JPH0731496Y2 - ICP mass spectrometer - Google Patents

ICP mass spectrometer

Info

Publication number
JPH0731496Y2
JPH0731496Y2 JP1988144615U JP14461588U JPH0731496Y2 JP H0731496 Y2 JPH0731496 Y2 JP H0731496Y2 JP 1988144615 U JP1988144615 U JP 1988144615U JP 14461588 U JP14461588 U JP 14461588U JP H0731496 Y2 JPH0731496 Y2 JP H0731496Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mass
ions
output
mass spectrometer
channeltron
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP1988144615U
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0264155U (en
Inventor
真司 山田
Original Assignee
セイコー電子工業株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by セイコー電子工業株式会社 filed Critical セイコー電子工業株式会社
Priority to JP1988144615U priority Critical patent/JPH0731496Y2/en
Publication of JPH0264155U publication Critical patent/JPH0264155U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0731496Y2 publication Critical patent/JPH0731496Y2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、ICP(高周波数誘導結合プラズマ)質量分析
において使用される装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial application] The present invention relates to an apparatus used in ICP (high frequency inductively coupled plasma) mass spectrometry.

〔考案の概要〕[Outline of device]

質量分析測定において、濃い濃度試料等のように極端に
多きな過大強度入力があった場合、チャンネルトロンを
保護するために質量スペクトルプロファイル測定の場合
には最大瞬間強度を想定し、定量積分測定においては、
それに相当する強度値を想定し、それぞれの測定におい
てCPS換算した最大許容強度出力値として、それ以上の
強度出力を許さないように保護機構を設ける。また、未
測定中は低い出力のある待機質量数に質量軸を設定し待
機することによるチャンネルトロンの保護も同時に行
う。
In the mass spectrometric measurement, if there is an extremely large excessive intensity input such as a sample with a high concentration, the maximum instantaneous intensity is assumed in the case of the mass spectrum profile measurement in order to protect the channeltron. Is
Assuming a strength value equivalent to that, a protection mechanism is installed to prevent further strength output as the maximum allowable strength output value converted into CPS in each measurement. At the same time, while not measuring, the channel axis is protected by setting the mass axis to a standby mass number with a low output and waiting.

なお、許容値を越えた場合の出力強度値は、それぞれで
設定した最大許容強度値が出力される。
As the output intensity value when the allowable value is exceeded, the maximum allowable intensity value set for each is output.

〔従来の技術、および、考案が解決しようとする課題〕[Conventional technology and problems to be solved by the invention]

従来のICP質量分析装置では、過大強度入力に対するチ
ャンネルトロン保護機構が無いため、通常の正常な使用
には充分適応し得るが、誤操作等の理由により万一その
最大許容値を越える入力があった場合、その内壁にイオ
ンと共に取り込まれた不純物等が付着し、電子の発生を
妨げ、著しくチャンネルトロンの寿命を短くする。
Since the conventional ICP mass spectrometer does not have a channeltron protection mechanism against excessive intensity input, it can be adequately adapted for normal normal use, but due to incorrect operation etc., there was an input that exceeded its maximum allowable value. In this case, impurities and the like taken in along with the ions adhere to the inner wall thereof, which hinders the generation of electrons and remarkably shortens the life of the channeltron.

このため、本考案が目的とするところは、過大入力がチ
ャンネルトロンに到達することを防ぐ保護装置を具えた
ICP質量分析装置を提供することにある。
For this reason, the purpose of the present invention is to provide a protection device for preventing excessive input from reaching the channeltron.
It is to provide an ICP mass spectrometer.

〔課題を解決するための手段〕[Means for Solving the Problems]

上記の目的を達成するために、本考案が採用する主たる
手段は、チャンネルトロンの出力側に接続されるディス
クリアンプと、これに接続される積分器と、上記積分器
の出力を受け、この出力と予め設定された入力許容値と
を比較し、積分器出力が入力許容値を越えるときに測定
中止指令を質量分析部に発する保護手段とを具えたICP
質量分析装置である。
In order to achieve the above-mentioned object, the main means adopted by the present invention are: a discriminator connected to the output side of a channeltron, an integrator connected to this, and an output of the integrator. The ICP is equipped with a protection means that compares the input input value with a preset input value and issues a measurement stop command to the mass spectrometric section when the integrator output exceeds the input input value.
It is a mass spectrometer.

〔作用〕[Action]

ICP部から質量分析部を経たイオンは、チャンネルトロ
ンへ導入される。そして、チャンネルトロン壁への衝突
を繰り返して電子に変換される。かくして、チャンネル
トロンの出力は、ディスクリアンプにより雑音を除去さ
れた後、積分回路へと送られる。積分回路で積分された
出力は本考案の保護回路へ導入される。
Ions that have passed through the mass spectrometric section from the ICP section are introduced into the channeltron. Then, the collision with the channeltron wall is repeated and the electrons are converted into electrons. Thus, the output of the channeltron is sent to the integrator circuit after the noise is removed by the discriminator. The output integrated by the integrating circuit is introduced into the protection circuit of the present invention.

保護回路には、予め、一定入力許容値が設定されてお
り、導入された積分器の出力とが比較される。そして、
入力積分値が設定値を越えるときには、質量分析部に中
止指令を発し、測定を中止する。
The protection circuit is preset with a certain allowable input value and is compared with the output of the introduced integrator. And
When the input integrated value exceeds the set value, a stop command is issued to the mass spectrometric unit to stop the measurement.

これにより何らかの原因でICPトーチ部から過大なイオ
ンが出力されても、チャンネルトロンへの到達が妨げら
れ、このため、チャンネルトロンの汚損を防ぎ、測定不
能等の問題を避けることができる。
As a result, even if an excessive amount of ions are output from the ICP torch part for some reason, it is prevented from reaching the channeltron, so that the channeltron can be prevented from being contaminated and problems such as measurement inability can be avoided.

〔実施例〕〔Example〕

以下に、本考案の実施例について第1図〜第3図を参照
して説明する。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS.

第1図は本考案が適用されるICP質量分析装置の概略構
成図で、1が保護を目的とするチャンネルトロンであ
り、2は質量分析部、3はイオンレンズ、4はスキマー
コーン、5はサンプリングコーン、6はICPトーチ部で
ある。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an ICP mass spectrometer to which the present invention is applied, 1 is a channeltron for the purpose of protection, 2 is a mass spectrometer, 3 is an ion lens, 4 is a skimmer cone, and 5 is Sampling cone, 6 is the ICP torch part.

第1図において、ICPトーチ部6より噴霧されたイオン
は、イオン引き込み部を形成するサンプリングコーン
5、スキマーコーン4、イオンレンズ3を経て、さら
に、質量分析部2を通過してチャンネルトロン1へ送り
込まれる。
In FIG. 1, the ions sprayed from the ICP torch unit 6 pass through a sampling cone 5, a skimmer cone 4 and an ion lens 3 which form an ion attraction unit, and further pass through a mass analysis unit 2 to a channeltron 1. Sent in.

第2図は、本考案の保護機構を説明する実施例で、21は
プリアンプ、22はディスクリアンプ、23は積分回路、24
はA/D、25はCPUである。
FIG. 2 shows an embodiment for explaining the protection mechanism of the present invention, in which 21 is a preamplifier, 22 is a discrete amplifier, 23 is an integrating circuit, and 24
Is A / D and 25 is a CPU.

CPUは、測定に際し、予め測定質量数を質量分析計へそ
の都度指令し、質量分析計は加える電圧を変化させるこ
とにより測定質量数を設定して、その質量イオンのみを
チャンネルトロンへ到達させる。
At the time of measurement, the CPU preliminarily commands the measured mass number to the mass spectrometer each time, the mass spectrometer sets the measured mass number by changing the applied voltage, and makes only the mass ions reach the channeltron.

チャンネルトロン1に取り込まれたイオンは、チャンネ
ルトロン内壁に衝突し、衝突を繰り返しながら、電子を
発生し、106CPS位に増幅され、プリアンプに送られる。
さらに、ディスクリアンプにてノイズ除去のために、あ
るディスクリレベル以下(可変)、もしくは、ピーク値
が3msec以下の信号を除去する(第3図参照)。
The ions taken into the channeltron 1 collide with the inner wall of the channeltron, generate electrons while repeating the collision, are amplified to about 10 6 CPS, and are sent to the preamplifier.
Furthermore, in order to remove noise with the discriminating amplifier, a signal with a certain discriminating level or less (variable) or a peak value of 3 msec or less is removed (see FIG. 3).

その後、それらの連続して入力される信号を積分し、CP
Uへ強度出力として送り込む。
After that, those consecutively input signals are integrated and CP
Send to U as intensity output.

それらの強度出力をCPUが受取り、CPS換算し、ある一定
CPS以上(可変)の強度が検出されれば、異常入力とみ
なし、チャンネルトロンの保護のため、直ちにその質量
の測定を中止し、その後のその質量測定を行わないよう
に、CPU(ソフトウェア)が制御指令を出す。
The CPU receives these intensity outputs, converts them into CPS, and sets them to a certain level.
If an intensity of CPS or more (variable) is detected, it is regarded as an abnormal input, and the CPU (software) stops the measurement of its mass immediately to protect the channeltron and does not perform the subsequent mass measurement. Issue a control command.

これより、チャンネルトロンへ大量のイオンが取り込ま
れることが防止される。
This prevents a large amount of ions from being taken into the channeltron.

なお、測定中以外も常にチャンネルトロンには入力があ
るため、CPUに比較的低入力の待機質量数なる値を設定
し、保護機構の付加機能として実施する。
Since there is always an input to the channeltron even when the measurement is not in progress, a relatively low input standby mass number is set in the CPU to implement it as an additional function of the protection mechanism.

質量スペクトルプロファイル測定においては、許容強度
値は、その最大瞬間強度より想定し、使用者がその強度
値を自由に設定できるようにし、装置を起動し、コンピ
ュータでプログラム起動がなされた時に初期設定され
る。
In mass spectrum profile measurement, the allowable intensity value is assumed from its maximum instantaneous intensity, allowing the user to set the intensity value freely, and is initialized when the device is started and the program is started by the computer. It

測定に際して、ある範囲の質量数を繰り返しスキャン測
定することとなるが、その時ある質量で極端に濃度の濃
い元素成分が現れた場合に、この許容強度値を越える値
であれば本保護機構が働き、その採取質量チャンネルの
測定値を設定許容値として出力し、測定を中止し、チャ
ンネルトロンへの負担を軽減する。
During the measurement, the mass number in a certain range will be repeatedly scanned and measured.If an element component with an extremely high concentration appears at a certain mass at that time, if this value exceeds the allowable strength value, this protection mechanism will work. , The measured value of the sampled mass channel is output as a setting allowable value, the measurement is stopped, and the load on the channeltron is reduced.

同様に、定量積分測定においてもプロファイル測定用と
は別の積分値用のCPS換算した許容強度値をシステム情
報として設定する。測定に際しては、単元素または複数
元素のそれぞれの質量を中心にして、1質量を8分割し
た内の数チャンネル分のデータ積分値が設定した許容強
度値を越えた場合、その許容強度値をデータ出力し、そ
の時に測定したチャンネルの測定を中止しチャンネルト
ロンの保護を行う。以上の説明より明らかなように、測
定中、待機中ともに保護機構を具えることによりチャン
ネルトロンの劣化、および性能低下を抑制することがで
きる。
Similarly, in the quantitative integration measurement, the CPS-converted allowable intensity value for integration value different from that for profile measurement is set as system information. When measuring, if the data integration value of several channels in one mass divided into eight with the center of mass of each single element or multiple elements exceeds the set allowable strength value, the allowable strength value is calculated as data. It outputs and stops the measurement of the channel measured at that time and protects the channeltron. As is clear from the above description, by providing the protection mechanism both during the measurement and during the standby, it is possible to suppress the deterioration and the performance deterioration of the channeltron.

〔考案の効果〕[Effect of device]

チャンネルトロンへの過大な入力は、正常使用において
は、それ程問題とならないが、極端に高濃度の試料を扱
った時や、装置の調整等の特殊な作業をする場合に、往
々にして負担をかけることが起こらないとは限らない。
これらの負担を繰り返しかけると、装置の性能の急速な
低下へと結び付く。したがって、チャンネルトロンの許
容入力値を設定し、過大な入力を抑制することにより、
信頼性の高いICP質量分析装置が得られる。
Excessive input to the Channeltron is not a problem during normal use, but it is often a burden when handling extremely high-concentration samples or when performing special operations such as instrument adjustment. Calling does not always happen.
Repeated application of these burdens leads to a rapid decline in device performance. Therefore, by setting the allowable input value of the channeltron and suppressing excessive input,
A highly reliable ICP mass spectrometer can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本考案の対象とするICP質量分析装置の概念構
成図、第2図は本考案の実施例を説明するブロック図、
第3図は第2図のディスクリアンプの動作説明図であ
る。 1……チャンネルトロン 2……質量分析部 3……イオンレンズ 4……スキマーコーン 5……サンプリングコーン 6……ICPトーチ部 21……プリアンプ 22……ディスクリアンプ 23……積分回路 24……A/D 25……CPU
FIG. 1 is a conceptual configuration diagram of an ICP mass spectrometer targeted by the present invention, FIG. 2 is a block diagram illustrating an embodiment of the present invention,
FIG. 3 is a diagram for explaining the operation of the discriminator shown in FIG. 1 ... Channeltron 2 ... Mass spectroscope 3 ... Ion lens 4 ... Skimmer cone 5 ... Sampling cone 6 ... ICP torch 21 ... Preamplifier 22 ... Discreamp 23 ... Integrator circuit 24 ... A / D 25 …… CPU

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】イオンを発生するICPトーチ部と、前記イ
オンを引き込むためのサンプリングコーン、スキマーコ
ーンおよびイオンレンズと、前記サンプリングコーン、
スキマーコーンとイオンレンズを通過した前記イオンの
所定質量のみを通過させる質量分析計と、前記質量分析
部を通過させる前記イオンの所定質量を設定するCPU
と、前記質量分析計を通過した前記イオンを検出するチ
ャンネルトロンと、前記チャンネルトロンからの出力の
ノイズを除去するディスクリアンプと、前記ディスクリ
アンプからの出力を積分する積分回路と、前記積分回路
の出力を入力するCPUよりなるICP質量分析装置におい
て、 前記CPUは、所定質量のイオンを測定する時、設定され
た前記積分回路の出力の許容強度値に基づいて、前記積
分回路の出力が前記許容強度を越えた時、直ちに前記イ
オン質量の測定を中止する制御指令を出力する手段と、
ICP質量分析装置が測定待機の時、前記質量分析部に比
較的低入力になるような質量数のイオンが通過するよう
に、所定質量を設定する手段を有することを特徴とする
ICP質量分析装置。
1. An ICP torch part for generating ions, a sampling cone for drawing in the ions, a skimmer cone and an ion lens, and the sampling cone,
A mass spectrometer that passes only a predetermined mass of the ions that have passed through a skimmer cone and an ion lens, and a CPU that sets a predetermined mass of the ions that passes through the mass analysis unit
A channeltron that detects the ions that have passed through the mass spectrometer; a discreamp that removes noise from the output from the channeltron; an integrator circuit that integrates the output from the discreamp; and an integrator circuit. In an ICP mass spectrometer comprising a CPU for inputting an output, the CPU, when measuring ions of a predetermined mass, based on an allowable intensity value of the output of the set integration circuit, the output of the integration circuit is the allowable A means for outputting a control command to immediately stop the measurement of the ion mass when the intensity is exceeded,
When the ICP mass spectrometer is in a standby state for measurement, it has means for setting a predetermined mass so that ions having a mass number such that a relatively low input is passed through the mass spectrometer.
ICP mass spectrometer.
JP1988144615U 1988-11-05 1988-11-05 ICP mass spectrometer Expired - Lifetime JPH0731496Y2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1988144615U JPH0731496Y2 (en) 1988-11-05 1988-11-05 ICP mass spectrometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1988144615U JPH0731496Y2 (en) 1988-11-05 1988-11-05 ICP mass spectrometer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0264155U JPH0264155U (en) 1990-05-14
JPH0731496Y2 true JPH0731496Y2 (en) 1995-07-19

Family

ID=31412477

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1988144615U Expired - Lifetime JPH0731496Y2 (en) 1988-11-05 1988-11-05 ICP mass spectrometer

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0731496Y2 (en)

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3430984A1 (en) * 1984-08-23 1986-03-06 Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln METHOD AND DEVICE FOR REGISTERING PARTICLES OR QUANTS WITH THE AID OF A DETECTOR

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0264155U (en) 1990-05-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0458324B1 (en) Multi-channel plasma discharge endpoint detection system and method
EP2306491B1 (en) Ion detection in mass spectrometry with extended dynamic range
JPH0731496Y2 (en) ICP mass spectrometer
WO2019082294A1 (en) Mass spectrometer and mass spectrometry
US20040045933A1 (en) Plasma processing method using spectroscopic processing unit
US6373067B1 (en) Mass spectrometer
US4472630A (en) Dual mode particle detection apparatus for a spectroscopy system
US5464978A (en) Method and apparatus for electron energy analysis
US5426299A (en) Inductive plasma mass spectrometer
JPS6226757A (en) Inductive coupling plasma mass spectrograph
JP3740853B2 (en) Mass spectrometer
JP2773296B2 (en) Chromatographic data processor
JPH0455329B2 (en)
JPS5943374A (en) Gain detector of secondary electron multiplier
WO1998050941A1 (en) Detector system for mass spectrometer
JP3153337B2 (en) Inductively coupled plasma mass spectrometer
JP3274166B2 (en) Monitoring device for neutron detector output
JPH06180367A (en) Radiation measuring equipment
JPH11213941A (en) Mass spectrometry system
EP4362060A1 (en) Mass spectrometer
JPH05152254A (en) Dryetching system
JPH06216013A (en) Charged particle beam aligner
Bohne et al. An analogue particle identifier for heavy ions
JPS6314373Y2 (en)
JPH0582078A (en) Plasma mass spectrometric device