JPH08136634A - 多機能測定器 - Google Patents
多機能測定器Info
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- JPH08136634A JPH08136634A JP6271469A JP27146994A JPH08136634A JP H08136634 A JPH08136634 A JP H08136634A JP 6271469 A JP6271469 A JP 6271469A JP 27146994 A JP27146994 A JP 27146994A JP H08136634 A JPH08136634 A JP H08136634A
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Abstract
各々の信号源の出力と、計器部4の各々の計器の入力と
に接続部5を接続する。自己校正モード時には、接続部
5を測定/自己校正制御部9により制御して、信号源の
出力を計器の入力に内部接続して、信号源若しくは計器
の校正を行う。
Description
た多機能測定器に関するものであり、特に、ある製品に
関する各種の異なった測定項目あるいはパラメータにつ
いて測定するのに適した多機能測定器に関するものであ
る。
の測定機能と信号源を一体化した測定器が用いられてお
り、このような測定器を本明細書においては“多機能測
定器”と呼ぶことにする。多機能測定器は、主に、最近
の多機能/高性能化された電気製品の生産ラインにおけ
る自動化/省力化の1手段として開発されたものであっ
て、多くの測定機能を一体化して備えることにより、そ
の製品に関する実質上全ての測定/検査を行えるによう
になっている。更に、多機能測定器を使えば、多種類の
個別の測定器を生産ラインに用意する必要がなくなるた
め、生産ラインの省スペースにも役立っている。
出願人製造のModel 4850 2チャンネル・オーディオ・
アナライザがある。このアナライザは、VTRやカセッ
トデッキ等のオーディオ系の調整/検査のため、試験信
号源としての発振器や、電圧計、周波数カウンタ、良否
判定装置等の計器を一体化させて、レベル、チャンネル
バランス、S/N比、ひずみ率、周波数特性、テープス
ピード、ワウ・フラッタ、直流電圧等の種々の項目の測
定を行うことができる。多機能測定器のその他の例とし
ては、松下通信工業株式会社製造の型番VP−1612
Aの計測システムプロセッサ、等もある。
ンで生産する製品の信頼性を確保するためには、それら
測定器の性能確認を行うことは不可欠である。上記のよ
うな多機能測定器の性能確認をするには、通常、多機能
測定器が備える多数の測定機能の各々について、個別
に、しかもその各測定機能の全測定範囲について、外部
に別に用意した信号源、計器等の測定器を使って詳細に
検査して、各測定機能における測定誤差の検査あるいは
校正を行っている。
誤差検査あるいは校正では、各測定機能を個々にしかも
正確に検査できる反面、種々の問題もある。例えば、
1)外部に別の測定器が多数必要となること、2)校正
用の測定器の置き場所が必要となること、3)校正に時
間かかること、4)熟練者による操作が必要となるこ
と、である。
含む校正を簡便に行える多機能測定器及びその校正方法
を提供することである。本発明の別の目的は、外部の測
定器を必要とせずに校正を行える多機能測定器及びその
校正方法を提供することである。本発明の更に別の目的
は、校正時間を短縮できる多機能測定器及びその校正方
法を提供することである。本発明の更に別の目的は、校
正に熟練者を要しない多機能測定器及びその校正方法を
提供することである。
め、本発明では、多機能測定器に、測定モードに加えて
自己校正モードを設け、多機能測定器の内部接続により
多数の測定機能の各々の測定誤差検査を含む校正を可能
にする。
関する測定を行うための複数の測定機能を備えた多機能
測定器であって少なくとも1つの試験信号源手段と複数
の単機能の計器手段を含む多機能測定器において、本発
明による前記複数の計器手段を校正する校正方法は、
イ)前記複数の計器手段の内の任意の1つを選択するス
テップと、ロ)該選択した計器手段を校正するために使
用する前記少なくとも1つの試験信号源手段の内の1つ
を選択するステップと、ハ)該選択した試験信号源手段
の出力を前記選択した計器手段の入力に接続して、該計
器手段の出力から信号を得るステップと、ニ)該計器手
段出力からの信号の値を、良否判定のための、基準値を
含む所定の許容範囲と比較するステップと、ホ)該比較
の結果に従って、良否判定結果を表示するステップと、
を備える。本発明によれば、更に、前記計器手段出力信
号値が前記所定の許容範囲内にあってしかも前記基準値
との誤差がある時、該誤差を用いて前記選択した計器手
段の特性を補償するステップ、を含むようにできる。
ラメータに関する測定を行うための複数の測定機能を備
えた、入力端子と出力端子とを有する多機能測定器は、
イ)前記複数の測定機能に夫々対応する機能を備えた複
数の単機能の測定手段であって、該複数の単機能測定手
段は、少なくとも1つの試験信号源手段を含み、前記複
数の単機能測定手段の各々は、入力と出力又は出力を有
している、前記の複数の単機能測定手段と、ロ)前記入
力端子と、前記出力端子と、前記複数の単機能測定手段
の各々と、の間の接続を行う接続手段と、ハ)前記多機
能測定器の測定モード又は自己校正モードを指定するモ
ード指定信号を発生するモード指定手段と、ニ)前記モ
ード指定信号に応答する制御手段であって、前記モード
指定信号が前記測定モードを指定している場合、前記接
続手段を制御することにより、前記複数のパラメータの
内の選択された少なくとも1つのパラメータの各々の測
定のための、前記複数の単機能測定手段と前記出力端子
と前記入力端子との間の接続を行わせ、前記モード指定
信号が前記自己校正モードを指定している場合、前記接
続手段を制御することにより、前記選択された少なくと
も1つのパラメータの各々の測定に関係する前記単機能
測定手段の各々を、該手段の自己校正に使用する前記単
機能測定手段と接続させる、前記の制御手段と、を備え
る。
段は、前記少なくとも1つの試験信号源手段と、入力と
出力とを各々有する複数の計器手段と、から成るように
できる。更に、本発明の多機能測定器は、イ)前記複数
の計器手段の前記出力に接続された手段であって、前記
複数の計器手段の各々からの出力信号に対し処理を行っ
て測定結果を表す第1の信号を発生する処理手段と、
ロ)前記第1信号を受け、該結果を所定の判定基準と比
較して良否判定結果を表す第2の信号を発生する判定手
段と、ハ)前記第1信号又は前記第2信号を受けて、前
記測定結果又は前記良否判定結果を表示する表示手段
と、を含むようにできる。
手段に接続されており、前記測定モードにおける測定条
件及び前記自己校正モードにおける検査条件を入力する
手段であって、前記測定及び検査の条件は、各前記パラ
メータについて、測定点及び検査点、及び前記所定の判
定基準である測定結果の第1許容範囲と検査結果の第2
許容範囲とを含む、前記の入力手段、を含むようにでき
る。本発明によれば、各前記パラメータについて、前記
自己校正モードにおける前記検査点は、前記測定モード
における前記測定点と同じとすることができる。また、
前記検査結果の第2許容範囲は、前記測定結果の第1許
容範囲よりも狭くすることができる。
ドにおいては、前記検査結果が、前記第2許容範囲内に
ある場合には、前記表示手段は、前記パラメータの測定
に関する前記単機能測定手段が良好であることを示し、
前記第2許容範囲内にない場合には、前記表示手段は、
前記パラメータの測定に関する前記単機能測定手段が良
好でないことを示すようにできる。
前記検査結果により該当の単機能測定手段の特性を補償
することを指定するための補償指定手段を含み、前記制
御手段は、更に、前記複数の多機能測定手段の各々の特
性を補償する補償手段であって、前記検査結果が前記第
2許容範囲内にあってしかも測定誤差がある時、前記補
償指定手段が補償を指定している場合に、前記補償手段
により前記測定誤差を用いて該当の単機能測定手段の特
性を補償する、前記の補償手段、を含むようにできる。
前記試験信号源手段に接続されており、前記パラメータ
の測定値点と同じ値の信号を発生するように制御する試
験信号源制御手段、を含むことができる。また、前記制
御手段は、更に、前記選択された少なくとも1つのパラ
メータが2以上の場合、該2以上のパラメータの各々に
ついての自己校正を順番に行うためのシーケンス手段、
を含むことができる。
ス手段は、各前記パラメータの測定及び検査において、
所定の待機時間を設定する待機時間設定手段、を含むよ
うにできる。また、前記待機時間設定手段は、前記所定
の待機時間は、各前記パラメータの測定においては第1
の待機時間を、該パラメータの検査においては第2の待
機時間を設定するようにできる。
互いに共通の回路を備えるものとすることができる。
て詳細に説明する。
を備えた被測定物MDの測定、検査、調整等に使用する
多機能測定器Aを示している。この多機能測定器Aは、
被測定物MDの入力端子及び出力端子に接続するための
1組の入力端子1と1組の出力端子2、試験信号源SS
1〜SSi(正しi≧1)を含む信号源部3と、計器M
1〜Mj(但しj≧2)を含む計器部4と、接続部5
と、処理/判定/表示部6と、動作モード指定部7と、
測定/自己校正条件入力部8と、測定/自己校正制御部
9と、を備えている。
る測定機能を実現するのに必要な試験信号を発生する出
力と、そして必要な場合には、出力する試験信号の波
形、振幅、周波数、位相等の電気的パラメータに関する
制御信号を制御部9から受けるための制御入力(図では
簡略図示)と、を備えている。計器M1〜Mjの各々
は、対応する測定機能を実現するのに必要なものであっ
て、入力と、計測結果の信号を発生する出力と、そして
必要な場合には、動作周波数、動作レンジ等の測定動作
に関する制御信号を受けるための制御入力(図では簡略
図示)と、を有している。接続部5は、入力端子1に接
続した出力と、出力端子2に接続した入力と、信号源S
S1〜SSiの各出力に接続した入力と、計器M1〜M
jの各入力に接続した出力と、制御部9からの接続に関
する制御信号を受けるための制御入力とを有している。
この制御入力に受ける信号に応答して、接続部5は、こ
の接続部の入力/出力間を所要の形式に接続する。処理
/判定/表示部6は、計器M1〜Mjの各出力に接続し
た入力と、処理/判定/表示に関する制御信号を制御部
9から受けるための制御入力と、判定の結果を表す信号
を制御部9に送るための出力とを有している。この処理
/判定/表示部6は、各計器からの出力について数値化
その他の所要の処理を行い、その処理結果について良否
判定を行い、そして処理結果又は良否判定結果の表示を
行う。測定/自己校正制御部9は、上記の制御信号を発
生するための出力と、上記判定結果を受けるための入力
と、モード指定部7及び入力部8の各出力を受けるため
に入力を備えている。モード指定部7は、多機能測定器
Aの動作モード、即ち測定モードと自己校正モードのい
ずれかを指示する信号を出力に発生する。測定/自己校
正条件入力部8は、測定モードにおける測定条件と、自
己校正モードにおける校正条件を表す信号を出力に発生
する。測定あるいは自己校正の条件には、被測定物MD
の測定対象の各パラメータについて、測定あるいは検査
する値の点、並びに測定結果及び検査結果の各許容範囲
を含む。
は、以下の通りである。即ち、モード指定部7が測定モ
ードを指示している場合、入力部8からの測定条件に従
って信号源部3、計器部4、接続部5、処理/判定/表
示部6を制御して、所与のパラメータの測定のため、試
験信号を被測定物MDに印加することが必要な場合に
は、所要の試験信号源の出力を接続部5を介して出力端
子2に発生して被測定物MDに印加する。試験信号の印
加が必要な場合必要でない場合共に、被測定物MDの出
力は、入力端子1と接続部5を介して、上記パラメータ
の測定に該当する計器の入力に送る。この計器の出力を
受ける処理/判定/表示部6は、所要の処理を行って測
定結果を得ると共に、当該パラメータに関する測定結果
用の許容範囲を使って良否判定を行う。更に、その測定
結果と良否判定結果の一方又は双方を表示する。次に、
良否判定結果に応じてあるいはその結果に拘わらずに、
測定すべき他のパラメータがある場合には、以上のプロ
セスを繰り返す。
8からの自己校正条件に従い、信号源SS1〜SSi及
び計器M1〜Mjの指定された1つあるいはそれ以上の
ものについて校正を行う。信号源を校正する場合には、
その信号源の出力を接続部5を介してその校正に必要な
計器に印加する。この計器の出力は、処理/判定/表示
部6で、処理、判定、表示を行うが、この場合、校正用
の許容範囲を使う。一方、計器について校正する場合に
は、この計器の校正に必要な信号源の出力を接続部5を
介してその計器に印加すると共に、処理/判定/表示部
6でその計器校正用の許容範囲を使って上記測定モード
と同様の処理、判定、表示を行う。校正すべきものが2
以上ある場合には、残りの各々について順番に上記のプ
ロセスを繰り返す。尚、自己校正モードにおいては、測
定モードにおける各パラメータの測定点と同じ点につい
て検査を行うため、信号源あるいは計器を制御すること
ができる。
器Aをより具体化したオーディオ・メジャリング・シス
テムBについて述べる。このメジャリング・システムB
は、カーステレオ、ラジカセ、VTR、カセットデッキ
等の被測定物MD’のオーディオ系の調整/検査に必要
なAC電圧計、発振器、周波数カウンタ、直流電圧計、
ひずみ率計及び判定部を一体化して、測定、並びに治具
や外部機器の制御とを高速で行うことができる自動計測
システムである。図示のように、システムBは、チャン
ネル(CH)1と2の各々のAC入力端子10(図では
片方のみ図示)、1つのDC入力端子12、1つのカウ
ンタ入力端子14、CH1及びCH2の各々の出力端子
20(図では片方のみ図示)を有しており、そしてこれ
らに対し、例示として示す被測定物MD’の出力端子O
UT、2つのチェック端子TP(被測定物内部のチェッ
ク端子の2つの例であって、図示の場合、周波数のチェ
ック端子と、DC電圧のチェック端子である。)、入力
端子INを夫々接続することができる。更に、図示しな
いが、ワウ・フラッタDC入力端子、CH1,CH2用
の各種モニタ端子がある。尚、入力端子10と出力端子
20についてのCH1とCH2の切換は、図示しないス
イッチによって行う。
応するものとして、315Hz,400Hz,1KHz
のいずれかの発振周波数の基準(REF)発振部30、
10Hz〜200KHzの発振周波数の高域(HI)発
振部31、10Hz〜10KHzの発振周波数の低域
(LOW)発振部32と、そしてDC電圧源として、後
述のA/D変換器60の基準電圧出力33と、を備えて
いる。発振部30,31,32の各出力は、対応の切換
制御式のスイッチ34,35,36の入力端(ON位
置)に接続し、そして他方の入力端(OFF位置)が接
地に接続したそれらスイッチの出力端は混合部37の各
入力に接続しており、そして発振部出力を混合する混合
部37の出力は減衰量可変式のアッテネータ(ATT)
38の入力に接続している。
ものとして、リレー式切換制御のスイッチ50,51
と、切換制御式スイッチ52,53とを備えている。即
ち、スイッチ50の入力端は、ATT38の出力に接続
しており、そしてスイッチ50の測定(M)モード時の
出力端は出力端子20に接続しそして校正(C)モード
時出力端はスイッチ51の校正(C)モード時入力端に
接続している。スイッチ51の測定時入力端はAC入力
端子10に接続している。また、スイッチ52は、校正
時入力端がA/D変換器60の基準電圧出力33に接続
しており、その測定時入力端がDC入力端子12に接続
している。スイッチ53の校正時入力端はスイッチ36
の出力端に接続しており、そしてその測定時入力端はカ
ウンタ入力端子14に接続している。
応する要素として、AC入力に関係した計測を行うた
め、スイッチ51の出力端に入力が接続した減衰量可変
式ATT40と、これの出力に接続した入力を各々もつ
4組のフィルタ/減衰量可変式ATT/検波回路部4
1,42,43,44とを備えており、そしてこれら回
路部の出力は、切換制御式スイッチ48の基準(RE
F),高域(HI),低域(LOW),ひずみ率(DI
ST)入力端に夫々接続している。回路部41のフィル
タは、基準発振周波数成分を抜き取るフィルタ特性をも
ち、回路部42のフィルタは、高域発振周波数成分を抜
き取るフィルタ特性と、測定ウェイトフィルタ特性(J
IS−A,CCIR−ARM,DIN−AUDIO,I
HF−T200等)を持ち、それぞれを切り換えられる
構成となっている。そして回路部43のフィルタは、低
発振周波数成分を抜き取るフィルタ特性をもっている。
また、回路部44は、ひずみ率測定用の回路であって、
そのフィルタは、ひずみ率測定のためのフィルタ特性を
もっている。更に、システムBは、DC入力に関係した
計測のため、スイッチ52の出力端に入力が接続したデ
ジタル・マルチメータ(DMM)ユニット45を備え、
このユニットの入力制御部はスイッチ52の制御入力に
接続している。また、周波数に関係した計測を行うた
め、スイッチ53の出力端に入力が接続したカウンタ用
プリスケーラ46を備えており、これの入力制御部は、
スイッチ53の制御入力に接続している。またプリスケ
ーラ46の出力はカウンタ47の入力に接続している。
計器部4のその他の要素は、後述のCPU90等で実現
している。
の一部の要素として、スイッチ48の出力端に入力が接
続したA/D変換器60を含み、これは、受けた各入力
をデジタル化して出力する。また、表示装置として、シ
ステムBに外部モニタ(CRT)62を接続することが
できるようになっている。また、図1の指定部7及び入
力部8に対応する要素として、キーボード70を備えて
おり、このキーボードは、図示しないが、テンキー、モ
ードページ(MENU,MEASURE,EDIT,T
IMERのモード)を選択するためのPAGEキー、E
NTRYキー、FUNCTIONキー群、ジョグダイア
ル、その他のキーがある。処理/判定/表示部6のその
他の要素については、後述のCPU90等で実現してい
る。
己校正制御部9に対応する要素、並びに、計器部4の残
りの要素、処理/判定/表示部6の残りの要素に相当す
るものとして、CPU90、CPUバス91−1,内部
制御バス91−2、プログラム及びデータを記憶するた
めのROM/RAM92、各種インターフェース93−
1〜93−6、各種制御部94−1〜94−9、グラフ
ィック・ディスプレイ・コントローラ95を備えてい
る。詳しくは、CPU90は、CPUバス91−1を介
して、ROM/RAM92に、また更にコントローラ9
5を介して外部モニタ62に、更にキーボード・インタ
ーフェース(I/F)93−1を介してキーボード70
に、メモリカードI/F93−2を介して測定/自己校
正条件を記憶するためのメモリカードMCに接続してい
る。CPU90はまた、バス91−1並びにA/D I
/F93−3を介しA/D変換器60のデジタル出力を
受けるように接続している。
I/F93−4、及び内部制御バス91−2を介して各
種制御部94−1〜94−8に接続している。これら制
御部には、発振部30,31,32の各制御入力に発振
周波数を制御するための信号を夫々出力する周波数制御
94−1と、スイッチ34,35,36を切換制御し混
合部37に入力する発振出力の組合せを制御する混合制
御94−2と、試験信号として出力する信号のレベルを
制御するためATT38の減衰量を制御する出力レベル
制御94−3とがある。また、出力切換制御94−4と
入力切換制御94−5とは、測定モード時にはスイッチ
50及び51をM位置に切り換え、一方自己校正モード
時にはC位置に切り換えるようにリレーを制御する信号
を発生する。入力レンジ制御94−6は、各回路部41
〜44に共通のATT40と、回路部41〜42に固有
のATTに対し、減衰量を制御する信号を夫々送る。フ
ィルタ制御94−7は、回路部42のフィルタの測定ウ
ェイトフィルタの切換を制御する信号を送る。また、ひ
ずみ率レンジ制御94−8は、回路部44のATTの減
衰量を制御する信号を発生する。A/D入力切換制御9
4−9は、スイッチ48の制御入力に対し切換制御信号
を発生する。また、CPUは、更に内部制御バス91−
2を介してDMMユニット45の入力制御部とプリスケ
ーラ46の入力制御部にも接続していて、これら制御部
は、測定モード時には各スイッチ52,53をM位置に
そして自己校正モード時にはC位置に切り換えるように
制御する。
ンターフェース93−5を介して外部のパーソナル・コ
ンピュータ100に、またGPIBインターフェース9
3−6を介して外部のGPIB機器(例えば、追加の試
験信号源、計器等)に接続できるようになっている。ま
た、システムBには、リモコンを接続するためのリモー
トユニット102と、被測定物MD’に装着することの
ある治具を制御するためのI/Oユニット103を備え
ている。
手段からなる測定系を装備している。
と、各測定項目におけるITEM名称とその測定内容及
びその説明は、以下の通りである。
信号源は、高域発振部31を使用。) MV F:広帯域ミリバル(入力レベルを測定。信号源
は、高域発振部31を使用。) 2) DC電圧測定 DC:DC電圧(直流電圧を測定) 3) 3波混合周波数特性測定 REF:基準レベル(混合波による周波数特性測定の基
準周波数レベルを測定。基準発振部30を使用) HI:高域レベル(REF×3〜20KHz) (混合波による周波数特性測定の高域周波数レベルを測
定。高域発振部31を使用。尚、基準周波数のレベルを0
dBとして相対値測定。) LOW:低域レベル(50Hz〜REF/3) (混合波による周波数特性測定の低域周波数レベルを測
定。低域発振部32を使用。尚、基準周波数のレベルを0
dBとして相対値測定。) SHI:中域レベル(2KHz〜15KHz) (混合波による周波数特性測定の中域周波数レベルを測
定。低域発振部32を使用。尚、基準周波数のレベルを0
dBとして相対値測定。) 4) S/N測定 MV S:S/N比(入力レベルを測定し、ミリバル
(MV)項目で測定したレベルを基準として相対レベル
を求める。) 5) ひずみ率測定 THD:ひずみ率(0.3%〜12%フルスケール,6
レンジ) (ひずみ率判定基準値設定に応じ、0.3〜12%のレ
ンジを自動的に選択し、ひずみ率を測定する。測定周波
数は400Hz又は1KHzを選択。) 6) 周波数測定 SPED:テープスピード,カウンタ(3KHz又は1
9KHzを中心周波数とした、入力周波数を高速カウン
タで測定。) 7) チャンネルバランス測定 BAL:チャンネルバランス、(CH1(L)とCH2
(R)のレベル差を測定。) 8) チャンネルセパレーション測定 MVCL:チャンネルセパレーションR→L,(CH2
(R)からCH1(L)への漏れを測定。) MVCR:チャンネルセパレーションL→R(CH1
(L)からCH2(R)への漏れを測定。) 9) ワウ・フラッタ測定 WOW:ワウ・フラッタ(ワウ・フラッタ・メータを接
続して併用し、モニタCRT上にワウ・フラッタを表
示。) 10) 設定終了 END。
ード時においては、スイッチ50,51,52,53を
夫々のM位置に切り換え、そして自己校正モード時には
それらスイッチをC(CAL)位置に切り換える。各モ
ードにおいて、即ち34,35,36,48を切換制御
することにより、上記測定項目の箇所で説明した測定を
行えるようにする。
〜図33のフローチャート及び画面図を参照して説明す
る。尚、本システムBは、上記からも分かるように、測
定モードと自己校正モードを有しており、そして自己校
正モードにおいては、各測定機能の測定誤差の検査と、
この測定誤差に基づくその測定機能部分の特性の補正
と、が含まれる。
行されるメインルーチンを示している。このフローの最
初のステップにおいて、ファンクションキー又はページ
キーによるキー入力を待ち、そしてそのキー入力が[M
ENU]キーの場合(ステップ901)、ステップ90
2で、図4に示すMENU画面を表示して最初に戻る。
図4に示す状態で、測定を示す[MEASURE]キー
のキー入力があると、ステップ903からステップ90
4に入って測定MENUルーチン(図7)に入る。この
サブルーチンに入ると、必要に応じて、図9の測定メイ
ンルーチン、図11の測定サブルーチン、図13の測定
ルーチン、図21の自己校正(CAL)メインルーチ
ン、図23の検査サブルーチン、図24の信号源制御ル
ーチン、図26の検査ルーチンに示すフローにも入る。
図7の測定MENUルーチンが終了すると、図4のメイ
ンルーチンの初めに戻る。また、キー入力が編集を示す
[EDIT]キーの場合、ステップ905からステップ
906に入ってEDIT MENUサブルーチンに入っ
て、図5,図6に示すような設定/編集を行い、そして
これが終了すると初めに戻る。更に、キー入力がタイマ
設定を示す[TIMER]キーの場合、ステップ907
からステップ908に入って、本体内蔵の時計をセット
するタイマ設定サブルーチンに入り、そしてこれが終了
すると初めに戻る。
MENUサブルーチンにおける設定/編集について説明
する。後述の図8の測定MENU画面にも示すように、
本システムBでは、自動測定として、8つの異なったモ
デル1〜8、即ち8つの異なったタイプの被測定物につ
いて設定することができ、そして各モデルに対し、最大
20の測定又は自己校正のモデルステップ(単にステッ
プとも呼ぶ)を設定することができる。尚、各測定/自
己校正のモデルステップは、6本のメータをCRTに同
時表示する1画面に対応している。1例として、図5及
び図6は、モデル1(型番等の名称が“111111111”)
の編集画面を示しており、このモデル1はモデルステッ
プ1〜15(モデルステップ6〜10は図示省略)から
成っている。図から分かるように、各モデルステップに
おいては、その測定ITEM(上記の測定項目参照)、
信号源の周波数/出力レベル、終端抵抗オン−オフ/出
力チャンネル(3桁の数字の最初の数字が1の時終端抵
抗ON;2番目の数字が1の時CH1のみ出力、2の時
CH2のみ出力、3の時CH1/CH2共に出力;3番
目の数字は、発振器出力端子選択)、入力チャンネル選
択(最初のFはCH1入力選択;2番目のFはCH2入
力選択)、メータ表示の中心値、内部フィルタの選択
(00:オフ;0A:JIS−Aフィルタ)、測定値の
判定基準となる許容範囲の上限値及び下限値、並びに、
その他の設定(測定開始前のWAIT時間、NGの時に
停止するNG STOPモード選択、自動モデルステッ
プ送り時間)を行うことができる。図6に示すモデルス
テップ15は、設定終了(END)ステップである。
04から入る測定MENUルーチンについて説明する。
最初のステップ910で、図8に示す測定MENU画面
を表示する。図示画面例では、8つのモデルが設定され
ている。次に、ステップ911で、モデル番号のキー入
力を待ち、そしてテンキー入力の場合にはステップ91
2でステップ916に入り、そしてジョグダイアルによ
るモデル番号入力(図8には矢印でモデル選択マークを
示す)の場合には、ステップ914と915を経てステ
ップ913で[ENTER]キー(ファンクションキー
7)を押された時にステップ916に進む。ステップ9
16では、入力されたモデル番号を設定し、そして続く
ステップ917で、その番号のモデル測定条件データを
メモリカードMC(図2参照)から読み出す。この後、
ステップ918で図9の測定メインルーチンに入り、そ
してこのルーチンの終了時に、測定MENUルーチンも
終了して図3のメインルーチンに戻る。
ンについて説明する。最初のステップ920で、測定画
面を表示する。測定の初期においては、図10に示す画
面である。図10からも分かるように、1モデルステッ
プは、CH−LとCH−R各々3本づつの計6本のメー
タ表示部分620(メータ番号MN=1〜6)を含んで
いる。次にステップ921で、キー入力を待ち、[CA
L]キー入力の場合ステップ922からステップ923
に進み、ここで図21の自己校正(CAL)メインルー
チンを実行し、その後本ルーチンの最初に戻る。一方、
[START]キー入力の場合ステップ924からステ
ップ925に進んで、図11の測定サブルーチンに入
り、そしてこの後本ルーチンの最初に戻る。また、[M
ENU]キー入力の場合、ステップ926を介して終了
し、従って図7のルーチンを終了する。
ついて説明する。最初のステップ930で、モデルステ
ップ番号を1にセットする。次に、ステップ931〜9
35で、メモリカードMCから読み出したモデル測定条
件データに従った制御を行う。即ちステップ931で、
治具等のI/O制御出力及びGPIB機器制御のための
出力の発生を含む外部制御を行う。ステップ932で
は、各測定項目に応じて内部接続の切換、即ちスイッチ
50〜53の切換を行う。ステップ933では、測定系
のレンジ、フィルタ特性の選択等の制御、並びにスイッ
チ48の切換を行う。ステップ934では、発振部の周
波数、出力レベル、出力チャンネル、スイッチ34〜3
6の切換、等の制御を行う。モデルステップ1(設定例
ではMV(ACレベル測定))の場合、スイッチ35の
みをON、スイッチ50及び51をM位置、スイッチ4
8をHI位置にする。
じた画面表示を行う。モデルステップ1では、ミリバル
の測定項目である図12の画面となる。図5の編集画面
からも分かるように、発振器は高域発振部31で発振器
周波数は1KHz、出力レベルは−5.0dB、出力及
び入力のチャンネルはLとR双方、メータの中心値は−
5.0dB、許容範囲は−2〜2dBである。図12で
は、許容範囲は黒いバー622、623で示し、そして
測定値を示す指線は、横線624、625で示してい
る。画面の右上には、このモデルステップ1での測定値
の判定(後述)の結果として、GO(良)とNG(不
良)を示す領域626がある。尚、このモデルステップ
1では、メータ1とメータ4のみ使用しているが、前述
のように、1モデルステップで6本のメータを表示させ
ることができる。次のステップ936においては、測定
開始の前にWAIT時間(0〜9.9秒の範囲で設定可
能)を置き、信号の安定化時間を設ける。続くステップ
937では、図13の測定ルーチンに入り、そしてこれ
が終了すると、ステップ938で、測定続行か否かを測
定終了フラッグ(後述)によって判定し、フラッグがセ
ットされていない場合には、ステップ939でモデルス
テップ番号を1増分し、そしてステップ940でその結
果のモデルステップ番号のステップが設定終了かどうか
判定する。終了でない場合、ステップ931に戻って、
次のモデルステップについて上記プロセスを繰り返す。
一方ステップ938でNOの場合、又はステップ940
でYESの場合(本例ではモデルステップ15の場
合)、本ルーチンを終了する。
チンについて説明する。最初のステップ950でキー入
力を待ち、そして手動STEPモードにおいてモデルス
テップ番号を手動で1増分する[INC]キーが押され
ていない場合にはステップ951からステップ952に
進み、そしてAUTO STEPモード(自動モデルス
テップ送り)が選択されている場合においてその自動モ
デルステップ送り時間(測定モード時には0〜9.9
秒)に達したかどうか判定する。ここでNOの場合に
は、ステップ953で測定を強制的に終了させたい場合
に使用する[START]キー(ここでは終了キーとし
て作用)が操作されたかどうか判定し、NOの場合に
は、一連の測定ステップ954〜963に進む。まずそ
の最初のステップ954で、メータ番号MNを1にセッ
トし、そしてステップ955で、測定データを獲得す
る。モデルステップ1の場合、測定データは、A/D変
換器60の出力から得る。続くステップ956で、補正
モードがONにされているかどうか判定し、YESの場
合にはステップ957で、その測定データを、誤差デー
タ(後述の自己校正モードにおいて得る)で補正して補
償した測定データを得る。この後あるいはステップ95
6でNOの場合(本例では補正モード=OFF)、ステ
ップ958で測定データを保存し、そしてステップ95
9で、この測定データの値をユーザが任意に設定できる
許容範囲(本モデルステップでは−2〜2dB)と比較
する。許容範囲にあればGO、なければNGとなる。こ
の比較結果は、ステップ960で保存し、そしてステッ
プ961で、図12に示したように測定データを数値
(本モデルステップでは0.0dB)と指線624で表
示し、更にメータ1のみに関する判定結果をメータの上
の枠内に表示する(但し、NGの時のみ下向きの三角を
表示)。次に判断ステップ962でメータ番号が6(最
後のメータ番号)に等しいかどうか調べ、NOの場合に
はステップ963でメータ番号を1増分し、そして更に
上記のステップ955〜962を繰り返す。メータ番号
2,3の使用が選択されていないため、これらに関して
はステップ955〜961を素通りする。メータ4は選
択されているため、ステップ955〜961で実質的な
処理が行われ、ステップ961で測定データと判定結果
が表示される。後のメータ5,6についてはメータ2,
3と同様に素通りし、そしてステップ962でYESと
なってステップ962’に進み、ここでメータ1からメ
ータ6までの全判定結果を総合したモデルステップ総合
判定結果を右上の領域626に表示する。この後、ステ
ップ950に戻る。これでモデルステップ1に関する測
定が終わったことになる。
テップに進める[INC]キー入力がある場合にはステ
ップ951からそしてAUTO STEPモードでモデ
ルステップ1に関する自動ステップ送り時間が満了した
場合にはステップ952からステップ964,965に
進む。ここで、モデルステップ総合判定結果がNG(例
えば図17のモデルステップ8の場合)でかつNG S
TOPモードがセットされている場合のみ、ステップ9
50に戻り、そしてステップ953で終了を示す[ST
ART]キーの押し下げの判定が行われるのを待つ。こ
の判定でYESとなった場合には、ステップ967で測
定終了フラッグをセット(ON)してこのルーチンを出
る。この場合、図11のステップ938では、NOとな
り、これ以上の測定は中止する。尚、必要な場合には、
ユーザが指示した場合にNG判定の出たモデルステップ
より後のモデルステップの測定を続けるように、プログ
ラムを変更することもできる。一方、ステップ964で
NOの場合、又はステップ965でNOの場合(NG
STOPモードがOFFのとき)、ステップ966で現
在のモデルステップ総合判定結果をモデル総合判定結果
に加えた後このルーチンを出て、図11のステップ93
8に進む。この場合、ステップ938ではYESとな
り、そしてモデルステップ2〜14の各々の場合にはス
テップ939,940を経てステップ931に戻り、そ
して再び図11のステップ931〜937、図13の測
定ルーチンを実行する。モデルステップ15の場合、ス
テップ940からステップ941に進み、ここでモデル
総合判定結果を表示する。即ち、全てのモデルステップ
でGO判定があった場合には、図20に示す総合判定G
Oの画面表示を行い、そして1つのステップでもNG判
定があった場合には、総合判定としてNGを表示する。
この後、図11のルーチンを終了し、この結果、図9の
測定メインルーチンの最初に戻る。
ルステップ3(MVCR),5(REF,HI,LO
W),7(MV,THD),8(REF,HI,SPE
D,WOW),10(MV S),11(DC)の画面
例である。図14は、チャンネルセパレーション測定の
ものであって、メータ4にCH−LからCH−Rへの漏
れの測定値が表示されている。図15は、6つのメータ
を全部使ったときの画面例であり、各チャンネル同じ3
つの項目の測定結果が示されている。図16は、各チャ
ンネルについてミリバルとひずみ率を表示している。図
17は、各チャンネルについてREFとHIの測定項
目、そしてSPED(これはカウンタ47を使用)とW
OWの2つの項目についてのメータ表示がある。また、
これでは上記のようにNGの表示がされている。図18
は、S/N比の表示例である。図19は、DMMユニッ
ト45を使った表示例である。
ド、即ち図9の測定メインルーチンにおいて[CAL]
キーが押されステップ923に進んだ場合について説明
する。まず最初のステップで、図22の測定誤差検査画
面を表示する。この画面では右上に自己校正を示す“C
AL”を表示しており、また右側には、以下で使用する
ファンクション・キー表示が示されている。次に、補正
モードに関して[ON]、[OFF]、[CANCE
L]のキーが押されたかどうかをステップ971,97
3,976で調べる。[ON]キーが押された時にはス
テップ972で補正モードをONにし、[OFF]キー
が押された場合にはステップ974でそのモードをOF
Fにし、そして双方共にステップ975で補正モードの
ON/OFF表示を行い、そして[CANCEL]キー
が押された場合にはステップ977で誤差データをクリ
アし、そしてステップ971に戻る。ステップ971,
973,976のいずれでもNOの場合にはステップ9
78に進み、モデルステップ毎に停止してチェックを行
いたい場合[CHECK STEP]キーを押すとステ
ップ978からステップ979,980に進む。ここ
で、手動STEPモードをセットして、AUTO ST
EPモード時に使用する自動モデルステップ送り時間を
全モデルステップにおいてクリアする。一方、全モデル
ステップについて自動進行でチェックしたい場合に[C
HECK AUTO]キーを押すと、ステップ981か
らステップ982,983に進む。この時、AUTO
STEPモードをセットして、自動ステップ送り時間
(通常1秒)を全モデルステップに設定する。いずれの
場合も、ステップ986で、全モデルステップの各測定
項目の測定用判定基準値を測定誤差検査の判定基準値に
書換える。続くステップ987で、各モデルステップの
測定用のWAIT時間(例えば1秒)を、測定誤差検査
用に短縮する(例えば、100ミリ秒)。これは、被測
定物からの信号の安定化時間を設ける必要がないからで
ある。また、NG STOPモードを全モデルステップ
に設定する。これは、NGがたった1つの測定項目にお
いて出ただけでも、システムBの検査、調整、修理等が
必要になるからである。更に、このステップにおいて
は、測定誤差検査に必要のない処理、例えばI/O制御
の項目等を削除する。ステップ980,983,98
6,987における処理は、図7のステップ917でメ
モリカードから読み出したモデル測定条件データに対し
行うものであって、その結果としてモデル自己校正条件
データを生成する。この後、ステップ989で図23の
検査サブルーチンに入り、そしてこれが終了すると自己
校正メインルーチンのステップ971に戻る。この自己
校正モードを終了したい場合に[QUIT]キーを押す
と、ステップ984からステップ985に進み、ここ
で、現在のモデル番号のモデル測定条件データをメモリ
カードMCから読み出すことにより、自己校正条件デー
タの代わりに元の測定条件データを設定する。これによ
り、図21のルーチンを出、図9の測定メインルーチン
に戻る。
について説明する。最初のステップ1000で、モデル
ステップ番号を1にセットし、そして続くステップ10
01〜1003で、該当ステップに関する自己校正条件
データに従って処理を行う。即ち、ステップ1001
で、自己校正用に信号源の内部接続を行う、即ち、スイ
ッチ50,51,52,53をC位置に切り換え、また
当該ステップ内の各測定項目に応じて、スイッチ34,
35,36,48の切換制御を行い、ステップ1002
で、測定系のレンジ、フィルタ特性の選択等の制御を行
い、そしてステップ1003で、図24の信号源制御ル
ーチンを実行する。この信号源制御ルーチンでは、後述
のように、測定項目に応じて、測定するレベルや周波数
と等価のレベルや周波数の試験信号を発生するように信
号源を制御する。次にステップ1004で、該当モデル
ステップの測定項目による検査画面を表示する。
テップ1の画面を示す。図示のように、測定器の検査規
格に対応する検査用許容範囲640,642は、図12
の被測定物の製品規格に対応する測定用許容範囲62
2,623と比べ狭くなっている。次に、ステップ10
05で、検査開始前のWAIT時間(例えば、100ミ
リ秒)を設け、そして次にステップ1006で図26の
検査ルーチン(後述)を実行する。その後、ステップ1
007で、検査終了フラッグ(後述)がONの場合にY
ESとなってこのルーチンを終了する。一方、ステップ
1007でNOの場合、ステップ1008でモデルステ
ップ番号を1増分して次のモデルステップの検査の準備
をし、そしてこの次モデルステップが設定終了ステップ
でない場合(本例ではステップ2〜14)、ステップ1
009でNOとなってステップ1001にループする。
一方、ステップ1009でYESとなった場合(本例で
はモデルステップ15)、ステップ1010でモデル総
合判定結果を表示して、このルーチンを終了する。
画面に夫々対応するモデルステップ3,5,7,8,1
0,11の検査画面例である。
御ルーチンについて説明する。まずステップ1020〜
1024で測定項目の種類を調べ、ACレベル測定に関
する検査の場合、ステップ1020からステップ102
5に進む。図5及び図6の設定例では、1例として図2
5に示したモデルステップ1である。この場合、レベル
測定のメータ表示中心値(ADJ)を発振部出力レベル
として設定する。これは、メータ表示中心値が発振部出
力レベルと異なっている場合には、設定変更が不要とな
り、便利である。尚、モデルステップ1の場合には、そ
れら中心値と出力レベルは−5.0dBと互いに等しく
なっている。次に、S/N比測定に関する検査の場合に
は、ステップ1021からステップ1026に進む。例
えば、図31に示したモデルステップ10の場合であ
る。この場合、ステップ1026では、直前のモデルス
テップ9(図示せず)でのACレベル測定のメータ表示
中心値(例:−10.0dB)に、モデルステップ10
でのS/N比のメータ中心値(例:−10dB)を加え
た値(例:−20dB)を発振部出力レベルとして設定
する。また、チャンネルセパレーション測定に関する検
査の場合、ステップ1022からステップ1027へ進
む。例えば、図27に示すモデルステップ3の場合であ
る。ステップ1027では、基準チャンネル側メータ表
示中心値(例:−10dB)に、セパレーションメータ
表示中心値(例:−40dB)を加えた値(例:−50
dB)を発振部出力として設定する。
に関する検査の場合、例えば、図30に示すモデルステ
ップ8の場合、ステップ1023からステップ1028
に進み、ここで、測定用の周波数を発振部の周波数とし
て設定する。最後に周波数特性測定に関する検査の場
合、例えば、図28に示すモデルステップ5の場合、ス
テップ1024からステップ1029に進む。ここで、
基準レベル測定のメータ表示中心値(例:−10dB)
を発振部出力レベルとして設定する。更に、発振部出力
は、3波混合とし、そしてその各周波数は、測定用の周
波数とする。以上で、この信号源制御ルーチンを終わ
る。尚、上記説明から分かるように、本システムでは、
メータ表示中心値をデータとしてもっているため、信号
源の制御を好都合に行うことができる。
プ1006から入る検査ルーチンについて説明する。こ
の検査ルーチンは、図13の測定ルーチンをほぼ同じ処
理を行う。異なっている点は、検査ルーチンでは、モデ
ルステップを手動で進めるSTEPモードと自動で進め
るAUTO STEPモードを予め設定するため、手動
のSTEPモードで(ステップ1041でYES)、か
つモデルステップ番号を1増分させる[CHECK S
TEP]キーが押されない場合に(ステップ1041で
NO)、ステップ1043に進む。ステップ1043で
は、ステップ953での[START]キーではなく、
検査中止を示す[QUIT]キーについての判定を行
い、そしてステップ1057では検査終了フラッグをO
Nにする。更に、検査ルーチンでは、図13のステップ
956,957の如きステップはなく、ステップ104
6で測定データの保存を行うと共に、ステップ1047
で、測定値と入力値又は目標値との差である誤差データ
の保存を行うことにより、図13のステップ957での
誤差データを提供する。また、ステップ1049では、
測定誤差検査用の判定基準値を使用する。その他は、図
13の測定ルーチンと同じであるため、説明を省略す
る。モデルステップ1についてこの検査ルーチンによ
り、図25に示す画面が表示される。同じく、その他の
モデルステップ2〜15についても同様に検査が行わ
れ、その結果、上記図27〜32の画面が表示されるこ
とになる。尚、図29は、モデルステップ7であって、
判定結果がNGの例である。この場合には、ステップ9
87でNG STOPモードが全ステップに設定されて
いるため、モデルステップ8以降の検査にまでは進まな
い。尚、必要な場合には、ユーザが指示した場合にNG
判定の出たモデルステップより後のモデルステップの検
査を続けるように、プログラムを変更することもでき
る。一方、モデルステップ1〜14全てでGO判定があ
った場合には、図23のステップ1010で、図33に
示す総合判定結果GOの表示がされる。この後、検査サ
ブルーチンを出て、図21のCALメインルーチンに戻
り、そして[QUIT]キーが押されたときにはステッ
プ984からステップ985を経て図9の測定メインル
ーチンの最初に戻る。
オ・メジャリング・システムBについて詳細に記述した
が、本発明は、オーディオ系のその他の測定項目の測
定、あるいはオーディオ機器以外の機器の測定にも適用
することができる。
定器の接続を実質上要しないため、多機能測定器の自己
校正が簡単、容易に行える。また、外部測定器との接続
不要に加え、内部接続を自動で行うため、検査時間を短
くすることができる。また、測定モード時と同じレベル
/周波数等で自己校正を行う場合には、測定モードでの
設定の1部を流用可能であるため、検査時間を更に短縮
することができる。更にまた、自己校正が簡単な操作で
行えるようになるため、熟練者を要せず、操作性を向上
させることができる。
ロック図。
オ・メジャリング・システムを示す回路ブロック図。
示すフローチャート。
す図。
/編集されるモデル1のモデルステップ1〜15の一部
分を示す画面。
/編集されるモデル1のモデルステップ1〜15の別の
一部分を示す画面。
ーチャート。
を示す図。
示すフローチャート。
図。
ルーチンを示すフローチャート。
デルステップ1(MV)の画面の例を示す図。
すフローチャート。
R)の画面の例を示す図。
F,HI,LOW)の画面の例を示す図。
THD)の画面の例を示す図。
F,HI,SPED,WOW)の画面の例を示す図。
S)の画面の例を示す図。
C)の画面の例を示す図。
表示画面の例を示す図。
(CAL)メインルーチンを示すフローチャート。
画面を示す図。
を示すフローチャート。
ンを示すフローチャート。
プ1の検査画面の例を示す図。
すフローチャート。
プ3の検査画面の例を示す図。
プ5の検査画面の例を示す図。
プ7の検査画面の例を示す図。
プ8の検査画面の例を示す図。
プ10の検査画面の例を示す図。
プ11の検査画面の例を示す図。
の表示画面の例を示す図。
Claims (21)
- 【請求項1】被測定物(MD;MD')の複数のパラメータに
関する測定を行うための複数の測定機能を備えた、入力
端子(1;10,12,14)と出力端子(2;20)とを有する多機
能測定器(A;B)であって、 イ) 前記複数の測定機能に夫々対応する機能を備えた
複数の単機能の測定手段(3,4;30〜38,40〜48)であっ
て、該複数の単機能測定手段は、少なくとも1つの試験
信号源手段(SS1〜SSi;30〜33)を含み、前記複数の単
機能測定手段の各々は、入力と出力又は出力を有してい
る、前記の複数の単機能測定手段と、 ロ) 前記入力端子と、前記出力端子と、前記複数の単
機能測定手段の各々と、の間の接続を行う接続手段(5;
50〜53)と、 ハ) 前記多機能測定器の測定モード又は自己校正モー
ドを指定するモード指定信号を発生するモード指定手段
(7;70,903,922,924)と、 ニ) 前記モード指定信号に応答する制御手段(9;90,9
32,988,1001)であって、前記モード指定信号が前記測
定モードを指定している場合、前記接続手段を制御する
ことにより、前記複数のパラメータの内の選択された少
なくとも1つのパラメータの各々の測定のための、前記
複数の単機能測定手段と前記出力端子と前記入力端子と
の間の接続を行わせ、前記モード指定信号が前記自己校
正モードを指定している場合、前記接続手段を制御する
ことにより、前記選択された少なくとも1つのパラメー
タの各々の測定に関係する前記単機能測定手段の各々
を、該手段の自己校正に使用する前記単機能測定手段と
接続させる、前記の制御手段と、を含む多機能測定器。 - 【請求項2】請求項1記載の多機能測定器であって、前
記複数の単機能測定手段は、前記少なくとも1つの試験
信号源手段(SS1〜SSi;30〜33)と、入力と出力とを各
々有する複数の計器手段(M1〜Mj;41〜47)と、から成
ること、を特徴とする多機能測定器。 - 【請求項3】請求項2記載の多機能測定器であって、更
に、 イ) 前記複数の計器手段の前記出力に接続された手段
であって、前記複数の計器手段の各々からの出力信号に
対し処理を行って測定結果を表す第1の信号を発生する
処理手段(6;60)と、 ロ) 前記第1信号を受け、該結果を所定の判定基準と
比較して良否判定結果を表す第2の信号を発生する判定
手段(6;90,959,1049)と、 ハ) 前記第1信号又は前記第2信号を受けて、前記測
定結果又は前記良否判定結果を表示する表示手段(6;9
0,941,961,1010,1051,62)と、を含むこと、を特徴とす
る多機能測定器。 - 【請求項4】請求項3記載の多機能測定器であって、更
に、 前記制御手段に接続されており、前記測定モードにおけ
る測定条件及び前記自己校正モードにおける検査条件を
入力する手段(8;70,90,906)であって、前記測定及び
検査の条件は、各前記パラメータについて、測定点及び
検査点、及び前記所定の判定基準である測定結果の第1
許容範囲(622,623)と検査結果の第2許容範囲(640,6
42)とを含む、前記の入力手段、を含むこと、を特徴と
する多機能測定器。 - 【請求項5】請求項4記載の多機能測定器であって、 各前記パラメータについて、前記自己校正モードにおけ
る前記検査点は、前記測定モードにおける前記測定点と
同じであること、を特徴とする多機能測定器。 - 【請求項6】請求項4記載の多機能測定器であって、 前記検査結果の第2許容範囲は、前記測定結果の第1許
容範囲よりも狭いこと、を特徴とする多機能測定器。 - 【請求項7】請求項4記載の多機能測定器であって、 前記自己校正モードにおいては、前記検査結果が、前記
第2許容範囲内にある場合には、前記表示手段は、前記
パラメータの測定に関する前記単機能測定手段が良好
(GO)であることを示し、前記第2許容範囲内にない場
合には、前記表示手段は、前記パラメータの測定に関す
る前記単機能測定手段が良好でないこと(NG)を示すこ
と、を特徴とする多機能測定器。 - 【請求項8】請求項7記載の多機能測定器であって、 前記入力手段は、前記検査結果により該当の単機能測定
手段の特性を補償することを指定するための補償指定手
段(90,972,974)を含み、 前記制御手段は、更に、 前記複数の多機能測定手段の各々の特性を補償する補償
手段(957)であって、前記検査結果が前記第2許容範
囲内にあってしかも測定誤差がある時、前記補償指定手
段が補償を指定している場合に、前記補償手段により前
記測定誤差を用いて該当の単機能測定手段の特性を補償
する、前記の補償手段、を含むこと、を特徴とする多機
能測定器。 - 【請求項9】請求項4記載の多機能測定器であって、 前記制御手段は、更に、 前記試験信号源手段に接続されており、前記パラメータ
の測定値点と同じ値の信号を発生するように制御する試
験信号源制御手段(1003)、を含むこと、を特徴とする
多機能測定器。 - 【請求項10】請求項1から9のいずれかに記載の多機
能測定器であって、 前記制御手段は、更に、 前記選択された少なくとも1つのパラメータが2以上の
場合、該2以上のパラメータの各々についての自己校正
を順番に行うためのシーケンス手段(1000,1008,100
9)、を含むこと、を特徴とする多機能測定器。 - 【請求項11】請求項10記載の多機能測定器であっ
て、 前記シーケンス手段は、更に各前記パラメータの測定及
び検査において、所定の待機時間を設定する待機時間設
定手段(936,1005)、を含むこと、を特徴とする多機能
測定器。 - 【請求項12】請求項11記載の多機能測定器であっ
て、 前記待機時間設定手段は、前記所定の待機時間は、各前
記パラメータの測定においては第1の待機時間を、該パ
ラメータの検査においては第2の待機時間を設定するこ
と(987)、を特徴とする多機能測定器。 - 【請求項13】請求項2から9のいずれかに記載の多機
能測定器であって、 前記複数の計器手段は、互いに共通の回路(40〜44)を
備えていること、を特徴とする多機能測定器。 - 【請求項14】被測定物(MD;MD')の複数のパラメータ
に関する測定を行うための複数の測定機能を備えた、入
力端子(1;10,12,14)と出力端子(2;20)とを有する多
機能測定器(A;B)であって、 イ) 前記複数の測定機能に夫々対応する機能を備えた
複数の単機能の測定手段(3,4;30〜38,40〜48)であっ
て、該複数の単機能測定手段は、各々出力を有する少な
くとも1つの試験信号源手段(SS1〜SSi;30〜33)と、
入力と出力とを各々有する複数の計器手段(M1〜Mj;41
〜47)とを含む、前記の複数の単機能測定手段と、 ロ) 前記入力端子と、前記出力端子と、前記複数の単
機能測定手段の各々と、の間の接続を行う接続手段(5;
50〜53)と、 ハ) 前記多機能測定器の測定モード又は自己校正モー
ドを指定するモード指定信号を発生するモード指定手段
(7;70,903,922,924)と、 ニ) 前記測定モードにおける測定条件及び前記自己校
正モードにおける検査条件を入力する手段(8;70,90,90
6)であって、前記測定条件及び検査条件は、各前記パ
ラメータについて、測定点及び検査点、及び前記所定の
判定基準である測定結果の第1許容範囲(622,623)と
検査結果の第2許容範囲(640,642)とを含む、前記の
入力手段と、 ホ) 前記入力手段に接続しておりかつ前記モード指定
信号に応答する制御手段(9;90,932,988,1001)であっ
て、前記モード指定信号が前記測定モードを指定してい
る場合、前記接続手段を制御することにより、前記複数
のパラメータの内の選択された少なくとも1つのパラメ
ータの各々の測定のための、前記複数の単機能測定手段
と前記出力端子と前記入力端子との間の接続を行わせ、
前記モード指定信号が前記自己校正モードを指定してい
る場合、前記接続手段を制御することにより、前記選択
された少なくとも1つのパラメータの各々の測定に関係
する前記計測手段の各々を、該手段の自己校正に使用す
る前記少なくとも1つの試験信号源手段と接続させる、
前記の制御手段と、 ヘ) 前記複数の計器手段の前記出力に接続された手段
であって、前記複数の計器手段の各々からの出力信号に
対し処理を行って測定結果を表す第1の信号を発生する
処理手段(6;60)と、 ト) 前記第1信号を受け、該結果を所定の判定基準と
比較して良否判定結果を表す第2の信号を発生する判定
手段(6;90,959,1049)と、 チ) 前記第1信号又は前記第2信号を受ける前記測定
結果又は前記良否判定結果を表示する表示手段(6;90,9
41,961,1010,1051,62)であって、前記自己校正モード
においては、前記検査結果が、前記第2許容範囲内にあ
る場合には、前記パラメータの測定に関する前記計測手
段が良好であることを示し、前記第2許容範囲内にない
場合には、前記パラメータの測定に関する前記計測手段
が良好でないことを示す、前記の表示手段と、を含む多
機能測定器。 - 【請求項15】請求項14記載の多機能測定器であっ
て、 各前記パラメータについて、前記自己校正モードにおけ
る前記検査点は、前記測定モードにおける前記測定点と
同じであること、を特徴とする多機能測定器。 - 【請求項16】請求項14又は15に記載の多機能測定
器であって、 前記入力手段は、更に、前記検査結果により該当の単機
能測定手段の特性を補償することを指定するための補償
指定手段(90,972,974)を含み、 前記制御手段は、更に、 前記複数の多機能測定手段の各々の特性を補償する補償
手段(957)であって、前記検査結果が前記第2許容範
囲内にあってしかも測定誤差がある時、前記補償指定手
段が補償を指定している場合に、前記補償手段により前
記測定誤差を用いて該当の単機能測定手段の特性を補償
する、前記の補償手段、を含むこと、を特徴とする多機
能測定器。 - 【請求項17】請求項14から16のいずれかに記載の
多機能測定器であって、 前記制御手段は、更に、 前記試験信号源手段に接続されており、前記パラメータ
の測定値点と同じ値の信号を発生するように制御する試
験信号源制御手段(1003)、を含むこと、を特徴とする
多機能測定器。 - 【請求項18】請求項14から17のいずれかに記載の
多機能測定器であって、 前記制御手段は、更に、 前記選択された少なくとも1つのパラメータが2以上の
場合、該2以上のパラメータの各々についての自己校正
を順番に行うためのシーケンス手段(1000,1008,100
9)、を含むこと、を特徴とする多機能測定器。 - 【請求項19】請求項18記載の多機能測定器であっ
て、 前記シーケンス手段は、更に各前記パラメータの測定及
び検査において、所定の待機時間を設定する待機時間設
定手段(936,987,1005)であって、前記所定の待機時間
は、各前記パラメータの測定においては第1の待機時間
を、該パラメータの検査においては第2の待機時間を設
定する、前記の待機時間設定手段、を含むこと、を特徴
とする多機能測定器。 - 【請求項20】被測定物(MD;MD')の複数のパラメータ
に関する測定を行うための複数の測定機能を備えた多機
能測定器(A;B)であって、少なくとも1つの試験信号
源手段(SS1〜SSi;30〜33)と複数の単機能の計器手段
(M1〜Mj;41〜47)を含む、多機能測定器において、前
記複数の計器手段を校正する校正方法が、 イ) 前記複数の計器手段の内の任意の1つを選択する
ステップ(1000)と、 ロ) 該選択した計器手段を校正するために使用する前
記少なくとも1つの試験信号源手段の内の1つを選択す
るステップ(1001)と、 ハ) 該選択した試験信号源手段の出力を前記選択した
計器手段の入力に接続して、該計器手段の出力から信号
を得るステップ(988,1045)と、 ニ) 該計器手段出力からの信号の値を、良否判定のた
めの、基準値を含む所定の許容範囲と比較するステップ
(1049)と、 ホ) 該比較の結果に従って、良否判定結果を表示する
ステップ(1051)と、を含む校正方法。 - 【請求項21】請求項20記載の校正方法であって、更
に、 前記計器手段出力信号値が前記所定の許容範囲内にあっ
てしかも前記基準値との誤差がある時、該誤差を用いて
前記選択した計器手段の特性を補償するステップ(95
7)、を含むこと、を特徴とする校正方法。
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