JPH06337193A - Vacuum dryer - Google Patents

Vacuum dryer

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Publication number
JPH06337193A
JPH06337193A JP14855193A JP14855193A JPH06337193A JP H06337193 A JPH06337193 A JP H06337193A JP 14855193 A JP14855193 A JP 14855193A JP 14855193 A JP14855193 A JP 14855193A JP H06337193 A JPH06337193 A JP H06337193A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vacuum
drying
inert gas
vacuum container
halogen lamp
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP14855193A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shinsuke Fujimaru
丸 信 介 藤
Kazufumi Nakawatari
渡 一 文 中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TOKYO HIGHTECH KK
Original Assignee
TOKYO HIGHTECH KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TOKYO HIGHTECH KK filed Critical TOKYO HIGHTECH KK
Priority to JP14855193A priority Critical patent/JPH06337193A/en
Publication of JPH06337193A publication Critical patent/JPH06337193A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To provide a vacuum dryer, capable of drying even a fine pattern while keeping a semiconductor device clean, generating no electrostatic charging after drying and producing no water mark. CONSTITUTION:A vacuum dryer is provided with a water drop removing mechanism B, consisting of an inert gas injecting means 14 and a drain port 28, which are provided on a vessel body 23, and a vacuum drying mechanism A, consisting of the inert gas injecting means 14 and an evacuating means, evacuating a vacuum vessel 1, which are provided on the vacuum vessel 1.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体デバイスなどの真
空乾燥装置に係わり、詳しくはクリーンな状態で微細な
パターンまでの乾燥を可能とし、乾燥後に静電気を帯び
ず、且つ乾燥後のウォーターマークの発生も無くするよ
うにした真空乾燥装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a vacuum drying apparatus for semiconductor devices and the like, and more specifically, it can dry a fine pattern in a clean state, does not have static electricity after drying, and has a watermark after drying. The present invention relates to a vacuum drying device that eliminates the generation.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体デバイスなどの乾燥には、通常、
次のような方式が使用されている。 (1)スピンドライヤー 半導体デバイスをセットした
カセットをローターに配置し、ローターを高速で回転さ
せることにより半導体デバイスの乾燥が行われる。 (2)IPAベーパー乾燥 アルコールの蒸気を対象物
に触れさせ、乾燥を促進させる。 (3)温純水引き上げ乾燥 加熱した純水に半導体デバ
イスを浸しそれにより加熱された半導体デバイスをゆっ
くり引き上げることにより乾燥を行う。 (4)ランプ加熱乾燥 大気中で半導体デバイスにラン
プの光を当てることにより加熱し乾燥を行う。
2. Description of the Related Art Drying of semiconductor devices is usually
The following scheme is used. (1) Spin dryer A semiconductor device is set in a cassette and the rotor is rotated at a high speed to dry the semiconductor device. (2) IPA vapor drying The vapor of alcohol is brought into contact with the object to accelerate the drying. (3) Hot pure water pull-up and drying The semiconductor device is dipped in heated pure water, and the heated semiconductor device is slowly pulled up to dry. (4) Lamp heating and drying The semiconductor device is heated and dried by exposing the semiconductor device to light in the air.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】これらの装置は、次の
ような問題点があった。(1)のスピンドライヤーの場
合、カセットをセットしたローターが高速で回転するた
め半導体デバイスが静電気を帯びたり、回転軸から生じ
たパーティクルが半導体デバイスに付着することがあ
る。(2)のIPAベーパー乾燥の場合、アルコールを
使用するため、防爆機構にするなど安全面においてかな
り気をつけなければならない。(3)の温純水引き上げ
乾燥の場合、制御がかなりデリケートであり、うまく乾
燥させる事がむずかしい。(4)のランプ加熱乾燥の場
合、大気中で加熱し乾燥させるため、酸化しやすい。
又、これらの装置での乾燥においては、半導体デバイス
の微細パターンの深い溝部分においての水分残留、及び
乾燥後ウォーターマークが発生するという問題について
は、解決されていない。本発明は、これらの課題を解決
するためになされたものであり、半導体デバイスをクリ
ーンに保ちつつ、微細なパターンまで乾燥可能であり、
また乾燥後の静電気の帯電もなく、ウォーターマークも
発生のない真空乾燥装置を提供することを目的とする。
However, these devices have the following problems. In the case of the spin dryer of (1), since the rotor in which the cassette is set rotates at high speed, the semiconductor device may be charged with static electricity, or particles generated from the rotating shaft may adhere to the semiconductor device. In the case of (2) IPA vapor drying, alcohol is used, so it is necessary to take great care in terms of safety, such as using an explosion-proof mechanism. In the case of hot water pull-up and drying of (3), the control is fairly delicate, and it is difficult to dry it well. In the case of (4) heat drying by lamp, since it is heated and dried in the air, it is easily oxidized.
Further, in the drying by these apparatuses, the problem that the moisture remains in the deep groove portion of the fine pattern of the semiconductor device and the water mark is generated after the drying has not been solved. The present invention has been made in order to solve these problems, while keeping the semiconductor device clean, it is possible to dry to a fine pattern,
It is another object of the present invention to provide a vacuum drying device that does not have static electricity after drying and does not generate a watermark.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明は、容器体に不活性ガス噴射手段及びドレン
口を設けてなる水滴除去機構と、真空容器に不活性ガス
噴射手段及びこの真空容器を真空にする真空引き手段を
設けてなる真空乾燥機構とを備えたことを特徴とする。
また、前記真空容器内下部にハロゲンランプが配設さ
れ、このハロゲンランプの上方には反射フードが設けら
れ、かつ真空容器の内面及び蓋の内面には光反射板が設
けられていることを特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention provides a water drop removing mechanism in which a container body is provided with an inert gas injection means and a drain port, an inert gas injection means in a vacuum container, and And a vacuum drying mechanism provided with a vacuuming means for evacuating the vacuum container.
Further, a halogen lamp is disposed in a lower portion inside the vacuum container, a reflection hood is provided above the halogen lamp, and a light reflection plate is provided on an inner surface of the vacuum container and an inner surface of the lid. And

【0005】[0005]

【作用】前もって、不活性ガスの噴射力による水滴除去
機構により大きな水滴を飛ばしてしまう。これにより真
空容器内での乾燥を短縮し、かつ水滴除去中の酸化も防
止できる。真空容器には、不活性ガス導入のノズル、及
び真空エジェクタが連結され、真空容器内部にハロゲン
ランプが設置してあるので、真空容器内に半導体デバイ
スや液晶基盤等の被乾燥物をセットし、不活性ガスを導
入しつつ圧力を調節しながら減圧にしたり、不活性ガス
を供給したまま真空容器内を大気圧まで戻したり、減圧
中にハロゲンランプによる加熱をしたりする事が出来
る。不活性ガスの雰囲気のまま減圧にし、ハロゲンラン
プ加熱を行うため、飽和蒸気圧を下げ、被乾燥物の温度
を維持もしくは上げながら乾燥を行うため、比較的低い
温度で著しく乾燥効率を上げることができ、またウォー
ターマークの発生する原因である乾燥中の酸化について
も解決できる。
In advance, large water droplets are ejected by the water droplet removal mechanism by the jetting force of the inert gas. As a result, drying in the vacuum container can be shortened, and oxidation during removal of water droplets can be prevented. A nozzle for introducing an inert gas and a vacuum ejector are connected to the vacuum container, and a halogen lamp is installed inside the vacuum container.Therefore, set a dried object such as a semiconductor device or a liquid crystal substrate in the vacuum container, It is possible to reduce the pressure while adjusting the pressure while introducing an inert gas, to return the inside of the vacuum container to the atmospheric pressure while supplying the inert gas, and to heat with a halogen lamp during the pressure reduction. In order to heat the halogen lamp while reducing the pressure in an inert gas atmosphere, the saturated vapor pressure is lowered, and drying is performed while maintaining or raising the temperature of the material to be dried, so it is possible to significantly improve the drying efficiency at a relatively low temperature. It is also possible to solve the oxidation during drying, which is the cause of generation of the watermark.

【0006】[0006]

【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に
説明する。図1は本発明の実施例を示す概略説明図であ
って、真空乾燥装置は、真空乾燥機構Aと水滴除去機構
Bとからなる。この真空乾燥機構Aは真空容器1及び真
空エジェクタ2を備えている。前記真空容器1は被乾燥
物をセットする床部4がバーで形成され、真空容器1内
にセットされる被乾燥物から滴る水分を切ると共にハロ
ゲンランプの高熱が均等に当るようになっている。その
床部4より下方の底部1aは、中心に向かって下方へテ
ーパー状になっており、床部4より落下した水滴がスム
ーズに落下するようになっている。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic explanatory view showing an embodiment of the present invention, in which a vacuum drying device comprises a vacuum drying mechanism A and a water droplet removing mechanism B. The vacuum drying mechanism A includes a vacuum container 1 and a vacuum ejector 2. In the vacuum container 1, a floor 4 for setting an object to be dried is formed of a bar so that moisture dripping from the object to be dried set in the vacuum container 1 can be removed and the high heat of the halogen lamp is evenly applied. . The bottom portion 1a below the floor portion 4 is tapered downward toward the center so that water droplets dropped from the floor portion 4 can smoothly fall.

【0007】また、前記真空容器1の底部1aの外周面
には、ヒーター、例えば、ラバーヒーター7が設けら
れ、加熱できるようになっている。この真空容器1の底
部1aにヒーター7を設け加熱するのは、最初の段階で
水切りを行った際に付着した水滴が、真空乾燥に伴って
気化熱を奪われ、凍結する状態を防止するためである。
前記真空エジェクタ2は前記真空容器1の底部1aに本
真空用のライン8を介して連結されている。このライン
8の途中に予備真空引き用のライン9が設けられてい
る。前記ライン8及び9にはバルブ10及び11が設け
られている。前記真空エジェクタ2としては、例えば真
空ポンプが使用される。
A heater, for example, a rubber heater 7 is provided on the outer peripheral surface of the bottom portion 1a of the vacuum container 1 so that it can be heated. A heater 7 is provided on the bottom portion 1a of the vacuum container 1 to heat the water in order to prevent water droplets attached when water is drained in the first stage from being deprived of heat of vaporization due to vacuum drying and frozen. Is.
The vacuum ejector 2 is connected to the bottom portion 1 a of the vacuum container 1 via a main vacuum line 8. A line 9 for pre-evacuating is provided in the middle of the line 8. The lines 8 and 9 are provided with valves 10 and 11, respectively. For example, a vacuum pump is used as the vacuum ejector 2.

【0008】真空容器1の上方に不活性ガスを噴出する
ノズル14が配設され、このノズル14に、レギュレー
ター15、流量調節計16、エアオペレートバルブ1
7、フィルタ18が設けられた不活性ガス供給ライン1
9が連結されて構成されている。20は真空容器1の上
蓋を示す。
A nozzle 14 for ejecting an inert gas is arranged above the vacuum container 1, and a regulator 15, a flow controller 16, and an air operate valve 1 are provided in the nozzle 14.
7, an inert gas supply line 1 provided with a filter 18
9 are connected to each other. Reference numeral 20 denotes an upper lid of the vacuum container 1.

【0009】前記真空容器1内の下部には、図2に示す
ようにハロゲンランプ21が配設され、このハロゲンラ
ンプ21の上方には光反射フード22が設けられ、ハロ
ゲンランプ21の光を底部1aに向けて反射させるよう
にしている。そして真空容器1及び蓋20の内面には光
反射板が張り付けられ底部1aから反射された光を均等
に被乾燥物3に当てるようにしてある。
As shown in FIG. 2, a halogen lamp 21 is arranged in the lower part of the vacuum vessel 1, and a light reflecting hood 22 is arranged above the halogen lamp 21 so that the light of the halogen lamp 21 is reflected at the bottom. The light is reflected toward 1a. A light reflection plate is attached to the inner surfaces of the vacuum container 1 and the lid 20 so that the light reflected from the bottom portion 1a is evenly applied to the article to be dried 3.

【0010】前記水滴除去機構Bは、容器体23を有
し、この容器体23の上部及び左右にノズル24が配設
され、このノズル24にレギュレータ25を備えた不活
性ガス供給ライン26が連結されている。この容器体2
3の床部27はメッシュ状となっており、床部27には
ドレン口28が設けられている。
The water drop removing mechanism B has a container body 23, and nozzles 24 are arranged on the upper and left and right sides of the container body 23, and an inert gas supply line 26 having a regulator 25 is connected to the nozzle 24. Has been done. This container body 2
The floor 27 of No. 3 has a mesh shape, and the floor 27 is provided with a drain port 28.

【0011】次に本実施例の作用を説明する。カセット
に入った漏れた半導体デバイス等の被乾燥物3を水滴除
去機構Bの容器体23内に入れ、レギュレータ25によ
り3〜7kg/cm2の高圧に調節された不活性ガスを
ノズル24より噴射させる。これにより被乾燥物3に付
着した大きな水滴は被乾燥物3を酸化させることなく下
方に飛ばされ、ドレン口28より排出される。数分間上
記の処理を行った後、自動もしくは手動にて真空容器1
内へ被乾燥物3を移し入れ、蓋20を閉じる。
Next, the operation of this embodiment will be described. The material to be dried 3 such as the leaked semiconductor device in the cassette is put in the container body 23 of the water drop removing mechanism B, and the inert gas adjusted to a high pressure of 3 to 7 kg / cm 2 by the regulator 25 is jetted from the nozzle 24. Let As a result, large water droplets attached to the material to be dried 3 are blown downward without oxidizing the material to be dried 3 and are discharged from the drain port 28. After performing the above processing for several minutes, vacuum container 1 can be automatically or manually operated.
The material 3 to be dried is transferred into the inside, and the lid 20 is closed.

【0012】続いてバルブ11を開き、真空エジェクタ
2により予備真空引きを行い、同時にハロゲンランプ2
1を点灯させる。この予備真空引きを数分間行った後、
バルブ10を開き本真空引きを行いながら、ハロゲンラ
ンプ21を点灯させる。この時バルブ17を開け、流量
調節計16により真空度を調節する。
Subsequently, the bulb 11 is opened and the vacuum ejector 2 performs a preliminary vacuuming, and at the same time, the halogen lamp 2
Turn on 1. After performing this preliminary evacuation for a few minutes,
The halogen lamp 21 is turned on while the valve 10 is opened and the main vacuum is performed. At this time, the valve 17 is opened and the degree of vacuum is adjusted by the flow rate controller 16.

【0013】最初に予備真空引きを行うのは、急激な圧
力変化をさけるためである。又、真空中で被乾燥物の加
熱にハロゲンランプ21を使用するのは、真空中での加
熱においては、熱伝導による加熱は全く期待できず、光
による輻射加熱の方が有効だからである。減圧すること
により飽和蒸気圧を下げると低温で水分が蒸発しやすく
なるが、蒸発する時に気化熱を奪われるため被乾燥物の
温度が低下し、場合によっては凍結するため、ハロゲン
ランプによる輻射加熱を同時に行う。これにより著しく
乾燥効率を上げる事が可能となる。上記のような工程で
本真空引きを1〜10分程度行った後、ハロゲンランプ
を消灯し、本真空引きのバルブ10を閉じ不活性ガス導
入ノズル14からは、ガス流量調節計17を全開にした
不活性ガスを流し、真空容器1を不活性ガスで充満させ
ることで大気圧まで戻す。以上の工程で被乾燥物の乾燥
は終了する。
The preliminary vacuuming is first performed in order to avoid a sudden pressure change. The reason why the halogen lamp 21 is used to heat the material to be dried in vacuum is that heating by heat conduction cannot be expected at all in heating in vacuum, and radiation heating by light is more effective. When the saturated vapor pressure is reduced by reducing the pressure, water easily evaporates at low temperatures, but the evaporation heat is removed when the water evaporates, which lowers the temperature of the material to be dried and, in some cases, freezes it. At the same time. This makes it possible to significantly improve the drying efficiency. After performing the main evacuation for about 1 to 10 minutes in the above process, the halogen lamp is turned off, the main evacuation valve 10 is closed, and the gas flow rate controller 17 is fully opened from the inert gas introduction nozzle 14. The inert gas is flowed, and the vacuum container 1 is filled with the inert gas to return to the atmospheric pressure. The drying of the material to be dried is completed by the above steps.

【0014】[0014]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば水滴
除去機構により前もって大きな水滴を除去するようにし
たので真空容器内での乾燥時間を大巾に短縮し、かつ水
滴除去中の酸化も防止できる。又、真空容器内で飽和蒸
気圧を下げ、ハロゲンランプによる輻射加熱も併用して
乾燥させるので、著しく乾燥効率が良く、半導体デバイ
スなどの微細なパターンの深い溝部分まできれいに乾燥
でき、しかも機械的に駆動させる部分が真空容器の中に
無いため、パーティクルの発生がほとんど無く、被乾燥
物にパーティクルが付着することがない。さらに前記の
スピンドライヤーと異なり、被乾燥物を高速で回転させ
ることもないため、静電気の帯電も無い。又、真空中で
乾燥させるため水滴中の酸素は初期段階で抜け、しかも
乾燥工程中は、すべて不活性ガスにより圧力制御を行う
ためウォーターマーク発生の原因となる乾燥中の酸化
は、ほとんど無く、ウォーターマークも発生しない。
As described above, according to the present invention, a large water drop is removed in advance by the water drop removing mechanism, so that the drying time in the vacuum container is greatly shortened and the oxidation during the water drop removal is also reduced. It can be prevented. In addition, the saturated vapor pressure is lowered in the vacuum container, and the radiant heating by a halogen lamp is also used for drying, so that the drying efficiency is extremely good, and even the deep groove portion of a fine pattern such as a semiconductor device can be dried cleanly and mechanically. Since there is no part to be driven to the inside of the vacuum container, there is almost no generation of particles, and particles do not adhere to the material to be dried. Further, unlike the above-mentioned spin dryer, since the material to be dried is not rotated at high speed, there is no electrostatic charge. In addition, since oxygen is removed from the water droplets in the initial stage because it is dried in a vacuum, and since the pressure is controlled by an inert gas during the drying process, there is almost no oxidation during drying that causes water marks, No watermark is generated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施例を示す概略説明図である。FIG. 1 is a schematic explanatory view showing an embodiment of the present invention.

【図2】真空容器内の概略説明図である。FIG. 2 is a schematic explanatory view of the inside of a vacuum container.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 真空容器 2 真空エジェクタ 14 ノズル(不活性ガス噴射手段) 20 上蓋 21 ハロゲンランプ 22 反射フード 23 容器体 24 ノズル(不活性ガス噴射手段) 28 ドレン口 A 真空乾燥機構 B 水滴除去機構 1 Vacuum Container 2 Vacuum Ejector 14 Nozzle (Inert Gas Injecting Means) 20 Top Lid 21 Halogen Lamp 22 Reflective Hood 23 Container Body 24 Nozzle (Inert Gas Injecting Means) 28 Drain Port A Vacuum Drying Mechanism B Water Drop Removal Mechanism

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 容器体に不活性ガス噴射手段及びドレン
口を設けてなる水滴除去機構と、真空容器に不活性ガス
噴射手段及びこの真空容器を真空にする真空引き手段を
設けてなる真空乾燥機構とを備えたことを特徴とする真
空乾燥装置。
1. Vacuum drying comprising a water drop removing mechanism provided with an inert gas injection means and a drain port in a container body, and an inert gas injection means provided in a vacuum container and a vacuum evacuation means for vacuumizing the vacuum container. A vacuum drying device comprising a mechanism.
【請求項2】 前記真空容器内下部にハロゲンランプが
配設され、このハロゲンランプの上方には反射フードが
設けられ、かつ真空容器の内面及び蓋の内面には光反射
板が設けられていることを特徴とする請求項1記載の真
空乾燥装置。
2. A halogen lamp is arranged in the lower part of the vacuum container, a reflection hood is provided above the halogen lamp, and a light reflection plate is provided on the inner surface of the vacuum container and the inner surface of the lid. The vacuum drying device according to claim 1, wherein
JP14855193A 1993-05-27 1993-05-27 Vacuum dryer Pending JPH06337193A (en)

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JP (1) JPH06337193A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5795452A (en) * 1989-11-15 1998-08-18 Kokusai Electric Co., Ltd. Dry process system
JP2006270032A (en) * 2005-02-23 2006-10-05 Tokyo Electron Ltd Surface treatment method for substrate, cleaning method for substrate and program

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