JPH07280740A - ウェハ検査装置 - Google Patents

ウェハ検査装置

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Publication number
JPH07280740A
JPH07280740A JP6075205A JP7520594A JPH07280740A JP H07280740 A JPH07280740 A JP H07280740A JP 6075205 A JP6075205 A JP 6075205A JP 7520594 A JP7520594 A JP 7520594A JP H07280740 A JPH07280740 A JP H07280740A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
defective
cassette
wafers
orientation flat
Prior art date
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Pending
Application number
JP6075205A
Other languages
English (en)
Inventor
Manabu Komatsu
小松  学
Hisashi Tazawa
久史 田澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP6075205A priority Critical patent/JPH07280740A/ja
Publication of JPH07280740A publication Critical patent/JPH07280740A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【目的】カセットに収納されたウェハが良品のウェハ
か、不良品のウェハかを外観的に一目で判別できるによ
うにすることを目的とする。 【構成】ウェハ検査部7で検査されたウェハ2を良品の
ウェハと不良品のウェハとに応じ、良品のウェハに対応
する良信号と不良品のウェハに対応する不良信号とを判
定スイッチ8から出力し、判定スイッチ8からの良信号
と不良信号とに基づいて、良品のウェハのオリフラの向
きと、不良品のウェハのオリフラの向きとが異なるよう
にウェハ回転機構部4を制御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ウェハ検査装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】ウェハ検査装置としては、例えばウェハ
表面を顕微鏡観察(以下、目視検査と呼ぶ)し、ウェハ
表面の欠陥を見出すものがある。従来のウェハ検査装置
は、ウェハを収納するカセットと、ウェハを顕微鏡観察
する検査部と、ウェハ搬送部と、検査者が操作する操作
パネルとから構成される。
【0003】ウェハ搬送部は、ウェハをカセットから取
り出して、検査部のステージに送り、目視検査が済んだ
ウェハをカセットに戻すように構成されている。操作パ
ネルは、ウェハ搬送部にウェハ搬送開始指令を送る開始
スイッチと、ウェハ搬送部にウェハ搬送の終了指令を送
る終了スイッチと、ウェハナンバーを表示する表示とを
備える。
【0004】上記のウェハ検査装置では、検査されたウ
ェハが良品か不良品かを判別するために次のように構成
されている。上記の操作パネルには、目視検査が済んだ
ウェハをカセットに戻す際、目視検査で判断された不良
品のウェハと、良品のウェハとを区別するための不良判
定スイッチが設けられている。不良判定スイッチは、検
査者が目視検査を行い、ウェハが不良と判断された時、
不良判定スイッチを押すことによって、不良品のウェハ
ナンバーが点滅するように構成されている。
【0005】従って、検査者は、カセットに収納された
全てのウェハについて目視検査が終了したときに、操作
パネル上の点滅しているウェハナンバーを見て、どのウ
ェハが不良品かを知ることができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記の如き従来の技術
において、第1のカセットに収納されたウェハの検査が
終了した場合、第1のカセットを検査装置本体から取り
外し、第2のカセットを取付る。そして、開始スイッチ
を押してウェハ搬送を行うと、操作パネル上のウェハナ
ンバー(第1のカセットの検査結果)の点滅が消えてし
まう。
【0007】即ち、第2のカセットの検査が開始されて
しまうと、第1のカセットに収納されている良品のウェ
ハと不良品のウェハとの区別が分からなくなってしまう
為、検査者は、点滅しているウェハナンバーを必ず記録
(検査者自身がメモを取る等)する必要があった。従っ
て、検査者が記録を取り忘れた場合、良品のウェハと、
不良品のウェハとの区別が分からなくなるという問題点
があった。
【0008】本発明は、この様な従来の問題点に鑑みて
なされたもので、検査終了後、カセットに収納されたウ
ェハが良品のウェハか、不良品のウェハかを外観的に一
目で判別できるにようにすることを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の本発明
は、切欠き部が形成されたウェハを収納するカセット
と、前記ウェハを前記カセットから取り出し、前記ウェ
ハを検査する検査位置まで移動させるウェハ移動手段
と、を備えるウェハ検査装置において、前記ウェハ検査
位置で検査された前記ウェハを良品のウェハと不良品の
ウェハとに判別して、判別信号を出力する判別手段と、
前記判別信号に基づいて、前記良品のウェハの前記切欠
き部の向きと、前記不良品のウェハの前記切欠き部の向
きとを異ならせて前記カセットに前記ウェハを収納させ
る収納手段とを有する構成にした。
【0010】
【作用】本発明において、前記ウェハ検査位置で検査さ
れた前記ウェハを良品のウェハと不良品のウェハとに判
別して、判別信号を出力する判別手段と、前記判別信号
に基づいて、前記良品のウェハの前記切欠き部の向き
と、前記不良品のウェハの前記切欠き部の向きとを異な
らせて前記カセットに前記ウェハを収納させる収納手段
とを有する構成にしたので、検査終了後のカセットを検
査装置本体から取り外しても、ウェハの切欠き部の位置
を見ることによって良品のウェハと不良品のウェハとの
区別を行うことができる。
【0011】
【実施例】図1は本発明のウェハ検査装置を示す。ウェ
ハ検査装置は、ウェハ2を複数枚収納し、ウェハ2の収
納間隔に応じて上下方向(紙面垂直方向)に移動するカ
セット1と、ウェハ2を真空吸着し、ウェハ2を回転さ
せる回転軸17を備えるウェハ回転機構部4と、ウェハ
回転機構部4で回転しているウェハ2のオリフラを検出
するオリフラ検出器5と、ウェハ2を顕微鏡観察するウ
ェハ検査部7と、第1のウェハ搬送部3と、第2のウェ
ハ搬送部6と、検査者が操作する不図示の操作パネルと
から構成される。
【0012】ウェハ回転機構部4の回転軸17は、不図
示のパルスモータによって回転する。ウェハ検査部7
は、ウェハ2が載置されるステージ18を備え、ウェハ
2を観察する為の不図示の検査用顕微鏡と、ウェハ2を
真空吸着する回転軸20とを有する。
【0013】第1のウェハ搬送部3は、案内ガイド11
と、案内ガイド11に直線移動可能に案内され、ウェハ
受取面12を備える第1アーム10と、第1アーム10
を駆動する不図示の駆動部とから構成される。第1のウ
ェハ搬送部3は、駆動部を駆動させて第1アーム10を
カセット1内に移動する。そして、ウェハ2をウェハ受
取面12上に載置してカセット1から取り出し、ウェハ
回転機構部4に搬送する。また、第1のウェハ搬送部3
は、検査終了後のウェハ2をウェハ回転機構部4からカ
セット1に戻す。
【0014】第2のウェハ搬送部6は、回転軸16を中
心に回転する第2アーム13と、第2アーム13の両端
に形成されたウェハ受取面14、15と、第2アーム1
3を回転軸16を中心に回転させる不図示の回転駆動部
とから構成される。第2のウェハ搬送部6は、回転駆動
部を駆動させ、回転軸16を中心に第2アーム13を回
転させる。即ち、ウェハ受取面14に載置されたウェハ
2は、第2アーム13が回転することにより、ウェハ検
査部7に搬送される。
【0015】また、第2のウェハ搬送部6は、ウェハ検
査部7で検査が終了したウェハ2をウェハ回転機構部4
に戻す。オリフラ検出器5は、ウェハ回転機構部4で回
転しているウェハ2のオリフラを検出するものであり、
予め設定されたオリフラ位置でウェハ2を停止させる。
これはウェハ2を同一方向で設定して検査を行うためで
ある。
【0016】本実施例では、ウェハ2のオリフラを検出
する構成にしているが、ウェハ2に形成されたノッチを
検出するノッチ検出器でもよい。操作パネルは、第1の
ウェハ搬送部3及び第2のウェハ搬送部6に搬送開始指
令を送り、ウェハ2の搬送を開始させる搬送開始スイッ
チと、第1のウェハ搬送部3及び第2のウェハ搬送部6
に搬送終了指令を送り、ウェハ2の搬送を終了させる搬
送終了スイッチと、目視検査されたウェハ2が良品のウ
ェハか、不良品のウェハかを判別するための判定スイッ
チ8を有する。さらに、操作パネルは、ウェハナンバー
を表示する表示部を備えている。
【0017】判定スイッチ8は、目視検査の結果、ウェ
ハが良品の場合に押される良スイッチ8aと、ウェハが
不良品の場合に押される不良スイッチ8bとが備えられ
ており、良スイッチ8aが押されると良を示す良信号を
出力し、不良スイッチ8bが押されると不良を示す不良
信号を出力する。この判定スイッチ8は、ウェハ回転機
構部4の回転を制御する制御部9に接続されている。
【0018】制御部9は、判定スイッチ8からの良信号
及び不良信号を入力し、ウェハ回転機構部4のパルスモ
ータを制御するものである。すなわち、良信号と不良信
号とでは、パルスモータを回転させるためのパルス数が
異なるように設定してある。即ち、良信号が入力された
ときと、不良信号が入力されたときとでは、パルスモー
タに送るパルス数が異なるように制御される。
【0019】制御部9に良信号が入力された場合、ウェ
ハ2のオリフラ位置を紙面上方向、言い換えればカセッ
ト1にウェハ2が収納されたときに奥方向に向けられに
ようにパルスモータを制御して回転軸17を回転させ
る。また、制御部9に不良信号が入力された場合、ウェ
ハ2のオリフラ位置を紙面下方向、言い換えればカセッ
ト1にウェハ2が収納されてもオリフラが目視できるよ
うに、パルスモータを制御して回転軸17を回転させ
る。
【0020】上記の如く構成されたウェハ検査装置の動
作を図2に示すフローチャートに従って説明する。検査
者が操作パネルの搬送開始スイッチを押すと、カセット
1が上下方向に移動し、検査されるウェハ2がカセット
1から第1のウェハ搬送部3によってウェハ回転機構部
4へとウェハ2が搬送される(ステップ50)。
【0021】ウェハ回転機構部4に搬送されたウェハ2
は真空吸着され、ウェハ検査部7での検査条件を同じに
する為、オリフラ検出部5によってオリフラ位置検出を
行ってオリフラ合わせを行う(ステップ51)。オリフ
ラ合わせが完了したウェハ2は、第2のウェハ搬送部6
によってウェハ検査部7のステージ18上に搬送され
(ステップ52)、ウェハ検査部7で目視検査が行わ
れ、その目視検査の結果、ウェハ2 が良品か不良品かを
判定スイッチ8にて判別する(ステップ53)。
【0022】判定されたウェハ2は、第2のウェハ搬送
部6によってウェハ回転機構部4に搬送される。ウェハ
回転機構部4ではステップ53で判定された結果に基づ
いて、カセット2に戻す際のオリフラの位置が決められ
る。即ち、ウェハ2のオリフラ位置は、オリフラが検出
されてからのパルスモータのパルス数を良品のウェハと
不良品のウェハとで異なるように設定される。
【0023】ウェハ検査部7で良品のウェハ2と判断さ
れた場合、制御部9は、判定スイッチ8からの良信号に
より、良信号に対応して設定されたパルス数によって、
パルスモータを駆動し、回転軸17を回転させる。回転
軸17の回転により、ウェハ2のオリフラが指定された
方向に合わされる(ステップ54)。
【0024】ステップ54におけるウェハ2のオリフラ
位置は、紙面上方向、即ち、オリフラが見えないように
設定されてカセット1内に収納される。また、ウェハ検
査部7で不良品のウェハと判定された場合、制御部9
は、判定スイッチ8からの不良信号により、制御部9を
不良信号に対応して設定されたパルス数によって、パル
スモータを駆動し、回転軸17を回転させる。
【0025】回転軸17の回転により、ウェハ2のオリ
フラが指定された方向に対して所定角度X°ずらした方
向に合わされる(ステップ55)。ステップ55におけ
るウェハ2のオリフラ位置は、紙面下方向、即ち、オリ
フラが見えるように設定されてカセット1に収納され
る。そして、良品又は不良品に判定されたウェハ2は第
1のウェハ搬送部3によってカセット1へ収納される
(ステップ56)。
【0026】上記のステップ50からステップ56をカ
セット1に収納されたウェハ毎に繰り返すことによっ
て、外観的にカセット1内のウェハ2の良品か不良品か
の判別が出来る。尚、本実施例では、良品のウェハのオ
リフラがカセット1から見えないようにし、不良品のウ
ェハのオリフラがカセット1から見えるようにしている
が、逆にしてもよい。
【0027】また、本実施例では、ウェハ検査部7は、
ステージ18のウェハ2を顕微鏡を使用して目視で検査
を行っているが、ステージ18のウェハ2を画像処理を
行って検査してもよい。さらに、図3に示すように、良
品のウェハ30のオリフラと、不良品のウェハ31のオ
リフラが共に見えるように収納してもよい。
【0028】尚、本実施例では、良スイッチ8aと、不
良スイッチ8bとを備える構成にしているが、良品のウ
ェハと、不良品ウェハの発生頻度を考慮し、このオリフ
ラの位置は、良品のウェハを検査前に行われたオリフラ
合わせの位置に設定し、不良品のウェハの場合に、パル
スモータのパルス数を変更する。発生率の多い方は検査
後のウェハのオリフラ位置方向を変えずにカセット1に
搬送し、発生率の少ない方のオリフラ位置方向を変える
ことで良品不良品の判別が出来、余分なウェハ回転時間
も省くことが出来る。
【0029】即ち、良スイッチ8aと、不良スイッチ8
bとのどちらか一方、例えば不良スイッチ8bを備える
構成にしても構わない。
【0030】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、良品のウ
ェハと、不良品のウェハとの判別がカセット内で外観的
に一目で判断することができるので、記録をとる必要が
なくなり、検査者の作業を効率良く行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による実施例を示す図である。
【図2】本発明の実施例の動作を表すフローチャートで
ある。
【図3】ウェハがカセットに収納された状態を示す図で
ある。
【符号の説明】
1 カセット 2 ウェハ 3 第1のウェハ搬送部 4 ウェハ回転機構部 5 オリフラ検出器 6 第2のウェハ搬送部 7 ウェハ検査部 8 判定スイッチ 9 制御部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】切欠き部が形成されたウェハを収納するカ
    セットと、 前記ウェハを前記カセットから取り出し、前記ウェハを
    検査する検査位置まで移動させるウェハ移動手段と、を
    備えるウェハ検査装置において、 前記検査位置で検査された前記ウェハを良品のウェハと
    不良品のウェハとに判別して、判別信号を出力する判別
    手段と、 前記判別信号に基づいて、前記良品のウェハの前記切欠
    き部の向きと、前記不良品のウェハの前記切欠き部の向
    きとを異ならせて前記カセットに前記ウェハを収納させ
    る収納手段とを有することを特徴とするウェハ検査装
    置。
JP6075205A 1994-04-14 1994-04-14 ウェハ検査装置 Pending JPH07280740A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6075205A JPH07280740A (ja) 1994-04-14 1994-04-14 ウェハ検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6075205A JPH07280740A (ja) 1994-04-14 1994-04-14 ウェハ検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07280740A true JPH07280740A (ja) 1995-10-27

Family

ID=13569468

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6075205A Pending JPH07280740A (ja) 1994-04-14 1994-04-14 ウェハ検査装置

Country Status (1)

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JP (1) JPH07280740A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019168283A (ja) * 2018-03-22 2019-10-03 株式会社長浜製作所 リム交換補助装置およびリム交換システム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019168283A (ja) * 2018-03-22 2019-10-03 株式会社長浜製作所 リム交換補助装置およびリム交換システム

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