JPH0692941B2 - 糸の毛羽検出装置 - Google Patents
糸の毛羽検出装置Info
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- JPH0692941B2 JPH0692941B2 JP61295089A JP29508986A JPH0692941B2 JP H0692941 B2 JPH0692941 B2 JP H0692941B2 JP 61295089 A JP61295089 A JP 61295089A JP 29508986 A JP29508986 A JP 29508986A JP H0692941 B2 JPH0692941 B2 JP H0692941B2
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8914—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined
- G01N21/8915—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined non-woven textile material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、糸を照明するための光を生ずる発光器と、こ
の発光器から出る光を平行光線の光束とする発光器側レ
ンズと、糸から突出する繊維により生ずる散乱光を測定
するための受光器と、この散乱光を受光器の所で集束す
る受光光学系と、発光器から出る直接光が受光器へ達す
るのを阻止する直接光阻止手段とを有する、糸の毛羽検
出装置に関する。
の発光器から出る光を平行光線の光束とする発光器側レ
ンズと、糸から突出する繊維により生ずる散乱光を測定
するための受光器と、この散乱光を受光器の所で集束す
る受光光学系と、発光器から出る直接光が受光器へ達す
るのを阻止する直接光阻止手段とを有する、糸の毛羽検
出装置に関する。
暗視野照明により糸の毛羽を検出する装置は既に種々の
構成で公知である(例えば特開昭58−214577号公報また
は特開昭50−29856号公報)。このような検出装置で
は、発光器から出る直接光が受光器に達しないようにす
るため、発光器から出る光線の光路から外れた位置に受
光器を設けねばならず、また光路にある光学素子に付着
する塵埃素子のため、検出精度が低下する。
構成で公知である(例えば特開昭58−214577号公報また
は特開昭50−29856号公報)。このような検出装置で
は、発光器から出る直接光が受光器に達しないようにす
るため、発光器から出る光線の光路から外れた位置に受
光器を設けねばならず、また光路にある光学素子に付着
する塵埃素子のため、検出精度が低下する。
本発明の課題は、発光器の光路に受光器を設けるにもか
かわらず、毛羽を検出すべき糸の暗視野照明が可能であ
り、光学素子への塵埃の付着によつても検出精度が低下
しない、最初にあげた種類の毛糸の毛羽検出装置を提供
することである。
かわらず、毛羽を検出すべき糸の暗視野照明が可能であ
り、光学素子への塵埃の付着によつても検出精度が低下
しない、最初にあげた種類の毛糸の毛羽検出装置を提供
することである。
この課題を解決するため本発明によれば、直接光阻止手
段が、受光光学系の前で光路に設けられる中央遮蔽片に
よつて形成され、受光光学系と受光器との間に、光路の
光学素子により生ずる散乱光を阻止する吸収遮蔽片が設
けられている。
段が、受光光学系の前で光路に設けられる中央遮蔽片に
よつて形成され、受光光学系と受光器との間に、光路の
光学素子により生ずる散乱光を阻止する吸収遮蔽片が設
けられている。
こうして本発明によれば、受光光学系の前で光路に設け
られる中央遮蔽片により、発光器から出る直接光が阻止
されるので、発光器と受光器とを直線上に設けることが
でき、検出装置の構造が簡単になる。しかも光学素子に
付着する塵埃等のため光学素子により生ずる散乱光も、
受光光学系と受光器との間に設けられる吸収素子に阻止
されて、受光素子へ達することがないので、光学素子の
汚れにより検出精度が低下することもない。
られる中央遮蔽片により、発光器から出る直接光が阻止
されるので、発光器と受光器とを直線上に設けることが
でき、検出装置の構造が簡単になる。しかも光学素子に
付着する塵埃等のため光学素子により生ずる散乱光も、
受光光学系と受光器との間に設けられる吸収素子に阻止
されて、受光素子へ達することがないので、光学素子の
汚れにより検出精度が低下することもない。
本発明の実施例を説明するに先立つて、従来の毛羽検出
装置を比較例として説明する。
装置を比較例として説明する。
第1図ないし第6図に示されている比較例はそれぞれ発
光器1と発光器側の集光レンズ2とを持つ測定装置を示
しており、この集光レンズにより発光器1の光が毛羽を
測定さるべき糸3へ向けられる。符号4で測定区域絞り
が示され、5で受光器が示されている。
光器1と発光器側の集光レンズ2とを持つ測定装置を示
しており、この集光レンズにより発光器1の光が毛羽を
測定さるべき糸3へ向けられる。符号4で測定区域絞り
が示され、5で受光器が示されている。
図示した比較例にとつて重要なのは、拡散した散乱、屈
折、回折および/または反射により糸3から放出される
光を、いわゆる暗視野光学系によつて評価することであ
る。このことは、換言すれば、発光器1により照明され
る糸3の面が受光器5によつて識別されないこと、した
がつて受光器5が照明されない糸3の面からの光だけし
か受けないことを意味する。したがつて受光器5が受け
た光は糸の直径に関係せず、糸3の照明される表面から
散乱して反射する光が受光器5に当たることができない
ので、この受光器は明るい糸縁しか認めない。受光器5
に連続するアナログ信号が生ずるので、糸3の毛羽を連
続的に記録することができる。なぜならば受光器5に
は、糸3の縁から突出する繊維すなわち毛羽の所で拡散
して散乱、反射および屈折した迷光だけが達し、この迷
光の強度が、ポルトがル国特許第75791号明細書に記載
されているように、わきへ突き出ている繊維の数、した
がつて糸の毛羽に比例するからである。
折、回折および/または反射により糸3から放出される
光を、いわゆる暗視野光学系によつて評価することであ
る。このことは、換言すれば、発光器1により照明され
る糸3の面が受光器5によつて識別されないこと、した
がつて受光器5が照明されない糸3の面からの光だけし
か受けないことを意味する。したがつて受光器5が受け
た光は糸の直径に関係せず、糸3の照明される表面から
散乱して反射する光が受光器5に当たることができない
ので、この受光器は明るい糸縁しか認めない。受光器5
に連続するアナログ信号が生ずるので、糸3の毛羽を連
続的に記録することができる。なぜならば受光器5に
は、糸3の縁から突出する繊維すなわち毛羽の所で拡散
して散乱、反射および屈折した迷光だけが達し、この迷
光の強度が、ポルトがル国特許第75791号明細書に記載
されているように、わきへ突き出ている繊維の数、した
がつて糸の毛羽に比例するからである。
第1図ないし第3図の比較例において、受光器5は発光
器1の光路に存在し、したがつて発光器1と糸3との間
に配置されたレンズまたは反射鏡部分のような光学素子
を認めることができず、したがつて迷光はこれらの素子
上にある塵埃粒子から直接的には受光器5に当たること
ができない。このような塵埃およびごみ粒子は当たる光
の吸収を行ない、それによつて、受光器5に当たる光強
度の最低減衰を行なうが、しかしこれらの粒子は決して
誤つた測定寄与をしない。
器1の光路に存在し、したがつて発光器1と糸3との間
に配置されたレンズまたは反射鏡部分のような光学素子
を認めることができず、したがつて迷光はこれらの素子
上にある塵埃粒子から直接的には受光器5に当たること
ができない。このような塵埃およびごみ粒子は当たる光
の吸収を行ない、それによつて、受光器5に当たる光強
度の最低減衰を行なうが、しかしこれらの粒子は決して
誤つた測定寄与をしない。
発光器1として、なるべく赤外線発光ダイオード(IRE
D)が使用されるのが好ましく、この発光ダイオードの
光はなるべく変調されており、それにより周囲光を例え
ば帯域フイルタに通すことができる。さらに、周囲光を
少し遮蔽することも有利である。もちろん発光器1とし
て可視LED、レーザまたは何か他の光源も使用すること
ができる。
D)が使用されるのが好ましく、この発光ダイオードの
光はなるべく変調されており、それにより周囲光を例え
ば帯域フイルタに通すことができる。さらに、周囲光を
少し遮蔽することも有利である。もちろん発光器1とし
て可視LED、レーザまたは何か他の光源も使用すること
ができる。
受光器5は、できるだけ多くの迷光を受けかつ糸の変位
および振動により引き起こされる糸結像のずれにできる
だけ関係しないように大きな面のフオトダイオードであ
るか、または糸が結像されるCCD直列素子である。後者
の場合は、糸縁から間隔を置いた毛羽の分布を測定しか
つ糸3の直径を測定することができる。
および振動により引き起こされる糸結像のずれにできる
だけ関係しないように大きな面のフオトダイオードであ
るか、または糸が結像されるCCD直列素子である。後者
の場合は、糸縁から間隔を置いた毛羽の分布を測定しか
つ糸3の直径を測定することができる。
第1図ないし第3図の比較例においては、温度ドリフト
の補償のために発光器1および受光器5にそれぞれ基準
ダイオード6が設けられている。
の補償のために発光器1および受光器5にそれぞれ基準
ダイオード6が設けられている。
第1図に最も簡単な比較例が示されており、この比較例
では受光側にレンズが使用されず、そのことはある程度
の費用減少を意味するが、しかし受光器5における比較
的小さい光強度に至らせる。測定区域絞り4は発光器側
に配置されており、基準ダイオード6は集光レンズ2と
測定区域絞り4との間にある。
では受光側にレンズが使用されず、そのことはある程度
の費用減少を意味するが、しかし受光器5における比較
的小さい光強度に至らせる。測定区域絞り4は発光器側
に配置されており、基準ダイオード6は集光レンズ2と
測定区域絞り4との間にある。
第2図に示されている比較例においては、光量を高める
ためにレンズ7が配置されており、このレンズの受像面
に測定区域絞り4がある。基準ダイオード6は発光器側
の光学軸の延長部において別の基準路に配置されてお
り、この基準路はさらにレンズ8を持つている。受光器
側の光学軸の延長部において糸3の発光器1側に暗い背
景9があり、この背景の方へ受光器5が向けられてい
る。
ためにレンズ7が配置されており、このレンズの受像面
に測定区域絞り4がある。基準ダイオード6は発光器側
の光学軸の延長部において別の基準路に配置されてお
り、この基準路はさらにレンズ8を持つている。受光器
側の光学軸の延長部において糸3の発光器1側に暗い背
景9があり、この背景の方へ受光器5が向けられてい
る。
すべての光学素子は正圧容器10,11および12の中に配置
されており、これらの正圧容器の流出空気が塵埃および
ごみの侵入を防止する。この選ばれた配置により、レン
ズ2および/または8から受光器5へ直接迷光が当たる
ことができない。塵埃および/または汚損に対する保護
装置として、適当なエアカーテンを使用することもでき
る。
されており、これらの正圧容器の流出空気が塵埃および
ごみの侵入を防止する。この選ばれた配置により、レン
ズ2および/または8から受光器5へ直接迷光が当たる
ことができない。塵埃および/または汚損に対する保護
装置として、適当なエアカーテンを使用することもでき
る。
糸を装置から取り去る際に、基準ダイオード6が温度お
よび/または老化影響の補償に役立つ。糸3が挿入され
た際に、光学的糸直径を測定することができる。
よび/または老化影響の補償に役立つ。糸3が挿入され
た際に、光学的糸直径を測定することができる。
第1図および第2図の比較例において光は約45°ないし
70°の角度をなして糸3に当たり、他方、第3図の比較
例は約0°ないし20°の非常にゆるやかな入射角を示し
ている。これは反射鏡13により可能であり、この反射鏡
はスリツトを持つており、このスリツトを糸3が通され
ている。周囲光は暗い背景および受光器被覆板によつて
減衰され、この受光器被覆板は同時に塵埃および汚損の
防止のための正圧室として役立つ。測定区域絞り4は受
光器側において糸3の近くにあり、基準ダイオード6は
発光器側にある。
70°の角度をなして糸3に当たり、他方、第3図の比較
例は約0°ないし20°の非常にゆるやかな入射角を示し
ている。これは反射鏡13により可能であり、この反射鏡
はスリツトを持つており、このスリツトを糸3が通され
ている。周囲光は暗い背景および受光器被覆板によつて
減衰され、この受光器被覆板は同時に塵埃および汚損の
防止のための正圧室として役立つ。測定区域絞り4は受
光器側において糸3の近くにあり、基準ダイオード6は
発光器側にある。
第4図にはシユリーレン装置の実施例が示されており、
このシユリーレン装置の像形成する偏光反射鏡14は受光
器側に配置されている。発光器側に集光レンズ2に向か
つて第2のレンズ15があり、これらのレンズの間におい
てレンズ15の焦点面に開口絞り16がある。この開口絞り
16は、絞りとして作用する縁17上に結像され、したがつ
てこの縁に対する共役面内にある。
このシユリーレン装置の像形成する偏光反射鏡14は受光
器側に配置されている。発光器側に集光レンズ2に向か
つて第2のレンズ15があり、これらのレンズの間におい
てレンズ15の焦点面に開口絞り16がある。この開口絞り
16は、絞りとして作用する縁17上に結像され、したがつ
てこの縁に対する共役面内にある。
直接光は縁17により遮られ、他方、迷光の一部は縁を通
り過ぎて受光器5へ達する。
り過ぎて受光器5へ達する。
第5図および第6図はそれぞれ、直接光を覆うための中
央遮蔽片18を持つ暗視野光学系の比較例を示している。
第5図による比較例においては、発光器1から放出され
た光が平行な光線束として集光レンズ2を去り、測定区
域絞り4は集光レンズ2と糸3との間に配置されてい
る。受光レンズ7のすぐ前に、直接光線を吸収する遮蔽
片18が配置されている。
央遮蔽片18を持つ暗視野光学系の比較例を示している。
第5図による比較例においては、発光器1から放出され
た光が平行な光線束として集光レンズ2を去り、測定区
域絞り4は集光レンズ2と糸3との間に配置されてい
る。受光レンズ7のすぐ前に、直接光線を吸収する遮蔽
片18が配置されている。
第6図はこの比較例の変形例を示しており、この比較例
では発光器1と集光レンズ2との間に開口絞り16があ
り、この開口絞り16に対する共役面内に中央遮蔽片18が
配置されているので、開口絞り16は集光レンズ2により
中央遮蔽片18に結像される。中央遮蔽片18は受光レンズ
7のすぐ前にある。この配置では集光および受光レンズ
2または7の光線束は平行していないから、受光器5の
信号は糸3と受光レンズ7との間隔に影響を受けやす
い。
では発光器1と集光レンズ2との間に開口絞り16があ
り、この開口絞り16に対する共役面内に中央遮蔽片18が
配置されているので、開口絞り16は集光レンズ2により
中央遮蔽片18に結像される。中央遮蔽片18は受光レンズ
7のすぐ前にある。この配置では集光および受光レンズ
2または7の光線束は平行していないから、受光器5の
信号は糸3と受光レンズ7との間隔に影響を受けやす
い。
受光器5の信号の本来の評価は、当業者には既知である
ことを前提とされ、したがつてここではこれ以上説明さ
れない。これに関して、既に最初に述べたポルトガル国
特許第75791号明細書およびマンチエスタ所在の織物研
究所のパンフレツト「糸の毛羽」、織物の進歩、第13
巻、第1号が参照される。
ことを前提とされ、したがつてここではこれ以上説明さ
れない。これに関して、既に最初に述べたポルトガル国
特許第75791号明細書およびマンチエスタ所在の織物研
究所のパンフレツト「糸の毛羽」、織物の進歩、第13
巻、第1号が参照される。
ここに記載されている装置はもちろん、検査すべき糸の
挿入および取り出しのための機械的部分も含んでいる。
この機械的部分は、大部分が糸から突き出ている繊維の
計数方法に基づく、今日購入できる毛羽測定装置の場合
と原理的に同じであるから、この機械的部分もやはり説
明されず、これに関しては既に挙げたパンフレツト「糸
の毛羽」が参照される。
挿入および取り出しのための機械的部分も含んでいる。
この機械的部分は、大部分が糸から突き出ている繊維の
計数方法に基づく、今日購入できる毛羽測定装置の場合
と原理的に同じであるから、この機械的部分もやはり説
明されず、これに関しては既に挙げたパンフレツト「糸
の毛羽」が参照される。
第7図は本発明の実施例を示している。図面によれば測
定装置は2つの構成群、1つの発光部分Sおよび1つの
受光部分Eから成り、これらは基板19上に組み付けられ
ている。発光部分Sは、発光器1として使われる発光ダ
イオードのそばに、発光ダイオードの光を平行な光線束
にまとめる集光レンズ2と測定区域絞り4とを持つてい
る。
定装置は2つの構成群、1つの発光部分Sおよび1つの
受光部分Eから成り、これらは基板19上に組み付けられ
ている。発光部分Sは、発光器1として使われる発光ダ
イオードのそばに、発光ダイオードの光を平行な光線束
にまとめる集光レンズ2と測定区域絞り4とを持つてい
る。
受光部分Eは、中央遮蔽片18と受光器5とを含んでい
る。受光光学系7と受光器5との間に、吸収遮蔽片21を
持つガラス保持体20が配置されている。
る。受光光学系7と受光器5との間に、吸収遮蔽片21を
持つガラス保持体20が配置されている。
測定区域絞り4により制限される、発光ダイオード1か
ら放出さた光線束L1は、中央遮蔽片18により覆われる。
もしかして集光レンズ2上にある塵埃により散乱された
光は、光線L12として受光部分Eに達し中央遮蔽片18外
で受光光学系7を通るが、しかし吸収遮蔽片21により覆
われる。したがつて結局糸3において散乱された光L3だ
けが受光器5に当たる。
ら放出さた光線束L1は、中央遮蔽片18により覆われる。
もしかして集光レンズ2上にある塵埃により散乱された
光は、光線L12として受光部分Eに達し中央遮蔽片18外
で受光光学系7を通るが、しかし吸収遮蔽片21により覆
われる。したがつて結局糸3において散乱された光L3だ
けが受光器5に当たる。
測定の際糸に多くの塵埃が生ずるから、第7図に示され
ている測定装置において、測定に対する塵埃の影響を減
少させるために種々の処置が購じられている。すなわ
ち、集光レンズ2および受光光学系7と糸3との間隔が
大きい。中央遮蔽片18は、受光光学系7のガラス部分が
直接光線路内にあることを防止する。それによつて受光
光学系7上の塵埃粒子において迷光が生じない。集光レ
ンズ2は受光光学系7により吸収遮蔽片21上に結像され
る。それによつて、集光レンズ2に生じるかも知れない
迷光が覆われ、受光器5には達することができない。
ている測定装置において、測定に対する塵埃の影響を減
少させるために種々の処置が購じられている。すなわ
ち、集光レンズ2および受光光学系7と糸3との間隔が
大きい。中央遮蔽片18は、受光光学系7のガラス部分が
直接光線路内にあることを防止する。それによつて受光
光学系7上の塵埃粒子において迷光が生じない。集光レ
ンズ2は受光光学系7により吸収遮蔽片21上に結像され
る。それによつて、集光レンズ2に生じるかも知れない
迷光が覆われ、受光器5には達することができない。
図示した測定装置は実際の使用において、とりわけ糸の
案内および搬送手段を持つている装置に組み込まれる。
これについては、例えばスイス国特許出願第02823/86−
2号明細書が参照される。糸3の移動方向に、すなわち
第7図において上から下へ、測定機構の前で、したがつ
て図では上方に、糸ブレーキが配置されている。測定機
構の範囲において光線路の直前および直後に、2つの糸
案内装置が設けられており、測定機構の下には糸3用の
2つの取り出しローラが配置されている。取り出し速度
は1秒につき数メートルである。
案内および搬送手段を持つている装置に組み込まれる。
これについては、例えばスイス国特許出願第02823/86−
2号明細書が参照される。糸3の移動方向に、すなわち
第7図において上から下へ、測定機構の前で、したがつ
て図では上方に、糸ブレーキが配置されている。測定機
構の範囲において光線路の直前および直後に、2つの糸
案内装置が設けられており、測定機構の下には糸3用の
2つの取り出しローラが配置されている。取り出し速度
は1秒につき数メートルである。
周囲光による妨害影響を回避するために、発光器1は変
調される。受光器5において発生される光電流は比例す
る電圧に変換され、この信号は増幅され、整流され、低
域フイルタによりフイルタにかけられ、続いて計算機に
より評価される。この場合、時間にわたつて平均化され
た電圧が平均の毛羽の尺度である。しかし毛羽の短時間
変動も検出され、またはフーリエ変換によつて毛羽の周
期も検出される。
調される。受光器5において発生される光電流は比例す
る電圧に変換され、この信号は増幅され、整流され、低
域フイルタによりフイルタにかけられ、続いて計算機に
より評価される。この場合、時間にわたつて平均化され
た電圧が平均の毛羽の尺度である。しかし毛羽の短時間
変動も検出され、またはフーリエ変換によつて毛羽の周
期も検出される。
第1図ないし第6図は比較例としての毛羽検出装置の原
理的構成図、第7図は本発明の実施例の断面図である。 1……発光器、2……レンズ、3……糸、5……受光
器、7……受光光学系、18……中央遮蔽片、21……吸収
遮蔽片
理的構成図、第7図は本発明の実施例の断面図である。 1……発光器、2……レンズ、3……糸、5……受光
器、7……受光光学系、18……中央遮蔽片、21……吸収
遮蔽片
Claims (9)
- 【請求項1】糸(3)を照明するための光を生ずる発光器
(1)と、この発光器(1)から出る光を平行光線の光束とす
る発光器側レンズ(2)と、糸(3)から突出する繊維により
生ずる散乱光(L3)を測定するための受光器(5)と、この
散乱光(L3)を受光器(5)の所で集束する受光光学系(7)
と、発光器(1)から出る直接光(L1)が受光器(5)へ達する
のを阻止する直接光阻止手段とを有するものにおいて、
直接光阻止手段が、受光光学系(7)の前で光路に設けら
れる中央遮蔽片(18)によつて形成され、受光光学系(7)
と受光器(5)との間に、光路の光学素子により生ずる散
乱光(L2)を阻止する吸収遮蔽片(21)が設けられているこ
とを特徴とする、糸の毛羽検出装置。 - 【請求項2】受光光学系(7)により吸収遮蔽片(21)上に
発光器側レンズ(2)が結像されることを特徴とする、特
許請求の範囲第1項に記載の検出装置。 - 【請求項3】受光器(5)における測定区域が、測定区域
絞り(4)により決定され、発光器側レンズ(2)と糸(3)と
の間隔および糸(3)と受光光学系(7)との間隔が、測定区
域の直径より大きいことを特徴とする、特許請求の範囲
第2項に記載の検出装置。 - 【請求項4】発光器(1)が赤外線発光ダイオードにより
形成されていることを特徴とする、特許請求の範囲第1
項に記載の検出装置。 - 【請求項5】発光器(1)により生ずる光が変調されるこ
とを特徴とする、特許請求の範囲第4項に記載の検出装
置。 - 【請求項6】受光器(5)がフオトダイオード、フオトマ
ルチプライヤまたは電荷結合素子(CCD)のような光電
素子により形成されていることを特徴とする、特許請求
の範囲第1項に記載の検出装置。 - 【請求項7】発光器(1)または受光器(5)が、ハウジング
内への組み込みによつて塵埃または汚損に対して保護さ
れていることを特徴とする、特許請求の範囲第1項ない
し第6項のうち1つに記載の検出装置。 - 【請求項8】ハウジングが僅かな正圧を持つていること
を特徴とする、特許請求の範囲第7項に記載の検出装
置。 - 【請求項9】装置の温度依存性または老化または装置内
の汚損により引き起こされる受光器(5)の光強度低下
が、基準受光器により補償されることを特徴とする、特
許請求の範囲第1項ないし第6項のうち1つに記載の検
出装置。
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---|---|---|---|
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CH5370/85-0 | 1985-12-17 |
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---|---|
JPS62147348A JPS62147348A (ja) | 1987-07-01 |
JPH0692941B2 true JPH0692941B2 (ja) | 1994-11-16 |
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---|---|
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JP (1) | JPH0692941B2 (ja) |
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DE (1) | DE3688367D1 (ja) |
ES (1) | ES2039348T3 (ja) |
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