の切換、即ちスイッチ
５０〜５３の切換を行う。ステップ９３３では、測定系
のレンジ、フィルタ特性の選択等の制御、並びにスイッ
チ４８の切換を行う。ステップ９３４では、発振部の周
波数、出力レベル、出力チャンネル、スイッチ３４〜３
６の切換、等の制御を行う。モデルステップ１（設定例
ではＭＶ（ＡＣレベル測定））の場合、スイッチ３５の
みをＯＮ、スイッチ５０及び５１をＭ位置、スイッチ４
８をＨＩ位置にする。

【００４１】次に、ステップ９３５では、測定項目に応
じた画面表示を行う。モデルステップ１では、ミリバル
の測定項目である図１２の画面となる。図５の編集画面
からも分かるように、発振器は高域発振部３１で発振器
周波数は１ＫＨｚ、出力レベルは−５.０ｄＢ、出力及
び入力のチャンネルはＬとＲ双方、メータの中心値は−
５.０ｄＢ、許容範囲は−２〜２ｄＢである。図１２で
は、許容範囲は黒いバー６２２、６２３で示し、そして
測定値を示す指線は、横線６２４、６２５で示してい
る。画面の右上には、このモデルステップ１での測定値
の判定（後述）の結果として、ＧＯ（良）とＮＧ（不
良）を示す領域６２６がある。尚、このモデルステップ
１では、メータ１とメータ４のみ使用しているが、前述
のように、１モデルステップで６本のメータを表示させ
ることができる。次のステップ９３６においては、測定
開始の前にＷＡＩＴ時間（０〜９.９秒の範囲で設定可
能）を置き、信号の安定化時間を設ける。続くステップ
９３７では、図１３の測定ルーチンに入り、そしてこれ
が終了すると、ステップ９３８で、測定続行か否かを測
定終了フラッグ（後述）によって判定し、フラッグがセ
ットされていない場合には、ステップ９３９でモデルス
テップ番号を１増分し、そしてステップ９４０でその結
果のモデルステップ番号のステップが設定終了かどうか
判定する。終了でない場合、ステップ９３１に戻って、
次のモデルステップについて上記プロセスを繰り返す。
一方ステップ９３８でＮＯの場合、又はステップ９４０
でＹＥＳの場合（本例ではモデルステップ１５の場
合）、本ルーチンを終了する。

【００４２】次に、図１３を参照して、上記の測定ルー
チンについて説明する。最初のステップ９５０でキー入
力を待ち、そして手動ＳＴＥＰモードにおいてモデルス
テップ番号を手動で１増分する［ＩＮＣ］キーが押され
ていない場合にはステップ９５１からステップ９５２に
進み、そしてＡＵＴＯＳＴＥＰモード（自動モデルス
テップ送り）が選択されている場合においてその自動モ
デルステップ送り時間（測定モード時には０〜９.９
秒）に達したかどうか判定する。ここでＮＯの場合に
は、ステップ９５３で測定を強制的に終了させたい場合
に使用する［ＳＴＡＲＴ］キー（ここでは終了キーとし
て作用）が操作されたかどうか判定し、ＮＯの場合に
は、一連の測定ステップ９５４〜９６３に進む。まずそ
の最初のステップ９５４で、メータ番号ＭＮを１にセッ
トし、そしてステップ９５５で、測定データを獲得す
る。モデルステップ１の場合、測定データは、Ａ／Ｄ変
換器６０の出力から得る。続くステップ９５６で、補正
モードがＯＮにされているかどうか判定し、ＹＥＳの場
合にはステップ９５７で、その測定データを、誤差デー
タ（後述の自己校正モードにおいて得る）で補正して補
償した測定データを得る。この後あるいはステップ９５
６でＮＯの場合（本例では補正モード＝ＯＦＦ）、ステ
ップ９５８で測定データを保存し、そしてステップ９５
９で、この測定データの値をユーザが任意に設定できる
許容範囲（本モデルステップでは−２〜２ｄＢ）と比較
する。許容範囲にあればＧＯ、なければＮＧとなる。こ
の比較結果は、ステップ９６０で保存し、そしてステッ
プ９６１で、図１２に示したように測定データを数値
（本モデルステップでは０.０ｄＢ）と指線６２４で表
示し、更にメータ１のみに関する判定結果をメータの上
の枠内に表示する（但し、ＮＧの時のみ下向きの三角を
表示）。次に判断ステップ９６２でメータ番号が６（最
後のメータ番号）に等しいかどうか調べ、ＮＯの場合に
はステップ９６３でメータ番号を１増分し、そして更に
上記のステップ９５５〜９６２を繰り返す。メータ番号
２，３の使用が選択されていないため、これらに関して
はステップ９５５〜９６１を素通りする。メータ４は選
択されているため、ステップ９５５〜９６１で実質的な
処理が行われ、ステップ９６１で測定データと判定結果
が表示される。後のメータ５，６についてはメータ２，
３と同様に素通りし、そしてステップ９６２でＹＥＳと
なってステップ９６２’に進み、ここでメータ１からメ
ータ６までの全判定結果を総合したモデルステップ総合
判定結果を右上の領域６２６に表示する。この後、ステ
ップ９５０に戻る。これでモデルステップ１に関する測
定が終わったことになる。

【００４３】次に、手動ＳＴＥＰモードで次のモデルス
テップに進める［ＩＮＣ］キー入力がある場合にはステ
ップ９５１からそしてＡＵＴＯＳＴＥＰモードでモデ
ルステップ１に関する自動ステップ送り時間が満了した
場合にはステップ９５２からステップ９６４，９６５に
進む。ここで、モデルステップ総合判定結果がＮＧ（例
えば図１７のモデルステップ８の場合）でかつＮＧＳ
ＴＯＰモードがセットされている場合のみ、ステップ９
５０に戻り、そしてステップ９５３で終了を示す［ＳＴ
ＡＲＴ］キーの押し下げの判定が行われるのを待つ。こ
の判定でＹＥＳとなった場合には、ステップ９６７で測
定終了フラッグをセット（ＯＮ）してこのルーチンを出
る。この場合、図１１のステップ９３８では、ＮＯとな
り、これ以上の測定は中止する。尚、必要な場合には、
ユーザが指示した場合にＮＧ判定の出たモデルステップ
より後のモデルステップの測定を続けるように、プログ
ラムを変更することもできる。一方、ステップ９６４で
ＮＯの場合、又はステップ９６５でＮＯの場合（ＮＧ
ＳＴＯＰモードがＯＦＦのとき）、ステップ９６６で現
在のモデルステップ総合判定結果をモデル総合判定結果
に加えた後このルーチンを出て、図１１のステップ９３
８に進む。この場合、ステップ９３８ではＹＥＳとな
り、そしてモデルステップ２〜１４の各々の場合にはス
テップ９３９，９４０を経てステップ９３１に戻り、そ
して再び図１１のステップ９３１〜９３７、図１３の測
定ルーチンを実行する。モデルステップ１５の場合、ス
テップ９４０からステップ９４１に進み、ここでモデル
総合判定結果を表示する。即ち、全てのモデルステップ
でＧＯ判定があった場合には、図２０に示す総合判定Ｇ
Ｏの画面表示を行い、そして１つのステップでもＮＧ判
定があった場合には、総合判定としてＮＧを表示する。
この後、図１１のルーチンを終了し、この結果、図９の
測定メインルーチンの最初に戻る。

【００４４】図１４〜図１９は、図１２と同様の、モデ
ルステップ３（ＭＶＣＲ），５（ＲＥＦ，ＨＩ，ＬＯ
Ｗ），７（ＭＶ，ＴＨＤ），８（ＲＥＦ，ＨＩ，ＳＰＥ
Ｄ，ＷＯＷ），１０（ＭＶＳ），１１（ＤＣ）の画面
例である。図１４は、チャンネルセパレーション測定の
ものであって、メータ４にＣＨ−ＬからＣＨ−Ｒへの漏
れの測定値が表示されている。図１５は、６つのメータ
を全部使ったときの画面例であり、各チャンネル同じ３
つの項目の測定結果が示されている。図１６は、各チャ
ンネルについてミリバルとひずみ率を表示している。図
１７は、各チャンネルについてＲＥＦとＨＩの測定項
目、そしてＳＰＥＤ（これはカウンタ４７を使用）とＷ
ＯＷの２つの項目についてのメータ表示がある。また、
これでは上記のようにＮＧの表示がされている。図１８
は、Ｓ／Ｎ比の表示例である。図１９は、ＤＭＭユニッ
ト４５を使った表示例である。

【００４５】次に、図２１を参照して、自己校正モー
ド、即ち図９の測定メインルーチンにおいて［ＣＡＬ］
キーが押されステップ９２３に進んだ場合について説明
する。まず最初のステップで、図２２の測定誤差検査画
面を表示する。この画面では右上に自己校正を示す“Ｃ
ＡＬ”を表示しており、また右側には、以下で使用する
ファンクション・キー表示が示されている。次に、補正
モードに関して［ＯＮ］、［ＯＦＦ］、［ＣＡＮＣＥ
Ｌ］のキーが押されたかどうかをステップ９７１，９７
３，９７６で調べる。［ＯＮ］キーが押された時にはス
テップ９７２で補正モードをＯＮにし、［ＯＦＦ］キー
が押された場合にはステップ９７４でそのモードをＯＦ
Ｆにし、そして双方共にステップ９７５で補正モードの
ＯＮ／ＯＦＦ表示を行い、そして［ＣＡＮＣＥＬ］キー
が押された場合にはステップ９７７で誤差データをクリ
アし、そしてステップ９７１に戻る。ステップ９７１，
９７３，９７６のいずれでもＮＯの場合にはステップ９
７８に進み、モデルステップ毎に停止してチェックを行
いたい場合［ＣＨＥＣＫＳＴＥＰ］キーを押すとステ
ップ９７８からステップ９７９，９８０に進む。ここ
で、手動ＳＴＥＰモードをセットして、ＡＵＴＯＳＴ
ＥＰモード時に使用する自動モデルステップ送り時間を
全モデルステップにおいてクリアする。一方、全モデル
ステップについて自動進行でチェックしたい場合に［Ｃ
ＨＥＣＫＡＵＴＯ］キーを押すと、ステップ９８１か
らステップ９８２，９８３に進む。この時、ＡＵＴＯ
ＳＴＥＰモードをセットして、自動ステップ送り時間
（通常１秒）を全モデルステップに設定する。いずれの
場合も、ステップ９８６で、全モデルステップの各測定
項目の測定用判定基準値を測定誤差検査の判定基準値に
書換える。続くステップ９８７で、各モデルステップの
測定用のＷＡＩＴ時間（例えば１秒）を、測定誤差検査
用に短縮する（例えば、１００ミリ秒）。これは、被測
定物からの信号の安定化時間を設ける必要がないからで
ある。また、ＮＧＳＴＯＰモードを全モデルステップ
に設定する。これは、ＮＧがたった１つの測定項目にお
いて出ただけでも、システムＢの検査、調整、修理等が
必要になるからである。更に、このステップにおいて
は、測定誤差検査に必要のない処理、例えばＩ／Ｏ制御
の項目等を削除する。ステップ９８０，９８３，９８
６，９８７における処理は、図７のステップ９１７でメ
モリカードから読み出したモデル測定条件データに対し
行うものであって、その結果としてモデル自己校正条件
データを生成する。この後、ステップ９８９で図２３の
検査サブルーチンに入り、そしてこれが終了すると自己
校正メインルーチンのステップ９７１に戻る。この自己
校正モードを終了したい場合に［ＱＵＩＴ］キーを押す
と、ステップ９８４からステップ９８５に進み、ここ
で、現在のモデル番号のモデル測定条件データをメモリ
カードＭＣから読み出すことにより、自己校正条件デー
タの代わりに元の測定条件データを設定する。これによ
り、図２１のルーチンを出、図９の測定メインルーチン
に戻る。

【００４６】次に、図２３を参照して検査サブルーチン
について説明する。最初のステップ１０００で、モデル
ステップ番号を１にセットし、そして続くステップ１０
０１〜１００３で、該当ステップに関する自己校正条件
データに従って処理を行う。即ち、ステップ１００１
で、自己校正用に信号源の内部接続を行う、即ち、スイ
ッチ５０，５１，５２，５３をＣ位置に切り換え、また
当該ステップ内の各測定項目に応じて、スイッチ３４，
３５，３６，４８の切換制御を行い、ステップ１００２
で、測定系のレンジ、フィルタ特性の選択等の制御を行
い、そしてステップ１００３で、図２４の信号源制御ル
ーチンを実行する。この信号源制御ルーチンでは、後述
のように、測定項目に応じて、測定するレベルや周波数
と等価のレベルや周波数の試験信号を発生するように信
号源を制御する。次にステップ１００４で、該当モデル
ステップの測定項目による検査画面を表示する。

【００４７】図２５は、その検査画面例としてモデルス
テップ１の画面を示す。図示のように、測定器の検査規
格に対応する検査用許容範囲６４０，６４２は、図１２
の被測定物の製品規格に対応する測定用許容範囲６２
２，６２３と比べ狭くなっている。次に、ステップ１０
０５で、検査開始前のＷＡＩＴ時間（例えば、１００ミ
リ秒）を設け、そして次にステップ１００６で図２６の
検査ルーチン（後述）を実行する。その後、ステップ１
００７で、検査終了フラッグ（後述）がＯＮの場合にＹ
ＥＳとなってこのルーチンを終了する。一方、ステップ
１００７でＮＯの場合、ステップ１００８でモデルステ
ップ番号を１増分して次のモデルステップの検査の準備
をし、そしてこの次モデルステップが設定終了ステップ
でない場合（本例ではステップ２〜１４）、ステップ１
００９でＮＯとなってステップ１００１にループする。
一方、ステップ１００９でＹＥＳとなった場合（本例で
はモデルステップ１５）、ステップ１０１０でモデル総
合判定結果を表示して、このルーチンを終了する。

【００４８】図２７〜図３２は、図１４〜図１９の測定
画面に夫々対応するモデルステップ３，５，７，８，１
０，１１の検査画面例である。

【００４９】次に、図２４を参照して、上記の信号源制
御ルーチンについて説明する。まずステップ１０２０〜
１０２４で測定項目の種類を調べ、ＡＣレベル測定に関
する検査の場合、ステップ１０２０からステップ１０２
５に進む。図５及び図６の設定例では、１例として図２
５に示したモデルステップ１である。この場合、レベル
測定のメータ表示中心値（ＡＤＪ）を発振部出力レベル
として設定する。これは、メータ表示中心値が発振部出
力レベルと異なっている場合には、設定変更が不要とな
り、便利である。尚、モデルステップ１の場合には、そ
れら中心値と出力レベルは−５.０ｄＢと互いに等しく
なっている。次に、Ｓ／Ｎ比測定に関する検査の場合に
は、ステップ１０２１からステップ１０２６に進む。例
えば、図３１に示したモデルステップ１０の場合であ
る。この場合、ステップ１０２６では、直前のモデルス
テップ９（図示せず）でのＡＣレベル測定のメータ表示
中心値（例：−１０.０ｄＢ）に、モデルステップ１０
でのＳ／Ｎ比のメータ中心値（例：−１０ｄＢ）を加え
た値（例：−２０ｄＢ）を発振部出力レベルとして設定
する。また、チャンネルセパレーション測定に関する検
査の場合、ステップ１０２２からステップ１０２７へ進
む。例えば、図２７に示すモデルステップ３の場合であ
る。ステップ１０２７では、基準チャンネル側メータ表
示中心値（例：−１０ｄＢ）に、セパレーションメータ
表示中心値（例：−４０ｄＢ）を加えた値（例：−５０
ｄＢ）を発振部出力として設定する。

【００５０】また、周波数測定、テープスピードの測定
に関する検査の場合、例えば、図３０に示すモデルステ
ップ８の場合、ステップ１０２３からステップ１０２８
に進み、ここで、測定用の周波数を発振部の周波数とし
て設定する。最後に周波数特性測定に関する検査の場
合、例えば、図２８に示すモデルステップ５の場合、ス
テップ１０２４からステップ１０２９に進む。ここで、
基準レベル測定のメータ表示中心値（例：−１０ｄＢ）
を発振部出力レベルとして設定する。更に、発振部出力
は、３波混合とし、そしてその各周波数は、測定用の周
波数とする。以上で、この信号源制御ルーチンを終わ
る。尚、上記説明から分かるように、本システムでは、
メータ表示中心値をデータとしてもっているため、信号
源の制御を好都合に行うことができる。

【００５１】次に、図２６を参照して、図２３のステッ
プ１００６から入る検査ルーチンについて説明する。こ
の検査ルーチンは、図１３の測定ルーチンをほぼ同じ処
理を行う。異なっている点は、検査ルーチンでは、モデ
ルステップを手動で進めるＳＴＥＰモードと自動で進め
るＡＵＴＯＳＴＥＰモードを予め設定するため、手動
のＳＴＥＰモードで（ステップ１０４１でＹＥＳ）、か
つモデルステップ番号を１増分させる［ＣＨＥＣＫＳ
ＴＥＰ］キーが押されない場合に（ステップ１０４１で
ＮＯ）、ステップ１０４３に進む。ステップ１０４３で
は、ステップ９５３での［ＳＴＡＲＴ］キーではなく、
検査中止を示す［ＱＵＩＴ］キーについての判定を行
い、そしてステップ１０５７では検査終了フラッグをＯ
Ｎにする。更に、検査ルーチンでは、図１３のステップ
９５６，９５７の如きステップはなく、ステップ１０４
６で測定データの保存を行うと共に、ステップ１０４７
で、測定値と入力値又は目標値との差である誤差データ
の保存を行うことにより、図１３のステップ９５７での
誤差データを提供する。また、ステップ１０４９では、
測定誤差検査用の判定基準値を使用する。その他は、図
１３の測定ルーチンと同じであるため、説明を省略す
る。モデルステップ１についてこの検査ルーチンによ
り、図２５に示す画面が表示される。同じく、その他の
モデルステップ２〜１５についても同様に検査が行わ
れ、その結果、上記図２７〜３２の画面が表示されるこ
とになる。尚、図２９は、モデルステップ７であって、
判定結果がＮＧの例である。この場合には、ステップ９
８７でＮＧＳＴＯＰモードが全ステップに設定されて
いるため、モデルステップ８以降の検査にまでは進まな
い。尚、必要な場合には、ユーザが指示した場合にＮＧ
判定の出たモデルステップより後のモデルステップの検
査を続けるように、プログラムを変更することもでき
る。一方、モデルステップ１〜１４全てでＧＯ判定があ
った場合には、図２３のステップ１０１０で、図３３に
示す総合判定結果ＧＯの表示がされる。この後、検査サ
ブルーチンを出て、図２１のＣＡＬメインルーチンに戻
り、そして［ＱＵＩＴ］キーが押されたときにはステッ
プ９８４からステップ９８５を経て図９の測定メインル
ーチンの最初に戻る。

【００５２】以上に、本発明の１実施例であるオーディ
オ・メジャリング・システムＢについて詳細に記述した
が、本発明は、オーディオ系のその他の測定項目の測
定、あるいはオーディオ機器以外の機器の測定にも適用
することができる。

【００５３】

【発明の効果】本発明の多機能測定器によれば、外部測
定器の接続を実質上要しないため、多機能測定器の自己
校正が簡単、容易に行える。また、外部測定器との接続
不要に加え、内部接続を自動で行うため、検査時間を短
くすることができる。また、測定モード時と同じレベル
／周波数等で自己校正を行う場合には、測定モードでの
設定の１部を流用可能であるため、検査時間を更に短縮
することができる。更にまた、自己校正が簡単な操作で
行えるようになるため、熟練者を要せず、操作性を向上
させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による基本構成の多機能測定器を示すブ
ロック図。

【図２】図１の多機能測定器をより具体化したオーディ
オ・メジャリング・システムを示す回路ブロック図。

【図３】図２のＣＰＵ９０が実行するメインルーチンを
示すフローチャート。

【図４】図３のルーチンで表示されるＭＥＮＵ画面を示
す図。

【図５】図３のＥＤＩＴＭＥＮＵサブルーチンで設定
／編集されるモデル１のモデルステップ１〜１５の一部
分を示す画面。

【図６】図３のＥＤＩＴＭＥＮＵサブルーチンで設定
／編集されるモデル１のモデルステップ１〜１５の別の
一部分を示す画面。

【図７】図３の測定ＭＥＮＵルーチンを詳細に示すフロ
ーチャート。

【図８】図７のルーチンで表示される測定ＭＥＮＵ画面
を示す図。

【図９】図７のルーチンから入る測定メインルーチンを
示すフローチャート。

【図１０】図９のルーチンで表示される測定画面を示す
図。

【図１１】図９の測定メインルーチンから入る測定サブ
ルーチンを示すフローチャート。

【図１２】図１１，図１３のルーチンで表示される、モ
デルステップ１（ＭＶ）の画面の例を示す図。

【図１３】図１１のルーチンから入る測定ルーチンを示
すフローチャート。

【図１４】図１２と同様の、モデルステップ３（ＭＶＣ
Ｒ）の画面の例を示す図。

【図１５】図１２と同様の、モデルステップ５（ＲＥ
Ｆ，ＨＩ，ＬＯＷ）の画面の例を示す図。

【図１６】図１２と同様の、モデルステップ７（ＭＶ，
ＴＨＤ）の画面の例を示す図。

【図１７】図１２と同様の、モデルステップ８（ＲＥ
Ｆ，ＨＩ，ＳＰＥＤ，ＷＯＷ）の画面の例を示す図。

【図１８】図１２と同様の、モデルステップ１０（ＭＶ
Ｓ）の画面の例を示す図。

【図１９】図１２と同様の、モデルステップ１１（Ｄ
Ｃ）の画面の例を示す図。

【図２０】図１１のルーチンで表示される総合判定結果
表示画面の例を示す図。

【図２１】図９の測定メインルーチンから入る自己校正
（ＣＡＬ）メインルーチンを示すフローチャート。

【図２２】図２１のルーチンで表示される測定誤差検査
画面を示す図。

【図２３】図２１のルーチンから入る検査サブルーチン
を示すフローチャート。

【図２４】図２３のルーチンから入る信号源制御ルーチ
ンを示すフローチャート。

【図２５】図２３、図２６で表示される、モデルステッ
プ１の検査画面の例を示す図。

【図２６】図２３のルーチンから入る検査ルーチンを示
すフローチャート。

【図２７】図２３、図２６で表示される、モデルステッ
プ３の検査画面の例を示す図。

【図２８】図２３、図２６で表示される、モデルステッ
プ５の検査画面の例を示す図。

【図２９】図２３、図２６で表示される、モデルステッ
プ７の検査画面の例を示す図。

【図３０】図２３、図２６で表示される、モデルステッ
プ８の検査画面の例を示す図。

【図３１】図２３、図２６で表示される、モデルステッ
プ１０の検査画面の例を示す図。

【図３２】図２３、図２６で表示される、モデルステッ
プ１１の検査画面の例を示す図。

【図３３】図２３のルーチンで表示される総合判定結果
の表示画面の例を示す図。

【符号の説明】

ＭＤ，ＭＤ’：被測定物１，１０，１２，１４：入力端子２，２０：出力端子３：信号源部４：計器部５：接続部６：処理／判定／表示部７：動作モード指定部８：測定／自己校正条件入力部９：測定／自己校正制御部６２０：メータ表示部ＭＮ１〜ＭＮ６：メータ番号６２４，６２５：指線６２２，６２３：測定用許容範囲６４０，６４２：検査用許容範囲

─────────────────────────────────────────────────────

【手続補正書】

【提出日】平成６年１１月２５日

【手続補正１】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図１

【補正方法】変更

【補正内容】

【図１】

【手続補正２】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図２

【補正方法】変更

【補正内容】

【図２】

【手続補正３】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図３

【補正方法】変更

【補正内容】

【図３】

【手続補正４】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図５

【補正方法】変更

【補正内容】

【図５】

【手続補正５】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図７

【補正方法】変更

【補正内容】

【図７】

【手続補正６】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図９

【補正方法】変更

【補正内容】

【図９】

【手続補正７】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図１１

【補正方法】変更

【補正内容】

【図１１】

【手続補正８】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図１３

【補正方法】変更

【補正内容】

【図１３】

【手続補正９】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図２１

【補正方法】変更

【補正内容】

【図２１】

【手続補正１０】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図２３

【補正方法】変更

【補正内容】

【図２３】

【手続補正１１】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図２４

【補正方法】変更

【補正内容】

【図２４】

【手続補正１２】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図２６

【補正方法】変更

【補正内容】

【図２６】

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号庁内整理番号ＦＩ技術表示箇所Ｇ０１Ｒ 27/26 Ｚ 31/00 35/02 Ｃ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被測定物（MD;MD'）の複数のパラメータに
関する測定を行うための複数の測定機能を備えた、入力
端子（1;10,12,14）と出力端子（2;20）とを有する多機
能測定器（A;B）であって、イ）前記複数の測定機能に夫々対応する機能を備えた
複数の単機能の測定手段（3,4;30〜38,40〜48）であっ
て、該複数の単機能測定手段は、少なくとも１つの試験
信号源手段（SS1〜SSi;30〜33）を含み、前記複数の単
機能測定手段の各々は、入力と出力又は出力を有してい
る、前記の複数の単機能測定手段と、ロ）前記入力端子と、前記出力端子と、前記複数の単
機能測定手段の各々と、の間の接続を行う接続手段（5;
50〜53）と、ハ）前記多機能測定器の測定モード又は自己校正モー
ドを指定するモード指定信号を発生するモード指定手段
（7;70,903,922,924）と、ニ）前記モード指定信号に応答する制御手段（9;90,9
32,988,1001）であって、前記モード指定信号が前記測
定モードを指定している場合、前記接続手段を制御する
ことにより、前記複数のパラメータの内の選択された少
なくとも１つのパラメータの各々の測定のための、前記
複数の単機能測定手段と前記出力端子と前記入力端子と
の間の接続を行わせ、前記モード指定信号が前記自己校
正モードを指定している場合、前記接続手段を制御する
ことにより、前記選択された少なくとも１つのパラメー
タの各々の測定に関係する前記単機能測定手段の各々
を、該手段の自己校正に使用する前記単機能測定手段と
接続させる、前記の制御手段と、を含む多機能測定器。
【請求項２】請求項１記載の多機能測定器であって、前
記複数の単機能測定手段は、前記少なくとも１つの試験
信号源手段（SS1〜SSi;30〜33）と、入力と出力とを各
々有する複数の計器手段（M1〜Mj;41〜47）と、から成
ること、を特徴とする多機能測定器。
【請求項３】請求項２記載の多機能測定器であって、更
に、イ）前記複数の計器手段の前記出力に接続された手段
であって、前記複数の計器手段の各々からの出力信号に
対し処理を行って測定結果を表す第１の信号を発生する
処理手段（6;60）と、ロ）前記第１信号を受け、該結果を所定の判定基準と
比較して良否判定結果を表す第２の信号を発生する判定
手段（6;90,959,1049）と、ハ）前記第１信号又は前記第２信号を受けて、前記測
定結果又は前記良否判定結果を表示する表示手段（6;9
0,941,961,1010,1051,62）と、を含むこと、を特徴とす
る多機能測定器。
【請求項４】請求項３記載の多機能測定器であって、更
に、前記制御手段に接続されており、前記測定モードにおけ
る測定条件及び前記自己校正モードにおける検査条件を
入力する手段（8;70,90,906）であって、前記測定及び
検査の条件は、各前記パラメータについて、測定点及び
検査点、及び前記所定の判定基準である測定結果の第１
許容範囲（622,623）と検査結果の第２許容範囲（640,6
42）とを含む、前記の入力手段、を含むこと、を特徴と
する多機能測定器。
【請求項５】請求項４記載の多機能測定器であって、各前記パラメータについて、前記自己校正モードにおけ
る前記検査点は、前記測定モードにおける前記測定点と
同じであること、を特徴とする多機能測定器。
【請求項６】請求項４記載の多機能測定器であって、前記検査結果の第２許容範囲は、前記測定結果の第１許
容範囲よりも狭いこと、を特徴とする多機能測定器。
【請求項７】請求項４記載の多機能測定器であって、前記自己校正モードにおいては、前記検査結果が、前記
第２許容範囲内にある場合には、前記表示手段は、前記
パラメータの測定に関する前記単機能測定手段が良好
（GO）であることを示し、前記第２許容範囲内にない場
合には、前記表示手段は、前記パラメータの測定に関す
る前記単機能測定手段が良好でないこと（NG）を示すこ
と、を特徴とする多機能測定器。
【請求項８】請求項７記載の多機能測定器であって、前記入力手段は、前記検査結果により該当の単機能測定
手段の特性を補償することを指定するための補償指定手
段（90,972,974）を含み、前記制御手段は、更に、前記複数の多機能測定手段の各々の特性を補償する補償
手段（957）であって、前記検査結果が前記第２許容範
囲内にあってしかも測定誤差がある時、前記補償指定手
段が補償を指定している場合に、前記補償手段により前
記測定誤差を用いて該当の単機能測定手段の特性を補償
する、前記の補償手段、を含むこと、を特徴とする多機
能測定器。
【請求項９】請求項４記載の多機能測定器であって、前記制御手段は、更に、前記試験信号源手段に接続されており、前記パラメータ
の測定値点と同じ値の信号を発生するように制御する試
験信号源制御手段（1003）、を含むこと、を特徴とする
多機能測定器。
【請求項１０】請求項１から９のいずれかに記載の多機
能測定器であって、前記制御手段は、更に、前記選択された少なくとも１つのパラメータが２以上の
場合、該２以上のパラメータの各々についての自己校正
を順番に行うためのシーケンス手段（1000,1008,100
9）、を含むこと、を特徴とする多機能測定器。
【請求項１１】請求項１０記載の多機能測定器であっ
て、前記シーケンス手段は、更に各前記パラメータの測定及
び検査において、所定の待機時間を設定する待機時間設
定手段（936,1005）、を含むこと、を特徴とする多機能
測定器。
【請求項１２】請求項１１記載の多機能測定器であっ
て、前記待機時間設定手段は、前記所定の待機時間は、各前
記パラメータの測定においては第１の待機時間を、該パ
ラメータの検査においては第２の待機時間を設定するこ
と（987）、を特徴とする多機能測定器。
【請求項１３】請求項２から９のいずれかに記載の多機
能測定器であって、前記複数の計器手段は、互いに共通の回路（40〜44）を
備えていること、を特徴とする多機能測定器。
【請求項１４】被測定物（MD;MD'）の複数のパラメータ
に関する測定を行うための複数の測定機能を備えた、入
力端子（1;10,12,14）と出力端子（2;20）とを有する多
機能測定器（A;B）であって、イ）前記複数の測定機能に夫々対応する機能を備えた
複数の単機能の測定手段（3,4;30〜38,40〜48）であっ
て、該複数の単機能測定手段は、各々出力を有する少な
くとも１つの試験信号源手段（SS1〜SSi;30〜33）と、
入力と出力とを各々有する複数の計器手段（M1〜Mj;41
〜47）とを含む、前記の複数の単機能測定手段と、ロ）前記入力端子と、前記出力端子と、前記複数の単
機能測定手段の各々と、の間の接続を行う接続手段（5;
50〜53）と、ハ）前記多機能測定器の測定モード又は自己校正モー
ドを指定するモード指定信号を発生するモード指定手段
（7;70,903,922,924）と、ニ）前記測定モードにおける測定条件及び前記自己校
正モードにおける検査条件を入力する手段（8;70,90,90
6）であって、前記測定条件及び検査条件は、各前記パ
ラメータについて、測定点及び検査点、及び前記所定の
判定基準である測定結果の第１許容範囲（622,623）と
検査結果の第２許容範囲（640,642）とを含む、前記の
入力手段と、ホ）前記入力手段に接続しておりかつ前記モード指定
信号に応答する制御手段（9;90,932,988,1001）であっ
て、前記モード指定信号が前記測定モードを指定してい
る場合、前記接続手段を制御することにより、前記複数
のパラメータの内の選択された少なくとも１つのパラメ
ータの各々の測定のための、前記複数の単機能測定手段
と前記出力端子と前記入力端子との間の接続を行わせ、
前記モード指定信号が前記自己校正モードを指定してい
る場合、前記接続手段を制御することにより、前記選択
された少なくとも１つのパラメータの各々の測定に関係
する前記計測手段の各々を、該手段の自己校正に使用す
る前記少なくとも１つの試験信号源手段と接続させる、
前記の制御手段と、ヘ）前記複数の計器手段の前記出力に接続された手段
であって、前記複数の計器手段の各々からの出力信号に
対し処理を行って測定結果を表す第１の信号を発生する
処理手段（6;60）と、ト）前記第１信号を受け、該結果を所定の判定基準と
比較して良否判定結果を表す第２の信号を発生する判定
手段（6;90,959,1049）と、チ）前記第１信号又は前記第２信号を受ける前記測定
結果又は前記良否判定結果を表示する表示手段（6;90,9
41,961,1010,1051,62）であって、前記自己校正モード
においては、前記検査結果が、前記第２許容範囲内にあ
る場合には、前記パラメータの測定に関する前記計測手
段が良好であることを示し、前記第２許容範囲内にない
場合には、前記パラメータの測定に関する前記計測手段
が良好でないことを示す、前記の表示手段と、を含む多
機能測定器。
【請求項１５】請求項１４記載の多機能測定器であっ
て、各前記パラメータについて、前記自己校正モードにおけ
る前記検査点は、前記測定モードにおける前記測定点と
同じであること、を特徴とする多機能測定器。
【請求項１６】請求項１４又は１５に記載の多機能測定
器であって、前記入力手段は、更に、前記検査結果により該当の単機
能測定手段の特性を補償することを指定するための補償
指定手段（90,972,974）を含み、前記制御手段は、更に、前記複数の多機能測定手段の各々の特性を補償する補償
手段（957）であって、前記検査結果が前記第２許容範
囲内にあってしかも測定誤差がある時、前記補償指定手
段が補償を指定している場合に、前記補償手段により前
記測定誤差を用いて該当の単機能測定手段の特性を補償
する、前記の補償手段、を含むこと、を特徴とする多機
能測定器。
【請求項１７】請求項１４から１６のいずれかに記載の
多機能測定器であって、前記制御手段は、更に、前記試験信号源手段に接続されており、前記パラメータ
の測定値点と同じ値の信号を発生するように制御する試
験信号源制御手段（1003）、を含むこと、を特徴とする
多機能測定器。
【請求項１８】請求項１４から１７のいずれかに記載の
多機能測定器であって、前記制御手段は、更に、前記選択された少なくとも１つのパラメータが２以上の
場合、該２以上のパラメータの各々についての自己校正
を順番に行うためのシーケンス手段（1000,1008,100
9）、を含むこと、を特徴とする多機能測定器。
【請求項１９】請求項１８記載の多機能測定器であっ
て、前記シーケンス手段は、更に各前記パラメータの測定及
び検査において、所定の待機時間を設定する待機時間設
定手段（936,987,1005）であって、前記所定の待機時間
は、各前記パラメータの測定においては第１の待機時間
を、該パラメータの検査においては第２の待機時間を設
定する、前記の待機時間設定手段、を含むこと、を特徴
とする多機能測定器。
【請求項２０】被測定物（MD;MD'）の複数のパラメータ
に関する測定を行うための複数の測定機能を備えた多機
能測定器（A;B）であって、少なくとも１つの試験信号
源手段（SS1〜SSi;30〜33）と複数の単機能の計器手段
（M1〜Mj;41〜47）を含む、多機能測定器において、前
記複数の計器手段を校正する校正方法が、イ）前記複数の計器手段の内の任意の１つを選択する
ステップ（1000）と、ロ）該選択した計器手段を校正するために使用する前
記少なくとも１つの試験信号源手段の内の１つを選択す
るステップ（1001）と、ハ）該選択した試験信号源手段の出力を前記選択した
計器手段の入力に接続して、該計器手段の出力から信号
を得るステップ（988,1045）と、ニ）該計器手段出力からの信号の値を、良否判定のた
めの、基準値を含む所定の許容範囲と比較するステップ
（1049）と、ホ）該比較の結果に従って、良否判定結果を表示する
ステップ（1051）と、を含む校正方法。
【請求項２１】請求項２０記載の校正方法であって、更
に、前記計器手段出力信号値が前記所定の許容範囲内にあっ
てしかも前記基準値との誤差がある時、該誤差を用いて
前記選択した計器手段の特性を補償するステップ（95
7）、を含むこと、を特徴とする校正方法。