JPH07273960A - 階調画像静電記録装置 - Google Patents

階調画像静電記録装置

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JPH07273960A
JPH07273960A JP6059337A JP5933794A JPH07273960A JP H07273960 A JPH07273960 A JP H07273960A JP 6059337 A JP6059337 A JP 6059337A JP 5933794 A JP5933794 A JP 5933794A JP H07273960 A JPH07273960 A JP H07273960A
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latent image
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ion
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JP6059337A
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Hiroyuki Kaneko
裕行 兼子
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Olympus Corp
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Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、均一濃度画像を形成できる階調画
像静電記録装置を提供する。 【構成】画像データの階調信号が大きい領域で、イオン
放出孔n−1の対応画素およびイオン放出孔n+1の対
応画素について、それぞれの階調値が特定の一定値より
大きければ補正回路203によりイオン放出孔n対応の
画像データを書き換えて階調信号を一定量増加させ、一
方、画像データの階調信号が小さい領域で、イオン放出
孔n−1の対応画素およびイオン放出孔n+1の対応画
素について、それぞれの階調値は特定の一定値より小さ
ければ、補正回路203での補正は行われず、そのまま
の画像データにより潜像を形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、イオンフローを形成す
るイオンヘッドを用いたイオンプリンタで代表される画
像記録装置のうち階調画像を記録可能にした階調画像静
電記録装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、イオンフローを形成するイオンヘ
ッドを用いて静電記録により階調画像の記録を行うもの
として、イオンフローの放出量を制御する制御電極の印
加電圧や時間を変えて階調記録を実現する方法が特開昭
57−136665号公報および特開昭61−2287
1号公報に開示されている。
【0003】しかして、これら従来の方法によれば、階
調画像を形成することができるようになるが、このよう
な静電記録の場合、先に形成される潜像電荷により、後
から形成される潜像電荷が影響を受けることが知られて
おり、先に形成された潜像電荷の大きさは、その階調信
号によって変化するが、その階調信号の値が大きくなる
と潜像電荷による電位が上がり、後から形成される潜像
電荷を反発するように作用することで、階調画像におい
て一定濃度を越えると潜像ドットが不均一になり、濃度
むらを生じるという問題点があった。
【0004】以下に、その詳細を説明する。図8は、こ
のような階調画像を記録可能にした階調画像静電記録装
置として知られているイオンプリンタのイオンヘッドの
一部を切り欠いた概略構成を示している。
【0005】図において10は基台でこの基台10にイ
オン放出孔9を有するスクリーン電極6、イオン放出孔
9に沿って長孔11を形成した第2の誘電体7を積層
し、この第2の誘電体7の各長孔11に対応してイオン
発生孔4を有するフィンガ電極3を設け、さらにこれら
フィンガ電極3上にライン電極2を有する第1の誘電体
5を設けるようにしている。
【0006】図9は、図8のイオンヘッドの電極構成を
示す模式図である。第1の誘電体5上に平行に配置され
た複数本(図示例では#0〜#11の12本)のライン
電極2に対して複数個(図示例では#0〜#211の2
12個)のフィンガ電極3を交差するように配置し、各
ライン電極2との交点にイオン発生孔4が設けられてい
る。
【0007】図10はこのイオンヘッドの概略構成を示
すもので、ライン電極2に第1の誘電体5を介して対向
配置されたフィンガ電極3に対してスクリーン電極6が
第2の誘電体7を介して対向配置され、このスクリーン
電極6に記録媒体8が対向配置されている。また、この
スクリーン電極6のイオン放出孔9がフィンガ電極3の
イオン発生孔4に対向している。
【0008】このように構成したイオンヘッドにおい
て、ライン電極2とフィンガ電極3との間に1MHz、
2600Vp−pの高周波高電圧ACを印加すると、イ
オン発生孔4の内側のフィンガ電極3の周囲に放電が起
こり、正負の電化を持ったイオンや電子などの荷電粒子
が発生する。また、フィンガ電極3とスクリーン電極6
との間に、当該荷電粒子のイオン放出孔9の通過を制御
するための記録信号に対応したパルス電圧信号を印加す
る。なお、記録媒体8は接地している。
【0009】しかして、フィンガ電極3に−650Vの
パルス電圧信号が印加され、スクリーン電極6に−60
0Vの電圧が印加されると、負の荷電粒子はフィンガ電
極3の周囲からスクリーン電極6の方向に移動し、スク
リーン電極6近傍に到達した荷電粒子は、零電位の記録
媒体8上に放出され、静電潜像が形成される。一方、ス
クリーン電極6の−600Vの印加電圧に対してフィン
ガ電極3に−400Vの電圧が印加されると、負の荷電
粒子はフィンガ電極3の周囲から移動できないため、記
録媒体8に静電潜像が形成されない。
【0010】なお、ライン電極2による放電により正の
荷電粒子も発生し、この正の荷電粒子は、スクリーン電
極6の近傍まで移動するが、記録媒体8がスクリーン電
極6に対して正電位なので記録媒体8上に移動できな
い。
【0011】そして、このようなイオンヘッド1により
記録媒体8上に形成された静電潜像は、図11に示すよ
うに現像装置13により可視像化され、転写装置14に
より記録紙15上に転写され、目標とするハードコピー
として得られる。
【0012】ところで、図8、図9で述べたように、イ
オンヘッド1は、複数のライン電極2と複数のフィンガ
電極3とをマトリクス状に構成しているが、このような
イオンヘッド1の駆動制御は、図12に示すように一定
時間ごとに順次ライン電圧を#0〜#11の各ライン電
極2に印加し、これらライン電極2より荷電粒子を生成
している状態から、入力画像データに応じ#0〜#21
1の各フィンガ電極3に順次パルス電圧信号を印加する
ことにより、それぞれに対応するイオン放出孔9から放
出される負の荷電粒子によって、順次記録媒体8上に潜
像を形成するようになる。そして、この時フィンガ電極
3に印加するパルス電圧信号の電圧値やパルス幅を変
え、荷電粒子のイオン放出量を可変にすることで、ドッ
トの階調潜像を作成するようにしている。
【0013】図13は、このような階調記録を実現する
ための階調画像静電記録装置のブロック図である。この
場合、階調情報を持つ画像のラスタデータがラスタデー
タインターフェイス回路113を介してYMC変換回路
112に与えられる。そして、ここでイエローY、マゼ
ンダM、シアンCの各色に変換された後、γ補正回路1
10で、γ補正テーブル111に基づいて補正が行われ
る。
【0014】次に、ラスタ画像データは、ディスキュウ
用ラインバッファ109aを介してディスキュウ回路1
09に与えられ、マトリクス状のイオンヘッド1の構造
に合わせたデータに変換される。ここでは、ラインバッ
ファ109aとしてイオンヘッド1のマトリクス構造の
ためライン電極数分のラスタのバッファが必要となる
が、実際のヘッドライン間は3ドットあるため、その3
倍の48ラスタライン分のバッファが用意されている。
【0015】ディスキュウ変換回路109で変換された
データは、イオンヘッド1のマトリクス構造に一致する
ように並べ変えられ、階調画像データおよびフィンガタ
イミング信号としてイオンヘッドドライバ102のフィ
ンガドライバ104のフィンガパルス電圧変調回路10
6に転送される。フィンガパルス電圧変調回路106で
は、画像データの階調信号に応じたフィンガ電圧をイオ
ンヘッド1のフィンガ電極3に出力するようにしてい
る。
【0016】また、ディスキュウ回路109では、ライ
ンタイミング信号が生成され、イオンヘッドドライバ1
02のラインドライバ103に転送され、図12で述べ
たタイミングのライン電圧をイオンヘッド1のライン電
極2に出力するようにしている。また、ディスキュウ回
路109のラインタイミング信号は、ヘッドムラ補正回
路107に与えられ、ライン電極2への動作と同期して
個々のイオン放出孔9のばらつきを補正するヘッドムラ
補正データがフィンガパルス幅変調回路105に与えら
れ、フィンガ電極印加電圧のパルス幅が変調される。こ
のようにして生成されたフィンガ電圧とライン電圧が印
加されることによりイオンヘッド1より階調のある静電
潜像が形成される。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
階調のある静電潜像を形成する場合、主走査方向の1ラ
スタラインの高階調の直線が時間的にどのように形成さ
れていくかを図示すると、図14のようになる。この場
合、初めにライン電極#11の潜像#1が形成され、次
に、記録媒体8が移動し、#4のライン電極が#11の
ライン電極で生成された潜像#1と副走査方向に同じ位
置に到達すると、#4のライン電極により潜像#2が形
成される。以下、同様にしてライン電極0まで繰り返さ
れる。
【0018】ところが、このように画像が形成される際
に後に生成される潜像が先に生成される潜像の影響をう
け、最終出力としての画像に品質上の不具合を生じる。
図15は、この様子を示したもので、階調信号が小さい
と、同図(a)に示すように先に両側位置に形成された
潜像a、bに対し、後からこれら潜像a、bの間に潜像
cが形成されるような場合は、潜像cは、両側の潜像電
荷に影響を受けず均一な潜像として得られるが、階調信
号が大きな値になってくると、同図(b)に示すように
先に両側位置に形成された潜像a、bの電荷による電界
が無視できなくなり、後から、これら潜像a、bの間に
形成する潜像cの電荷は、同電位の電荷のため反発をう
け、その潜像電位が十分に記録媒体8上に形成できなく
なる。
【0019】この結果、最終出力画像に濃度むらや色ず
れなどの欠陥を生じてしまう。また、後から潜像を形成
するライン電極2は、物理的に決まっており、この例で
は#5、#4、#3、#2、#1、#0の各ライン電極
が相当する。
【0020】このため、従来では、相当するライン電極
の印加電圧を変えたり、ヘッドむら補正回路107など
でそのライン電極上の放出孔のフィンガ電位をかえて補
正を行うようにしているが、このようにすると、今度は
画濃度が低い図15(a)のような場合では,逆に補正
によりムラを生じてしまう。
【0021】また,このような先に形成された潜像によ
り後から形成される潜像が影響を受ける現象は、図16
(a)(b)に示すように、先に形成された潜像が一つ
の場合でも発生する。この場合は図15に示したものに
比べ、後の潜像形成の際の影響は小さいが、画像濃度の
均一に関してはやはり好ましくない。本発明は、上記事
情に鑑みてなされたもので、均一濃度画像を形成できる
階調画像静電記録装置を提供することを目的とする。
【0022】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、帯電粒
子発生源からの帯電粒子放出量を階調画像信号に応じて
制御し、記録媒体上に静電潜像を形成する静電潜像形成
手段を有する階調画像静電記録装置において、前記静電
潜像形成手段により形成される静電潜像の特定画素の近
傍で前記特定画素より先に静電潜像が形成される画素の
階調値の大きさに応じて前記特定画素の階調値を補正す
る階調補正手段とにより構成されている。
【0023】また、本発明によれば、前記特定画素とそ
の近傍で前記特定画素より先に静電潜像が形成される画
素は、主走査方向の同一ライン上に位置するように構成
されている。また、本発明によれば、前記特定画素の近
傍の画素は、主走査方向の同一ライン上の前記特定画素
の前後に位置するように構成されている。
【0024】
【作用】この結果、本発明によれば、特定画素の近傍
で、この特定画素より先に静電潜像が形成される画素の
階調値により、特定画素の階調値を補正するようになる
ので、潜像が形成される時間的差異に関係しない均一画
像が得られる。
【0025】また、本発明によれば、主走査方向の1ラ
イン上に、特定画素とその近傍の前記特定画素より先に
静電潜像が形成される画素が位置され、これら先に静電
潜像が形成される画素の階調値により、特定画素の階調
値を補正するようになるので、この場合、主走査方向に
潜像が形成される時間的差異に関係することなく均一な
画像が得られる。
【0026】また、本発明によれば、特定画素の近傍の
画素は、主走査方向の同一ライン上の特定画素の前後に
位置するようになるので、この場合も、主走査方向に潜
像が形成される時間的差異に関係しない均一な画像が得
られる。
【0027】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に従い説明す
る。 (第1実施例)図1は、第1実施例の概略構成を示すも
ので、図13と同一部分には同符号を付している。
【0028】この場合、イオンヘッド1は、上述した図
8〜図10で述べたと同様な構成をなすもので、このイ
オンヘッド1はラインドライバ103とフィンガドライ
バ104によって画像信号に対応したイオンを発生する
ようにしている。
【0029】また、γ補正回路110とディスキュウ回
路109のラインバッファ109aの間にイオン干渉補
正回路200を接続している。つまり、この場合、γ補
正回路110の出力である画像データをイオン干渉補正
回路200を経由してディスキュウ用ラインバッファ1
09aに出力するようにしている。
【0030】階調補正手段であるイオン干渉補正回路2
00は、図2に示すようにイオン干渉補正用1ラインバ
ッファ200aとそのバッファの特定のアドレスの画像
データを書き換えるイオン干渉補正演算回路201を有
し、さらにイオン補正演算回路201は、特定アドレス
の前後のアドレスの画素の階調値を特定の一定値と比較
する比較回路202と、その値に基づき特定アドレスの
画素の階調値を補正する補正回路203により構成され
ている。
【0031】その他は、図13と同様である。次に、以
上のように構成した実施例の動作を説明する。まず、階
調情報を持つ画像のラスタデータがラスタデータインタ
ーフェイス回路113を介してYMC変換回路112に
与えられる。そして、ここでイエローY、マゼンダM、
シアンCの各色に変換された後、γ補正回路110で、
γ補正テーブル111に基づいて補正が行われる。
【0032】γ補正回路110を経た画像データは、イ
オン干渉補正回路200のイオン干渉補正用1ラインバ
ッファ200aに取り込まれる。そして、ここで特定ア
ドレスの画素に補正がかけられるわけであるが、本実施
例のイオンヘッド1の場合、上述した図14に示したよ
うに4番、3番、2番、1番、0番、5番のライン電極
上に位置する1ラインの半分の画像データが時間的に後
から静電潜像として形成されることになる。
【0033】そこで、これに相当する画素について、そ
の階調値を主走査ライン上で前後の位置にある画素の階
調値の大きさに応じて変えていく。ここでは、図2に示
すように主走査ライン上で前後の画素に対して時間的に
後に潜像形成がなされるイオン放出孔nに対応する画素
に対しての補正の場合を示している。すなわち、イオン
放出孔n−1の対応画素およびイオン放出孔n+1の対
応画素について、それぞれの階調値と特定の一定値を比
較回路202で比較する。
【0034】ここで画像データの階調信号が大きい領域
で、これらの平均が一定値より大きければ補正回路20
3によりイオン放出孔n対応の画像データを書き換えて
階調信号を一定量増加させるようにする。一方、画像デ
ータの階調信号が小さい領域では、イオン放出孔n−1
の対応画素およびイオン放出孔n+1の対応画素につい
て、それぞれの階調値は特定の一定値より小さいので、
補正回路203での補正は行われない。
【0035】そして、イオン干渉補正回路200で補正
されたデータは、ディスキュウ用ラインバッファ109
aを介してディスキュウ回路109に与えられ、マトリ
クス状のイオンヘッド1の構造に合わせたデータに変換
される。ここでは、ラインバッファ109aとしてイオ
ンヘッド1のマトリクス構造のためライン電極数分のラ
スタのバッファが必要となるが、実際のヘッドライン間
は3ドットあるため、その3倍の48ラスタライン分の
バッファが用意されている。
【0036】ディスキュウ変換回路109で変換された
データは、イオンヘッド1のマトリクス構造に一致する
ように並べ変えられ、階調画像データおよびフィンガタ
イミング信号としてイオンヘッドドライバ102のフィ
ンガドライバ104のフィンガパルス電圧変調回路10
6に転送される。フィンガパルス電圧変調回路106で
は、画像データの階調信号に応じたフィンガ電圧をイオ
ンヘッド1のフィンガ電極3に出力する。
【0037】また、ディスキュウ回路109では、ライ
ンタイミング信号が生成され、イオンヘッドドライバ1
02のラインドライバ103に転送され、所定タイミン
グでライン電圧がイオンヘッド1のライン電極2に出力
される。また、ディスキュウ回路109のラインタイミ
ング信号が、ヘッドムラ補正回路107に与えられ、ラ
イン電極2の動作と同期して個々のイオン放出孔9のば
らつきを補正するヘッドムラ補正データがフィンガパル
ス幅変調回路105に与えられ、フィンガ電極印加電圧
のパルス幅が変調される。
【0038】このようにして生成されたフィンガ電圧と
ライン電圧がイオンヘッド1に与えられることで、より
階調のある静電潜像が形成される。従って、このような
第1実施例によれば、画像データの階調信号が大きい領
域で、イオン放出孔n−1の対応画素およびイオン放出
孔n+1の対応画素について、それぞれの階調値が特定
の一定値より大きければ補正回路203によりイオン放
出孔n対応の画像データを書き換えて階調信号を一定量
増加させるようにしているので、このようにして補正さ
れた画像信号による静電潜像は、図3に示すようにその
前後の潜像a、bと対等の電位を維持できるようにな
り、図15(b)に示したような不均一を生じない。
【0039】一方、画像データの階調信号が小さい領域
で、イオン放出孔n−1の対応画素およびイオン放出孔
n+1の対応画素について、それぞれの階調値は特定の
一定値より小さければ、補正回路203での補正は行わ
れず、そのままの画像データにより潜像が形成されるよ
うになるので、図15(a)と同様な静電潜像が得ら
れ、均一な画像が得られることになる。
【0040】なお、第1実施例では、補正する場合に、
階調値を一定量増加したが、より精度をあげるため一定
割合増加することも可能であり、また、比較する前後2
画素の平均が一定値より大きい場合に一定量増加させる
ようにしたが、どちらか一方が一定値より大きい場合に
一定量増加させるようにしてもよい。さらに、第1実施
例では、実際装置の印画速度に鑑み、電気回路によるブ
ロック図で説明してきたが、イオン干渉補正回路は同じ
アルゴリズムによるソフトウエアにより実現することも
可能であり、また、ライン電極とフィンガ電極のマトリ
クス構造のイオンヘッドでの例を示したが、他のマトリ
クス構造を有する静電記録ヘッドにおいても同等な効果
が期待できる。 (第2実施例)図4は、第2実施例の概略構成を示すも
ので、図1と同一部分には同符号を付している。この場
合、γ補正回路110とディスキュウ回路109のライ
ンバッファ109aの間に主走査方向の2ラインのイオ
ン干渉補正用ラインバッファ200b1、200b2を
有するイオン干渉補正回路200を接続している。
【0041】イオン干渉補正用ラインバッファ200b
1、200b2は、図5に示すように、mラインに対応
するイオン干渉補正用2ラインバッファ200b1に
は、図2で述べた比較回路202、補正回路203を有
するイオン干渉補正回路201を接続し、m−1の前ラ
インに対応するイオン干渉補正用2ラインバッファ20
0b2には、画像データの階調値を比較する比較回路2
02b、その出力に基づき補正を行う補正回路203b
を有するイオン干渉補正回路201bを設けている。
【0042】その他は、図1と同様である。しかして、
γ補正回路110を経た1走査ラインの画像データ(m
ライン目)は、イオン干渉補正用ラインバッファ200
b1に格納され、これより1走査ライン前の画像データ
(m−1ライン目)は先行のイオン干渉補正用ラインバ
ッファ200b2に格納される。
【0043】そして、まず、イオン放出孔nに対応する
先行のイオン干渉補正用ラインバッファ200b2の画
素の階調値が比較回路202bにおいて特定の一定値と
比較され、その一定値より大きいと補正回路203bに
おいて、後行の対応するイオン放出孔nに対応する画像
データが一定量増加された値に書き換えられる。
【0044】次に、この書き換えられた値に対して、第
1実施例で述べたように対象画素の主走査ライン上で前
後にあるn−1番目とn+1番目の画素の階調値によ
り、n番目の画素の階調値がさらに書き換えられる。
【0045】そして、このようにして補正された1走査
ラインの画像データがディスキュウ回路109へ転送さ
れる。また、これと同時に、後行のイオン干渉補正用ラ
インバッファ200b1の値は、先行のイオン干渉補正
用ラインバッファ200b2に転送されて、次の1走査
ラインの補正のための履歴データとして保持され、以下
全画像の潜像形成終了まで同様な動作が繰り返される。
【0046】従って、このようにして補正された画像信
号による静電潜像は、副走査方向において図6に示すよ
うに1走査ライン前に形成された潜像に対して対等の電
荷を維持することができ、上述した図16(b)のよう
な不均一を生じない。また画像データの階調信号が小さ
い領域では、補正回路203bにより、補正操作が行わ
れず、そのままの画像データにより、潜像が形成される
ので図16(a)と同様な静電潜像がえられ、均一な画
像が得られる。
【0047】なお、第2実施例では、補正する階調値を
一定量増加したが、より精度をあげるため一定割合増加
することも同等に可能である。また、第2実施例でも、
実際装置の印画速度に鑑み、電気回路によるハードウエ
アで説明してきたが、イオン干渉補正回路は同じアルゴ
リズムによるソフトウエアにより、実現することも可能
であり、また、ライン電極とフィンガ電極のマトリクス
構造のイオンヘッドにての例を示したが、他のマトリク
ス構造を有する静電記録ヘッドにおいても同等な効果が
えられる。 (第3実施例)図7は、第3実施例の概略構成を示すも
ので、図5と同一部分には同符号を付している。この場
合、全体構成は第2実施例と同様であり、イオン干渉補
正用ラインバッファ200b1、200b2は、m−1
の前ラインに対応するイオン干渉補正用ラインバッファ
200b2の特定のイオン放出孔nの対応画素、この画
素の前後のイオン放出孔n−1、イオン放出孔n+1の
対応画素の3画素と、mラインに対応するイオン干渉補
正用ラインバッファ200b1の前記特定のイオン放出
孔nに対応する画素前後に位置する2画素の合計5画素
について、それぞれの階調値と特定の一定値を比較する
比較回路202c、その出力に基づき補正を行う補正回
路203cを有するイオン干渉補正回路201cを設け
ている。
【0048】しかして、この場合も、γ補正回路110
を経た1走査ラインの画像データ(mライン目)は、イ
オン干渉補正用ラインバッファ200b1に格納され、
これより1走査ライン前の画像データ(m−1ライン
目)は先行のイオン干渉補正用ラインバッファ200b
2に格納される。
【0049】そして、先行のイオン干渉補正用ラインバ
ッファ200b2のイオン放出孔nに対応する画素、こ
のイオン放出孔nの対応画素の前後の2画素および後行
のイオン干渉補正用ラインバッファ200b1の前記イ
オン放出孔nに対応する画素の前後の2画素のそれぞれ
の階調値が比較回路202cにおいて特定の一定値と比
較され、5画素の階調値の平均が、その一定値より大き
いと補正回路203cにおいて、後行の対応するイオン
放出孔nに対応する画素の階調値を一定量増加した値に
書き換える。
【0050】そして、このようにして補正された1走査
ラインの画像データがディスキュウ回路109へ転送さ
れる。また、これと同時に、後行のイオン干渉補正用ラ
インバッファ200b1の値は、先行のイオン干渉補正
用ラインバッファ200b2に転送されて、次の1走査
ラインの補正のための履歴データとして保持され、以下
全画像の潜像形成終了まで同様な動作が繰り返される。
【0051】従って、このようにして補正された画像信
号による静電潜像は、副走査方向において図6に示すよ
うに1走査ライン前に形成された潜像に対して対等の電
荷を維持することができ、上述した図16(b)のよう
な不均一を生じない。また、走査方向に関しても、図3
に示すような補正がなされ、主走査方向前後にある画素
の潜像と対等の電荷を維持することができる。さらに画
像データの階調信号が小さい領域では、補正回路203
bにより、補正操作が行われず、そのままの画像データ
により、潜像が形成されるので図16(a)と同様な静
電潜像がえられ、均一な画像が得られる。
【0052】なお、第3実施例では比較する5画素の平
均を特定の一定値と比較したが、平均限定されるもので
はなく、一部の画素の比重を高めた平均をとるなど広く
適用が可能であり、また、補正する階調値を一定量増加
したが、より精度をあげるため一定割合増加することも
同様に可能である。
【0053】さらに第3実施例でも実際の装置の印画速
度に鑑み、電気回路によるハードウエアで説明してきた
が、イオン干渉補正回路は同じアルゴリズムによるソフ
トウェアにより実現することも可能であり、さらに、ラ
イン電極とフィンガ電極のマトリクス構造のイオンヘッ
ドにての例を示したが、他のマトリクス構造を有する静
電記録ヘッドにおいても同等な効果がえられる。
【0054】また、本発明は、例えば下記のように構成
することも好ましい。 (1)帯電粒子発生源からの帯電粒子放出量を階調画像
信号に応じて制御し、記録媒体上に静電潜像を形成する
静電潜像形成手段を有する階調画像静電記録装置におい
て、前記静電潜像形成手段により形成される静電潜像の
特定画素の近傍で前記特定画素より先に静電潜像が形成
される画素の階調値の大きさに応じて前記特定画素の階
調値を補正する階調補正手段とを有している。
【0055】このようにすれば、潜像が形成される時間
的差異に関係しない均一画像が得られる。 (2)上記(1)記載の階調画像静電記録装置におい
て、前記特定画素とその近傍で前記特定画素より先に静
電潜像が形成される画素は、主走査方向の同一ライン上
に位置する。
【0056】このようにすれば、主走査方向の1ライン
に、特定画素とその近傍の前記特定画素より先に静電潜
像が形成される画素が位置され、これら先に静電潜像が
形成される画素の階調値により、特定画素の階調値を補
正するようになるので、この場合、主走査方向に潜像が
形成される時間的差異に関係することなく均一な画像が
得られる。
【0057】(3)上記(1)記載の階調画像静電記録
装置において、前記特定画素の近傍の画素は、主走査方
向の同一ライン上の前記特定画素の前後に位置する。こ
のようにすれば、特定画素の近傍の画素は、主走査方向
の同一ライン上の特定画素の前後に位置するようになる
ので、この場合も、主走査方向に潜像が形成される時間
的差異に関係しない均一な画像が得られる。
【0058】(4)上記(1)記載の階調画像静電記録
装置において、特定画素とその近傍の画素は副走査方向
に同じライン上にあることを特徴としている。このよう
にすれば、特定画素の副走査方向の同一ライン上で、特
定画素より先に静電潜像が形成される画素の階調値を特
定値と比較し、その比較出力に応じて後に静電潜像が形
成される特定画素の階調値を変化させるようになり、副
走査方向に潜像が形成される時間的差異に関係なく、低
濃度から高濃度まで均一な画像が得られる。
【0059】(5)上記(1)記載の階調画像静電記録
装置において、特定画素の近傍の画素は副走査方向に直
前の1画素である。このようにしても(4)と同様な効
果が期待できる。
【0060】(6)上記(1)記載の階調画像静電記録
装置において、特定画素に対してその近傍の画素は、主
走査方向の同一ラインと副走査方向に直前の主走査方向
のライン上にある。
【0061】このように、特定画素の主走査方向の同じ
ライン上の画素と、特定画素の副走査方向に直前の主走
査方向のライン上の画素の階調値を特定値と比較し、そ
の比較出力に応じて特定画素の階調値を補正することに
よって、より精密な補正が可能になる。
【0062】(7)上記(1)記載の階調画像静電記録
装置において、特定画素に対しその近傍の画素は、特定
画素の主走査方向の同一ライン上の前後の2画素と、特
定画素の副走査方向に直前の1画素とその主走査方向と
同一ラインの前後の2画素とによる、総計5画素であ
る。
【0063】このようにしても、特定画素の主走査方向
の同じライン上の前後の2画素と、特定画素の副走査方
向に直前の1画素とその直前の主走査方向に同じライン
の前後の2画素による、総計5画素の階調値を特定値と
比較し、その比較出力に応じて特定画素の階調値を補正
することで、(6)と同様な効果が期待できる。
【0064】(8)上記(1)〜(7)のいずれか1つ
に記載の階調画像静電記録装置において、前記階調補正
手段は、特定画素の近傍で、先に静電潜像が形成される
画素の階調値を所定の値と比較する比較手段と、この比
較手段の出力に応じて、後に静電潜像が形成される特定
画素の階調値を所定の値だけ増加させる補正手段を有し
ている。
【0065】このようにすれば、特定画素の近傍で、先
に静電潜像が形成される画素の階調値と一定値との比較
結果により、後に静電潜像が形成される特定画素の階調
値を一定量増加することができ、潜像が形成される時間
的差異に関係なく、低濃度から高濃度まで均一な画像が
得られる。
【0066】(9)上記(1)〜(7)のいずれか1つ
に記載の階調画像静電記録装置において、前記階調補正
手段は、特定画素の近傍で、先に静電潜像が形成される
画素の階調値を所定の値と比較する比較手段と、この比
較手段の比較結果に応じて、後に静電潜像が形成される
特定画素の階調値を一定割合増加させる補正手段を有し
ている。
【0067】このようにすれば、特定画素の近傍で、先
に静電潜像が形成される画素の階調値と一定値の比較結
果により、後に静電潜像が形成される特定画素の階調値
を一定割合増加させるようにでき、潜像が形成される時
間的差異に関係なく、低濃度から高濃度まで均一な画像
が得られる。
【0068】
【発明の効果】本発明によれば、特定画素の近傍で、こ
の特定画素より先に静電潜像が形成される画素の階調値
により、特定画素の階調値を補正するようになるので、
潜像が形成される時間的差異に関係なく、低濃度から高
濃度まで均一画像が得られる。
【0069】また、本発明によれば、主走査方向の1ラ
イン上に、特定画素とその近傍の前記特定画素より先に
静電潜像が形成される画素が位置され、これら先に静電
潜像が形成される画素の階調値により、特定画素の階調
値を補正するようになるので、主走査方向に潜像が形成
される時間的差異に関係することなく、低濃度から高濃
度までも均一な画像が得られる。
【0070】また、本発明によれば、特定画素の近傍の
画素は、主走査方向の同一ライン上の特定画素の前後に
位置するようになるので、この場合も、主走査方向に潜
像が形成される時間的差異に関係することなく、低濃度
から高濃度まで均一な画像が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例の概略構成を示す図。
【図2】第1実施例に用いられるイオン干渉補正回路の
概略構成を示す図。
【図3】第1実施例による画像潜像の形成を説明するた
めの図。
【図4】本発明の第2実施例の概略構成を示す図。
【図5】第2実施例に用いられるイオン干渉補正回路の
概略構成を示す図。
【図6】第2実施例による画像潜像の形成を説明するた
めの図。
【図7】本発明の第3実施例の概略構成を示す図。
【図8】従来の階調画像静電記録装置に用いられるイオ
ンヘッドの一部を切り欠いた概略構成図。
【図9】従来の階調画像静電記録装置に用いられるイオ
ンヘッドの電極構成を示す模式図。
【図10】従来の階調画像静電記録装置に用いられるイ
オンヘッドの概略構成図。
【図11】従来の階調画像静電記録装置を示す概略構成
図。
【図12】従来の階調画像静電記録装置に用いられるイ
オンヘッドの駆動タイミングチャート。
【図13】従来の階調画像静電記録装置を示すブロック
図。
【図14】従来の階調画像静電記録装置に用いられるイ
オンヘッドによる1走査ラインの印画順序を説明するた
めの図。
【図15】従来の階調画像静電記録装置に用いられるイ
オンヘッドによる画像潜像の形成を説明するための図。
【図16】従来の階調画像静電記録装置に用いられるイ
オンヘッドによる画像潜像の形成を説明するための図。
【符号の説明】
1…イオンヘッド、102…イオンヘッドドライバ、1
03…ラインドライバ、104…フィンガドライバ、1
05…フィンガパルス幅変調回路、106…フィンガパ
ルス電圧変調回路、107…ヘッドムラ補正回路、10
8…ヘッドムラ補正テーブル、109…ディスキュウ回
路、109a…ディスキュウ用ラインバッファ、110
…γ補正回路、111…γ補正テーブル、112…YM
C変換回路、113…ラスタデータインターフェイス回
路、200…イオン干渉補正回路、200a…イオン干
渉補正用1ラインバッファ、201、201b、201
c…イオン補正演算回路、202、202b、202c
…比較回路、203、203b、203c…補正回路。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 帯電粒子発生源からの帯電粒子放出量を
    階調画像信号に応じて制御し、記録媒体上に静電潜像を
    形成する静電潜像形成手段を有する階調画像静電記録装
    置において、 前記静電潜像形成手段により形成される静電潜像の特定
    画素の近傍で前記特定画素より先に静電潜像が形成され
    る画素の階調値の大きさに応じて前記特定画素の階調値
    を補正する階調補正手段とを有することを特徴とする階
    調画像静電記録装置。
  2. 【請求項2】 前記特定画素とその近傍で前記特定画素
    より先に静電潜像が形成される画素は、主走査方向の同
    一ライン上に位置することを特徴とする請求項1記載の
    階調画像静電記録装置。
  3. 【請求項3】 前記特定画素の近傍の画素は、主走査方
    向の同一ライン上の前記特定画素の前後に位置すること
    を特徴とする請求項1記載の階調画像静電記録装置。
JP6059337A 1994-03-29 1994-03-29 階調画像静電記録装置 Withdrawn JPH07273960A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009251160A (ja) * 2008-04-03 2009-10-29 Kobayashi Create Co Ltd カラーフィルタの製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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