JPH07152660A - 電子機器のデータ復旧方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 校正データが破壊された場合でも、許容され
る制御の精度の範囲内では生産ラインを停止することな
く続行が可能な、優れた電子機器のデータ破壊復旧方法
を提供する。 【構成】 電子機器に係る校正の理論値データを記憶す
る第１のメモリ９と、前記電子機器個々の特性により前
記校正の理論値データを校正した校正データを記憶する
第２のメモリ７と、前記校正データに基づいて当該電子
機器を制御する制御手段１とを備え、この制御手段が前
記校正データの誤りを検出したときは、前記校正データ
に代えて前記校正の理論値データに基づいて当該電子機
器を制御する構成である。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、例えば生産装置等の被
制御機器を制御する電子機器のデータ復旧方法に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】かかる電子機器の中に加熱装置等の被制
御機器の温度を調節する温度調節器がある。図９に従来
の温度調節器のブロック図を示す。図９において、１は
このシステムを制御するＣＰＵ、２は被制御装置の温度
を検知する温度センサ（いずれも図示せず）からの信号
を入力する入力回路、３は入力回路２から得られるアナ
ログ信号をディジタル信号の温度データに変換してＣＰ
Ｕ１に供給するＡ／Ｄ変換回路である。４はこの温度デ
ータに基づいてＣＰＵ１が所定の演算処理を行って出力
する制御出力、あるいは異常が発生したときの警報出力
を送出する出力回路である。５はキー操作をキースキャ
ンにより入力するキーマトリックス回路、６は温度情報
等を表示するための表示回路である。７はこの温度調節
器個々の特性に基づいて校正した校正データ、制御に必
要なパラメータ、温度レンジのミニマム値等を記憶した
ＥＥＰ−ＲＯＭ等の書き換え可能な不揮発性メモリ（Ｎ
ＶＲ）である。このＮＶＲ７のデータは、製造の最終工
程すなわち工場出荷時に、個々の製品ごとの特性を測定
した後、書き込みがなされる。８はＡＣ入力電源より直
流電源を生成し各ブロックに所定の電源を供給する電源
回路である。

【０００３】図１０はこの温度調節器の操作パネルの図
である。図１０において、１１は現在温度を表示する現
在温度表示部、１２は設定温度を表示する設定温度表示
部であり、これらは７セグメントのＬＥＤ等で構成され
ている。１３は表示部１１及び１２の表示系統（表示レ
ベル）を更新し設定するパラメータ群を変えるレベルキ
ーである。１４は任意の表示レベルにおける設定項目を
変更するモードキーである。レベルキー１３及びモード
キー１４の操作については後述する。１５及び１６は設
定温度等をアップしたり、ダウンしたりするアップキー
及びダウンキーである。１７は制御出力の動作を表示す
る制御出力モニタ、１８は警報の出力がオンの時点灯す
る警報出力モニタである。

【０００４】図１１は図９に示す従来の温度調節器の操
作手順を示す図である。図１１において、表示レベル
“０”の場合には、内部のファンクション切換スイッチ
がＰＩＤ定数表示なしのときのキャラクタ表示となる。
この場合には、現在温度１１ａ及びその目標値である設
定温度１２ａを表示する。ここでモードキー１４を押下
すると、アラーム１１ｂ及びアラーム設定１２ｂを表示
する。モードキー１４の押下ごとに設定項目が更新され
る。

【０００５】表示レベル“０”の状態で、レベルキー１
３を押下すると表示レベル“１”に変化し、ＰＩＤ定数
をマニュアル設定する場合のレベルとなる。このレベル
ではモードキー１４の押下に応じて設定項目が変化し、
比例帯１１ｃ及びその設定温度１２ｃ、積分時間設定１
１ｄ及びその設定時間１２ｄ、微分時間設定１１ｅ及び
その設定時間１２ｅを表示する。

【０００６】ところで工場出荷時における上記校正デー
タの記憶の際には、校正データとともにそのサムチェッ
クデータも同時に記憶する。例えば、校正データが「９
８１２」である場合には、各桁の数の和であるサムチェ
ックデータ「２０」も同時に記憶する。そして図９にお
いて、電源投入時にＣＰＵ１がＮＶＲ７から校正データ
を読み出したときに、校正データの和とサムチェックデ
ータとの一致を判別して、不一致の場合にはデータが破
壊されたものと判断する。これは、ＮＶＲ７等の書き換
え可能な不揮発性メモリのデータは、マスクＲＯＭ等の
消去及び書き換え不可能なメモリに比較してデータ書き
込み時のエラーが発生する頻度が高いからである。

【０００７】校正データの破壊を検出した場合には、図
１０の現在温度表示部１１に校正データが破壊された旨
の表示１９を表示してユーザに報知する。ユーザはこの
データ破壊表示により温度調節作業を中止して、この温
度調節器をメーカー側に渡して正しい校正データの再書
き込みをさせるか、あるいは正常な温度調節器と交換を
行うことにより、データ復旧方法を行っていた。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
のデータ復旧方法においては、温度調節器等の電子機器
をメーカーに渡して正しい校正データの再書き込みがな
されて返却が完了するか、あるいは正常な電子機器が到
着するまでの間は、工場の生産ラインを停止しなければ
ならないという問題があった。

【０００９】本願発明はかかる従来の問題を解決するも
のであり、校正データが破壊された場合でも、許容され
る制御の精度の範囲内では生産ラインを停止することな
く続行が可能な、優れた電子機器のデータ破壊復旧方法
を提供することを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、電子機器に係る校正の理論値データを記憶
する第１のメモリと、前記電子機器個々の特性により前
記校正の理論値データを校正した校正データを記憶する
第２のメモリと、前記校正データに基づいて当該電子機
器を制御する制御手段とを備え、この制御手段が前記校
正データの誤りを検出したときは、前記校正データに代
えて前記校正の理論値データに基づいて当該電子機器を
制御することを特徴とする。

【００１１】

【作用】本発明は上記構成により、校正データが破壊さ
れた場合でも、許容される制御の精度の範囲内では生産
ラインを停止することなく続行を可能とする。

【００１２】

【実施例】以下、本発明の実施例を図を参照して説明す
る。

【００１３】図１は本発明を温度調節器に適用した場合
の実施例のブロック図である。図１において、図９に示
す従来例と同様の構成のものは同一の符号で示すととも
に、その説明は省略する。この実施例の構成は従来例の
構成に、９のＥＰ−ＲＯＭあるいはマスクＲＯＭ（以
下、単にＲＯＭという）等の消去及び書き換え不可能な
メモリが追加されている。このＲＯＭ９には、この温度
調節器の校正の理論値データ（あるいは設計値データ）
が記憶されている。したがってこの校正の理論値データ
は全製品に共通のデータであり、このＲＯＭ９がプリン
ト基板等にアセンブリされる前にすでに記憶されたデー
タである。すなわちこの校正の理論値データは、製品検
査時にＣＰＵ１によって読み出されて、誤りのないこと
がチェックされているデータである。

【００１４】次に、図１の構成におけるＣＰＵ１の動作
について、図２及び図３に示すメインルーチン及び割込
ルーチンのフローチャートを参照して説明する。図２の
メインルーチンにおいて、温度調節器の電源が投入され
ると、まず、初期化処理を行い（ステップＳ１）、ＮＶ
Ｒの校正データとサム値をロードする（ステップＳ
２）。そして校正データよりサム値を再計算し（ステッ
プＳ３）、ロードしたサム値と計算したサム値とが一致
したかどうかを判別する（ステップＳ４）。サム値が一
致した場合には温度制御処理に移行する（ステップＳ
５）。

【００１５】一方、サム値が一致しない場合には、エラ
ーメッセージ処理を行う（ステップＳ６）。すなわち図
１０に示すデータ破壊を示す旨の表示１９を現在温度表
示部１１に表示する。次に復旧処理の操作がなされたか
どうかを判別する（ステップＳ）。図４にこの復旧処理
の操作を含む操作手順を示す。なおこの図で、図１１に
示す従来例と同様の手順については説明を省略する。た
だし表示レベル１における温度設定表示部１２の数値は
デフォルト値であり、比例帯の設定温度が“４０．０
℃”、積分時間設定が“２４０秒”、微分時間設定が
“６０秒”となっている。図４において、表示レベル
“０”のときに、データ破壊の表示１１ｆを表示した状
態で、パスワード１２ｆを設定してモードキー１４を押
下する。パスワードとしては“ＴＴＴＴ”等の４桁の記
号が使用される。すると図２において復旧処理がなされ
たと判別して、ＲＯＭ９に記憶されている校正の理論値
データをＮＶＲ７に転送する（ステップＳ８）。さらに
工場出荷パラメータをＮＶＲ７にセットし（ステップＳ
９）、温度制御処理に移行する（ステップＳ５）。

【００１６】次に、図３の割込ルーチンについて説明す
る。表示処理（ステップＳ１１）を行っている間に、キ
ーが押下されているかどうかを判別し（ステップＳ１
２）、押下されている場合にはそのキーがレベルキーか
どうかを判別し（ステップＳ１３）、レベルキーの場合
にはレベルキー処理に移行する（ステップＳ１４）。レ
ベルキーでない場合には、押下されたキーがモードキー
かどうかを判別し（ステップＳ１５）、モードキーの場
合にはモードキー処理に移行する（ステップＳ１６）。
モードキーでない場合には、押下されたキーがアップキ
ーかどうかを判別し（ステップＳ１７）、アップキーで
ある場合にはアップキー処理に移行する（ステップＳ１
８）。アップキーでない場合にはダウンキー処理に移行
する（ステップＳ１９）。なおこの割込ルーチンは１０
ｍｓ〜２０ｍｓごとに行う。

【００１７】次に、温度調節器の校正について、温度ス
パンが０℃〜１００℃の例で説明する。図５は温度調節
器の校正のシステム構成を示す図である。図５におい
て、１０は温度調節器、１１は疑似的に温度入力を電圧
として温度調節器１０に入力する基準電圧発生装置であ
る。図５に示す温度調節器１０の内部構成は、図１の場
合と同様であるのでその説明は省略する。図６は図５の
基準電圧発生装置１１から０℃〜１００℃の温度（実際
には温度に相当する入力電圧）を入力した場合のＡ／Ｄ
コンバータ３のカウント値をＣＰＵ１が取り込んだと
き、ＣＰＵ１からみたそのカウント値に対する温度の特
性を示す図である。この図で理論値とは、基準電圧発生
装置１１より０℃に相当する電圧を入力した時、Ａ／Ｄ
コンバータの出力が“０”カウントとなり、同じく基準
電圧発生装置１１より１００℃に相当する電圧を入力し
た時、Ａ／Ｄコンバータの出力が“１０００”カウント
となるように理論的に設計したものである。しかし実際
には、温度調節器の製品の個々の特性すなわち入力回路
２やＡ／Ｄコンバータ３を構成する部品のバラツキ、及
び、基準電圧のバラツキ等により、上記のごとき理論値
は得られず、図６に示すような実際値となる。そのため
温度調節器ごとにこのバラツキを修正するための校正デ
ータが必要になるのである。

【００１８】今、温度調節器の実際値が図６のように、
０℃に相当する電圧を入力した時、Ａ／Ｄコンバータの
出力が“１”カウントとなり、１００℃に相当する電圧
を入力した時、Ａ／Ｄコンバータの出力が“１００５”
カウントとなったとする。ＣＰＵ１はこの入力データ
（１，１００５）を用いて、次に示す理論式を補正す
る。

【００１９】Ｔ＝ｋＣ＋ａ この式で、Ｔは温度、Ｃはカウント値、ｋはカウント値
に対する温度値の変化率、ａは校正値である。なお、理
論値では、ｋ＝０．１，ａ＝０ である。実際は各種部
品のバラツキを考慮に入れると計算で求めることが困難
であるため、試作品より実験的にｋ，ａなどの値を求め
る。

【００２０】上記入力データをこの理論式に代入して、
ｋ，ａを小数点５位まで求めると、 ｋ＝１００／（１００５−１）＝０．０９９６０ ａ＝−０．０９９６０ となる。

【００２１】この補正後においては、ＣＰＵ１はＡ／Ｄ
コンバータ３から読み込んだカウント値を次の式に代入
してカウント値を温度に変換し、各温度処理を実行す
る。

【００２２】Ｔ＝０．０９９６０（Ｃ−１） この場合、“０．０９９６０”がこの温度調節器の校正
データであり、工場出荷時にＮＶＲ７に記憶する値とな
る。

【００２３】実際にはこの校正データを“９９６０”と
いう２バイトのデータとしてＮＶＲ７に記憶する。ま
た、この校正データが破壊されているかどうかをチェッ
クするため、次のようなサムチェックデータも同時にＮ
ＶＲ７に記憶する。、 サムチェックデータ＝９＋９＋６＋０＝２４ 以上で校正が完了する。

【００２４】工場出荷された校正完了後の製品に電源を
印加すると、その校正データが正しいかどうかをチェッ
クする。図７及び図８は、校正データの正誤判別ルーチ
ンのフローチャート及び校正データ復旧処理のサブルー
チンのフローチャートである。このフローチャートは図
２に示したメインルーチンを、さらに詳細に記述したも
のである。図７において、電源が投入されると初期化を
行い（ステップＳ２１）、ＮＶＲ７より校正データの２
バイトをロードし（ステップＳ２２）、その校正データ
のサムチェックを行い、結果をストアする（ステップＳ
２３）。次に、ＮＶＲ７にストアされているサムチェッ
クデータをロードして（ステップＳ２４）、ストアされ
たサムチェックデータとＮＶＲ７にストアされているサ
ムチェックデータの比較を行う（ステップＳ２５）。

【００２５】比較した結果、２つのサムチェックデータ
が一致しているかどうかを判別し（ステップＳ２６）、
一致している場合には校正値は正しいとして、温度調節
処理を行う（ステップＳ２７）。一方、一致していない
場合には、校正データが破壊されたと判断して、表示部
にエラーメッセージを表示する（ステップＳ２８）。そ
してキー操作を検索して、復旧処理を行うかどうかを判
別し（ステップＳ２９）、復旧処理を行う場合には、図
８の復旧処理のサブルーチンに移行する（ステップＳ３
０）。

【００２６】図８において、ＣＰＵ１の初期化を行い
（ステップＳ３１）、ＮＶＲ７の故障チェックのため、
ＮＶＲ７のリード／ライトチェックを行う（ステップＳ
３２）。このチェックがすべてＯＫであるかどうかを判
別し（ステップＳ３３）、チェックがＯＫでない場合に
は、故障メッセージの処理を行う（ステップＳ３４）。

【００２７】チェックがすべてＯＫである場合には、Ｎ
ＶＲ７の初期化を行い（ステップＳ３５）、Ｐ−ＲＯＭ
９より校正データをロードしＮＶＲ７へストアする（ス
テップＳ３６）。その後、他のパラメータもＰ−ＲＯＭ
９よりロードしＮＶＲ７へストアし（ステップＳ３
７）、ユーザーの設定した温度データも初期化している
ため、安全面より設定データは、使用する温度レンジの
最小値をユーザーの仮の設定温度とし、ＮＶＲ７にスト
アする（ステップＳ３８）。また、設定温度と同様に、
安全面を考えアラームデータ０をＮＶＲ７にストアし
（ステップＳ３９）、図７の温度処理ルーチンへジャン
プする（ステップＳ４０）。図７においてジャンプ後は
温度調節処理を行う（ステップＳ２７）。この場合、設
定温度が最小値であるため、制御は行わないため再度温
度設定、アラームデータ設定を行う必要がある。

【００２８】製品によっては新しく校正データをユーザ
ーがキーより入力する製品仕様のものもあるが、このよ
うな製品の場合にも、理論値データそのものを作成する
ことはユーザーにとって負担が大きいので、理論値デー
タを記憶することにより若干の補正を行うだけで容易に
校正データを作成することができる。

【００２９】なお、上記実施例においては、電子機器と
して温度調節器を例に採ったが、温度調節器に限らず、
製品個々に対して校正データを必要とするような電子機
器全般にも適用することはいうまでもない。

【００３０】

【発明の効果】本発明は上記実施例から明らかなよう
に、校正データが破壊された場合でも、許容される制御
の精度の範囲内では生産ラインを停止することなく続行
することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を温度調節器に適用した場合の実施例の
ブロック図である。

【図２】図１のＣＰＵのメインルーチンのフローチャー
トである。

【図３】図１のＣＰＵの割込ルーチンのフローチャート
である。

【図４】図１の温度調節器の復旧処理の操作を含む操作
手順を示す図である。

【図５】温度調節器の校正のシステム構成を示す図であ
る。

【図６】ＣＰＵからみたそのカウント値に対する温度の
特性を示す図である。

【図７】校正データの正誤判別ルーチンのフローチャー
トである。

【図８】校正データ復旧処理のサブルーチンのフローチ
ャートである。

【図９】従来の温度調節器のブロック図である。

【図１０】図９の温度調節器の操作パネルの図である。

【図１１】図９に示す従来の温度調節器の操作手順を示
す図である。

【符号の説明】

１ ＣＰＵ（制御手段） ２ 出力回路 ３ Ａ／Ｄ変換回路 ４ 表示回路 ５ キーマトリックス回路 ６ 表示回路 ７ 不揮発性メモリ（第２のメモリ） ９ ＥＰ−ＲＯＭ（第１のメモリ）

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電子機器に係る校正の理論値データを記
   憶する第１のメモリと、 前記電子機器個々の特性により前記校正の理論値データ
   を校正した校正データを記憶する第２のメモリと、 前記校正データに基づいて当該電子機器を制御する制御
   手段とを備え、 この制御手段が前記校正データの誤りを検出したとき
   は、前記校正データに代えて前記校正の理論値データに
   基づいて当該電子機器を制御することを特徴とする電子
   機器のデータ復旧方法。
2. 【請求項２】 請求項１において、前記第２のメモリは
   書き換え可能な不揮発性メモリであって、所定の操作に
   応じて前記校正データに代えて前記校正の理論値データ
   を前記第２のメモリに記憶することを特徴とする電子機
   器のデータ復旧方法。
3. 【請求項３】 請求項１又は２において、前記第１のメ
   モリは消去及び書き換え不可能なメモリであって、前記
   校正の理論値データは当該電子機器の個々の製品に共通
   のデータであることを特徴とする電子機器のデータ復旧
   方法。