JPH0727852B2 - 電子部品の電気特性検査、フォーミング、テーピング方法 - Google Patents

電子部品の電気特性検査、フォーミング、テーピング方法

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JPH0727852B2
JPH0727852B2 JP2339255A JP33925590A JPH0727852B2 JP H0727852 B2 JPH0727852 B2 JP H0727852B2 JP 2339255 A JP2339255 A JP 2339255A JP 33925590 A JP33925590 A JP 33925590A JP H0727852 B2 JPH0727852 B2 JP H0727852B2
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陽一 小原
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広播電子工業株式会社
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【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】
本発明は例えばタンタル固体電解コンデンサ、或は他の
モールドチップコンデンサ等の電子部品の容量、損失等
の電気特性の検査、同電子部品の電極を折曲げるフォー
ミング、フォーミング後の電子部品の電気特性検査、電
気特性検査済の電子部品を良品と不良品とに判別する判
別作業、判別された良品をエンボステープに一個づつ収
納し更にエンボステープの開口部にテープを被せてシー
ルするテーピングの各作業を自動的に且つ一貫して連続
的に、しかも、その一連の作業において最初の作業工程
で支持具に載せた電子部品を作業の最後まで他の支持具
に載せ替えることなく行なうことができるようにした電
子部品の電気特性検査、フォーミング、テーピング方法
に関するものである。
【従来の技術】
電子部品の電気特性検査、電極のフォーミング、テーピ
ングを行なう方法や装置は従来から各種あった。しかし
従来の電気特性検査、電極のフォーミング、テーピング
の方法や装置はそれらの作業を別々に行なうのが一般的
であった。
【発明が解決しようとする課題】
従来の電気特性検査、電極のフォーミング、テーピング
方法や装置では次のような諸問題があった。 1.電気特性検査、電極のフォーミング、テーピングの各
作業が別々に行なわれるため作業能率が悪い。 2.フォーミング済の電子部品をフォーミング工程ライン
から回収して一旦保管し、その電子部品を改めてテーピ
ング工程に載せ替えるので、その回収及び載せ替え時に
電子部品が落下するとか、電子部品の+電極と−電極の
向きが反転するとか、異種類の電子部品が混入するとい
ったことがあった。しかも、電子部品を極性が反転した
ままテーピングすると、その電子部品をプリント基板等
へ実装したときに同電子部品の電極の向き(極性)が逆
になるため、同電子部品が実装されたプリント基板全体
が不良品になるという重大な問題に発展する。 3.フォーミング済の電子部品をフォーミング工程ライン
から回収して一旦保管するので、その保管場所が必要に
なる。
【発明の目的】
本発明の目的は電子部品の電気特性検査、フォーミン
グ、テーピングの各作業を一貫して連続的に行なうこと
ができるようにして作業の合理化を図り、作業時間の短
縮、作業能率の向上、製造コストの低減を実現し、しか
も作業中に電子部品を支持台に載せたらテーピングが終
了するまで載せ替えない様にして、電子部品が作業中に
落下したり、極性が反転したりしないようにした電子部
品の電気特性検査、フォーミング、テーピング方法を提
供することにある。
【課題を解決するための手段】
本発明のうち請求項1の電子部品の電気特性検査、フォ
ーミング、テーピング方法は次の〜から構成される
ことを特徴とするものである。 .第2図のように電子部品1が適宜間隔で一列に多数
連接されてなる電子部品群25の各電子部品1のモールド
部2を、第3図のように支持具3にモールド部2の間隔
と同じ間隔で一列に多数形成され且つモールド部2が回
転できない広さに形成された受凹部4に第5図のように
載せる載置工程。 .第5図のように支持具3の受凹部4に載せられたモ
ールド部2から突出している+電極5と−電極6のいず
れか一方(第7図では+電極5)を第7図のように所定
寸法に切断してから第8図〜第10図のように折曲げる第
1のフォーミング工程。 .第1のフォーミング工程の後に、モールド部2を受
凹部4に載せたままで他方の電極(この場合は−電極
6)を第7図にように所定寸法に切断してから第8図〜
第10図のように折曲げる第2のフォーミング工程。 .第5図のようにモールド部2を受凹部4に載せたま
まで電子部品1の電気特性を検査して良品と不良品に判
別する電気特性検査工程。 .第6図、第12図、第13図のように良品を押出し具7
により一個づつ受凹部4から押出してエンボステープ8
の開口部10からその収容部9内に収容し、同開口部10を
シール用テープ11でシールするテーピング工程。 .前記〜の工程を支持具3の移動方向に配置され
た異なる箇所で行ない、それら工程間の支持具3の移動
を受凹部4にモールド部2を載せたまま且つ受凹部4の
配列方向に行う移動工程。 本発明のうち請求項2の電子部品の電気特性検査、フォ
ーミング、テーピング方法は次の〜から構成される
ことを特徴とするものである。 .第2図のように電子部品1が適宜間隔で一列に多数
連接されてなる電子部品群25の各電子部品1のモールド
部2を、第3図のように支持具3にモールド部2の間隔
と同じ間隔で一列に多数形成され且つモールド部2が回
転できない広さに形成された受凹部4に第5図のように
載せる載置工程。 .第5図のように支持具3の受凹部4にモールド部2
が載せられた各電子部品1の電気特性を検査して良品と
不良品とに判別する一次電気特性検査工程。 .第5図のように支持具3の受凹部4に載せられたモ
ールド部2から突出している+電極5と−電極6のいず
れか一方(第7図では+電極5)を第7図のように所定
寸法に切断してから第8図〜第10図のように折曲げる第
1のフォーミング工程。 .第1のフォーミング工程の後に、モールド部2を受
凹部4に載せたままで他方の電極(この場合は−電極
6)を第7図にように所定寸法に切断してから第8図〜
第10図のように折曲げる第2のフォーミング工程。 .第5図のようにモールド部2を受凹部4に載せたま
まで電子部品1の電気特性を検査して良品と不良品に判
別する二次電気特性検査工程。 .第6図、第12図、第13図のように良品を押出し具7
により一個づつ受凹部4から押出してエンボステープ8
の開口部10からその収容部9内に収容し、同開口部10を
シール用テープ11でシールするテーピング工程。 .前記〜の工程を異なる箇所で行ない、それら工
程間の支持具3の移動を、受凹部4にモールド部2を載
せたままで受凹部4の配列方向に行う移動工程。 本発明のうち請求項3の電子部品の電気特性検査、フォ
ーミング、テーピング方法は、第5図のように前記支持
具3の受凹部4に載せた電子部品1を第7図〜第10図の
ように規制具15により受凹部4から外れない様にするこ
とを特徴とするものである。 本発明のうち請求項4の電子部品の電気特性検査、フォ
ーミング、テーピング方法は、第5図の様に前記支持具
3の受凹部4の幅を電子部品1のモールド部2の幅より
狭くして、同モールド部2の幅方向両端部16、17を受凹
部4より側方に突出させ、その突出する両端部16、17を
第6図、第12図、第13図のように前記押出し具7により
押して電子部品1をエンボステープ8の収容部9内に一
個づつ収容するようにしたことを特徴とするものであ
る。 本発明のうち請求項5の電子部品の電気特性検査、フォ
ーミング、テーピング方法は、電子部品1の電気特性検
査、同電子部品1の+電極5及び−電極6のフォーミン
グ、エンボステープ8の収容部9内への電子部品1の収
容及び収容部9の開口部10をシールするテーピングの各
工程を第1図の様に二列以上の作業ラインA、B、Cに
分けて行ない、受凹部4に電子部品1が載っている支持
具3を他の作業ラインに移し替えるときに、同支持具3
を電子部品1ごと筒体18内に第11図のように収納し、そ
の筒体18を第1図の様に他の作業ラインに移動するよう
にしたことを特徴とするものである。
【作用】
本件出願のうち請求項1の発明の作用は次のようにな
る。 .支持具3の受凹部4は一列に多数連結されている電
子部品1のモールド部2の間隔と同じ間隔で一列に多数
形成されているので、電子部品1のモールド部2を連結
されたまま(電子部品郡25のまま)受凹部4に載せるこ
とができ、載せやすくなり、またモールド部2が受凹部
4から落下しにくくなる。 .支持具3の受凹部4はモールド部2が回転できない
広さに形成されているので、受凹部4に載せた状態で連
結されている電極を切断して電子部品1を切り離してば
らばらにし、その状態で支持具3を移動したり作業した
りしても電子部品1は受凹部4内で回転せず、電子部品
1の向きや表裏面が反転することがない。 .支持具3の受凹部4への電子部品1のモールド部2
の載置工程(最初の工程)から、電子部品1の電気特性
検査工程、電子部品1の+電極及び−電極のフォーミン
グ工程、エンボステープ8の収容部9への電子部品1の
収納及び収容部9の開口部10をシール用テープ11でシー
ルするテーピング工程(最終工程)まで、電子部品1を
細長の支持具3の受凹部4に載せたまま行なわれ、その
間に電子部品1を一度も受凹部4から他に載せ替えない
ので、電子部品の移動中も各工程での作業中も電子部品
1が表裏反転したり、−電極5と+電極6の向きが反転
したり、異種類の電子部品が混入したりすることが一切
ない。 .支持具3の受凹部4への電子部品1のモールド部2
の載置工程、電子部品1の電気特性検査工程、電子部品
1の+電極及び−電極のフォーミング工程、エンボステ
ープ8の収容部9への電子部品1の収納及び収容部9の
開口部10をシール用テープ11でシールするテーピング工
程の各工程が一貫して自動且つ連続的に行なわれるの
で、それらの作業が合理化され、作業能率が向上する。 .載置工程、電気特性検査工程、フォーミング工程、
テーピング工程を支持具の移動方向に配置された異なる
箇所で行ない、それら工程間の支持具3の移動を受凹部
4の配列方向に行うので、受凹部4の配列方向と支持具
の移動方向と各工程の配列方向とが一致し、電子部品1
を支持具3に載せたままスムースに移動できる。また、
支持具3に載せられて移動されてくる電子部品1を送ら
れてくる順に電気特性を検査したり、フォーミング加工
したり、テーピング処理したりすることができるので作
業能率が向上する。 本件出願のうち請求項2の発明では、支持具3の受凹部
4への電子部品1のモールド部2の載置工程、電子部品
1の一次電気特性検査、電子部品1の+電極5及び−電
極6のフォーミング工程、電子部品1の二次電気特性検
査、エンボステープ8の収容部9へ電子部品1を収納及
びシールするテーピング工程の各工程が一貫して自動且
つ連続的に行なわれるので、それらの作業が合理化さ
れ、作業能率が向上する。また、請求項1の〜と同
様の作用もある。 本件出願のうち請求項3の発明では、支持具3の受凹部
4に載せた電子部品1を規制具15により受凹部4から外
れない様にするので、電子部品1を支持具3に載せたま
ま移動しても支持具3の上で表裏反転したり、向きが反
転して電子部品1の極性が反転したり、電子部品1が支
持具3から落下したりすることがない。 本件出願のうち請求項4の発明では、支持具3の受凹部
4の幅を電子部品1のモールド部2の幅より狭くして、
モールド部2の幅方向両端部16、17が受凹部4より側方
に突出するようにしてあるので、その突出する幅方向両
端部16、17を押出し具7により押してエンボステープ8
の収容部9に一個づつ収容することができる。 本件出願のうち請求項3の発明では、電子部品1電気特
性の検査、同電子部品1の−電極5及び+電極6のフォ
ーミング、テーピングの各作業を二列以上のライン(例
えば第1図のA、B、C)に分けて行なう場合、電子部
品1を支持具3の受凹部4に載せたまま筒体18に入れて
他の作業ラインに載せ替えるので、その移動時に支持具
3の上で電子部品1が移動して表裏面が反転したり、極
性が反転したり、振動で支持具3から落下したりするこ
とがない。
【実施例】
本発明の電気特性の検査、フォーミング、テーピング方
法を図面に基づいて詳細に説明する。 第2図の1は本発明の方法により電気特性の検査、フォ
ーミング、テーピングされる電子部品であり、これは例
えばタルタル固体電解コンデンサ、モールドチップコン
デンサ等である。この電子部品1はモールド部2から+
電極5と−電極6とが互いに逆方向に突設され、しかも
−電極6が連接片21により一列に連接されて各電子部品
1のモールド部2が均一間隔で配列された電子部品群25
としてある。 第3図の3は本発明で使用される支持具であり、それに
は前記モールド部2の間隔と同一間隔で多数の受凹部4
が一列に形成されている。この受凹部4は前記モールド
部2を第5図のように載せることができるが回転はでき
ない広さにし、また深さをモールド部2の厚さよりやや
浅くしてある。 第4図の8は本発明で使用されるエンボステープであ
り、これには電子部品1を第4図のように一個づつ収容
できる大きさの収容部9が均一間隔で多数連接されてい
る。 本発明において前記電子部品1の電気特性、例えば短絡
試験、容量、損失等を検査(一次電気特性検査)を行う
には次のようにする。 第2図のように電子部品1が多数連接されている電子部
品群25を、第1図の送りローラ22により同図の矢印a方
向に送り出して作業ラインAに載せる。 送り出された電子部品1の前に、第1図の支持具搬送ラ
インDを右側から左側に順次送られてくる支持具3のう
ち左端の支持具3を送り出す(第1図の矢印b方向
に)。この状態で前記電子部品1を第1図の矢印c方向
に押し倒して、第5図のように前記支持具3の受凹部4
の上に載せる(載置工程)。 この支持具3を第1図の右側に移動させて同図の一次特
性検査部26の位置で停止させる。この一次特性検査部26
において電子部品1の+電極5と−電極6に測定プロー
ブ(図示されていない)を押し当てて、電子部品1の短
絡試験、容量等の各種検査のうち必要とする検査を行な
い、同部品1の良否を判別する。 検査が終了したら受凹部4に電子部品を載せたまま支持
具3を第1図の右側に移動して左側フォーミング部27の
位置で停止させる。この左側フォーミング部27において
最初に、モールド部2の側方に突出している+電極5を
所定寸法に切断する。この切断は例えば第7図のよう
に、固定刃28の上に載せた+電極5の上に可動刃29を降
下させて行なう。その後、電子部品1の+電極5を第8
図〜第9図の各位置に移動させて3段階に分けて折曲げ
る。 最初の折曲げは第8図のように第一受台31の側方に突出
している+電極5の上から第一回転輪32と押し台33を降
下させて、+電極5を第一受台31の上面及び側面形状に
合わせて折曲げる。次に支持具3を第1図の右側に移動
させて第9図の位置で停止させ、支持具3に載せてある
電子部品1の+電極5を第9図のように第二受台34の上
に載せ、同受台38の側方に突出している+電極5の上か
ら第二回転輪37を降下させて、+電極5を第9図の形状
に折曲げる。 更に、受凹部4に電子部品を載せたまま支持具3を第1
図の右側に移動させて第10図の位置で停止させ、同支持
具3に載せたまま電子部品1の+電極5を第10図のよう
に第三受台38の上に載せ、その+電極5を同図のように
プレス機39の押圧部40により側方より押して折り曲げ
る。この場合、押圧部40にはウレタンゴム等の軟質材を
使用して、+電極5及びモールド部2に加わる衝撃を緩
和する。 このようにして左側フォーミングが終了したら、電子部
品1を受凹部4に載せたまま支持具3を更に第1図の右
側に移動して右側フォーミング部41の位置で停止させ
る。この右側フォーミング部41では、連接片21により連
接されている電子部品の−電極6を同連接片21から所定
寸法に切断する。この切断は受凹部4に載せたままで図
示されていない固定刃の上に載せた−電極6の上に図示
されていない可動刃を降下させて行なう。その後、+電
極5の左側フォーミング時と同様に、電子部品1を載せ
た支持具3を順次所定位置まで移動して停止させなが
ら、−電極6を3段階に分けて折曲げる(フォーミング
工程)。 前記のようにフォーミングが済んだ電子部品1は連接片
21から分離されてばらばらになって一個づつ受凹部4に
のっている。本発明ではこの電子部品1が受凹部4から
落下しないように、第7図〜第10図のように規制具15に
より電子部品1を一個づつ支持具3に押しつける。この
規制具15はピアノ線をL字状に曲げて、その下向き部15
aを支持具3の上方に配置されている上蓋42を貫通させ
て電子部品1を下方に押しつけることができるように
し、同ピアノ線の根元側15b(第7図〜第10図の左側端
部)を前記上蓋42の上に、図示されていない押し板で押
さえて固定して、同ピアノ線の横向き部15cに第7図の
矢印X−Y方向に弾性を持たせてある。 この規制具15で電子部品1を支持具3に押しつけた状態
で、同支持具3を第1図の作業ラインAの右端まで移動
し、そこで同支持具3を電子部品1を載せたまま第11図
のように筒体18内に押込む。この筒体18を第1図の矢印
d方向に移動して隣の作業ラインBの横まで移動し、そ
の位置で筒体18内から支持具3をラインBに押出し、空
になった筒体18を元の位置(作業ラインAの右端)に自
動的に戻す。 次に、押出された支持具3を作業ラインBの上を第1図
の左側に移動させ、同作業ラインB上の二次特性検査部
42の位置で停止させる。この二次特性検査部42において
電子部品1の電気特性、例えばLCチェック、オープンの
有無等を検査(二次電気特性検査)する。この二次特性
検査により前記フォーミング時に電子部品1に与えられ
た衝撃(ストレス)により生じた新たな不良もチェック
される。 電気特性の検査が終了したらその電子部品1を載せたま
ま支持具3をラインBの左端まで移動し、その左端にあ
る筒体18内に第11図のように支持具3を押込む。 この筒体18を第1図の矢印e方向に移動して隣の作業ラ
インCの左横に停止させ、その位置で筒体18内から支持
具3を押し出す。空になった筒体18は元の位置(作業ラ
インBの左端)に自動的に戻す。 押出された支持具3を電子部品1を載せたまま作業ライ
ンC上の選別部43まで移動して停止させる。ここでは前
記の一次電気特性検査、二次電気特性検査の判別結果に
基づいて電子部品1と良品と不良品に分けるとか、更に
良品を二以上のランクに分ける等して選別する。 選別後、更に第1図の排出部44において不良品を支持具
3の受凹部4から排出して支持具3に良品だけを残す。
この良品だけがのっている支持具3を第1図のテーピン
グ部45まで移動して停止させる。ここでは第6図のよう
に電子部品1を一個づつエンボステープ8の収容部9内
に収容する。この場合、第6図、第13図のように支持具
3の受凹部4の幅を電子部品1のモールド部2の幅より
狭くして、同モールド部2の幅方向両端部16、17が受凹
部4より側方に突出するようにし、その突出する両端部
16、17を第6図、第13図のように前記押出し具7により
下から一個づつ突き上げて、エンボステープ8の収容部
9内に収容できるようにしてある。 また、このとき、下から押し上げて収容部9内に収容し
た電子部品1が収容部9から落下しないようにするた
め、第6図及び第12、13図に示すように、押出し具7の
手前上方に、適宜周期でエンボステープ8の走行方向に
スライドする開閉体53を配置してある。この開閉体53は
電子部品1を収容部9内に入れるときは第12図の左側に
スライドして同電子部品1が通過する通路54を開け、電
子部品1を収容部9内に入れ終えて押し具7を降下させ
ると、第12図の右側にスライドして同通路54を閉じて収
容部9内に収容された電子部品1が自重で落下しないよ
うにしてある。 なお第6図(イ)、(ロ)及び、第12図、第13図の55、
56、57はガイド板であり、そのうちガイド板55を前記開
閉体54に対向させ、他の二つのガイド板56と57を互いに
対向させて、前記開閉体54及びガイド板55の側方に配置
して、前記通路54を形成するものである。 収容部9内へ電子部品1が収容されたら、第1図のテー
ピング部45において第6図のように同収容部9の開口部
10の外側にシール用テープ11を被せ、そのテープ11をヒ
ーターにより加熱して熱シールしたり、接着剤により接
着したりして前記開口部10を密封封止する。 本発明では前記の電気特性試験において良品と判定され
た電子部品を全てエンボステープ8の収容部9に収容し
てもよいが、良品を二以上のランクに分けたときは、そ
の良品のうちグレードの高い電子部品だけを収容部9に
収容して、グレードの低い良品は支持具3にそのまま残
しておくとか、その逆にする等するとができる。 エンボステープ8の収容部9に収容されずに支持具3に
残された電子部品1は支持具3に載せたままラインCの
右端に送り出し、そこに待機している第1図のストッカ
ー51に送り込む。このストッカー51は第14図のように多
数の細長収容部52に仕切られて、多数本の支持具3を収
容できるようにしてある。多数本の支持具3が収容され
たストッカー51は第1図の支持具搬送ラインDの横まで
移動されて、同ラインDに送り出される。 以上の実施例は−電極5、+電極6を下方に折曲げてフ
ォーミングするものであるが、フォーミングは−電極
5、+電極6を上方に折曲げて行なうようにしてもよ
い。 また、第6図の実施例では下向きになっている収容部9
の下方からシール用テープ11を供給するようにしてある
が、エンボステープ11の移送が進行して収容部9が上向
きになってから、同収容部9の上方からシール用テープ
11を供給するようにしてもよい。
【発明の効果】
本発明の電子部品の電気特性検査、フォーミング、テー
ピング方法は次のような効果がある。 .支持具3の受凹部4に電子部品1のモールド部2を
多数連結されたまま(電子部品郡25のまま)載せるの
で、モールド部2を受凹部4に載せ易く、またモールド
部2が受凹部4から落下しにくい。 .支持具3の受凹部4がモールド部2が回転できない
広さに形成されているので、受凹部4に載せた電子部品
1を切り離してばらばらにしてから、支持具3を移動し
たり作業したりしても電子部品1は受凹部4内で回転せ
ず、電子部品1の向きや表裏面が反転することがない。 .電子部品1を支持具3に載せてからテーピングが完
了するまで、電子部品1を支持具3から一切載せ替えず
に載せたまま支持具3ごと移動させるものであるため、
作業中に電子部品1の向きが変わって電子部品1の−電
極5と+電極6の向きが逆転するとか、電子部品1の表
裏面が逆になるといった問題が一切なく、また、電子部
品1を載せ替えないので過って異種類の電子部品を載せ
てしまう(異種類の電子部品が混入する)といった人為
的な作業ミスも生じない。 .支持具への電子部品の載置工程、電気特性検査工
程、フォーミング工程、テーピング工程を支持具3の移
動方向に配置された異なる箇所で行ない、それら工程間
の支持具3の移動を受凹部4の配列方向に行うので、受
凹部4の配列方向と支持具の移動方向と各工程の配列方
向とが一致し、電子部品1を支持具3に載せたままスム
ースに移動できる。また、支持具3に載せられて移動さ
れてくる電子部品1を送られてくる順に電気特性を検査
したり、フォーミング加工したり、テーピング処理した
りすることができるので作業能率が向上する。 .請求項2の発明では一次電気特性検査と二次電気特
性検査との両方が行われるので、電子部品の判別、選別
精度が向上する。 .請求項3の発明では支持具3の受凹部4に載せた電
子部品1を規制具15により受凹部4から外れない様にす
るので、電子部品1を支持具3に載せたまま移動しても
支持具3の上で表裏反転したり、向きが反転して電子部
品1の極性が反転したり、電子部品1が支持具3から落
下したりすることがなく、安定する。 .請求項4の発明では支持具3の受凹部4の幅を電子
部品1のモールド部2の幅より狭くして、モールド部2
の幅方向両端部16、17が受凹部4より側方に突出するよ
うにしてあるので、受凹部4の外側に突出する幅方向両
端部16、17を押出し具7で押し易くなり、エンボステー
プ8の収容部9への押し込みが容易になる。 .請求項5の発明では電子部品1の電気特性の検査、
同電子部品1の−電極5及び+電極6のフォーミング、
テーピングの各作業を二列以上のラインに分けて行なう
場合に、電子部品1を支持具3の受凹部4に載せたまま
筒体18に入れて他の作業ラインに載せ替えるので、その
移動時に支持具3の上で電子部品1が移動して表裏面が
反転したり、極性が反転したり、振動で支持具3から落
下したりすることがなく、安定する。 .支持具3の受凹部4への電子部品1のモールド部2
の載置工程、電子部品1の電気特性の検査工程、電子部
品1の+電極及び−電極のフォーミング工程、エンボス
テープ8の収容部9へ電子部品1を収納及びシールする
テーピング工程の各工程が一貫して自動且つ連続的に行
なわれるので、それらの作業が合理化され、作業能率が
著しく向上する。 .これまでの電気特性検査、フォーミング、テーピン
グの各工程に必要であった作業者のうち、フォーミン
グ、テーピング工程の作業者が不要になり、大幅な省力
化が可能になる。 .電気特性検査、フォーミング、テーピングの各工程
を別々に行なう場合は、各工程間で電子部品を保管して
おく必要があったが、その必要がないので保管スペース
が削減される。 .電気特性検査、フォーミング、テーピングの作業が
一貫して連続的に行なわれるので、それらの設備を個別
に設置する場合よりも設備設置スペースが大幅に削減で
きる。また、作業ラインを第1図のように複数本並設す
れば、作業ラインをコンパクトにすることもできる。 .検査からテーピングまで作業が一貫して連続的に行
なわれるので計数管理が容易になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す概略平面図、第2図は
電子部品の説明図、第3図は同電子部品を支持する支持
具の一例を示す斜視図、第4図はエンボステープの一例
を示す斜視図、第5図は支持具に電子部品を載せた状態
の説明図、第6図(イ)はエンボステープへ電子部品を
収容及びシールするテーピングの説明図、同図(ロ)は
同図イの部分平面図、第7図は電極の切断説明図、第8
図〜10図はフォーミングの説明図、第11図は筒体の一例
を示す斜視図、第12図はテーピング時の側面説明、第13
図はテーピング時の正面図、第14図はストッカーの説明
図である。 1は電子部品 2はモールド部 3は支持具 4は受凹部 5は+電極 6は−電極 7は押出し具 8はエンボステープ 9は収容部 10は収容部の開口部 11はシール用テープ 15は押え具 16、17はモールド部の両端部 A、B、Cはライン

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】次の〜から構成されることを特徴とす
    る電子部品の電気特性検査、フォーミング、テーピング
    方法。 .電子部品(1)が適宜間隔で一列に多数連接されて
    なる電子部品群(25)の各電子部品(1)のモールド部
    (2)を、支持具(3)にモールド部(2)の間隔と同
    じ間隔で一列に多数形成され且つモールド部(2)が回
    転できない広さに形成された受凹部(4)に載せる載置
    工程。 .支持具(3)の受凹部(4)に載せられたモールド
    部(2)から突出している+電極(5)と−電極(6)
    のいずれか一方を所定寸法に切断してから折曲げる第1
    のフォーミング工程。 .第1のフォーミング工程の後に、モールド部(2)
    を受凹部(4)に載せたままで他方の電極を所定寸法に
    切断してから折曲げる第2のフォーミング工程。 .モールド部(2)を受凹部(4)に載せたままで電
    子部品1の電気特性を検査して良品と不良品とに判別す
    る電気特性検査工程。 .良品を押出し具(7)により一個づつ受凹部4から
    押出してエンボステープ(8)の開口部(10)からその
    収容部(9)内に収容し、同開口部(10)をシール用テ
    ープ(11)でシールするテーピング工程。 .前記〜の工程を支持具(3)の移動方向に配置
    された異なる箇所で行ない、それら工程間の支持具
    (3)の移動を受凹部(4)にモールド部(2)を載せ
    たままで且つ受凹部(4)の配列方向に行う移動工程。
  2. 【請求項2】次の〜から構成されることを特徴とす
    る電子部品の電気特性検査、フォーミング、テーピング
    方法。 .電子部品(1)が適宜間隔で一列に多数連接されて
    なる電子部品群(25)の各電子部品(1)のモールド部
    (2)を、支持具(3)にモールド部(2)の間隔と同
    じ間隔で一列に多数形成され且つモールド部(2)が回
    転できない広さに形成された受凹部(4)に載せる載置
    工程。 .支持具(3)の受凹部(4)にモールド部(2)が
    載せられた各電子部品(1)の電気特性を検査して良品
    と不良品とに判別する一次電気特性検査工程。 .支持具(3)の受凹部(4)に載せられたモールド
    部(2)から突出している+電極(5)と−電極(6)
    のいずれか一方を所定寸法に切断してから折曲げる第1
    のフォーミング工程。 .第1のフォーミング工程の後に、モールド部(2)
    を受凹部(4)に載せたままで他方の電極を所定寸法に
    切断してから折曲げる第2のフォーミング工程。 .モールド部(2)を受凹部(4)に載せたままで電
    子部品(1)の電気特性を検査して良品と不良品に判別
    する二次電気特性検査工程。 .良品を押出し具(7)により一個づつ受凹部(4)
    から押出してエンボステープ(8)の開口部(10)から
    その収容部(9)内に収容し、同開口部(10)をシール
    用テープ(11)でシールするテーピング工程。 .前記〜の工程を異なる箇所で行ない、それら工
    程間の支持具(3)の移動を、受凹部(4)にモールド
    部(2)を載せたままで受凹部(4)の配列方向に行う
    移動工程。
  3. 【請求項3】前記支持具(3)の受凹部(4)に載せた
    電子部品(1)を規制具(15)により受凹部4から外れ
    ない様にすることを特徴とする請求項1又は請求項2の
    電子部品の電気特性検査、フォーミング、テーピング方
    法。
  4. 【請求項4】前記支持具(3)の受凹部(4)の幅を電
    子部品(1)のモールド部(2)の幅より狭くして、同
    モールド部(2)の幅方向両端部(16)、(17)を受凹
    部(4)より側方に突出させ、その突出する両端部(1
    6)、(17)を前記押出し具(7)により押して電子部
    品(1)をエンボステープ(8)の収容部(9)内に一
    個づつ収容するようにしたことを特徴とする請求項1又
    は請求項2又は請求項3の電子部品の電気特性検査、フ
    ォーミング、テーピング方法。
  5. 【請求項5】電子部品(1)の電気特性検査、同電子部
    品(1)の+電極(5)及び−電極(6)のフォーミン
    グ、エンボステープ(8)の収容部(9)内への電子部
    品(1)の収容及び収容部(9)の開口部(10)のテー
    ピングの各工程を二列以上の作業ラインに分けて行な
    い、受凹部(4)に電子部品(1)を載せた支持具
    (3)を他の作業ラインに移し替えるときに、同支持具
    (3)を電子部品(1)ごと同作業ライン上の筒体(1
    8)内に挿入し、その筒体(18)を他の作業ラインに移
    動するようにしたことを特徴とする請求項1又は請求項
    2又は請求項3又は請求項4の電子部品の電気特性検
    査、フォーミング、テーピング方法。
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