JPH0672010U - 測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】被測定物の傾きを精度よく計測できるようにす
る。 【構成】ダイヤルゲージ７に可動子９を配すると共にゲ
ージベース１に可動子９と垂直方向に所定距離が離れた
基準子８を配し、ゲージ７をベース１に固定する測定装
置Ｓである。ベース１を基準ベース４１に載置する。可
動子９を被測定物（ガイドピン）５１に当接させ、この
当接状態でベース１を基準子８が被測定物５１に当接す
るまでスライドさせる。被測定物５１が傾いていない場
合ゲージ７の指針が基準位置である０の目盛を指す。傾
いている場合ゲージ７の指針が正・負の目盛を指す。被
測定物５１の垂直度の良・不良、傾き調整の必要性の有
無を客観的に判断できる。従って、被測定物５１が許容
範囲以上に傾いている不良品を製品として組込むことを
防止できる。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

この考案は、例えば被測定物を基準ベースに載置して垂直度等を測定する測定 装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】

従来より被測定物である例えばガイドピン等をレバーにかしめた後、その垂直 度を測定するためにレバーを基準ベースに載置して測定する測定装置が知られて いる。

【０００３】 図５は従来の測定装置を示す図である。同図において、４１は基準ベースであ り、この基準ベース４１に平坦状の載置面４２と４３が段差状に平行して形成さ れている。また、載置面４３は、載置面４２よりも若干高くなるように形成され ている。さらに、基準ベース４１には、その載置面４２の載置面４３側に孔４４ が形成されている。

【０００４】 ４５は測定装置であり、この測定装置４５はＬ字状に形成されている。測定装 置４５には、測定面４５ａ、４５ｂが形成されている。この測定面４５ａと４５ ｂとは、直角になるように形成されている。そして、測定装置４５の測定面４５ ｂを基準ベース４１の載置面４３に載置させるとき、測定面４５ａは基準ベース ４１の載置面４３に対して垂直方向に向く。

【０００５】 ５１は被測定物であるガイドピンであり、このガイドピン５１はテンションレ バー（以下、「レバー」という）５０にかしめられている。また、ガイドピン５ １は、レバー５０の面と直交する方向（垂直方向）に配されている。さらに、ガ イドピン５１がレバー５０にかしめられた後では、ガイドピン５１の一端５１ａ がレバー５０の下面より突出している。そして、レバー５０を基準ベース４１に 載置する場合には、ガイドピン５１の一端５１ａを基準ベース４１の孔４４に対 応させる。

【０００６】 図５の例においては、レバー５０を基準ベース４１の載置面４２に載置し、測 定装置４５を載置面４３に載置すると、ガイドピン５１と測定装置４５の測定面 ４５ａとが基準ベース４１の載置面４２、４３に対して垂直方向に向く。ガイド ピン５１の垂直度は、ガイドピン５１と測定面４５ａとの隙間を目視し、その間 隔の具合によって判断する。つまり、ガイドピン５１の垂直度の良・不良、傾き 調整の必要性の有無を判断する。

【０００７】 そして、ガイドピン５１が許容範囲以上に傾き調整が必要な場合には、傾きの 調整を行なう。ここで、ガイドピン５１に厳格な垂直度を要求するのは、ガイド ピン５１はテープ面に均等にテンションを加える必要があるので、その傾きが許 容範囲以上の場合にはテープに無理な力がかかるためである。そのため、傾きを 許容範囲内にしておく必要がある。

【０００８】

【考案が解決しようとする課題】

図５の例においては、上述したように目視によりガイドピン５１の垂直度を判 断していたので、ガイドピン５１が傾いている場合にはその傾きの程度が客観的 （数字的）に判断できない。そして、客観的に傾き調整の必要性が判断できない ので、ガイドピン５１が許容範囲以上に傾いている不良品が製品として組込まれ るおそれがある。

【０００９】 そこで、この考案は、被測定物の傾きを精度よく計測できるようにしたもので ある。

【００１０】

【課題を解決するための手段】

この考案においては、被測定物を基準ベースに載置して垂直度等を測定する測 定装置において、測定子を有するダイヤルゲージと、このダイヤルゲージを固定 するゲージベースと、このゲージベースにダイヤルゲージの測定子と離れた位置 に配した基準子とを備え、ダイヤルゲージの測定子を被測定物に当接させた状態 でゲージベースを基準子が被測定物に当接するまでスライドさせて測定するもの である。

【００１１】

【作用】

ゲージベース１を基準ベース４１に載置する。ゲージベース１をスライドさせ て測定子９を被測定物５１に接触させる。この接触した状態でゲージゲース１を 測定子９と垂直方向に所定距離が離れている基準子８が当接するまでスライドさ せる。被測定物５１が傾いていない場合には、ダイヤルゲージ７の指針７ｃが基 準位置である０の目盛を指す。また、被測定物５１が傾いている場合には、ダイ ヤルゲージ７の指針７ｃが正または負の目盛を指す。そのため、客観的（数字的 ）に傾きを判断できるので、被測定物５１の垂直度の良・不良、傾き調整の必要 性を客観的に判断できる。従って、被測定物５１が許容範囲以上に傾いている不 良品を製品として組込むことを防止できる。

【００１２】

【実施例】

以下、図１〜図４を参照しながら、この考案の一実施例について説明する。図 ２において、図５と対応する部分には同一符号を付してその詳細説明は省略する 。なお、本例では、被測定物がガイドピン５１であり、その傾きの測定のために 基準ベース４１を使用するものである。また、図１は測定装置Ｓの斜視図、図２ は測定装置Ｓの使用状態を示す図である。

【００１３】 図１において、１は測定装置Ｓのゲージベースであり、このゲージベース１は 略Ｌ字状に形成されている。ゲージベース１には、平坦状の当接面１ａが形成さ れている。また、ゲージベース１には、その上面の一端側に取付部２が突設され ている。この取付部２には、図４に示すように、ゲージベース１の長手方向に沿 って挿入孔３が形成されている。挿入孔３は、取付部２の略中央に形成されてい る。なお、図４は測定装置Ｓの分解斜視図である。

【００１４】 また、取付部２には、図４に示すように、その上部で挿入孔３と直交する方向 にネジ孔４が形成されている。さらに、ゲージベース１の一端側の面にも、ネジ 孔５が形成されている。

【００１５】 ７はダイヤルゲージであり、このダイヤルゲージ７は市販されているものであ る。つまり、このダイヤルゲージ７は、周知のように、ステム７ａとこのステム ７ａに対してスライドするスピンドル７ｂと指針７ｃ等が形成されている。そし て、図４に示すように、ダイヤルゲージ７のステム７ａがゲージベース１の挿入 孔３に挿入された状態でネジ６がネジ孔４に取付けられている。これによって、 ダイヤルゲージ７がゲージベース１に固定されている。

【００１６】 ９は可動測定子（以下、「可動子」という）であり、この可動子９はダイヤル ゲージ７のスピンドル７ｂの先端に配されている。つまり、可動子９には、図１ および図４に示すように、その一端に長孔９ａが形成されている。また、長孔９ ａは、可動子９の長手方向に沿って形成されている。そして、長孔９ａにスピン ドル７ｂの先端が挿入され、固定具１１を介して可動子９が固定される。ここで 、長孔９ａとしたので、ガイドピン（被測定物）５１の長さに合わせて可動子９ の上下位置を調整できる。

【００１７】 可動子９には、その他端に接触部９ｂがＬ字状に折曲形成されている。また、 可動子９は、図２に示すように、接触部９ｂがゲージベース１の当接面１ａと平 行になるように形成されている。そして、接触部９ｂがガイドピン５１に接触す ると、ダイヤルゲージ７のスピンドル７ｂが軸方向に変位（スライド）して指針 ７ｃが回転する。

【００１８】 ８は基準子であり、この基準子８はゲージベース１の一端側（ネジ孔５が形成 されている側）の側面に配されている。基準子８は、可動子９と略同様に形成さ れている。つまり、基準子８には、長孔８ａと接触部８ｂが形成されている。こ の接触部８ｂは、図２に示すように、可動子９側の接触部９ｂよりも若干長くな るように形成されている。そして、基準子８は、ビス１０によってゲージベース １に固定される。

【００１９】 可動子９の接触部９ｂと基準子８と接触部８ｂとの位置関係は、図２に示すよ うに、測定前では接触部８ｂの先端より接触部９ｂの先端の方がガイドピン５１ に近接している。また、この場合ダイヤルゲージ７は測定前において、その指針 ７ｃが基準位置である０の目盛りよりも負の目盛りを指している。また、接触部 ８ｂと９ｂとの高さ距離は予めＬ１（図３Ｂおよび図３Ｃ参照）に設定しておく 。

【００２０】 測定装置Ｓは、接触部９ｂと８ｂとの先端が垂直方向において同一線上に位置 する場合、ダイヤルゲージ７の指針７ｃが基準位置である０の目盛を指すように 設定されている。

【００２１】 本例においては、まず、ゲージベース１の当接面１ａを基準ベース４１の載置 面４３に当接させてゲージベース１を基準ベース４１に載置する（図２参照）。 なお、図２は可動子９の接触部９ｂと基準子８の接触部８ｂとがガイドピン５１ より離間している状態を示すものである。そして、ゲージベース１をガイドピン ５１側にスライドし可動子９の接触部９ｂをガイドピン５１に当接させる。この 当接した状態でゲージベース１を基準子８の接触部８ｂがガイドピン５１に当接 するまでスライドさせる。

【００２２】 ガイドピン５１が傾いていない場合には、図３Ａに示すように、接触部９ｂと ８ｂとの先端が垂直方向（ガイドピン５１の軸方向）において同一線上に位置す るので、ダイヤルゲージ７の指針７ｃが基準位置である０の目盛を指す。

【００２３】 また、ガイドピン５１が傾いている場合には、図３Ｂおよび図３Ｃに示すよう に、接触部９ｂと８ｂとの先端が垂直方向において同一線上に位置せず、ダイヤ ルゲージ７の指針７ｃが正または負の目盛を指す。そして、その目盛りを読み取 って許容範囲内にあるか否かを判断する。

【００２４】 つまり、接触部８ｂの先端に対する水平方向の接触部９ｂの先端の距離Ｌ２、 Ｌ３（図３Ｂ、図３Ｃ参照）が計測される。そのため、ガイドピン５１の傾きθ （図３Ｄ参照）をｔａｎθ＝Ｌ２／Ｌ１またはｔａｎθ＝Ｌ３／Ｌ１によって計 算できる。なお、Ｌ１は上述したように、接触部８ｂと９ｂとの高さ距離である 。また、図３Ｂはガイドピン５１が負の方向に傾いた状態を示し、図３Ｃは正の 方向に傾いた状態を示すものである。

【００２５】 本例においては、客観的（数字的）にガイドピン５１の傾きが判断できるので 、ガイドピン５１の垂直度の良・不良、傾き調整の必要性の有無を容易に判断で きる。従って、本例においては、ガイドピン５１が許容範囲以上に傾いている不 良品を製品として組込むことを防止できる。

【００２６】 なお、上述実施例においては、被測定物がガイドピン５１であるとした例を示 したが、被測定物はこれに限定されるものではなく、例えばギヤの支軸等の垂直 度がある程度厳密に要求されるものであってもよい。また、上述実施例において は、測定装置Ｓが被測定物の垂直度を計測するように構成した例を示したが、測 定装置はこれに限定されず、例えば水平度を計測するものにも、同様に適用でき る。

【００２７】

【考案の効果】

この考案によれば、ゲージベースに配した基準子とこの基準子と離れた位置に 配したダイヤルゲージの測定子を被測定物にそれぞれ接触させることによって被 測定物を測定するので、被測定物例えばガイドピン等の垂直度の良・不良、傾き 調整の必要性の有無を客観的に判断できる。従って、この考案によれば、被測定 物が許容範囲以上に傾いている不良品を製品として組込むことを防止できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施例の測定装置の斜視図である。

【図２】実施例の使用状態を示す図である。

【図３】実施例の測定状態を示す図である。

【図４】実施例の測定装置の分解斜視図である。

【図５】従来例を示す図である。

【符号の説明】

１ ゲージベース ７ ダイヤルゲージ ７ｃ 指針 ８ 基準子 ８ｂ、９ｂ 接触部 ９ 可動測定子 ４１ 基準ベース ５１ ガイドピン Ｌ１ 接触部８ｂと９ｂとの高さ距離 Ｌ２ 接触部８ｂと９ｂとの水平方向の距離 θ ガイドピン５１の傾き Ｓ 測定装置

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 被測定物を基準ベースに載置して垂直度
   等を測定する測定装置において、 測定子を有するダイヤルゲージと、このダイヤルゲージ
   を固定するゲージベースと、このゲージベースに上記ダ
   イヤルゲージの測定子と離れた位置に配した基準子とを
   備え、 上記ダイヤルゲージの測定子を上記被測定物に当接させ
   た状態で上記ゲージベースを上記基準子が上記被測定物
   に当接するまでスライドさせて測定することを特徴とす
   る測定装置。