JPH07256618A - セラミックハニカム押出成形用口金の再生方法 - Google Patents

セラミックハニカム押出成形用口金の再生方法

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JPH07256618A
JPH07256618A JP5543194A JP5543194A JPH07256618A JP H07256618 A JPH07256618 A JP H07256618A JP 5543194 A JP5543194 A JP 5543194A JP 5543194 A JP5543194 A JP 5543194A JP H07256618 A JPH07256618 A JP H07256618A
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健治 中野
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    • B28BSHAPING CLAY OR OTHER CERAMIC COMPOSITIONS; SHAPING SLAG; SHAPING MIXTURES CONTAINING CEMENTITIOUS MATERIAL, e.g. PLASTER
    • B28B3/00Producing shaped articles from the material by using presses; Presses specially adapted therefor
    • B28B3/20Producing shaped articles from the material by using presses; Presses specially adapted therefor wherein the material is extruded
    • B28B3/26Extrusion dies
    • B28B3/269For multi-channeled structures, e.g. honeycomb structures
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
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Abstract

(57)【要約】 【目的】再生したCVD口金を使用してセラミックハニ
カムを押出しても、外周壁に荒れの発生のないセラミッ
クハニカムを得ることができるセラミックハニカム押出
成形用口金の再生方法を提供する。 【構成】成形溝とこの成形溝へそれぞれ連通された複数
のセラミック坏土供給孔とを有する口金部材の表面に、
化学蒸着法によって耐摩耗被覆層を設けてなるセラミッ
クハニカム押出成形用口金1の再生方法において、摩耗
の少ない口金1の外周部にマスク2、3を施した状態
で、化学蒸着法により耐摩耗被覆層を形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、成形溝とこの成形溝へ
それぞれ連通された複数のセラミック坏土供給孔とを有
する口金部材の表面に、化学蒸着法によって耐摩耗被覆
層を設けてなるセラミックハニカム押出成形用口金の再
生方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来から、成形溝とこの成形溝へそれぞ
れ連通された複数のセラミック坏土供給孔とを有する口
金部材の表面に、化学蒸着法によって耐摩耗被覆層を設
けることにより、成形溝の幅を決定するセラミックハニ
カム押出成形用の口金、いわゆるCVD口金は種々のも
のが知られている。これらのCVD口金は、通常、最終
的な溝幅よりも大きな溝幅を有する成形溝と、この成形
溝へそれぞれ連通された複数のセラミック坏土供給孔と
を有する口金部材を作製し、得られた口金部材をCVD
装置内にセットして化学蒸着法によって口金部材の表面
に耐摩耗被覆層を形成し、これにより成形溝の幅を最終
的な成形溝の幅としている。
【0003】上述したCVD口金の製造方法として、本
出願人は、特開平3−281306号公報において、口
金部材2枚を同時に処理する技術を提案するとともに、
特開平5−269719号公報において、化学蒸着法に
用いるガスの流れを規制しながら口金部材を複数枚同時
に化学蒸着処理する技術を開示している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述した口金部材で
は、セラミック坏土の押出を続けると、徐々に耐摩耗被
覆層が摩耗して、初期の成形溝幅を維持することができ
なくなり、耐摩耗被覆層の摩耗量が一定の値よりも大き
くなった場合には寿命となる。その場合はCVD口金の
使用ができなくなるが、CVD口金は高価なものである
ため、通常は成形溝幅を初期の幅にするための再生を行
っている。すなわち、耐摩耗被覆層上に再度化学蒸着法
によるコーティングを行うことにより耐目網被覆層を形
成し、初期の成形溝幅としている。
【0005】しかしながら、セラミックハニカムを押出
成形するためのCVD口金の坏土押出による摩耗は、そ
の中心部と外周部とで異なっている。すなわち、CVD
口金の中心部はすべてセラミックハニカムのセル壁を形
成するのに使用されるため均一に坏土が流通し、耐摩耗
被覆層の摩耗量は一定であるが、外周部の数セルの幅に
対応する成形溝の部分は、セラミックハニカムの外周壁
を形成するのに使用されるため、中心部と比較して耐摩
耗被覆層の摩耗量は極端に少なくなる。
【0006】図4は口金の成形溝の状態を示す図であ
る、図4(a)は口金の断面を示し、図4(b)は図4
(a)のA−A’断面における成形溝の位置を成形溝幅
との関係を示すグラフである。図4に従って説明する
と、まず11が化学蒸着を行う前の基準となる口金部材
を示している。このとき、中心部の成形溝幅は200μ
m であり、外周部の成形溝幅も200μm である。次
に、12に示すように、化学蒸着法によって厚さ10μ
m の耐摩耗被覆層を設けて最初のCVD口金を得る。こ
のとき、中心部の成形溝幅は180μm であり、外周部
の成形溝幅も180μm である。
【0007】その後、寿命に達したCVD口金の成形溝
幅を13に示す。このとき、中心部の成形溝幅は190
μm であり、外周部の中心部近傍の一部も190μm で
あり、均一に摩耗しているが、外周部の最外周は摩耗せ
ず180μm のままとなっている。そのため、再生のた
め化学蒸着法により7.5μm の厚さの耐摩耗被覆層を
形成すると、14に示すように、中心部は180μm と
なり、外周部の中心部近傍の一部も180μm となり再
生できるが、外周部の最外周は165μm となり初期の
成形溝幅よりも狭くなってしまう。
【0008】そのため、このように中心部と外周部とで
摩耗量の異なる寿命に達したCVD口金を再生するため
に、そのままCVD装置にセットして中心部の摩耗量を
基準にして化学蒸着法により一様な厚さに耐摩耗被覆層
を形成すると、外周部の成形溝は初期の成形溝幅と比較
して極端に狭くなる問題があった。その結果、このよう
にして再生したCVD口金を使用してセラミックハニカ
ムの押出を再開すると、外周壁に荒れが発生する不良が
生じる問題があった。
【0009】本発明の目的は上述した課題を解消して、
再生したCVD口金を使用してセラミックハニカムを押
出しても、外周壁に荒れの発生のないセラミックハニカ
ムを得ることができるセラミックハニカム押出成形用口
金の再生方法を提供しようとするものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明のセラミックハニ
カム押出成形用口金の再生方法は、成形溝とこの成形溝
へそれぞれ連通された複数のセラミック坏土供給孔とを
有する口金部材の表面に、化学蒸着法によって耐摩耗被
覆層を設けてなるセラミックハニカム押出成形用口金の
再生方法において、摩耗の少ない口金の外周部にマスク
を施した状態で、化学蒸着法により耐摩耗被覆層を形成
することを特徴とするものである。
【0011】
【作用】上述した構成において、マスクを摩耗の少ない
口金の外周部に設けることで、CVD装置で中心部の摩
耗量を基準として一様の厚さに耐摩耗被覆層を形成して
再生しても、外周部の耐摩耗被覆層上には再生時にほと
んど耐摩耗被覆層が形成されず、中心部も外周部もほぼ
均一の成形溝幅を有するCVD口金を再生することがで
きる。その結果、本発明に従って再生したCVD口金を
使用して押出を再開しても、セラミックハニカムの外周
壁に異常は発生しない。
【0012】
【実施例】図1は本発明のセラミックハニカム押出成形
用口金の再生方法を実施する状態の一例を示す図であ
る。図1に示す例において、1は寿命に達した再生する
ための口金、2は口金1の成形溝側にセットしたマス
ク、3は口金1の坏土供給孔側にセットしたマスクであ
る。このように、口金1の外周部の部分をマスク2、3
でマスキングした状態で、化学蒸着装置内でガスを流す
ことにより、耐摩耗被覆層を形成して口金1の再生を行
っている。なお、化学蒸着法については、従来から知ら
れているどのような方法でも利用することができ、例え
ば本出願人による特開平3−281306号公報や特開
平5−269719号公報に示した製造方法を好適に利
用することができる。
【0013】ここで重要なのは、マスク2、3の端部2
a、3aの口金1に対する位置である。通常、摩耗の少
ない部分、すなわち図4(b)に示した例において、寿
命がきても摩耗しない最外周の部分に対応して設ければ
本発明の目的は達成できるが、実際の化学蒸着法ではマ
スク2、3の存在する部分でも端部2a,3aの近傍に
は耐摩耗被覆層が若干形成されるため、端部2a、3a
が摩耗しない最外周部よりも若干内側にまで存在するよ
う位置決めすることが好ましい。
【0014】また、端部2a、3aの形状についても、
図1に示す例では口金1に対して垂直に立ち上げたが、
端部2a、3aは斜めのテーパ形状に形成する等他の形
状でもかまわないことはいうまでもない。さらに、図1
に示す例では、端部2a、3aの形状を同じ形状とした
が、ガスの流れ方向に対し上流側の端部3aをテーパ形
状とし、下流側の端部2aを図1に示すように口金1に
対して垂直に立ち上げた形状とすることもできる。
【0015】図2は本発明の再生方法で使用するマスク
2(3)の他の例の構成を示す図である。図2におい
て、図2(a)は正面図を、図2(b)平面図を、図2
(c)は側面図をそれぞれ示している。図2に示す例で
は、マスク2(3)をグラファイトの薄板をL字形状に
することにより形成し、端部2a(3a)とその外周の
2b,3bの部分までを斜めのテーパ形状としている。
本例では、マスク2(3)のL字形状に垂直に立ち上が
った部分2c(3c)を口金に対する位置決めに使用す
ることができる。
【0016】通常、再生後の口金に実際にセラミック坏
土を通過させて押出を行い、押出されたセラミックハニ
カムの外周壁の状態が荒れがなくなるまでセラミック坏
土を通過させることにより、再生した口金の最終的な調
整を行っている。そこで、再生後の成形溝の均一性を、
最終的な調整字に口金を通過したセラミック坏土の押出
距離で判断するため、本発明に従ってマスクA、マスク
Bを使用して再生した口金と、マスクを使用しないで再
生した口金とに対し、上記セラミック坏土の押出距離を
求めた。結果を図3に示す。
【0017】図3の結果から、本発明に従ったマスク
A、マスクBを使用して再生した口金は、マスクを使用
しないで再生した口金と比較して、最終調整に必要とな
るセラミック坏土を少なくすることができ、その結果か
ら本発明に従って再生した口金の方が均一な成形溝を得
ることができ、従来例に比べて外周壁の荒れをなくすこ
とができることがわかる。
【0018】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、マスクを摩耗の少ない口金の外周部に設けて
いるため、CVD装置で中心部の摩耗量を基準として一
様の厚さに耐摩耗被覆層を形成して再生しても、外周部
の耐摩耗被覆層上には再生時にほとんど耐摩耗被覆層が
形成されず、中心部も外周部もほぼ均一の成形溝幅を有
するCVD口金を再生することができる。その結果、本
発明に従って再生したCVD口金を使用して押出を再開
しても、セラミックハニカムの外周壁に異常は発生しな
い。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のセラミックハニカム押出成形用口金の
再生方法を実施する状態の一例を示す図である。
【図2】本発明の再生方法に使用するマスクの他の例の
構成を示す図である。
【図3】再生後の成形溝の均一性を比較するためのグラ
フである。
【図4】従来の問題点を説明するための図である。
【符号の説明】
1 口金、2、3 マスク、2a、3a 端部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】成形溝とこの成形溝へそれぞれ連通された
    複数のセラミック坏土供給孔とを有する口金部材の表面
    に、化学蒸着法によって耐摩耗被覆層を設けてなるセラ
    ミックハニカム押出成形用口金の再生方法において、摩
    耗の少ない口金の外周部にマスクを施した状態で、化学
    蒸着法により耐摩耗被覆層を形成することを特徴とする
    セラミックハニカム押出成形用口金の再生方法。
  2. 【請求項2】前記マスクの材料がグラファイトである請
    求項1記載のセラミックハニカム押出成形用口金の再生
    方法。
JP6055431A 1994-03-25 1994-03-25 セラミックハニカム押出成形用口金の再生方法 Expired - Lifetime JP2693716B2 (ja)

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EP0674018B1 (en) 1999-06-16
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