JPH07198424A - エンコーダ装置 - Google Patents

エンコーダ装置

Info

Publication number
JPH07198424A
JPH07198424A JP5353764A JP35376493A JPH07198424A JP H07198424 A JPH07198424 A JP H07198424A JP 5353764 A JP5353764 A JP 5353764A JP 35376493 A JP35376493 A JP 35376493A JP H07198424 A JPH07198424 A JP H07198424A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
diffraction grating
interference fringes
diffraction
movement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP5353764A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3199549B2 (ja
Inventor
Hideo Maeda
英男 前田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP35376493A priority Critical patent/JP3199549B2/ja
Publication of JPH07198424A publication Critical patent/JPH07198424A/ja
Priority to US08/542,377 priority patent/US5652426A/en
Priority to US08/754,798 priority patent/US5812320A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3199549B2 publication Critical patent/JP3199549B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Optical Transform (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 2つの回折格子のうちの少なくとも1つが移
動可能な構成において、光の波長が変化する場合にも、
感度を低下させることなく波長変化の影響を低減するこ
とができ、回折格子の移動に関する情報を精度良く測定
することの可能なエンコーダ装置を提供する。 【構成】 第1番目の回折格子53からのn1次光,m1
次光の第1回折光を第1番目の回折格子と僅かにピッチ
の異なる第2番目の回折格子54で回折してn2次光,
2次光の第2回折光とし、該第2番目の回折格子54
からのn2次光,m2次光の間で干渉により干渉縞を発生
させ、前記第1番目の回折格子53と第2番目の回折格
子54の少なくとも一方の回折格子の移動に伴なって移
動する干渉縞に基づいて回折格子の移動に関する情報
を、干渉縞の方向に並置した2つの受光素子7a,7b
で検出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、精密測定装置,複写機
のドラム回転制御,スキャナ,インクジェットプリンタ
等に利用されるエンコーダ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図14は西独特許公開明細書第2,31
6,248号に開示されているエンコーダ装置の構成図
である。図14を参照すると、このエンコーダ装置は、
光源101と、光源101からの光をコリメ−トするレ
ンズ102と、レンズ102からのコリメ−ト光が入射
する2つの回折格子103,104と、集光レンズ10
5と、受光素子106,107,107’とから構成さ
れている。
【0003】ここで、2つの回折格子103,104
は、一方の回折格子103が固定で、他方の回折格子1
04が矢印Rの方向に移動可能となっている(なお、以
後、回折格子103,回折格子104を、それぞれ固定
用回折格子,移動用回折格子と称す。)。また、このエ
ンコ−ダ装置では、回折格子103のピッチΛ1と回折
格子104のピッチΛ2とが互いに同じもの(Λ1
Λ2)となっている。
【0004】このような構成のエンコーダ装置では、光
源101からの光をレンズ102によりコリメ−トし、
コリメ−ト光として先ず、固定用回折格子103に、次
いで、移動用回折格子104に入射させる。コリメ−ト
光が固定用回折格子103,移動用回折格子104に入
射することにより、固定用回折格子103と移動用回折
格子104とでは、それぞれ少なくとも±1次の回折光
が発生する。また、各回折格子103,104のピッチ
Λ1,Λ2がコリメ−ト光の波長よりも十分に大きいもの
であれば、さらに高次の回折光も発生する。
【0005】図15は各回折格子103,104から発
生する回折光を説明するための図である。図15におい
て、±1次の回折光を例にとると、固定用回折格子10
3で発生する+1次光であって移動用回折格子104の
0次光(すなわち透過光)Aは、レンズ105により集
光されて受光素子107に入射する。また、固定用回折
格子103で発生する0次光(すなわち透過光)であっ
て移動用回折格子104の+1次光Bも、レンズ105
により集光されて受光素子107に入射する。この際、
移動用回折格子104が矢印Rの方向に移動するに伴な
い、移動用回折格子104で発生する0次光(透過光)
の位相は変化しないが、0次以外の回折光の位相が変化
する。すなわち、光Aの位相は変化しないが、光Bの位
相が変化し、受光素子107上において、光Aと光Bと
の干渉光の位相が変化する。
【0006】ところで、このエンコ−ダ装置では、2つ
の回折格子103,104のピッチΛ1,Λ2が同じであ
ることにより、各次数の回折光の回折角は同じであり、
従って、上記光Aと光Bとは移動用回折格子104を出
射した直後は完全に平行である。光Aと光Bとを完全に
平行な状態のまま受光素子107に入射させて干渉させ
る場合には、干渉縞間隔が大き過ぎ、所定の大きさの受
光面をもつ受光素子107上に、移動用回折格子104
の移動量を検知するのに必要な干渉縞が現われない。
【0007】このため、このエンコ−ダ装置では、集光
レンズ105を設け、移動用回折格子104を出射した
直後に平行となっている光Aと光Bを集光レンズ105
により集光させて(非平行化して)、受光素子107に
入射させることで、受光素子107上に形成される光A
と光Bとの干渉光の干渉縞の間隔を狭めている。これに
より、受光素子107として、その受光面の大きさが干
渉縞の間隔よりも小さいものを用いて、移動用回折格子
104の移動量を検知することができる。すなわち、移
動用回折格子104の移動に伴ない、受光素子107上
で干渉縞が移動すると、受光素子107で受光する光量
が正弦波状に変化するので、これに基づく受光素子10
7からの出力により移動用回折格子104の移動量を検
知することができる。具体的には、移動用回折格子10
4が1ピッチ移動すると、受光素子107からの出力
は、正弦波状に1周期変化し、この出力変化から移動用
回折格子104の移動量を検知できる。
【0008】なお、上述の例では、+1次光と0次光と
の組合せを用いたが、−1次光と0次光との組合せ(固
定用回折格子103で発生する−1次光であって移動用
回折格子104の0次光(透過光)Dと、固定用回折格
子103で発生する0次光(透過光)であって移動用回
折格子104の−1次光C)を用いる場合にも、上述し
たと同様にして受光素子107’において移動用回折格
子104の移動量を検知することができる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】この種のエンコーダ装
置に用いられる光源101としては、受光素子107の
ノイズや外光の入射などの影響を受けにくくするため、
出力の大きいものほど良いが、装置の小型化の要請上、
大型サイズのものを用いることはできない。このような
要求を満たす光源としては、半導体レ−ザ(LD)が適
している。
【0010】しかしながら、半導体レ−ザは、波長の温
度依存性が高く、温度変化により波長が変化するという
問題があり、上述した従来のエンコ−ダ装置の光源10
1に半導体レ−ザを用いると、その波長変化によって、
回折光の光路が変化し、受光素子107において移動用
回折格子104の移動量を検知することができなくなる
場合があった。すなわち、上述したエンコ−ダ装置にお
いて、2つの回折格子103,104で生じる同次数の
回折光(例えば+1次光)を用いる場合、図16に示す
ように、光源101からの光の波長が変化すると、2つ
の回折光A,Bは、回折角が変化するので、A’,B’
のように光路が変化する。この結果、回折光A’,B’
は受光素子107から外れて、受光素子7からの出力が
変化したり、さらには、集光レンズ105にさえ入射し
なくなる場合がある。また、波長変化の影響を少なくす
るため、回折角を小さくすることも考えられるが、この
場合には、回折格子103,104のピッチΛ1,Λ2
大きくする必要があり、エンコ−ダ装置の感度が低下す
るという問題が生ずる。
【0011】本発明は、2つの回折格子のうちの少なく
とも1つが移動可能な構成において、光の波長が変化す
る場合にも、感度を低下させることなく波長変化の影響
を低減することができ、回折格子の移動に関する情報を
精度良く測定することの可能なエンコーダ装置を提供す
ることを目的としている。
【0012】
【課題を解決するための手段および作用】上記目的を達
成するために、請求項1乃至請求項3記載の発明は、第
1番目の回折格子からのn1次光,m1次光の第1回折光
を第1番目の回折格子と僅かにピッチの異なる第2番目
の回折格子で回折してn2次光,m2次光の第2回折光と
し、該第2番目の回折格子からのn2次光,m2次光の間
で干渉により干渉縞を発生させ、前記第1番目の回折格
子と第2番目の回折格子の少なくとも一方の回折格子の
移動に伴なって移動する干渉縞に基づいて回折格子の移
動に関する情報を検出するようにしている。これによ
り、光の波長変化の影響を低減することができ、さら
に、集光レンズを用いずとも所定間隔の干渉縞を発生さ
せることができて回折格子の移動量等を精度良く測定す
ることができる。さらに請求項1乃至請求項3記載の発
明は、前記第1番目の回折格子と前記第2番目の回折格
子の少なくとも一方の回折格子が複数の領域に分けられ
ており、各領域で回折格子ピッチの位相が互いに相違し
ているので、回折格子のずれによる干渉縞の傾きなどに
対して、検出誤りが生ずるのを著しく低減することがで
きる。
【0013】さらに、請求項4記載の発明では、各領域
ごとに、前記干渉縞の垂直方向に配置された複数の受光
手段の組を用いて、回折格子の移動に関する情報を検出
するようになっており、複数の受光手段の組を用い、例
えば、これらの出力信号の差をとることで、バイアス成
分を除去することができ、アスペクト比の高い品質の良
い正弦波状信号を得ることができて、この信号を用いて
回折格子の移動量をより精度良く測定することができ
る。
【0014】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。
【0015】図1は本発明に係るエンコーダ装置の一実
施例の構成図である。図1を参照すると、このエンコー
ダ装置は、光源1と、光源1からの光をコリメ−トする
レンズ2と、レンズ2からのコリメ−ト光が入射する2
つの回折格子53,54と、2つの受光素子7a,7b
とを有している。
【0016】ここで、光源1には、半導体レーザやLE
D等が用いられる。また、2つの回折格子53,54
は、格子面が互いに平行となるように配置され、また、
これらのピッチΛ1,Λ2は僅かに相違したものとなって
おり、例えば、第1番目の回折格子53が固定(固定用
回折格子),第2番目の回折格子54が矢印Rの方向に
移動可能(移動用回折格子)となっている。このエンコー
ダ装置では、光源1からの光を固定用回折格子53に入
射させて、n1次光(n1は数)とm1次光(m1は整数)
の回折光(第1回折光)を発生させ、これらの第1回折
光を固定用回折格子53とピッチが僅かに異なる移動用
回折格子54に入射させて、n2次光(n2は整数),m
2次光(m2は整数)の回折光(第2回折光)を発生さ
せ、移動用回折格子54からのn2次光,m2次光との間
で干渉による干渉縞を発生させるように構成されてい
る。
【0017】図2は、図1のエンコ−ダ装置において、
1次光,m1次光に、それぞれ1次光,−1次光を用
い、また、n2次光,m2次光に、それぞれ−1次光,1
次光を用いる場合の構成例を示す図である。すなわち、
図2では、固定用回折格子53で発生する+1次光であ
って移動用回折格子54での−1次光Eと、固定用回折
格子53で発生する−1次光であって移動用回折格子5
4での+1次光Fとを用いる場合が示されている。
【0018】図2のエンコーダ装置では、先ず、光源1
からの光をレンズ2によりコリメ−トし、コリメ−ト光
として固定用回折格子53に入射させると、固定用回折
格子53からは第1回折光として、+1次光と−1次光
とが発生する。このように発生した第1回折光としての
+1次光,−1次光は移動用回折格子54に入射し、第
1回折光である+1次光に基づき移動用回折格子54か
ら発生する第2回折光のうちの−1次光Eと、第1回折
光である−1次光に基づき移動用回折格子54から発生
する第2回折光のうちの+1次光Fとの干渉光による干
渉縞をコリメート光の光断面60内に発生させるように
している。
【0019】ところで、このエンコーダ装置では、固定
用回折格子53のピッチΛ1と移動用回折格子54のピ
ッチΛ2とが僅かに異なっているので、移動用回折格子
54から上記のように発生する光Eと光Fとは平行では
なく、所定の角度を有しており、従って、集光レンズ等
を設けずとも、光断面60内の所定位置に受光素子を配
置すれば、受光素子上において光Eと光Fとの干渉光に
よる干渉縞を発生させることができる。
【0020】上記動作原理を図3を用いてより詳細に説
明する。説明を簡単にするため、コリメ−ト光が固定用
回折格子53に垂直に入射するとすると、固定用回折格
子53での回折条件は次式により表わされる。
【0021】
【数1】sinθ1=λ/Λ1
【0022】ここで、θ1,Λ1は固定用回折格子53の
回折角,ピッチであり、λは光源1からの光(コリメー
ト光)の波長である。また、移動用回折格子54での回
折条件は次式により表わされる。
【0023】
【数2】−sinθ2+sinθ1=λ/Λ2
【0024】ここで、θ2,Λ2は移動用回折格子54の
回折角,ピッチである。数1と数2とにより、移動用回
折格子54の回折角θ2について次式が導かれる。
【0025】
【数3】sinθ2=λ(1/Λ1−1/Λ2
【0026】また、光Eと光Fとのなす角度θはθ2
2倍であり、光Eと光Fとがこの角度θ(=2θ2)を
もつことにより、コリメート光の光断面60内に干渉縞
が発生する。この干渉縞のピッチΛ0と回折角θ2の関係
は次式により表わされる。
【0027】
【数4】sinθ2=λ/(2Λ0
【0028】数3と数4とを用いてΛ1,Λ2とΛ0との
関係が次式のように求められる。
【0029】
【数5】1/(2Λ0)=1/Λ1−1/Λ2
【0030】数5から、干渉縞のピッチΛ0は、固定用
回折格子53のピッチΛ1と移動用回折格子54のピッ
チΛ2とにだけ関係し、光源1からの光の波長λには全
く無関係となり、光源1に半導体レーザのような波長変
化の大きい光源が用いられる場合でも、その波長変化の
影響を受けない。
【0031】また、図4に概略として示すように、コリ
メート光の径をW0とし、光の径W0を数5の右辺と左辺
とにそれぞれ乗算すると次式が得られる。
【0032】
【数6】(W0/Λ0)/2=W0/Λ1−W0/Λ2
【0033】ここで、W0/Λ0は光径内に生じる干渉縞
の本数であり、W0/Λ1とW0/Λ2はそれぞれ固定用回
折格子53と移動用回折格子54における光径内の回折
格子本数である。すなわち、数6から次式が導かれる。
【0034】
【数7】(干渉縞の本数)/2=(固定用回折格子の本
数)−(移動用回折格子の本数)
【0035】数7により、Λ1とΛ2を適切に設定するこ
とで任意の干渉縞本数を得ることができる。例えば、高
分解能化を目指し、Λ1=0.948μmと非常に高密
度な回折格子を用いるときに、Λ0=1mmと大きくと
るためには、Λ2=0.94768μmとなり、Λ1とΛ
2の違いは約0.03%と非常に小さいものとなるが、
このようにピッチΛ1とΛ2とが僅かに異なる回折格子5
3,54を作成することは可能である。この場合、コリ
メート光の光径を2mm程度のものにすると、干渉縞が
1本あるいは2本観測されることとなる。
【0036】干渉縞は移動用回折格子54の移動に従っ
て移動するので、干渉縞のピッチに比べて受光面の大き
さが小さい受光素子で干渉光を受光すれば、図5に示す
ような正弦波状信号が得られる。図2の構成のように、
1次光と−1次光とを用いれば、回折格子54が1ピッ
チ移動するに従ってそれぞれに生じる位相差は逆方向に
発生し、正弦波信号は2周期分出力される。
【0037】このように、このコリメータ装置では、干
渉縞のピッチΛ0が光の波長と全く無関係であるので、
光源1からの光の波長が変動しても、移動量等の測定に
何ら影響を与えず、これにより、常に高精度の移動量を
安定して測定することができる。
【0038】また、このエンコーダ装置では、固定用回
折格子53のピッチΛ1と移動用回折格子54のピッチ
Λ2とを僅かに相違させることにより、集光レンズによ
って光を集光せずとも、移動用回折格子54からの光E
とFとから直接干渉縞を生じさせることができて、移動
用回折格子54の矢印Rの方向への移動に伴なう干渉縞
の移動,すなわち光Eと光Fとの干渉光の光量変化を、
集光レンズを設けない簡単な構成で得ることができて、
回折格子54の移動量の測定が可能となる。また、コリ
メート光中に大きな干渉縞を発生できるので、受光素子
をこのコリメート光内の所定の位置に配置すれば良く、
集光レンズの集光位置に配置する場合に比べて、移動量
を精度良く測定するのに必要とされる受光素子の配置,
組付け調整が容易になる。
【0039】ところで、この第1の実施例のエンコーダ
装置では、さらに、固定用回折格子53,移動用回折格
子54の少なくとも一方(例えば、いずれか一方)が、図
6(a)に示すように、2つの領域ua,ubに分けられて
いる。すなわち、各領域ua,ubは同じピッチΛ1(また
はΛ2)を有しているが、ピッチの位相が互いに異なって
いる。このようにすることによって、図6(b)に示すよ
うに、コリメータ光の光断面60内に各領域ua,ub
対応した位相の異なる2種類の干渉縞Ia,Ib(各干渉
縞Ia,IbのピッチはΛ0)を発生させることができ、こ
の干渉縞Ia,Ibの縞方向Yに2つの受光素子(例えば
フォトダイオード等)7a,7bを並べて配置し、各受
光素子7a,7bから所定の信号をそれぞれ得るように
している。
【0040】ここで、受光素子7a,7bは干渉縞の間
隔よりも小さい受光面を有している。また、2つの領域
a,ubの回折格子ピッチの位相差β1は、2π/(4|
n−m|)であるのが良い。なお、n,mは、領域が分
離されている回折格子の回折次数である。例えば、固定
用回折格子53が2つの領域に分けられているとする
と、n,mはそれぞれn1,m1である。また、移動用回
折格子54が2つの領域に分けられているとすると、
n,mはそれぞれn2,m2である。従って、図2の構成
のように、固定用回折格子53の1次光と−1次光を用
い(n1=1,m1=−1)また、移動用回折格子54の−
1次光と1次光とを用いるとした場合(n2=−1,m2
=1)において、移動用回折格子54を2つの領域に分
けるときには、回折格子ピッチの位相差β1を2π/8
に設定するのが良い。
【0041】また、移動用回折格子54の−1次光と1
次光を用いるときには、回折格子54の各領域ua,ub
の位相差β1に対して、干渉縞Ia,Ibの位相差β0は、
次式のようになる。すなわち、移動用回折格子54の−
1次光と1次光を用いる場合には、移動用回折格子54
の位相のずれに対して干渉縞の位相のずれが1−(−1)
=2倍となることから、次式が導き出される。
【0042】
【数8】β0=2β1
【0043】従って、移動用回折格子54において、各
領域Ia,Ibのピッチの位相差β1が上述のように2π
/8に設定されているときには、干渉縞Ia,Ibのピッ
チの位相差β0は、2π/4となり、各受光素子7a,
7bからは、干渉縞のピッチが1/4ずれた90°の位
相差をもつ2つの正弦波信号(すなわち、A相信号,B
相信号)をそれぞれ得ることができる。これにより、9
0゜の位相差をもつA相信号,B相信号を方向弁別信号
として回折格子の移動方向の検出に用いることができ、
また、A相信号とB相信号との差をとることで、この差
信号を実際の移動距離の測定に用いることができる。そ
して、移動距離の測定に差信号を用いることによって、
品質の良い正弦波を得ることができ、高精度に移動量を
測定することができる。すなわち、図1,図2の構成で
は、回折格子54の移動に関する情報として、移動方向
を弁別する信号と移動量を測定するための信号とを高精
度に得ることができる。
【0044】なお、上記のようなA相信号,B相信号
は、本願出願人の先願(特願平5−115300号)に記
載のエンコーダ装置においても実現できる。例えば、図
7に示すように、干渉縞の明暗の間隔の半分の間隔(干
渉縞のピッチの4分の1)をへだてて2つの受光素子5
8,59を配置することも可能である。すなわち、一方
の受光素子58を例えば明の部分に配置し、他方の受光
素子59を明と暗との中間位置(光径の中間位置)に配
置することも可能である。しかしながら、この先願に記
載のエンコーダ装置では、1つの干渉縞からA相,B相
を検出するため、干渉縞がずれた場合には、A相,B相
の位相がずれ易く、移動方向についての検出誤りが発生
しやすいという問題がある。
【0045】これに対して、本実施例では、回析格子5
3または54の領域を2つに分けて2つの干渉縞Ia
bを発生させ、2つの受光素子7a,7bを干渉縞の
方向Yに並べて配置し、受光素子7a,7bにおいて2
つの干渉縞Ia,IbからA相,B相の信号を直接得るよ
うにしているので、回析格子53または54のずれによ
る干渉縞の傾きなどに対して、検出誤りを少なくするこ
とができ、特に、A相信号,B相信号の位相がずれにく
く、移動方向についての検出誤りが発生するのを著しく
低減することができる。
【0046】なお、図2の例においては、±1次光のみ
を用いており、±1次光は、回折効率が高いこと、ま
た、2次光以上の光に比べてノイズが少ないことなどに
より、±1次光を用いることは、高次光を用いる場合に
比べて優れている。しかしながら、回折格子を用いる型
式のエンコーダ装置においては、分解能は回折角に比例
するので、分解能を高めるためにさらに高次光をも用い
ることが望まれる場合もある。
【0047】本発明は、図2の例のように±1次光のみ
を用いる場合に限定されず、さらに高次光を用いる場合
にも拡張可能である。すなわち、図8に示すように、固
定用回折格子53で発生するn1次光であって移動用回
折格子54のn2次光と、固定用回折格子53で発生す
るm1次光であって、移動用回折格子54のm2次光とを
回折格子54の移動に関する情報(移動量や移動方向な
ど)を得るために用いることもできる。
【0048】この場合、固定用回折格子53での回折条
件は次式により表わされる。
【0049】
【数9】sinθ11=n1λ/Λ1 sinθ12=m1λ/Λ1
【0050】また、移動用回折格子54での回折条件は
次式により表わされる。
【0051】
【数10】−sinθ21+sinθ11=n2λ/Λ2 −sinθ22+sinθ12=m2λ/Λ2
【0052】数9と数10とにより、次式が導かれる。
【0053】
【数11】sinθ21=λ(n2/Λ2−n1/Λ1) sinθ22=λ(m2/Λ2−m1/Λ1
【0054】また、θ21とθ22の角度の光による干渉縞
のピッチは次式で表される。
【0055】
【数12】Λ0=λ/(sinθ21+sinθ22
【0056】数11と数12とを用いてΛ1,Λ2とΛ0
との関係が次式のように求められる。
【0057】
【数13】Λ0=1/[(n2+m2)/Λ2−(n1
1)/Λ1
【0058】数13から、高次光を用いる場合にも、±
1次光を用いる場合と同様に、干渉縞のピッチΛ0は、
固定用回折格子53のピッチΛ1と移動用回折格子54
のピッチΛ2とにだけ関係し、光源からの光の波長には
全く無関係となり、光源1に半導体レーザのような波長
変化の大きい光源が用いられる場合でも、その波長変化
の影響を受けない。
【0059】なお、高次光の選び方としては、2つの回
折格子53,54からの2つの出射光がほぼ平行になら
なければならないので、固定用回折格子53でのn1
光であって移動用回折格子4でのm1次光と、固定用回
折格子53でのn2次光であって移動用回折格子4での
2次光との干渉では、次式を満たさなければならな
い。
【0060】
【数14】n1+m1=n2+m2
【0061】例えば、固定用回折格子53での1次光で
あって移動用回折格子54での0次光と、固定用回折格
子53での−2次光であって移動用回折格子54での3
次光との干渉では、“1+0=−2+3”であり、数2
4の条件を満たしているので使用できる。
【0062】また、このように、移動用回折格子54の
高次光を用いる場合、回折格子の領域ua,ubの位相差
β1に対して、干渉縞の位相差β0は次式のようになる。
すなわち、移動用回折格子54のn2次光とm2次光を用
いる場合には、移動用回折格子54の位相のずれに対し
て干渉縞の位相のずれが(n2−m2)倍となることから次
式が導き出される。
【0063】
【数15】β0=(n2−m21
【0064】このことからわかるように、高次光を用い
る場合には、1次光のみを用いる場合に比べて、感度を
(n2−m2)/2倍に向上させることができる。
【0065】ところで、図1のエンコーダ装置では、各
受光素子7a,7bから得られる正弦波状信号は、図9
に示すように、バイアス成分t1が重畳した波形である
ので、このままでは読み取りが誤りやすい。換言すれ
ば、この種の正弦波状信号は、谷と山の比(t2/t1
アスペクト比)が大きいほど品質が良いが、1つの受光
素子7aまたは7bからの正弦波状信号は、バイアス成
分t1をもつため、この正弦波状信号は良質のものとな
っていない。
【0066】そこで、図10に示すように光を重ねた光
径(図では円とする)中に干渉縞の明暗を1個ずつ発生
させたときに、受光素子7a,7bの各々に対して、干
渉縞の明暗に相当する間隔(干渉縞のピッチΛ0の半分
Λ0/2)をへだてて、さらに、受光素子8a,8bを
配置し、受光素子7aと受光素子8aの出力の差,受光
素子7bと受光素子8bの出力の差をとるような構成と
することもできる。
【0067】図11は、図10の構成において、回折格
子53または54の一方の領域,例えばuaにおける受
光素子7aの出力信号a1,受光素子8aの出力信号a
2,2つの受光素子7a,8aの出力の差信号(a1−
a2)をそれぞれ示す図である。図11からわかるよう
に、受光素子7a,8aは、干渉縞のピッチの半分の間
隔で配置されているので、受光素子7a,8aの出力信
号a1,a2は、180゜の位相差となり、従って、受
光素子7a,8aの出力a1,a2の差をとり差信号
(a1−a2)とすることにより、バイアス成分t1
除去することができ、アスペクト比の高い良好な正弦波
状信号を得ることができる。受光素子7a,8aの出力
の差信号(a1−a2)と受光素子7b,8bの出力の
差信号(b1−b2)とは、図12に示すようになり、
(a1−a2),(b1−b2)を最終的な出力とする
ことによって、90゜の位相差をもつ良好なA相信号,
B相信号を得ることができて、より高精度に移動量を測
定することができる。また、この場合に、図13に示す
ように、受光素子7a,8a;7b,8bの幅Hを小さ
くすることにより、バイアス成分t1をさらに小さくす
ることができ、差信号の振幅を大きくすることができ
て、より一層、完全に近い良質な正弦波状信号を得るこ
とができる。但し、幅Hを小さくすると、受光量も減少
するので、受光素子7a,8a;7b,8bの幅Hにつ
いては、用途等に応じ、適当なものに設計するのが良
い。また、上述の例では、干渉縞の明暗に相当する間隔
(干渉縞のピッチの半分)をへだてて受光素子7a,8
a;7b,8bを配置したが、このような配置例に限ら
ず、種々の変形も可能である。
【0068】また、上述したエンコーダ装置では、第1
番目の回折格子53を固定し、第2番目の回折格子54
を移動用としたが、第1番目の回折格子53を移動用と
し(すなわち移動用回折格子とし)、第2番目の回折格
子54を固定(すなわち固定用回折格子)とすることも
できる。
【0069】さらには、第1番目の回折格子53と第2
番目の回折格子54との両方を移動用とし、第1番目の
回折格子53と第2番目の回折格子54との相対的な移
動量等を測定するよう構成することも可能である。
【0070】また、本発明は、光源1からの光を回折格
子に垂直入射させる場合に限定されず、垂直に入射させ
ない場合であっても適用可能である。
【0071】また、上述の実施例では、干渉縞の間隔よ
りも小さい受光面を有する受光素子を用いたが、受光素
子のかわりに、干渉縞の間隔よりも小さい径の孔のピン
ホールを用いても良い。さらには、位相の異なる2種類
の干渉縞をCCDで受光して位相を検出することもでき
る。
【0072】また、上述の実施例では、回折格子3,回
折格子4の少なくとも一方は、2つの領域ua,ubに分
けられるとして説明したが、さらに2以上の複数の領域
に分けることも可能である。
【0073】
【発明の効果】以上に説明したように、請求項1乃至請
求項3記載の発明によれば、第1番目の回折格子からの
1次光,m1次光の第1回折光を第1番目の回折格子と
僅かにピッチの異なる第2番目の回折格子で回折してn
2次光,m2次光の第2回折光とし、該第2番目の回折格
子からのn2次光,m2次光の間で干渉により干渉縞を発
生させ、前記第1番目の回折格子と第2番目の回折格子
の少なくとも一方の回折格子の移動に伴なって移動する
干渉縞に基づいて回折格子の移動に関する情報を検出す
るようにしているので、光の波長変化の影響を低減する
ことができ、さらに、集光レンズを用いずとも所定間隔
の干渉縞を発生させることができて回折格子の移動量等
を精度良く測定することができる。さらに、前記第1番
目の回折格子と前記第2番目の回折格子の少なくとも一
方の回折格子は複数の領域に分けられており、各領域で
回折格子ピッチの位相が互いに相違しているので、回折
格子のずれによる干渉縞の傾きなどに対して、検出誤り
が生ずるのを著しく低減することができる。
【0074】また、請求項4記載の発明によれば、さら
に、各領域ごとに、前記干渉縞の垂直方向に配置された
複数の受光手段の組を用いて、回折格子の移動に関する
情報を検出するようになっており、複数の受光手段の組
を用い、例えば、これらの出力信号の差をとることで、
バイアス成分を除去することができ、アスペクト比の高
い品質の良い正弦波状信号を得ることができて、この信
号を用いて回折格子の移動量をより精度良く測定するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るエンコーダ装置の一実施例の構成
図である。
【図2】図1のエンコーダ装置において、2つの回折格
子からの±1次光を用いる場合の構成を示す図である。
【図3】図2に示す構成のエンコーダ装置の動作原理を
説明するための図である。
【図4】図2に示す構成のエンコーダ装置により発生す
る干渉縞を説明するための図である。
【図5】図2に示す構成のエンコーダ装置の受光素子か
ら出力される信号を示す図である。
【図6】(a)は図1,図2のエンコーダ装置の回析格子
の構成例を示す図、(b)は干渉縞の発生例を示す図であ
る。
【図7】干渉縞のピッチの4分の1の間隔をへだてて2
つの受光素子が配置されているエンコーダ装置の構成例
を示す図である。
【図8】図1のエンコーダ装置において、2つの回析格
子からの高次光を用いる場合の構成を示す図である。
【図9】図1の構成のエンコーダ装置の各受光素子から
の出力信号を示す図である。
【図10】干渉縞の方向に並置された受光素子の各々に
対し、干渉縞のピッチの半分を隔てて、さらに受光素子
が配置されているエンコーダ装置の構成例を示す図であ
る。
【図11】図10の構成のエンコーダ装置の一方の領域
における受光素子からの出力信号を示す図である。
【図12】図10のエンコーダ装置の最終的な出力信号
を示す図である。
【図13】図10のエンコーダ装置において、各受光素
子の幅を小さくした状態を示す図である。
【図14】従来のエンコーダ装置の構成例である。
【図15】図14のエンコーダ装置の2つの回折格子か
ら発生する回折光を説明するための図である。
【図16】図14のエンコーダ装置の2つの回折格子か
ら発生する回折光を説明するための図である。
【符号の説明】 1 光源 2 レンズ 53 第1番目の回折格子 54 第2番目の回折格子 7a,7b,8a,8b 受光素子 ua,ub 回折格子の領域

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源と、光源からの光を回折してn1
    光(n1は整数)とm1次光(m1は整数)の第1回折光
    を発生させる第1番目の回折格子と、該第1番目の回折
    格子とピッチが僅かに異なっており、前記第1番目の回
    折格子からのn1次光,m1次光の第1回折光を回折し
    て、それぞれn2次光(n2は整数),m2次光(m2は整
    数)の第2回折光を発生させる第2番目の回折格子と、
    該第2番目の回折格子からのn2次光,m2次光の間で干
    渉により干渉縞を発生させ、前記第1番目の回折格子と
    第2番目の回折格子の少なくとも一方の回折格子の移動
    に伴なって移動する干渉縞に基づいて回折格子の移動に
    関する情報を検出する移動情報検出手段とを有してお
    り、前記第1番目の回折格子と前記第2番目の回折格子
    の少なくとも一方の回折格子は複数の領域に分けられて
    おり、各領域で回折格子ピッチの位相が互いに相違して
    いることを特徴とするエンコーダ装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のエンコーダ装置におい
    て、前記第1番目の回折格子と前記第2番目の回折格子
    の少なくとも一方の回折格子は、2つの領域に分けられ
    ており、2つの領域に分割されている方の回折格子の回
    折次数をn,mとするとき、各領域で回折格子ピッチの
    位相は、2π/(4|n−m|)で相違していることを特
    徴とするエンコーダ装置。
  3. 【請求項3】 請求項1記載のエンコーダ装置におい
    て、前記干渉縞は、前記複数の領域の各々について所定
    の位相差で複数種類発生し、この場合、前記移動情報検
    出手段は、前記複数の領域の各々について、位相の異な
    る複数種類の干渉縞を該干渉縞の方向に並置した受光手
    段で受光し、回折格子の移動に関する情報を検出するよ
    うになっていることを特徴とするエンコーダ装置。
  4. 【請求項4】 請求項3記載のエンコーダ装置におい
    て、前記受光手段に対し、前記干渉縞の方向と垂直の方
    向に、さらに、他の受光手段を配置し、各領域ごとに、
    前記干渉縞の垂直方向に配置された複数の受光手段の組
    を用いて、回折格子の移動に関する情報を検出するよう
    になっていることを特徴とするエンコーダ装置。
JP35376493A 1993-04-19 1993-12-31 エンコーダ装置 Expired - Fee Related JP3199549B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35376493A JP3199549B2 (ja) 1993-12-31 1993-12-31 エンコーダ装置
US08/542,377 US5652426A (en) 1993-04-19 1995-10-12 Optical encoder having high resolution
US08/754,798 US5812320A (en) 1993-04-19 1996-11-21 Optical encoder having high resolution

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35376493A JP3199549B2 (ja) 1993-12-31 1993-12-31 エンコーダ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07198424A true JPH07198424A (ja) 1995-08-01
JP3199549B2 JP3199549B2 (ja) 2001-08-20

Family

ID=18433064

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP35376493A Expired - Fee Related JP3199549B2 (ja) 1993-04-19 1993-12-31 エンコーダ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3199549B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002116061A (ja) * 2000-10-10 2002-04-19 Mitsutoyo Corp 光学式エンコーダ
WO2015011848A1 (ja) * 2013-07-22 2015-01-29 太陽誘電株式会社 変位計測装置及び変位計測方法
JP2016090450A (ja) * 2014-11-07 2016-05-23 太陽誘電株式会社 変位計測装置および変位計測方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62172204A (ja) * 1986-01-27 1987-07-29 Agency Of Ind Science & Technol 相対変位測定方法
JPS63277926A (ja) * 1987-05-11 1988-11-15 Canon Inc 測長装置
JPH05133773A (ja) * 1991-08-14 1993-05-28 Copal Co Ltd 光学式基準位置検出装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62172204A (ja) * 1986-01-27 1987-07-29 Agency Of Ind Science & Technol 相対変位測定方法
JPS63277926A (ja) * 1987-05-11 1988-11-15 Canon Inc 測長装置
JPH05133773A (ja) * 1991-08-14 1993-05-28 Copal Co Ltd 光学式基準位置検出装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002116061A (ja) * 2000-10-10 2002-04-19 Mitsutoyo Corp 光学式エンコーダ
WO2015011848A1 (ja) * 2013-07-22 2015-01-29 太陽誘電株式会社 変位計測装置及び変位計測方法
JP2015021890A (ja) * 2013-07-22 2015-02-02 太陽誘電株式会社 変位計測装置及び変位計測方法
US10012519B2 (en) 2013-07-22 2018-07-03 Taiyo Yuden Co., Ltd. Displacement measurement device and displacement measurement method
JP2016090450A (ja) * 2014-11-07 2016-05-23 太陽誘電株式会社 変位計測装置および変位計測方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3199549B2 (ja) 2001-08-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2501714B2 (ja) 干渉位置測定装置
US4912322A (en) Optical type displacement detecting device
US7154609B2 (en) Interferential position measuring arrangement
US7348546B2 (en) Position measuring system with a scanning unit having a reference pulse signal detection unit
JP3121539B2 (ja) 光電位置測定装置
JP3158878B2 (ja) 光学式エンコーダ
JP5268529B2 (ja) 変位計測装置及び半導体製造装置
JPH0697171B2 (ja) 変位測定装置
JPH03148015A (ja) 位置測定装置
JPH01276020A (ja) 光電位置測定装置
JP6386337B2 (ja) 光学式エンコーダ
JP3641316B2 (ja) 光学式エンコーダ
JPH074993A (ja) エンコーダ装置
JP3312086B2 (ja) エンコーダ装置
JPH07306060A (ja) エンコーダ
JPH02206720A (ja) 測角装置
JPH06201327A (ja) 変位検出装置
US8772706B2 (en) Multiple wavelength configuration for an optical encoder readhead including dual optical path region with an optical path length difference
JPH07198424A (ja) エンコーダ装置
JP3247791B2 (ja) エンコーダ装置
JPH07280591A (ja) 光学式エンコーダ
JPH06174424A (ja) 測長または測角装置
JP4404184B2 (ja) 変位検出装置
JP3256628B2 (ja) エンコーダ装置
JPH0642981A (ja) 光学式エンコーダ

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees