JPH07209385A - Semiconductor circuit device - Google Patents

Semiconductor circuit device

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Publication number
JPH07209385A
JPH07209385A JP745894A JP745894A JPH07209385A JP H07209385 A JPH07209385 A JP H07209385A JP 745894 A JP745894 A JP 745894A JP 745894 A JP745894 A JP 745894A JP H07209385 A JPH07209385 A JP H07209385A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
output
converter
internal logic
logic circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP745894A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Naoyuki Kurihara
直之 栗原
Original Assignee
Matsushita Electron Corp
松下電子工業株式会社
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electron Corp, 松下電子工業株式会社 filed Critical Matsushita Electron Corp
Priority to JP745894A priority Critical patent/JPH07209385A/en
Publication of JPH07209385A publication Critical patent/JPH07209385A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To inspect an inside logic circuit of semiconductor circuit device incorporating a D/A converter with a few terminal numbers by using an inexpensive tester. CONSTITUTION:An output value of an inside logic circuit 13 is compared with an expected output value in a semiconductor circuit device 11 incorporating a D/A converter 12, a comparison circuit 14 for outputting its comparison result as binary data is incorporated, the output of the inside logic circuit 13 and the other output of the comparison circuit 14 are selected, a selector 16 for supplying to the D/A converter 12 is provided and judgement of quality of the inside logic circuit 13 is performed with the output terminal 18 of the D/A converter 12.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、D/A変換器(デジ
タル・アナログ変換器)内蔵の半導体回路装置におい
て、内部ロジック回路の検査回路を備えた半導体回路装
置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor circuit device with a built-in D / A converter (digital / analog converter) and a semiconductor circuit device provided with an inspection circuit for an internal logic circuit.
【0002】[0002]
【従来の技術】図4は従来のD/A変換器を内蔵した半
導体回路装置のブロック図を示す。図4において、1は
半導体回路装置、2は半導体回路装置1に内蔵されてい
るD/A変換器、3は半導体回路装置1に内蔵されてい
る内部ロジック回路、4は内部ロジック回路3を検査す
るためのテスト回路、5はテスト回路4を制御する制御
信号入力端子、6はテスト回路4からの外部出力端子、
7はD/A変換器2からのアナログ信号の外部出力端子
である。
2. Description of the Related Art FIG. 4 is a block diagram of a semiconductor circuit device incorporating a conventional D / A converter. In FIG. 4, reference numeral 1 is a semiconductor circuit device, 2 is a D / A converter incorporated in the semiconductor circuit device 1, 3 is an internal logic circuit incorporated in the semiconductor circuit device 1, and 4 is an internal logic circuit 3. Test circuit for controlling, 5 is a control signal input terminal for controlling the test circuit 4, 6 is an external output terminal from the test circuit 4,
Reference numeral 7 is an external output terminal for an analog signal from the D / A converter 2.
【0003】以上のように構成された半導体回路装置1
の内部ロジック回路3の検査方法について、図4を用い
て説明する。まず、制御信号入力端子5よりテスト回路
4に信号を入力することにより、内部ロジック回路3の
出力値をテスト回路4を通り、外部出力端子6に出力す
るように設定する。外部出力端子6に出力された値を検
証することにより内部ロジック回路3の良否が判定され
る。
The semiconductor circuit device 1 configured as described above
A method of inspecting the internal logic circuit 3 will be described with reference to FIG. First, by inputting a signal from the control signal input terminal 5 to the test circuit 4, the output value of the internal logic circuit 3 is set to pass through the test circuit 4 and be output to the external output terminal 6. The quality of the internal logic circuit 3 is determined by verifying the value output to the external output terminal 6.
【0004】なお、通常動作時は、内部ロジック回路3
の出力値がテスト回路4を通ってD/A変換器2へ送ら
れて、内部ロジック回路3の出力値に対応したアナログ
信号が外部出力端子7より出力される。
During normal operation, the internal logic circuit 3
Is sent to the D / A converter 2 through the test circuit 4, and an analog signal corresponding to the output value of the internal logic circuit 3 is output from the external output terminal 7.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の検査方法では、D/A変換器2が8ビットのとき外
部出力端子6は8本必要となり、パーケージの種類や回
路規模などにより端子数が足りないという問題があっ
た。また、このようなテスト回路4を用いないで内部ロ
ジック回路3の検証を直接D/A変換器2を用いてアナ
ログ出力で行うと、端子数はD/A変換器のアナログ信
号の外部出力端子7のみでよいが、高価な検査装置を使
用しなければならない。
However, in the above-described conventional inspection method, when the D / A converter 2 has 8 bits, eight external output terminals 6 are required, and the number of terminals depends on the type of package and the circuit scale. There was a shortage. Further, if the internal logic circuit 3 is directly verified by analog output using the D / A converter 2 without using the test circuit 4, the number of terminals is the external output terminal of the analog signal of the D / A converter. Only 7, but expensive inspection equipment must be used.
【0006】この発明は上記従来の問題点を解決するも
ので、端子数を少なく、しかも安価な検査装置で、D/
A変換器内蔵の半導体回路装置に内蔵された内部ロジッ
ク回路を検査することのできる半導体回路装置を提供す
ることを目的とする。
The present invention solves the above-mentioned problems of the prior art. It is an inexpensive inspection device with a small number of terminals,
An object of the present invention is to provide a semiconductor circuit device capable of inspecting an internal logic circuit built in the semiconductor circuit device having a built-in A converter.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、この発明の半導体回路装置は、内部ロジック回路の
出力値と出力期待値とを比較し、両値の一致・不一致を
示す2値データを出力する検査用の比較回路と、内部ロ
ジック回路の出力と比較回路の出力を選択してD/A変
換回路へ入力するセレクタとを設けている。
In order to achieve this object, a semiconductor circuit device of the present invention compares an output value of an internal logic circuit with an expected output value, and outputs a binary value indicating a match / mismatch between the two values. A comparison circuit for inspection that outputs data and a selector that selects the output of the internal logic circuit and the output of the comparison circuit and inputs them to the D / A conversion circuit are provided.
【0008】[0008]
【作用】この構成によって、比較回路が内部ロジック回
路の出力値と出力期待値とを比較して、両値の一致・不
一致を示す2値データを出力するので、この2値データ
をD/A変換器を通して取り出し、そのレベルを検査装
置でしきい値と比べることにより内部ロジック回路の良
否の判定を行うことができる。このため、新たに出力端
子を設けることなく、しかも安価な検査装置で検査を行
うことが可能である。
With this configuration, the comparison circuit compares the output value of the internal logic circuit with the expected output value and outputs binary data indicating the match / mismatch of the two values. It is possible to judge the quality of the internal logic circuit by taking it out through the converter and comparing the level with a threshold value by an inspection device. Therefore, it is possible to perform an inspection with an inexpensive inspection device without newly providing an output terminal.
【0009】[0009]
【実施例】以下、この発明の一実施例について、図面を
参照しながら説明する。図1は内部ロジック回路を検査
するための構成を有したこの発明の一実施例のD/A変
換器内蔵半導体回路装置を示すブロック図である。図1
において、11は半導体回路装置、12は半導体回路装
置11に内蔵されているD/A変換器、13は半導体回
路装置11に内蔵されている内部ロジック回路、14は
半導体回路装置11に内蔵されている比較回路、15は
比較回路14の期待値入力端子、16はD/A変換器1
2に入力するデータを選択するセレクタ、17はセレク
タ16を制御する制御信号入力端子、18はD/A変換
器12の外部出力端子である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a semiconductor circuit device with a built-in D / A converter according to an embodiment of the present invention, which has a structure for inspecting an internal logic circuit. Figure 1
11 is a semiconductor circuit device, 12 is a D / A converter built in the semiconductor circuit device 11, 13 is an internal logic circuit built in the semiconductor circuit device 11, and 14 is a built-in semiconductor circuit device 11. Comparing circuit, 15 is an expected value input terminal of the comparing circuit 14, 16 is the D / A converter 1
2 is a selector for selecting data to be input to 2; 17 is a control signal input terminal for controlling the selector 16; and 18 is an external output terminal of the D / A converter 12.
【0010】以上のように構成された半導体回路装置1
1に内蔵された内部ロジック回路13の検査方法につい
て、図1を用いて説明する。まず、比較回路14の入力
端子15へ、内部ロジック回路13の出力期待値を入力
する。内部ロジック回路13の出力値も比較回路14に
入力する。比較回路14では、内部ロジック回路13の
出力値と入力端子15からの出力期待値とを比較し、比
較結果を一致または不一致を示す2値データで出力す
る。制御信号入力端子17よりセレクタ16に信号を入
力することにより、比較回路14の出力値をセレクタ1
6を通してD/A変換器12に入力する。D/A変換器
12では比較回路14の出力をD/A変換し、2値の1
ビット信号を、アナログ信号に変換して外部出力端子1
8に出力する。この結果、外部出力端子18の出力信号
レベルのハイ・ローを検出するだけの簡単な検査装置を
接続することで、内部ロジック回路13の良否の検査を
行うことができる。
The semiconductor circuit device 1 configured as described above
A method of inspecting the internal logic circuit 13 built in the No. 1 will be described with reference to FIG. First, the expected output value of the internal logic circuit 13 is input to the input terminal 15 of the comparison circuit 14. The output value of the internal logic circuit 13 is also input to the comparison circuit 14. The comparison circuit 14 compares the output value of the internal logic circuit 13 with the expected output value from the input terminal 15, and outputs the comparison result as binary data indicating a match or a mismatch. By inputting a signal from the control signal input terminal 17 to the selector 16, the output value of the comparison circuit 14 is changed to the selector 1
Input to the D / A converter 12 through 6. In the D / A converter 12, the output of the comparison circuit 14 is D / A converted, and the binary 1
External output terminal 1 by converting bit signal to analog signal
Output to 8. As a result, the quality of the internal logic circuit 13 can be inspected by connecting a simple inspection device that only detects the high / low of the output signal level of the external output terminal 18.
【0011】この検査は、ウェハの段階でも、樹脂封止
後でも、行うことができる。また、期待値入力端子1
5,制御信号入力端子17,内部ロジック回路13への
入力は外部パッドを通して行う。なお、通常動作時は、
内部ロジック回路13の出力値がセレクタ16を通って
D/A変換器12へ送られて、内部ロジック回路13の
出力値に対応したアナログ信号が外部出力端子18より
出力される。
This inspection can be performed either at the wafer stage or after resin sealing. Also, the expected value input terminal 1
5, input to the control signal input terminal 17 and the internal logic circuit 13 is performed through an external pad. In addition, during normal operation,
The output value of the internal logic circuit 13 is sent to the D / A converter 12 through the selector 16, and the analog signal corresponding to the output value of the internal logic circuit 13 is output from the external output terminal 18.
【0012】図2は、この発明の一実施例における4ビ
ットD/A変換器内蔵の半導体回路装置に内蔵される比
較回路14の回路例である。図3は、この発明の一実施
例における比較回路14のタイムチャートである。図2
において、19,20,21,22は比較回路14の内
部ロジック回路13からの出力値の入力端子、23,2
4,25,26は比較回路14の内部ロジック回路13
の出力期待値の入力端子、27は比較回路14の比較結
果出力端子である。
FIG. 2 is a circuit example of a comparison circuit 14 incorporated in a semiconductor circuit device incorporating a 4-bit D / A converter according to an embodiment of the present invention. FIG. 3 is a time chart of the comparison circuit 14 in the embodiment of the present invention. Figure 2
, 19, 20, 21 and 22 are input terminals for the output value from the internal logic circuit 13 of the comparison circuit 14, and 23 and 2
4, 25 and 26 are internal logic circuits 13 of the comparison circuit 14.
Is an input terminal of the expected output value of, and 27 is a comparison result output terminal of the comparison circuit 14.
【0013】図3において、(a)は入力端子19〜2
2の4ビット出力値(16進表示)、(b)は入力端子
23〜26の4ビット出力期待値(16進表示)、
(c)は比較回路14の比較結果出力端子27の出力値
(2進表示)であり、T1 期間では図3(a),(b)
間のデータ一致を示し、T2 期間では図3(a),
(b)間のデータ不一致を示す。
In FIG. 3, (a) shows input terminals 19-2.
2 is a 4-bit output value (hexadecimal display), (b) is a 4-bit output expected value of the input terminals 23 to 26 (hexadecimal display),
(C) is an output value of the comparison result output terminal 27 of the comparator circuit 14 (binary expression), in the period T 1 Fig 3 (a), (b)
Shows the data agreement between, in the period T 2 FIG. 3 (a),
The data inconsistency between (b) is shown.
【0014】以上のように、この実施例によれば、半導
体回路装置11内に内部ロジック回路13のデータの検
査用の比較回路14と、内部ロジック回路13の出力と
比較回路14の出力を選択してD/A変換回路12へ供
給するセレクタ16を設けることにより、新たに出力端
子を設けることなしに、D/A変換器12の外部出力端
子18のみで、しかも安価な検査装置で検査することが
実現できる。
As described above, according to this embodiment, the comparison circuit 14 for checking the data of the internal logic circuit 13 in the semiconductor circuit device 11 and the output of the internal logic circuit 13 and the output of the comparison circuit 14 are selected. By providing the selector 16 which supplies the D / A conversion circuit 12 to the D / A converter circuit 12, the external output terminal 18 of the D / A converter 12 alone is used for inspection without using an additional output terminal, and an inexpensive inspection device is used. Can be realized.
【0015】[0015]
【発明の効果】この発明によれば、D/A変換器内蔵の
半導体回路装置において、内部ロジックの検査用の比較
回路と、内部ロジック回路の出力と比較回路の出力を選
択してD/A変換回路へ供給するセレクタを設けること
により、内蔵された内部ロジック回路の検査を、新たに
出力端子を設けることなしに、D/A変換器の出力端子
のみで、しかも安価な検査装置でできる優れた半導体回
路装置を実現できる。
According to the present invention, in a semiconductor circuit device having a built-in D / A converter, a comparison circuit for inspecting the internal logic, and an output of the internal logic circuit and an output of the comparison circuit are selected to perform the D / A conversion. By providing a selector for supplying to the conversion circuit, the built-in internal logic circuit can be inspected without using a new output terminal, using only the output terminal of the D / A converter and an inexpensive inspection device. It is possible to realize a semiconductor circuit device.
【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]
【図1】この発明の一実施例におけるD/A変換器内蔵
半導体回路装置の一例を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an example of a semiconductor circuit device with a built-in D / A converter according to an embodiment of the present invention.
【図2】この発明の一実施例における比較回路の構成の
一例を示す回路図である。
FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of a configuration of a comparison circuit in an embodiment of the present invention.
【図3】この発明の一実施例における比較回路のタイム
チャートである。
FIG. 3 is a time chart of a comparison circuit according to an embodiment of the present invention.
【図4】従来のD/A変換器内蔵半導体回路装置の内部
ロジック回路の構成の一例を示すブロック図である。
FIG. 4 is a block diagram showing an example of a configuration of an internal logic circuit of a conventional semiconductor circuit device with a built-in D / A converter.
【符号の説明】[Explanation of symbols]
11 半導体回路装置 12 D/A変換器 13 内部ロジック回路 14 比較回路 15 期待値入力端子 16 セレクタ 17 制御信号入力端子 18 外部出力端子 11 semiconductor circuit device 12 D / A converter 13 internal logic circuit 14 comparison circuit 15 expected value input terminal 16 selector 17 control signal input terminal 18 external output terminal

Claims (1)

    【特許請求の範囲】[Claims]
  1. 【請求項1】 内部ロジック回路と、前記内部ロジック
    回路の出力値を出力期待値と比較し両値の一致・不一致
    を示す2値データを出力する比較回路と、前記内部ロジ
    ック回路の出力と前記比較回路の出力とを選択的に出力
    するセレクタと、このセレクタの出力をアナログ信号に
    変換するD/A変換器とを備えた半導体回路装置。
    1. An internal logic circuit, a comparison circuit for comparing an output value of the internal logic circuit with an expected output value and outputting binary data indicating a match / mismatch between the two values, an output of the internal logic circuit and the output A semiconductor circuit device comprising: a selector that selectively outputs the output of a comparison circuit; and a D / A converter that converts the output of the selector into an analog signal.
JP745894A 1994-01-27 1994-01-27 Semiconductor circuit device Pending JPH07209385A (en)

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JP745894A JPH07209385A (en) 1994-01-27 1994-01-27 Semiconductor circuit device

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